特許7385147IP Force 特許公報全文掲載

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この発明は、外部記憶装置に対する、検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラムに関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明はのような外部記憶装置に対する検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラムの現状に鑑みてなされたもので、その目的は時間と手間をかけずに優先度の高い不具合検査することができ、限られた時間で製品の品質を効率よく高めることが可能となる検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラムを提供することである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の検査スケジュール作成装置は、検査対象の外部記憶装置において過去に発生した多種の不具合事象に関し、各不具合事象の識別情報とその不具合事象が発生した場合の、前記外部記憶装置に与えられた命令に対応して行われた処理を示す処理情報と不具合の検出に用いられた検査パターンとが１セットの不具合情報とされて、記憶された不具合情報データベースと、検査対象の前記外部記憶装置において行われたソ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の検査スケジュール作成装置を実現するコンピュータ（検査スケジュール作成装置）の構成図。
【図2】 本発明の検査スケジュール作成装置の外部記憶装置に記憶されているプログラムとデータを示す図。
【図3】 本実施形態の検査スケジュール作成装置が作成した検査スケジュールを用いて検査装置が検査対象の外部記憶装置に対する検査を行う検査システムの構成図。
【図4】 本実施形態の検査スケジュール作成装置における不具合情報データベース作成手段が不具合情報データベースを作成するときに用いる重要度情報の生成用の重みづけ指標テーブルの内容の一例を示す図。
【図5】 本実施形態の検査スケジュール作成装置に対して検査装置から与えられる１ケース分の不具合情報の一例を示す図。
【図6】 本実施形態の検査スケジュール作成装置の不具合情報データベース作成手段によって行われる動作のフローチャート。
【図7】 本実施形態の検査スケジュール作成装置の不具合情報データベースにおける１ケース分の不具合情報の一例を示す図。
【図8】 本検査スケジュール作成装置が実行する検査スケジュール作成のフローチャート。
【図9】 図８のフローチャートにより行われる処理を概念的に示した図。
【図10】 本発明の実施形態において用いられる検査パターンの名称を示す図。
【図11】 通常検査で不具合検出した場合に不具合事象が「応答不能」として検出された例に対し、本発明の実施形態によりスケジュール作成し、検査を行ったときの説明図。
【図12】 通常検査で不具合検出した場合に不具合事象が「データ破損」として検出された例に対し、本発明の実施形態によりスケジュール作成し、検査を行ったときの説明図。
【図13】 通常検査で不具合検出した場合に不具合事象が「応答不能」として検出された外部記憶装置が起動しなくなったなどの不具合検出の例に対し、本発明の実施形態によりスケジュール作成し、検査を行ったときの説明図。

代表図 図1本件の代表的な図

１０・・・ＣＰＵ、１１・・・主メモリ、１２・・・バス、１３・・・外部記憶インタフェース、１４・・・入力インタフェース、１５・・・表示インタフェース、１６・・・通信インタフェース、２２・・・ポインティングデバイス、２３・・・外部記憶装置、２４・・・入力装置、２５・・・表示装置、２６・・・回線、３０・・・不具合情報データベース、３１・・・不具合情報特定手段、３５・・・不具合情報データベース作成手段、３３・・・検査スケジュール作成手段、６０・・・検査装置、８０・・・外部記憶装置、１００・・・コンピュータ（検査スケジュール作成装置）、２００・・・変更内容情報

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