特許 7415771 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-01-09

(45)【発行日】2024-01-17

(54)【発明の名称】分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01N 30/02 20060101AFI20240110BHJP

   G01N 30/86 20060101ALI20240110BHJP

【ＦＩ】

G01N30/02 Z

G01N30/86 F

G01N30/86 P

G01N30/86 M

【請求項の数】 9

(21)【出願番号】P 2020077306

(22)【出願日】2020-04-24

(65)【公開番号】P2021173628

(43)【公開日】2021-11-01

【審査請求日】2022-10-11

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川 雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100098305

【弁理士】

【氏名又は名称】福島 祥人

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根 剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村 英幸

(72)【発明者】

【氏名】渡辺 覚

【審査官】高田 亜希

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１２－１６３４７６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０２－３００６６０（ＪＰ，Ａ）

【文献】欧州特許出願公開第０２２７０４９１（ＥＰ，Ａ１）

【文献】特開平０７－１５１７４３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０６－３２４０２９（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許第０５２０９８５３（ＵＳ，Ａ）

【文献】特開２０１４－０９８６７２（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１４／０１５６６１２（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ３０／００ －３０／９６

Ｂ０１Ｊ ２０／２８１－２０／２９２

ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＭＥＤＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０（ＪＤｒｅａｍＩＩＩ）

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた同一試料に対しての複数の測定データを用いて、前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データの推定測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データに基づいて前記分析装置から得られた新たな測定データから新たな測定品質指標データを算出する算出部と、
前記推定部により推定された前記推定測定品質指標データ、および、前記算出部により算出された前記新たな測定品質指標データを比較表示する比較表示部と、を備える、分析支援装置。

【請求項2】

前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記推定測定品質指標データの確率分布、および、前記算出部により算出された前記新たな測定品質指標データを比較表示する、請求項１に記載の分析支援装置。

【請求項3】

前記分析装置は、クロマトグラフを含み、
前記推定測定品質指標データは、前記クロマトグラフにおいて分析された各成分の保持時間データを含み、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データ、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを比較表示する、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。

【請求項4】

前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データを表すスペクトルのピーク画像、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを表すスペクトルのピーク画像を比較表示する、請求項３に記載の分析支援装置。

【請求項5】

前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データを示す数値、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを示す数値を比較表示する、請求項３に記載の分析支援装置。

【請求項6】

前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データと、前記算出部により算出された前記保持時間データとの差を分類表示する、請求項３に記載の分析支援装置。

【請求項7】

前記推定部により推定された前記推定測定品質指標データの分布を表示する測定品質指標表示部、をさらに備え、
前記比較表示部は、前記測定品質指標表示部により表示された分布画像中の任意の点に対する指定操作に応答して、指定された点に対応する前記分析条件データを取得し、取得した前記分析条件データに対応した推定された前記推定測定品質指標データ、および、取得した前記分析条件データに対応した算出された前記新たな測定品質指標データを比較表示する、請求項１～請求項６のいずれか一項に記載の分析支援装置。

【請求項8】

分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた同一試料に対しての複数の測定データを用いて、前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データの推定測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データに基づいて前記分析装置から得られた新たな測定データから新たな測定品質指標データを算出する算出工程と、
前記推定工程により推定された前記推定測定品質指標データ、および、前記算出工程により算出された前記新たな測定品質指標データを比較表示する比較表示工程と、を含む、分析支援方法。

【請求項9】

分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた同一試料に対しての複数の測定データを用いて、前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データの推定測定品質指標データの分布を推定する推定処理と、
前記複数の分析条件データとは異なる新たな分析条件データに基づいて前記分析装置から得られた新たな測定データから新たな測定品質指標データを算出する算出処理と、
前記推定処理により推定された前記推定測定品質指標データ、および、前記算出処理により算出された前記新たな測定品質指標データを比較表示する比較表示処理と、をコンピュータに実行させるための分析支援プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

試料の成分を分析する分析装置がある。分析装置に設定される分析条件によって、試料の分析結果に変化が生じるため、最適な分析条件を探索するメソッドスカウティングが行われる。

【0003】

下記特許文献１には、クロマトグラフ用データ処理装置が開示されている。特許文献１のデータ処理装置は、未検討の分析条件をユーザに提示することで、分析条件の変更を支援するようにしている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２０１５－１６６７２６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

特許文献１に開示されたデータ処理装置によれば、未検討の分析条件を容易に取得することができる。さらに、分析条件の最適化を図るための様々な情報を提供することができれば、分析装置を使用するユーザにとって有益である。

【0006】

本発明の目的は、分析装置において分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一局面に従う分析支援装置は、分析装置に与えられる複数の分析条件データと、複数の分析条件データに基づいて分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定部と、分析装置から得られた測定データから測定品質指標データを算出する算出部と、推定部により推定された測定品質指標データ、および、算出部により算出された品質測定指標データを比較表示する比較表示部とを備える。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、分析装置において分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本実施の形態に係る分析システムの全体図である。

【図2】本実施の形態に係るコンピュータの構成図である。

【図3】本実施の形態に係るコンピュータの機能ブロック図である。

【図4】液体クロマトグラフにおいて得られたクロマトグラムを示す図である。

【図5】クロマトグラムにおけるピークを示す図である。

【図6】分離度の分布を示す応答曲面を示す図である。

【図7】分離度の分布に対するデザインスペースを示す図である。

【図8】本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。

【図9】本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。

【図10】ディスプレイに表示された分析支援画面を示す図である。

【図11】ディスプレイに表示された変形例１に係る分析支援画面を示す図である。

【図12】ディスプレイに表示された変形例２に係る分析支援画面を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

次に、添付の図面を参照しながら本発明の実施の形態に係る分析支援装置、方法およびプログラムの構成について説明する。

【0011】

（１）分析システムの全体構成
図１は、本実施の形態に係る分析システム５の全体図である。分析システム５は、コンピュータ１および液体クロマトグラフ３を備える。コンピュータ１および液体クロマトグラフ３は、ネットワーク４を介して接続される。ネットワーク４は、例えばＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）である。

【0012】

コンピュータ１は、液体クロマトグラフ３に分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３における測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。コンピュータ１には、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムがインストールされる。

【0013】

液体クロマトグラフ３は、ポンプユニット、オートサンプラユニット、カラムオーブンユニットおよび検出器ユニットなどを備える。液体クロマトグラフ３は、また、システムコントローラを備える。システムコントローラは、コンピュータ１からネットワーク４経由で受信した制御指示に従って、液体クロマトグラフ３を制御する。システムコントローラは、液体クロマトグラフ３の測定結果のデータを、ネットワーク４経由でコンピュータ１に送信する。

【0014】

（２）コンピュータ（分析支援装置）の構成
図２は、コンピュータ１の構成図である。コンピュータ１は、本実施の形態においてはパーソナルコンピュータが利用される。コンピュータ１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１０１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１０２、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１０３、ディスプレイ１０４、操作部１０５、記憶装置１０６、通信インタフェース１０７、および、デバイスインタフェース１０８を備える。

【0015】

ＣＰＵ１０１は、コンピュータ１の制御を行う。ＲＡＭ１０２は、ＣＰＵ１０１がプログラムを実行するときにワークエリアとして使用される。ＲＯＭ１０３には、制御プログラムなどが記憶される。ディスプレイ１０４は、例えば液晶ディスプレイである。操作部１０５は、ユーザの操作を受け付けるデバイスであり、キーボード、マウスなどを含む。ディスプレイ１０４がタッチパネルディスプレイで構成され、ディスプレイ１０４が操作部１０５としての機能を備えていても良い。記憶装置１０６は、各種プログラムおよびデータを記憶する装置である。記憶装置１０６は、例えばハードディスクである。通信インタフェース１０７は、他のコンピュータおよびデバイスと通信を行うインタフェースである。通信インタフェース１０７は、ネットワーク４に接続される。デバイスインタフェース１０８は、各種の外部デバイスにアクセスするインタフェースである。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８に接続された外部デバイス装置を介して記憶媒体１０９にアクセスすることができる。

【0016】

記憶装置１０６には、分析支援プログラムＰ１、分析条件データＡＰ、測定データＭＤ、測定品質指標データＭＱおよび分布データＤＤが記憶される。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムである。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３に対して分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３から測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。分析条件データＡＰは、液体クロマトグラフ３に設定する分析条件を記述したデータであり、複数の分析パラメータを含む。測定データＭＤは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果のデータである。測定品質指標データＭＱは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果の品質を評価するためのデータである。測定品質指標データＭＱは、保持時間データＲＴＤおよび分離度データＲＤを含む。分布データＤＤは、実際に液体クロマトグラフ３に設定された分析条件データＡＰおよび実際に液体クロマトグラフ３において測定された測定データＭＤに基づいて推定された測定品質指標データＭＱの分布を示すデータである。分布データＤＤは、測定品質指標データＭＱの応答曲面を示す。測定品質指標データＭＱの分布および応答曲面については、後で詳しく説明する。

【0017】

図３は、コンピュータ１の機能ブロック図である。制御部２００は、ＣＰＵ１０１が、ＲＡＭ１０２をワークエリアとして使用し、分析支援プログラムＰ１を実行することにより実現される機能部である。制御部２００は、分析管理部２０１、算出部２０２、推定部２０３および比較表示部２０４を備える。

【0018】

分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３の制御を行う。分析管理部２０１は、ユーザによる分析条件データＡＰの設定および分析処理の開始指示を受けて、液体クロマトグラフ３に対する分析処理の指示を行う。分析管理部２０１は、また、液体クロマトグラフ３から測定データＭＤを取得する。

【0019】

算出部２０２は、液体クロマトグラフ３における測定結果を示す測定データＭＤに基づいて、測定品質指標データＭＱを算出する。算出部２０２は、測定品質指標データＭＱとして、保持時間データＲＴＤおよび分離度データＲＤを算出する。

【0020】

推定部２０３は、実際の測定に用いられた分析条件データＡＰ、および、その分析条件データＡＰに基づいて実際に算出された測定品質指標データＭＱに基づいて、測定品質指標データＭＱの分布を示す分布データＤＤを推定する。つまり、分布データＤＤにおいては、実際に測定に用いられていない分析条件データＡＰに対する測定品質指標データＭＱの推定値が含まれている。推定部２０３は、分布データＤＤを推定するために回帰分析を行う。

【0021】

比較表示部２０４は、分析条件データＡＰに基づいて実際に算出された測定品質指標データＭＱ、および、推定された測定品質指標データＭＱを用いて、ディスプレイ１０４に測定品質指標の比較表示を行う。

【0022】

（３）測定品質指標およびデザインスペース
次に、図４～図６を参照しながら、測定品質指標およびデザインスペースについて説明する。図４は、液体クロマトグラフ３において得られたクロマトグラム３０を示す図である。液体クロマトグラフ３が備える分離カラムにおいて、試料に含まれる成分が分離される。分離された成分は、液体クロマトグラフ３が備える検出器において検出される。検出器は、分離カラムにおいて分離された各成分の吸光スペクトル、屈折率、または、光の散乱などを検出する。図４で示すクロマトグラム３０は、液体クロマトグラフ３の検出器において検出された各成分の吸光スペクトルなどの信号強度が示されている。

【0023】

図５は、クロマトグラム３０における２つのピークＰＫ１，ＰＫ２を示す図である。ピークＰＫ１，ＰＫ２の保持時間は、それぞれｒｔ１，ｒｔ２である。また、ピークＰＫ１，ＰＫ２のピーク幅は、それぞれＷ１，Ｗ２である。また、ピークＰＫ１，ＰＫ２の半値幅（半値全幅）は、Ｗｈ１，Ｗｈ２である。このとき、ピークＰＫ１，ＰＫ２の分離度Ｒは、例えば、以下の（１）または（２）式で表される。
（１）Ｒ＝２×（ｒｔ２－ｒｔ１）／（Ｗ１＋Ｗ２）
（２）Ｒ＝１．１８×｛（ｒｔ２－ｒｔ１）／（Ｗｈ１＋Ｗｈ２）｝

【0024】

分離度Ｒは、値が大きいほど、隣り合うピークが分離されていることを意味する。例えば、分離度Ｒが１．５以上、または、２．０以上などの場合に、隣り合うピークは、完全分離されていると判断される。

【0025】

分離度Ｒが、所定の閾値（例えば、２．０）を超えることにより、液体クロマトグラフ３における測定結果は有効であると考えられる。つまり、分離度Ｒは、液体クロマトグラフ３における測定品質指標の一つとなる。クロマトグラム３０においては、複数の成分に対応した複数のピークが出現する。これら複数のピークから算出される複数の分離度Ｒの中で最小の分離度Ｒを測定品質指標とすることができる。あるいは、保持時間ｒｔ１，ｒｔ２も、液体クロマトグラフ３における測定品質指標の１つとなる。

【0026】

液体クロマトグラフ３に実際に複数の分析条件データＡＰを与えることにより、複数の測定データＭＤを得ることができる。この実際に測定された測定データＭＤから、各分析条件データＡＰに対応する分離度データＲＤを算出することができる。そして、複数の分析条件データＡＰ、および、複数の分析条件データＡＰから得られた複数の分離度データＲＤから、回帰分析により分離度データＲＤの分布を得ることができる。つまり、複数の分析条件データＡＰおよび複数の分離度データＲＤから、測定品質指標データＭＱの分布を得ることができる。

【0027】

具体的には、実際に用いられる複数の分析条件データＡＰ、および、実際に測定された測定データＭＤから算出された複数の分離度データＲＤとの間の回帰式を取得する。そして、実際に用いられていない他の分析条件データＡＰに対して、回帰式を適用させることにより、それら他の分析条件データＡＰに対する分離度データＲＤを推定する。これにより、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布が得られる。つまり、回帰式は、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布を示す。あるいは、回帰分析により、保持時間データＲＴＤの分布を推定し、推定された保持時間データＲＴＤから分離度データＲＤを算出してもよい。回帰分析においては、ベイズ推定を用いることができる。

【0028】

図６は、分離度データＲＤの分布である応答曲面３３の一例を示す図である。つまり、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布を示す図である。図６は、分析条件として２種類の分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂに対する分離度Ｒの変化を示す応答曲面３３が描かれている。つまり、分析条件である分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂの組み合わせが決まると、それに対応する分離度Ｒが応答曲面３３から求められる。

【0029】

図７は、分離度Ｒの分布に対するデザインスペースを示す図である。図６に示す応答曲面３３において、測定品質指標である分離度Ｒの閾値を設定することによって、分離度Ｒの許容範囲であるデザインスペース３５が取得される。図７は、図６で示す応答曲面３３において、分離度Ｒが閾値（例えば２．０）以上となる領域をデザインスペース３５として描画した図である。図７において、斜線の領域がデザインスペース３５である。デザインスペース３５の領域内においては、分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂを変化させた場合であっても、測定品質指標として分離度Ｒが許容範囲に収まることを示している。

【0030】

（４）分析支援方法
次に、本実施の形態に係るコンピュータ１（分析支援装置）において実行される分析支援方法について説明する。図８および図９は、本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。図８および図９に示す処理を開始する前に、予め、ユーザが操作部１０５を操作し、複数の分析条件の設定を行う。具体的には、ユーザは、溶媒濃度、溶媒混合比、グラジエント初期値、グラジエント勾配、カラム温度などの分析パラメータの設定値の組み合わせを、分析条件として設定する。ユーザは、これら分析パラメータの組み合わせを複数セット設定する。例えば、溶媒濃度を少しずつ変化させた分析パラメータの組み合わせや、カラム温度を少しずつ変化させた分析パラメータの組み合わせなどを分析条件として設定する。このようなユーザの設定操作を受けて、分析管理部２０１は、記憶装置１０６に複数の分析条件データＡＰを保存する。

【0031】

次に、図８に示すステップＳ１０１において、分析管理部２０１が、複数の分析条件データＡＰを液体クロマトグラフ３に設定する。具体的には、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３のシステムコントローラに対して、複数の分析条件データＡＰを設定する。これに応じて、液体クロマトグラフ３において、設定された複数の分析条件データＡＰに基づいて、同一の試料に対して複数回の分析処理が実行される。液体クロマトグラフ３において、複数の分析条件データＡＰに対応して複数の測定データＭＤが取得される。つまり、液体クロマトグラフ３において、複数の分析条件データＡＰに対応した複数のクロマトグラムが取得される。

【0032】

次に、ステップＳ１０２において、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３から複数の測定データＭＤを取得する。分析管理部２０１は、記憶装置１０６に、取得した複数の測定データＭＤを保存する。

【0033】

次に、ステップＳ１０３において、算出部２０２が、ステップＳ１０２において記憶装置１０６に保存された複数の測定データＭＤを取得し、取得した複数の測定データＭＤから複数の保持時間データＲＴＤおよび半値幅データＷｈＤを取得する。測定データＭＤは、クロマトグラムであるので、それぞれの測定データＭＤには、複数のピークが含まれる。したがって、それぞれの測定データＭＤからは複数のピークに対応する複数の保持時間データＲＴＤおよび複数の半値幅データＷｈＤが取得される。

【0034】

次に、ステップＳ１０４において、推定部２０３は、複数の分析条件データＡＰおよび複数の保持時間データＲＴＤに基づいて回帰分析を行う。これにより、推定部２０３は、分析条件と保持時間との間の回帰式を算出する。続いて、推定部２０３は、ステップＳ１０５において、回帰式に基づいて保持時間データＲＴＤの分布を推定する。本実施の形態においては、回帰分析を行うときに、ベイズ推定を用いている。他に、回帰分析として最小二乗法を用いることも可能である。

【0035】

さらに、推定部２０３は、測定された複数の保持時間データＲＴＤおよび複数の半値幅データＷＤに基づいて回帰分析を行う。これにより、推定部２０３は、保持時間と半値幅との間の回帰式を算出する。続いて、推定部２０３は、ステップＳ１０６において、回帰式に基づいて半値幅データＷｈＤを推定する。本実施の形態においては、回帰分析を行うときに、ベイズ推定を用いている。他に、回帰分析として最小二乗法を用いることも可能である。

【0036】

以上のステップＳ１０１～Ｓ１０６により、保持時間データＲＴＤおよび半値幅データＷｈＤの分布が推定される。続いて、ステップＳ１０７において、推定された保持時間データＲＴＤおよび半値幅データＷｈＤに基づいて、分離度データＲＤの分布を推定する。具体的には、上記の数式（２）を利用することで、保持時間データＲＴＤおよび半値幅データＷｈＤに基づいて、分離度データＲＤを算出する。なお、本実施の形態においては、半値幅データＷｈＤの分布を推定し、数式（２）を利用して分離度データＲＤを算出したが、ピーク幅の分布を推定し、数式（１）を利用して分離度データＲＤを算出するようにしてもよい。

【0037】

分析支援プログラムＰ１による以上のステップＳ１０１～Ｓ１０７がコンピュータ１において実行されることにより、実際に実行された分析条件以外の分析条件についても、保持時間データＲＴＤおよび分離度データＲＤが推定される。これにより、分離度データＲＤを測定品質指標とする分布を作成することができる。また、所定の閾値を設定することにより、分離度データＲＤを測定品質指標とするデザインスペースを作成することができる。

【0038】

続いて、ユーザは、操作部１０５を操作し、新たな分析条件の設定を行う。これに応じて、分析管理部２０１は、記憶装置１０６に新たな分析条件データＡＰを保存する。分析管理部２０１は、図９に示すステップＳ１０８において、新たな分析条件データＡＰを液体クロマトグラフ３に設定する。これに応じて、液体クロマトグラフ３において、設定された新たな分析条件データＡＰに基づいて、分析処理が実行される。液体クロマトグラフ３において、新たな分析条件データＡＰに対応して新たな測定データＭＤが取得される。

【0039】

次に、ステップＳ１０９において、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３から新たな測定データＭＤを取得する。分析管理部２０１は、記憶装置１０６に、取得した新たな測定データＭＤを保存する。

【0040】

次に、ステップＳ１１０において、算出部２０２が、ステップＳ１０９において記憶装置１０６に保存された新たな測定データＭＤを取得し、取得した新たな測定データＭＤから保持時間データＲＴＤを取得する。

【0041】

次に、比較表示部２０４は、ステップＳ１１１において、ステップＳ１０５において推定された保持時間データＲＴＤと、ステップＳ１１０で取得した保持時間データＲＴＤとを比較表示する。図１０は、比較表示部２０４がディスプレイ１０４に表示する分析支援画面２１０を示す図である。分析支援画面２１０は、メソッド一覧表示部２２０、クロマトグラム表示部２３０、および、測定品質指標表示部２４０を備える。

【0042】

メソッド一覧表示部２２０には、複数の分析条件データＡＰが一覧表示されている。一行の分析条件データＡＰは、複数の分析パラメータＸ，Ｙ・・・から構成されている。

【0043】

クロマトグラム表示部２３０には、測定データＭＤに基づいてクロマトグラムが表示されている。クロマトグラム表示部２３０に表示されているクロマトグラムは、メソッド一覧表示部２２０に表示されている複数の分析条件データＡＰのうち、いずれか１つの分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムである。図１０で示す例では、メソッド一覧表示部２２０において、Ｎｏ．２の分析条件データＡＰが強調表示されており、クロマトグラム表示部２３０には、Ｎｏ．２の分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムが表示されている。クロマトグラム表示部２３０に表示されているクロマトグラムのうち、破線のクロマトグラムは、推定部２０３において推定されたクロマトグラムである。実線のクロマトグラムは、算出部２０２において算出された測定データＭＤ（実際に測定された測定データＭＤ）に基づくクロマトグラムである。

【0044】

測定品質指標表示部２４０には、測定品質指標として分離度データＲＤの分布が表示されている。分布の横軸は分析パラメータＸであり、縦軸は分析パラメータＹである。分離度データＲＤの分布は、２つの分析パラメータＸ，Ｙと分離度データＲＤとの関係が示されている。分離度データＲＤの大きさは、濃淡で示されている。色の濃い部分は、分離度データＲＤが小さい領域を示し、色が薄い部分は、分離度データＲＤが大きい領域を示している。つまり、色が薄い領域は、測定品質指標が高いことを示している。

【0045】

また、図の実線２４１は、５０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。図の破線２４２は、８０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。図の破線２４３は、９０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。本実施の形態においては、測定品質指標表示部２４０に表示されている分離度データＲＤは、ベイズ推定により算出されているため、確率分布を持つ。したがって、各パーセンタイルに応じて分離度データＲＤが閾値２．０以上となるデザインスペースが描画されている。測定品質指標表示部２４０の濃淡の色分けは、５０％パーセンタイルの分離度データＲＤに基づいて描画されている。

【0046】

また、測定品質指標表示部２４０において、分析条件ポインタ２４５が示されている。これは、現在、選択されている分析条件データＡＰのポイントを示している。そして、分析条件ポインタ２４５で指定されている分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムが、クロマトグラム表示部２３０に表示されている。つまり、メソッド一覧表示部２２０において強調表示されている分析条件データＡＰと、測定品質指標表示部２４０において分析条件ポインタ２４５で指定されている分析条件データＡＰとは一致している。メソッド一覧表示部２２０における選択位置と、分析条件ポインタ２４５による指定位置とは連動しており、いずれかの操作を行うことで、両者の状態が変更される。

【0047】

また、クロマトグラム表示部２３０においては、ピーク位置マーク２３１，２３２が表示されている。ピーク位置マーク２３１は、破線で示された推定されたクロマトグラムのピーク位置を示している。つまり、ピーク位置マーク２３１は、推定された保持時間データＲＴＤを示している。ピーク位置マーク２３２は、実線で示された算出されたクロマトグラムのピーク位置を示している。つまり、ピーク位置マーク２３２は、実際に測定された測定データＭＤに基づく、保持時間データＲＴＤを示している。ピーク位置マーク２３１のうち、白抜き星マークは、５０％パーセンタイルの推定値、白抜き三角マークは、９０％パーセンタイルの推定値を示している。本実施の形態においては、推定部２０３における保持時間データＲＴＤの推定には、ベイズ推定が用いられている。したがって、推定される保持時間データＲＴＤも、確率分布を持つ。

【0048】

このように、本実施の形態の分析支援方法において、比較表示部２０４は、推定部２０３により推定された保持時間データＲＴＤ、および、算出部２０２により算出された保持時間データＲＴＤ（実際に測定された保持時間データＲＴＤ）を比較表示する。つまり、比較表示部２０４は、推定部２０３により推定された測定品質指標、および、算出部２０２により算出された品質測定指標を比較表示する。これにより、ユーザは、推定部２０３による推定の精度を確認することができる。本実施の形態のコンピュータ１は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0049】

また、比較表示部２０４は、クロマトグラム表示部２３０において、推定部２０３により推定された測定品質指標である保持時間データＲＴＤの確率分布を表示する。そして、比較表示部２０４は、保持時間データＲＴＤの確率分布、および、算出された保持時間データＲＴＤ（実際に測定された保持時間データＲＴＤ）を比較表示する。図８の例では、保持時間データＲＴＤの５０％パーセンタイルの推定値、および、９０％パーセンタイルの推定値を、実際に測定された保持時間データＲＴＤと比較表示している。これにより、ユーザは、実際の測定値と、推定部２０３による推定値の確率分布とを比較することができる。

【0050】

また、比較表示部２０４は、測定品質指標表示部２４０において、推定部２０３により推定された測定品質指標である分離度データＲＤの分布を表示する。そして、比較表示部２０４は、測定品質指標表示部２４０において表示された分布画像中の任意の点に対する指定操作に応答して、指定された点に対応する分析条件データＡＰを取得する。比較表示部２０４は、さらに、取得した分析条件データＡＰに対応した、推定された保持時間データＲＴＤ、および、取得した分析条件データＡＰに対応した、算出部２０２により算出された保持時間データＲＴＤを比較表示する。これにより、ユーザは、測定品質指標表示部２４０における分布と、推定された保持時間データＲＴＤおよび算出された保持時間データＲＴＤとの関係を確認することができる。

【0051】

（５）変形例１
図１１は、変形例１に係る分析支援画面２１０Ａを示す図である。分析支援画面２１０Ａは、メソッド一覧表示部２２０Ａ、クロマトグラム表示部２３０、および、測定品質指標表示部２４０を備える。クロマトグラム表示部２３０、および、測定品質指標表示部２４０の内容は、図１０で示した分析支援画面２１０と同様である。変形例１のメソッド一覧表示部２２０Ａには、図１０で示した分析支援画面２１０と比べて、表示項目として、推定保持時間および実測保持時間の欄が追加されている。

【0052】

推定保持時間の項目には、各分析条件データＡＰに対して、推定部２０３において推定された保持時間データＲＴＤが表示されている。実測保持時間の項目には、各分析条件データＡＰに対して、算出部２０２において算出された保持時間データＲＴＤ（測定された保持時間データＲＴＤ）が表示されている。これら推定保持時間および実測保持時間は、ピークの数だけ表示される。これにより、ユーザは、推定部２０３による推定の精度を数値により確認することができる。本実施の形態のコンピュータ１は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0053】

（６）変形例２
図１２は、変形例２に係る分析支援画面２１０Ｂを示す図である。分析支援画面２１０Ｂは、メソッド一覧表示部２２０Ｂ、クロマトグラム表示部２３０、および、測定品質指標表示部２４０を備える。クロマトグラム表示部２３０、および、測定品質指標表示部２４０の内容は、図１０で示した分析支援画面２１０と同様である。変形例２のメソッド一覧表示部２２０Ｂには、図１０で示した分析支援画面２１０と比べて、表示項目として、カテゴリー欄が追加されている。

【0054】

カテゴリーの項目には、推定部２０３において推定された保持時間データＲＴＤと、算出部２０２において算出された保持時間データＲＴＤとの差のカテゴリーが表示されている。図１２で示す例では、カテゴリーとして、Ｌｅｖｅｌ＿Ａ，Ｌｅｖｅｌ＿Ｂ，Ｌｅｖｅｌ＿Ｃのランクが示されている。カテゴリーは、Ｌｅｖｅｌ＿Ａ＞Ｌｅｖｅｌ＿Ｂ＞Ｌｅｖｅｌ＿Ｃの順で推定部２０３による推定結果の精度が高いことを示している。つまり、推定された保持時間データＲＴＤと、測定された保持時間データＲＴＤの差が小さい順にカテゴリーがＬｅｖｅｌ＿Ａ，Ｌｅｖｅｌ＿Ｂ，Ｌｅｖｅｌ＿Ｃにランクされている。これにより、ユーザは、推定部２０３による推定の精度をカテゴリーにより確認することができる。本実施の形態のコンピュータ１は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0055】

（７）請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。上記の実施の形態では、液体クロマトグラフ３が分析装置またはクロマトグラフの例である。また、上記の実施の形態では、コンピュータ１が分析支援装置の例である。

【0056】

請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する種々の要素を用いることもできる。

【0057】

（８）他の実施の形態
上記実施の形態においては、本発明の分析装置として、液体クロマトグラフ３を例に説明した。本発明は、他にも、ガスクロマトグラフにも適用可能である。また、上記の実施の形態において、本実施の形態の分析支援装置であるコンピュータ１は、ネットワーク４を介して分析装置である液体クロマトグラフ３に接続される場合を例に説明した。他の実施の形態として、コンピュータ１が、分析装置に内蔵される構成であってもよい。

【0058】

上記実施の形態においては、分析支援プログラムＰ１は、記憶装置１０６に保存されている場合を例に説明した。他の実施の形態として、分析支援プログラムＰ１は、記憶媒体１０９に保存されて提供されてもよい。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を、記憶装置１０６またはＲＯＭ１０３に保存するようにしてもよい。あるいは、ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を実行するようにしてもよい。

【0059】

なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。

【0060】

（９）態様
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0061】

（第１項）
一態様に係る分析支援装置は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
前記分析装置から得られた測定データから前記測定品質指標データを算出する算出部と、
前記推定部により推定された前記測定品質指標データ、および、前記算出部により算出された前記測定品質指標データを比較表示する比較表示部と、
を備える。

【0062】

ユーザは、推定部による推定の精度を確認することができる。分析支援装置は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0063】

（第２項）
第１項に記載の分析支援装置において、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記測定品質指標データの確率分布、および、前記算出部により算出された前記測定品質指標データを比較表示してもよい。

【0064】

ユーザは、実際の測定値と、推定部による推定値の確率分布とを比較することができる。

【0065】

（第３項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記分析装置は、クロマトグラフを含み、
前記測定品質指標データは、前記クロマトグラフにおいて分析された各成分の保持時間データを含み、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データ、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを比較表示してもよい。

【0066】

ユーザは、クロマトグラフを用いる分析処理において、推定部による保持時間データの推定の精度を確認することができる。分析支援装置は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0067】

（第４項）
第３項に記載の分析支援装置において、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データを表すスペクトルのピーク画像、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを表すスペクトルのピーク画像を比較表示してもよい。

【0068】

スペクトルのピーク画像が比較表示されるので、ユーザは、視覚的に推定部による推定の精度を確認することができる。

【0069】

（第５項）
第３項に記載の分析支援装置において、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データを示す数値、および、前記算出部により算出された前記保持時間データを示す数値を比較表示してもよい。

【0070】

ユーザは、推定部による推定の精度を数値の大小により確認することができる。分析支援装置は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0071】

（第６項）
第３項に記載の分析支援装置において、
前記比較表示部は、前記推定部により推定された前記保持時間データと、前記算出部により算出された前記保持時間データとの差を分類表示してもよい。

【0072】

ユーザは、推定部による推定の精度を分類表示により確認することができる。分析支援装置は、分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

【0073】

（第７項）
第１項～第６項のいずれか一項に記載の分析支援装置において、
前記推定部により推定された前記測定品質指標データの分布を表示する測定品質指標表示部、
をさらに備え、
前記比較表示部は、前記測定品質指標表示部により表示された分布画像中の任意の点に対する指定操作に応答して、指定された点に対応する前記分析条件データを取得し、取得した前記分析条件データに対応した推定された前記測定品質指標データ、および、取得した前記分析条件データに対応した算出された前記測定品質指標データを比較表示してもよい。

【0074】

これにより、ユーザは、測定品質指標表示部における分布と、推定された保持時間データおよび算出された保持時間データとの関係を確認することができる。

【0075】

（第８項）
他の態様に係る分析支援方法は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記分析装置から得られた測定データから前記測定品質指標データを算出する算出工程と、
前記推定工程により推定された前記測定品質指標データ、および、前記算出工程により算出された前記測定品質指標データを比較表示する比較表示工程と、
を含む。

【0076】

（第９項）
他の態様に係る分析支援プログラムは、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定処理と、
前記分析装置から得られた測定データから前記測定品質指標データを算出する算出処理と、
前記推定処理により推定された前記測定品質指標データ、および、前記算出処理により算出された前記測定品質指標データを比較表示する比較表示処理と、
をコンピュータに実行させる。

【符号の説明】

【0077】

１…コンピュータ、３…液体クロマトグラフ、１０４…ディスプレイ、１０６…記憶装置、２００…制御部、２０１…分析管理部、２０２…算出部、２０３…推定部、２０４…比較表示部、２２０，２２０Ａ，２２０Ｂ…メソッド一覧表示部、２３０…クロマトグラム表示部、２４０…測定品質指標表示部、ＡＰ…分析条件データ、ＭＤ…測定データ、ＭＱ…測定品質指標データ、ＲＴＤ…保持時間データ、ＲＤ…分離度データ、ＤＤ…分布データ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】