特許7421768静電浮遊炉用試料浮遊位置制御方法及び試料浮遊位置制御装置

発明の名称　静電浮遊炉用試料浮遊位置制御方法及び試料浮遊位置制御装置

出願人　株式会社ＩＨＩエアロスペース　（識別番号 500302552）

　　　　特許公開件数ランキング 3969 位（5件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 3357 位（7件）（共同出願を含む）

出願人　独立行政法人　宇宙航空研究開発機構　（識別番号 503361400）

　　　　特許公開件数ランキング 740 位（50件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 810 位（33件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7421768

公報発行日　2024年1月25

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7421768

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