特許7391681IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

検査方法、検査装置、検査システム及びプログラム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

そこで、本発明が解決しようとする課題は、非破壊で電力機器を覆う樹脂を検査することが可能な検査方法、検査装置、検査システム及びプログラムを提供することにある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

検査方法は、電力機器を覆う樹脂に照射されたパルス波の当該樹脂内に混入している異物の界面からの反射波に応じた反射波信号を取得するステップと、前記取得された反射波信号に基づいて前記樹脂内に混入している異物の深さを算出するステップと、前記取得された反射波信号に基づいて前記樹脂内に混入している異物を含む平面画像を生成するステップと、前記取得された反射波信号に基づいて反射波形を生成するス・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第１検査装置を含む検査システムの機能構成の一例を示す図。
【図2】 検査装置のハードウェア構成の一例を示す図。
【図3】 サンプル樹脂の正面図。
【図4】 サンプル樹脂の断面図。
【図5】 照射装置と検波装置との位置関係の一例を示す図。
【図6】 照射装置と検波装置との位置関係の他の例を示す図。
【図7】 サンプル樹脂に混入している異物の種別毎の反射強度の一例を示す図。
【図8】 異物の深さと反射強度との関係性の一例を示す図。
【図9】 サンプル樹脂に混入している異物を含む平面画像の一例を当該異物の種別毎に示す図。
【図10】 異物の深さと可視化面積との関係性の一例を示す図。
【図11】 サンプル樹脂に混入している金属の界面で反射した反射波の波形の一例を示す図。
【図12】 サンプル樹脂に混入している気泡の界面で反射した反射波の波形の一例を示す図。
【図13】 サンプル樹脂に混入している樹脂バリの界面で反射した反射波の波形の一例を示す図。
【図14】 反射波形の形状的な特徴について説明するための図。
【図15】 異物が金属、気泡及び樹脂バリである場合の反射波形の形状的な特徴を表形式で示す図。
【図16】 異物の深さと特定周波数帯毎に抽出された強度値との関係性の一例を示す図。
【図17】 電力機器を覆う樹脂を検査する際の検査装置の処理手順の一例を示すフローチャート。
【図18】 サンプル樹脂に対してテラヘルツ波を照射することによって得られる異物の深さ、当該異物からの反射強度及び当該異物の可視化面積を３次元プロットで示した図。
【図19】 第２検査装置の処理手順の一例を示すフローチャート。
【図20】 電力装置の製造工程の一例を示す図。

代表図 図1本件の代表的な図

１０…検査装置、１１…反射波信号取得部、１２…深さ算出部、１３…平面画像生成部、１４…波形生成部、１５…異物判別部、１０１…ＣＰＵ、１０２…不揮発性メモリ、１０３…ＲＡＭ、１０３ａ…検査プログラム、１０４…通信デバイス、２０…照射装置、３０…検波装置。

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