特許 7380866 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-11-07

(45)【発行日】2023-11-15

(54)【発明の名称】クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/62 20210101AFI20231108BHJP

   G01N 30/72 20060101ALI20231108BHJP

   G01N 30/86 20060101ALI20231108BHJP

【ＦＩ】

G01N27/62 Y

G01N27/62 X

G01N27/62 C

G01N30/72 Z

G01N30/86 D

【請求項の数】 19

(21)【出願番号】P 2022527261

(86)(22)【出願日】2020-05-25

(86)【国際出願番号】 JP2020020470

(87)【国際公開番号】W WO2021240576

(87)【国際公開日】2021-12-02

【審査請求日】2022-08-29

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】110001069

【氏名又は名称】弁理士法人京都国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】杉本 真二

【審査官】伊藤 裕美

(56)【参考文献】

【文献】特開２００９－０１４４２４（ＪＰ，Ａ）

【文献】再公表特許第２０１７／１５８７７０（ＪＰ，Ａ１）

【文献】特開２０１２－２２５８６２（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１９／００４３７０３（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特開２００８－２４９４４０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２７／６０ － Ｇ０１Ｎ ２７／７０

Ｇ０１Ｎ ３０／００ － Ｇ０１Ｎ ３０／９６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを処理するクロマトグラフ質量分析データ処理方法であって、
ＭＳ／ＭＳ分析を実行してデータを収集するデータ収集ステップと、
前記データ収集ステップの実行後に、収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成ステップと、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成ステップと、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理ステップと、
を有するクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項2】

前記データ収集ステップでは、事前にプリカーサイオンを特定しない、データ依存型解析によるＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析を実行し、前記散布図作成ステップでは、ＭＳ分析の結果に基いてＭＳ／ＭＳ分析の対象として自動的に選択されたプリカーサイオンをプロットした散布図を作成する、請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項3】

前記データ収集ステップでは、事前にプリカーサイオンを特定しない、データ非依存型解析による、所定の質量電荷比幅に含まれるイオンを一括してプリカーサイオンとしたＭＳ／ＭＳ分析を実行し、前記散布図作成ステップでは、ＭＳ／ＭＳ分析の結果から求めたプリカーサイオンをプロットした散布図を作成する、請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項4】

前記スペクトル作成ステップでは、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示する、請求項３に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項5】

前記散布図上に一つのプロットを指示するマーカを表示し、該マーカにより指示されたプロットに対応するプリカーサイオンに関連付けられたＭＳ／ＭＳスペクトルを散布図と共に表示する、請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項6】

前記散布図作成ステップは、ＭＳ／ＭＳスペクトル毎にプリカーサイオンを特定する又は推定するプリカーサイオン決定ステップと、該プリカーサイオン決定ステップで特定又は推定されたプリカーサイオンをプロットして散布図を作成する散布図取得ステップと、を含む、請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項7】

収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成ステップをさらに有し、
前記表示処理ステップでは、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示する、請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理方法。

【請求項8】

クロマトグラフ部とＭＳ／ＭＳ分析可能な質量分析部とを含み、前記クロマトグラフ部で分離された化合物を含む試料に対し、前記質量分析部で所定条件に従ってＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析、又はＭＳ／ＭＳ分析のみを繰り返し行うことによりクロマトグラフ質量分析データを収集する測定部と、
前記測定部によりＭＳ／ＭＳ分析が実行されたあとに、収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成部と、
前記測定部により収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理部と、
を備えるクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項9】

前記質量分析部は、事前にプリカーサイオンを特定しない、データ依存型解析によるＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析を実行するものであり、
前記散布図作成部は、ＭＳ分析の結果に基いてＭＳ／ＭＳ分析の対象として自動的に選択されたプリカーサイオンをプロットした散布図を作成する、請求項８に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項10】

前記質量分析部は、事前にプリカーサイオンを特定しない、データ非依存型解析による、所定の質量電荷比幅に含まれるイオンを一括してプリカーサイオンとしたＭＳ／ＭＳ分析を実行するものであり、前記散布図作成部は、ＭＳ／ＭＳ分析の結果から求めたプリカーサイオンをプロットした散布図を作成する、請求項８に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項11】

前記スペクトル作成部は、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示する、請求項１０に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項12】

前記散布図上に一つのプロットを指示するマーカを表示し、該マーカにより指示されたプロットに対応するプリカーサイオンに関連付けられたＭＳ／ＭＳスペクトルを散布図と共に表示する、請求項８に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項13】

前記散布図作成部は、ＭＳ／ＭＳスペクトル毎にプリカーサイオンを特定する又は推定するプリカーサイオン決定部と、該プリカーサイオン決定部で特定又は推定されたプリカーサイオンをプロットして散布図を作成する散布図取得部と、を含む、請求項８に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項14】

収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部をさらに備え、
前記表示処理部は、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示する、請求項８に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

【請求項15】

クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを、コンピュータを用いて処理するクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムであって、コンピュータを、
ＭＳ／ＭＳ分析が実行されたあとに、収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成機能部と、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成機能部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理機能部と、
して動作させるクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム。

【請求項16】

前記散布図上に一つのプロットを指示するマーカを表示し、該マーカにより指示されたプロットに対応するプリカーサイオンに関連付けられたＭＳ／ＭＳスペクトルを散布図と共に表示する、請求項１５に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム。

【請求項17】

前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、
前記散布図作成機能部では、ＭＳ／ＭＳスペクトルから得られたプリカーサイオンの情報に基いて前記散布図を作成する、請求項１５に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム。

【請求項18】

前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、
前記スペクトル作成機能部では、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示する、請求項１５に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム。

【請求項19】

コンピュータを、収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成機能部、としてさらに動作させ、
前記表示処理機能部では、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示させる、請求項１５に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、クロマトグラフ質量分析により収集されたデータを処理するためのクロマトグラフ質量分析データ処理方法、 該方法を用いたクロマトグラフ質量分析装置、及び、該方法をコンピュータを用いて実現するクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

近年、食品中の残留農薬検査や環境水中の汚染物質検査など、多検体多成分の定性・定量分析が必要な分野において、タンデム型質量分析装置を検出器とした液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ－ＭＳ）の利用が急速に進展している。特に後段の質量分離器として飛行時間型質量分離器を用いた四重極－飛行時間型質量分析装置（Ｑ－ＴＯＦ型質量分析装置）は、一般的なトリプル四重極型質量分析装置に比べて、高い質量精度及び質量分解能の測定が可能であることから、複雑な試料に含まれる化合物の同定や定量に威力を発揮している。

【0003】

こうしたタンデム型質量分析装置を検出器としたＬＣ－ＭＳでは、質量分析部におけるＭＳ／ＭＳ分析の手法として、データ依存型解析（ＤＤＡ：Data Dependent Analysis、又は、Data Dependent Acquisition）と、データ非依存型解析（ＤＩＡ：Data Independent Analysis、又は、Data Independent Acquisition）と呼ばれる手法が採用されている（特許文献１、２等参照）。

【0004】

ＤＤＡは、まず通常の質量分析（以下「ＭＳ分析」と称す）によりマススペクトル（以下、ＭＳ分析により得られたマススペクトルを「ＭＳスペクトル」と称す）を取得し、そのＭＳスペクトルにおいて観測されるピークの信号強度等に基いて選択した特定の質量電荷比（厳密にはイタリック表記のm/zであるが、本明細書では慣用的に使用されている「質量電荷比」との用語を用いる）を持つイオンをプリカーサイオンとしてＭＳ／ＭＳ分析を上記ＭＳ分析に引き続いて行い、多様なプロダクトイオンが観測されるＭＳ／ＭＳスペクトルを取得する手法である。ＤＤＡでは、ＭＳスペクトルにおいて適当な条件を満たすピークが存在しない場合にはＭＳ／ＭＳ分析が実行されない。

【0005】

一方、ＤＩＡは、測定対象とする質量電荷比範囲を複数に分割してそれぞれに質量窓を設定し、各質量窓に含まれる質量電荷比を有するイオンを一括してプリカーサイオンとして、それらプリカーサイオンから生成されるプロダクトイオンを網羅的にスキャン測定して質量窓毎にＭＳ／ＭＳスペクトルを得る手法である。

【0006】

特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとしたＭＳ／ＭＳ分析を実施するＤＤＡと異なり、ＤＩＡでは、質量窓に含まれる複数のイオンをプリカーサイオンとしたＭＳ／ＭＳ分析を行うとともに、異なる質量電荷比範囲の質量窓について実質的に同時とみなせる時間内にそれぞれＭＳ／ＭＳ分析を実施するため、ＭＳ／ＭＳスペクトルの網羅性が高い。そのため、ＤＩＡは、試料に含まれる多数の化合物について幅広く網羅的に定性及び定量するのに好適な手法である。

【0007】

いずれの手法を用いるにしても、上述したようなＬＣ－ＭＳでは、液体クロマトグラフでの試料注入時点から測定終了時点までの測定期間の全体に亘る或いは特定の保持時間範囲における、ＭＳスペクトルを構成するデータ及び、該ＭＳスペクトル上で観測されるプリカーサイオンをターゲットとした一又は複数のＭＳ／ＭＳスペクトルを構成するデータ、又は、ＭＳスペクトル上で観測される筈であるプリカーサイオンをターゲットとした一又は複数のＭＳ／ＭＳスペクトルを構成するデータが、収集され保存される。そして、測定終了後に、そうして保存されたデータに基いてマススペクトルやクロマトグラムなどの各種のグラフが作成されるとともに、試料中の化合物の同定処理や定量処理などが、コンピュータを用いて実施される。

【0008】

特許文献３には、ＬＣ－ＭＳで得られたデータに基いて作成されるＭＳスペクトルとそれに関連するＭＳ／ＭＳスペクトル（さらにはｎが３以上であるＭＳⁿスペクトル）とを表示するデータ処理の技術が開示されている。その技術では、表示部の画面上に表示されるウインドウ内に、スペクトルツリー表示領域とスペクトル表示領域とが設けられ、スペクトルツリー表示領域には、分析条件（プリカーサイオンのm/z値や保持時間など）とその条件の下で収集されたＭＳスペクトル及びＭＳⁿスペクトルの関連とを示す文字情報がツリー構造で示されるようになっている。そして、スペクトルツリー表示領域においてユーザにより選択指示された部分に対応するＭＳスペクトル及びＭＳⁿスペクトルが、スペクトル表示領域に表示されるようになっている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0009】

【文献】国際公開第２０１９／０１２５８９号

【文献】米国特許第８８０９７７０号明細書

【文献】国際公開第２０１７／１５８７７０号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0010】

しかしながら、上述したような表示形式では、或る一つのＭＳスペクトルとそれに関連するＭＳ／ＭＳスペクトルとの関係は把握し易いものの、測定期間全体の中でどの保持時間範囲にどのようなm/z値を有するプリカーサイオンに対するＭＳ／ＭＳスペクトルが得られたのか、或いは、測定期間全体の中でＭＳ／ＭＳスペクトルが多く取得されている保持時間はどの辺りであるか、といったような、ＭＳ／ＭＳ分析結果全体を俯瞰するような理解がしにくいという問題があった。また、ユーザがＭＳ／ＭＳ分析結果全体を俯瞰的に理解したうえで着目するＭＳ／ＭＳスペクトルを詳細に確認する、という作業も手間が掛かり面倒であった。

【0011】

なお、ここではＬＣ－ＭＳを例に挙げて説明を行っているが、ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ－ＭＳ）でも事情は同じである。以下の説明では、液体クロマトグラフ（ＬＣ）とガスクロマトグラフ（ＧＣ）を合わせて単にクロマトグラフという。

【0012】

本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、簡単な操作によって、ユーザがＭＳ／ＭＳ分析結果全体を俯瞰的に確認したり、ＭＳ／ＭＳ分析結果全体の中の着目する結果を詳細に確認したりすることができるようにすることによって、ＭＳ／ＭＳ分析結果の解析作業を効率的に行うことができるクロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムを提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0013】

上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理方法の一態様は、クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを処理するクロマトグラフ質量分析データ処理方法であって、
収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成ステップと、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成ステップと、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理ステップと、
を有するものである。

【0014】

また上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置の一態様は、
クロマトグラフ部とＭＳ／ＭＳ分析可能な質量分析部とを含み、前記クロマトグラフ部で分離された化合物を含む試料に対し、前記質量分析部で所定条件に従ってＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析、又はＭＳ／ＭＳ分析のみを繰り返し行うことによりクロマトグラフ質量分析データを収集する測定部と、
前記測定部により収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成部と、
前記測定部により収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理部と、
を備えるものである。

【0015】

また上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムの一態様は、クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを、コンピュータを用いて処理するクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムであって、コンピュータを、
収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成機能部と、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成機能部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理機能部と、
して動作させるものである。

【0016】

ここで、クロマトグラフは、液体クロマトグラフ又はガスクロマトグラフのいずれでもよい。

【0017】

また、質量分析部で実施されるＭＳ／ＭＳ分析は、上述したデータ依存型解析（ＤＤＡ）若しくはデータ非依存型解析（ＤＩＡ）のいずれでも、又はそれ以外の方法（例えば、予め決められた保持時間の範囲に、決められた特定の質量電荷比を有するプリカーサイオンに対するＭＳ／ＭＳ分析を実行するなど）でもよい。

【発明の効果】

【0018】

本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムの上記態様によれば、ユーザは表示された散布図から、ＭＳ／ＭＳ分析が実施された保持時間の範囲とそのＭＳ／ＭＳ分析におけるプリカーサイオンの質量電荷比値との全容を容易に把握することができる。また、散布図上に示されている特定の保持時間及びプリカーサイオンに対するＭＳ／ＭＳスペクトルも併せて確認することができる。それにより、ＭＳ／ＭＳ分析全体の俯瞰的な把握とともに、ユーザが着目する特定の条件の下でのＭＳ／ＭＳ分析結果の詳細な確認も簡便に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0019】

【図1】本発明の一実施形態であるＬＣ－ＭＳ分析システムの概略構成図。

【図2】本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおけるＤＤＡモードでの分析を説明する模式図。

【図3】本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおけるＤＩＡモード（ＭＳ分析なし）での分析を説明する模式図。

【図4】本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおけるＤＩＡモード（ＭＳ分析あり）での分析を説明する模式図。

【図5】本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおける分析結果表示画面の一例を示す図。

【発明を実施するための形態】

【0020】

以下、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置の一実施形態であるＬＣ－ＭＳ分析システムについて、添付図面を参照して説明する。
［ＬＣ－ＭＳ分析システムの構成］
図１は、本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムの概略構成図である。

【0021】

このＬＣ－ＭＳ分析システムは、図１に示すように、液体クロマトグラフ部１Ａ及び質量分析部１Ｂを含む測定部１と、制御・処理部４と、入力部５と、表示部６と、を含む。

【0022】

液体クロマトグラフ部１Ａは、移動相が貯留される移動相容器１０と、移動相を吸引して略一定流量で送給する送液ポンプ１１と、移動相中に試料液を注入するインジェクタ１２と、試料液に含まれる各種化合物を時間的に分離するカラム１３と、を含む。

【0023】

質量分析部１Ｂは四重極－飛行時間型（Ｑ－ＴＯＦ型）質量分析装置であり、略大気圧雰囲気であるイオン化室２０１と、内部が四つに区画された真空チャンバ２０と、を含む。真空チャンバ２０内には、第１中間真空室２０２、第２中間真空室２０３、第１高真空室２０４、第２高真空室２０５が設けられ、この順に真空度が高くなるように各室は真空ポンプにより真空排気されている。即ち、この質量分析部１Ｂには多段差動排気系の構成が採用されている。

【0024】

イオン化室２０１には、カラム１３の出口から溶出液が供給されるエレクトロスプレーイオン化（ＥＳＩ：Electrospray ionization）プローブ２１が配置され、イオン化室２０１と第１中間真空室２０２とは細径の脱溶媒管２２を通して連通している。第１中間真空室２０２と第２中間真空室２０３とはスキマー２４の頂部に形成されたオリフィスを通して連通しており、第１中間真空室２０２内と第２中間真空室２０３内にはそれぞれ、イオンガイド２３、２５が配置されている。第１高真空室２０４内には、四重極マスフィルタ２６と、内部にイオンガイド２８が配置されたコリジョンセル２７が設けられている。また、第１高真空室２０４と第２高真空室２０５とに跨って配置された複数の電極はイオンガイド２９を構成する。さらに、第２高真空室２０５内には、直交加速部３０、及びリフレクトロンを有するイオン飛行部３１、を含む直交加速方式の飛行時間型質量分離器と、イオン検出器３２とが設けられている。

【0025】

制御・処理部４は、機能ブロックとして、分析制御部４０、データ格納部４１、成分検出部４２、デコンボリューション処理部４３、プリカーサリスト作成部４４、散布図作成部４５、スペクトル作成部４６、クロマトグラム作成部４７、及び、表示処理部４８、を含む。

【0026】

一般に、制御・処理部４の実体はパーソナルコンピュータやワークステーションなどであり、そうしたコンピュータにインストールされた専用の一又は複数のソフトウェア（コンピュータプログラム）を該コンピュータにおいて実行することにより、上記各機能ブロックが具現化される構成とすることができる。こうしたコンピュータプログラムは、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、メモリカード、ＵＳＢメモリ（ドングル）などの、コンピュータ読み取り可能である非一時的な記録媒体に格納されてユーザに提供されるものとすることができる。或いは、インターネットなどの通信回線を介したデータ転送の形式で、ユーザに提供されるようにすることもできる。或いは、ユーザがシステムを購入する時点で予めシステムの一部であるコンピュータにプリインストールしておくこともできる。

【0027】

［ＬＣ－ＭＳ分析システムの分析動作］
分析制御部４０は測定部１を制御することで、用意された試料に対するＬＣ／ＭＳ分析を実行する。次に、この分析制御部４０による制御の下で実行される典型的な測定動作について、概略的に説明する。
このＬＣ－ＭＳ分析システムでは、イオン解離を伴わない通常の質量分析（ＭＳ分析）と、衝突誘起解離（ＣＩＤ：Collision-Induced Dissociation）によってイオンを解離させるＭＳ／ＭＳ（＝ＭＳ²）分析とを選択的に行うことが可能である。

【0028】

液体クロマトグラフ部１Ａにおいて、送液ポンプ１１は移動相容器１０から移動相を吸引し略一定流量でカラム１３に送る。分析制御部４０からの指示に応じてインジェクタ１２は試料を移動相中に注入する。試料は移動相に乗ってカラム１３に導入され、カラム１３を通過する間に、試料中の化合物は時間的に分離される。カラム１３の出口からの溶出液はＥＳＩプローブ２１に導入され、ＥＳＩプローブ２１は溶出液を帯電液滴としてイオン化室２０１内に噴霧する。帯電液滴が微細化され、該液滴中の溶媒が気化する過程で、該液滴中の化合物は気体イオンとなる。

【0029】

生成されたイオンは脱溶媒管２２を経て第１中間真空室２０２内へと送られ、イオンガイド２３、スキマー２４、イオンガイド２５を順に経て、第１高真空室２０４内の四重極マスフィルタ２６に導入される。ＭＳ分析の場合、イオンは、四重極マスフィルタ２６及びコリジョンセル２７をほぼ素通りし、直交加速部３０まで輸送される。一方、ＭＳ／ＭＳ分析の場合には、四重極マスフィルタ２６を構成する複数のロッド電極にそれぞれ所定の電圧が印加され、その電圧に応じた特定の質量電荷比を有するイオン種、又はその電圧に応じた特定の質量電荷比範囲に含まれるイオン種が、プリカーサイオンとして選択されて四重極マスフィルタ２６を通過する。コリジョンセル２７内には、Ａｒガス等のコリジョンガスが導入されており、プリカーサイオンはコリジョンガスに接触してＣＩＤにより解離され、各種のプロダクトイオンが生成される。生成されたプロダクトイオンはイオンガイド２９を経て直交加速部３０まで輸送される。

【0030】

プリカーサイオンがコリジョンセル２７に入射するときに該イオンが有する運動エネルギ（コリジョンエネルギ）によって、そのイオンの解離の態様は異なる。そのため、プリカーサイオンは同じであっても、コリジョンエネルギを適宜調整することによって、生成されるプロダクトイオンの種類を変化させることができる。また、全てのプリカーサイオンを解離させるのではなく、一部のプリカーサイオンを解離させずに残すこともできる。なお、よく知られているように、一般にコリジョンエネルギは、四重極マスフィルタ２６に印加される直流バイアス電圧と、コリジョンセル２７のイオン入口に配置されたレンズ電極に印加される直流電圧との電圧差で決まる。

【0031】

直交加速部３０において、イオンはその入射方向（Ｘ軸方向）に略直交する方向（Ｚ軸方向）に略一斉に加速される。加速されたイオンはその質量電荷比に応じた速度で飛行し、イオン飛行部３１において図１中に２点鎖線で示すように折り返し飛行し、イオン検出器３２に到達する。直交加速部３０から略同時に出発した各種イオンは、質量電荷比が小さい順にイオン検出器３２に到達して検出され、イオン検出器３２はイオン数に応じた検出信号（イオン強度信号）を制御・処理部４へ出力する。

【0032】

制御・処理部４においてデータ格納部４１は、検出信号をデジタル化し、さらにイオンが直交加速部３０から射出された時点を基点とする飛行時間を質量電荷比に換算することでマススペクトルデータ（ローデータ）を取得して保存する。直交加速部３０では、所定の周期で繰り返しイオンをイオン飛行部３１へ向けて射出する。これにより、データ格納部４１は、所定の質量電荷比範囲に亘るマススペクトルデータを所定の周期で繰り返し取得することができる。

【0033】

ＬＣ／ＭＳ分析では、一つの試料に対して複数回の測定を行うことが困難であることが多い。そのため、１回の測定（１回の試料の注入）によって、該試料に含まれる多数の化合物についての情報をできるだけ多く収集する必要がある。これに対応して、本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムでは、上述したＤＤＡ、及びＤＩＡを含む複数の解析モードでの測定が可能となっている。

【0034】

［ＤＤＡモードの動作説明］
図２は、ＤＤＡモードにおける分析の流れを説明する模式図である。ＤＤＡでは、典型的には一定の周期（図２では時間Δｔ間隔）で所定の質量電荷比範囲に亘るＭＳ分析を繰り返す。制御・処理部４では、ＭＳ分析が実行される毎に即座にＭＳスペクトルを作成し、ＭＳスペクトルにおいて観測されるイオンピークが予め設定された特定の条件に適合するか否かをチェックする。そして、特定条件に適合するピークが存在する場合には、そのピークに対応する質量電荷比を持つイオンをプリカーサイオンとしたＭＳ／ＭＳ分析を、ＭＳ分析に引き続いて実行する。これにより、そのプリカーサイオンから生成される各種のプロダクトイオンが観測されるＭＳ／ＭＳスペクトルを取得することができる。

【0035】

上記特定条件とは例えば、イオン強度が最大であるものなどとすることができる。また、図２に示した例では、ＭＳ分析に引き続いて１回のＭＳ／ＭＳ分析しか実施していないが、時間的な余裕があれば、１回のＭＳ分析に引き続いて、互いに異なるプリカーサイオンについての複数回のＭＳ／ＭＳ分析を実施することができる。その場合、例えばＭＳスペクトルで観測されるピークの中でイオン強度が大きい順に所定個数のピークを選択し、そのピークに対応する質量電荷比のイオンをプリカーサイオンとすることができる。また、図２からも分かるように、ＤＤＡでは、或る保持時間において得られるＭＳスペクトルに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルが必ずしも存在するとは限らない。

【0036】

ＤＤＡでは、ＭＳ分析により得られたＭＳスペクトルデータ、及び、ＭＳ／ＭＳ分析により得られたＭＳ／ＭＳスペクトルデータは、その分析毎にそれぞれ異なるデータファイルに格納されるものとすることができる。その場合、各データファイルには、そのデータが収集された保持時間（ｔn、ｔn+1、…）やプリカーサイオンの質量電荷比値（ＭＳ／ＭＳスペクトルの場合）などの情報が併せて記録される。また、同じ保持時間（ｔn、ｔn+1、…）に取得されたＭＳスペクトルデータとＭＳ／ＭＳスペクトルデータとが、同じデータファイルに格納されるようにしてもよい。

【0037】

［ＤＩＡモードの動作説明］
図３及び図４は、ＤＩＡモードにおける分析の説明図である。図３はＭＳ分析を実施しない場合の例、図４はＭＳ分析を周期的に実施する場合の例である。
ＤＩＡでは、測定対象とする質量電荷比範囲の全体を複数に分割してそれぞれに質量窓を設定し、各質量窓に含まれる質量電荷比を有するイオンを一括してプリカーサイオンとして選択してＭＳ／ＭＳ分析を実行する。

【0038】

図３及び図４の例では、質量電荷比範囲Ｍ１～Ｍ６を五つに分割し、その５個の質量窓にそれぞれ含まれる質量電荷比を有するイオンをターゲットとするＭＳ／ＭＳ分析を実施する。その質量窓毎に一つのＭＳ／ＭＳスペクトルが得られるから、図３及び図４の例では１サイクル中に５個のＭＳ／ＭＳスペクトルが得られ、その５個のＭＳ／ＭＳスペクトルには、その時点で質量分析部１Ｂに導入された全ての化合物に由来するプロダクトイオンが現れる。即ち、全ての化合物についての網羅的なプロダクトイオン情報が得られる。また、上述したように、ＣＩＤの際のコリジョンエネルギを調整する、例えばコリジョンエネルギを相対的に低い値に調整すると、プリカーサイオンが完全に解離してしまうことを回避することができるため、ＭＳ／ＭＳスペクトルにはプリカーサイオン自体のピークも観測される。したがって、例えば１サイクル中でコリジョンエネルギを相対的に高い値と低い値とを含む複数の値に変化させ、各質量電荷比範囲Ｍ１～Ｍ６のそれぞれに対してコリジョンエルギを変化させた複数のＭＳ／ＭＳスペクトルを取得し、その複数のＭＳ／ＭＳスペクトルを加算したり平均化したりして一つのＭＳ／ＭＳスペクトルを作成すると、その保持時間において測定対象である化合物全てのプロダクトイオンの情報、又はプロダクトイオンとプリカーサイオンとの両方の情報を得ることができる。

【0039】

上述したようにコリジョンエネルギを調整することで、実質的にプリカーサイオン自体のピークが観測されるＭＳ／ＭＳスペクトルを得ることができる。この場合、図３に示したように、ＭＳ分析を実行する必要がないので、その分だけ１サイクルの時間を短くすることができる。一方、図４に示したＤＩＡでは、所定の質量電荷比範囲に亘るＭＳ分析を１サイクルに１回実施するので、ＭＳ／ＭＳスペクトルとは別にＭＳスペクトルを取得することができる。そのため、ＭＳ／ＭＳ分析時にプリカーサイオンの情報を取得する必要がなく、例えばＭＳ／ＭＳ分析時にプリカーサイオンの全てをＣＩＤにより解離させてもよい。それ故に、ＭＳ／ＭＳスペクトルにおけるプロダクトイオンの信号強度が高くなり、感度を向上させることができる。

【0040】

なお、図３及び図４は説明のために簡略化した図であり、一般的には、質量窓の数はより多数であり、一つの質量窓の質量電荷比幅は１０～１００Da程度の範囲、例えば２０Daなどである。

【0041】

ＤＩＡにおいて、ＭＳ分析により得られたＭＳスペクトルデータ、及び、ＭＳ／ＭＳ分析により得られたＭＳ／ＭＳスペクトルデータは、その分析毎にそれぞれ異なるデータファイルに格納されるものとすることができる。また、同じ保持時間（ｔn、ｔn+1、…）に取得されたＭＳスペクトルデータと複数のＭＳ／ＭＳスペクトルデータとが、又は、複数のＭＳ／ＭＳスペクトルデータが、同じデータファイルに格納されるようにしてもよい。

【0042】

［本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおける表示処理］
一つの試料に対して、上述したようなＤＤＡ又はＤＩＡを利用したＬＣ／ＭＳ分析が実行された場合、データ格納部４１には、そのＬＣ／ＭＳ分析に対応したＭＳスペクトルデータ及び／又はＭＳ／ＭＳスペクトルデータが格納されたデータファイルが保存される。こうしたデータが保存されている状態の下で、本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムにおいて実行される特徴的なデータ処理について次に説明する。このデータ処理は、収集されたデータに基いて、図５に示すような分析結果表示画面（ウインドウ）を表示部６の画面上に表示する処理である。

【0043】

図５に示すように、分析結果表示画面１００には、プリカーサイオンリスト表示領域１０１と、散布図表示領域１０２と、スペクトル表示領域１０３と、クロマトグラム表示領域１０４と、が設けられている。

【0044】

プリカーサイオンリスト表示領域１０１には、一つの試料に対するＬＣ／ＭＳ分析において収集されたデータにおいて検出された全てのプリカーサイオンの情報がリストアップされているプリカーサイオンテーブルが配置される。このテーブルでは、一行が一つのプリカーサイオンに対応しており、そのプリカーサイオンの質量電荷比値、信号強度値（最大値）、保持時間範囲などの情報が示されている。

【0045】

散布図表示領域１０２には、横軸が保持時間、縦軸がプリカーサイオンの質量電荷比値である散布図が配置される。この散布図上で一つのプリカーサイオンに対応するプロットは矩形状であり、そのプロットの幅（横軸方向の長さ）は、そのプリカーサイオンの質量電荷比における抽出イオンクロマトグラム（ＸＩＣ）上でのピークの幅（保持時間幅）を示している。また、プロットの表示色は、そのプリカーサイオンに対応するピークの信号強度（例えばＸＩＣ上でのピークの面積値）に比例した濃淡で示されている。

【0046】

スペクトル表示領域１０３には、プリカーサイオンテーブルでは一行に、散布図上では１個のプロットに対応し、それらのいずれかにおいて指定されているプリカーサイオンに紐付けられている実測のプロダクトイオンスペクトル（ＭＳ／ＭＳスペクトル）が配置される。但し、ＭＳ／ＭＳ分析がＤＩＡモードである場合には、実測のＭＳ／ＭＳスペクトルのほかに、計算によって作成されたデコンボリューションスペクトルも併せて表示される。図５は、実測のＭＳ／ＭＳスペクトルとデコンボリューションスペクトルとが、スペクトル表示領域１０３において上下に表示されている例である。デコンボリューションスペクトルについては後述する。

【0047】

クロマトグラム表示領域１０４には、上述したようにプリカーサイオンテーブル又は散布図上で指定されているプリカーサイオンの質量電荷比値における抽出イオンクロマトグラムが配置されている。

【0048】

次に、制御・処理部４において上記のような表示処理を行う際の処理動作を説明する。
ＤＤＡモードで収集されたデータを処理する際には次のようにしてプリカーサイオンテーブルを作成する。
上述したように、ＤＤＡモードのＭＳ／ＭＳ分析が実施された場合には、ＭＳスペクトル上で検出されＭＳ／ＭＳ分析でターゲットとなったプリカーサイオンの情報が、データとともに保存されている。そこで、プリカーサリスト作成部４４は、データ格納部４１に格納されているデータから全てのプリカーサイオンの情報を抽出し、その情報に基いてプリカーサイオンテーブルを作成する。ＤＤＡモードが実行された場合には、ＭＳ／ＭＳ分析を実行したときのプリカーサイオンの条件、例えばＭＳスペクトル上のイオンピークの信号強度に基いてプリカーサイオンを選択したか、或いは、特定の質量電荷比を有する若しくは特定の質量電荷比範囲に入るイオンを検出したことでプリカーサイオンを選択したか、などを示す情報も併せてプリカーサイオンテーブルにリストアップされる。

【0049】

一方、ＤＩＡモードのＭＳ／ＭＳ分析が実施された場合には、取得されるＭＳ／ＭＳスペクトルのターゲットは一つのイオンとは限らず、通常は所定の質量電荷比幅を持つ質量窓に含まれる複数の質量電荷比を有するイオンがプリカーサイオンとなる。そこで、まず、成分検出部４２は、収集された全てのＭＳ／ＭＳスペクトルに対し所定の成分検出アルゴリズムを用いて化合物及びその部分構造である成分を検出するとともに、検出された成分の中でＭＳ／ＭＳスペクトル毎にプリカーサイオンを推定する。そして、プリカーサリスト作成部４４は、推定されたプリカーサイオンの情報に基いてプリカーサイオンテーブルを作成する。

【0050】

成分の検出及びプリカーサイオンの推定は、例えば次のような手順で行うことができる。
成分検出部４２は、ＬＣ／ＭＳ分析により収集されたデータをデータ格納部４１から読み出し、一つのＭＳ／ＭＳスペクトルを構成するデータ毎に、セントロイド変換処理を行うことによりバーグラフ表示であるＭＳ／ＭＳスペクトルを得る。例えば図３、図４の例では、１サイクルに対し質量窓が相違する５個のＭＳ／ＭＳスペクトルが得られる。

【0051】

次に成分検出部４２は、得られた全てのＭＳ／ＭＳスペクトルから、試料に含まれる化合物及びその部分構造に対応すると推定される有意な成分を検出する。ここでいう「成分」とは、基本的には、質量電荷比軸、時間軸、及び信号強度軸の３次元グラフにおいて観測されるピークに対応するが、一つの化合物に由来する又は一つの化合物の一つの部分構造に由来する質量電荷比が相違するピーク、つまり同位体クラスタを構成する複数のピークは集約されて一つの成分とみなされる。また併せて、成分検出部４２は、ＭＳ／ＭＳスペクトル毎に、そのＭＳ／ＭＳスペクトルに対応する質量窓の質量電荷比範囲に存在するピークの中で信号強度が最も大きいピークをプリカーサイオンピークであると推定する。したがって、ＭＳ／ＭＳスペクトル毎にそれぞれ異なるプリカーサイオンが決まる。このピークに対応する成分の質量電荷比値や保持時間範囲の情報が、プリカーサイオンの情報としてプリカーサイオンテーブルを作成するために利用される。

【0052】

なお、ＤＩＡモードでもＭＳ分析ありの場合には、ＭＳ／ＭＳスペクトルではなくＭＳスペクトルにおいて質量窓毎に、その質量窓の質量電荷比範囲に存在するピークの中で信号強度が最も大きいピークがプリカーサイオンピークであると推定することができる。

【0053】

上述のようにプリカーサイオンテーブルが作成されると、散布図作成部４５はプリカーサイオンテーブルにリストアップされている全てのプリカーサイオンの質量電荷比値、信号強度値、及び保持時間の情報に基いて、それぞれプリカーサイオンに対応するプロットの幅と表示色とを決定し、散布図を作成する。図５に示すように、散布図上の多数のプロットのうちの一つには四角枠形状のマーカ１０２ａが表示されており、このマーカ１０２ａで指示されるプリカーサイオンの情報が記載されているプリカーサイオンテーブル上の行は、他の行とは異なる背景色で目立つように表示される。

【0054】

上述したように、ＤＩＡモードでＭＳ分析なしの場合、プリカーサイオンテーブル上のプリカーサイオンは全てＭＳ／ＭＳスペクトルから導出されたものである。したがって、散布図上の全てのプロットも全て、ＭＳ／ＭＳスペクトルから導出された情報に基くものである。

【0055】

スペクトル作成部４６は、散布図上ではマーカ１０２ａで指示され、プリカーサイオンテーブル上では背景色によって明示されている行に対応するプリカーサイオンに紐付けられているＭＳ／ＭＳスペクトルデータをデータ格納部４１から取得し、該データによりＭＳ／ＭＳスペクトルを作成する。ＤＤＡモードでは、このＭＳ／ＭＳスペクトルは特定の一種類のプリカーサイオンに対応するプロダクトイオンスペクトルである。

【0056】

これに対し、ＤＩＡモードでは、上記ＭＳ／ＭＳスペクトルは複数種のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンが混在したＭＳ／ＭＳスペクトルである。但し、多くの場合、ユーザが確認したいのは、一種類のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンのみが観測されるＭＳ／ＭＳスペクトルである。
そこで、本実施形態のＬＣ－ＭＳ分析システムでは、ＤＩＡモードにより収集されたデータを処理する場合に、さらに次のような処理を実行する。

【0057】

成分検出部４２によりＭＳ／ＭＳスペクトルから成分が検出されると、デコンボリューション処理部４３は、その成分検出結果においてプロダクトイオンであると推定される成分（マスピーク）をプリカーサイオンに帰属させる処理を行う。こうした処理には、例えばin silicoフラグメントマッピング等と呼ばれる既知の技術を利用することができる。即ち、例えば、プロダクトイオンである各成分の質量電荷比値に対して所定の許容幅を適用した質量電荷比範囲を検索キーとして、既知の化学構造データベースに対する検索を行うようにする。また、精密な質量電荷比値を利用して組成推定を行い、組成推定の結果として化学式（イオン式）が得られている場合には、その化学式を検索キーとして既知の化学構造データベースに対する検索を行うこともできる。

【0058】

こうして各プリカーサイオンへのプロダクトイオンの帰属がそれぞれ定まれば、一種類のプリカーサイオンに帰属される複数のプロダクトイオンの情報を集め、その情報からマススペクトルを作成することで、デコンボリューションスペクトルを得ることができる。即ち、スペクトル表示領域１０３に表示されるデコンボリューションスペクトルは、実測で得られたデータから計算によって作成された、いわば仮想的なプロダクトイオンスペクトルである。なお、こうして得られたデコンボリューションスペクトルをライブラリ検索に供することで、化合物を特定することも可能である。

【0059】

クロマトグラム作成部４７は、上述したように、散布図上ではマーカ１０２ａで指示され、プリカーサイオンテーブル上では背景色によって明示されている行のプリカーサイオンの質量電荷比に対応する時間方向のデータをデータ格納部４１から取得し、そのデータに基いて抽出イオンクロマトグラムを作成する。

【0060】

表示処理部４８は、上述したように作成されたプリカーサイオンテーブル、散布図、ＭＳ／ＭＳスペクトル、及び抽出イオンクロマトグラムをそれぞれの表示領域１０１～１０４に配置した分析結果表示画面１００を作成し、これを表示部６の画面上に表示する。分析結果表示画面１００を最初に表示する際には、初期設定として、散布図上のマーカ１０２ａを、例えば保持時間が最もゼロに近く且つ質量電荷比が最小であるプリカーサイオンに対応するプロットを指示するように表示させることができる。そして、ユーザが、表示されている散布図上で適宜のプロットを入力部（マウスなどのポインティングデバイス）５によるクリック操作等により選択指示すると、表示処理部４８は、その指示に応じて、マーカ１０２ａを移動させるとともに、プリカーサイオンテーブルにおいて明示される行を変更する。また、プリカーサイオンの選択の変更に応じて、表示されるＭＳ／ＭＳスペクトル及び抽出イオンクロマトグラムも更新される。
また、散布図上ではなく、ユーザがプリカーサイオンテーブル上で任意の行をクリック操作等で指示することにより、プリカーサイオンの選択を変更することもできる。

【0061】

このようにして、ユーザは、散布図においてプリカーサイオンの保持時間と質量電荷比との関係を俯瞰的に確認しつつ、詳細に確認したいプリカーサイオンに対応するプロットを散布図上で又はプリカーサイオンテーブル上でクリック操作しさえすれば、該プリカーサイオンに紐付けされているＭＳ／ＭＳスペクトルや抽出イオンクロマトグラムを描画させて確認することができる。また、ＤＩＡモードでデータ収集を行った場合でも、複数のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンが混じっている可能性があるＭＳ／ＭＳスペクトルのほかに、一種類のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンのみが観測されるデコンボリューションスペクトルを併せて確認することができる。

【0062】

なお、上記実施形態は本発明の一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜修正、変更、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
例えば上記実施形態はＬＣ－ＭＳ分析システムであるが、クロマトグラフをガスクロマトグラフとしたＧＣ－ＭＳ分析システムにも本発明を適用可能であることは明らかである。

【0063】

また、上記実施形態のシステムでは質量分析部１Ｂに四重極－飛行時間型質量分析装置を用いていたが、トリプル四重極型質量分析装置、イオントラップ飛行時間型質量分析装置などの他の方式のタンデム型質量分析装置を用いることもできる。

【0064】

［種々の態様］
上述した例示的な実施形態が以下の態様の具体例であることは、当業者には明らかである。

【0065】

（第１項）本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理方法の一態様は、
上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理方法の一態様は、クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを処理するクロマトグラフ質量分析データ処理方法であって、
収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成ステップと、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成ステップと、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理ステップと、
を有するものである。

【0066】

（第６項）また上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置の一態様は、
クロマトグラフ部とＭＳ／ＭＳ分析可能な質量分析部とを含み、前記クロマトグラフ部で分離された化合物を含む試料に対し、前記質量分析部で所定条件に従ってＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析、又はＭＳ／ＭＳ分析のみを繰り返し行うことによりクロマトグラフ質量分析データを収集する測定部と、
前記測定部により収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成部と、
前記測定部により収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理部と、
を備えるものである。

【0067】

（第１１項）また上記課題を解決するためになされた本発明に係るクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムの一態様は、クロマトグラフとＭＳ／ＭＳ分析が可能な質量分析部とを組み合わせた測定部により収集されたクロマトグラフ質量分析データを、コンピュータを用いて処理するクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラムであって、コンピュータを、
収集されたデータに基いて、保持時間とプリカーサイオンの質量電荷比とを互いに直交する軸とし、ＭＳ／ＭＳスペクトルが取得されているプリカーサイオンの位置又は範囲をプロットで示す散布図を作成する散布図作成機能部と、
収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンに対応するＭＳ／ＭＳスペクトルを作成するスペクトル作成機能部と、
前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルを表示部の画面上に共に表示する表示処理機能部と、
して動作させるものである。

【0068】

第１項に記載の方法、第６項に記載の装置、及び第１１項に記載のプログラムによれば、ユーザは表示された散布図から、ＭＳ／ＭＳ分析が実施された保持時間の範囲とそのＭＳ／ＭＳ分析におけるプリカーサイオンの質量電荷比値との全容を容易に把握することができる。また、散布図上に示されている特定の保持時間及びプリカーサイオンに対するＭＳ／ＭＳスペクトルも併せて確認することができる。それにより、ＭＳ／ＭＳ分析全体の俯瞰的な把握とともに、ユーザが着目する特定の条件の下でのＭＳ／ＭＳ分析結果の詳細な確認も簡便に行うことができる。

【0069】

（第２項、第７項、第１２項）第１項に記載の方法、第６項に記載の装置、及び第１０項に記載のプログラムにおいて、前記散布図上に一つのプロットを指示するマーカを表示し、該マーカにより指示されたプロットに対応するプリカーサイオンに関連付けられたＭＳ／ＭＳスペクトルを散布図と共に表示するものとすることができる。

【0070】

第２項に記載の方法、第７項に記載の装置、及び第１２項に記載のプログラムによれば、ユーザは散布図上でプロットの選択を適宜に切り替えるという簡便な操作を行うことで、着目しているプリカーサイオンに関連付けられているＭＳ／ＭＳスペクトルを容易に確認することができる。

【0071】

（第３項）また第１項に記載の方法において、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記散布図作成ステップでは、ＭＳ／ＭＳスペクトルから得られたプリカーサイオンの情報に基いて前記散布図を作成するものとすることができる。

【0072】

（第８項）また第６項に記載の装置において、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記散布図作成部は、ＭＳ／ＭＳスペクトルから得られたプリカーサイオンの情報に基いて前記散布図を作成するものとすることができる。

【0073】

（第１３項）また第１１項に記載のプログラムにおいて、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記散布図作成機能部では、ＭＳ／ＭＳスペクトルから得られたプリカーサイオンの情報に基いて前記散布図を作成するものとすることができる。

【0074】

第３項に記載の方法、第８項に記載の装置、及び第１３項に記載のプログラムによれば、プリカーサイオンを特定せずにＭＳ／ＭＳ分析を行うデータ非依存型解析（ＤＩＡ）でデータを収集した場合であっても、プリカーサイオンの保持時間と質量電荷比との関係を知ることができる。これにより、プリカーサイオンの情報を網羅的に把握することができる。

【0075】

（第４項）また第１項に記載の方法において、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記スペクトル作成ステップでは、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示するものとすることができる。

【0076】

（第９項）また第６項に記載の装置において、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記スペクトル作成部は、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示するものとすることができる。

【0077】

（第１４項）また第１１項に記載のプログラムにおいて、前記質量分析部はデータ非依存型解析であるＭＳ／ＭＳ分析を行うものであり、前記スペクトル作成機能部では、計算によって算出されたデコンボリューションスペクトルをＭＳ／ＭＳスペクトルとして表示するものとすることができる。

【0078】

第４項に記載の方法、第９項に記載の装置、及び第１４項に記載のプログラムによれば、データ非依存型解析（ＤＩＡ）で網羅的にデータを収集した場合であっても、特定の保持時間に特定の質量電荷比を有して観測されるプリカーサイオンに由来するプロダクトイオンスペクトルを確認することができる。

【0079】

（第５項）また第１項に記載の方法では、収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成ステップをさらに有し、前記表示処理ステップは、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示するものとすることができる。

【0080】

（第１０項）また第６項に記載の装置では、収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部をさらに備え、前記表示処理部は、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示するものとすることができる。

【0081】

（第１４項）また第１１項に記載のプログラムにおいて コンピュータを、収集されたデータに基いて、前記散布図上に示されているプリカーサイオンの一つに対応する抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成機能部、としてさらに動作させ、前記表示処理機能部では、前記抽出イオンクロマトグラムを前記散布図及び前記ＭＳ／ＭＳスペクトルと同じ画面上に表示させるものとすることができる。

【0082】

第５項に記載の方法、第１０項に記載の装置、及び第１４項に記載のプログラムによれば、着目するプリカーサイオンの抽出イオンクロマトグラム上でのピーク波形形状も確認することができる。これにより、そのプリカーサイオンに別の化合物由来のイオンの重なりがないかどうかなどを確認することができる。

【符号の説明】

【0083】

１…測定部
１Ａ…液体クロマトグラフ部
１０…移動相容器
１１…送液ポンプ
１２…インジェクタ
１３…カラム
１Ｂ…質量分析部
２０…真空チャンバ
２０１…イオン化室
２０２…第１中間真空室
２０３…第２中間真空室
２０４…第１高真空室
２０５…第２高真空室
２１…ＥＳＩプローブ
２２…脱溶媒管
２３…イオンガイド
２４…スキマー
２５、２８、２９…イオンガイド
２６…四重極マスフィルタ
２７…コリジョンセル
２８…イオンガイド
３０…直交加速部
３１…イオン飛行部
３２…イオン検出器
４…制御・処理部
４０…分析制御部
４１…データ格納部
４２…成分検出部
４３…デコンボリューション処理部
４４…プリカーサリスト作成部
４５…散布図作成部
４６…スペクトル作成部
４７…クロマトグラム作成部
４８…表示処理部
５…入力部
６…表示部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】