特許7400282IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

面発光レーザ、面発光レーザ装置、光源装置及び検出装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

従来の面発光レーザでは、面発光レーザ素子の集積度の向上が困難である。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

開示の技術の一態様によれば、面発光レーザは、基板の第1の面上に設けられた複数の面発光レーザ素子と、前記複数の面発光レーザ素子に電気的に接続される第1の電極及び第2の電極と、前記第1の面上に、前記複数の面発光レーザ素子から離間して設けられた、1または複数の第1のメサポスト領域と、を含み、前記面発光レーザ素子の各々は、前記基板側から順に、前記第1の電極に電気的に接続される第1の導電型の半導体と、・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

開示の技術によれば、面発光レーザ素子の集積度を向上することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第1の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図2】 第1の面発光レーザの内部構造を示す断面図である。
【図3】 第1の面発光レーザの使用例を示す模式図である。
【図4】 参考例に係る面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図5】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その1)である。
【図6】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その2)である。
【図7】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その3)である。
【図8】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その4)である。
【図9】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その5)である。
【図10】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その6)である。
【図11】 第1の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その7)である。
【図12】 第2の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図13】 第3の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図14】 第4の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図15】 第5の面発光レーザの内部構造を示す断面図である。
【図16】 第5の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その1)である。
【図17】 第5の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その2)である。
【図18】 第5の面発光レーザの製造方法を示す断面図(その3)である。
【図19】 第6の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図20】 第6の面発光レーザの内部構造を示す断面図(その1)である。
【図21】 第6の面発光レーザの内部構造を示す断面図(その2)である。
【図22】 第7の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図23】 第8の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図24】 第9の面発光レーザのレイアウトの概要を示す模式図である。
【図25】 第9の面発光レーザの内部構造を示す断面図である。
【図26】 第10の面発光レーザの内部構造を示す断面図である。
【図27】 検出装置の一例としての測距装置の概要を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

10 測距装置 11 光源装置 13 受光素子 15 光学系 18 受光光学系 100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000 面発光レーザ 102 下部半導体多層膜反射鏡 104 活性層 106 上部半導体多層膜反射鏡 108 被選択酸化層 108a 酸化領域 108b 非酸化の領域 112 p側電極 113 n側電極 116 p側コンタクト層 117 n側コンタクト層 120、320、420 発光単位 151 面発光レーザ素子 155 p側メサポスト領域 156、956 n側メサポスト領域 157、657、957 n側コンタクト領域 530 絶縁層

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