(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-10-23
(45)【発行日】2023-10-31
(54)【発明の名称】シールド電線の検査装置
(51)【国際特許分類】
H01R 43/00 20060101AFI20231024BHJP
H01R 43/28 20060101ALI20231024BHJP
H01B 13/00 20060101ALI20231024BHJP
H02G 1/14 20060101ALI20231024BHJP
H02G 15/02 20060101ALI20231024BHJP
H01R 13/655 20060101ALI20231024BHJP
【ＦＩ】
H01R43/00 Z
H01R43/28
H01B13/00 C
H01B13/00 521
H02G1/14
H02G15/02
H01R13/655
【請求項の数】
5
(21)【出願番号】P 2020062988
(22)【出願日】2020-03-31
(65)【公開番号】P2021163592
(43)【公開日】2021-10-11
【審査請求日】2023-02-16
(73)【特許権者】
【識別番号】000006895
【氏名又は名称】矢崎総業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110002000
【氏名又は名称】弁理士法人栄光事務所
(72)【発明者】
【氏名】築地 信人
(72)【発明者】
【氏名】古畑 賢太
【審査官】高橋 学
(56)【参考文献】
【文献】実開平６－５４２８６（ＪＰ，Ｕ）
【文献】特開２００２－２３８１２５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００１－２０４１１５（ＪＰ，Ａ）
【文献】実開昭６３－１１８５７３（ＪＰ，Ｕ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０１Ｒ ４３／００
Ｈ０１Ｒ ４３／２８
Ｈ０１Ｂ １３／００
Ｈ０２Ｇ １／１４
Ｈ０２Ｇ １５／０２
Ｈ０１Ｒ １３／６５５
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
線心の外側が編組で覆われ、その外側がシースで覆われたシールド電線の端末部に、線端から所定長のシースが除去され、露出した編組が残されたシースの端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部が形成された中間処理状態のシールド電線の端末処理部の、前記編組折り返し部の寸法が適正範囲にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、開閉自在とされ、開いた状態で前記編組折り返し部の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向における前側と後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記編組折り返し部の前端と後端の外周からそれぞれ離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の前部と後部においてシールド電線の外周にて前記編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触の状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる前部サブプローブおよび後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記前部サブプローブの間の導通状態を検出する前部導通チェック手段と、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【請求項2】
前記メインプローブ、前記前部サブプローブ及び前記後部サブプローブの前側と後側に開閉自在に配置され、開いた状態で内部に前記シールド電線を収容可能であり、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の前側と後側において前記シールド電線を定位置に保持する電線保持手段が設けられている、ことを特徴とする請求項１に記載のシールド電線の検査装置。
【請求項3】
前記シースの端部外周に金属製環状のフェルールが装着され、そのフェルールの外周に編組が被さるように折り返されることで、前記編組折り返し部が形成されている、ことを特徴とする請求項１または２に記載のシールド電線の検査装置。
【請求項4】
線心の外側が編組で覆われ、その外側がシースで覆われたシールド電線の端末部に、線端から所定長のシースが除去され、露出した編組が残されたシースの端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部が形成され、その編組折り返し部にシールド端子の編組加締部が加締め固定されている状態のシールド電線の端末処理部の、前記編組折り返し部の後側の寸法が適正範囲にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、開閉自在とされ、開いた状態で前記シールド端子の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記シールド端子の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記シールド電線の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の後部において当該編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触な状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【請求項5】
前記シースの端部外周に金属製環状のフェルールが装着され、そのフェルールの外周に編組が被さるように折り返されることで前記編組折り返し部が形成され、更にその編組折り返し部にシールド端子の編組加締部が加締め固定されることで、前記フェルールと前記シールド端子の編組加締部との間に編組が挟み込まれて加締め固定されている、ことを特徴とする請求項４に記載のシールド電線の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、シールド電線の端末処理部、特に編組折り返し部の寸法が適正範囲にあるか否かを検査する検査装置に関する。
【背景技術】
【0002】
シールド電線として、線心（単数または複数の絶縁電線）の外側が編組で覆われ、その外側がシース（樹脂外皮）で覆われたシールド電線が広く利用されている。この種のシールド電線の端末部に例えばシールド端子を取り付ける場合には、電線端から所定長のシースを剥ぎ取って編組を露出させ、その露出した編組を残されたシースの端部外周に被さるように折り返して、折り返した部分にシールド端子を加締める。
【0003】
ところで、シールド電線の編組折り返し部にほつれが発生していたりして、編組折り返し部が適正範囲に収まっていないと、後の工程や完成品に不具合が発生する場合がある。
【0004】
そこで、特許文献１に記載の従来例では、編組の切断が既定の長さで行われているかを検知し、更にその後、別の装置を用いて編組の折り返しの有無を検知するようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【文献】特開２００２－２３８１２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかし、特許文献１に記載の装置では、検査を複数回実行する必要があり効率が悪い。また、それぞれの段階で検査装置を備える必要がありコスト高になる等の問題がある。
【0007】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、１回の検査で低コストに編組折り返し部の寸法の良否を判定することのできるシールド電線の検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
前述した目的を達成するために、本発明に係るシールド電線の検査装置は、下記（１）～（５）を特徴としている。
（１） 線心の外側が編組で覆われ、その外側がシースで覆われたシールド電線の端末部に、線端から所定長のシースが除去され、露出した編組が残されたシースの端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部が形成された中間処理状態のシールド電線の端末処理部の、前記編組折り返し部の寸法が適正範囲にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記編組折り返し部の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向における前側と後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記編組折り返し部の前端と後端の外周からそれぞれ離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の前部と後部においてシールド電線の外周にて前記編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触の状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる前部サブプローブおよび後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記前部サブプローブの間の導通状態を検出する前部導通チェック手段と、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
（１） 線心の外側が編組で覆われ、その外側がシースで覆われたシールド電線の端末部に、線端から所定長のシースが除去され、露出した編組が残されたシースの端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部が形成された中間処理状態のシールド電線の端末処理部の、前記編組折り返し部の寸法が適正範囲にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記編組折り返し部の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向における前側と後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記編組折り返し部の前端と後端の外周からそれぞれ離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の前部と後部においてシールド電線の外周にて前記編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触の状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる前部サブプローブおよび後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記前部サブプローブの間の導通状態を検出する前部導通チェック手段と、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【0009】
（２） 前記メインプローブ、前記前部サブプローブ及び前記後部サブプローブの前側と後側に開閉自在に配置され、開いた状態で内部に前記シールド電線を収容可能であり、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の前側と後側において前記シールド電線を定位置に保持する電線保持手段が設けられている、
ことを特徴とする上記（１）に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記（１）に記載のシールド電線の検査装置。
【0010】
（３） 前記シースの端部外周に金属製環状のフェルールが装着され、そのフェルールの外周に編組が被さるように折り返されることで、前記編組折り返し部が形成されている、
ことを特徴とする上記（１）または（２）に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記（１）または（２）に記載のシールド電線の検査装置。
【0011】
（４） 線心の外側が編組で覆われ、その外側がシースで覆われたシールド電線の端末部に、線端から所定長のシースが除去され、露出した編組が残されたシースの端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部が形成され、その編組折り返し部にシールド端子の編組加締部が加締め固定されている状態のシールド電線の端末処理部の、前記編組折り返し部の後側の寸法が適正範囲にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記シールド端子の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記シールド端子の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記シールド電線の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の後部において当該編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触な状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
開閉自在とされ、開いた状態で前記シールド端子の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記シールド端子の外周に接触導通した状態となるメインプローブと、
前記メインプローブの電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記シールド電線の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部の後部において当該編組折り返し部の寸法の適正範囲を規定し、前記編組折り返し部が適正範囲内にあるときは、前記編組折り返し部に対して非接触な状態となり、前記編組折り返し部が適正範囲からはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となる後部サブプローブと、
前記メインプローブと前記後部サブプローブの間の導通状態を検出する後部導通チェック手段と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【0012】
（５） 前記シースの端部外周に金属製環状のフェルールが装着され、そのフェルールの外周に編組が被さるように折り返されることで前記編組折り返し部が形成され、更にその編組折り返し部にシールド端子の編組加締部が加締め固定されることで、前記フェルールと前記シールド端子の編組加締部との間に編組が挟み込まれて加締め固定されている、
ことを特徴とする上記（４）に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記（４）に記載のシールド電線の検査装置。
【0013】
上記（１）の構成の検査装置によれば、３つのプローブを閉じた状態で、前部導通チェック手段および後部導通チェック手段により導通の有無をチェックする。両方の導通チェック手段にて導通が検出されなければ、編組折り返し部の寸法が適正範囲に収まっていると判断することができ良品と判定する。また、いずれかの導通チェック手段にて導通が検出された場合は、編組折り返し部の寸法が適正範囲に収まっていないと判断することができるので不良品と判定する。例えば、前部導通チェック手段において導通が検出された場合は、編組折り返し部の前部側の寸法が適正範囲に収まっていないと判断することができる。後部導通チェック手段において導通が検出された場合は、編組折り返し部の後部側の寸法が適正範囲に収まっていないと判断することができる。したがって、いずれの場合も不良品と判定することになる。このように、全プローブを閉じるだけで、１回の検査で編組の折り返し部の寸法の良否を判定することができる。
【0014】
上記（２）の構成の検査装置によれば、３つのプローブの前側と後側に電線保持手段が設けられているので、シールド電線の保持が安定して検査が正確に行われるようになる。
【0015】
上記（３）の構成の検査装置によれば、シースの端部外周にフェルールが装着されているので、シールド端子の編組加締部を編組折り返し部に加締めた際の加締め性が向上し、品質の向上とシールド性能の向上が図れる。
【0016】
上記（４）の構成の検査装置によれば、２つのプローブを閉じた状態で、後部導通チェック手段により導通の有無をチェックする。導通チェック手段にて導通が検出されなければ、編組折り返し部の後部側の寸法が適正範囲に収まっていると判断することができ良品と判定する。また、導通チェック手段にて導通が検出された場合は、編組折り返し部の後部寸法が適正範囲に収まっていないと判断することができるので不良品と判定する。このように、２つのプローブを閉じるだけで、１回の検査で編組の折り返し部の寸法の良否を判定することができる。
【0017】
上記（５）の構成の検査装置によれば、シースの端部外周にフェルールが装着されているので、シールド端子の編組加締部の加締め性が向上し、品質の向上とシールド性能の向上が図れる。
【発明の効果】
【0018】
本発明によれば、１回の検査で効率良く低コストに編組折り返し部の寸法の良否を判定することができる。
【0019】
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態（以下、「実施形態」という。）を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】図１は、本発明の第１実施形態に係るシールド電線の検査装置の概略構成図で、図１（ａ）は検査装置の閉時の外観を示す斜視図、図１（ｂ）は検査装置のプローブが開いている状態を示す平面図、図１（ｃ）はプローブが閉じている状態を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
本発明に関する具体的な実施形態について、各図を参照しながら以下に説明する。
【0022】
まず、実施形態の検査装置における検査対象の例について説明する。
図５は、検査対象を説明するための図で、図５（ａ）は検査対象のシールド電線の一構造例を示す図、図５（ｂ）は良品の編組折り返し部を示す側面図、図５（ｃ）は不良品の編組折り返し部を示す側面図である。
図５は、検査対象を説明するための図で、図５（ａ）は検査対象のシールド電線の一構造例を示す図、図５（ｂ）は良品の編組折り返し部を示す側面図、図５（ｃ）は不良品の編組折り返し部を示す側面図である。
【0023】
図５（ａ）に示すように、ここで検査対象とするシールド電線Ｗは、信号線Ｗａの外周を絶縁体Ｗｂで包囲した線心Ｗ１の外側が、金属箔Ｗｃを介して金属製の編組Ｗｄで覆われ、その外側が、縁樹脂製のシースＷｅで覆われた構造のものである。線心Ｗ１の本数は任意であり、単数（同軸ケーブルの場合）であっても複数（イーサネット（登録商標）ケーブル等の場合）であってもよい。また、金属箔Ｗｃの内側にドレン線が含まれていてもよい。また、金属箔Ｗｃが省略されている場合でもよい。
【0024】
この種のシールド電線Ｗの端末部にシールド端子を接続する場合には、図５（ｂ）に示すように、線端から所定長のシースＷｅを除去し、露出した編組Ｗｄを、残されたシースＷｅの端部外周に被さるように折り返して、編組折り返し部Ｗｄ１を形成する。多くの場合、シースＷｅの端部外周には、金属製環状のフェルール２を装着し、そのフェルール２の外周に編組Ｗｄを被せるように折り返すことで、編組折り返し部Ｗｄ１を形成している。
【0025】
なお、編組Ｗｄの下に金属箔Ｗｃがある場合には、検査工程の前に、金属箔Ｗｃを所定範囲にわたって除去する工程を設けておく。
【0026】
検査対象のシールド電線Ｗにおいて、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法は、適正範囲Ｈに収まっていなければならないが、図５（ｃ）に示すように、編組Ｗｄを構成する細線にほつれ３、４などがある場合には、ほつれ３、４が適正範囲Ｈ外にはみ出ることがある。そうした場合は、不良品と判定する必要があり、そのために本実施形態の検査装置が用いられる。
【0027】
図１は、本発明の第１実施形態に係るシールド電線の端末処理部の検査装置の概略構成図で、図１（ａ）は検査装置の閉時の外観を示す斜視図、図１（ｂ）は検査装置のプローブが開いている状態を示す平面図、図１（ｃ）はプローブが閉じている状態を示す平面図である。また、図２は、実施形態の検査装置の内部構造を示す断面図、図３は、実施形態の検査装置のプローブが閉じたときに形成される、編組折り返し部の適正範囲を規定する空間を示す図である。
【0028】
【0029】
３つのプローブ２１、２２、２３は、定位置に配されたシールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１に対応した位置に配置されている。また、電線ガイド１１は、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１より前側の位置、即ち、３つのプローブ２１、２２、２３よりも前側の位置で、編組Ｗｄや金属箔Ｗｃが除去されて線心Ｗ１が露出させられた部分に対応した位置に配置されている。また、電線チャック１２は、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１より後側の位置、即ち、３つのプローブ２１、２２、２３より後側の位置で、シースＷｅが残された部分に対応した位置に配置されている。
【0030】
電線ガイド１１および電線チャック１２は、それぞれシールド電線Ｗに向けて開閉自在とされており、開いた状態で内部にシールド電線Ｗを収容可能であり、閉じた状態とすることで、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１の前側と後側においてシールド電線Ｗを定位置に保持する役目を果たす。
【0031】
３つのプローブ２１、２２、２３は電極として機能するもので、それぞれがシールド電線Ｗに対して開閉自在とされ、電線長さ方向の中央のプローブ２１がメインプローブ２１とされ、メインプローブ２１の前側のプローブ２２が前部サブプローブ２２とされ、メインプローブ２１の後側のプローブ２３が後部サブプローブ２３とされている。２つのサブプローブ２２、２３は、中央のメインプローブ２１に近接配置されている。
【0032】
中央のメインプローブ２１は、開いた状態で内部に編組折り返し部Ｗｄ１を収容可能であり、閉じた状態とすることで、編組折り返し部Ｗｄ１の外周に接触導通した状態となる。このメインプローブ２１は、編組折り返し部Ｗｄ１の電線長さ方向中央付近の周方向いずれかの部分に確実に接触するものであればよく、両側から編組折り返し部Ｗｄ１を挟む構造のものとして設けられている。
【0033】
メインプローブ２１の前後の２つのサブプローブ２２、２３は、開いた状態で内部に編組折り返し部Ｗｄ１の前端と後端を収容可能であり、閉じた状態とすることで、編組折り返し部Ｗｄ１の前部と後部において、シールド電線Ｗの外周に編組折り返し部Ｗｄ１の寸法の適正範囲を規定する。
【0034】
具体的には、図３に示すように、閉じた状態のときに、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法の適正範囲Ｈを規定する空間ＨＡを画成する。つまり、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈ内にあるときは、編組折り返し部Ｗｄ１に対して非接触の状態となるように、内周面２２ａ、２３ａの位置が規定されている。また、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈからはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となるように、内周面２２ａ、２３ａの位置が規定されている。
【0035】
サブプローブ２２、２３は、編組折り返し部Ｗｄ１の全周を検査するため、閉じたとき円筒状になってシールド電線Ｗの全周を覆うように、開いた状態では半筒状に分割されている。なお、プローブ２１、２２、２３は、全体が金属で構成されていてもよいが、少なくとも編組折り返し部Ｗｄ１に接触または接触する可能性のある部分は金属で構成されている。
【0036】
２つの導通チェック手段３１、３２のうち、前部導通チェック手段３１は、メインプローブ２１と前部サブプローブ２２の間の導通状態（導通しているか否か）を検出するためのもの、後部導通チェック手段３２は、メインプローブ２１と後部サブプローブ２３の間の導通状態（導通しているか否か）を検出するためのものである。
【0037】
次に作用を説明する。
検査時には、電線ガイド１１を閉じて、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１の前側の線心Ｗ１の露出部の外周を掴むと共に、電線チャック１２を閉じて、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１の後側のシースＷｅの外周を掴む。このように、編組折り返し部Ｗｄ１の前側と後側においてシールド電線Ｗを掴むことにより、シールド電線Ｗの保持を安定させることができるようになる。
検査時には、電線ガイド１１を閉じて、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１の前側の線心Ｗ１の露出部の外周を掴むと共に、電線チャック１２を閉じて、シールド電線Ｗの編組折り返し部Ｗｄ１の後側のシースＷｅの外周を掴む。このように、編組折り返し部Ｗｄ１の前側と後側においてシールド電線Ｗを掴むことにより、シールド電線Ｗの保持を安定させることができるようになる。
【0038】
次に３つのプローブ２１、２２、２３を閉じる。そうすると、メインプローブ２１は、編組折り返し部Ｗｄ１の外周に接触導通する。一方、２つのサブプローブ２２、２３は、編組折り返し部Ｗｄ１の前端付近および後端付近において、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているかどうかを判断するための環状の空間ＨＡを画成する（図３参照）。編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているときには、編組Ｗｄは、２つのサブプローブ２２、２３に対して非接触な状態に保たれている。また、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈからはみ出るときには、編組Ｗｄは、２つのサブプローブ２２、２３に対して接触導通状態となる。
【0039】
したがって、前部導通チェック手段３１および後部導通チェック手段３２によって、メインプローブ２１とサブプローブ２２、２３の間の導通の有無をチェックすることにより、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈに収まっているか否かを判断することができる。即ち、両方の導通チェック手段３１、３２にて導通が検出されなければ、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈに収まっていると判断し良品と判定することができる。また、いずれかの導通チェック手段３１、３２にて導通が検出された場合は、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈに収まっていないと判断し不良品と判定することができる。
【0040】
例えば、前部導通チェック手段３１において導通が検出された場合は、編組折り返し部Ｗｄ１の前部側の寸法が適正範囲Ｈに収まっていないと判断することができる。また、後部導通チェック手段３２において導通が検出された場合は、編組折り返し部Ｗｄ１の後部側の寸法が適正範囲Ｈに収まっていないと判断することができる。したがって、いずれの場合も不良品と判定することになる。このように、全プローブ２１、２２、２３を閉じるだけで、１回の検査で低コストで編組折り返し部Ｗｄ１の寸法の良否を判定することができる。
【0041】
この場合、３つのプローブ２１、２２、２３の前側と後側に電線保持手段としての電線ガイド１１および電線チャック１２が設けられているので、シールド電線Ｗの保持が安定して検査が正確に行われるようになる。
【0042】
また、シースＷｅの端部外周にフェルール２が装着されているので、シールド端子の編組加締部を編組折り返し部Ｗｄ１に加締めた際の加締め性が向上し、品質の向上とシールド性能の向上が図れる。
【0043】
次に本発明の第２実施形態の検査装置について説明する。
図４は、第２実施形態のシールド電線の端末処理部の検査装置の概略断面図である。
図４は、第２実施形態のシールド電線の端末処理部の検査装置の概略断面図である。
【0044】
この検査装置は、図４に示すように、編組折り返し部Ｗｄ１にシールド端子５０の編組加締部（後端加締部）５２が加締め固定されている状態の、編組折り返し部Ｗｄ１の後側の寸法が適正範囲Ｈにあるか否かを検査するための検査装置である。シールド端子５０は、後端に編組加締部５２を有する筒状のシールド外殻体であるアウター端子５１と、アウター端子５１の内部に配置されたインナー端子５４と、アウター端子５１とインナー端子５４との間を絶縁する絶縁体５３と、を具備している。インナー端子５４は、信号線（同軸ケーブルの場合は中心導体）Ｗａで構成することもある。
【0045】
この検査装置は、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂと、後部サブプローブ２７と、後部導通チェック手段３３と、を備えている。
【0046】
メインプローブ２６Ａ、２６Ｂは、シールド端子５０に対して開閉自在とされ、開いた状態で内部にシールド端子５０を収容可能であり、閉じた状態とすることで、シールド端子５０の外周に接触導通した状態となる。メインプローブ２６Ａ、２６Ｂは、アウター端子５１に確実に接触すればよく、本実施形態では、アウター端子５１の前側と後側に配置されている。なお、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂはどちらか一方だけ配置してもよい。
【0047】
後部サブプローブ２７は、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂの電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置されており、開いた状態で内部にシールド電線Ｗを収容可能であり、閉じた状態とすることで、編組折り返し部Ｗｄ１の後部において当該編組折り返し部Ｗｄ１の寸法の適正範囲Ｈを規定する。
【0048】
つまり、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈ内にあるときは、編組折り返し部Ｗｄ１に対して非接触の状態となるように、位置が規定されている。また、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈからはみ出したときは、その適正範囲からはみ出した部分が接触導通した状態となるように、位置が規定されている。
【0049】
サブプローブ２７は、編組折り返し部Ｗｄ１の全周を検査するため、閉じたとき円筒状になってシールド電線Ｗの全周を覆うように、開いた状態では半筒状に分割されている。なお、プローブ２１、２２、２３は、全体が金属で構成されていてもよいが、少なくとも編組折り返し部Ｗｄ１に接触または接触する可能性のある部分は金属で構成されている。
【0050】
後部導通チェック手段３３は、メインプローブ２６と後部サブプローブ２７の間の導通状態（導通しているか否か）を検出するためのものである。
【0051】
次に作用を説明する。
検査時には、定位置に配されたシールド電線Ｗおよびシールド端子５０に対してプローブ２６Ａ、２６Ｂ、２７を閉じる。そうすると、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂは、シールド端子５０のアウター端子５１に接触導通する。一方、後部サブプローブ２７は、編組折り返し部Ｗｄ１の後端付近に、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているかどうかを判断するための位置を保持しつつ配置される。編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているときには、編組Ｗｄは、後部サブプローブ２７に対して非接触な状態に保たれている。また、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈからはみ出るときには、編組Ｗｄは、後部サブプローブ２７に対して接触導通状態となる。
検査時には、定位置に配されたシールド電線Ｗおよびシールド端子５０に対してプローブ２６Ａ、２６Ｂ、２７を閉じる。そうすると、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂは、シールド端子５０のアウター端子５１に接触導通する。一方、後部サブプローブ２７は、編組折り返し部Ｗｄ１の後端付近に、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているかどうかを判断するための位置を保持しつつ配置される。編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈに収まっているときには、編組Ｗｄは、後部サブプローブ２７に対して非接触な状態に保たれている。また、編組折り返し部Ｗｄ１が適正範囲Ｈからはみ出るときには、編組Ｗｄは、後部サブプローブ２７に対して接触導通状態となる。
【0052】
したがって、後部導通チェック手段３３によって、メインプローブ２６Ａ、２６Ｂとサブプローブ２７の間の導通の有無をチェックすることにより、編組折り返し部Ｗｄ１の寸法が適正範囲Ｈに収まっているか否かを判断することができる。即ち、導通チェック手段３３にて導通が検出されなければ、編組折り返し部Ｗｄ１の後端の寸法が適正範囲Ｈに収まっていると判断し良品と判定することができる。また、導通チェック手段３３にて導通が検出された場合は、編組折り返し部Ｗｄ１の後端の寸法が適正範囲Ｈに収まっていないと判断し不良品と判定することができる。このように、プローブ２６Ａ、２６Ｂ、２７を閉じるだけで、１回の検査で低コストで編組折り返し部Ｗｄ１の後端の寸法の良否を判定することができる。
【0053】
この場合、シースＷｅの端部外周にフェルール２が装着し、その上に編組Ｗｄが折り返し、更にその上にシールド端子５０の編組加締部５２を加締め固定すれば、編組加締部５２の加締め性が向上し、品質の向上とシールド性能の向上が図れる。
【0054】
次に本発明の第３実施形態の検査装置について説明する。
図６は、本発明の第３実施形態に係る検査装置の概要説明図で、図６（ａ）は各チャックを閉じているときの状態を示す平面図、図６（ｂ）は各チャックを開いているときの状態を示す平面図である。図７は、第３実施形態のシールド電線の端末処理部の検査装置の概略斜視図である。
図６は、本発明の第３実施形態に係る検査装置の概要説明図で、図６（ａ）は各チャックを閉じているときの状態を示す平面図、図６（ｂ）は各チャックを開いているときの状態を示す平面図である。図７は、第３実施形態のシールド電線の端末処理部の検査装置の概略斜視図である。
【0055】
図６～図７に示すように、本実施形態の検査装置は、シールド電線Ｗに対して開閉する３つのチャック６０、６１、６２を備えている。図６（ａ）、（ｂ）において、各チャック６０、６１、６２の閉じ動作の方向を矢印Ａで示し、開き動作の方向を矢印Ｂで示す。
【0056】
シールド電線Ｗの最も後端側（端末から遠い位置）に位置するチャックは電線チャック６０である。この電線チャック６０は、電極機能を持たない普通のチャックである。この電線チャック６０は、開閉自在に配置され、開いた状態で内部にシールド電線Ｗを収容可能であり、閉じた状態とすることで、シールド電線Ｗを定位置に確実に保持する機能を持っている。
【0057】
シールド電線Ｗの最も前端側に位置するチャックは、電極機能を持つ第１チャックプローブ６１である。第１チャックプローブ６１は、開いた状態のときにシールド電線Ｗの先端に取り付けられたシールド端子５０を収容可能であり、閉じたときにシールド端子５０の両外側面に接触導通する。第１チャックプローブ６１は、シールド端子５０のアウタハウジング５０ａの外側面を挟んで確実に接触するように幅広のブロックとして形成されている。
【0058】
シールド電線Ｗの長さ方向における電線チャック６０と第１チャックプローブ６１との間に、開閉自在の第２チャックプローブ６２が配置されている。第２チャックプローブ６２は、電極機能を持つもので、一対の薄刃状のチャック片の噛み合わせ部が半円溝状に形成されており、半円溝状の部分が閉じたときに円筒状になって、シールド電線Ｗの対象部位のほぼ全周に確実に接触できるように構成されている。
【0059】
第２チャックプローブ６２は、第１チャックプローブ６１と非導通に支持されている。第２チャックプローブ６２は、シールド電線Ｗの端末処理部の編組折り返し部Ｗｄ１の後側において編組折り返し部Ｗｄ１の後端寸法の適正範囲を規定するものであり、スリーブの後端縁の後側近傍位置におけるシースＷｅの外周に接触するように配置されている。つまり、編組折り返し部Ｗｄ１の後端が適正範囲内にあるときは、当該編組折り返し部Ｗｄ１に対し非接触状態（非導通状態）となり、編組折り返し部Ｗｄ１の後端が適正範囲からはみ出しているときは、その適正範囲からはみ出した編組折り返し部Ｗｄ１に対し接触状態（導通状態）となるように設けられている。
【0060】
なお、第１チャックプローブ６１および第２チャックプローブ６２は、全体が金属で構成されていてもよいが、少なくともシールド端子５０や編組折り返し部Ｗｄ１に接触または接触する可能性のある部分が金属で構成されていてもよい。これらの開閉式の電線チャック６０、第１チャックプローブ６１、第２チャックプローブ６２は、スライドベース７０、７１の上で、安定してシールド電線Ｗの径方向にスライドできるように設けられている。
【0061】
また、この検査装置には、上述の第１チャックプローブ６１および第２チャックプローブ６２の他に自己診断用プローブ６３を備えている。自己診断用プローブ６３は、第２チャックプローブ６２と例えば導線９３を介して常時導通状態に支持されており、第１チャックプローブ６１が開いたときに、第１チャックプローブ６１と接触導通状態となり且つ第１チャックプローブ６１が閉じたとき第１チャックプローブ６１と非接触状態となるように、第１チャックプローブ６１の開閉方向の背後に固定的に配置されている。
【0062】
また、この検査装置は、導通状態検出手段として、判定用のコンピュータ８０を備えている。コンピュータ８０は、ＣＰＵ８１、ＲＯＭ８２、ＲＡＭ８３、入力ポート８４、出力ポート８５を備えた一般的なもので、コンピュータ８０は、判定結果などの表示のための表示部８６に接続されている。そして、コンピュータ８０の出力ポート８５に、第１チャックプローブ６１に繋がる配線９１が接続され、入力ポート８４に、第２チャックプローブ６２に繋がる配線９２が接続されている。
【0063】
コンピュータ８０は、図６（ａ）および図７に示すように、通常検査時に、閉じた状態の第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２が互いに導通状態にあるときは、出力ポート８５から出力された導電状態検知用電流が、出力ポート８５→配線９１→第１チャックプローブ６１→第２チャックプローブ６２→配線９２→入力ポート８４の経路を辿って、入力ポート８４に入力する（戻って来る）ことを検出する。これにより、コンピュータ８０は、第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２が導通状態にあると判定する。また、閉じた状態の第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２が互いに導通状態にないとき（非導通状態のとき）は、コンピュータ８０は、出力ポート８５から導電状態検知用電流を出力しているにも拘わらず、入力ポート８４に電流が流れて来ないので、第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２が導通状態にない、つまり非導通状態にあると判定する。
【0064】
そして、第１チャックプローブ６１が開いたとき、第１チャックプローブ６１と自己診断用プローブ６３とが導通関係になる。即ち、第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２は、自己診断用プローブ６３を介して互いに導通状態になる。この状態で、コンピュータ８０が、第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２との間が非導通状態にあると検出したとき、コンピュータ８０は、第１チャックプローブ６１および第２チャックプローブ６２の配線９１、９２の系統に断線などの不具合が生じていると判定できる。また、図７に示すように、矩形体の両側面に第１チャックプローブ６１が接し、且つ、矩形体の根元の棒体の外周に第２チャックプローブ６２が接するようにした検査治具１００を用意することにより、第１チャックプローブ６１と第２チャックプローブ６２が適正に対象部位に接触しているか否かを判定することができる。
【0065】
ここで、上述した本発明の実施形態に係るシールド電線の端末処理部の検査装置の特徴をそれぞれ以下［１］～［５］に簡潔に纏めて列記する。
［１］ 線心（Ｗ１）の外側が編組（Ｗｄ）で覆われ、その外側がシース（Ｗｅ）で覆われたシールド電線（Ｗ）の端末部に、線端から所定長のシース（Ｗｅ）が除去され、露出した編組（Ｗｄ）が残されたシース（Ｗｅ）の端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部（Ｗｄ１）が形成された中間処理状態のシールド電線（Ｗ）の端末処理部の、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法が適正範囲（Ｈ）にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の外周に接触導通した状態となるメインプローブ（２１）と、
前記メインプローブ（２１）の電線長さ方向における前側と後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の前端と後端の外周からそれぞれ離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の前部と後部においてシールド電線（Ｗ）の外周にて前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法の適正範囲（Ｈ）を規定し、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）内にあるときは、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）に対して非接触の状態となり、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）からはみ出したときは、その適正範囲（Ｈ）からはみ出した部分が接触導通した状態となる前部サブプローブ（２２）および後部サブプローブ（２３）と、
前記メインプローブ（２１）と前記前部サブプローブ（２２）の間の導通状態を検出する前部導通チェック手段（３１）と、
前記メインプローブ（２１）と前記後部サブプローブ（２３）の間の導通状態を検出する後部導通チェック手段（３２）と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
［１］ 線心（Ｗ１）の外側が編組（Ｗｄ）で覆われ、その外側がシース（Ｗｅ）で覆われたシールド電線（Ｗ）の端末部に、線端から所定長のシース（Ｗｅ）が除去され、露出した編組（Ｗｄ）が残されたシース（Ｗｅ）の端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部（Ｗｄ１）が形成された中間処理状態のシールド電線（Ｗ）の端末処理部の、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法が適正範囲（Ｈ）にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の外周に接触導通した状態となるメインプローブ（２１）と、
前記メインプローブ（２１）の電線長さ方向における前側と後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の前端と後端の外周からそれぞれ離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の前部と後部においてシールド電線（Ｗ）の外周にて前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法の適正範囲（Ｈ）を規定し、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）内にあるときは、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）に対して非接触の状態となり、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）からはみ出したときは、その適正範囲（Ｈ）からはみ出した部分が接触導通した状態となる前部サブプローブ（２２）および後部サブプローブ（２３）と、
前記メインプローブ（２１）と前記前部サブプローブ（２２）の間の導通状態を検出する前部導通チェック手段（３１）と、
前記メインプローブ（２１）と前記後部サブプローブ（２３）の間の導通状態を検出する後部導通チェック手段（３２）と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【0066】
［２］ 前記メインプローブ、前記前部サブプローブ及び前記後部サブプローブ（２１、２２、２３）の前側と後側に開閉自在に配置され、開いた状態で内部に前記シールド電線（Ｗ）を収容可能であり、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の前側と後側において前記シールド電線（Ｗ）を定位置に保持する電線保持手段（１１、１２）が設けられている、
ことを特徴とする上記［１］に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記［１］に記載のシールド電線の検査装置。
【0067】
［３］ 前記シース（Ｗｅ）の端部外周に金属製環状のフェルール（２）が装着され、そのフェルール（２）の外周に編組（Ｗｄ）が被さるように折り返されることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が形成されている、
ことを特徴とする上記［１］または［２］に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記［１］または［２］に記載のシールド電線の検査装置。
【0068】
［４］ 線心（Ｗ１）の外側が編組（Ｗｄ）で覆われ、その外側がシース（Ｗｅ）で覆われたシールド電線（Ｗ）の端末部に、線端から所定長のシース（Ｗｅ）が除去され、露出した編組（Ｗｄ）が残されたシース（Ｗｅ）の端部外周に被さるように折り返された編組折り返し部（Ｗｄ１）が形成され、その編組折り返し部（Ｗｄ１）にシールド端子（５０）の編組加締部（５２）が加締め固定されている状態のシールド電線（Ｗ）の端末処理部の、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の後側の寸法が適正範囲（Ｈ）にあるか否かを検査するシールド電線の検査装置であって、
開閉自在とされ、開いた状態で前記シールド端子（５０）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記シールド端子（５０）の外周に接触導通した状態となるメインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）と、
前記メインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）の電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記シールド電線（Ｗ）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の後部において当該編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法の適正範囲（Ｈ）を規定し、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）内にあるときは、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）に対して非接触な状態となり、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）からはみ出したときは、その適正範囲（Ｈ）からはみ出した部分が接触導通した状態となる後部サブプローブ（２７、第２チャックプローブ６２）と、
前記メインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）と前記後部サブプローブ（２７、第２チャックプローブ６２）の間の導通状態を検出する後部導通チェック手段（３３、コンピュータ８０）と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
開閉自在とされ、開いた状態で前記シールド端子（５０）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記シールド端子（５０）の外周に接触導通した状態となるメインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）と、
前記メインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）の電線長さ方向の後側に開閉自在に隣接配置され、開いた状態で前記シールド電線（Ｗ）の外周から離隔し、閉じた状態とすることで、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）の後部において当該編組折り返し部（Ｗｄ１）の寸法の適正範囲（Ｈ）を規定し、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）内にあるときは、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）に対して非接触な状態となり、前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が適正範囲（Ｈ）からはみ出したときは、その適正範囲（Ｈ）からはみ出した部分が接触導通した状態となる後部サブプローブ（２７、第２チャックプローブ６２）と、
前記メインプローブ（２６Ａ、２６Ｂ、第１チャックプローブ６１）と前記後部サブプローブ（２７、第２チャックプローブ６２）の間の導通状態を検出する後部導通チェック手段（３３、コンピュータ８０）と、
を具備する、
ことを特徴とするシールド電線の検査装置。
【0069】
［５］ 前記シース（Ｗｅ）の端部外周に金属製環状のフェルール（２）が装着され、そのフェルール（２）の外周に編組（Ｗｄ）が被さるように折り返されることで前記編組折り返し部（Ｗｄ１）が形成され、更にその編組折り返し部（Ｗｄ１）にシールド端子（５０）の編組加締部（５２）が加締め固定されることで、前記フェルール（２）と前記シールド端子（５０）の編組加締部（５２）との間に編組（Ｗｄ）が挟み込まれて加締め固定されている、
ことを特徴とする上記［４］に記載のシールド電線の検査装置。
ことを特徴とする上記［４］に記載のシールド電線の検査装置。
【符号の説明】
【0070】
２ フェルール
３，４ ほつれ
１１ 電線ガイド（電線保持手段）
１２ 電線チャック（電線保持手段）
２１，２６Ａ，２６Ｂ メインプローブ
２２ 前部サブプローブ
２３，２７ 後部サブプローブ
３１ 前部導通チェック手段
３２，３３ 後部導通チェック手段
５０ シールド端子
５２ 編組加締部
６１ 第１チャックプローブ
６２ 第２チャックプローブ
８０ コンピュータ
Ｗ シールド電線
Ｗ１ 線心
Ｗｄ 編組
Ｗｄ１ 編組折り返し部
Ｗｅ シース
Ｈ 適正範囲
３，４ ほつれ
１１ 電線ガイド（電線保持手段）
１２ 電線チャック（電線保持手段）
２１，２６Ａ，２６Ｂ メインプローブ
２２ 前部サブプローブ
２３，２７ 後部サブプローブ
３１ 前部導通チェック手段
３２，３３ 後部導通チェック手段
５０ シールド端子
５２ 編組加締部
６１ 第１チャックプローブ
６２ 第２チャックプローブ
８０ コンピュータ
Ｗ シールド電線
Ｗ１ 線心
Ｗｄ 編組
Ｗｄ１ 編組折り返し部
Ｗｅ シース
Ｈ 適正範囲
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】