特許 7370353 非破壊検査装置、及び非破壊検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-10-19

(45)【発行日】2023-10-27

(54)【発明の名称】非破壊検査装置、及び非破壊検査方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 29/265 20060101AFI20231020BHJP

【ＦＩ】

G01N29/265

【請求項の数】 13

(21)【出願番号】P 2021037755

(22)【出願日】2021-03-09

(65)【公開番号】P2022137997

(43)【公開日】2022-09-22

【審査請求日】2021-03-09

(73)【特許権者】

【識別番号】390014568

【氏名又は名称】東芝プラントシステム株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100091487

【弁理士】

【氏名又は名称】中村 行孝

(74)【代理人】

【識別番号】100120031

【弁理士】

【氏名又は名称】宮嶋 学

(74)【代理人】

【識別番号】100107582

【弁理士】

【氏名又は名称】関根 毅

(74)【代理人】

【識別番号】100124372

【弁理士】

【氏名又は名称】山ノ井 傑

(74)【代理人】

【識別番号】100125151

【弁理士】

【氏名又は名称】新畠 弘之

(72)【発明者】

【氏名】小川 健三

【審査官】田中 洋介

(56)【参考文献】

【文献】特開２００１－０７４７１３（ＪＰ，Ａ）

【文献】実開平０４－１２６１５８（ＪＰ，Ｕ）

【文献】特開昭６０－２２８９５８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭６４－０７５９６０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭５５－０７５６４７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０８－２０１３５２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０３－０７７０５６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０２－０６７９５８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭６３－２４１４６１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭６０－２４２３６４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０５－２８１２１３（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２９／００－２９／５２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

固定フレームに回転軸を介して回転自在に固定され、配管の長手方向に直交する方向に進行可能なタイヤと、
前記タイヤ内部に内蔵され、前記配管の長手方向に非破壊検査用の超音波を発振するとともに反射波を受信可能な探触子と、
前記探触子の前記超音波の出射側と反対の面に配置され、前記探触子の出射面に直交する第１鉛直線に沿って離れるに従い前記第１鉛直線に直交する方向の幅が低減するように構成され、前記探触子を透過した超音波を減衰しかつ前記探触子の超音波受信時の振動を吸収する第１ダンパと、
生ゴム製で表面が山形加工されており、前記探触子からの超音波の出射経路以外を囲んで配置され、超音波の反射波が再反射して前記探触子に入射するのを抑制する第２ダンパと、
重金属で構成され、前記第２ダンパの外表面の前記タイヤが前記配管に接触する面に沿って前記探触子からの超音波の出射経路以外を囲んで配置され、超音波の反射波が前記出射経路以外から前記探触子に入射するのを抑制する遮蔽板と、
前記タイヤを前記進行方向に駆動する駆動部と、
予め設定された距離間隔または時間間隔で、前記駆動部の駆動および前記探触子の超音波送受信動作を同期させる制御部と、
を備える、非破壊検査装置。

【請求項2】

前記タイヤ内部に液体が充満される、請求項１に記載の非破壊検査装置。

【請求項3】

前記第１ダンパは、タングステンで構成される、請求項１又は２に記載の非破壊検査装置。

【請求項4】

前記タイヤはウレタンゴム系の材料からなる、請求項１乃至３の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項5】

前記回転軸に固定され、前記配管の長手方向に対して所定の方向に前記探触子を維持する固定部を、更に備える、請求項１乃至４の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項6】

前記第１ダンパ、前記第２ダンパ及び前記遮蔽板は、前記固定部に配置される、請求項５に記載の非破壊検査装置。

【請求項7】

前記探触子が発振する前記超音波の出射角を前記配管の長手方向に対する鉛直方向に対し、２９度から３９度の範囲とする、請求項１乃至６の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項8】

前記探触子が発振する前記超音波の出射角を前記配管の長手方向に対する鉛直方向に対し、３４度とする、請求項７に記載の非破壊検査装置。

【請求項9】

前記配管の長手方向に直交する方向に前記タイヤを進行させるガイドレールを有する回転ガイド部を、更に備える、請求項１乃至８の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項10】

前記探触子により出射された前記超音波の反射波に基づく信号の大きさを前記配管の長手方向の長さに対応させて時系列に画像化する信号処理部を、更に備える、請求項１乃至９の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項11】

前記信号処理部は、前記画像化された時系列信号を、前記配管の長手方向に直交する方向における複数の測定点の位置に対応させて並べて画像化する、請求項１０に記載の非破壊検査装置。

【請求項12】

前記超音波の周波数を５００～７００ｋＨｚとする、請求項１乃至１１の何れか一項に記載の非破壊検査装置。

【請求項13】

請求項１乃至１２の何れか一項に記載の非破壊検査装置を用い、配管の長手方向に非破壊検査用の超音波を発振する工程と、
前記探触子により出射された超音波の反射波に基づく信号の大きさを前記配管の長手方向の長さに対応させて時系列に画像化する工程と、
を備える、非破壊検査方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明の実施形態は、非破壊検査装置、及び非破壊検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

プラント設備においては、多数の配管が存在し、その建設、加増工事において多くの配管溶接が実施されている。これらの配管溶接を行った溶接部の非破壊検査としてＶＴ（外観検査）、ＰＴ（浸透探傷試験）、ＭＴ（磁粉探傷試験）、ＵＴ（超音波探傷試験）、ＲＴ（放射線透過試験）等がある。このうちＵＴ（超音波探傷試験）には、３つの超音波探傷検査（パルス反射法、透過法、共振法）と４つの反射法（垂直探傷法、斜角探傷法、表面探傷法、板波探傷法）とがあることが一般に知られている。

【0003】

ところが、これらの探傷法では、ほとんどの場合において、探触子を配管に接触させて探傷を行っている。このため、溶接部に対する非破壊検査は、配管と探触子を断続的に接触させる処理が必要となってしまう。このため、２５０Ａ程度の配管溶接部を１周検査するためには、半日程度の時間がかかってしまう恐れがある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開平８－１８４５８３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本発明の実施形態は、このような事情を考慮してなされたものであり、配管溶接部の非破壊検査をより高速に可能な非破壊検査装置、及び非破壊検査方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本実施形態に係る非破壊検査装置は、タイヤと、探触子と、第１ダンパと、
第２ダンパと、遮蔽板と、駆動部と、制御部と、を備える。タイヤは、固定フレームに回転軸を介して回転自在に固定され、配管の長手方向に直交する方向に進行可能である。探触子は、タイヤ内部に内蔵され、配管の長手方向に非破壊検査用の超音波を発振するとともに反射波を受信可能である。第１ダンパは、探触子の超音波の出射側と反対の面に配置され、探触子の出射面に直交する第１鉛直線に沿って離れるに従い第１鉛直線に直交する方向の幅が低減するように構成され、探触子を透過した超音波を減衰しかつ探触子の超音波受信時の振動を吸収する。第２ダンパは、触子からの超音波の出射経路以外を囲んで配置され、超音波の反射波が再反射して探触子に入射するのを抑制する。遮蔽板は、タイヤが配管に接触する面に沿って探触子からの超音波の出射経路以外を囲んで配置され、超音波の反射波が出射経路以外から探触子に入射するのを抑制する。駆動部は、タイヤを進行方向に駆動する。制御部は、予め設定された距離間隔および時間間隔で、駆動部の駆動および探触子の超音波送受信動作を同期させる。

【発明の効果】

【0007】

本実施形態によれば、より高速に配管溶接部の非破壊検査を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】本実施形態に係る非破壊検査装置の構成例を示す図。

【図2】配管に配置された検査部の上面図。

【図3】検査部の詳細な構成例を示す図。

【図4】制御部の構成例を示すブロック図。

【図5】信号処理部の構成例を示すブロック図。

【図6】画像処理部の画像生成例を示す図。

【図7】画像の拡大図。

【図8】図３の構成において、第２ダンパと遮蔽板とを配置しない場合の溶接欠陥部の測定結果を示す図。

【図9】第２ダンパと遮蔽板とを配置した場合の溶接欠陥部の測定結果を示す図。

【図10】本実施形態に係る非破壊検査装置の処理例を示すフローチャート。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明の実施形態に係る非破壊検査装置、及び非破壊検査方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態は、本発明の実施形態の一例であって、本発明はこれらの実施形態に限定して解釈されるものではない。また、本実施形態で参照する図面において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号又は類似の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する場合がある。また、図面の寸法比率は説明の都合上実際の比率とは異なる場合や、構成の一部が図面から省略される場合がある。
（一実施形態）

【0010】

図１及び図２に基づき、本実施形態に係る非破壊検査装置１の構成例を説明する。図１は、本実施形態に係る非破壊検査装置１の構成例を示す図である。図１の左図は、配管Ｐ１００に配置された検査部１０の配置例図であり、右図は、検査部１０が配管Ｐ１００の中心軸線ｐｍに対して左図から９０度回転した状態での配置例を示す図である。なお、図１では、説明を簡単にするため、駆動部４０を省略し、配管Ｐ１００は断面を示している。図２は、配管Ｐ１００に配置された検査部１０の上面図である。

【0011】

図１及び図２に示すように、非破壊検査装置１は、円筒管である配管Ｐ１００の溶接部Ｐ１０２を超音波により非破壊検査が可能な装置である。すなわち、この非破壊検査装置１は、検査部１０と、回転ガイド部２０と、固定フレーム３０と、駆動部４０（図１では不図示）と、制御部５０と、信号処理部６０と、表示部７０とを備える。なお、本実施形態に係る非破壊検査装置１では、制御部５０と、信号処理部６０と、表示部７０とを別体で構成しているが、これに限定されない。例えば、制御部５０と、信号処理部６０と、表示部７０とを一体構成してもよい。

【0012】

検査部１０は、探触子１００と、タイヤ１０１と、を有する。タイヤ１０１は、固定フレーム３０に回転軸１０２を介して回転自在に固定され、配管Ｐ１００の長手方向に直交する方向に進行可能である。探触子１００は、タイヤ１０１内部に内蔵され、配管Ｐ１００の長手方向に非破壊検査用の超音波を発振可能である。なお、本実施形態に係る配管Ｐ１００では、配管Ｐ１００の長手方向は配管Ｐ１００の中心軸線ｐｍ方向であり、配管Ｐ１００の長手方向に直交する方向は、配管Ｐ１００の円周方向である。また、検査部１０の詳細な構成は、図３を参照して後述する。

【0013】

回転ガイド部２０は、検査部１０が配管Ｐ１００の長手方向に直交する進行方向に進行するように配置される。この回転ガイド部２０は、配管Ｐ１００に対して着脱可能であり、ガイドレール２００を有する。

【0014】

固定フレーム３０は、複数の回転部３００を有する。この固定フレーム３０は、検査部１０の回転軸１０２を固定支持する。複数の回転部３００は、固定フレーム３０に取り付けられ、配管Ｐ１００に対して固定フレーム３０を進行可能に支持する。これにより、検査部１０のタイヤ１０１は、固定フレーム３０の進行に従い、配管Ｐ１００の進行方向に沿って回転する。

【0015】

図２に示すように、駆動部４０は、複数のカムフォロワ４００と、パルスモータ４０２と、を有する。駆動部４０は、固定フレーム３０に連結されている。複数のカムフォロワ４００は、回転ガイド部２０のガイドレール２００に規制される。これにより、駆動部４０の進行方向は、ガイドレール２００に規制される。ガイドレール２００には、パルスモータ４０２の回転ギヤの凸部が噛み合う軌道孔が所定間隔で設けられている。このため、パルスモータ４０２が回転することにより、駆動部４０及び固定フレーム３０が進行方向に進行し、検査部１０のタイヤ１０１が進行方向に沿って回転する。

【0016】

制御部５０は、駆動部４０のパルスモータ４０２の駆動と、検査部１０の探触子１００の超音波発振とを同期させて制御する。また、制御部５０は、探触子１００により出射された超音波の反射波に基づく信号を生成する。なお、制御部５０の詳細は図４を用いて後述する。

【0017】

信号処理部６０は、制御部５０が生成した信号の大きさを配管Ｐ１００の長手方向の長さに対応させて時系列に画像化する。なお、信号処理部６０の詳細は図５を用いて後述する。

【0018】

表示部７０は、例えばモニタである。表示部７０は、例えば信号処理部６０の処理した画像を表示する。

【0019】

図３は、検査部１０の詳細な構成例を示す図である。左図が正面断面図であり、右図が側面図である。図３に示すように、検査部１０は、探触子１００と、タイヤ１０１と、回転軸１０２と、第１ホイール１０４と、第２ホイール１０６と、固定部１０８と、第１ダンパ１１０と、第２ダンパ１１２と、遮蔽板１１４と、を有する。

【0020】

探触子１００は、送受信素子であり、背面に接続されるケーブルを介して制御部５０に接続される。探触子１００は、後述する固定部１０８に第１ダンパ１１０を介して所定の向きに支持されている。探触子１００は、例えばピエゾ素子等の圧電素子を備えている。

【0021】

これにより、探触子１００は、制御部５０からの駆動信号に基づいて、例えば５００～７００ｋＨｚ、より好ましくは６００ｋＨｚの超音波を第１鉛直線Ｌ１００の方向に発振し、配管Ｐ１００の長手方向に出射する。そして、配管Ｐ１００の長手方向から得られる超音波信号の反射信号を受信する。なお、第１鉛直線Ｌ１００は、例えば探触子１００の出射面に直交する方向である。

【0022】

回転軸１０２の両端部は、固定フレーム３０に固定される。第１ホイール１０４と、第２ホイール１０６とのそれぞれが、複数の軸受を介して外嵌される。これら第１ホイール１０４、及び第２ホイール１０６には例えばウレタンゴム系の材料からなるタイヤ１０１が取り付けられている。また、回転軸１０２内の挿通孔Ｋ１０２に探触子１００と制御部５０とを接続するケーブルが挿通される。

【0023】

タイヤ１０１、第１ホイール１０４、及び第２ホイール１０６よって構成される中空部９内には、液体が充満されている。この液体は、例えば、水、不凍液（ロングライフクラ－トン、エチレングリコール）などである。なお、本実施形態では、タイヤ１０１と、第１ホイール１０４と、第２ホイール１０６と、で囲まれた密閉空間である中空部９をタイヤ内部と称する。すなわち、タイヤ内部に液体が充満される。

【0024】

また、内部圧力が例えば１０１～１５２ｋＰａに高められた状態で密封されている。これにより、検査部１０が配管Ｐ１００に対してどのような向きに配置されても、探触子１００は常に水侵状態を維持可能となる。これらから分かるように、探触子１００が発振する超音波及び受信する反射波は、液体を介するので、空気を介する場合よりもより感度が高くなる。

【0025】

固定部１０８は、例えばゴニオステージを含んで構成され、回転軸１０２に取り付けられている。この固定部１０８は、探触子１００の角度調整が可能となっている。より具体的には、第１ダンパ１１０が固定部１０８に固定され、探触子１００が第１ダンパ１１０の先端部に固定される。

【0026】

これにより、探触子１００が発振する超音波の出射角Φ、すなわち第１鉛直線Ｌ１００の方向を配管Ｐ１００の長手方向に対して、３４度を中心にプラス、マイナス５度程度の範囲での調整を可能としている。これにより、配管Ｐ１００の長手方向に対して斜め方向である３４度に入射する超音波信号が探触子１００から送信される

【0027】

第１ダンパ１１０は、探触子１００の出射側と反対の面に配置されている。この第１ダンパ１１０は、例えばタングステンなどの重金属で構成される。これにより、第１ダンパ１１０は、探触子１００を透過した超音波の反射波を急峻に減衰させる。また、第１ダンパ１１０は、探触子１００の出射側と反対の面において、第１鉛直線Ｌ１００に沿って離れるに従い第１鉛直線Ｌ１００に直交する方向の幅が低減するように構成される。すなわち、第１ダンパ１１０がこのような形状をしているのは、送受信兼用の探触子１００による１探触子法で受信時の振動を吸収し、不要な反射信号が出ていかないようにするためである。これにより、探触子１００を透過した超音波の反射波が再反射して探触子１００に入射することも抑制される。

【0028】

固定部１０８には、第２ダンパ１１２と遮蔽板１１４とも支持されている。第２ダンパ１１２は、例えば生ゴム製であり、探触子１００の超音波の出射経路以外を囲むように構成される。生ゴム製の表面は山形加工されている。これにより、超音波の反射波が再反射して探触子１００に入射することが抑制される。

【0029】

遮蔽板１１４は、探触子１００の超音波の出射経路以外を囲むようにタイヤ１０１に沿って配置される。遮蔽板１１４は、例えば鉛などの重金属で構成される。これにより、超音波の反射波が超音波の出射経路以外から探触子１００に入射することが抑制される。なお、遮蔽板１１４により、第１ダンパ１１０及び第２ダンパ１１２の周りを囲ってもよい。或いは、遮蔽板１１４で構成された方形状の容器体内に探触子１００、第１ダンパ１１０、及び第２ダンパ１１２を配置してもよい。

【0030】

図４は、制御部５０の構成例を示すブロック図である。図４に示すように、制御部５０は、記憶部５００と、モータ制御部５０２と、送受信処理部５０４と、を有する。制御部５０は、例えばＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）を含んで構成され、記憶部５００に記憶されるプログラムに従いモータ制御部５０２と、送受信処理部５０４と、を構成する。

【0031】

モータ制御部５０２は、例えば配管Ｐ１００の１周を所定時間で回転するようにパルスモータ４０２の駆動を制御する。例えば、モータ制御部５０２は、例えば配管Ｐ１００の１周を６８０秒で回転するようにパルスモータ４０２の駆動を制御する。また、モータ制御部５０２は、送受信処理部５０４との同期制御も行う。なお、測定開始点、測定点の点数、測定の時間間隔及び距離間隔は、不図示の入力手段から記憶部５００に設定可能である。そして、モータ制御部５０２は、記憶部５００に設定される設定値に従い検査部１０に対する制御を行うことが可能である。

【0032】

駆動部４０は、複数のカムフォロワ４００と、パルスモータ４０２と、を有する。駆動部４０は、固定フレーム３０に連結されている。複数のカムフォロワ４００は、回転ガイド部２０のガイドレール２００に規制される。これにより、駆動部４０の進行方向は、ガイドレール２００に規制される。ガイドレール２００には、パルスモータ４０２の回転ギヤの凸部が噛み合う軌道孔が所定間隔で設けられている。

【0033】

送受信処理部５０４は、モータ制御部５０２の制御の下で、配管Ｐ１００に送信すべき超音波信号をパルスモータ４０２の駆動に同期して探触子１００に発生させる。送受信処理部５０４は、例えば、１秒間隔で超音波信号を探触子１００に発生させる。すなわち、配管Ｐ１００の１周を６８０秒で回転する場合には、６８０点の測定が行われる。

【0034】

また、モータ制御部５０２は、パルスモータ４０２の駆動を制御することにより、ガイドレール２００に沿って、所定のピッチで駆動部４０を進行させ、超音波信号を探触子１００に発生させる。例えば、モータ制御部５０２は、パルスモータ４０２の駆動を制御することにより、ガイドレール２００に沿って０．１ｍｍピッチで駆動部４０を進行させ、その都度、超音波信号を探触子１００に発生させる。

【0035】

送受信処理部５０４は、例えばアンプ及びＡ／Ｄ変換器（何れも不図示）を備えており、モータ制御部５０２の制御の下で、探触子１００から出力される受信信号を所定の増幅率で増幅してデジタル信号に変換し、超音波信号の発振タイミングからの経過時間と関連付けて信号処理部２４に出力する。なお、送受信処理部５０４は、記憶部５００にデジタル信号を記憶させ、その後に記憶部５００から信号処理部２４に出力させてもよい。

【0036】

図５は、信号処理部６０の構成例を示すブロック図である。図５に示すように、信号処理部６０は、例えばＣＰＵを含んで構成され、記憶部６００に記憶されるプログラムに従い、画像処理部６０２と、表示制御部６０４とを構成する。

【0037】

記憶部６００は、送受信処理部５０４から送信された受信信号のデジタル信号を記憶する。

【0038】

図６は、画像処理部６０２の画像生成例を示す図である。ｇ１～ｇｎは、検査部１０の測定点１～ｎに対応する測定結果画像例を示す。横軸は配管Ｐ１００の長手方向の探触子１００からの距離を示し、縦軸は反射波の大きさを示す。

【0039】

図７は、画像ｇ４の拡大図を示す。丸印は溶接部の欠陥を示す。横軸は配管Ｐ１００の長手方向の探触子１００からの距離を示し、縦軸は反射波の大きさを示す。

【0040】

図６に示すように、画像処理部６０２は、受信信号のデジタル信号の経過時間に応じて、横軸が配管Ｐ１００の長手方向の探触子１００からの距離を示し、縦軸が反射波の大きさを示す画像を生成する。また、画像処理部６０２は、検査部１０の測定点１～ｎに対応する測定結果画像を並べて生成することが可能である。これにより、各測定点との比較が容易となり、溶接部の欠陥などをより観察しやすくすることが可能となる。

【0041】

図７に示すように、画像処理部６０２は、検査部１０の測定点１～ｎに対応する測定結果画像を拡大して生成することも可能である。これにより、より詳細に溶接部の欠陥などを観察可能となる。また、画像処理部６０２は、図６に示す画像と図７に示す画像を並べて生成することも可能である。これにより、これにより、各測定点との比較が容易となるとともに、溶接部の欠陥などを拡大してより観察しやすくすることが可能となる。
表示制御部６０４は、画像処理部６０２が生成した画像を表示部７０に表示させる。

【0042】

図８は、図３の構成において、第２ダンパ１１２と遮蔽板１１４とを配置しない場合の溶接欠陥部の測定結果を示す図である。横軸は配管Ｐ１００の長手方向の探触子１００の距離を示し、縦軸は反射波の大きさを示す。

【0043】

図９は、図３に示すように第２ダンパ１１２と遮蔽板１１４とを配置した場合の溶接欠陥部の測定結果を示す図である。横軸は配管Ｐ１００の長手方向の探触子１００の距離を示し、縦軸は反射波の大きさを示す。図８では、溶接欠陥部の信号が周辺の信号に埋もれているのに対し、図９では、溶接欠陥部の周辺信号の大きさが抑制されている。このように、第２ダンパ１１２と遮蔽板１１４とにより、反射波のＳ／Ｎを改善することができる。これにより、配管Ｐ１００などを構成する厚板に対して、探触子１００による非破壊検査がより高精度に可能となっている。

【0044】

図１０は、本実施形態に係る非破壊検査装置１の処理例を示すフローチャートである。ここでは、検査部１０を配管Ｐ１００に対して周回させながら非破壊検査をする例を説明する。

【0045】

先ず、制御部５０のモータ制御部５０２は、検査部１０を駆動させる制御をパルスモータ４０２に対して行う。続けて、所定の測定点ｎに到達すると、送受信処理部５０４は、超音波信号を探触子１００に発生させ、配管Ｐ１００の長手方向に発振する（ステップＳ１００）。

【0046】

次に、送受信処理部５０４は、送受信処理部５０４の制御の下で、探触子１００から出力される受信信号を所定の増幅率で増幅し、デジタル信号に変換して、超音波信号の発振から経過時間と関連付けて信号処理部２４に出力する（ステップＳ１０２）。

【0047】

次に、信号処理部６０の記憶部６００は、時系列に送受信処理部５０４が送信するデジタル信号を記憶する。そして、画像処理部６０２は、検査部１０の測定点ｎに対応する測定結果画像を生成する（ステップＳ１０４）。続けて、表示部７０は、測定結果画像を表示する（ステップＳ１０６）。

【0048】

次に、モータ制御部５０２は、測定が終了点か否かを判定し（ステップＳ１０６）、終了でない場合（ステップＳ１０６のＮＯ）、測定点ｎを次の測定点ｎ＋１として、ステップＳ１００からの制御を繰り返す。一方で、終了する場合（ステップＳ１０６のＹＥＳ）、全体の測定処理を終了する。

【0049】

以上説明したように、本実施形態に係る非破壊検査装置１によれば、タイヤ１０１が固定フレーム３０に回転自在に固定され、タイヤ１０１は配管Ｐ１００の長手方向に直交する方向に進行可能である。また、探触子１００がタイヤ１０１内部に内蔵され、配管Ｐ１００の長手方向に非破壊検査用の超音波を発振する。これにより、探触子１００を、配管Ｐ１００の長手方向に直交する方向に移動させながら、配管Ｐ１００の長手方向に対する非破壊検査を連続的に行うことが可能となる。このため、配管Ｐ１００の全周にわたる非破壊検査をより短時間に行うことができる。

【0050】

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な部、方法及びプログラムは、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した部、方法及びプログラムの形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。

【符号の説明】

【0051】

１：非破壊検査装置、２０：回転ガイド部、３０：固定フレーム、４０：駆動部、６０：信号処理部、１００：探触子、１０１：タイヤ、１０２：回転軸、１０８：固定フレーム、１１０：第１ダンパ、１１２：第２ダンパ、１１４：遮蔽板、２００：ガイドレール、Ｐ１００：配管。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】