特許 7377066 制御装置および補正方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-10-31

(45)【発行日】2023-11-09

(54)【発明の名称】制御装置および補正方法

(51)【国際特許分類】

   G06F 3/041 20060101AFI20231101BHJP

   G06F 3/045 20060101ALI20231101BHJP

【ＦＩ】

G06F3/041 520

G06F3/045 F

G06F3/041 590

【請求項の数】 3

(21)【出願番号】P 2019196594

(22)【出願日】2019-10-29

(65)【公開番号】P2021071792

(43)【公開日】2021-05-06

【審査請求日】2022-10-13

(73)【特許権者】

【識別番号】000237592

【氏名又は名称】株式会社デンソーテン

(74)【代理人】

【識別番号】110002147

【氏名又は名称】弁理士法人酒井国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】鍜治本 晋明

【審査官】塩屋 雅弘

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１３－１５６９４８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００１－２６５５１２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平１０－０９１３５１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０６Ｆ ３／０４１

Ｇ０６Ｆ ３／０４５

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

抵抗膜方式のタッチパネルに対するタッチ位置の数を示すタッチ点数が１点である１点タッチである場合に該１点タッチの入力座標を補正する第１の補正処理を行い、
前記タッチ点数が２点である２点タッチである場合に、該２点タッチの入力座標を、第１の補正処理とは異なる第２の補正処理を行う補正部
を備え、
前記第１の補正処理は、
前記タッチパネルが備える外付けされた外付け抵抗を除いた前記タッチパネルのタッチ時に発生する前記タッチパネル内部の抵抗値の総和である総抵抗値を用いて前記１点タッチの入力座標を補正し、
前記第２の補正処理は、
前記総抵抗値を用いて前記２点タッチの入力座標を補正した後に、さらに前記外付け抵抗分の抵抗値に応じた補正係数を乗算することで、前記２点タッチの入力座標を補正する、
制御装置。

【請求項2】

抵抗膜方式のタッチパネルに対するタッチ位置の数を示すタッチ点数が１点である１点タッチである場合に該１点タッチの入力座標を補正する第１の補正処理を行い、
前記タッチ点数が２点である２点タッチである場合に、該２点タッチの入力座標を、第１の補正処理とは異なる第２の補正処理を行う制御部
を備え、
前記第１の補正処理は、
前記タッチパネルが備える外付けされた外付け抵抗を除いた前記タッチパネルのタッチ時に発生する前記タッチパネル内部の抵抗値の総和である総抵抗値を用いて前記１点タッチの入力座標を補正し、
前記第２の補正処理は、
前記総抵抗値を用いて前記２点タッチの入力座標を補正した後に、さらに前記外付け抵抗分の抵抗値に応じた補正係数を乗算することで、前記２点タッチの入力座標を補正する、
制御装置。

【請求項3】

抵抗膜方式のタッチパネルに対するタッチ位置の数を示すタッチ点数を判定する判定工程と、
前記判定工程によって判定された前記タッチ点数が１点である１点タッチである場合に該１点タッチの入力座標を補正する第１の補正処理を行う第１の補正工程と、
前記タッチ点数が２点である２点タッチである場合に該２点タッチの入力座標を補正する、第１の補正処理とは異なる第２の補正処理を行う第２の補正工程と
を含み、
前記第１の補正処理は、
前記タッチパネルが備える外付けされた外付け抵抗を除いた前記タッチパネルのタッチ時に発生する前記タッチパネル内部の抵抗値の総和である総抵抗値を用いて前記１点タッチの入力座標を補正し、
前記第２の補正処理は、
前記総抵抗値を用いて前記２点タッチの入力座標を補正した後に、さらに前記外付け抵抗分の抵抗値に応じた補正係数を乗算することで、前記２点タッチの入力座標を補正する、
補正方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、制御装置および補正方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、例えば、抵抗膜方式のタッチパネルがある。かかるタッチパネルは、操作面に設けられた２相の抵抗膜それぞれの端子間電圧に基づいて、タッチ位置が示す入力座標を算出する（例えば、特許文献１参照）。

【0003】

また、この種のタッチパネルにおいては、抵抗膜それぞれに外付けした抵抗（以下、外付け抵抗）を設けることで、静電気などのノイズの影響を低減するものも知られている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２０１１－１２３８１５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、外付け抵抗が十分に大きい場合、外付け抵抗の分だけ端子間電圧がずれるため、外付け抵抗にあわせて入力座標を補正する必要がある。この際、タッチ位置が１点である１点タッチ時と２点である２点タッチ時において、同様の補正を行うと、１点タッチ時と２点タッチ時とで入力座標の算出精度にずれが生じ、双方の入力座標を精度よく導出することができない。

【0006】

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、入力座標を精度よく導出することができる制御装置および補正方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上述した課題を解決し、目的を達成するために、実施形態に係る制御装置は、判定部と、補正部とを備える。前記判定部は、抵抗膜方式のタッチパネルに対するタッチ位置の数を示すタッチ点数を判定する。前記補正部は、前記判定部によって判定された前記タッチ点数が１点である１点タッチである場合と、前記タッチ点数が２点である２点タッチである場合とで、異なる座標補正によって前記タッチ位置が示す入力座標を補正する。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、入力座標を精度よく導出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1A】図１Ａは、入力システムの構成例を示す図である。

【図1B】図１Ｂは、タッチパネルの概要を示す図である。

【図1C】図１Ｃは、タッチパネルの概要を示す図である。

【図1D】図１Ｄは、抵抗膜の模式図である。

【図1E】図１Ｅは、２点タッチ時における入力座標の一例を示す図である。

【図2】図２は、入力システムのブロック図である。

【図3】図３は、距離情報の一例を示す図である。

【図4】図４は、ゴーストの具体例を示す図である。

【図5】図５は、分割エリアの一例を示す図である。

【図6】図６は、マイコンが実行する処理手順を示すフローチャートである。

【図7】図７は、補正係数を示す模式図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、添付図面を参照して、実施形態に係る制御装置および補正方法について説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。

【0011】

まず、図１Ａ～図１Ｅを用いて、本実施形態に係る制御装置および補正方法の概要について説明する。図１Ａは、入力システムの構成例を示す図である。図１Ｂおよび図１Ｃは、タッチパネルの概要を示す図である。図１Ｄは、抵抗膜の模式図である。図１Ｅは、２点タッチ時における入力座標の一例を示す図である。

【0012】

図１Ａに示すように、実施形態に係る入力システム１は、タッチパネル１０、タッチＩＣ２０およびマイコン３０を備える。タッチパネル１０は、抵抗膜方式のタッチパネルであり、図１Ｂに示すように、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２を有する。

【0013】

例えば、第１抵抗膜１１は、タッチパネル１０におけるＸ軸座標の入力座標を検出するための抵抗膜であり、第２抵抗膜１２は、タッチパネル１０におけるＹ軸座標の入力座標を検出するための抵抗膜である。また、図１Ｂに示す例では、第１抵抗膜１１と第２抵抗膜１２との間に抵抗Ｒｚが設けられる。

【0014】

また、タッチパネル１０は、操作面（不図示）およびＡ／Ｄ変換器１３（図２参照）を有しており、操作面が押圧された場合に、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２それぞれの端子間電圧の値をＡ／Ｄ変換し、Ａ/Ｄ変換後の変換値（以下、単に「変換値」と記載する）をタッチＩＣ２０へ出力する。

【0015】

図１Ａに示すタッチＩＣ２０は、タッチパネル１０から入力された変換値に基づいて、タッチ位置に対応する入力座標を算出する。タッチＩＣ２０によって算出された入力座標は、マイコン３０へ入力される。

【0016】

また、図１Ａに示すマイコン３０は、制御装置の一例であり、タッチＩＣ２０から入力される入力座標を補正する。ここで、本実施形態に係るマイコン３０は、タッチ位置が１点である１点タッチである場合と、タッチ位置が２点である２点タッチ時である場合とで、異なる座標補正を適用して入力座標を補正する。これにより、１点タッチおよび２点タッチの双方で、入力座標の精度を高めることができる。

【0017】

ここで、図１Ｂおよび図１Ｃを用いて、抵抗膜方式のタッチパネル１０の基本的な原理について簡単に説明しておく。抵抗膜方式のタッチパネル１０では、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２の端子間電圧の変化、言い換えれば、各抵抗膜の抵抗の変化によって、タッチ位置に対応する入力座標を算出する。

【0018】

具体的には、図１Ｂに示すように、例えば、タッチ位置が１点である１点タッチ時においては、端子ＸＰ－ＸＮ間の端子間抵抗を端子間抵抗値Ｒｘとすると、「Ｒｘ＝Ｒｘ１＋Ｒｘ２」となる。この際、端子ＹＰ－ＹＮ間の端子間抵抗を端子間抵抗Ｒｙとすると、「Ｒｙ＝Ｒｙ１＋Ｒｙ２」となる。

【0019】

このため、タッチＩＣ２０は、１点タッチ時においては、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２それぞれの端子間電圧の変化に基づいて、タッチ位置が示す入力座標を算出することができる。また、タッチ位置が２点である２点タッチ時においては、２点タッチの距離が長くなるにつれて、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２それぞれで並列接続される抵抗の数が増える。言い換えれば、２点タッチ間の距離が長くなるにつれて、端子間抵抗が減少することになる。

【0020】

このため、タッチＩＣ２０は、２点タッチ時においては、２点タッチ間の距離と、端子間抵抗との関係を示す距離情報に基づいて２点タッチ間の距離を求め、かかる２点タッチ間の距離に基づいて、各タッチ位置の入力座標を算出する。なお、距離情報の一例については、図４を用いて後述する。

【0021】

ここで、本実施形態に係る入力システム１では、タッチパネル１０に外付けした抵抗（以下、「外付け抵抗」と記載する）をさらに設けることで、静電気などのノイズに対する耐性を高めることが可能である。

【0022】

具体的には、図１Ｄに示すように、例えば、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２の両端にそれぞれ外付け抵抗Ｒｅが設けられる。例えば、第１抵抗膜１１の抵抗値の総和が８００Ωであり、第２抵抗膜１２の抵抗値の総和が３００Ωであるのに対して、外付け抵抗Ｒｅは、それぞれ１００Ωであるものとする。

【0023】

ここで、外付け抵抗Ｒｅの抵抗値が十分に小さい場合、外付け抵抗Ｒｅを無視して入力座標を算出したとしても外付け抵抗Ｒｅが入力座標に与える影響は少ない。つまり、外付け抵抗Ｒｅに用いる抵抗が十分に小さい場合には、外付け抵抗Ｒｅを考慮せず、入力座標を算出することができる。

【0024】

これに対して、外付け抵抗Ｒｅの抵抗値が大きくなるにつれて、入力座標を補正する必要が生じる。具体的には、上記の変換値は、外付け抵抗Ｒｅの抵抗値を含んだ値であり、かかる変換値に基づいて算出された入力座標は、実際の入力座標よりも外付け抵抗Ｒｅ分だけずれることになる。

【0025】

また、外付け抵抗Ｒｅが十分に大きい場合には、図１Ｄに示すように、入力座標を算出可能なエリアが限定されるため、端子間電圧の値をＡ／Ｄ変換した変換値に対して、有効エリアＡを設ける必要がある。

【0026】

ここで、有効エリアＡとは、変換値の全範囲（同図に示す例では０～１０２４）よりも小さい範囲であり、外付け抵抗Ｒｅ分の抵抗値に対応する範囲を上記の全範囲から除いたエリアである。言い換えれば、有効エリアＡとは、タッチ位置が示す入力座標を算出可能なエリアである。

【0027】

ここで、１点タッチ時においては、端子間電圧に基づいて算出した入力座標に対して、外付け抵抗Ｒｅ分の抵抗値を補正することで、適切な入力座標を導出することができる。これに対して、図１Ｅに示すように、２点タッチ時において、同様の補正を行うと、入力座標Ｘが実際のタッチ位置Ｐよりもタッチパネル１０の外側にずれることになる。これは、２点タッチ時においては、外付け抵抗Ｒｅ分を予め考慮して入力座標を算出するためである。

【0028】

そこで、実施形態に係る補正方法では、１点タッチ時と、２点タッチ時とで、異なる座標補正により、入力座標を補正することとした。例えば、実施形態に係る補正方法では、１点タッチ時においては、総抵抗値に基づいて座標補正を行うとともに、２点タッチ時においては、総抵抗値に基づく座標補正をスキップする。なお、総抵抗値とは、タッチパネル１０に対するタッチ時に発生するタッチパネル１０内部の抵抗値の総和である。

【0029】

これにより、実施形態に係る補正方法では、１点タッチ時および２点タッチ時の双方において、入力座標の補正を適切に行うことが可能となる。特に、実施形態に係る補正方法によれば、外付け抵抗Ｒｅの抵抗値の制限を緩和することが可能である。

【0030】

次に、図２を用いて、実施形態に係る入力システム１の構成例について説明する。図２は、入力システム１のブロック図である。まず、タッチパネル１０について説明する。図２に示すように、タッチパネル１０は、第１抵抗膜１１、第２抵抗膜１２およびＡ／Ｄ変換器１３を備える。

【0031】

第１抵抗膜１１は、タッチパネル１０のＸ軸方向に沿う１対の電極によって構成される端子を有し、第２抵抗膜１２は、タッチパネル１０のＹ軸方向に沿う１対の電極によって構成される端子を有する。それぞれの端子で検出される端子間電圧は、外付け抵抗Ｒｅを介してＡ／Ｄ変換器１３へ出力される。

【0032】

Ａ／Ｄ変換器１３は、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２それぞれから入力されるアナログの端子間電圧をデジタルの変換値へ変換する。すなわち、Ａ／Ｄ変換器１３は、端子間電圧を端子間電圧のレベル（強度）に応じた数値へ変換する。また、Ａ／Ｄ変換器１３によって変換された変換値は、タッチＩＣ２０へ出力される。

【0033】

続いて、タッチＩＣ２０について説明する。図２に示すように、タッチＩＣ２０は、記憶部２１と、制御部２２とを備える。記憶部２１は、たとえば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ（Flash Memory）等の半導体メモリ素子、または、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置によって実現され、図２の例では、マップ情報２１ａと、距離情報２１ｂとを記憶する。

【0034】

マップ情報２１ａは、端子間電圧の変換値と、各入力座標との関係を示すマップに関する情報である。上述の例において、変換値は、Ｘ軸およびＹ軸のそれぞれについて端子間電圧のレベルに応じて０～１０２４の値をとり、それぞれの数値が示す入力座標を示すマップがマップ情報２１ａとして、記憶部２１に記憶される。

【0035】

距離情報２１ｂは、２点タッチ時における２点タッチ間の距離と、端子間抵抗との関係を示す情報である。図３は、距離情報２１ｂの一例を示す図である。図３の例において、縦軸は、端子間抵抗値を示し、横軸は、２点間距離を示す。なお、２点間距離とは、２点タッチ時におけるそれぞれのタッチ位置の距離を示す。

【0036】

図３に示すように、２点間距離が長くなるにつれて、端子間抵抗値が低くなる。これは、上述のように、２点間距離が長くなるにつれて、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２それぞれにおいて、並列接続される抵抗成分が増えるためである。すなわち、直列接続された抵抗成分が並列接続されるためである。

【0037】

そして、２点間距離と、端子間抵抗値との関係は、実験やシミュレーション等によって予め導出することができ、かかる関係が距離情報２１ｂとして記憶部２１に記憶される。

【0038】

図２の説明に戻り、制御部２２について説明する。制御部２２は、例えば、コントローラであり、例えば、ＣＰＵやＭＰＵ等によって、記憶部２１に記憶されている各種プログラムがＲＡＭを作業領域として実行されることにより実現される。また、制御部２２は、例えば、ＡＳＩＣやＦＰＧＡ等の集積回路により実現することができる。

【0039】

また、図２に示すように、制御部２２は、算出部２２ａを備える。算出部２２ａは、Ａ／Ｄ変換器１３によって変換されたデジタルの変換値に基づいて、タッチ位置が示す入力座標を算出する。

【0040】

具体的には、算出部２２ａは、１点タッチである場合、マップ情報２１ａを参照し、変換値に対応する入力座標を算出する。すなわち、算出部２２ａは、第１抵抗膜１１の端子間電圧に基づいて入力座標のＸ軸座標を算出し、第２抵抗膜１２の端子間電圧に基づいて入力座標のＹ軸座標を算出する。

【0041】

また、算出部２２ａは、２点タッチである場合、２点タッチ間の重心座標を求めるとともに、距離情報２１ｂを参照して、端子間抵抗値から２点間距離を算出する。

【0042】

その後、算出部２２ａは、重心座標および２点間距離に基づいて、ゴースト除去を行い、２点タッチそれぞれの入力座標を算出する。ここで、図４を用いて、ゴースト除去について説明する。図４は、ゴーストの具体例を示す図である。

【0043】

図４に示すように、例えば、タッチＩＣ２０は、タッチ位置Ｐ１およびタッチ位置Ｐ２がそれぞれ同時に押圧された場合、タッチ位置Ｐ１およびタッチ位置Ｐ２に加えて、２つのゴーストＧが検出される。

【0044】

そのため、算出部２２ａは、タッチ位置Ｐ１およびタッチ位置Ｐ２と、２つのゴーストＧとを識別し、ゴーストＧを除去する。なお、ゴースト除去については、特に限定されず、既存の手法を適宜用いることができる。

【0045】

算出部２２ａは、ゴースト除去を行うと、タッチ位置Ｐ１およびタッチ位置Ｐ２それぞれに対応する入力座標を算出する。そして、算出部２２ａによって算出された入力座標は、マイコン３０へ入力される。

【0046】

図２の説明に戻り、マイコン３０について説明する。図２に示すように、マイコン３０は、記憶部３１と、制御部３２とを備える。記憶部３１は、たとえば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ（Flash Memory）等の半導体メモリ素子、または、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置によって実現され、図２の例では、正規化情報３１ａを記憶する。

【0047】

正規化情報３１ａは、タッチパネル１０の操作領域を分割した分割エリアごとに入力座標を正規化するための係数に関する情報である。図５は、分割エリアの一例を示す図である。図５に示す例では、例えば、各分割エリアがそれぞれ矩形の領域である場合を示す。

【0048】

そして、分割エリアそれぞれに入力座標のＸ軸座標およびＹ軸座標それぞれを正規化するための係数が対応付けられた情報を正規化情報３１ａとして記憶部３１に記憶される。

【0049】

図２の説明に戻り、制御部３２について説明する。制御部３２は、例えば、コントローラであり、例えば、ＣＰＵやＭＰＵ等によって、記憶部３１に記憶されている各種プログラムがＲＡＭを作業領域として実行されることにより実現される。また、制御部３２は、例えば、ＡＳＩＣやＦＰＧＡ等の集積回路により実現することができる。

【0050】

また、図２に示すように、制御部３２は、判定部３２ａと、補正部３２ｂと、表示制御部３２ｃとを備える。判定部３２ａは、抵抗膜方式のタッチパネル１０に対するタッチ位置の数を示すタッチ点数を判定する。

【0051】

本実施形態において、判定部３２ａは、タッチ点数が１点である１点タッチかタッチ点数が２点である２点タッチであるかを判定する。例えば、判定部３２ａは、タッチＩＣ２０のレジスタ値を参照することで、タッチ点数を判定することができる。判定部３２ａによる判定結果は、補正部３２ｂへ通知される。

【0052】

補正部３２ｂは、判定部３２ａによって判定されたタッチ点数が１点である１点タッチである場合と、タッチ点数が２点である２点タッチである場合とで、異なる座標補正によってタッチ位置が示す入力座標を補正する。

【0053】

まず、１点タッチ時における補正部３２ｂの処理について説明する。補正部３２ｂは、１点タッチ時においては、総抵抗を算出し、かかる総抵抗値を座標補正に適用し、入力座標を補正する。ここで、総抵抗値とは、タッチパネル１０に対するタッチ入力に伴い生じるタッチパネル１０内部の抵抗値の総和である。

【0054】

総抵抗値は、例えば、上述の変換値と、商品出荷前またはタッチパネル１０の起動時に実施するキャリブレーションにおいて設定した各種パラメータとから算出することができる。補正部３２ｂは、第１抵抗膜１１（Ｘ軸座標）および第２抵抗膜１２（Ｙ軸座標）それぞれの変換値に対して総抵抗値をそれぞれ算出する。ここで、第１抵抗膜１１および第２抵抗膜１２が有する抵抗の経年変化や、温度変化に伴う抵抗値の変化を反映させた値であり、外付け抵抗Ｒｅや各種ＩＣの内部抵抗を除いた値となる。

【0055】

したがって、補正部３２ｂは、総抵抗値を座標補正に適用することで、外付け抵抗Ｒｅに基づく入力座標のずれ、および、経年変化や、温度変化に伴う入力座標のずれを適切に補正することができる。

【0056】

一方、上述のように、２点タッチ時において、タッチＩＣ２０によって算出された入力座標は、外付け抵抗Ｒｅを予め考慮した値となる。したがって、２点タッチ時において算出された入力座標に対して、総抵抗値に基づく座標補正を適用すると、外付け抵抗Ｒｅの分だけ、実際のタッチ位置から外側に入力座標がずれてしまう。

【0057】

このため、補正部３２ｂは、２点タッチ時においては、１点タッチ時において適用した総抵抗値に基づく座標補正をスキップする。つまり、２点タッチ時においては、タッチＩＣ２０によって算出された入力座標を適用する。

【0058】

このように、補正部３２ｂは、１点タッチ時と、２点タッチ時とで異なる座標補正を行うことで、１点タッチおよび２点タッチそれぞれで入力座標の精度を上げることができる。

【0059】

また、補正部３２ｂは、座標補正の一環として、入力座標を正規化する。入力座標を正規化は、正規化情報３１ａを参照し、各入力座標に対応する分割エリアの係数を乗算することで行われる。

【0060】

表示制御部３２ｃは、補正部３２ｂによって補正された入力座標を画面解像度にあわせて変換するとともに、変換した入力座標に基づいて画面表示を切り替える。

【0061】

ここで、入力座標を画面解像度にあわせて変換するとは、表示画面１ピクセルと、入力座標の１座標とを対応させることを示し、表示画面を切り替えるとは、例えば、ポインタ等を現在の入力座標にあわせて動かすことを示す。表示制御部３２ｃによる各種処理結果は、図示しない表示部等に出力される。

【0062】

次に、図６を用いて、実施形態に係るマイコン３０が実行する処理手順について説明する。図６は、マイコン３０が実行する処理手順を示すフローチャートである。なお、以下に示す処理手順は、タッチＩＣ２０による入力座標の算出毎に、マイコン３０の制御部３２によって繰り返し実行される。

【0063】

図６に示すように、マイコン３０は、タッチＩＣ２０から入力された入力座標に基づいて、タッチ位置判定を行い（ステップＳ１０１）、タッチ位置が１点タッチか否かを判定する（ステップＳ１０２）。

【0064】

マイコン３０は、ステップＳ１０２の判定処理において、１点タッチであった場合（ステップＳ１０２，Ｙｅｓ）、抵抗値に基づいて座標補正を実施する（ステップＳ１０３）。

【0065】

また、マイコン３０は、ステップＳ１０２の判定処理において、１点タッチでなかった場合、すなわち、２点タッチであった場合（ステップＳ１０２，Ｎｏ）、ステップＳ１０３の処理を省略し、ステップＳ１０４の処理へ移行する。

【0066】

その後、マイコン３０は、入力座標を正規化するとともに（ステップＳ１０４）、入力座標に対して、画面解像度にあわせた解像度変換を行い（ステップＳ１０５）、解像度変換を行った入力座標に基づいて表示切り替えを行い（ステップＳ１０６）、処理を終了する。

【0067】

上述したように、実施形態に係るマイコン３０（制御装置の一例）は、判定部３２ａと、補正部３２ｂとを備える。判定部３２ａは、抵抗膜方式のタッチパネル１０に対するタッチ位置の数を示すタッチ点数を判定する。補正部３２ｂは、判定部３２ａによって判定されたタッチ点数が１点である１点タッチである場合と、タッチ点数が２点である２点タッチである場合とで、異なる座標補正によってタッチ位置が示す入力座標を補正する。したがって、実施形態に係るマイコン３０によれば、入力座標を精度よく導出することができる。

【0068】

ところで、上述した実施形態では、２点タッチ時において、総抵抗値に基づく座標補正をスキップする場合について説明したが、これに限定されるものではない。この点の詳細について図７を用いて説明する。図７は、補正係数を示す模式図である。

【0069】

上述のように、２点タッチ時において、総抵抗値に基づく座標補正を実施すると、入力座標が実施のタッチ位置よりも外付け抵抗Ｒｗの分だけタッチパネル１０の外側にずれることになる。

【0070】

これに対して、総抵抗値に基づく座標補正を適用後の入力座標に対して、補正係数を乗算することで、入力座標を補正することにしてもよい。ここで、補正係数とは外付け抵抗Ｒｅに応じた係数であり、総抵抗値に基づく座標補正によるずれを元に戻すための係数である。

【0071】

図７に示す例では、総抵抗値に基づく座標補正により、入力座標Ｘ１へ補正された場合を示し、補正係数により、入力座標が入力座標Ｘ２へ再補正した場合を示す。この場合においても、１点タッチ時および２点タッチ時の双方において、入力座標を精度よく導出することができる。

【0072】

ところで、上述した実施形態では、タッチＩＣ２０によって算出された入力座標に対して座標補正を実施する場合について説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、端子間電圧を外付け抵抗Ｒｅに基づいて補正した後に、入力座標を算出することにしてもよい。

【0073】

また、上述した実施形態では、タッチパネル１０、タッチＩＣ２０およびマイコン３０がそれぞれ別々の構成である場合について説明したが、適宜、統合または分散を行うことにしてもよい。

【0074】

さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。

【符号の説明】

【0075】

１ 入力システム
１０ タッチパネル
１１ 第１抵抗膜
１２ 第２抵抗膜
１３ Ａ／Ｄ変換器
２０ タッチＩＣ
２２ａ 算出部
３０ マイコン（制御装置の一例）
３２ａ 判定部
３２ｂ 補正部
３２ｃ 表示制御部

【図1A】

【図1B】

【図1C】

【図1D】

【図1E】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】