(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-11-07
(45)【発行日】2023-11-15
(54)【発明の名称】射出成形機の制御装置及びプログラム
(51)【国際特許分類】
B29C 45/78 20060101AFI20231108BHJP
【FI】
B29C45/78
(21)【出願番号】P 2022528919
(86)(22)【出願日】2021-06-04
(86)【国際出願番号】 JP2021021422
(87)【国際公開番号】W WO2021246526
(87)【国際公開日】2021-12-09
【審査請求日】2023-01-19
(31)【優先権主張番号】P 2020098592
(32)【優先日】2020-06-05
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】390008235
【氏名又は名称】ファナック株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100106002
【氏名又は名称】正林 真之
(74)【代理人】
【識別番号】100165157
【氏名又は名称】芝 哲央
(74)【代理人】
【識別番号】100160794
【氏名又は名称】星野 寛明
(72)【発明者】
【氏名】並木 謙佑
【審査官】関口 貴夫
(56)【参考文献】
【文献】国際公開第2008/126906(WO,A1)
【文献】国際公開第2016/084369(WO,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
B29C 45/00-45/84
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
シリンダとその周囲に配置されるヒータとを有し、所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する射出成形機の制御装置であって、
前記所定時刻の直前の所定期間における、前記ヒータのヒータ出力と前記ヒータの設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部と、
取得された動作情報に含まれる所定期間における前記ヒータの表面温度を取得する表面温度取得部と、
前記ヒータのヒータ出力の推移に対する前記ヒータの表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部と、
前記動作情報、前記実績情報、及び取得された前記表面温度に基づいて、前記所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する推定部と、
を備える射出成形機の制御装置。
【請求項2】
取得された前記動作情報と取得された前記表面温度に基づいて、前記動作情報に含まれるヒータ出力の推移に対する前記表面温度と前記設定温度との比の推移を算出する算出部をさらに備え、
前記推定部は、前記実績情報に含まれる実績のうち、前記動作情報及び算出された比の推移
との一致率が最も高い実績を用いて、前記所定時刻の表面温度を推定する請求項1に記載の射出成形機の制御装置。
【請求項3】
前記表面温度取得部は、前記ヒータの表面温度と設定温度との比の形式で前記ヒータの表面温度を取得し、
前記推定部は、前記実績情報に含まれる実績のうち、前記動作情報及び取得された比の推移
との一致率が最も高い実績を用いて、前記所定時刻の表面温度を推定する請求項1に記載の射出成形機の制御装置。
【請求項4】
前記推定部は、
算出された比の推移
との一致率が最も高い実績によって示される、前記所定時刻に対応する時刻の表面温度と設定温度との比から前記所定時刻の表面温度を推定する請求項2又は3に記載の射出成形機の制御装置。
【請求項5】
シリンダとその周囲に配置されるヒータとを有し、所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する射出成形機の制御装置としてコンピュータを機能させるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記所定時刻の直前の所定期間における、前記ヒータのヒータ出力と前記ヒータの設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部、
取得された動作情報に含まれる期間における前記ヒータの前記表面温度を取得する表面温度取得部、
前記ヒータのヒータ出力の推移に対する前記ヒータの表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部、
前記動作情報、前記実績情報、及び取得された表面温度に基づいて、前記所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する推定部、
として機能させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、射出成形機の制御装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来より、ホッパに入れられたペレットをシリンダ内で溶融して、金型に注入する射出成形機が知られている。射出成形機のシリンダの外周には、ヒータが配置される。ヒータがシリンダを加熱することにより、ペレットが溶融される。
【0003】
ヒータの状態の監視及び放熱量の計算のために、ヒータの表面温度をモニタリングすることが有用である。そこで、ヒータの表面への温度測定用センサの設置、サーモグラフィによる温度測定、及び方程式を用いた表面温度の推定等が実施されている。方程式を用いた表面温度の推定として、例えば、ヒータの動作指令値と温度センサからの温度検出値とに基づいてヒータの表面温度を算出する表示装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
方程式を用いた表面温度の推定では、温度制御点や追加センサ等による検出点の温度を用いて、シリンダの軸方向及び半径方向の任意の位置の温度を推定している。一方、実際のシリンダには、センサ用の穴や、割り口等がある。そのため、シリンダの表面は一様な分布にはならない。したがって、推定された温度と、実際の温度との間で誤差を生じる可能性がある。そこで、推定されるヒータの表面温度の精度を向上することができれば好適である。
【課題を解決するための手段】
【0006】
(1)本開示は、シリンダとその周囲に配置されるヒータとを有し、所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する射出成形機の制御装置であって、前記所定時刻の直前の所定期間における、前記ヒータのヒータ出力と前記ヒータの設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部と、取得された動作情報に含まれる所定期間における前記ヒータの表面温度を取得する表面温度取得部と、前記ヒータのヒータ出力の推移に対する前記ヒータの表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部と、前記動作情報、前記実績情報、及び取得された前記表面温度に基づいて、前記所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する推定部と、を備える射出成形機の制御装置に関する。
【0007】
(2)また、本開示は、シリンダとその周囲に配置されるヒータとを有し、所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する射出成形機の制御装置としてコンピュータを機能させるプログラムであって、前記コンピュータを、前記所定時刻の直前の所定期間における、前記ヒータのヒータ出力と前記ヒータの設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部、取得された動作情報に含まれる期間における前記ヒータの前記表面温度を取得する表面温度取得部、前記ヒータのヒータ出力の推移に対する前記ヒータの表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部、前記動作情報、前記実績情報、及び取得された表面温度に基づいて、前記所定時刻における前記ヒータの表面温度を推定する推定部、として機能させるプログラムに関する。
【発明の効果】
【0008】
本開示によれば、推定されるヒータの表面温度の精度を向上することが可能な射出成形機の制御装置及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【
図1】本開示の一実施形態に係る制御装置を含む射出成形機を示す概略図である。
【
図2】一実施形態の制御装置に学習される実績情報の一例を示す表である。
【
図3】一実施形態の制御装置の構成を示すブロック図である。
【
図4】一実施形態の制御装置の動作情報の一例を示す概略図である。
【
図5】一実施形態の制御装置の実績情報の一例を示す概略図である。
【
図6】一実施形態の制御装置の表示部に表示される画面を示す画面図である。
【
図7】一実施形態の制御装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【
図8】変形例の制御装置に係る表示部に表示される画面を示す画面図である。
【
図9】他の変形例の制御装置の表示部に表示される画面を示す画面図である。
【
図10】さらに他の変形例の制御装置の表示部に表示される画面を示す画面図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本開示の一実施形態に係る射出成形機の制御装置1及びプログラムについて、
図1から
図10を参照して説明する。
まず、本実施形態により制御される射出成形機について説明する。
射出成形機10は、ペレットを溶融して金型(図示せず)に注入することで成形する装置である。射出成形機10は、例えば、
図1に示すように、シリンダ101と、ヒータ102と、安全カバー103と、を備える。
【0011】
シリンダ101は、例えば、筒状体である。シリンダ101の軸方向一端部は、端部に向けて縮径する。シリンダ101は、軸方向に沿って、内部にスクリュー(図示せず)を有する。スクリューは、溶融したペレットを攪拌しつつシリンダ101の一端側に移動させる。
【0012】
ヒータ102は、シリンダ101の周囲に配置される。ヒータ102は、例えば、シリンダ101の軸方向に沿って、複数配置される。具体的には、ヒータ102は、シリンダ101の軸方向先端のノズル部から基端まで複数配置される。本実施形態において、ヒータ102はシリンダ101の外周を覆うように、軸方向に沿って5つ配置される。ヒータ102は、例えば、シリンダ101を200度以上に加熱する。
【0013】
安全カバー103は、ヒータ102の周囲に配置される凹状体である。安全カバー103は、比較的高温となるヒータ102への接触を回避するために配置される。
【0014】
以上の射出成形機10によれば、ヒータ102によって200度以上に加熱されたシリンダ101の内部において、ペレットが溶融される。スクリューは、溶融したペレットをシリンダ101の一端から金型に注入する。これにより、射出成形機10は、例えば、プラスチック製品を成形する。
【0015】
ここで、安全カバー103がヒータ102の周囲に配置されているため、ヒータ102の表面温度を外部から直接計測することは容易ではない。一方、ヒータ102の実際の表面温度と、ヒータ102に設定される設定温度と、ヒータ102のヒータ出力との間には相関があることがわかっている。具体的には、ヒータ102の平均ヒータ出力と、ヒータ102の表面温度と設定温度との比との間には相関があることがわかっている。例えば、
図2に示すように、ヒータ102の設定温度とスクリューの回転数とを(1)220度,50rpm、(2)180度,100rpm、(3)180度,50rpmに設定した。その結果、表面温度/設定温度は、それぞれ1.19、0.792、0.919となり、平均ヒータ出力は、それぞれ46.6%、6.62%、14.5%となった。その結果、表面温度/設定温度とヒータ出力との相関係数は、0.991であった。したがって、表面温度/設定温度とヒータ出力との間には、強い相関があることがわかった。なお、以下の実施形態において、ヒータ出力は、ヒータ102を制御するコントローラ(図示せず)からのヒータ102の操作量を指示する指令値として説明される。また、コントローラは、一例として、温度制御点における検出値に基づいて指令値を定める。
【0016】
以下の実施形態に係る射出成形機10の制御装置1は、上記相関を用いて、ヒータ102の表面温度を外部から推測する。これにより、以下の実施形態に係る射出成形機10の制御装置1は、温度制御点及び追加センサ等の検出点から方程式を用いてヒータ102の表面温度を推定するのに比べ、より精度よくヒータ102の表面温度を推測するものである。なお、以下の実施形態において、「動作中」とは、射出成形機10が現に動作している瞬間をいう。また、以下の実施形態において「所定時刻」とは、ヒータ102の表面温度の推定対象となる時刻をいう。
【0017】
次に、本開示の一実施形態に係る射出成形機10の制御装置1について、
図1から
図7を参照して説明する。
制御装置1は、射出成形機10を制御する装置である。具体的には、制御装置1は、射出成形機10の成形条件を制御する装置である。制御装置1は、例えば、
図1に示すように、射出成形機10に接続される。制御装置1は、射出成形の速度、圧力、シリンダ101の温度、金型温度、及び溶融されたペレットの射出量等の成形条件を指定して制御する。本実施形態における制御装置1は、所定時刻におけるヒータ102の表面温度も推定可能である。制御装置1は、
図3に示すように、動作情報格納部11と、動作情報取得部12と、実績情報格納部13と、実績情報取得部14と、表面温度取得部15と、算出部16と、推定部17と、出力部18と、出力制御部19と、を備える。
【0018】
動作情報格納部11は、例えば、ハードディスク等の記録媒体である。動作情報格納部11は、射出成形機10のヒータ102に対する設定温度及び動作中のヒータ102のヒータ出力に関する動作情報を格納する。また、動作情報格納部11は、例えば、射出成形機10の動作に関する指示の内容を動作情報として格納する。動作情報格納部11は、例えば、上記成形条件を動作情報として格納する。動作情報格納部11は、例えば、
図4に示すように、動作開始時を0、所定時刻をTとして、サンプリング周期t_1(s)ごとに、所定時刻の直前t_T-1まで、ヒータ出力y_0、y_1、...y_T-1を格納する。また、動作情報格納部11は、設定温度として、S(℃)を格納する。
【0019】
動作情報取得部12は、例えば、CPUが動作することにより実現される。動作情報取得部12は、所定時刻の直前の所定期間における、ヒータのヒータ出力とヒータの設定温度とを動作情報として取得する。本実施形態において、動作情報取得部12は、動作情報格納部11から動作情報を取得する。動作情報取得部12は、例えば、射出成形機10の運転開始から所定時刻の直前までの期間における、ヒータ102のヒータ出力とヒータ102の設定温度とを動作情報として取得する。動作情報取得部12は、例えば、所定時刻の直前まで、予め定められたサンプリング周期で示されるヒータ出力を取得する。
【0020】
実績情報格納部13は、例えば、ハードディスク等の記録媒体である。実績情報格納部13は、ヒータ102のヒータ出力の推移に対するヒータ102の表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として格納する。実績情報格納部13は、例えば、予め測定されたヒータ102のヒータ出力の推移を入力データとして、同時に測定されるヒータ102の表面温度とヒータ102の設定温度との比(表面温度/設定温度)の推移を実績情報として格納する。実績情報格納部13は、ヒータ出力を入力とする教示データの学習によって予め得られた実績情報を格納する。実績情報格納部13は、例えば、予めヒータ102の表面に接触された温度センサ(図示せず)を用いて、
図2に示すような、ヒータ出力と表面温度との関係の学習によって得られる実績情報を格納してもよい。実績情報格納部13は、例えば、複数の実績を実績情報として格納する。実績情報格納部13は、例えば、
図5に示すように、測定された実績ごとに、測定番号をM(Mは自然数)、測定開始時刻(動作開始時刻)を0、ヒータ出力を取得した時刻をtM_N(Nは自然数)として、ヒータ出力の値をx_MN、表面温度/設定温度の値をR_MNとする実績情報を格納する。
【0021】
実績情報取得部14は、例えば、CPUが動作することにより実現される。実績情報取得部14は、実績情報格納部13から実績情報を取得する。実績情報取得部14は、例えば、ヒータ102のヒータ出力の推移に対するヒータ102の表面温度と設定温度との比の推移の実績を、実績情報として取得する。具体的には、実績情報取得部14は、過去のヒータ出力ごとに、過去の設定温度及び過去の表面温度の比(表面温度/設定温度)を実績情報として取得する。
【0022】
表面温度取得部15は、例えば、CPUが動作することにより実現される。表面温度取得部15は、取得された動作情報に含まれる所定期間におけるヒータ102の表面温度を取得する。表面温度取得部15は、例えば、取得された動作情報に含まれる所定期間において、後述する推定部17によって推定された表面温度を取得する。また、表面温度取得部15は、推定された表面温度に代えて、実測され又は外部から提供される表面温度を取得する。表面温度取得部15は、例えば、サンプリング周期t_1ごとに、表面温度TP_A(℃)(A=1、2、...t-1)を取得する。
【0023】
算出部16は、例えば、CPUが動作することにより実現される。算出部16は、取得された動作情報と取得された表面温度に基づいて、動作情報に含まれるヒータ出力の推移に対する表面温度と設定温度との比の推移を算出する。算出部16は、例えば、動作情報に含まれるヒータ出力ごとに、表面温度/設定温度の値を算出する。本実施形態において、算出部16は、サンプリング周期t_1ごとに、(TP_A/S)(A=1、2、...t-1)を算出する。
【0024】
推定部17は、例えば、CPUが動作することにより実現される。推定部17は、動作情報、実績情報、及び取得された表面温度に基づいて、所定時刻におけるヒータ102の表面温度を推定する。具体的には、推定部17は、実績情報に含まれる実績のうち、動作情報及び算出された比の推移に類似又は一致する実績を用いて、所定時刻の表面温度を推定する。推定部17は、推移に類似又は一致する実績によって示される、所定時刻に対応する時刻の設定温度と表面温度との比から所定時刻の表面温度を推定する。推定部17は、例えば、所定時刻の直前から予め定められた期間の動作情報に含まれるヒータ出力の推移、及び設定温度と表面温度との比の推移と類似又は一致する期間となる実績を実績情報から特定する。推定部17は、特定した実績に含まれる類似又は一致する期間経過後の次の時刻(所定時刻に対応)における設定温度と表面温度との比を取得する。そして、推定部17は、取得した比と動作情報に含まれる設定温度とを乗算することで、所定時刻における表面温度を推定する。なお、推定部17は、推移に類似する実績として、例えば、推移との一致率(カッパ係数等)が最も高い実績を用いて、所定時刻の表面温度を推定する。
【0025】
出力部18は、例えば、ディスプレイ等の表示装置である。出力部18は、推定された表面温度を外部に出力する。出力部18は、例えば、
図6に示すように、シリンダ101に対するヒータ102の位置と、設定温度と、ヒータ出力と、現在の表面温度と、を表示する。
【0026】
出力制御部19は、例えば、CPUが動作することにより実現される。出力制御部19は、推定された表面温度を出力部18に出力させる。
【0027】
次に、制御装置1による処理の流れについて、
図7を参照して説明する。
まず、実績情報取得部14は、実績情報を取得する(ステップS1)。実績情報取得部14は、例えば、複数の実績情報を実績情報格納部13から取得する。
【0028】
次いで、動作情報取得部12は、動作情報を取得する(ステップS2)。動作情報取得部12は、例えば、予め動作情報格納部11に格納されている動作情報を取得する。
【0029】
次いで、表面温度取得部15は、動作情報に対応する表面温度を取得する(ステップS3)。
【0030】
次いで、算出部16は、取得された動作情報と取得された表面温度に基づいて、動作情報に含まれるヒータ出力の推移に対する表面温度と設定温度との比の推移を算出する(ステップS4)。次いで、推定部17は、動作情報、表面温度、及び実績情報からヒータ102の表面温度を推定する(ステップS5)。
【0031】
ステップS6において、出力制御部19は、出力部18に推定された表面温度を出力する。出力部18は、例えば、推定された表面温度を表示する。
【0032】
次いで、表面温度の推定を繰り返すか否かが判断される(ステップS7)。推定が繰り返される場合(ステップS7:YES)、処理は、ステップS2に戻る。一方、推定が終了される場合(ステップS7:NO)、本フローによる処理は、終了する。
【0033】
次に、本実施形態のプログラムについて説明する。
射出成形機10の制御装置1に含まれる各構成は、ハードウェア、ソフトウェア又はこれらの組み合わせによりそれぞれ実現することができる。ここで、ソフトウェアによって実現されるとは、コンピュータがプログラムを読み込んで実行することにより実現されることを意味する。
【0034】
プログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non-transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えば、フレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば、光磁気ディスク)、CD-ROM(Read Only Memory)、CD-R、CD-R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(random access memory))を含む。また、表示プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
【0035】
以上、一実施形態に係る射出成形機10の制御装置1及びプログラムによれば、以下の効果を奏する。
(1)シリンダ101とその周囲に配置されるヒータ102とを有し、所定時刻におけるヒータ102の表面温度を推定する射出成形機10の制御装置1であって、所定時刻の直前の所定期間における、ヒータ102のヒータ出力とヒータ102の設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部12と、取得された動作情報に含まれる所定期間におけるヒータ102の表面温度を取得する表面温度取得部15と、ヒータのヒータ出力の推移に対するヒータの表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部14と、動作情報、実績情報、及び取得された表面温度に基づいて、所定時刻におけるヒータの表面温度を推定する推定部17と、を備える。
また、シリンダ101とその周囲に配置されるヒータ102とを有する射出成形機10の制御装置1としてコンピュータを機能させるプログラムにおいて、コンピュータに所定時刻におけるヒータの表面温度を推定させるプログラムであって、コンピュータを、所定時刻の直前の所定期間における、ヒータ102のヒータ出力とヒータ102の設定温度とを動作情報として取得する動作情報取得部12、取得された動作情報に含まれる期間におけるヒータ102の表面温度を取得する表面温度取得部15、ヒータ102のヒータ出力の推移に対するヒータ102の表面温度と設定温度との比の推移の実績を実績情報として取得する実績情報取得部14、動作情報、実績情報、及び取得された表面温度に基づいて、所定時刻におけるヒータ102の表面温度を推定する推定部17、として機能させる。
これにより、シリンダ101の周囲の形状(凹凸)にかかわらず、推定されるヒータ102の表面温度の精度をより向上することができる。また、ヒータ102の表面に物理的なセンサ等を設置する必要がないため、コストを抑制することができる。したがって、ヒータ102の表面からの空気への放熱量をより精度よく算出することができる。その結果、放熱量が最小となるような操作や成形条件の設定をすることで、ヒータの長寿命化や射出成形機の省電力に繋がる。
【0036】
(2)射出成形機10の制御装置1は、取得された動作情報と取得された表面温度に基づいて、動作情報に含まれるヒータ出力の推移に対する表面温度と設定温度との比の推移を算出する算出部16をさらに備え、推定部17は、実績情報に含まれる実績のうち、動作情報及び算出された比の推移に類似又は一致する実績を用いて、所定時刻の表面温度を推定する。これにより、ヒータ出力及び設定温度を取得することで、容易に表面温度を推定することができる。
【0037】
(3)表面温度取得部15は、ヒータ102の表面温度と設定温度との比の形式でヒータ102の表面温度を取得し、推定部17は、実績情報に含まれる実績のうち、動作情報及び取得された比の推移に類似又は一致する実績を用いて、所定時刻の表面温度を推定する。これにより、設定温度と表面温度との比を直接取得することによっても、容易に表面温度を推定することができる。
【0038】
(4)推定部17は、推移に類似又は一致する実績によって示される、所定時刻に対応する時刻の表面温度と設定温度との比から所定時刻の表面温度を推定する。これにより、過去の実績に基づいて表面温度を推定するので、推定される表面温度の精度を向上することができる。
【0039】
以上、本開示の射出成形機の制御装置及びプログラムの好ましい各実施形態につき説明したが、本開示は、上述の実施形態に制限されるものではなく、適宜変更が可能である。
例えば、上記実施形態において、出力制御部19が、
図8に示すように、ヒータ102の表面温度と、実績情報を学習した際の測定位置とを、出力部18に表示させてもよい。実績情報格納部13は、測定位置を含む実績情報を格納する。推定部17は、実績情報に含まれる測定値ごとに、ヒータ102の表面温度を推定する。これにより、ヒータ102の表面温度の視認性を向上することができる。
【0040】
また、上記実施形態において、出力制御部19が、
図9に示すように、ヒータ102の表面温度について、所定の時刻ごとにまとめた散布図を出力部18に表示させてもよい。これにより、時系列的にヒータ102の表面温度を表示することができるので、ヒータ102の表面温度の異常監視を容易にすることができる。
【0041】
また、上記実施形態において、出力制御部19は、
図10に示すように、ヒータ102の表面温度を所定の時刻ごとに、出力部18に一覧表示させてもよい。出力制御部19は、例えば、ヒータ102ごとに、最大値(温度)、最小値(温度)、平均値、最大値と最小値との差、及び標準偏差を出力部18に表示させてもよい。
【0042】
また、上記実施形態において、実績情報取得部14が実績情報を取得した後に、動作情報取得部12が動作情報を取得するとしたが、これに制限されない。動作情報取得部12は、実績情報取得部14による実績情報の取得よりも前に、動作情報を取得するようにしてもよい。
【0043】
また、上記実施形態において、射出成形機10は、インラインスクリュ式又はプランジャ式のいずれであってもよい。また、上記実施形態において、実績情報に含まれる、ヒータ102の表面温度は、直接的な方法である温度センサ(図示せず)で測定されたものであってもよく、間接的な方法であるサーモグラフィ(放射温度計、図示せず)で測定されたものであってもよい。
【0044】
また、上記実施形態において、出力部18は、制御装置1(射出成形機10)とは別体として構成されてもよい。また、制御装置1は、複数の射出成形機10を管理してもよい。
【0045】
また、上記実施形態において、推定部17は、単位時間当たり又はサイクルタイム毎等の所定時間で推定するようにしてもよい。また、上記実施形態において、推定部17は、一定時間毎の平均値又は特定のタイミングでの表面温度を推定するようにしてもよい。
【0046】
また、上記実施形態において、動作情報取得部12は、設定温度に代えて、温度制御点において検出された検出温度(又は推定された表面温度)を用いてもよい。また、上記実施形態において、推定部17は、射出成形機10の動作開始時におけるヒータ102の表面温度は、ヒータ102の制御点における検出温度のE%(Eは任意の定数又は変数)としてヒータ102の表面温度を推定してもよい。推定部は、例えば、検出温度が50度未満の場合、E=95、50度以上の場合、E=90となるような変数として表面温度を推定してもよい。
【0047】
また、上記実施形態において、所定時刻は現在時刻に限定されず、過去又は未来の時刻であってもよい。所定時刻が過去である場合、動作情報取得部12は、所定時刻の直前の所定期間のヒータ出力及び設定情報を取得する。また、所定時刻が未来である場合、動作情報取得部12は、所定時刻の直前の所定期間に想定されるヒータ出力及び設定情報を取得する。
【0048】
また、上記実施形態において、表面温度取得部15は、表面温度に代えて、設定温度と表面温度との比を取得してもよい。この場合、制御装置1は、算出部16を備えずともよい。
【符号の説明】
【0049】
1 制御装置
10 射出成形機
12 動作情報取得部
14 実績情報取得部
15 表面温度取得部
16 算出部
17 推定部
101 シリンダ
102 ヒータ
103 安全カバー