特許7390246IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

半導装置に関し、例えば、静電容量センサを内蔵する半導体装置に適用可能である。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

パターン認識は、ＬＣＤパネルのタッチスクリーンを利用して実現できる。しかし、上述したように、文字の認識を行うには、大量のデータを保存する必要があり、さらに、大量のデータを計算して判別する必要がある。そのため、メモリおよびＣＰＵ等の装置が高機能および高価となり、また、認識に要する時間も長くなる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。 すなわち、半導体装置は、マトリックス状に配置された複数のタッチキーを備えるタッチキー群の静電容量を検知するセンサと、センサが検知した複数のタッチキーの静電容量の変化および軌跡の時系列データであるサンプリングパターンに基づいて文字認識を行うよう構成される制御装置と、を備える。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体装置によれば、文字認識を容易に行うことができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は実施形態における文字認識装置の構成を示すブロック図である。
【図2】 図２は実施形態におけるタッチキーの状態検出方法を示す図である。
【図3】 図３は実施形態における数字と記号の入力パターン例を示す図である。
【図4】 図４は文字「３」の参照パターンの一例を示す図である。
【図5】 図５は文字「３」のシーケンスパターンの一例を示す図である。
【図6】 図６は文字「８」のシーケンスパターンの一例を示す図である。
【図7】 図７は文字「９」のシーケンスパターンの一例を示す図である。
【図8】 図８は実施形態におけるパターン認識を示すフローチャートである。
【図9】 図９は第一変形例における仮想キーを示す図である。
【図10】 図１０は第一変形例におけるタッチキーの状態検出方法を示す図である。
【図11】 図１１は第一変形例における文字「３」を入力したときのサンプリングパターンを示す図である。
【図12】 図１２は図１１に示されるサンプリングパターンに基づいて仮想キーの情報を生成する方法について説明する図である。
【図13】 図１３は第二変形例における文字認識装置の構成を示すブロック図である。
【図14】 図１４は学習済みモデルによるパターンマッチングを示す図である。
【図15】 図１５は第二変形例における文字認識装置に文字「３」を入力したときのサンプリングパターンを示す図である。
【図16】 図１６（ａ）は図１５に示される「ゆっくり」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。図１６（ｂ）は図１５に示される「標準」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。図１６（ｃ）は図１５に示される「はやい」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。
【図17】 図１７は第二変形例における学習済みモデルによるパターンマッチングを示す図である。
【図18】 図１８（ａ）は第三変形例における文字認識装置の構成を示す図である。図１８（ｂ）は２×２マトリックスで構成されるタッチキー群を四電極として使用する例を示す図である。
【図19】 図１９は第三変形例における数字と記号の入力パターン例を示す図である。
【図20】 図２０（ａ）は第三変形例における文字「３」の入力パターンを示す図である。図２０（ｂ）は文字「３」を入力した場合のタッチキーの静電容量を示す図である。
【図21】 図２１は第三変形例における文字認識装置に文字「３」を入力したときのサンプリングパターンを示す図である。
【図22】 図２２（ａ）は図２１に示される「ゆっくり」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。図２２（ｂ）は図２１に示される「標準」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。図２２（ｃ）は図２１に示される「はやい」のサンプリングパターンを４０サンプルに標準化した図である。
【図23】 図２３は第三変形例における学習済みモデルによるパターンマッチングを示す図である。
【図24】 図２４は第四変形例におけるタッチキー群の第一モード状態の上面図である。
【図25】 図２５は第四変形例におけるタッチキー群の第二モード状態の上面図である。
【図26A】 図２６Ａは第四変形例におけるタッチキー群のオーバーレイパネルを示す上面図である。
【図26B】 図２６Ｂは第四変形例におけるタッチキー群の透明フィルム電極を示す上面図である。
【図26C】 図２６Ｃは第四変形例におけるタッチキー群の遮光板を示す上面図である。
【図26D】 図２６Ｄは第四変形例におけるタッチキー群のＰＣＢを示す上面図である。
【図27】 図２７は第四変形例におけるタッチキー群の断面図である。
【図28】 図２８は第五変形例における冷蔵庫を示す図である。
【図29】 図２９は第五変形例におけるタッチキー群の第一モード状態の上面図である。
【図30】 図３０は第五変形例におけるタッチキー群の第二モード状態の上面図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１００：半導体装置 １０１：静電容量センサ（センサ） １０７：制御装置 １１０：タッチキー群 １１１～１１９：タッチキー

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