特許7384986光学的測定システム

発明の名称　光学的測定システム

出願人　國立成功大學　（識別番号 502250743）

　　　　特許公開件数ランキング 3250 位（5件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 3333 位（5件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7384986

公報発行日　2023年11月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7384986

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