(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-10-23
(45)【発行日】2023-10-31
(54)【発明の名称】溶射皮膜の形成方法
(51)【国際特許分類】
C23C 4/134 20160101AFI20231024BHJP
C23C 4/11 20160101ALI20231024BHJP
【FI】
C23C4/134
C23C4/11
(21)【出願番号】P 2019208722
(22)【出願日】2019-11-19
【審査請求日】2022-09-07
(73)【特許権者】
【識別番号】000158312
【氏名又は名称】岩谷産業株式会社
(73)【特許権者】
【識別番号】517132810
【氏名又は名称】地方独立行政法人大阪産業技術研究所
(73)【特許権者】
【識別番号】598006336
【氏名又は名称】アルバックテクノ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100136098
【氏名又は名称】北野 修平
(74)【代理人】
【識別番号】100137246
【氏名又は名称】田中 勝也
(72)【発明者】
【氏名】吉田 佳史
(72)【発明者】
【氏名】足立 振一郎
(72)【発明者】
【氏名】門脇 豊
【審査官】池ノ谷 秀行
(56)【参考文献】
【文献】特開2000-057981(JP,A)
【文献】特開2019-073777(JP,A)
【文献】国際公開第2017/104357(WO,A1)
【文献】特表2017-520679(JP,A)
【文献】特開平09-069554(JP,A)
【文献】特開2010-287404(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
C23C 4/00-4/18
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
ベース部材を準備する工程と、
4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスを流し、前記混合ガスに含まれる原子を電離させてプラズマを形成しつつ、前記混合ガスおよび前記プラズマを含むプラズマ流を形成する工程と、
前記プラズマ流により38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と
からなる溶射材料を溶融しながら前記ベース部材まで搬送し、溶融した前記溶射材料を前記ベース部材上に堆積させ凝固させることにより、前記ベース部材の表面上に溶射皮膜を形成する工程と、を含
み、
前記溶射皮膜の放射率は0.92である、
溶射皮膜の形成方法。
【請求項2】
前記溶射皮膜の厚みが200μmである、請求項1に記載の溶射皮膜の形成方法。
【請求項3】
前記溶射材料の平均粒径は、10μm以上63μm以下である、請求項1
または請求項2に記載の溶射皮膜の形成方法。
【請求項4】
前記溶射材料の平均粒径は、10μm以上45μm以下である、請求項
1または請求項2に記載の溶射皮膜の形成方法。
【請求項5】
前記不可避的不純物の含有量は0.1体積%未満である、請求項1
または請求項2に記載の溶射皮膜の形成方法。
【請求項6】
前記ベース部材は、半導体製造装置用の部材である、請求項1から請求項
5のいずれか1項に記載の溶射皮膜の形成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、溶射皮膜の形成方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
プラズマ溶射により、ベース部材に皮膜を形成する方法が知られている(たとえば特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
プラズマ溶射により形成された皮膜において、放射率を向上させることが求められる場合がある。また、プラズマ溶射によりベース部材に皮膜を形成する方法において、製造コストを低減することが好ましい。そこで、良好な放射率を有する溶射皮膜を形成することができると共に製造コストを低減することができる溶射皮膜の形成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本開示に従った溶射皮膜の形成方法は、ベース部材を準備する工程と、4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスを流し、混合ガスに含まれる原子を電離させてプラズマを形成しつつ、混合ガスおよびプラズマを含むプラズマ流を形成する工程と、プラズマ流により38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む溶射材料を溶融しながらベース部材まで搬送し、溶融した溶射材料をベース部材上に堆積させ凝固させることにより、ベース部材の表面上に溶射皮膜を形成する工程と、を含む。
【発明の効果】
【0006】
上記溶射皮膜の形成方法によれば、良好な放射率を有する溶射皮膜を形成することができると共に製造コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【
図1】本実施の形態における溶射皮膜の形成方法の一例を示すフローチャートである。
【
図2】ベース部材上に形成された溶射皮膜の一例を示す図である。
【
図3】プラズマ溶射装置の一例を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
[実施形態の概要]
最初に本開示の実施態様を列記して説明する。本開示の溶射皮膜の形成方法は、ベース部材を準備する工程と、4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスを流し、混合ガスに含まれる原子を電離させてプラズマを形成しつつ、混合ガスおよびプラズマを含むプラズマ流を形成する工程と、プラズマ流により38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む溶射材料を溶融しながらベース部材まで搬送し、溶融した溶射材料をベース部材上に堆積させ凝固させることにより、ベース部材の表面上に溶射皮膜を形成する工程と、を含む。
【0009】
本発明者らは、窒素(N2)に所定量の水素(H2)を含む混合ガスを用いて特定の溶射材料のプラズマ溶射を行うと、放射率の良好な溶射皮膜を形成できることを見出した。より具体的には、本開示における溶射皮膜の形成方法では、4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスが用いられる。また、38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む溶射材料が用いられる。上記混合ガスを電離させることにより形成されるプラズマと、上記混合ガスとを含むプラズマ流によって溶融した溶射材料をベース部材上に堆積させることで、放射率の良好な溶射皮膜を形成することができる。また、上記混合ガスを用いることで、一般的に用いられるヘリウム(He)を用いる場合に比べて、製造コストを低減することができる。このように本開示の溶射皮膜の形成方法によれば、良好な放射率を有する溶射皮膜を形成することができると共に製造コストを低減することができる。
【0010】
上記溶射皮膜の形成方法において、溶射材料の平均粒径は、10μm以上63μm以下であってもよい。上記平均粒径を有する溶射材料は、本開示の溶射皮膜の形成方法において用いる溶射材料として好適である。
【0011】
上記溶射皮膜の形成方法において、溶射材料の平均粒径は、10μm以上45μm以下であってもよい。上記平均粒径を有する溶射材料は、本開示の溶射皮膜の形成方法において用いる溶射材料としてさらに好適である。
【0012】
上記溶射皮膜の形成方法において、不可避的不純物の含有量は0.1体積%未満であってもよい。不可避的不純物の含有量を上記範囲にすることで、溶射皮膜への不純物の混入を低減することができる。
【0013】
上記溶射皮膜の形成方法において、ベース部材は、半導体製造装置用の部材であってもよい。本開示の溶射皮膜の形成方法によって、半導体製造装置用の部材に溶射皮膜を形成することで、放射率の良好な溶射皮膜を形成することができる。したがって、良好な放熱性を有する半導体製造装置用の部材を形成することができる。
【0014】
[実施形態の具体例]
次に、本開示の溶射皮膜の形成方法の一実施の形態を、図面を参照しつつ説明する。以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
【0015】
[溶射皮膜の形成方法]
図1を参照して、本実施の形態における溶射皮膜の形成方法では、まず工程(S10)として、ベース部材を準備する工程が実施される。本実施の形態では、ベース部材として、半導体製造装置用の部材が準備される。
【0016】
次に、プラズマ溶射装置によりベース部材の表面上に溶射皮膜を形成する工程が実施される。プラズマ溶射装置については後述する。まず工程(S20)としてプラズマ流を形成する工程が実施される。プラズマ溶射装置において、プラズマ形成用ガスを流すことにより、プラズマ形成用ガスに含まれる原子を電離させてプラズマが形成される。そして、プラズマ形成用ガスおよびプラズマを含むプラズマ流が形成される。
【0017】
本実施の形態において、プラズマ形成用ガスとして、4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスが採用される。水素の含有量が4.5体積%以上とすることで、放射率の良好な溶射皮膜を形成することができる。また、水素の含有量が5.5体積%を超えるとその効果は飽和してしまう。設備設計の観点から水素の使用量は少ない方が望ましい。したがって、プラズマ形成用ガスに含まれる水素の含有量は、4.5体積%以上5.5体積%以下であることが好ましい。上記不可避的不純物の含有量はできる限り少ない方が好ましい。本実施の形態において、不可避的不純物の含有量は0.1体積%未満である。このようにすることで、溶射皮膜への不純物の混入を低減することができる。不可避的不純物の含有量はより好ましくは0.05体積%未満であり、さらに好ましくは0.01体積%未満であり、特に好ましくは0.005体積%未満である。
【0018】
本実施の形態においては、窒素と水素とが予め混合されたガスをボンベなどの容器に封入し、プラズマ溶射が実施される場所においてその容器から供給される。本実施の形態においては、効率的な運搬を達成するために容器内の圧力が35℃において1MPa以上14.7MPa以下であることが好ましい。このように容器に封入された混合ガスは、容器弁を備えた窒素ガス封入容器と、容器弁を備えた水素ガス封入容器とを、それぞれボンベなどの混合ガスを供給すべき容器に接続し、まず容器弁の圧力を管理しながら所定量の水素を、混合ガスを供給すべき容器に導入し、次に水素よりも重い窒素を容器弁の圧力を管理しながら導入することにより製造することができる。
【0019】
次に、工程(S30)としてベース部材の表面上に溶射皮膜を形成する工程が実施される。上記プラズマ流により溶射材料を溶融しながらベース部材まで搬送する。
図2を参照して、溶融した溶射材料をベース部材上に堆積させ凝固させることにより、ベース部材52の表面上に溶射皮膜51が形成される。本実施の形態では、38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む混合粉末が、溶射材料として採用される。本実施の形態における溶射材料の平均粒径は、10μm以上63μm以下である。平均粒径は、例えば、レーザ回折式粒度分布測定装置により測定することができる。溶射材料の平均粒径は、好ましくは10μm以上45μm以下である。本実施の形態において、溶射皮膜51の厚みは50μm以上200μm以下である。
【0020】
[プラズマ溶射装置の構造]
次に、本実施の形態における溶射皮膜の形成方法において用いられるプラズマ溶射装置の一例について説明する。
【0021】
図3を参照して、プラズマ溶射装置1は、第1部分11と、第2部分12と、第3部分13と、第4部分14と、第5部分15と、アノード16と、カソード17と、第1の配管21と、第2の配管22と、第3の配管23と、を含む。第1部分11、第2部分12および第3部分13は、円環状の形状を有する。第1部分11と、第2部分12と、第3部分13とは、それぞれの中心軸が一致するように、溶射されるべきベース部材52に向かってこの順に配置されている。第2部分12は、第1部分11の一方の端面上に配置される。第3部分13は、軸方向において第2部分12の第1部分11とは反対側の端面上に配置される。
【0022】
第1部分11、第2部分12および第3部分13の内周面によって取り囲まれた領域には、第4部分14と、第5部分15と、アノード16とが配置される。第4部分14は、円柱状の形状を有する。第5部分15は、第4部分14の一方の端面上に配置される。第5部分15は、円環状の形状を有する。第5部分15には、外周面から内周面に向かって径方向に貫通する貫通孔15Aが形成されている。第5部分15から見て、第4部分14とは反対側にアノード16が配置される。アノード16は、中空円筒状の形状を有する。第4部分14と、第5部分15と、アノード16とは、それぞれの中心軸が一致するように配置されている。貫通孔15Aは、第4部分14、第5部分15およびアノード16によって取り囲まれた空間S1に連通する。カソード17は、第4部分14の一方の端面上に配置される。カソード17は、空間S1内に配置される。
【0023】
第1の配管21は、プラズマ形成用ガスを空間S1に供給するための配管である。第1の配管21は、第1部分11および第2部分12を貫通するように配置される。第1の配管21の一方の開口部21Aは、外部空間に露出する。第1の配管21の他方の開口部21Bは、第5部分15の貫通孔15Aに連通するように配置される。第2の配管22は、溶射材料を空間S1内に供給するための配管である。第2の配管22は、第3部分13と、アノード16を貫通するように配置される。第2の配管22の一方の開口部22Aは、外部空間に露出する。第2の配管22の他方の開口部22Bは、空間S1に露出するように配置される。第2の配管22の他方の開口部22Bは、アノード16の軸方向における第5部分15とは反対側の開口部16Aに近い領域に配置される。第3の配管23は、第4部分14、第2部分12および第3部分13を貫通するように配置される。第3の配管23内には冷却水40が供給される。第3の配管23は、アノード16およびカソード17の周辺の領域を冷却するように配置される。
【0024】
[溶射の手順]
次に、プラズマ溶射装置1を用いて溶射皮膜51を形成する手順について説明する。まず、第1の配管21から空間S1内にプラズマ形成用ガスが導入される。次に、アノード16と、カソード17との間に電圧が印加される。その結果、プラズマ形成用ガスに含まれる原子を電離させてプラズマが形成される。さらに、空間S1内に導入されるプラズマ形成用ガスの矢印Lの向きに流れるガス流によって、プラズマ形成用ガスおよびプラズマを含む高温のプラズマ流30が形成される。そして、開口部16Aから外部空間に向かって(矢印Mの向きに)プラズマ流30が放出される。次に、第2の配管22から空間S1内に溶射材料31が投入される。投入された溶射材料31は、プラズマ流30の熱によって溶融しながら、ベース部材52まで搬送される。溶融した溶射材料31が、ベース部材52上に堆積すると共に凝固することにより、ベース部材52の表面上に溶射皮膜51が形成される。
【0025】
ここで、上記実施の形態における溶射皮膜の形成方法では、プラズマ形成用ガスとして4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスが採用される。また、溶射材料として、38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む混合粉末が採用される。上記混合ガスを電離させることにより形成されるプラズマと、上記混合ガスとを含むプラズマ流30によって溶融した溶射材料31をベース部材52上に堆積させることで、放射率の良好な溶射皮膜51が形成されている。また、プラズマ形成用ガスとして、上記混合ガスを用いることで、製造コストが低減されている。
【0026】
上記実施の形態においては、窒素と水素とが予め混合されたガスをボンベなどの容器に封入されたものを使用する場合について説明したが、これに限られず、プラズマ溶射が実施される場所において窒素と水素を混合して調製し、使用してもよい。
【実施例】
【0027】
上記本開示の溶射皮膜の形成方法により形成された溶射皮膜のサンプルを作製し、放射率が向上する効果を確認する評価を行った。評価の手順は以下の通りである。
【0028】
プラズマ形成用ガスとして4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスを採用した。溶射材料として、38質量%~42質量%の二酸化チタン粉末と、62質量%~58質量%のアルミナ粉末と、を含む混合粉末を採用した。ステンレス鋼(JIS規格に規定されるSUS304)からなるベース部材52の表面上にサンプル1(実施例)の溶射皮膜51が形成された。サンプル1の溶射皮膜51の厚みは、200μmであった。プラズマ形成用ガスとして、ヘリウムを採用した以外は、サンプル1と同様にしてサンプル2(比較例)の溶射皮膜51が形成された。サンプル2の溶射皮膜51の厚みは、200μmであった。
【0029】
サンプル1およびサンプル2において、ベース部材52に対する溶射皮膜51の密着力が測定された。密着力の測定は、例えば、JIS H 8402:2004に基づいて実施される。その結果、サンプル1の密着力は、2.9N/m2であり、サンプル2の密着力は、2.6N/m2であり、サンプル2と比較して、サンプル1ではベース部材52に対する溶射皮膜51の密着力が向上していることを確認した。また、サンプル1の溶射皮膜51は、ベース部材52に対して十分な密着力を有するため、溶射皮膜51がベース部材52から剥がれ難くすることができる。
【0030】
サンプル1およびサンプル2において、溶射皮膜51の放射率が測定された。放射率の測定には、放射率測定器(ジャパンセンサー株式会社製「Model TSS-5X」)が用いられた。測定の結果を
図4に示す。
図4において、縦軸は放射率を示す。プラズマ形成用ガスとしてヘリウムを採用したサンプル2と比較して、プラズマ形成用ガスとして4.5体積%以上5.5体積%以下の水素を含有し、残部が窒素および不可避的不純物からなる混合ガスを採用したサンプル1では、放射率が向上していることを確認した。このように本開示の溶射皮膜の形成方法によれば、放射率の良好な溶射皮膜を形成することができる。
【0031】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、どのような面からも制限的なものではないと理解されるべきである。本発明の範囲は上記した意味ではなく、請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【産業上の利用可能性】
【0032】
本願の溶射皮膜の形成方法は、良好な放射率を有する溶射皮膜を形成することや製造コストを低減することが求められる場合において特に有利に適用される。
【符号の説明】
【0033】
1 プラズマ溶射装置、11 第1部分、12 第2部分、13 第3部分、14 第4部分、15 第5部分、15A 貫通孔、16 アノード、16A,21A,21B,22A,22B 開口部、17 カソード、21 第1の配管、22 第2の配管、23 第3の配管、30 プラズマ流、31 溶射材料、40 冷却水、51 溶射皮膜、52 ベース部材。