特許 7372608 液体クロマトグラフおよび分析方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-10-24

(45)【発行日】2023-11-01

(54)【発明の名称】液体クロマトグラフおよび分析方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 30/54 20060101AFI20231025BHJP

   G01N 30/60 20060101ALI20231025BHJP

   G01N 30/46 20060101ALI20231025BHJP

【ＦＩ】

G01N30/54 D

G01N30/60 D

G01N30/60 P

G01N30/46 E

【請求項の数】 7

(21)【出願番号】P 2022501584

(86)(22)【出願日】2020-02-21

(86)【国際出願番号】 JP2020007234

(87)【国際公開番号】W WO2021166255

(87)【国際公開日】2021-08-26

【審査請求日】2022-08-04

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川 雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根 剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村 英幸

(72)【発明者】

【氏名】湊 浩之

(72)【発明者】

【氏名】福嶋 信満

(72)【発明者】

【氏名】馬場 栄里花

【審査官】小澤 理

(56)【参考文献】

【文献】特開２００８－１３９３２３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０５－０５２８３５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－０３３４１９（ＪＰ，Ａ）

【文献】登録実用新案第３１９１６２７（ＪＰ，Ｕ）

【文献】国際公開第２０１４／０４１５９７（ＷＯ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ３０／５４

Ｇ０１Ｎ ３０／６０

Ｇ０１Ｎ ３０／４６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、
基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部と、
前記第１および第２の取付部を収容するカラムオーブンと、
前記カラムオーブンの温度の指定を受け付ける指定温度受付部と、
前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定する設定部と、
前記指定温度受付部により受け付けられた温度が前記設定部により設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を前記指定温度受付部により受け付けられた温度に調整する温度調整部とを備える、液体クロマトグラフ。

【請求項2】

前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられているか否かを判定する判定部をさらに備え、
前記設定部は、前記判定部による判定結果に基づいて前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度または前記第２の温度に設定する、請求項１記載の液体クロマトグラフ。

【請求項3】

前記設定部により設定されるべき前記第１の温度および前記第２の温度の少なくとも一方の指定を受け付ける上限温度受付部をさらに備える、請求項１または２記載の液体クロマトグラフ。

【請求項4】

前記指定温度受付部により受け付けられた温度が前記第２の温度を超えている場合に、前記第２の取付部への前記チップカラムの取り付けが阻害されるように前記第２の取付部を制御する阻害部をさらに備える、請求項１または２記載の液体クロマトグラフ。

【請求項5】

前記指定温度受付部に受け付けられた温度が前記第２の温度を超えている場合において、前記第２の取付部への前記チップカラムの取り付け操作が行われたときに第１の警告を出力する第１の出力部をさらに備える、請求項１または２記載の液体クロマトグラフ。

【請求項6】

前記設定部により上限温度が前記第２の温度に設定されている場合において、前記第２の温度よりも高い温度が前記指定温度受付部により受け付けられたときに第２の警告を出力する第２の出力部をさらに備える、請求項１または２記載の液体クロマトグラフ。

【請求項7】

液体クロマトグラフよる分析方法であって、
パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部とがカラムオーブンに収容され、
前記分析方法は、
前記カラムオーブンの温度の指定を受け付けるステップと、
前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定するステップと、
受け付けられた温度が設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を受け付けられた温度に調整するステップとを含む、分析方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、液体クロマトグラフおよび分析方法に関する。

【背景技術】

【0002】

液体クロマトグラフにおいては、分析対象の試料が移動相とともに分離カラムに供給される。分離カラムに導入された試料は、化学的性質または組成の違いにより成分ごとに分離され、移動相とともに検出器に導かれる。検出器においては、分離カラムにより分離された試料が検出される。検出器による検出結果に基づいて、液体クロマトグラムが生成される。

【文献】特表２００７－５２３３５１号公報

【文献】特開２０１５－１７２５８６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0003】

近年、基板上に形成された流路の一部が分離カラムとして用いられることがある（例えば特許文献１，２参照）。しかしながら、基板上に流路が形成された構造を有する分離カラム（以下、チップカラムと呼ぶ。）の耐熱性は比較的低いため、高温の状況下で試料の分析を行う場合には、チップカラムが破損することがある。したがって、チップカラムの破損を防止するために、液体クロマトグラフの温度管理を適切に行うことが求められる。

【0004】

本発明の目的は、温度管理を適切に行うことが可能な液体クロマトグラフおよび分析方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0005】

本発明の一態様は、パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部と、前記第１および第２の取付部を収容するカラムオーブンと、前記カラムオーブンの温度の指定を受け付ける指定温度受付部と、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定する設定部と、前記指定温度受付部により受け付けられた温度が前記設定部により設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を前記指定温度受付部により受け付けられた温度に調整する温度調整部とを備える、液体クロマトグラフに関する。

【0006】

本発明の他の態様は、液体クロマトグラフよる分析方法であって、パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部とがカラムオーブンに収容され、前記カラムオーブンの温度の指定を受け付けるステップと、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定するステップと、受け付けられた温度が設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を受け付けられた温度に調整するステップとを含む、分析方法に関する。

【発明の効果】

【0007】

本発明によれば、液体クロマトグラフの温度管理を適切に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】図１は本発明の一実施の形態に係る液体クロマトグラフの構成を示す模式図である。

【図2】図２は処理装置の構成を示すブロック図である。

【図3】図３は図２の処理装置により実行される温度制御処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図4】図４は図２の処理装置により実行される温度制御処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図5】図５は上限温度の設定例を示すテーブルである。

【図6】図６は上限温度の設定例を示すテーブルである。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明の実施の形態に係る液体クロマトグラフおよび分析方法について図面を用いて詳細に説明する。以下の説明では、粒子状の充填剤（固定相）が充填された流路を有する分離カラムをパックドカラムと呼ぶ。基板上に流路を有する分離カラムをチップカラムと呼ぶ。基板は、例えば半導体チップまたはセラミックチップにより構成される。チップカラムにおいては、基板上の流路が分離カラムとして機能する。

【0010】

（１）液体クロマトグラフの構成
図１は、本発明の一実施の形態に係る液体クロマトグラフの構成を示す模式図である。図１に示すように、液体クロマトグラフ１００は、移動相容器１０、送液部２０、試料供給部３０、流路切替部４０、カラムオーブン５０、三方ジョイント６０、検出器７０および処理装置８０を備える。

【0011】

移動相容器１０は、水溶液または有機溶媒等の移動相を貯留する。送液部２０は、例えばポンプであり、移動相容器１０に貯留された移動相を圧送することにより流路切替部４０に導入する。試料供給部３０は、例えばサンプルインジェクタであり、送液部２０により圧送される移動相に分析対象の試料を供給する。流路切替部４０は、例えば導入口４１および導出口４２，４３を有するバルブであり、導入口４１に導入された移動相（試料を含む。以下も同様である。）を導出口４２または導出口４３から選択的に導出する。

【0012】

カラムオーブン５０は、取付部５１，５２を収容する。取付部５１，５２は、それぞれ第１および第２の取付部の例である。取付部５１は、パックドカラム１が取り付け可能に構成される。具体的には、使用者は、スパナ等の工具を用いてナット等の固定器具を締め付けることにより、取付部５１にパックドカラム１を取り付けることができる。また、使用者は、工具を用いて固定器具を緩めることにより、取付部５１からパックドカラム１を取り外すことができる。

【0013】

取付部５２は、チップカラム２が取り付け可能に構成される。具体的には、使用者は、取付部５２に設けられた図示しない挿入口からチップカラム２を挿入することにより、取付部５２にチップカラム２を取り付けることができる。また、使用者は、取付部５２に設けられた図示しない排出ボタンを操作することにより、取付部５２からチップカラム２を取り外すことができる。そのため、チップカラム２は、交換またはメンテナンス等の作業性においてパックドカラム１よりも優れる。

【0014】

取付部５２には、判定部５３が取り付けられる。判定部５３は、例えばフォトセンサまたはマイクロスイッチ等のセンサを含み、取付部５２にチップカラム２が取り付けられているか否かを判定する。また、判定部５３は、判定結果を処理装置８０に与える。

【0015】

三方ジョイント６０は、導入口６１，６２および導出口６３を有する。流路切替部４０の導出口４２から導出された移動相は、カラムオーブン５０の取付部５１に取り付けられたパックドカラム１を通して三方ジョイント６０の導入口６１に導入される。パックドカラム１は、通過する移動相中の試料の各成分と、当該パックドカラム１および移動相との親和性に依存して異なる時間だけ試料の成分を保持する。

【0016】

流路切替部４０の導出口４３から導出された移動相は、カラムオーブン５０の取付部５２に取り付けられたチップカラム２を通して三方ジョイント６０の導入口６２に導かれる。チップカラム２は、通過する移動相中の試料の各成分と、当該チップカラム２および移動相との親和性に依存して異なる時間だけ試料の成分を保持する。三方ジョイント６０は、導入口６１または導入口６２に導入された移動相を導出口６３から導出する。

【0017】

検出器７０は、例えば吸光度検出器またはＲＩ（Refractive Index）検出器を含み、三方ジョイント６０の導出口６３から導出された移動相中の試料の成分を順次検出する。処理装置８０は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）またはマイクロコンピュータを含み、送液部２０、試料供給部３０、流路切替部４０、カラムオーブン５０および検出器７０の動作を制御する。また、処理装置８０は、検出器７０による検出結果を処理することにより、各成分の保持時間と検出強度との関係を示す液体クロマトグラムを生成する。処理装置８０の詳細については後述する。

【0018】

（２）処理装置
図２は、処理装置８０の構成を示すブロック図である。図２に示すように、処理装置８０は、機能部として、上限温度受付部８１，８２、設定部８３、指定温度受付部８４、温度調整部８５、阻害部８６および出力部８７，８８を含む。処理装置８０のＣＰＵが図示しないメモリに記憶された所定のプログラムを実行することにより、処理装置８０の機能部が実現される。処理装置８０の機能部の一部または全部が電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

【0019】

上限温度受付部８１は、第１の温度の入力を受け付ける。上限温度受付部８２は、第１の温度よりも低い第２の温度の入力を受け付ける。上限温度受付部８１，８２が上限温度受付部の例である。使用者は、液体クロマトグラフ１００に設けられたキーボード、ポインティングデバイスまたは操作ボタン等の操作部を操作することにより、第１および第２の温度を上限温度受付部８１，８２にそれぞれ入力することができる。

【0020】

設定部８３は、取付部５２にチップカラム２が取り付けられているか否かの判定結果を判定部５３から取得する。取付部５２にチップカラム２が取り付けられていない場合、設定部８３は、カラムオーブン５０の上限温度を上限温度受付部８１により受け付けられた第１の温度に設定する。一方、取付部５２にチップカラム２が取り付けられている場合、設定部８３は、カラムオーブン５０の上限温度を上限温度受付部８２により受け付けられた第２の温度に設定する。

【0021】

指定温度受付部８４は、カラムオーブン５０の温度の指定を受け付ける。使用者は、液体クロマトグラフ１００に設けられた操作部を操作することにより、カラムオーブン５０の所望の動作温度を指定温度受付部８４に指定することができる。温度調整部８５は、指定温度受付部８４により受け付けられた温度が設定部８３により設定された上限温度以下の場合に、カラムオーブン５０の温度を指定温度受付部８４により受け付けられた温度に調整する。

【0022】

阻害部８６は、指定温度受付部８４により受け付けられた温度が第２の温度を超えている場合に、取付部５２へのチップカラム２の取り付けが阻害されるように取付部５２を制御する。例えば、チップカラム２の挿入口が蓋部材で閉塞されるように取付部５２が制御されてもよい。あるいは、挿入口にチップカラム２の一部が挿入された時点で、チップカラム２が挿入口から排出されるように取付部５２が制御されてもよい。この構成によれば、指定温度受付部８４により受け付けられた温度が第２の温度を超えている場合に、取付部５２にチップカラム２が取り付けられることが防止される。

【0023】

出力部８７は、指定温度受付部８４に受け付けられた温度が第２の温度を超えている場合において、取付部５２へのチップカラム２の取り付け操作が行われたときに警告を出力する。この場合、使用者は、取付部５２にチップカラム２の取り付ける際に、指定温度受付部８４により受け付けられた温度が第２の温度を超えていることを認識することができる。これにより、チップカラム２をより適切に保護することができる。取付部５２へのチップカラム２の取り付け操作は、判定部５３による判定結果に基づいて検出されてもよいし、チップカラム２の挿入口の蓋部材が操作されることに基づいて検出されてもよい。

【0024】

出力部８７が第１の出力部の例である。出力部８７による警告として、液体クロマトグラフ１００が表示装置を含む場合には、「指定温度が上限温度を超えています。指定温度を変えて下さい。」等の文字列が表示されてもよい。あるいは、液体クロマトグラフ１００が音声出力装置を含む場合には、同様の内容を示す音声が出力されてもよいし、ブザー等の警告音が出力されてもよい。液体クロマトグラフ１００がランプ等の表示灯を含む場合には、警告の内容に対応する態様で表示灯が点灯、消灯または点滅されてもよい。

【0025】

出力部８８は、設定部８３により上限温度が第２の温度に設定されている場合において、第２の温度よりも高い温度が指定温度受付部８４により受け付けられたときに警告を出力する。この場合、使用者は、上限温度よりも高い温度を指定したことを容易に認識することができる。これにより、使用者は、適切な温度を指定温度受付部８４に容易に指定することができる。

【0026】

出力部８８が第２の出力部の例である。出力部８８による警告の態様は、出力部８７による警告の態様と同様であってもよい。あるいは、出力部８８による警告として、「指定温度が上限温度を超えています。チップカラムを取り外して下さい」等の文字列または音声が出力されてもよい。

【0027】

（３）温度制御処理
図３および図４は、図２の処理装置８０により実行される温度制御処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。図５および図６は、上限温度の設定例を示すテーブルである。以下、図２～図６を用いて温度制御処理を説明する。

【0028】

まず、上限温度受付部８１は、第１の温度が入力されたか否かを判定する（ステップＳ１）。使用者は、操作部を操作することにより第１の温度を入力することができる。第１の温度が入力された場合、上限温度受付部８１は、入力された第１の温度を記憶する（ステップＳ２）。ステップＳ１で第１の温度が入力されていない場合、またはステップＳ２で第１の温度が記憶された場合、上限温度受付部８１は、ステップＳ３に進む。

【0029】

ステップＳ３で、上限温度受付部８２は、第２の温度が入力されたか否かを判定する（ステップＳ３）。使用者は、操作部を操作することにより第２の温度を入力することができる。第２の温度が入力された場合、上限温度受付部８２は、入力された第２の温度を記憶する（ステップＳ４）。ステップＳ３で第２の温度が入力されていない場合、またはステップＳ４で第２の温度が記憶された場合、上限温度受付部８２は、ステップＳ５に進む。

【0030】

ステップＳ５で、設定部８３は、第１および第２の温度が記憶済みであるが否かを判定する（ステップＳ５）。図５および図６の例では、第１および第２の温度として６０℃および５０℃がそれぞれ記憶されている。第１および第２の温度が記憶済みでない場合、設定部８３は、ステップＳ９に進む。第１および第２の温度が記憶済みである場合、設定部８３は、取付部５２にチップカラム２が取り付けられているか否かを判定する（ステップＳ６）。本例では、設定部８３は、判定部５３から判定結果を取得することによりステップＳ６を実行する。

【0031】

取付部５２にチップカラム２が取り付けられていない場合（図５）、設定部８３は、上限温度をステップＳ２で記憶された第１の温度に設定し（ステップＳ７）、ステップＳ９に進む。一方、取付部５２にチップカラム２が取り付けられている場合（図６）、設定部８３は、上限温度をステップＳ４で記憶された第２の温度に設定し（ステップＳ８）、ステップＳ９に進む。

【0032】

ステップＳ９で、指定温度受付部８４は、カラムオーブン５０の動作温度が指定されたか否かを判定する（ステップＳ９）。使用者は、操作部を操作することにより動作温度を指定することができる。動作温度が指定された場合、指定温度受付部８４は、指定された動作温度を指定温度として設定する（ステップＳ１０）。ステップＳ９で動作温度が指定されていない場合、またはステップＳ１０で指定温度が設定された場合、指定温度受付部８４は、ステップＳ１１に進む。

【0033】

ステップＳ１１で、温度調整部８５は、上限温度および指定温度が設定済みであるか否かを判定する（ステップＳ１１）。上限温度および指定温度が設定済みでない場合、温度調整部８５は、ステップＳ１に戻る。上限温度および指定温度が設定されるまで、ステップＳ１～Ｓ１１が繰り返される。この繰り返しの工程において、第１の温度、第２の温度または動作温度が変更された場合には、上限温度または指定温度の設定が更新される。以後の繰り返しの工程においても同様である。

【0034】

上限温度および指定温度が設定済みである場合、温度調整部８５は、ステップＳ１０で設定された指定温度がステップＳ７またはステップＳ８で設定された上限温度以下であるか否かを判定する（ステップＳ１２）。指定温度が上限温度以下でない場合、出力部８８は、警告を出力し（ステップＳ１３）、ステップＳ１に戻る。使用者は、警告を認識することにより、第１の温度、第２の温度もしくは動作温度の変更またはチップカラム２の取り外し等の対処を行うことができる。

【0035】

指定温度が上限温度以下である場合、温度調整部８５は、カラムオーブン５０の温度を指定温度に調整する（ステップＳ１４）。また、温度調整部８５は、上限温度が第１の温度であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。上限温度が第１の温度でない場合、温度調整部８５はステップＳ１に戻る。なお、上限温度が第１の温度でないことは、上限温度が第２の温度であり、取付部５２にチップカラム２が取り付けられていることを意味する（図６）。

【0036】

上限温度が第１の温度である場合、すなわち取付部５２にチップカラム２が取り付けられていない場合（図５）、温度調整部８５は、指定温度が第２の温度以下であるか否かを判定する（ステップＳ１６）。指定温度が第２の温度以下である場合、温度調整部８５はステップＳ１に戻る。指定温度が第２の温度以下でない場合、温度調整部８５は、取付部５２へのチップカラム２の取り付け操作が行われたか否かを判定する（ステップＳ１７）。

【0037】

チップカラム２の取り付け操作が行われていない場合、温度調整部８５はステップＳ１に戻る。一方、チップカラム２の取り付け操作が行われた場合、阻害部８６は、取付部５２へのチップカラム２の取り付けを阻害するように取付部５２を制御する（ステップＳ１８）。この場合、取付部５２にチップカラム２が取り付けられることが防止される。これにより、チップカラム２を適切に保護することができる。

【0038】

また、出力部８７は、警告を出力し（ステップＳ１９）、ステップＳ１に戻る。使用者は、警告を認識することにより、指定温度が上限温度を超えていることを容易に理解することができる。また、使用者は、第１の温度、第２の温度または動作温度の変更等の対処を行うことができる。ステップＳ１８，Ｓ１９は、いずれが先に実行されてもよいし、同時に実行されてもよい。

【0039】

（４）効果
本実施の形態に係る液体クロマトグラフ１００においては、パックドカラム１が取り付け可能な取付部５１と、チップカラム２が取り付け可能な取付部５２とがカラムオーブン５０に収容される。カラムオーブン５０の温度の指定が指定温度受付部８４により受け付けられる。

【0040】

ここで、取付部５２にチップカラム２が取り付けられていない場合に、カラムオーブン５０の上限温度が設定部８３により第１の温度に設定される。また、取付部５２にチップカラム２が取り付けられている場合に、カラムオーブン５０の上限温度が設定部８３により第１の温度よりも低い第２の温度に設定される。指定温度受付部８４により受け付けられた温度が設定部８３により設定された上限温度以下の場合に、温度調整部８５によりカラムオーブン５０の温度が受け付けられた温度に調整される。

【0041】

この構成によれば、取付部５２にチップカラム２が取り付けられていない場合には、カラムオーブン５０の上限温度が第１の温度に設定される。この場合、取付部５１にパックドカラム１を取り付けることにより、高温の状況下でも、試料の分析を行うことができる。

【0042】

一方、取付部５２にチップカラム２が取り付けられている場合には、カラムオーブン５０の上限温度が第２の温度に設定される。そのため、高温の状況下でチップカラム２が使用されることが防止され、パックドカラム１およびチップカラム２のいずれを用いた場合でも試料の分析を行うことができる。このように、液体クロマトグラフ１００の温度管理を適切に行うことができる。

【0043】

（５）他の実施の形態
（ａ）上記実施の形態において、流路切替部４０は、導入口４１に導入された移動相を導出口４２または導出口４３から選択的に導出するが、実施の形態はこれに限定されない。流路切替部４０は、導入口４１に導入された移動相を導出口４２および導出口４３から同時に導出してもよい。この場合、パックドカラム１を用いた試料の分析と、チップカラム２を用いた試料の分析とを同時に行うことができる。

【0044】

（ｂ）上記実施の形態において、設定部８３は、判定部５３による判定結果に基づいてカラムオーブン５０の上限温度を第１の温度または第２の温度に設定するが、実施の形態はこれに限定されない。例えば、設定部８３は、使用者から取付部５２にチップカラム２が取り付けられるか否かの通知を取得し、通知の結果に基づいてカラムオーブン５０の上限温度を第１の温度または第２の温度に設定してもよい。この場合、液体クロマトグラフ１００は判定部５３を含まなくてもよい。

【0045】

（ｃ）上記実施の形態において、処理装置８０は上限温度受付部８１，８２の両方を含むが、実施の形態はこれに限定されない。第１の温度に基づいて第２の温度が設定される場合、または第２の温度が予め定められている場合には、処理装置８０は上限温度受付部８２を含まなくてもよい。第２の温度に基づいて第１の温度が設定される場合、または第１の温度が予め定められている場合には、処理装置８０は上限温度受付部８１を含まなくてもよい。第１および第２の温度の両方が予め定められている場合には、液体クロマトグラフ１００は上限温度受付部８１，８２の両方を含まなくてもよい。

【0046】

（ｄ）上記実施の形態において、処理装置８０は阻害部８６および出力部８７の両方を含むが、実施の形態はこれに限定されない。処理装置８０は、阻害部８６および出力部８７のいずれか一方を含まなくてもよいし、阻害部８６および出力部８７の両方を含まなくてもよい。

【0047】

（ｅ）上記実施の形態において、処理装置８０は出力部８８を含むが、実施の形態はこれに限定されない。処理装置８０は出力部８８を含まなくてもよい。

【0048】

（６）態様
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0049】

（第１項）一態様に係る液体クロマトグラフは、
パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、
基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部と、
前記第１および第２の取付部を収容するカラムオーブンと、
前記カラムオーブンの温度の指定を受け付ける指定温度受付部と、
前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定する設定部と、
前記指定温度受付部により受け付けられた温度が前記設定部により設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を前記指定温度受付部により受け付けられた温度に調整する温度調整部とを備えてもよい。

【0050】

この液体クロマトグラフにおいては、パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部とがカラムオーブンに収容される。カラムオーブンの温度の指定が指定温度受付部により受け付けられる。第２の取付部にチップカラムが取り付けられていない場合に、カラムオーブンの上限温度が設定部により第１の温度に設定される。また、第２の取付部にチップカラムが取り付けられている場合に、カラムオーブンの上限温度が設定部により第１の温度よりも低い第２の温度に設定される。指定温度受付部により受け付けられた温度が設定部により設定された上限温度以下の場合に、温度調整部によりカラムオーブンの温度が受け付けられた温度に調整される。

【0051】

この構成によれば、第２の取付部にチップカラムが取り付けられていない場合には、カラムオーブンの上限温度が第２の温度よりも高い第１の温度に設定される。この場合、第１の取付部にパックドカラムを取り付けることにより、高温の状況下でも、試料の分析を行うことができる。一方、第２の取付部にチップカラムが取り付けられている場合には、カラムオーブンの上限温度が第２の温度に設定される。そのため、高温の状況下でチップカラムが使用されることが防止され、パックドカラムおよびチップカラムのいずれを使用した場合でも試料の分析を行うことができる。このように、液体クロマトグラフの温度管理を適切に行うことができる。

【0052】

（第２項）第１項に記載の液体クロマトグラフは、
前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられているか否かを判定する判定部をさらに備え、
前記設定部は、前記判定部による判定結果に基づいて前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度または前記第２の温度に設定してもよい。

【0053】

この場合、設定部は、カラムオーブンの上限温度を第１の温度または第２の温度に容易に設定することができる。

【0054】

（第３項）第１項または第２項に記載の液体クロマトグラフは、
前記設定部により設定されるべき前記第１の温度および前記第２の温度の少なくとも一方の指定を受け付ける上限温度受付部をさらに備えてもよい。

【0055】

この場合、カラムオーブンの上限温度を任意の温度に設定することができる。

【0056】

（第４項）第１項～第３項のいずれか一項に記載の液体クロマトグラフは、
前記指定温度受付部により受け付けられた温度が前記第２の温度を超えている場合に、前記第２の取付部への前記チップカラムの取り付けが阻害されるように前記第２の取付部を制御する阻害部をさらに備えてもよい。

【0057】

この構成によれば、指定温度受付部により受け付けられた温度が第２の温度を超えている場合に、第２の取付部にチップカラムが取り付けられることが防止される。これにより、チップカラムをより適切に保護することができる。

【0058】

（第５項）第１項～第４項のいずれか一項に記載の液体クロマトグラフは、
前記指定温度受付部に受け付けられた温度が前記第２の温度を超えている場合において、前記第２の取付部への前記チップカラムの取り付け操作が行われたときに第１の警告を出力する第１の出力部をさらに備えてもよい。

【0059】

この場合、使用者は、第２の取付部にチップカラムの取り付ける際に、指定温度受付部により受け付けられた温度が第２の温度を超えていることを認識することができる。これにより、チップカラムをより適切に保護することができる。

【0060】

（第６項）第１項～第５項のいずれか一項に記載の液体クロマトグラフは、
前記設定部により上限温度が前記第２の温度に設定されている場合において、前記第２の温度よりも高い温度が前記指定温度受付部により受け付けられたときに第２の警告を出力する第２の出力部をさらに備えてもよい。

【0061】

この場合、使用者は、上限温度よりも高い温度を指定したことを容易に認識することができる。これにより、使用者は、適切な温度を指定温度受付部に容易に指定することができる。

【0062】

（第７項）他の態様に係る分析方法は、
液体クロマトグラフよる分析方法であって、
パックドカラムが取り付け可能な第１の取付部と、基板上に分離カラムとして機能する流路を有するチップカラムが取り付け可能な第２の取付部とがカラムオーブンに収容され、
分析方法は、
前記カラムオーブンの温度の指定を受け付けるステップと、
前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられていない場合に、前記カラムオーブンの上限温度を第１の温度に設定し、前記第２の取付部に前記チップカラムが取り付けられている場合に、前記カラムオーブンの上限温度を前記第１の温度よりも低い第２の温度を設定するステップと、
受け付けられた温度が設定された上限温度以下の場合に、前記カラムオーブンの温度を受け付けられた温度に調整するステップとを含んでもよい。

【0063】

この分析方法によれば、第２の取付部にチップカラムが取り付けられていない場合には、カラムオーブンの上限温度が第２の温度よりも高い第１の温度に設定される。この場合、第１の取付部にパックドカラムを取り付けることにより、高温の状況下でも、試料の分析を行うことができる。一方、第２の取付部にチップカラムが取り付けられている場合には、カラムオーブンの上限温度が第２の温度に設定される。そのため、高温の状況下でチップカラムが使用されることが防止される。このように、液体クロマトグラフの温度管理を適切に行うことができる。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】