特許7396008IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

車両の光学センサを制御する、センサ制御技術

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかし、特許文献1の開示技術では、一方の光学センサに異常が発生した場合、当該異常センサの走査範囲に対して正常な他方の光学センサの走査範囲が部分重複するように方位制御を実現できたとしても、それだけではトータル走査能力の低下は否めない。なぜなら、部分重複してビームが照射される領域は通常、狭い範囲となるため、異常センサ分の走査をカバーするには不十分となるためである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

以下、課題を解決するための本開示の技術的手段について、説明する。尚、特許請求の範囲及び本欄に記載された括弧内の符号は、後に詳述する実施形態に記載された具体的手段との対応関係を示すものであり、本開示の技術的範囲を限定するものではない。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 一実施形態によるセンサ制御装置と共に車両に搭載されるセンサ系を説明するための模式図である。
【図2】 一実施形態によるセンサ制御装置の全体構成を示すブロック図である。
【図3】 一実施形態によるセンサ制御装置の詳細構成を示すブロック図である。
【図4】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための模式図である。
【図5】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための模式図である。
【図6】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための模式図である。
【図7】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための模式図である。
【図8】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図9】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図10】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図11】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図12】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図13】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図14】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図15】 一実施形態によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。
【図16】 一実施形態によるセンサ制御方法を示すフローチャートである。
【図17】 一実施形態の変形例によるセンサ制御装置と共に車両に搭載されるセンサ系を説明するための模式図である。
【図18】 一実施形態の変形例によるセンサ制御装置と共に車両に搭載されるセンサ系を説明するための模式図である。
【図19】 一実施形態の変形例によるビーム制御ブロックを説明するための特性図である。

代表図 図1本件の代表的な図

1 センサ制御装置、2 車両、10 メモリ、12 プロセッサ、30 第一光学センサ、31 第二光学センサ、100 センサ判別部、120 ビーム制御部、Fd 密度関数、P1,P2 ビームパターン、Pdf,Pds 縮退パターン、R1,R2 ビーム照射レンジ、RL,RR 重複領域、Sa 異常センサ、Sn 正常センサ、θ ビームステアリング角度

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