特許 7414023 試験装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-01-05

(45)【発行日】2024-01-16

(54)【発明の名称】試験装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 3/20 20060101AFI20240109BHJP

【ＦＩ】

G01N3/20

【請求項の数】 4

(21)【出願番号】P 2021004027

(22)【出願日】2021-01-14

(65)【公開番号】P2022108850

(43)【公開日】2022-07-27

【審査請求日】2023-04-24

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】110001081

【氏名又は名称】弁理士法人クシブチ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】松下 和裕

(72)【発明者】

【氏名】布施 寿則

【審査官】外川 敬之

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１５－０３１６５２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１６－０２０８７９（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ３／２０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

試験片に対して試験力を付与することにより生じる変位量を検出する試験を行う試験装置において、
負荷機構により移動するクロスヘッドに設けられ、前記試験片の一面に試験力を付与する圧子と
前記クロスヘッドに設けられ、前記試験片に与えられた試験力を検出するための荷重検出器と、
前記試験片を挟んで、前記圧子に対向する位置に配置されるプローブと、
前記プローブの移動量から試験力が付与されることで生じた前記試験片の変位量を検出する変位検出器と
前記プローブと前記圧子とを連結し、前記圧子に対して前記試験片を挟んで当接するように前記プローブを付勢する付勢部材とを備える、
試験装置。

【請求項2】

前記変位検出器は、前記プローブの移動に伴って移動するスピンドルを備え、前記スピンドルの移動量から試験力が付与されることで生じた前記試験片の変位量を検出し、
前記スピンドルは、前記試験片に試験力が付与されると、鉛直下方に沿って移動する、
請求項１に記載の試験装置。

【請求項3】

前記試験片と、前記圧子と、前記プローブとが収められる恒温槽を備え、
前記変位検出器は、前記恒温槽の外部に設けられる、
請求項１または請求項２に記載の試験装置。

【請求項4】

前記付勢部材は、ばね部材である、
請求項１から請求項３に記載の試験装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試験装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、一対の支点により支持された試験片に対して、試験力を付与することで、曲げ試験を行う材料試験装置が知られる。このような試験装置では、試験片に対して、上方から圧子を押し込むことにより、試験片に負荷を与える。そして、試験片に与えられる試験力は、圧子に設けられたロードセルにより検出される（例えば、特許文献１参照）。

【0003】

また、このような試験装置には、試験片の中央にプローブの先端を接触させることで、試験片に圧子が押し込まれたときに試験片に生じる変位を検出する接触式の変位検出器が用いられるものが知られる。
このようなプローブは、試験片を挟んで、圧子に対向する位置で試験片に当接する。さらに、このプローブは、試験片に向かって弾性的に付勢するばね部材によって支持される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２０１２－２５１９０１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、従来の構成では、圧子による試験力が試験片に加えられることで、ばね部材が圧縮され、当該ばね部材に反発するエネルギーが蓄えられる。このため、試験片の変位量が増加するにつれて、ロードセルの検出値に含まれる誤差が増大する虞があった。

【0006】

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、より高い精度で試験力を検出することができる試験装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の第１の態様は、試験片に対して試験力を付与することにより生じる変位量を検出する試験を行う試験装置において、負荷機構により移動するクロスヘッドに設けられ、前記試験片の一面に試験力を付与する圧子と前記クロスヘッドに設けられ、前記試験片に与えられた試験力を検出するための荷重検出器と、前記試験片を挟んで、前記圧子に対向する位置に配置されるプローブと、前記プローブの移動量から試験力が付与されることで生じた前記試験片の変位量を検出する変位検出器と前記プローブと前記圧子とを連結し、前記圧子に対して前記試験片を挟んで当接するように前記プローブを付勢する付勢部材とを備える、試験装置に関する。

【発明の効果】

【0008】

本発明の第１の態様によれば、付勢部材によって、プローブが圧子に支持される。これによって、プローブを支持する力が荷重検出器に付加されることが抑制される。
このため、より高い精度で試験力を検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本実施の形態に係る試験装置を模式的に示す図である。

【図2】試験を開始する場合における恒温槽内と変位検出部との構成を模式的に示す図である。

【図3】変位検出器の構成を模式的に示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

［１．試験装置の構成］
［１－１．試験装置の全体構成］
以下、図面を参照して本実施の形態について説明する。
図１は、本実施の形態に係る試験装置１を模式的に示す図である。なお、図１では、説明の便宜上、恒温槽３を一点鎖線で示す。
本実施形態の試験装置１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の曲げ強度、降伏点、たわみ等の機械的性質を測定する曲げ試験を行う。試験力Ｆは、押圧力である。
試験装置１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて曲げ試験を行う試験装置本体２と、恒温槽３と、試験装置本体２による曲げ試験動作の制御、及び恒温槽３の温度制御を行う制御ユニット４と、を備える。

【0011】

試験装置本体２は、テーブル２６と、このテーブル２６上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹２８、２９と、これらのねじ棹２８、２９に沿って移動可能なクロスヘッド１０と、このクロスヘッド１０を移動させて試験片ＴＰに負荷を与える負荷機構１２と、ロードセル１４と、を備える。ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる押圧荷重である試験力Ｆを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を出力するセンサである。

【0012】

負荷機構１２は、各ねじ棹２８、２９の下端部に連結されるウォーム減速機１６、１７と、各ウォーム減速機１６、１７に連結されるサーボモータ１８と、ロータリエンコーダ２０と、を備える。ロータリエンコーダ２０は、サーボモータ１８の回転量を測定し、回転量に応じたパルス数の回転測定信号ＳＧ２を制御ユニット４に出力するセンサである。
そして負荷機構１２は、ウォーム減速機１６、１７を介して、一対のねじ棹２８、２９にサーボモータ１８の回転を伝達し、各ねじ棹２８、２９が同期して回転することによって、クロスヘッド１０がねじ棹２８、２９に沿って昇降する。

【0013】

恒温槽３は、各側面が断熱壁で覆われた筐体である。本実施の形態では、恒温槽３は、各ねじ棹２８、２９との間、且つクロスヘッド１０と、テーブル２６との間に配置される。また、恒温槽３は、テーブル２６の上面から離間して、当該テーブル２６の上方に位置する。
恒温槽３は、内部に試験片ＴＰが収容される空間Ｓを有し、当該空間Ｓ内の温度を制御可能である。なお、これに限らず、試験装置１には、湿度を制御可能な恒湿槽、温度と湿度のいずれも制御可能な恒温恒湿槽等の各種の試験槽が設けられてもよい。また、恒温槽３には、各種の温度試験装置が設けられてもよい。

【0014】

恒温槽３の底面壁には、一対の支点２２が設けられる。これらの支点２２は、恒温槽３の底面壁から上方に向かって延びる柱状に形成される。一対の支点２２は、クロスヘッド１０の長手方向に沿って、互いの距離（支点間距離）を変更可能に設けられる。
試験片ＴＰは、空間Ｓにおいて、これら一対の支点２２の上端に載置される。すなわち、一対の支点２２は、試験片ＴＰを底面から支持する。一対の支点２２に支持された試験片ＴＰは、長手方向がクロスヘッド１０の長手方向に沿って配置される。

【0015】

恒温槽３の天面壁と底面壁とには、いずれも貫通孔２３、２４が設けられる。これらの貫通孔２３、２４は、互いに対向する位置に設けられる。

【0016】

クロスヘッド１０には、上述の通り、試験片ＴＰに与えられた試験力Ｆを検出する荷重検出器であるロードセル１４と、試験片ＴＰの表面に当接する圧子２１とが設けられる。
ロードセル１４は、クロスヘッド１０の底面から、鉛直方向に沿って、下方に向かって延びる所定の長さ寸法を有した柱状に形成される。
本実施の形態では、ロードセル１４は、貫通孔２３に挿通され、下端側が恒温槽３の空間Ｓに配置される。なお、これに限らず、ロードセル１４は、全体が恒温槽３の外部に配置されてもよい。

【0017】

圧子２１は、ロードセル１４の下端に設けられる。この圧子２１は、曲げ試験が実施される場合に、試験片ＴＰの上面（一面)に下端が当接する部材である。本実施の形態では、圧子２１は、曲げ試験が実施される場合に、試験片ＴＰの長手方向の中央に当接する。また、圧子２１は、貫通孔２３に挿通され、少なくとも下端が恒温槽３の空間Ｓに配置される。
この圧子２１には、当該圧子２１の下端より上方に位置する箇所に、連結部材２５が設けられる。この連結部材２５は、クロスヘッド１０の長手方向に沿って延びる平板状部材である。

【0018】

テーブル２６には、ロードセル１４に対向する位置に、支持台２７が設けられる。この支持台２７の上面には、貫通孔３９が設けられる。さらに、この支持台２７の上面には、変位検出部３０が設けられる。この変位検出部３０は、試験片ＴＰの中央部のたわみを接触式で測定するものである。

【0019】

制御ユニット４は、ロードセル１４からの試験力データ、及び変位検出部３０からのデータを取り込んで、データ処理を実行する。このような制御ユニット４での演算等の処理により、試験片ＴＰに対する試験力Ｆ（曲げ荷重）と、試験片ＴＰにおけるたわみとが求められる。

【0020】

制御ユニット４は、ＣＰＵやＭＰＵなどのプロセッサと、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリデバイスとを有したコンピュータとを備え、試験装置本体２と、恒温槽３とのそれぞれが有する各部を制御する。

【0021】

制御ユニット４は、試験装置本体２と、恒温槽３との間で信号を送受信可能に接続される。試験装置本体２から受信する信号は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３、及び制御や試験に要する適宜の信号等である。また、恒温槽３から受信する信号は、当該恒温槽３の制御や試験に要する適宜の信号等である。
制御ユニット４は、ロードセル１４からの試験力データ、及び変位検出器４０からのデータを取り込み、データ処理を実行する。

【0022】

制御ユニット４は、曲げ試験の試験条件といった各種設定パラメータの設定操作、あるいは実行指示操作等のユーザ操作を受け付け、試験装置本体２と、恒温槽３とに出力する機能や、試験力計測値のデータを解析する機能等を備える。

【0023】

［１－２．変位検出部の構成］
次いで、変位検出部３０の構成について説明する。
図２は、試験を開始する場合における恒温槽３の内部と変位検出部３０との構成を模式的に示す図である。なお、図２では、説明の便宜上、恒温槽３を一点鎖線で示す。
変位検出部３０は、上述の通り、曲げ試験用の試験装置１に取り付けて、試験片ＴＰの中央部のたわみを接触式で測定するものである。図２に示すように、変位検出部３０は、貫通孔２４に挿通され、圧子２１による負荷軸方向に沿って移動可能に設けられたプローブ３２と、当該プローブ３２に連結された変位検出器４０とを備える。変位検出器４０は、図２に示すように、恒温槽３の外部に配置される。

【0024】

プローブ３２は、軸部３４、先端部３６と、連結部材３８とを備える。
軸部３４は、圧子２１による負荷軸方向に沿って延びる棒状の部材である。この軸部３４は、貫通孔２４に挿通される。また、軸部３４の下端は、支持台２７の貫通孔３９に挿通される。
先端部３６は、軸部３４の上端に設けられる。この先端部３６は、軸部３４より大経の柱状部材である。
連結部材３８は、連結部材２５と同様に、クロスヘッド１０の長手方向に沿って延びる平板状部材である。この連結部材３８の平板部の中央には、軸部３４よりも大経で、且つ先端部３６よりも小径の貫通孔３９が設けられる。
プローブ３２では、軸部３４の上端がこの貫通孔３９に挿通され、先端部３６の下端が連結部材３８の平板部に当接する。

【0025】

本実施の形態の試験装置１では、連結部材２５と、連結部材３８とが複数のばね部材５０によって、連結される。
これらのばね部材５０は、付勢部材の一例であり、当該ばね部材５０は、所謂引張ばねである。これらのばね部材５０は、いずれも一方の端部が連結部材２５の平板部の下面に連結され、他方の端部が連結部材３８の平板部の上面に連結される。
本実施の形態では、ばね部材５０は、クロスヘッド１０の長手方向に沿って、圧子２１の両側に一つずつと、クロスヘッドの１０の幅方向に沿って圧子２１の両側に一つずつとの計４つが設けられる。
これによって、プローブ３２は、各ばね部材５０を介して、圧子２１に吊り下げられる。換言すれば、プローブ３２は、圧子２１に支持される。

【0026】

また、上述の通り、各ばね部材５０は、引張ばねであるため、プローブ３２は、圧子２１に向かって付勢される。試験片ＴＰが支点２２に載置されていない場合には、プローブ３２の先端部３６の先端は、これらのばね部材５０の付勢力によって、圧子２１の下端に当接する。

【0027】

また、試験片ＴＰが支点２２に載置される場合には、各ばね部材５０を伸長させてプローブ３２の先端部３６の先端と、圧子２１の下端とを離間させ、先端部３６と圧子２１との間に配置させる。この後、各ばね部材５０の付勢力によって、プローブ３２が引き上げられ、圧子２１の下端が試験片ＴＰの上面に当接し、先端部３６の上端が試験片ＴＰの下面(他面)に当接する。
これによって、試験片ＴＰは、支点２２に支持されると共に、圧子２１とプローブ３２によって挟持される。

【0028】

［１－２．変位検出器の構成］
次いで、変位検出器４０の構成について説明する。
図３は、変位検出器４０の構成を模式的に示す図である。
図３に示すように、変位検出器４０は、変位検出器本体４２と、スピンドル４４と、移動体４７とを備えている。

【0029】

変位検出器本体４２は、挿通孔４６が設けられ、当該挿通孔４６には、所定の長さ寸法を有した柱状部材であるスピンドル４４が挿通される。この挿通孔４６は、軸部３４の移動方向、すなわち圧子２１による負荷軸方向に沿って延び、当該挿通孔４６の下端側が開口する。

【0030】

スピンドル４４は、この挿通孔４６の下端側の開口から当該挿通孔４６に挿通される。このスピンドル４４は、挿通孔４６に沿って上下に移動可能である。
変位検出器本体４２は、リニアスケールを備えている。変位検出器本体４２は、このリニアスケールによって、挿通孔４６の内部を移動するスピンドル４４の移動量を検出する。
変位検出器本体４２は、検出した移動量をデータとして制御ユニット４に出力する。
なお、変位検出器本体４２が備えるスピンドル４４の変位検出手段としては、例えば、差動トランス式など他の方式を採用してもよい。
この変位検出器本体４２は、例えば支持台２７によって支持される。

【0031】

スピンドル４４の下端は、移動体４７によって支持される。
この移動体４７は、軸部３４に一体に設けられ、当該軸部３４と共に移動する。
スピンドル４４は、下端からこの移動体４７によって支持される。

【0032】

［２．作用］
次に、本実施の形態の作用について説明する。
試験装置１を用いて試験を開始する場合には、試験片ＴＰ支点２２に支持させると共に、圧子２１とプローブ３２によって挟持させる。
この状態で、ロードセル１４と、変位検出器本体４２とにゼロ点調整が行われる。
この後、クロスヘッド１０を下降させることで、試験片ＴＰに試験力Ｆ（曲げ荷重）が負荷される。この場合、試験片ＴＰに作用する試験力Ｆはロードセル１４によって検出され、制御ユニット４に入力される。

【0033】

クロスヘッド１０が下降されると、試験片ＴＰがたわみ、圧子２１の下端との距離を保った状態で、圧子２１による負荷軸方向に沿って、プローブ３２が下降する。
上述の通り、プローブ３２は、圧子２１に吊り下げられることで当該圧子２１に支持されるため、当該プローブ３２を支持する力がロードセル１４に付加されることが抑制される。このため、試験装置１では、より高い精度で、試験片ＴＰに作用する試験力Ｆを検出することができる。

【0034】

プローブ３２が下降すると、移動体４７が当該プローブ３２と共に下降する。すなわち、スピンドル４４を支持する移動体４７が下降することとなり、当該スピンドル４４が移動体と共に鉛直下方に向かって移動する。
変位検出器本体４２は、このスピンドル４４の移動量を検出し、検出した移動量が試験片ＴＰのたわみとして検出される。変位検出器本体４２は、検出されたたわみをデータとして制御ユニット４に出力する。

【0035】

このように、スピンドル４４は、移動体４７によって支持され、試験片ＴＰがたわむことで移動した移動体４７と共に、鉛直下方に移動するように構成されている。これによって、当該スピンドル４４を支持する力が変位検出器本体４２に付加されることが抑制される。このため、試験装置１では、より高い精度で、試験片ＴＰに生じるたわみを検出することができる。

【0036】

上述の通り、変位検出器４０は、恒温槽３の外部に配置される。これによって、変位検出器４０は、恒温槽３の温度制御に影響を受けることが無く、温度ドリフト等による精度の低下が抑制される。このため、変位検出器４０は、例えば耐熱性を向上させること無く試験装置１に用いることが可能である。

【0037】

また、変位検出器４０は、恒温槽３の外部に配置されるため、当該恒温槽３の内部に配置される試験片ＴＰとの間に所定の距離が設けられる。このため、本実施形態の試験装置１では、プローブ３２の軸部３４の長さ寸法が長くなる。すなわち、試験装置１では、より重量の重いプローブ３２が増加することとなる。

【0038】

このような場合であっても、プローブ３２は、圧子２１に吊り下げられることで当該圧子２１に支持されるため、当該プローブ３２を支持する力がロードセル１４に付加されることが抑制される。これによって、試験装置１では、長さ寸法の長いプローブ３２を備えた変位検出器４０を用いた場合であっても、高い精度で、試験片ＴＰに作用する試験力Ｆを検出することができる。

【0039】

さらに、変位検出器４０は、接触式であるため、試験片ＴＰとの間に所定の距離が設けられて設置された場合であっても、例えば非接触型の変位検出器を用いるよりもより高い精度で、試験片ＴＰに作用する試験力Ｆを検出することができる。
このように、本実施形態の試験装置１は、例えば、ＪＩＳ＿Ｋ７１６１で規定されたプラスチック－曲げ特性の求め方や、ＪＩＳ＿Ｂ７７４１の等級1級で規定された軸試験に使用する伸び計の検証方法の等級1級を満たす精度で試験片ＴＰに作用する試験力Ｆを検出することができる。

【0040】

制御ユニット４は、ロードセル１４からの試験力データと、変位検出器本体４２からのデータを取り込んで、データ処理を実行する。このような制御ユニット４での演算等の処理により、試験装置１では、試験片ＴＰに対する試験力Ｆ（曲げ荷重）と、試験片ＴＰにおけるたわみが求められる。

【0041】

［３．効果］
以上説明したように、本実施形態によれば、試験装置１は、試験片ＴＰに対して試験力Ｆを付与することにより生じる変位量を検出する試験を行う。試験装置１は、負荷機構１２により移動するクロスヘッド１０に設けられ、試験片ＴＰの一面に試験力Ｆを付与する圧子２１と、クロスヘッド１０に設けられ、試験片ＴＰに与えられた試験力Ｆを検出するためのロードセル１４とを備える。また、試験装置１は、試験片ＴＰを挟んで、圧子２１に対向する位置に配置されるプローブ３２と、プローブ３２の移動量から試験力Ｆが付与されることで生じた試験片ＴＰの変位量を検出する変位検出器４０と、プローブ３２と圧子２１とを連結し、圧子２１に対して試験片ＴＰを挟んで当接するようにプローブ３２を付勢するばね部材５０とを備えてもよい。

【0042】

これによれば、プローブ３２は、圧子２１に吊り下げられることで当該圧子２１に支持されるため、当該プローブ３２を支持する力がロードセル１４に付加されること抑制される。このため、試験装置１では、より高い精度で、試験片ＴＰに作用する試験力Ｆを検出することができる。

【0043】

また、本実施形態によれば、変位検出器４０は、プローブ３２の移動に伴って移動するスピンドル４４を備え、スピンドル４４の移動量から試験力Ｆが付与されることで生じた試験片ＴＰの変位量を検出する。そして、スピンドル４４は、試験片ＴＰに試験力Ｆが付与されると、鉛直下方に沿って移動してもよい。

【0044】

これによれば、当該スピンドル４４を支持する力が変位検出器本体４２に付加されることが抑制される。このため、試験装置１では、より高い精度で、試験片ＴＰに生じるたわみを検出することができる。

【0045】

また、本実施形態によれば、試験片ＴＰと、圧子２１と、プローブ３２とが収められる恒温槽３を備え、変位検出器４０は、恒温槽３の外部に設けられてもよい。

【0046】

これによれば、恒温槽３の温度が変位検出器４０に作用することを抑制できる。このため、試験装置１では、より高い精度で試験片ＴＰに生じるたわみを検出することができる。

【0047】

また、本実施形態によれば、圧子２１とプローブ３２とは、ばね部材５０によって連結されていてもよい。

【0048】

これによれば、試験装置１では、圧子２１とプローブ３２とを容易に離間させると共に、試験片ＴＰを挟持させることができる。また、試験装置１では、厚さの異なる各種の試験片ＴＰを容易に挟持させることができる。

【0049】

［４．その他の実施形態］
上述した実施形態は、本発明の一態様を例示したものであって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で任意に変形、及び応用が可能である。

【0050】

上述した実施の形態では、圧子２１には、連結部材２５が設けられるとしたが、これに限らず、ロードセル１４に設けられていてもよい。

【0051】

また、上述した実施の形態では、付勢部材として、ばね部材５０を用いたが、これに限らず、線状に形成されたゴム部材、あるいはベルト機構を備えた帯状部材等の他の部材であってもよい。

【0052】

上述した例示的な実施形態、及び変形例は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0053】

（第１項）
一態様に係る試験装置は、試験片に対して試験力を付与することにより生じる変位量を検出する試験を行う試験装置において、負荷機構により移動するクロスヘッドに設けられ、前記試験片の一面に試験力を付与する圧子と前記クロスヘッドに設けられ、前記試験片に与えられた試験力を検出するための荷重検出器と、前記試験片を挟んで、前記圧子に対向する位置に配置されるプローブと、前記プローブの移動量から試験力が付与されることで生じた前記試験片の変位量を検出する変位検出器と前記プローブと前記圧子とを連結し、前記圧子に対して前記試験片を挟んで当接するように前記プローブを付勢する付勢部材とを備えてもよい。

【0054】

第１項に記載の試験装置によればプローブは、圧子に吊り下げられることで当該圧子に支持されるため、当該プローブを支持する力がロードセルに付加されること抑制される。このため、試験装置では、より高い精度で、試験片に作用する試験力を検出することができる。

【0055】

（第２項）
第１項に記載の試験装置において、前記変位検出器は、前記プローブの移動に伴って移動するスピンドルを備え、前記スピンドルの移動量から試験力が付与されることで生じた前記試験片の変位量を検出し、前記スピンドルは、前記試験片に試験力が付与されると、鉛直下方に沿って移動してもよい。

【0056】

第２項に記載の試験装置によれば、プローブは、圧子に吊り下げられることで当該圧子に支持されるため、当該プローブを支持する力がロードセルに付加されること抑制される。このため、試験装置では、より高い精度で、試験片に作用する試験力を検出することができる。

【0057】

（第３項）
第１項または第２項に記載の試験装置において、前記試験片と、前記圧子と、前記プローブとが収められる恒温槽を備え、前記変位検出器は、前記恒温槽の外部に設けられてもよい。

【0058】

第３項に記載の試験装置によれば、恒温槽の温度が変位検出器に作用することを抑制できる。このため、試験装置では、より高い精度で試験片に生じるたわみを検出することができる。

【0059】

（第４項）
第１項から第３項に記載の試験装置において、前記付勢部材は、ばね部材であってもよい。

【0060】

第４項に記載の試験装置によれば、圧子とプローブとを容易に離間させると共に、試験片を挟持させることができる。また、試験装置では、厚さの異なる各種の試験片を容易に挟持させることができる。

【符号の説明】

【0061】

１ 試験装置
２ 試験装置本体
３ 恒温槽
１０ クロスヘッド
１２ 負荷機構
１４ ロードセル(荷重検出器)
１５ 変位センサ
２１ 圧子
３０ 変位検出部
３２ プローブ
３４ 軸部
３６ 先端部
３８ 連結部材
４０ 変位検出器
４２ 変位検出器本体
４４ スピンドル
４７ 移動体
５０ ばね部材
Ｆ 試験力
ＴＰ 試験片

【図1】

【図2】

【図3】