特許7404150IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

この発明は、光コヒーレンストモグラフィ撮像の原理を用いて被撮像物の断層画像を撮像する技術に関し、特に光透過性を有する平坦面を介して被撮像物を撮像する技術に関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

従来技術では、観察光および信号光の一部を遮蔽しているため、検出される信号のレベル自体は低下している。被撮像物のうち容器壁面に近い部分を撮像する場合には、このように信号レベルが低下したとしても、壁面の強い反射光の影響を排除することで結果的に信号のＳ／Ｎ比（Signal to Noise Ratio）の改善が見込める。一方、壁面から離れておりその影響をあまり受けない部分においては、信号レベルが低下することで、例えば検出器など他の要因のノイズの影響等を受けやすくなっている。この点において、技術にはさらなる改善の余地が残されている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この発明の一の態様は、光反射面となる界面を介して被撮像物を断層撮像する撮像装置であって、目的を達成するため、低コヒーレンス光を分岐させて観察光と参照光とを生成し、前記界面を介して前記観察光を前記被撮像物に入射させ、前記観察光が前記被撮像物で反射され前記界面を介して出射される信号光と、前記参照光とが干渉して生じる干渉光を検出し、検出された前記干渉光に応じた干渉信号を出力する干渉信号取得部と・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

のように、本発明によれば、遮光部材を遮光状態と通過状態とで切り替えることができる。そして、焦点位置と界面との距離が小さく界面による正反射光がノイズ源となる条件では遮光部材を遮蔽状態とすることで正反射光を抑制する一方、これらの距離が大きく正反射光の影響が問題とならない条件では遮光部材を通過状態とすることで信号レベルの低下を回避する。このため、被撮像物の近傍にある界面の反射に起因するノイズの影響を排除しつつ、界面から離れた部分においても良好な画像品質を得ることが可能である。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明に係る撮像装置の一実施形態である画像処理装置を示す図である。
【図2】 遮光部材の構造を示す図である。
【図3】 遮光部材が奏する作用を示す図である。
【図4】 透過パターンの他の例を示す図である。
【図5】 観察光学系の詳細を示す図である。
【図6】 この実施形態における撮像動作を示すフローチャートである。
【図7】 画像合成処理の原理を示す図である。
【図8】 画像合成処理を示すフローチャートである。
【図9】 重み付けの例を示す図である。
【図10】 本実施形態で得られる画像の例を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 撮像装置（画像処理装置） ２０ 撮像ユニット（干渉信号取得部） ２１ 光源 ２３ 観察光学系 ２４ 参照光学系 ２５ 分光器 ２６ 光検出器（検出器） ３０ 制御ユニット（画像処理部） ３１ ＣＰＵ ３３ 信号処理部（画像処理部） ４０ 駆動部（焦点調整機構） ２２２ 光ファイバ ２３０ 遮光部材 ２３５ 基材 ２３６ 光規制膜 ２３７ 進退機構（切替機構） ２４２ 対物レンズ ＡＸ （対物レンズ２３２の）光軸 Ｐ１ 高透過部 Ｐ２ 低透過部

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