知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-02-09
(45)【発行日】2024-02-20
(54)【発明の名称】撮像装置および電子機器
(51)【国際特許分類】
H04N 25/70 20230101AFI20240213BHJP
H01L 27/146 20060101ALI20240213BHJP
H01L 29/786 20060101ALI20240213BHJP
【ＦＩ】
H04N25/70
H01L27/146 C
H01L27/146 E
H01L27/146 F
H01L29/78 618B
H01L29/78 613Z
H01L29/78 613B
【請求項の数】
7
(21)【出願番号】P 2020568869
(86)(22)【出願日】2020-01-22
(86)【国際出願番号】 IB2020050457
(87)【国際公開番号】W WO2020157600
(87)【国際公開日】2020-08-06
【審査請求日】2022-11-30
(31)【優先権主張番号】P 2019013507
(32)【優先日】2019-01-29
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】000153878
【氏名又は名称】株式会社半導体エネルギー研究所
(72)【発明者】
【氏名】山崎 舜平
(72)【発明者】
【氏名】池田 隆之
【審査官】鈴木 明
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１６－２１３２９８（ＪＰ，Ａ）
【文献】国際公開第２０１５／１５９７２８（ＷＯ，Ａ１）
【文献】国際公開第２０１７／２０９２２１（ＷＯ，Ａ１）
【文献】特開２０１７－１７５１２９（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０４Ｎ ２５／００－２５／７９
Ｈ０１Ｌ ２７／１４６
Ｈ０１Ｌ ２９／７８
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
第１の層と、第２の層と、第３の層と、を有する撮像装置であって、前記第２の層は、前記第１の層と前記第３の層との間に設けられ、
前記第１の層は、光電変換デバイスを有し、
前記第２の層は、第１の回路および第２の回路を有し、
前記第３の層は、第３の回路および第４の回路を有し、
前記第１の回路および前記光電変換デバイスは、撮像データを生成する機能を有し、
前記第３の回路は、前記撮像データを読み出す機能を有し、
前記第２の回路は、前記第３の回路で読み出した前記撮像データを記憶する機能を有し、
前記第４の回路は、前記第２の回路に記憶した前記撮像データを読み出す機能を有し、
前記第１の回路および前記第２の回路は、金属酸化物をチャネル形成領域に有するトランジスタを有し、
前記トランジスタは、半導体層と、前記半導体層の上方に配置された第１のゲート電極と、前記半導体層の下方に配置された第２のゲート電極と、を有し、
前記第２のゲート電極は、第１の絶縁体が有する開口に埋め込まれており、
前記半導体層の側面、及び前記半導体層の上面は、第２の絶縁体に覆われており、
前記第１のゲート電極の側面は、前記第２の絶縁体に覆われており、
前記第１の絶縁体の側面、前記第２の絶縁体の側面、前記第２の絶縁体の上面、及び前記第２のゲート電極の上面は、第３の絶縁体に覆われており、
前記第１の絶縁体の下方、及び前記第２のゲート電極の下方には、第４の絶縁体が配置され、
前記第３の絶縁体と前記第４の絶縁体とは、接する領域を有し、
前記第３の絶縁体と前記第４の絶縁体とは、窒化シリコンを含む撮像装置。
【請求項2】
請求項１において、前記第１の回路は、第１のトランジスタと、第２のトランジスタと、第３のトランジスタと、第４のトランジスタと、第１のキャパシタと、を有し、
前記光電変換デバイスの一方の電極は、前記第１のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、
前記第１のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第２のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、
前記第２のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第１のキャパシタの一方の電極と電気的に接続され、
前記第１のキャパシタの一方の電極は、前記第３のトランジスタのゲートと電気的に接続され、
前記第３のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第４のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、
前記第４のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第３の回路と電気的に接続する撮像装置。
【請求項3】
請求項１または２において、前記第２の回路は、第５のトランジスタと、第２のキャパシタと、を有し、
前記第５のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第２のキャパシタの一方の電極と電気的に接続され、
前記第５のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第３の回路と電気的に接続され、
前記第５のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第４の回路と電気的に接続する撮像装置。
【請求項4】
請求項１乃至３のいずれか一項において、前記第３の回路は、Ａ／Ｄコンバータを有し、前記第４の回路は、センスアンプを有する撮像装置。
【請求項5】
請求項１乃至４のいずれか一項において、前記第１の層および前記第３の層は、単結晶シリコンを有する撮像装置。
【請求項6】
請求項１乃至５のいずれか一項において、前記金属酸化物は、Ｉｎと、Ｚｎと、Ｍ（ＭはＡｌ、Ｔｉ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｙ、Ｚｒ、Ｌａ、Ｃｅ、ＮｄまたはＨｆ）と、を有する撮像装置。
【請求項7】
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の撮像装置と、表示部と、を有する電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の一態様は、撮像装置に関する。
【0002】
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する発明の一態様の技術分野は、物、方法、または、製造方法に関するものである。または、本発明の一態様は、プロセス、マシン、マニュファクチャ、または、組成物（コンポジション・オブ・マター）に関するものである。そのため、より具体的に本明細書で開示する本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、液晶表示装置、発光装置、照明装置、蓄電装置、記憶装置、撮像装置、それらの駆動方法、または、それらの製造方法、を一例として挙げることができる。
【0003】
なお、本明細書等において半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。トランジスタ、半導体回路は半導体装置の一態様である。また、記憶装置、表示装置、撮像装置、電子機器は、半導体装置を有する場合がある。
【背景技術】
【0004】
基板上に形成された酸化物半導体薄膜を用いてトランジスタを構成する技術が注目されている。例えば、酸化物半導体を有するオフ電流が極めて低いトランジスタを画素回路に用いる構成の撮像装置が特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【文献】特開２０１１－１１９７１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
撮像装置は様々な用途に用いられており、撮像動作の高速化、高機能化が望まれている。例えば、高速の連写、撮像データの解析などを行うには、１フレーム単位でデータが保持できることが好ましい。
【0007】
本発明の一態様では、メモリ機能を有する撮像装置を提供することを目的の一つとする。または、動体の撮像に適した撮像装置を提供することを目的の一つとする。低消費電力の撮像装置を提供することを目的の一つとする。または、信頼性の高い撮像装置を提供することを目的の一つとする。または、新規な撮像装置を提供することを目的の一つとする。または、上記撮像装置の動作方法を提供することを目的の一つとする。または、新規な半導体装置などを提供することを目的の一つとする。
【0008】
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の一態様は、メモリ機能を有する撮像装置に関する。
【0010】
本発明の一態様は、第１の層と、第２の層と、第３の層と、を有する撮像装置であって、第２の層は、第１の層と第３の層との間に設けられ、第１の層は、光電変換デバイスを有し、第２の層は、第１の回路および第２の回路を有し、第３の層は、第３の回路および第４の回路を有し、第１の回路および光電変換デバイスは、撮像データを生成する機能を有し、第３の回路は、撮像データを読み出す機能を有し、第２の回路は、第３の回路で読み出した撮像データを記憶する機能を有し、第４の回路は、第２の回路に記憶した撮像データを読み出す機能を有し、第１の回路および第２の回路は、金属酸化物をチャネル形成領域に有するトランジスタを有する撮像装置である。
【0011】
第１の回路は、第１のトランジスタと、第２のトランジスタと、第３のトランジスタと、第４のトランジスタと、第１のキャパシタと、を有し、光電変換デバイスの一方の電極は、第１のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、第１のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、第２のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、第２のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、第１のキャパシタの一方の電極と電気的に接続され、第１のキャパシタの一方の電極は、第３のトランジスタのゲートと電気的に接続され、第３のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、第４のトランジスタのソースまたはドレインの一方と電気的に接続され、第４のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、第３の回路と電気的に接続される。
【0012】
第２の回路は、第５のトランジスタと、第２のキャパシタと、を有し、第５のトランジスタのソースまたはドレインの一方は、第２のキャパシタの一方の電極と電気的に接続され、第５のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、第３の回路と電気的に接続され、第５のトランジスタのソースまたはドレインの他方は、第４の回路と電気的に接続される。
【0013】
第３の回路は、Ａ／Ｄコンバータを有し、第４の回路は、センスアンプを有することができる。
【0014】
第１の層および前記第３の層は、単結晶シリコンを有することができる。
【0015】
金属酸化物は、Ｉｎと、Ｚｎと、Ｍ（ＭはＡｌ、Ｔｉ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｙ、Ｚｒ、Ｌａ、Ｃｅ、ＮｄまたはＨｆ）と、を有することが好ましい。
【発明の効果】
【0016】
本発明の一態様を用いることで、メモリ機能を有する撮像装置を提供することができる。または、動体の撮像に適した撮像装置を提供することができる。低消費電力の撮像装置を提供することができる。または、信頼性の高い撮像装置を提供することができる。または、新規な撮像装置を提供することができる。または、上記撮像装置の動作方法を提供することができる。または、新規な半導体装置などを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
図１は、撮像装置を説明する図である。
図２Ａおよび図２Ｂは、画素回路を説明する図であり、図２Ｃは、メモリ回路を説明する図である。
図３Ａは、ローリングシャッタ方式を説明する図であり、図３Ｂは、グローバルシャッタ方式を説明する図である。
図４Ａおよび図４Ｂは、画素回路の動作を説明するタイミングチャートである。
図５Ａおよび図５Ｂは、画素回路を説明する図である。
図６Ａ乃至図６Ｃは、撮像装置を説明するブロック図である。
図７Ａおよび図７Ｂは、撮像装置の構成を説明する断面図である。
図８Ａ乃至図８Ｄは、トランジスタを説明する図である。
図９は、記憶装置の構成例を説明する図である。
図１０は、メモリセルアレイの構成例を説明する図である。
図１１Ａ乃至図１１Ｄメモリセルの構成例を説明する回路図である。
図１２は、半導体装置の構成を示す断面図である。
図１３は、半導体装置の構成を示す断面図である。
図１４Ａ乃至図１４Ｆは、撮像装置を収めたパッケージ、カメラモジュールを説明する斜視図である。
図１５Ａ乃至図１５Ｆは、電子機器を説明する図である。
図２Ａおよび図２Ｂは、画素回路を説明する図であり、図２Ｃは、メモリ回路を説明する図である。
図３Ａは、ローリングシャッタ方式を説明する図であり、図３Ｂは、グローバルシャッタ方式を説明する図である。
図４Ａおよび図４Ｂは、画素回路の動作を説明するタイミングチャートである。
図５Ａおよび図５Ｂは、画素回路を説明する図である。
図６Ａ乃至図６Ｃは、撮像装置を説明するブロック図である。
図７Ａおよび図７Ｂは、撮像装置の構成を説明する断面図である。
図８Ａ乃至図８Ｄは、トランジスタを説明する図である。
図９は、記憶装置の構成例を説明する図である。
図１０は、メモリセルアレイの構成例を説明する図である。
図１１Ａ乃至図１１Ｄメモリセルの構成例を説明する回路図である。
図１２は、半導体装置の構成を示す断面図である。
図１３は、半導体装置の構成を示す断面図である。
図１４Ａ乃至図１４Ｆは、撮像装置を収めたパッケージ、カメラモジュールを説明する斜視図である。
図１５Ａ乃至図１５Ｆは、電子機器を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【0018】
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨およびその範囲から逸脱することなくその形態および詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。したがって、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略することがある。なお、図を構成する同じ要素のハッチングを異なる図面間で適宜省略または変更する場合もある。
【0019】
また、回路図上では単一の要素として図示されている場合であっても、機能的に不都合がなければ、当該要素が複数で構成されてもよい。例えば、スイッチとして動作するトランジスタは、複数が直列または並列に接続されてもよい場合がある。また、キャパシタを分割して複数の位置に配置する場合もある。
【0020】
また、一つの導電体が、配線、電極および端子などの複数の機能を併せ持っている場合があり、本明細書においては、同一の要素に対して複数の呼称を用いる場合がある。また、回路図上で要素間が直接接続されているように図示されている場合であっても、実際には当該要素間が複数の導電体を介して接続されている場合があり、本明細書ではこのような構成でも直接接続の範疇に含める。
【0021】
（実施の形態１）
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置について、図面を参照して説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置について、図面を参照して説明する。
【0022】
本発明の一態様は、メモリ機能を有する撮像装置である。撮像データをメモリ回路に一時的に記憶することで、撮像データを連続して高速に取得することができる。また、撮像データをメモリ回路から高速に読み出すことができ、データ解析なども高速に行うことができる。
【0023】
また、グローバルシャッタ方式での撮像が可能な画素回路を用いることで、動きのある被写体であっても歪のない画像を得ることができる。
【0024】
また、本発明の一態様では、画素を構成する回路にチャネル形成領域に金属酸化物を有するトランジスタ（以下、ＯＳトランジスタ）を用いる。ＯＳトランジスタは、シリコン基板上に形成することができ、貼り合わせ工程を削減することができる。
【0025】
＜撮像装置＞
図１は、本発明の一態様の撮像装置を説明する図である。撮像装置は、層１２、層１３、および層１４を有する。層１３は、層１２と層１４との間に設けられ、それぞれが互いに重なる領域を有する。
図１は、本発明の一態様の撮像装置を説明する図である。撮像装置は、層１２、層１３、および層１４を有する。層１３は、層１２と層１４との間に設けられ、それぞれが互いに重なる領域を有する。
【0026】
層１２は、光電変換デバイス（光電変換素子ともいう）を有する。光電変換デバイスとしては、フォトダイオードを用いることができる。当該フォトダイオードとしては、例えば、単結晶シリコンを光電変換部に用いたｐｎ接合型フォトダイオード、非晶質シリコン、多結晶シリコンまたは微結晶シリコンを光電変換層に用いたｐｉｎ型フォトダイオードなどを用いることができる。または、化合物半導体、セレンまたはセレン化合物などの材料を光電変換層に用いてもよい。本実施の形態では、光電変換デバイスとして、単結晶シリコンを用いたｐｎ接合型フォトダイオードを用いた例を説明する。
【0027】
層１３は、画素回路を構成するトランジスタ等、およびメモリ回路を構成するトランジスタ等を有する。また、当該トランジスタとしては、ＯＳトランジスタを用いることが好ましい。ＯＳトランジスタは、オフ電流が極めて低い特性を有し、画素回路で長時間データ保持が可能になるなど、画素回路の構成要素として適している。メモリ回路は、次に説明する第１の読み出し回路から出力されたデジタルデータを格納することができる。
【0028】
層１４は、第１の読み出し回路を構成するトランジスタ等、および第２の読み出し回路を構成するトランジスタ等を有する。第１の読み出し回路は、例えば、画素回路から出力されたアナログデータをデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータ等を有することができる。第２の読み出し回路は、例えば、メモリ回路に格納されたデータを読み出すためのセンスアンプ等を有することができる。
【0029】
＜画素回路＞
図２Ａは、画素回路の一例を説明する図である。画素回路は、層１２が有する光電変換デバイス１０１と、層１３が有する回路１１０を有する。回路１１０は、トランジスタ１０３と、トランジスタ１０４と、トランジスタ１０５と、トランジスタ１０６と、キャパシタ１０８を有することができる。なお、キャパシタ１０８を設けない構成としてもよい。
図２Ａは、画素回路の一例を説明する図である。画素回路は、層１２が有する光電変換デバイス１０１と、層１３が有する回路１１０を有する。回路１１０は、トランジスタ１０３と、トランジスタ１０４と、トランジスタ１０５と、トランジスタ１０６と、キャパシタ１０８を有することができる。なお、キャパシタ１０８を設けない構成としてもよい。
【0030】
光電変換デバイス１０１の一方の電極（カソード）は、トランジスタ１０３のソースまたはドレインの一方と電気的に接続される。トランジスタ１０３のソースまたはドレインの他方は、トランジスタ１０４のソースまたはドレインの一方と電気的に接続される。トランジスタ１０４のソースまたはドレインの一方は、キャパシタ１０８の一方の電極と電気的に接続される。キャパシタ１０８の一方の電極は、トランジスタ１０５のゲートと電気的に接続される。トランジスタ１０５のソースまたはドレインの一方は、トランジスタ１０６のソースまたはドレインの一方と電気的に接続される。
【0031】
ここで、トランジスタ１０３のソースまたはドレインの他方、キャパシタ１０８の一方の電極、トランジスタ１０５のゲートを接続する配線をノードＦＤとする。ノードＦＤは電荷蓄積部として機能させることができる。
【0032】
光電変換デバイス１０１の他方の電極（アノード）は、配線１２１と電気的に接続される。トランジスタ１０３のゲートは、配線１２７と電気的に接続される。トランジスタ１０４のソースまたはドレインの他方は、配線１２２と電気的に接続される。トランジスタ１０５のソースまたはドレインの他方は、配線１２３に電気的に接続される。トランジスタ１０４のゲートは、配線１２６と電気的に接続される。トランジスタ１０６のゲートは、配線１２８と電気的に接続される。キャパシタ１０８の他方の電極は、例えばＧＮＤ配線などの基準電位線と電気的に接続される。トランジスタ１０６のソースまたはドレインの他方は、配線１２９と電気的に接続される。
【0033】
配線１２７、１２６、１２８は、各トランジスタの導通を制御する信号線としての機能を有することができる。配線１２９は出力線としての機能を有することができる。
【0034】
配線１２１、１２２、１２３は、電源線としての機能を有することができる。図２Ａに示す構成では光電変換デバイス１０１のカソード側がトランジスタ１０３と電気的に接続する構成であり、ノードＦＤを高電位にリセットして動作させる構成であるため、配線１２２は高電位（配線１２１よりも高い電位）とする。
【0035】
図２Ａでは、光電変換デバイス１０１のカソードがノードＦＤと電気的に接続する構成を示したが、図２Ｂに示すように光電変換デバイス１０１のアノード側がトランジスタ１０３のソースまたはドレインの一方と電気的に接続する構成としてもよい。
【0036】
当該構成では、ノードＦＤを低電位にリセットして動作させる構成であるため、配線１２２は低電位（配線１２１よりも低い電位）とする。
【0037】
トランジスタ１０３は、ノードＦＤの電位を制御する機能を有する。トランジスタ１０４は、ノードＦＤの電位をリセットする機能を有する。トランジスタ１０５はソースフォロア回路として機能し、ノードＦＤの電位を画像データとして配線１２９に出力することができる。トランジスタ１０６は、画像データを出力する画素を選択する機能を有する。
【0038】
トランジスタ１０３およびトランジスタ１０４には、ＯＳトランジスタを用いることが好ましい。ＯＳトランジスタは、オフ電流が極めて低い特性を有する。トランジスタ１０３、１０４にＯＳトランジスタを用いることによって、ノードＦＤで電荷を保持できる期間を極めて長くすることができる。そのため、回路構成や動作方法を複雑にすることなく、全画素で同時に電荷の蓄積動作を行うグローバルシャッタ方式を適用することができる。
【0039】
＜撮像装置の動作方式＞
図３Ａはローリングシャッタ方式の動作方法を模式化した図であり、図３Ｂはグローバルシャッタ方式を模式化した図である。Ｅｎはｎ列目（ｎは自然数）の露光（蓄積動作）、Ｒｎはｎ列目の読み出し動作を表している。図３Ａ、図３Ｂでは、１行目からＭ行目（Ｍは自然数）までの動作を示している。
図３Ａはローリングシャッタ方式の動作方法を模式化した図であり、図３Ｂはグローバルシャッタ方式を模式化した図である。Ｅｎはｎ列目（ｎは自然数）の露光（蓄積動作）、Ｒｎはｎ列目の読み出し動作を表している。図３Ａ、図３Ｂでは、１行目からＭ行目（Ｍは自然数）までの動作を示している。
【0040】
ローリングシャッタ方式は、露光とデータの読み出しを順次行う動作方法であり、ある行の読み出し期間と他の行の露光期間を重ねる方式である。露光後すぐに読み出し動作を行うため、データの保持期間が比較的短い回路構成であっても撮像を行うことができる。しかしながら、撮像の同時性がないデータで１フレームの画像が構成されるため、動体の撮像においては画像に歪が生じてしまう。
【0041】
一方で、グローバルシャッタ方式は、全画素で同時に露光を行って各画素にデータを保持し、行毎にデータを読み出す動作方法である。したがって、動体の撮像であっても歪のない画像を得ることができる。
【0042】
画素回路にチャネル形成領域にＳｉを用いたトランジスタ（以下、Ｓｉトランジスタ）などの比較的オフ電流の高いトランジスタを用いた場合は、電荷蓄積部からデータ電位が流出しやすいためローリングシャッタ方式が多く用いられる。Ｓｉトランジスタを用いてグローバルシャッタ方式を実現するには、別途専用のメモリ回路などを設ける必要があり、さらに複雑な動作を高速で行わなければならない。一方で、画素回路にＯＳトランジスタを用いた場合は、電荷蓄積部からのデータ電位の流出がほとんどないため、容易にグローバルシャッタ方式を実現することができる。なお、本発明の一態様の撮像装置をローリングシャッタ方式で動作させることもできる。
【0043】
なお、画素回路を構成するトランジスタに、ＯＳトランジスタおよびＳｉトランジスタを任意に組み合わせて適用してもよい。また、全てのトランジスタをＯＳトランジスタまたはＳｉトランジスタとしてもよい。Ｓｉトランジスタとしては、非晶質シリコンを有するトランジスタ、結晶性のシリコン（代表的には、低温ポリシリコン、単結晶シリコンなど）を有するトランジスタなどが挙げられる。
【0044】
＜メモリ回路＞
図２Ｃは、層１３が有するメモリ回路のセルの一例を示す図である。セル１１１は、トランジスタ１０７およびキャパシタ１０９を有する。トランジスタ１０７のソースまたはドレインの一方は、キャパシタ１０９の一方の電極と電気的に接続される。トランジスタ１０７のソースまたはドレインの他方は、配線１３２と電気的に接続される。トランジスタ１０７のゲートは、配線１３２と電気的に接続される。なお、他の構成のセルを用いることもできる。
図２Ｃは、層１３が有するメモリ回路のセルの一例を示す図である。セル１１１は、トランジスタ１０７およびキャパシタ１０９を有する。トランジスタ１０７のソースまたはドレインの一方は、キャパシタ１０９の一方の電極と電気的に接続される。トランジスタ１０７のソースまたはドレインの他方は、配線１３２と電気的に接続される。トランジスタ１０７のゲートは、配線１３２と電気的に接続される。なお、他の構成のセルを用いることもできる。
【0045】
配線１３１は、ワード線としての機能を有することができる。配線１３２は、ビット線としての機能を有することができる。トランジスタ１０７を導通させることで、配線１３２からキャパシタ１０９にデータを書き込むことができる。または、トランジスタ１０７を導通させることで、キャパシタ１０９から配線１３２にデータを読み出すことができる。
【0046】
トランジスタ１０７には、ＯＳトランジスタを用いることが好ましい。前述したように、ＯＳトランジスタはオフ電流が極めて小さいため、キャパシタ１０９に蓄積された電荷を長時間保持することができる。したがって、リフレッシュ間隔を拡大することができ、消費電力を低減することができる。また、実質的に不揮発性メモリとしても使用することができる。メモリ回路の詳細は、後述する他の実施の形態にて説明する。
【0047】
＜画素回路の動作＞
次に、図２Ａに示す画素回路の動作の一例を図４Ａのタイミングチャートを用いて説明する。なお、本明細書におけるタイミングチャートの説明においては、高電位を“Ｈ”、低電位を“Ｌ”で表す。配線１２１には常時“Ｌ”が供給され、配線１２２、１２３には常時“Ｈ”が供給されている状態とする。
次に、図２Ａに示す画素回路の動作の一例を図４Ａのタイミングチャートを用いて説明する。なお、本明細書におけるタイミングチャートの説明においては、高電位を“Ｈ”、低電位を“Ｌ”で表す。配線１２１には常時“Ｌ”が供給され、配線１２２、１２３には常時“Ｈ”が供給されている状態とする。
【0048】
期間Ｔ１において、配線１２６の電位を“Ｈ”、配線１２７の電位を“Ｈ”、配線１２８の電位を“Ｌ”とすると、トランジスタ１０３、１０４が導通し、ノードＦＤには配線１２３の電位“Ｈ”が供給される（リセット動作）（図２Ａ参照）。
【0049】
期間Ｔ２において、配線１２６の電位を“Ｌ”、配線１２７の電位を“Ｈ”、配線１２８の電位を“Ｌ”とすると、トランジスタ１０４が非導通となってリセット電位の供給が遮断される。また、光電変換デバイス１０１の動作に応じてノードＦＤの電位が低下する（蓄積動作）。
【0050】
期間Ｔ３において、配線１２６の電位を“Ｌ”、配線１２７の電位を“Ｌ”、配線１２８の電位を“Ｌ”とすると、トランジスタ１０３が非導通となり、ノードＦＤの電位は確定し、保持される（保持動作）。このとき、ノードＦＤに接続されるトランジスタ１０３およびトランジスタ１０４にオフ電流の低いＯＳトランジスタを用いることによって、ノードＦＤからの不必要な電荷の流出を抑えることができ、データの保持時間の延ばすことができる。
【0051】
期間Ｔ４において、配線１２６の電位を“Ｌ”、配線１２７の電位を“Ｌ”、配線１２８の電位を“Ｈ”とすると、トランジスタ１０６が導通し、トランジスタ１０５のソースフォロア動作によりノードＦＤの電位が配線１２９に読み出される（読み出し動作）。
【0052】
以上が図２Ａに示す画素回路の動作の一例である。
【0053】
図２Ｂに示す画素回路は、図４Ｂのタイミングチャートに従って動作させることができる。なお、配線１２１、１２３には常時“Ｈ”が供給され、配線１２２には常時“Ｌ”が供給されている状態とする。基本的な動作は、上記の図２Ａのタイミングチャートの説明と同様である。
【0054】
本発明の一態様においては、図５Ａ、図５Ｂに例示するように、トランジスタにバックゲートを設けた構成としてもよい。図５Ａは、バックゲートがフロントゲートと電気的に接続された構成を示しており、オン電流を高める効果を有する。図５Ｂは、バックゲートが定電位を供給できる配線と電気的に接続された構成を示しており、トランジスタのしきい値電圧を制御することができる。
【0055】
【0056】
＜撮像装置の構成例＞
図６Ａは、本発明の一態様の撮像装置を説明するブロック図である。当該撮像装置は、マトリクス状に配列された画素回路５０を有する画素アレイ５１と、画素アレイ５１の行を選択する機能を有する回路５２（ロードライバ）と、画素回路５０からデータを読み出す機能を有する回路５３と、リセット電位および電源電位を供給する回路５７と、回路５３の出力データを格納する回路５８と、回路５８からデータを読み出す機能を有する回路５９を有する。
図６Ａは、本発明の一態様の撮像装置を説明するブロック図である。当該撮像装置は、マトリクス状に配列された画素回路５０を有する画素アレイ５１と、画素アレイ５１の行を選択する機能を有する回路５２（ロードライバ）と、画素回路５０からデータを読み出す機能を有する回路５３と、リセット電位および電源電位を供給する回路５７と、回路５３の出力データを格納する回路５８と、回路５８からデータを読み出す機能を有する回路５９を有する。
【0057】
回路５３は、画素アレイ５１の列を選択する機能を有する回路５４（カラムドライバ）と、画素回路５０の出力データに対して相関二重サンプリング処理を行うための回路５５（ＣＤＳ回路）と、回路５５から出力されたアナログデータをデジタルデータに変換する機能を有する回路５６（Ａ／Ｄコンバータ）などを有することができる。回路５２、５４には、シフトレジスタ回路やデコーダ回路を用いることができる。
【0058】
【0059】
層１２には、光電変換デバイス１０１が設けられ、層１３に設けられる回路１１０と電気的に接続することで画素回路５０が形成される。また、層１３には、回路５８が設けられる。
【0060】
回路１１０および回路５８は、図６Ｂに示すように、水平方向に並べて配置する構成とすることができる。回路１１０および回路５８は、ＯＳトランジスタで形成するため、同一の工程で作製することができる。
【0061】
または、回路１１０および回路５８は、図６Ｃに示すように、垂直方向に積層して配置する構成としてもよい。ＯＳトランジスタは薄膜で形成することができるため、積層が容易である。回路１１０および回路５８を積層することで、画素回路５０およびセル１１１を高密度に配置することができ、解像度および記憶容量を向上させることができる。なお、セル１１１は単層に限らず、複数の層の積層であってもよい。
【0062】
層１４には、回路５２、回路５３および回路５９などを設けることができる。これらの回路は、高速動作が望まれるため、Ｓｉトランジスタで形成することが好ましい。すなわち、層１４は、単結晶シリコン基板を有することが好ましい。なお、回路５２は、ＯＳトランジスタで形成されていてもよい。この場合、回路５２は、層１２に設けられる。
【0063】
また、上記構成に限らず、回路５２、回路５３および回路５９のそれぞれが有する一部のトランジスタは、層１３に設けられたＯＳトランジスタで形成されていてもよい。または、回路１１０および回路５８のそれぞれが有する一部のトランジスタは、層１４に設けられたＳｉトランジスタで形成されていてもよい。
【0064】
以上の構成の撮像装置によって、撮像およびデータ処理を高速に行うことができる。また、Ｓｉトランジスタで構成される回路上にＯＳトランジスタで構成される回路を重ねて形成することができ、撮像装置を小型化することができる。また、貼り合わせ工程を削減することができ、製造コストを削減することができる。
【0065】
本実施の形態は、他の実施の形態などに記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
【0066】
（実施の形態２）
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置の構造例などについて詳細を説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置の構造例などについて詳細を説明する。
【0067】
図７Ａは、画素領域を含む断面の一例を説明する図である。当該構造は、層１２上に層１３を作製し、別途形成した層１４を層１３に貼り合わせて作製することができる。なお、層１３と層１４との電気的な接続部分は省略している。
【0068】
層１２には、光電変換デバイス１０１として、ｎ型の導電型を有する領域２２、ｐ型の導電型を有する領域（単結晶シリコン基板２１）およびｐ＋型の導電型を有する領域２８を有するｐｎ接合型フォトダイオードが設けられる。
【0069】
【0070】
層１４には、Ｓｉトランジスタを有するシリコン基板２５などが設けられる。図７Ａでは、回路５３が有するトランジスタ１１２、回路５９が有するトランジスタ１１３を例示する。
【0071】
ＯＳトランジスタが形成される領域とＳｉデバイス（光電変換デバイス１０１またはＳｉトランジスタ等）が形成される領域との間には、絶縁層６５、６６が設けられる。絶縁層６５、６６は、水素の拡散を防止する機能を有する。例えば、光電変換デバイス１０１近傍に設けられる絶縁層中の水素は、シリコンのダングリングボンドを終端する。一方、トランジスタ１０３、１０７のチャネル形成領域の近傍に設けられる絶縁層中の水素は、酸化物半導体層中にキャリアを生成する要因の一つとなる。
【0072】
絶縁層６５、６６により、一方の層に水素を閉じ込めることでＳｉデバイスの信頼性を向上させることができる。また、一方の層から他方の層への水素の拡散が抑制されることでトランジスタ１０３、１０７の信頼性も向上させることができる。
【0073】
絶縁層６５、６６としては、例えば、酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、酸化ガリウム、酸化窒化ガリウム、酸化イットリウム、酸化窒化イットリウム、酸化ハフニウム、酸化窒化ハフニウム、イットリア安定化ジルコニア（ＹＳＺ）等を用いることができる。
【0074】
層１３と層１４との接合領域において、層１３側には絶縁層３１が設けられる。また、層１４側には絶縁層３３が設けられる。絶縁層３１および絶縁層３３は、貼り合わせに寄与する絶縁層である。
【0075】
なお、図７Ａでは、絶縁層３１が絶縁層６３および絶縁層６４の２層である例を示している。絶縁層６３には、例えばアクリル樹脂やポリイミドなどの有機膜を用いることができる。絶縁層３３および絶縁層６４には酸化シリコン膜などの無機膜を用いることができる。
【0076】
また、図７Ｂに、図７Ａとは異なる構造例を示す。当該構造は、層１４上に層１３を作製し、別途形成した層１２を層１３に貼り合わせて作製することができる。なお、層１３と層１４との電気的な接続部分は省略している。
【0077】
この場合、層１２と層１３との接合領域において、層１２側には絶縁層３３および導電層３４が設けられる。また、層１３側には絶縁層３１および導電層３２が設けられる。ここで、絶縁層３１は、絶縁層６３、絶縁層６５および絶縁層６４の３層である例を示している。なお、絶縁層６５は上記の効果が得られる位置であれば、その他の位置に設けられていてもよい。例えば、絶縁層６３と絶縁層６５を入れ替えてもよい。また、導電層３４と導電層３２を貼り合わせることで電気的な接続を得ることができる。
【0078】
図８ＡにＯＳトランジスタの詳細を示す。図８Ａに示すＯＳトランジスタは、酸化物半導体層および導電層の積層上に絶縁層を設け、当該半導体層に達する溝を設けることでソース電極２０５およびドレイン電極２０６を形成するセルフアライン型の構成である。
【0079】
ＯＳトランジスタは、酸化物半導体層２０７に形成されるチャネル形成領域、ソース領域２０３およびドレイン領域２０４のほか、ゲート電極２０１、ゲート絶縁膜２０２を有する構成とすることができる。当該溝には少なくともゲート絶縁膜２０２およびゲート電極２０１が設けられる。当該溝には、さらに酸化物半導体層２０８が設けられていてもよい。
【0080】
ＯＳトランジスタは、図８Ｂに示すように、ゲート電極２０１をマスクとして半導体層にソース領域２０３およびドレイン領域２０４を形成するセルフアライン型の構成としてもよい。
【0081】
または、図８Ｃに示すように、ソース電極２０５またはドレイン電極２０６とゲート電極２０１とが重なる領域を有するノンセルフアライン型のトップゲート型トランジスタであってもよい。
【0082】
トランジスタ１０３、１０５、１０６はバックゲート５３５を有する構造を示しているが、バックゲートを有さない構造であってもよい。バックゲート５３５は、図８Ｄに示すトランジスタのチャネル幅方向の断面図のように、対向して設けられるトランジスタのフロントゲートと電気的に接続してもよい。なお、図８Ｄは図８Ａのトランジスタ１０３のＡ１－Ａ２断面を示しているが、その他の構造のトランジスタも同様にフロントゲートとバックゲート５３５を電気的に接続してもよい。また、バックゲート５３５にフロントゲートとは異なる固定電位を供給することができる構成であってもよい。
【0083】
ＯＳトランジスタに用いる半導体材料としては、エネルギーギャップが２ｅＶ以上、好ましくは２．５ｅＶ以上、より好ましくは３ｅＶ以上である金属酸化物を用いることができる。代表的には、インジウムを含む酸化物半導体などであり、例えば、後述するＣＡＡＣ－ＯＳまたはＣＡＣ－ＯＳなどを用いることができる。ＣＡＡＣ－ＯＳは結晶を構成する原子が安定であり、信頼性を重視するトランジスタなどに適する。また、ＣＡＣ－ＯＳは、高移動度特性を示すため、高速駆動を行うトランジスタなどに適する。
【0084】
ＯＳトランジスタは半導体層のエネルギーギャップが大きいため、数ｙＡ／μｍ（チャネル幅１μｍあたりの電流値）という極めて低いオフ電流特性を示す。また、ＯＳトランジスタは、インパクトイオン化、アバランシェ降伏、および短チャネル効果などが生じないなどＳｉトランジスタとは異なる特徴を有し、高耐圧で信頼性の高い回路を形成することができる。また、Ｓｉトランジスタでは問題となる結晶性の不均一性に起因する電気特性のばらつきもＯＳトランジスタでは生じにくい。
【0085】
ＯＳトランジスタが有する半導体層は、例えばインジウム、亜鉛およびＭ（アルミニウム、チタン、ガリウム、ゲルマニウム、イットリウム、ジルコニウム、ランタン、セリウム、スズ、ネオジムまたはハフニウム等の金属）を含むＩｎ－Ｍ－Ｚｎ系酸化物で表記される膜とすることができる。Ｉｎ－Ｍ－Ｚｎ系酸化物は、例えば、スパッタリング法、ＡＬＤ（Ａｔｏｍｉｃ Ｌａｙｅｒ Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）法、またはＭＯＣＶＤ（Ｍｅｔａｌ Ｏｒｇａｎｉｃ Ｃｈｅｍｉｃａｌ Ｖａｐｏｒ Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）法などを用いて形成することができる。
【0086】
Ｉｎ－Ｍ－Ｚｎ酸化物をスパッタリング法で成膜する場合、スパッタリングターゲットの金属元素の原子数比は、Ｉｎ≧Ｍ、Ｚｎ≧Ｍを満たすことが好ましい。このようなスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比として、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝１：１：１、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝１：１：１．２、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝３：１：２、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝４：２：３、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝４：２：４．１、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝５：１：６、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝５：１：７、Ｉｎ：Ｍ：Ｚｎ＝５：１：８等が好ましい。なお、成膜される半導体層の原子数比はそれぞれ、上記のスパッタリングターゲットに含まれる金属元素の原子数比のプラスマイナス４０％の変動を含む。
【0087】
半導体層としては、キャリア密度の低い酸化物半導体を用いる。例えば、半導体層は、キャリア密度が１×１０１７／ｃｍ３以下、好ましくは１×１０１５／ｃｍ３以下、さらに好ましくは１×１０１３／ｃｍ３以下、より好ましくは１×１０１１／ｃｍ３以下、さらに好ましくは１×１０１０／ｃｍ３未満であり、１×１０－９／ｃｍ３以上の酸化物半導体を用いることができる。そのような酸化物半導体を、高純度真性または実質的に高純度真性な酸化物半導体と呼ぶ。当該酸化物半導体は欠陥準位密度が低く、安定な特性を有する酸化物半導体であるといえる。
【0088】
なお、これらに限られず、必要とするトランジスタの半導体特性および電気特性（電界効果移動度、しきい値電圧等）に応じて適切な組成のものを用いればよい。また、必要とするトランジスタの半導体特性を得るために、半導体層のキャリア密度や不純物濃度、欠陥密度、金属元素と酸素の原子数比、原子間距離、密度等を適切なものとすることが好ましい。
【0089】
半導体層を構成する酸化物半導体において、第１４族元素の一つであるシリコンや炭素が含まれると、酸素欠損が増加し、ｎ型化してしまう。このため、半導体層におけるシリコンや炭素の濃度（二次イオン質量分析法により得られる濃度）を、２×１０１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ３以下、好ましくは２×１０１７ａｔｏｍｓ／ｃｍ３以下とする。
【0090】
また、アルカリ金属およびアルカリ土類金属は、酸化物半導体と結合するとキャリアを生成する場合があり、トランジスタのオフ電流が増大してしまうことがある。このため、半導体層におけるアルカリ金属またはアルカリ土類金属の濃度（二次イオン質量分析法により得られる濃度）を、１×１０１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ３以下、好ましくは２×１０１６ａｔｏｍｓ／ｃｍ３以下にする。
【0091】
また、半導体層を構成する酸化物半導体に窒素が含まれていると、キャリアである電子が生じてキャリア密度が増加し、ｎ型化しやすい。この結果、窒素が含まれている酸化物半導体を用いたトランジスタはノーマリーオン特性となりやすい。このため半導体層における窒素濃度（二次イオン質量分析法により得られる濃度）は、５×１０１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ３以下にすることが好ましい。
【0092】
また、半導体層を構成する酸化物半導体に水素が含まれていると、金属原子と結合する酸素と反応して水になるため、酸化物半導体中に酸素欠損を形成する場合がある。酸化物半導体中のチャネル形成領域に酸素欠損が含まれていると、トランジスタはノーマリーオン特性となる場合がある。さらに、酸素欠損に水素が入った欠陥はドナーとして機能し、キャリアである電子が生成されることがある。また、水素の一部が金属原子と結合する酸素と結合して、キャリアである電子を生成する場合がある。したがって、水素が多く含まれている酸化物半導体を用いたトランジスタは、ノーマリーオン特性となりやすい。
【0093】
酸素欠損に水素が入った欠陥は、酸化物半導体のドナーとして機能しうる。しかしながら、当該欠陥を定量的に評価することは困難である。そこで、酸化物半導体においては、ドナー濃度ではなく、キャリア濃度で評価される場合がある。よって、本明細書等では、酸化物半導体のパラメータとして、ドナー濃度ではなく、電界が印加されない状態を想定したキャリア濃度を用いる場合がある。つまり、本明細書等に記載の「キャリア濃度」は、「ドナー濃度」と言い換えることができる場合がある。
【0094】
よって、酸化物半導体中の水素はできる限り低減されていることが好ましい。具体的には、酸化物半導体において、二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ：Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ Ｉｏｎ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）により得られる水素濃度を、１×１０２０ａｔｏｍｓ／ｃｍ３未満、好ましくは１×１０１９ａｔｏｍｓ／ｃｍ３未満、より好ましくは５×１０１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ３未満、さらに好ましくは１×１０１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ３未満とする。水素などの不純物が十分に低減された酸化物半導体をトランジスタのチャネル形成領域に用いることで、安定した電気特性を付与することができる。
【0095】
また、酸化物半導体（金属酸化物）は、単結晶酸化物半導体と、それ以外の非単結晶酸化物半導体と、に分けられる。非単結晶酸化物半導体としては、例えば、ＣＡＡＣ－ＯＳ（Ｃ－Ａｘｉｓ Ａｌｉｇｎｅｄ Ｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）、多結晶酸化物半導体、ｎｃ－ＯＳ（ｎａｎｏｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）、擬似非晶質酸化物半導体（ａ－ｌｉｋｅ ＯＳ：ａｍｏｒｐｈｏｕｓ－ｌｉｋｅ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）、および非晶質酸化物半導体などがある。非単結晶構造において、非晶質構造は最も欠陥準位密度が高く、ＣＡＡＣ－ＯＳは最も欠陥準位密度が低い。
【0096】
非晶質構造の酸化物半導体膜は、例えば、原子配列が無秩序であり、結晶成分を有さない。または、非晶質構造の酸化物膜は、例えば、完全な非晶質構造であり、結晶部を有さない。
【0097】
なお、半導体層が、非晶質構造の領域、微結晶構造の領域、多結晶構造の領域、ＣＡＡＣ－ＯＳの領域、単結晶構造の領域のうち、二種以上を有する混合膜であってもよい。混合膜は、例えば上述した領域のうち、いずれか二種以上の領域を含む単層構造、または積層構造を有する場合がある。
【0098】
以下では、非単結晶の半導体層の一態様であるＣＡＣ（Ｃｌｏｕｄ－Ａｌｉｇｎｅｄ Ｃｏｍｐｏｓｉｔｅ）－ＯＳの構成について説明する。
【0099】
ＣＡＣ－ＯＳとは、例えば、酸化物半導体を構成する元素が、０．５ｎｍ以上１０ｎｍ以下、好ましくは、１ｎｍ以上２ｎｍ以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、酸化物半導体において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、０．５ｎｍ以上１０ｎｍ以下、好ましくは、１ｎｍ以上２ｎｍ以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。
【0100】
なお、酸化物半導体は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウムおよび亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれていてもよい。
【0101】
例えば、Ｉｎ－Ｇａ－Ｚｎ酸化物におけるＣＡＣ－ＯＳ（ＣＡＣ－ＯＳの中でもＩｎ－Ｇａ－Ｚｎ酸化物を、特にＣＡＣ－ＩＧＺＯと呼称してもよい。）とは、インジウム酸化物（以下、ＩｎＯＸ１（Ｘ１は０よりも大きい実数）とする。）、またはインジウム亜鉛酸化物（以下、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２（Ｘ２、Ｙ２、およびＺ２は０よりも大きい実数）とする。）と、ガリウム酸化物（以下、ＧａＯＸ３（Ｘ３は０よりも大きい実数）とする。）、またはガリウム亜鉛酸化物（以下、ＧａＸ４ＺｎＹ４ＯＺ４（Ｘ４、Ｙ４、およびＺ４は０よりも大きい実数）とする。）などと、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のＩｎＯＸ１、またはＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２が、膜中に均一に分布した構成（以下、クラウド状ともいう。）である。
【0102】
つまり、ＣＡＣ－ＯＳは、ＧａＯＸ３が主成分である領域と、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合酸化物半導体である。なお、本明細書において、例えば、第１の領域の元素Ｍに対するＩｎの原子数比が、第２の領域の元素Ｍに対するＩｎの原子数比よりも大きいことを、第１の領域は、第２の領域と比較して、Ｉｎの濃度が高いとする。
【0103】
なお、ＩＧＺＯは通称であり、Ｉｎ、Ｇａ、Ｚｎ、およびＯによる１つの化合物をいう場合がある。代表例として、ＩｎＧａＯ３（ＺｎＯ）ｍ１（ｍ１は自然数）、またはＩｎ（１＋ｘ０）Ｇａ（１－ｘ０）Ｏ３（ＺｎＯ）ｍ０（－１≦ｘ０≦１、ｍ０は任意数）で表される結晶性の化合物が挙げられる。
【0104】
上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはＣＡＡＣ構造を有する。なお、ＣＡＡＣ構造とは、複数のＩＧＺＯのナノ結晶がｃ軸配向を有し、かつａ－ｂ面においては配向せずに連結した結晶構造である。
【0105】
ナノ結晶は、六角形を基本とするが、正六角形状とは限らず、非正六角形状である場合がある。また、歪みにおいて、五角形、および七角形などの格子配列を有する場合がある。なお、ＣＡＡＣ－ＯＳにおいて、歪み近傍においても、明確な結晶粒界（グレインバウンダリーともいう）を確認することはできない。即ち、格子配列の歪みによって、結晶粒界の形成が抑制されていることがわかる。これは、ＣＡＡＣ－ＯＳが、ａ－ｂ面方向において酸素原子の配列が稠密でないことや、金属元素が置換することで原子間の結合距離が変化することなどによって、歪みを許容することができるためと考えられる。なお、明確な結晶粒界（グレインバウンダリー）が確認される結晶構造は、いわゆる多結晶（ｐｏｌｙｃｒｙｓｔａｌ）と呼ばれる。結晶粒界は、再結合中心となり、キャリアが捕獲されトランジスタのオン電流の低下、または電界効果移動度の低下を引き起こす可能性が高い。よって、明確な結晶粒界が確認されないＣＡＡＣ－ＯＳは、トランジスタの半導体層に好適な結晶構造を有する結晶性の酸化物の一つである。なお、ＣＡＡＣ－ＯＳを構成するには、Ｚｎを有する構成が好ましい。例えば、Ｉｎ－Ｚｎ酸化物、及びＩｎ－Ｇａ－Ｚｎ酸化物は、Ｉｎ酸化物よりも結晶粒界の発生を抑制できるため好適である。
【0106】
一方、ＣＡＣ－ＯＳは、酸化物半導体の材料構成に関する。ＣＡＣ－ＯＳとは、Ｉｎ、Ｇａ、Ｚｎ、およびＯを含む材料構成において、一部にＧａを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にＩｎを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。したがって、ＣＡＣ－ＯＳにおいて、結晶構造は副次的な要素である。
【0107】
なお、ＣＡＣ－ＯＳは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Ｉｎを主成分とする膜と、Ｇａを主成分とする膜との２層からなる構造は、含まない。
【0108】
なお、ＧａＯＸ３が主成分である領域と、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。
【0109】
なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、ＣＡＣ－ＯＳは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にＩｎを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。
【0110】
ＣＡＣ－ＯＳは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、ＣＡＣ－ＯＳをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス（代表的にはアルゴン）、酸素ガス、および窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を０％以上３０％未満、好ましくは０％以上１０％以下とすることが好ましい。
【0111】
ＣＡＣ－ＯＳは、Ｘ線回折（ＸＲＤ：Ｘ－ｒａｙ ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）測定法のひとつであるＯｕｔ－ｏｆ－ｐｌａｎｅ法によるθ／２θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、Ｘ線回折測定から、測定領域のａ－ｂ面方向、およびｃ軸方向の配向は見られないことが分かる。
【0112】
また、ＣＡＣ－ＯＳは、プローブ径が１ｎｍの電子線（ナノビーム電子線ともいう。）を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域（リング領域）と、該リング領域に複数の輝点が観測される。したがって、電子線回折パターンから、ＣＡＣ－ＯＳの結晶構造が、平面方向、および断面方向において、配向性を有さないｎｃ（ｎａｎｏ－ｃｒｙｓｔａｌ）構造を有することがわかる。
【0113】
また、例えば、Ｉｎ－Ｇａ－Ｚｎ酸化物におけるＣＡＣ－ＯＳでは、エネルギー分散型Ｘ線分光法（ＥＤＸ：Ｅｎｅｒｇｙ Ｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅ Ｘ－ｒａｙ ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ）を用いて取得したＥＤＸマッピングにより、ＧａＯＸ３が主成分である領域と、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。
【0114】
ＣＡＣ－ＯＳは、金属元素が均一に分布したＩＧＺＯ化合物とは異なる構造であり、ＩＧＺＯ化合物と異なる性質を有する。つまり、ＣＡＣ－ＯＳは、ＧａＯＸ３などが主成分である領域と、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。
【0115】
ここで、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域は、ＧａＯＸ３などが主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、酸化物半導体としての導電性が発現する。したがって、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域が、酸化物半導体中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度（μ）が実現できる。
【0116】
一方、ＧａＯＸ３などが主成分である領域は、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、ＧａＯＸ３などが主成分である領域が、酸化物半導体中に分布することで、リーク電流を抑制し、良好なスイッチング動作を実現できる。
【0117】
したがって、ＣＡＣ－ＯＳを半導体デバイスに用いた場合、ＧａＯＸ３などに起因する絶縁性と、ＩｎＸ２ＺｎＹ２ＯＺ２、またはＩｎＯＸ１に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、高いオン電流（Ｉｏｎ）、および高い電界効果移動度（μ）を実現することができる。
【0118】
また、ＣＡＣ－ＯＳを用いた半導体デバイスは、信頼性が高い。したがって、ＣＡＣ－ＯＳは、様々な半導体装置の構成材料として適している。
【0119】
次に、図７Ｂの構造を例として、貼り合わせ技術の説明を行う。
【0120】
層１２には、絶縁層３３および導電層３４が設けられる。導電層３４は、絶縁層３３に埋設され、貫通する領域を有する。導電層３４は、領域２２と電気的に接続される。また、絶縁層３３、導電層３４の表面は、それぞれ高さが一致するように平坦化されている。
【0121】
層１３には、絶縁層３１および導電層３２が設けられる。導電層３２は、絶縁層３１に埋設され、貫通する領域を有する。導電層３２は、トランジスタ１０３と電気的に接続される。また、絶縁層３１および導電層３２の表面は、それぞれ高さが一致するように平坦化されている。
【0122】
ここで、導電層３２および導電層３４は、主成分が同一の金属元素であることが好ましい。また、絶縁層３１および絶縁層３３の表面は、同一の成分で構成されていることが好ましい。
【0123】
例えば、導電層３２、３４には、Ｃｕ、Ａｌ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｗ、Ａｇ、ＰｔまたはＡｕなどを用いることができる。接合のしやすさから、好ましくはＣｕ、Ａｌ、Ｗ、またはＡｕを用いる。また、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、窒化チタンなどを、表面に積層した絶縁膜を、絶縁膜３１，３３に用いることができる。
【0124】
つまり、導電層３２および導電層３４の組み合わせに、上記に示す同一の金属材料を用いることが好ましい。また、絶縁層３１および絶縁層３３のそれぞれに、上記に示す同一の絶縁材料を用いることが好ましい。当該構成とすることで、層１２と層１３の境を接合位置とする、貼り合わせを行うことができる。
【0125】
当該貼り合わせによって、導電層３２および導電層３４の電気的な接続を得ることができる。また、絶縁層３１および絶縁層３３の機械的な強度を有する接続を得ることができる。
【0126】
金属層同士の接合には、表面の酸化膜および不純物の吸着層などをスパッタリング処理などで除去し、清浄化および活性化した表面同士を接触させて接合する表面活性化接合法を用いることができる。または、温度と圧力を併用して表面同士を接合する拡散接合法などを用いることができる。どちらも原子レベルでの結合が起こるため、電気的だけでなく機械的にも優れた接合を得ることができる。
【0127】
また、絶縁層同士の接合には、研磨などによって高い平坦性を得たのち、酸素プラズマ等で親水性処理をした表面同士を接触させて仮接合し、熱処理による脱水で本接合を行う親水性接合法などを用いることができる。親水性接合法も原子レベルでの結合が起こるため、機械的に優れた接合を得ることができる。
【0128】
層１２と、層１３を貼り合わせる場合、それぞれの接合面には絶縁層と金属層が混在するため、例えば、表面活性化接合法および親水性接合法を組み合わせて行えばよい。
【0129】
例えば、研磨後に表面を清浄化し、金属層の表面に酸化防止処理を行ったのちに親水性処理を行って接合する方法などを用いることができる。また、金属層の表面をＡｕなどの難酸化性金属とし、親水性処理を行ってもよい。なお、上述した方法以外の接合方法を用いてもよい。
【0130】
以下では、イメージセンサチップを収めたパッケージおよびカメラモジュールの一例について説明する。当該イメージセンサチップには、上記撮像装置の構成を用いることができる。
【0131】
図１４Ａは、イメージセンサチップを収めたパッケージの上面側の外観斜視図である。当該パッケージは、イメージセンサチップ６５０を固定するパッケージ基板６１０、カバーガラス６２０および両者を接着する接着剤６３０等を有する。
【0132】
図１４Ｃは、当該パッケージの下面側の外観斜視図である。パッケージの下面には、半田ボールをバンプ６４０としたＢＧＡ（Ｂａｌｌ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）を有する。なお、ＢＧＡに限らず、ＬＧＡ（Ｌａｎｄ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）やＰＧＡ（Ｐｉｎ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）などを有していてもよい。
【0133】
図１４Ｅは、カバーガラス６２０および接着剤６３０の一部を省いて図示したパッケージの斜視図である。パッケージ基板６１０上には電極パッド６６０が形成され、電極パッド６６０およびバンプ６４０はスルーホールを介して電気的に接続されている。電極パッド６６０は、イメージセンサチップ６５０とワイヤ６７０によって電気的に接続されている。
【0134】
また、図１４Ｂは、イメージセンサチップをレンズ一体型のパッケージに収めたカメラモジュールの上面側の外観斜視図である。当該カメラモジュールは、イメージセンサチップ６５１を固定するパッケージ基板６１１、レンズカバー６２１、およびレンズ６３５等を有する。また、パッケージ基板６１１およびイメージセンサチップ６５１の間には撮像装置の駆動回路および信号変換回路などの機能を有するＩＣチップ６９０も設けられており、ＳｉＰ（Ｓｙｓｔｅｍ ｉｎ Ｐａｃｋａｇｅ）としての構成を有している。
【0135】
図１４Ｄは、当該カメラモジュールの下面側の外観斜視図である。パッケージ基板６１１の下面および側面には、実装用のランド６４１が設けられたＱＦＮ（Ｑｕａｄ Ｆｌａｔ Ｎｏ－ｌｅａｄ ｐａｃｋａｇｅ）の構成を有する。なお、当該構成は一例であり、ＱＦＰ（Ｑｕａｄ Ｆｌａｔ Ｐａｃｋａｇｅ）や前述したＢＧＡが設けられていてもよい。
【0136】
図１４Ｆは、レンズカバー６２１およびレンズ６３５の一部を省いて図示したモジュールの斜視図である。ランド６４１は電極パッド６６１と電気的に接続され、電極パッド６６１はイメージセンサチップ６５１またはＩＣチップ６９０とワイヤ６７１によって電気的に接続されている。
【0137】
イメージセンサチップを上述したような形態のパッケージに収めることでプリント基板等への実装が容易になり、イメージセンサチップを様々な半導体装置、電子機器に組み込むことができる。
【0138】
本実施の形態は、他の実施の形態などに記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
【0139】
（実施の形態３）
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置に用いることができる記憶装置３３００の構成について説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の撮像装置に用いることができる記憶装置３３００の構成について説明する。
【0140】
＜記憶装置＞
図９は、記憶装置の構成例を示すブロック図である。記憶装置３３００は、周辺回路３３１１、セルアレイ（Ｃｅｌｌ Ａｒｒａｙ）３４０１、および半導体装置３１００を有する。なお、記憶装置３３００は、実施の形態１で説明した回路５８に相当する。
図９は、記憶装置の構成例を示すブロック図である。記憶装置３３００は、周辺回路３３１１、セルアレイ（Ｃｅｌｌ Ａｒｒａｙ）３４０１、および半導体装置３１００を有する。なお、記憶装置３３００は、実施の形態１で説明した回路５８に相当する。
【0141】
記憶装置３３００には、外部から電源電圧として低電源電圧（ＶＳＳ）、周辺回路３３１１用の高電源電圧（ＶＤＤ）、セルアレイ３４０１用の高電源電圧（ＶＩＬ）が供給される。
【0142】
また、記憶装置３３００には、制御信号（ＣＥ、ＷＥ、ＲＥ）、アドレス信号ＡＤＤＲ、データ信号ＷＤＡＴＡが外部から入力される。アドレス信号ＡＤＤＲは、ローデコーダ３３２１およびカラムデコーダ３３３１に入力され、データ信号ＷＤＡＴＡは入出力回路３３３４に入力される。
【0143】
〔周辺回路３３１１の構成例〕
周辺回路３３１１は、ローデコーダ３３２１、ワード線ドライバ回路３３２２、カラムデコーダ３３３１、ビット線ドライバ回路３３３０、出力回路３３４０、コントロールロジック回路３３６０を有する。
周辺回路３３１１は、ローデコーダ３３２１、ワード線ドライバ回路３３２２、カラムデコーダ３３３１、ビット線ドライバ回路３３３０、出力回路３３４０、コントロールロジック回路３３６０を有する。
【0144】
ワード線ドライバ回路３３２２は、配線ＷＬに電位を供給する機能を有する。ビット線ドライバ回路３３３０は、プリチャージ回路３３３２、増幅回路３３３３、および入出力回路３３３４を有する。プリチャージ回路３３３２は、配線ＳＬ（図示せず）、配線ＢＩＬまたは配線ＲＢＬなどをプリチャージする機能を有する。増幅回路３３３３は、配線ＢＩＬまたは配線ＲＢＬから読み出されたデータ信号を増幅する機能を有する。なお、配線ＷＬ、配線ＳＬ、配線ＢＩＬ、および配線ＲＢＬは、セルアレイ３４０１が有するメモリセル（Ｍｅｍｏｒｙ Ｃｅｌｌ）３４１１に接続されている配線であり、詳しくは後述する。増幅されたデータ信号は、出力回路３３４０を介して、デジタルのデータ信号ＲＤＡＴＡとして記憶装置３３００の外部に出力される。
【0145】
コントロールロジック回路３３６０は、外部からの入力信号（ＣＥ、ＷＥ、ＲＥ）を処理して、ローデコーダ３３２１、カラムデコーダ３３３１の制御信号を生成する。ＣＥは、チップイネーブル信号であり、ＷＥは、書き込みイネーブル信号であり、ＲＥは、読み出しイネーブル信号である。コントロールロジック回路３３６０が処理する信号は、これに限定されるものではなく、必要に応じて、他の制御信号を入力すればよい。
【0146】
なお、上述の各回路あるいは各信号は、必要に応じて、適宜、取捨することができる。
【0147】
〔セルアレイ３４０１の構成例〕
セルアレイ３４０１を構成するトランジスタにＯＳトランジスタを適用することができる。また、周辺回路３３１１を構成するトランジスタにＯＳトランジスタを適用することができる。セルアレイ３４０１と周辺回路３３１１を、ＯＳトランジスタを用いて形成することで、セルアレイ３４０１と周辺回路３３１１を、同一の製造工程で作製することが可能になり、製造コストを低く抑えることができる。
セルアレイ３４０１を構成するトランジスタにＯＳトランジスタを適用することができる。また、周辺回路３３１１を構成するトランジスタにＯＳトランジスタを適用することができる。セルアレイ３４０１と周辺回路３３１１を、ＯＳトランジスタを用いて形成することで、セルアレイ３４０１と周辺回路３３１１を、同一の製造工程で作製することが可能になり、製造コストを低く抑えることができる。
【0148】
図１０にセルアレイ３４０１の詳細を記載する。セルアレイ３４０１は、一列にｍ（ｍは１以上の整数である。）個、一行にｎ（ｎは１以上の整数である。）個、計ｍ×ｎ個のメモリセル３４１１を有し、メモリセル３４１１は行列状に配置されている。図１０では、メモリセル３４１１のアドレスも併せて表記している。例えば、［１，１］は１行１列目のアドレスに位置しているメモリセル３４１１を示し、［ｉ，ｊ］（ｉは、１以上ｍ以下の整数であり、ｊは、１以上ｎ以下の整数である。）はｉ行ｊ列目のアドレスに位置しているメモリセル３４１１を示している。なお、セルアレイ３４０１とワード線ドライバ回路３３２２を接続している配線の数は、メモリセル３４１１の構成、一列中に含まれるメモリセル３４１１の数などによって決まる。また、セルアレイ３４０１とビット線ドライバ回路３３３０とを接続している配線の数は、メモリセル３４１１の構成、一行中に含まれるメモリセル３４１１の数などによって決まる。
【0149】
〔メモリセル３４１１の構成例〕
図１１に、上述のメモリセル３４１１に適用できるメモリセル３４１１Ａ乃至メモリセル３４１１Ｄの構成例を示す。
図１１に、上述のメモリセル３４１１に適用できるメモリセル３４１１Ａ乃至メモリセル３４１１Ｄの構成例を示す。
【0150】
［ＤＯＳＲＡＭ］
図１１Ａに、ＤＲＡＭ型のメモリセル３４１１Ａの回路構成例を示す。本明細書等において、ＯＳトランジスタを用いたＤＲＡＭを、ＤＯＳＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）呼ぶ。メモリセル３４１１Ａは、トランジスタＭ１１と、キャパシタＣｓと、を有する。
図１１Ａに、ＤＲＡＭ型のメモリセル３４１１Ａの回路構成例を示す。本明細書等において、ＯＳトランジスタを用いたＤＲＡＭを、ＤＯＳＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）呼ぶ。メモリセル３４１１Ａは、トランジスタＭ１１と、キャパシタＣｓと、を有する。
【0151】
トランジスタＭ１１の第１端子は、キャパシタＣｓの第１端子と接続され、トランジスタＭ１１の第２端子は、配線ＢＩＬと接続され、トランジスタＭ１１のゲートは、配線ＷＬと接続され、トランジスタＭ１１のバックゲートは、配線ＢＧＬと接続されている。キャパシタＣｓの第２端子は、配線ＧＮＤＬと接続されている。配線ＧＮＤＬは、低レベル電位（基準電位という場合がある。）を与える配線である。
【0152】
配線ＢＩＬは、ビット線として機能し、配線ＷＬは、ワード線として機能する。配線ＢＧＬは、トランジスタＭ１１のバックゲートに電位を印加するための配線として機能する。また、配線ＢＧＬは、半導体装置３１００の出力端子ＯＵＴと電気的に接続される。配線ＢＧＬに任意の電位を印加することによって、トランジスタＭ１１のしきい値電圧を増減することができる。
【0153】
データの書き込みおよび読み出しは、配線ＷＬに高レベル電位を印加し、トランジスタＭ１１を導通状態にし、配線ＢＩＬとキャパシタＣｓの第１端子を電気的に接続することによって行われる。
【0154】
また、上述した記憶装置３３００が有するメモリセルは、メモリセル３４１１Ａに限定されず、回路構成の変更を行うことができる。
【0155】
トランジスタＭ１１をメモリセルに用いる場合は、トランジスタＭ１１にＯＳトランジスタを用いることが好ましい。また、ＯＳトランジスタの半導体層に、インジウム、元素Ｍ（元素Ｍはアルミニウム、ガリウム、イットリウム、またはスズ）、亜鉛のいずれか一を含む酸化物半導体を用いることが好ましい。特に、インジウム、ガリウム、亜鉛からなる酸化物半導体を用いることが好ましい。
【0156】
インジウム、ガリウム、亜鉛を含む酸化物半導体を適用したＯＳトランジスタは、オフ電流が極めて小さいという特性を有している。トランジスタＭ１１としてＯＳトランジスタを用いることによって、トランジスタＭ１１のリーク電流を非常に低くすることができる。つまり、書き込んだデータをトランジスタＭ１１によって長時間保持することができるため、メモリセルのリフレッシュの頻度を少なくすることができる。また、メモリセルのリフレッシュ動作を不要にすることができる。また、リーク電流が非常に低いため、メモリセル３４１１Ａ、メモリセル３４１１Ｂ、メモリセル３４１１Ｃ、メモリセルＤに対して多値データ、またはアナログデータを保持することができる。
【0157】
トランジスタＭ１１としてＯＳトランジスタを適用することにより、ＤＯＳＲＡＭを構成することができる。
【0158】
［ＮＯＳＲＡＭ］
図１１Ｂに、２つのトランジスタと１つのキャパシタを有するゲインセル型（「２Ｔｒ１Ｃ型」ともいう。）のメモリセル３４１１Ｂの回路構成例を示す。メモリセル３４１１Ｂは、トランジスタＭ１１と、トランジスタＭ３と、キャパシタＣｓと、を有する。
図１１Ｂに、２つのトランジスタと１つのキャパシタを有するゲインセル型（「２Ｔｒ１Ｃ型」ともいう。）のメモリセル３４１１Ｂの回路構成例を示す。メモリセル３４１１Ｂは、トランジスタＭ１１と、トランジスタＭ３と、キャパシタＣｓと、を有する。
【0159】
トランジスタＭ１１の第１端子は、キャパシタＣｓの第１端子と接続され、トランジスタＭ１１の第２端子は、配線ＷＢＬと接続され、トランジスタＭ１１のゲートは、配線ＷＬと接続され、トランジスタＭ１１のバックゲートは、配線ＢＧＬと接続されている。キャパシタＣｓの第２端子は、配線ＲＬと接続されている。トランジスタＭ３の第１端子は、配線ＲＢＬと接続され、トランジスタＭ３の第２端子は、配線ＳＬと接続され、トランジスタＭ３のゲートは、キャパシタＣｓの第１端子と接続されている。
【0160】
配線ＷＢＬは、書き込みビット線として機能し、配線ＲＢＬは、読み出しビット線として機能し、配線ＷＬは、ワード線として機能する。配線ＲＬは、キャパシタＣｓの第２端子に所定の電位を印加するための配線として機能する。データの書き込み時、データ保持の最中、配線ＲＬには、基準電位を印加するのが好ましい。
【0161】
配線ＢＧＬは、トランジスタＭ１１のバックゲートに電位を印加するための配線として機能する。また、配線ＢＧＬは、半導体装置３１００の出力端子ＯＵＴと電気的に接続される。配線ＢＧＬに任意の電位を印加することによって、トランジスタＭ１１のしきい値電圧を増減することができる。
【0162】
データの書き込みは、配線ＷＬに高レベル電位を印加し、トランジスタＭ１１を導通状態にし、配線ＷＢＬとキャパシタＣｓの第１端子を電気的に接続することによって行われる。具体的には、トランジスタＭ１１が導通状態のときに、配線ＷＢＬに記録する情報に対応する電位を印加し、キャパシタＣｓの第１端子、およびトランジスタＭ３のゲートに該電位を書き込む。その後、配線ＷＬに低レベル電位を印加し、トランジスタＭ１１を非導通状態にすることによって、キャパシタＣｓの第１端子の電位、およびトランジスタＭ３のゲートの電位を保持する。
【0163】
データの読み出しは、配線ＲＬと配線ＳＬに所定の電位を印加することによって行われる。トランジスタＭ３のソース－ドレイン間に流れる電流、およびトランジスタＭ３の第１端子の電位は、トランジスタＭ３のゲートの電位、およびトランジスタＭ３の第２端子の電位によって決まるので、トランジスタＭ３の第１端子に接続されている配線ＲＢＬの電位を読み出すことによって、キャパシタＣｓの第１端子（またはトランジスタＭ３のゲート）に保持されている電位を読み出すことができる。つまり、キャパシタＣｓの第１端子（またはトランジスタＭ３のゲート）に保持されている電位から、このメモリセルに書き込まれている情報を読み出すことができる。または、このメモリセルに書き込まれている情報の有無を知ることができる。
【0164】
また、上述した記憶装置３３００が有するメモリセルは、メモリセル３４１１Ｂに限定されず、回路の構成を適宜変更することができる。
【0165】
例えば、配線ＷＢＬと配線ＲＢＬを一本の配線ＢＩＬとしてまとめた構成であってもよい。そのメモリセルの回路構成例を図１１Ｃに示す。メモリセル３４１１Ｃは、メモリセル３４１１Ｂの配線ＷＢＬと配線ＲＢＬを一本の配線ＢＩＬとして、トランジスタＭ１１の第２端子、およびトランジスタＭ３の第１端子が、配線ＢＩＬと接続されている構成となっている。つまり、メモリセル３４１１Ｃは、書き込みビット線と、読み出しビット線と、を１本の配線ＢＩＬとして動作する構成となっている。
【0166】
なお、メモリセル３４１１Ｂおよびメモリセル３４１１Ｃにおいても、トランジスタＭ１１にＯＳトランジスタを用いることが好ましい。トランジスタＭ１１にＯＳトランジスタを用いて、メモリセル３４１１Ｂおよびメモリセル３４１１Ｃのような２Ｔｒ１Ｃ型のメモリセルを用いた記憶装置をＮＯＳＲＡＭ（Ｎｏｎ－ｖｏｌａｔｉｌｅ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）という。
【0167】
なお、トランジスタＭ３のチャネル形成領域には、シリコンを有することが好ましい。特に、該シリコンは、非晶質シリコン、多結晶シリコン、低温ポリシリコン（ＬＴＰＳ：Ｌｏｗ Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ Ｐｏｌｙ－Ｓｉｌｉｃｏｎ）とすることができる。Ｓｉトランジスタは、ＯＳトランジスタよりも電界効果移動度が高くなる場合があるため、読み出しトランジスタとして、Ｓｉトランジスタを適用するのは好適といえる。
【0168】
また、トランジスタＭ３としてＯＳトランジスタを用いた場合、メモリセルを単極性回路で構成することができる。
【0169】
また、図１１Ｄに、３トランジスタ１キャパシタのゲインセル型（「３Ｔｒ１Ｃ型」ともいう。）のメモリセル３４１１Ｄの回路構成例を示す。メモリセル３４１１Ｄは、トランジスタＭ１１、トランジスタＭ５、およびトランジスタＭ６と、キャパシタＣｓと、を有する。
【0170】
トランジスタＭ１１の第１端子は、キャパシタＣｓの第１端子と接続され、トランジスタＭ１１の第２端子は、配線ＢＩＬと接続され、トランジスタＭ１１のゲートは、配線ＷＬと接続され、トランジスタＭ１１のバックゲートは、配線ＢＧＬと電気的に接続されている。キャパシタＣｓの第２端子は、トランジスタＭ５の第１端子と、配線ＧＮＤＬと、に電気的に接続されている。トランジスタＭ５の第２端子は、トランジスタＭ６の第１端子と接続され、トランジスタＭ５のゲートは、キャパシタＣｓの第１端子と接続されている。トランジスタＭ６の第２端子は、配線ＢＩＬと接続され、トランジスタＭ６のゲートは配線ＲＬと接続されている。
【0171】
配線ＢＩＬは、ビット線として機能し、配線ＷＬは、書き込みワード線として機能し、配線ＲＬは、読み出しワード線として機能する。
【0172】
配線ＢＧＬは、トランジスタＭ１１のバックゲートに電位を印加するための配線として機能する。また、配線ＢＧＬは、半導体装置３１００の出力端子ＯＵＴと電気的に接続される。配線ＢＧＬに任意の電位を印加することによって、トランジスタＭ１１のしきい値電圧を増減することができる。
【0173】
データの書き込みは、配線ＷＬに高レベル電位を印加し、トランジスタＭ１１を導通状態にし、配線ＢＩＬとキャパシタＣｓの第１端子を接続することによって行われる。具体的には、トランジスタＭ１１が導通状態のときに、配線ＢＩＬに記録する情報に対応する電位を印加し、キャパシタＣｓの第１端子、およびトランジスタＭ５のゲートに該電位を書き込む。その後、配線ＷＬに低レベル電位を印加し、トランジスタＭ１１を非導通状態にすることによって、キャパシタＣｓの第１端子の電位、およびトランジスタＭ５のゲートの電位を保持する。
【0174】
データの読み出しは、配線ＢＩＬに所定の電位をプリチャージして、その後、配線ＢＩＬを電気的に浮遊状態にし、かつ配線ＲＬに高レベル電位を印加することによって行われる。配線ＲＬが高レベル電位となるので、トランジスタＭ６は導通状態となり、配線ＢＩＬとトランジスタＭ５の第２端子が電気的に接続状態となる。このとき、トランジスタＭ５の第２端子には、配線ＢＩＬの電位が印加されることになるが、キャパシタＣｓの第１端子（またはトランジスタＭ５のゲート）に保持されている電位に応じて、トランジスタＭ５の第２端子の電位、および配線ＢＩＬの電位が変化する。ここで、配線ＢＩＬの電位を読み出すことによって、キャパシタＣｓの第１端子（またはトランジスタＭ５のゲート）に保持されている電位を読み出すことができる。つまり、キャパシタＣｓの第１端子（またはトランジスタＭ５のゲート）に保持されている電位から、このメモリセルに書き込まれている情報を読み出すことができる。または、このメモリセルに書き込まれている情報の有無を知ることができる。
【0175】
また、上述した記憶装置３３００が有するメモリセルは、回路の構成を適宜変更することができる。
【0176】
なお、メモリセル３４１１Ｄにおいても、トランジスタＭ１１にＯＳトランジスタを用いることが好ましい。トランジスタＭ１１としてＯＳトランジスタを適用した３Ｔｒ１Ｃ型のメモリセル３４１１Ｄは、前述したＮＯＳＲＡＭの一態様である。
【0177】
なお、本実施の形態で説明したトランジスタＭ５およびＭ６のチャネル形成領域には、シリコンを有することが好ましい。特に、該シリコンは、非晶質シリコン、多結晶シリコン、低温ポリシリコンとすることができる。Ｓｉトランジスタは、ＯＳトランジスタよりも電界効果移動度が高くなる場合があるため、読み出しトランジスタとして、Ｓｉトランジスタを適用するのは好適といえる。
【0178】
また、トランジスタＭ５およびＭ６としてＯＳトランジスタを用いた場合、メモリセルを単極性回路で構成することができる。
【0179】
本実施の形態は、他の実施の形態などに記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
【0180】
【0181】
［記憶装置１］
本発明の一態様の撮像装置に用いることができる記憶装置は、トランジスタ２００、トランジスタ３００、およびキャパシタ１００を備える（図１２参照）。トランジスタ２００はトランジスタ３００の上方に設けられ、キャパシタ１００はトランジスタ３００、およびトランジスタ２００の上方に設けられている。
本発明の一態様の撮像装置に用いることができる記憶装置は、トランジスタ２００、トランジスタ３００、およびキャパシタ１００を備える（図１２参照）。トランジスタ２００はトランジスタ３００の上方に設けられ、キャパシタ１００はトランジスタ３００、およびトランジスタ２００の上方に設けられている。
【0182】
トランジスタ２００は、酸化物半導体を有する半導体層にチャネルが形成されるトランジスタである。トランジスタ２００は、オフ電流が小さいため、これを記憶装置に用いることにより長期にわたり記憶内容を保持することが可能である。つまり、リフレッシュ動作を必要としない、あるいは、リフレッシュ動作の頻度が極めて少ないため、記憶装置の消費電力を十分に低減することができる。
【0183】
また、半導体層を構成する酸化物半導体に、酸化物２３０ａ、酸化物２３０ｂおよび酸化物２３０ｃを用いることができる。具体的には、酸化物２３０ａとして、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１：３：４［原子数比］もしくはその近傍の組成、または１：１：０．５［原子数比］もしくはその近傍の組成の金属酸化物を用いればよい。
【0184】
また、酸化物２３０ｂとして、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝４：２：３［原子数比］もしくはその近傍の組成、または１：１：１［原子数比］もしくはその近傍の組成の金属酸化物を用いればよい。また、酸化物２３０ｂとして、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝５：１：３［原子数比］もしくはその近傍の組成、またはＩｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１０：１：３［原子数比］もしくはその近傍の組成の金属酸化物を用いてもよい。また、酸化物２３０ｂとして、Ｉｎ－Ｚｎ酸化物（例えば、Ｉｎ：Ｚｎ＝２：１［原子数比］もしくはその近傍の組成、Ｉｎ：Ｚｎ＝５：１［原子数比］もしくはその近傍の組成、またはＩｎ：Ｚｎ＝１０：１［原子数比］もしくはその近傍の組成）を用いてもよい。また、酸化物２３０ｂとして、Ｉｎ酸化物を用いても良い。
【0185】
また、酸化物２３０ｃとして、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１：３：４［原子数比もしくはその近傍の組成］、Ｇａ：Ｚｎ＝２：１［原子数比］もしくはその近傍の組成、またはＧａ：Ｚｎ＝２：５［原子数比］もしくはその近傍の組成の金属酸化物を用いればよい。また、酸化物２３０ｃに、酸化物２３０ｂに用いることのできる材料を適用し、単層または積層で設けてもよい。例えば、酸化物２３０ｃを積層構造とする場合の具体例としては、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝４：２：３［原子数比］もしくはその近傍の組成と、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１：３：４［原子数比］もしくはその近傍の組成との積層構造、Ｇａ：Ｚｎ＝２：１［原子数比］もしくはその近傍の組成と、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝４：２：３［原子数比］もしくはその近傍の組成との積層構造、Ｇａ：Ｚｎ＝２：５［原子数比］もしくはその近傍の組成と、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝４：２：３［原子数比］もしくはその近傍の組成との積層構造、酸化ガリウムと、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝４：２：３［原子数比］もしくはその近傍の組成との積層構造などが挙げられる。
【0186】
また、酸化物２３０ｂ、２３０ｃとして、膜中のインジウムの比率を高めることで、トランジスタのオン電流、または電界効果移動度などを高めることが出来るため、好適である。また、上述した近傍の組成とは、所望の原子数比の±３０％の範囲を含む。
【0187】
図１２に示す記憶装置において、配線１００１はトランジスタ３００のソースと電気的に接続され、配線１００２はトランジスタ３００のドレインと電気的に接続されている。また、配線１００３はトランジスタ２００のソースおよびドレインの一方と電気的に接続され、配線１００４はトランジスタ２００の第１のゲートと電気的に接続され、配線１００６はトランジスタ２００の第２のゲートと電気的に接続されている。そして、トランジスタ３００のゲート、およびトランジスタ２００のソースおよびドレインの他方は、キャパシタ１００の電極の一方と電気的に接続され、配線１００５はキャパシタ１００の電極の他方と電気的に接続されている。
【0188】
また、図１２に示す記憶装置は、マトリクス状に配置することで、メモリセルアレイを構成することができる。
【0189】
＜トランジスタ３００＞
トランジスタ３００は、基板３１１上に設けられ、ゲートとして機能する導電体３１６、ゲート絶縁体として機能する絶縁体３１５、基板３１１の一部からなる半導体領域３１３、およびソース領域またはドレイン領域として機能する低抵抗領域３１４ａ、および低抵抗領域３１４ｂを有する。トランジスタ３００は、ｐチャネル型、あるいはｎチャネル型のいずれでもよい。
トランジスタ３００は、基板３１１上に設けられ、ゲートとして機能する導電体３１６、ゲート絶縁体として機能する絶縁体３１５、基板３１１の一部からなる半導体領域３１３、およびソース領域またはドレイン領域として機能する低抵抗領域３１４ａ、および低抵抗領域３１４ｂを有する。トランジスタ３００は、ｐチャネル型、あるいはｎチャネル型のいずれでもよい。
【0190】
ここで、図１２に示すトランジスタ３００はチャネルが形成される半導体領域３１３（基板３１１の一部）が凸形状を有する。また、半導体領域３１３の側面および上面を、絶縁体３１５を介して、導電体３１６が覆うように設けられている。なお、導電体３１６は仕事関数を調整する材料を用いてもよい。このようなトランジスタ３００は半導体基板の凸部を利用していることからＦＩＮ型トランジスタとも呼ばれる。なお、凸部の上部に接して、凸部を形成するためのマスクとして機能する絶縁体を有していてもよい。また、ここでは半導体基板の一部を加工して凸部を形成する場合を示したが、ＳＯＩ基板を加工して凸形状を有する半導体膜を形成してもよい。
【0191】
なお、図１２に示すトランジスタ３００は一例であり、その構造に限定されず、回路構成や駆動方法に応じて適切なトランジスタを用いればよい。
【0192】
＜キャパシタ１００＞
キャパシタ１００は、トランジスタ２００の上方に設けられる。キャパシタ１００は、第１の電極として機能する導電体１１０Ｃと、第２の電極として機能する導電体、および誘電体として機能する絶縁体を有する。また、導電体１１５、導電体１２５、導電体１４０、絶縁体１４２、絶縁体１４５、絶縁体１５２、導電体１５３、絶縁体１５４および絶縁体１５６を有する。
キャパシタ１００は、トランジスタ２００の上方に設けられる。キャパシタ１００は、第１の電極として機能する導電体１１０Ｃと、第２の電極として機能する導電体、および誘電体として機能する絶縁体を有する。また、導電体１１５、導電体１２５、導電体１４０、絶縁体１４２、絶縁体１４５、絶縁体１５２、導電体１５３、絶縁体１５４および絶縁体１５６を有する。
【0193】
また、例えば、導電体１１２Ｃと、導電体１１０Ｃは、同時に形成することができる。なお、導電体１１２Ｃは、キャパシタ１００、トランジスタ２００、またはトランジスタ３００と電気的に接続するプラグ、または配線としての機能を有する。
【0194】
図１２では、導電体１１２Ｃ、および導電体１１０Ｃは単層構造を示したが、当該構成に限定されず、２層以上の積層構造でもよい。例えば、バリア性を有する導電体と導電性が高い導電体との間に、バリア性を有する導電体、および導電性が高い導電体に対して密着性が高い導電体を形成してもよい。
【0195】
また、キャパシタの（誘電体として）絶縁体は、例えば、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、窒化酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化窒化ハフニウム、窒化酸化ハフニウム、窒化ハフニウムなどを用いればよく、積層または単層で設けることができる。
【0196】
例えば、キャパシタの（誘電体として）絶縁体には、酸化窒化シリコンなどの絶縁耐力が大きい材料と、高誘電率（ｈｉｇｈ－ｋ）材料との積層構造を用いることが好ましい。当該構成により、キャパシタ１００は、高誘電率（ｈｉｇｈ－ｋ）の絶縁体を有することで、十分な容量を確保でき、絶縁耐力が大きい絶縁体を有することで、絶縁耐力が向上し、キャパシタ１００の静電破壊を抑制することができる。
【0197】
なお、高誘電率（ｈｉｇｈ－ｋ）材料（高い比誘電率の材料）の絶縁体としては、酸化ガリウム、アルミニウムおよびハフニウムを有する酸化物、アルミニウムおよびハフニウムを有する酸化窒化物、シリコンおよびハフニウムを有する酸化物、シリコンおよびハフニウムを有する酸化窒化物またはシリコンおよびハフニウムを有する窒化物などがある。
【0198】
また、キャパシタの（誘電体として）絶縁体は、例えば、酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化タンタル、酸化ジルコニウム、チタン酸ジルコン酸鉛（ＰＺＴ）、チタン酸ストロンチウム（ＳｒＴｉＯ３）または（Ｂａ，Ｓｒ）ＴｉＯ３（ＢＳＴ）などのいわゆるｈｉｇｈ－ｋ材料を含む絶縁体を単層または積層で用いてもよい。例えば、絶縁体を積層とする場合、酸化ジルコニウムと、酸化アルミニウムと、酸化ジルコニウムと、が順に形成された３層積層や、酸化ジルコニウムと、酸化アルミニウムと、酸化ジルコニウムと、酸化アルミニウムと、が順に形成された４層積層などを用いれば良い。また、絶縁体としては、ハフニウムと、ジルコニウムとが含まれる化合物などを用いても良い。トランジスタの微細化、および高集積化が進むと、ゲート絶縁体の薄膜化により、リーク電流などの問題が生じる場合がある。ゲート絶縁体として機能する絶縁体にｈｉｇｈ－ｋ材料を用いることで、物理膜厚を保ちながら、トランジスタ動作時のゲート電位の低減が可能となる。
【0199】
一方、絶縁耐力が大きい材料（低い比誘電率の材料）としては、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、フッ素を添加した酸化シリコン、炭素を添加した酸化シリコン、炭素および窒素を添加した酸化シリコン、空孔を有する酸化シリコンまたは樹脂などがある。
【0200】
＜配線層＞
各構造体の間には、層間膜、配線、およびプラグ等が設けられた配線層が設けられていてもよい。また、配線層は、設計に応じて複数層設けることができる。ここで、プラグまたは配線としての機能を有する導電体は、複数の構造をまとめて同一の符号を付与する場合がある。また、本明細書等において、配線と、配線と電気的に接続するプラグとが一体物であってもよい。すなわち、導電体の一部が配線として機能する場合、および導電体の一部がプラグとして機能する場合もある。
各構造体の間には、層間膜、配線、およびプラグ等が設けられた配線層が設けられていてもよい。また、配線層は、設計に応じて複数層設けることができる。ここで、プラグまたは配線としての機能を有する導電体は、複数の構造をまとめて同一の符号を付与する場合がある。また、本明細書等において、配線と、配線と電気的に接続するプラグとが一体物であってもよい。すなわち、導電体の一部が配線として機能する場合、および導電体の一部がプラグとして機能する場合もある。
【0201】
例えば、トランジスタ３００上には、層間膜として、絶縁体３２０、絶縁体３２２、絶縁体３２４、および絶縁体３２６が順に積層して設けられている。また、絶縁体３２０、絶縁体３２２、絶縁体３２４、および絶縁体３２６にはキャパシタ１００、またはトランジスタ２００と電気的に接続する導電体３２８、および導電体３３０等が埋め込まれている。なお、導電体３２８、および導電体３３０はプラグ、または配線として機能する。
【0202】
また、層間膜として機能する絶縁体は、その下方の凹凸形状を被覆する平坦化膜として機能してもよい。例えば、絶縁体３２２の上面は、平坦性を高めるために化学機械研磨（ＣＭＰ）法等を用いた平坦化処理により平坦化されていてもよい。
【0203】
絶縁体３２６、および導電体３３０上に、配線層を設けてもよい。例えば、図１２において、絶縁体３５０、絶縁体３５２、及び絶縁体３５４が順に積層して設けられている。また、絶縁体３５０、絶縁体３５２、及び絶縁体３５４には、導電体３５６が形成されている。導電体３５６は、プラグ、または配線として機能する。
【0204】
同様に、絶縁体２１０、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、および絶縁体２１６には、導電体２１８、及びトランジスタ２００を構成する導電体（導電体２０５Ｃ）等が埋め込まれている。なお、導電体２１８は、キャパシタ１００、またはトランジスタ３００と電気的に接続するプラグ、または配線としての機能を有する。さらに、導電体１２０、および絶縁体１３０上には、絶縁体１５０が設けられている。
【0205】
ここで、上記実施の形態に示す絶縁体２４１と同様に、プラグとして機能する導電体２１８の側面に接して絶縁体２１７が設けられる。絶縁体２１７は、絶縁体２１０、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、および絶縁体２１６に形成された開口の内壁に接して設けられている。つまり、絶縁体２１７は、導電体２１８と、絶縁体２１０、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、および絶縁体２１６と、の間に設けられている。なお、導電体２０５Ｃは導電体２１８と並行して形成することができるので、導電体２０５Ｃの側面に接して絶縁体２１７が形成される場合もある。
【0206】
絶縁体２１７としては、例えば、窒化シリコン、酸化アルミニウム、または窒化酸化シリコンなどの絶縁体を用いればよい。絶縁体２１７は、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、および絶縁体２２２に接して設けられるので、絶縁体２１０または絶縁体２１６などから水または水素などの不純物が、導電体２１８を通じて酸化物２３０に混入するのを抑制することができる。特に、窒化シリコンは水素に対するブロッキング性が高いので好適である。また、絶縁体２１０または絶縁体２１６に含まれる酸素が導電体２１８に吸収されるのを防ぐことができる。
【0207】
絶縁体２１７は、絶縁体２４１と同様の方法で形成することができる。例えば、ＰＥＡＬＤ法を用いて、窒化シリコンを成膜し、異方性エッチングを用いて導電体３５６に達する開口を形成すればよい。
【0208】
層間膜として用いることができる絶縁体としては、絶縁性を有する酸化物、窒化物、酸化窒化物、窒化酸化物、金属酸化物、金属酸化窒化物、金属窒化酸化物などがある。
【0209】
例えば、層間膜として機能する絶縁体には、比誘電率が低い材料を用いることで、配線間に生じる寄生容量を低減することができる。したがって、絶縁体の機能に応じて、材料を選択するとよい。
【0210】
例えば、絶縁体１５０、絶縁体２１０、絶縁体３５２、および絶縁体３５４等には、比誘電率の低い絶縁体を有することが好ましい。例えば、当該絶縁体は、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、フッ素を添加した酸化シリコン、炭素を添加した酸化シリコン、炭素および窒素を添加した酸化シリコン、空孔を有する酸化シリコンまたは樹脂などを有することが好ましい。または、当該絶縁体は、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、フッ素を添加した酸化シリコン、炭素を添加した酸化シリコン、炭素および窒素を添加した酸化シリコンまたは空孔を有する酸化シリコンと、樹脂との積層構造を有することが好ましい。酸化シリコンおよび酸化窒化シリコンは、熱的に安定であるため、樹脂と組み合わせることで、熱的に安定かつ比誘電率の低い積層構造とすることができる。樹脂としては、例えば、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド（ナイロン、アラミドなど）、ポリイミド、ポリカーボネートまたはアクリル樹脂などがある。
【0211】
また、酸化物半導体を用いたトランジスタは、水素などの不純物および酸素の透過を抑制する機能を有する絶縁体で囲うことによって、トランジスタの電気特性を安定にすることができる。従って、絶縁体２１４、絶縁体２１１、絶縁体２１２および絶縁体３５０等には、水素などの不純物および酸素の透過を抑制する機能を有する絶縁体を用いればよい。
【0212】
水素などの不純物および酸素の透過を抑制する機能を有する絶縁体としては、例えば、ホウ素、炭素、窒素、酸素、フッ素、マグネシウム、アルミニウム、シリコン、リン、塩素、アルゴン、ガリウム、ゲルマニウム、イットリウム、ジルコニウム、ランタン、ネオジム、ハフニウムまたはタンタルを含む絶縁体を、単層で、または積層で用いればよい。具体的には、水素などの不純物および酸素の透過を抑制する機能を有する絶縁体として、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ガリウム、酸化ゲルマニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ランタン、酸化ネオジム、酸化ハフニウムまたは酸化タンタルなどの金属酸化物、窒化酸化シリコンまたは窒化シリコンなどを用いることができる。
【0213】
配線、プラグに用いることができる導電体としては、アルミニウム、クロム、銅、銀、金、白金、タンタル、ニッケル、チタン、モリブデン、タングステン、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、マンガン、マグネシウム、ジルコニウム、ベリリウム、インジウム、ルテニウムなどから選ばれた金属元素を１種以上含む材料を用いることができる。また、リン等の不純物元素を含有させた多結晶シリコンに代表される、電気伝導度が高い半導体、ニッケルシリサイドなどのシリサイドを用いてもよい。
【0214】
例えば、導電体３２８、導電体３３０、導電体３５６、導電体２１８、および導電体１１２Ｃ等としては、上記の材料で形成される金属材料、合金材料、金属窒化物材料、または金属酸化物材料などの導電性材料を、単層または積層して用いることができる。耐熱性と導電性を両立するタングステンやモリブデンなどの高融点材料を用いることが好ましく、タングステンを用いることが好ましい。または、アルミニウムや銅などの低抵抗導電性材料で形成することが好ましい。低抵抗導電性材料を用いることで配線抵抗を低くすることができる。
【0215】
＜酸化物半導体が設けられた層の配線、またはプラグ＞
なお、トランジスタ２００に、酸化物半導体を用いる場合、酸化物半導体の近傍に過剰酸素領域を有する絶縁体が設けることがある。その場合、該過剰酸素領域を有する絶縁体と、該過剰酸素領域を有する絶縁体に設ける導電体との間に、バリア性を有する絶縁体を設けることが好ましい。
なお、トランジスタ２００に、酸化物半導体を用いる場合、酸化物半導体の近傍に過剰酸素領域を有する絶縁体が設けることがある。その場合、該過剰酸素領域を有する絶縁体と、該過剰酸素領域を有する絶縁体に設ける導電体との間に、バリア性を有する絶縁体を設けることが好ましい。
【0216】
例えば、図１２では、過剰酸素を有する絶縁体２２４および絶縁体２８０と、導電体２４０との間に、絶縁体２４１を設けるとよい。絶縁体２４１と、絶縁体２２２、絶縁体２７２、絶縁体２７３、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４とが接して設けられることで、絶縁体２２４、およびトランジスタ２００は、バリア性を有する絶縁体により、封止する構造とすることができる。
【0217】
つまり、絶縁体２４１を設けることで、絶縁体２２４および絶縁体２８０が有する過剰酸素が、導電体２４０に吸収されることを抑制することができる。また、絶縁体２４１を有することで、不純物である水素が、導電体２４０を介して、トランジスタ２００へ拡散することを抑制することができる。
【0218】
なお、絶縁体２４１としては、水または水素などの不純物、および酸素の拡散を抑制する機能を有する絶縁性材料を用いるとよい。例えば、窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウムまたは酸化ハフニウムなどを用いることが好ましい。特に、窒化シリコンは水素に対するブロッキング性が高いため好ましい。また、他にも、例えば、酸化マグネシウム、酸化ガリウム、酸化ゲルマニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ランタン、酸化ネオジムまたは酸化タンタルなどの金属酸化物などを用いることができる。
【0219】
また、上記実施の形態と同様に、トランジスタ２００は、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４で封止されることが好ましい。このような構成とすることで、絶縁体２７４、絶縁体１５０などに含まれる水素が絶縁体２８０などに混入するのを低減することができる。
【0220】
ここで、絶縁体２８４、絶縁体２８３、および絶縁体２８２には導電体２４０が、絶縁体２１４、絶縁体２１２、および絶縁体２１１には導電体２１８が貫通しているが、上記の通り、絶縁体２４１が導電体２４０に接して設けられ、絶縁体２１７が導電体２１８に接して設けられている。これにより、導電体２４０および導電体２１８を介して、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４の内側に混入する水素を低減することができる。このようにして、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、絶縁体２８４、絶縁体２４１、および絶縁体２１７でトランジスタ２００をより確実に封止し、絶縁体２７４等に含まれる水素などの不純物が外側から混入するのを低減することができる。
【0221】
また、絶縁体２１６、絶縁体２２４、絶縁体２８０、絶縁体２５０、および絶縁体２７４は、先の実施の形態に示すように、水素原子が低減または除去されたガスを用いた成膜方法で形成されることが好ましい。これにより、絶縁体２１６、絶縁体２２４、絶縁体２８０、絶縁体２５０、および絶縁体２７４の水素濃度を低減することができる。
【0222】
このようにして、トランジスタ２００近傍のシリコン系絶縁膜の水素濃度を低減し、酸化物２３０の水素濃度を低減することができる。
【0223】
＜ダイシングライン＞
以下では、大面積基板を半導体素子ごとに分断することによって、複数の記憶装置をチップ状で取り出す場合に設けられるダイシングライン（スクライブライン、分断ライン、又は切断ラインと呼ぶ場合がある）について説明する。分断方法としては、例えば、まず、基板に半導体素子を分断するための溝（ダイシングライン）を形成した後、ダイシングラインにおいて切断し、複数の記憶装置に分断（分割）する場合がある。
以下では、大面積基板を半導体素子ごとに分断することによって、複数の記憶装置をチップ状で取り出す場合に設けられるダイシングライン（スクライブライン、分断ライン、又は切断ラインと呼ぶ場合がある）について説明する。分断方法としては、例えば、まず、基板に半導体素子を分断するための溝（ダイシングライン）を形成した後、ダイシングラインにおいて切断し、複数の記憶装置に分断（分割）する場合がある。
【0224】
ここで、例えば、図１２に示すように、絶縁体２８３と、絶縁体２１１とが接する領域がダイシングラインと重なるように設計することが好ましい。つまり、複数のトランジスタ２００を有するメモリセルの外縁に設けられるダイシングラインとなる領域近傍において、絶縁体２８２、絶縁体２８０、絶縁体２７３、絶縁体２７２、絶縁体２２４、絶縁体２２２、絶縁体２１６、絶縁体２１４、および絶縁体２１２に開口を設ける。
【0225】
つまり、上記絶縁体２８２、絶縁体２８０、絶縁体２７３、絶縁体２７２、絶縁体２２４、絶縁体２２２、絶縁体２１６、絶縁体２１４、および絶縁体２１２に設けた開口において、絶縁体２１１と、絶縁体２８３とが接する。また、絶縁体２８２、絶縁体２８０、絶縁体２７３、絶縁体２７２、絶縁体２２４、絶縁体２２２、絶縁体２１６、および絶縁体２１４に開口を設け、当該開口において絶縁体２１２と絶縁体２８３が接する構成にしてもよい。例えば、このとき、絶縁体２１２と、絶縁体２８３とを同材料及び同方法を用いて形成してもよい。絶縁体２１２、および絶縁体２８３を、同材料、および同方法で設けることで、密着性を高めることができる。例えば、窒化シリコンを用いることが好ましい。
【0226】
当該構造により、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４で、トランジスタ２００を包み込むことができる。絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４の少なくとも一は、酸素、水素、及び水の拡散を抑制する機能を有しているため、本実施の形態に示す半導体素子が形成された回路領域ごとに、基板を分断することにより、複数のチップに加工しても、分断した基板の側面方向から、水素又は水などの不純物が混入し、トランジスタ２００に拡散することを防ぐことができる。
【0227】
また、当該構造により、絶縁体２８０、および絶縁体２２４の過剰酸素が外部に拡散することを防ぐことができる。従って、絶縁体２８０、および絶縁体２２４の過剰酸素は、効率的にトランジスタ２００におけるチャネルが形成される酸化物に供給される。当該酸素により、トランジスタ２００におけるチャネルが形成される酸化物の酸素欠損を低減することができる。これにより、トランジスタ２００におけるチャネルが形成される酸化物を欠陥準位密度が低い、安定な特性を有する酸化物半導体とすることができる。つまり、トランジスタ２００の電気特性の変動を抑制すると共に、信頼性を向上させることができる。
【0228】
以上が構成例についての説明である。本構成を用いることで、酸化物半導体を有するトランジスタを用いた記憶装置において、電気特性の変動を抑制すると共に、信頼性を向上させることができる。または、オン電流が大きい酸化物半導体を有するトランジスタを提供することができる。または、オフ電流が小さい酸化物半導体を有するトランジスタを提供することができる。または、消費電力が低減された記憶装置を提供することができる。
【0229】
［記憶装置２］
本発明の一態様の記憶装置の構成を図１３に示す。本発明の一態様の記憶装置は、トランジスタ２００、トランジスタ３００、トランジスタ４００、およびキャパシタ１００を有する。
本発明の一態様の記憶装置の構成を図１３に示す。本発明の一態様の記憶装置は、トランジスタ２００、トランジスタ３００、トランジスタ４００、およびキャパシタ１００を有する。
【0230】
トランジスタ４００は、トランジスタ２００の第２のゲート電圧を制御することができる。例えば、トランジスタ４００の第１のゲート及び第２のゲートをソースとダイオード接続し、トランジスタ４００のソースと、トランジスタ２００の第２のゲートを接続する構成とする。当該構成でトランジスタ２００の第２のゲートの負電位を保持するとき、トランジスタ４００の第１のゲートーソース間の電圧および、第２のゲートーソース間の電圧は、０Ｖになる。トランジスタ４００において、第２のゲート電圧及び第１のゲート電圧が０Ｖのときのドレイン電流が非常に小さいため、トランジスタ２００およびトランジスタ４００に電源供給をしなくても、トランジスタ２００の第２のゲートの負電位を長時間維持することができる。これにより、トランジスタ２００、およびトランジスタ４００を有する記憶装置は、長期にわたり記憶内容を保持することが可能である。
【0231】
従って、図１３において、配線１００１はトランジスタ３００のソースと電気的に接続され、配線１００２はトランジスタ３００のドレインと電気的に接続されている。また、配線１００３はトランジスタ２００のソースおよびドレインの一方と電気的に接続され、配線１００４はトランジスタ２００のゲートと電気的に接続され、配線１００６はトランジスタ２００のバックゲートと電気的に接続されている。そして、トランジスタ３００のゲート、およびトランジスタ２００のソースおよびドレインの他方は、キャパシタ１００の電極の一方と電気的に接続され、配線１００５はキャパシタ１００の電極の他方と電気的に接続されている。配線１００７はトランジスタ４００のソースと電気的に接続され、配線１００８はトランジスタ４００のゲートと電気的に接続され、配線１００９はトランジスタ４００のバックゲートと電気的に接続され、配線１０１０はトランジスタ４００のドレインと電気的に接続されている。ここで、配線１００６、配線１００７、配線１００８、及び配線１００９が電気的に接続されている。
【0232】
また、図１３に示す記憶装置は、図１２に示す記憶装置と同様に、マトリクス状に配置することで、メモリセルアレイを構成することができる。なお、１個のトランジスタ４００は、複数のトランジスタ２００の第２のゲート電圧を制御することができる。そのため、トランジスタ４００は、トランジスタ２００よりも、少ない個数を設けるとよい。また、また、図１３に示す記憶装置は、図１２に示す記憶装置と同様に、トランジスタ２００、およびトランジスタ４００を、絶縁体２１１、絶縁体２１２、絶縁体２１４、絶縁体２８７、絶縁体２８２、絶縁体２８３、および絶縁体２８４で封止することができる。
【0233】
＜トランジスタ４００＞
トランジスタ４００は、トランジスタ２００と、同じ層に形成されており、並行して作製することができるトランジスタである。トランジスタ４００は、第１のゲートとして機能する導電体４６０（導電体４６０ａ、および導電体４６０ｂ）と、第２のゲートとして機能する導電体４０５と、ゲート絶縁層として機能する絶縁体２２２、絶縁体２２４、および絶縁体４５０と、チャネル形成領域を有する酸化物４３０ｃと、ソースとして機能する導電体４４２ａ、酸化物４４３ａ、酸化物４３１ａ、および酸化物４３１ｂと、ドレインとして機能する導電体４４２ｂ、酸化物４４３ｂ、酸化物４３２ａ、および酸化物４３２ｂと、を有する。また、トランジスタ２００と同様に、プラグとして機能する導電体が、導電体４４２ａと、導電体４４２ｂに接して設けられる。
トランジスタ４００は、トランジスタ２００と、同じ層に形成されており、並行して作製することができるトランジスタである。トランジスタ４００は、第１のゲートとして機能する導電体４６０（導電体４６０ａ、および導電体４６０ｂ）と、第２のゲートとして機能する導電体４０５と、ゲート絶縁層として機能する絶縁体２２２、絶縁体２２４、および絶縁体４５０と、チャネル形成領域を有する酸化物４３０ｃと、ソースとして機能する導電体４４２ａ、酸化物４４３ａ、酸化物４３１ａ、および酸化物４３１ｂと、ドレインとして機能する導電体４４２ｂ、酸化物４４３ｂ、酸化物４３２ａ、および酸化物４３２ｂと、を有する。また、トランジスタ２００と同様に、プラグとして機能する導電体が、導電体４４２ａと、導電体４４２ｂに接して設けられる。
【0234】
なお、同じ層に形成された構造体は、同時に形成することができる。例えば、酸化物４３０ｃは、酸化物２３０ｃとなる酸化膜を加工することで、形成することができる。
【0235】
トランジスタ４００の活性層として機能する酸化物４３０ｃは、酸化物２３０などと同様に、酸素欠損が低減され、水素または水などの不純物が低減されている。これにより、トランジスタ４００のしきい値電圧を０Ｖより大きくし、オフ電流を低減し、第２のゲート電圧及び第１のゲート電圧が０Ｖのときのドレイン電流を非常に小さくすることができる。
【0236】
本実施の形態は、他の実施の形態などに記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
【0237】
（実施の形態５）
本発明の一態様に係る撮像装置を用いることができる電子機器として、表示機器、パーソナルコンピュータ、記録媒体を備えた画像記憶装置または画像再生装置、携帯電話、携帯型を含むゲーム機、携帯データ端末、電子書籍端末、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ等のカメラ、ゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウントディスプレイ）、ナビゲーションシステム、音響再生装置（カーオーディオ、デジタルオーディオプレイヤー等）、複写機、ファクシミリ、プリンタ、プリンタ複合機、現金自動預け入れ払い機（ＡＴＭ）、自動販売機などが挙げられる。これら電子機器の具体例を図１５Ａ乃至図１５Ｆに示す。
本発明の一態様に係る撮像装置を用いることができる電子機器として、表示機器、パーソナルコンピュータ、記録媒体を備えた画像記憶装置または画像再生装置、携帯電話、携帯型を含むゲーム機、携帯データ端末、電子書籍端末、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ等のカメラ、ゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウントディスプレイ）、ナビゲーションシステム、音響再生装置（カーオーディオ、デジタルオーディオプレイヤー等）、複写機、ファクシミリ、プリンタ、プリンタ複合機、現金自動預け入れ払い機（ＡＴＭ）、自動販売機などが挙げられる。これら電子機器の具体例を図１５Ａ乃至図１５Ｆに示す。
【0238】
図１５Ａ携帯電話機の一例であり、筐体９８１、表示部９８２、操作ボタン９８３、外部接続ポート９８４、スピーカ９８５、マイク９８６、カメラ９８７等を有する。当該携帯電話機は、表示部９８２にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部９８２に触れることで行うことができる。当該携帯電話機における画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。
【0239】
図１５Ｂは携帯データ端末であり、筐体９１１、表示部９１２、スピーカ９１３、カメラ９１９等を有する。表示部９１２が有するタッチパネル機能により情報の入出力を行うことができる。また、カメラ９１９で取得した画像から文字等を認識し、スピーカ９１３で当該文字を音声出力することができる。当該携帯データ端末における画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。
【0240】
図１５Ｃは監視カメラであり、支持台９５１、カメラユニット９５２、保護カバー９５３等を有する。カメラユニット９５２には回転機構などが設けられ、天井に設置することで全周囲の撮像が可能となる。当該カメラユニットにおける画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。なお、監視カメラとは慣用的な名称であり、用途を限定するものではない。例えば監視カメラとしての機能を有する機器はカメラ、またはビデオカメラとも呼ばれる。
【0241】
図１５Ｄはビデオカメラであり、第１筐体９７１、第２筐体９７２、表示部９７３、操作キー９７４、レンズ９７５、接続部９７６、スピーカ９７７、マイク９７８等を有する。操作キー９７４およびレンズ９７５は第１筐体９７１に設けられており、表示部９７３は第２筐体９７２に設けられている。当該ビデオカメラにおける画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。
【0242】
図１５Ｅはデジタルカメラであり、筐体９６１、シャッターボタン９６２、マイク９６３、発光部９６７、レンズ９６５等を有する。当該デジタルカメラにおける画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。
【0243】
図１５Ｆは腕時計型の情報端末であり、表示部９３２、筐体兼リストバンド９３３、カメラ９３９等を有する。表示部９３２は、情報端末の操作を行うためのタッチパネルを備える。表示部９３２および筐体兼リストバンド９３３は可撓性を有し、身体への装着性が優れている。当該情報端末における画像取得のための要素に本発明の一態様の撮像装置を適用することができる。
【0244】
本実施の形態は、他の実施の形態などに記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
【符号の説明】
【0245】
ＢＧＬ：配線、ＢＬ：配線、ＢＩＬ：配線、Ｃｓ：キャパシタ、ＧＮＤＬ：配線、Ｍ３：トランジスタ、Ｍ５：トランジスタ、Ｍ６：トランジスタ、Ｍ１１：トランジスタ、ＳＬ：配線、Ｔ１：期間、Ｔ２：期間、Ｔ３：期間、Ｔ４：期間、ＲＢＬ：配線、ＲＬ：配線、ＷＢＬ：配線、ＷＬ：配線、１２：層、１３：層、１４：層、２１：単結晶シリコン基板、２２：領域、２５：シリコン基板、２８：領域、３１：絶縁層、３２：導電層、３３：絶縁層、３４：導電層、５０：画素回路、５１：画素アレイ、５２：回路、５３：回路、５４：回路、５５：回路、５６：回路、５７：回路、５８：回路、５９：回路、６３：絶縁層、６４：絶縁層、６５：絶縁層、６６：絶縁層、１００：キャパシタ、１０１：光電変換デバイス、１０２：トランジスタ、１０３：トランジスタ、１０４：トランジスタ、１０５：トランジスタ、１０６：トランジスタ、１０７：トランジスタ、１０８：キャパシタ、１０９：キャパシタ、１１０：回路、１１０Ｃ：導電体、１１１：セル、１１２：トランジスタ、１１２Ｃ：導電体、１１３：トランジスタ、１２０：導電体、１２１：配線、１２２：配線、１２３：配線、１２６：配線、１２７：配線、１２８：配線、１２９：配線、１３０：絶縁体、１３１：配線、１３２：配線、１５０：絶縁体、２００：トランジスタ、２０１：ゲート電極、２０２：ゲート絶縁膜、２０３：ソース領域、２０４：ドレイン領域、２０５：ソース電極、２０５Ｃ：導電体、２０６：ドレイン電極、２０７：酸化物半導体層、２０８：酸化物半導体層、２１０：絶縁体、２１１：絶縁体、２１２：絶縁体、２１４：絶縁体、２１６：絶縁体、２１７：絶縁体、２１８：導電体、２２２：絶縁体、２２４：絶縁体、２３０：酸化物、２３０ａ：酸化物、２３０ｂ：酸化物、２３０ｃ：酸化物、２４０：導電体、２４１：絶縁体、２５０：絶縁体、２７２：絶縁体、２７３：絶縁体、２７４：絶縁体、２８０：絶縁体、２８２：絶縁体、２８３：絶縁体、２８４：絶縁体、２８７：絶縁体、３００：トランジスタ、３１１：基板、３１３：半導体領域、３１４ａ：低抵抗領域、３１４ｂ：低抵抗領域、３１５：絶縁体、３１６：導電体、３２０：絶縁体、３２２：絶縁体、３２４：絶縁体、３２６：絶縁体、３２８：導電体、３３０：導電体、３５０：絶縁体、３５２：絶縁体、３５４：絶縁体、３５６：導電体、４００：トランジスタ、４０５：導電体、４３０ｃ：酸化物、４３１ａ：酸化物、４３１ｂ：酸化物、４３２ａ：酸化物、４３２ｂ：酸化物、４４２ａ：導電体、４４２ｂ：導電体、４４３ａ：酸化物、４４３ｂ：酸化物、４５０：絶縁体、４６０：導電体、４６０ａ：導電体、４６０ｂ：導電体、５３５：バックゲート、６１０：パッケージ基板、６１１：パッケージ基板、６２０：カバーガラス、６２１：レンズカバー、６３０：接着剤、６３５：レンズ、６４０：バンプ、６４１：ランド、６５０：イメージセンサチップ、６５１：イメージセンサチップ、６６０：電極パッド、６６１：電極パッド、６７０：ワイヤ、６７１：ワイヤ、６９０：ＩＣチップ、９１１：筐体、９１２：表示部、９１３：スピーカ、９１９：カメラ、９３２：表示部、９３３：筐体兼リストバンド、９３９：カメラ、９５１：支持台、９５２：カメラユニット、９５３：保護カバー、９６１：筐体、９６２：シャッターボタン、９６３：マイク、９６５：レンズ、９６７：発光部、９７１：筐体、９７２：筐体、９７３：表示部、９７４：操作キー、９７５：レンズ、９７６：接続部、９７７：スピーカ、９７８：マイク、９８１：筐体、９８２：表示部、９８３：操作ボタン、９８４：外部接続ポート、９８５：スピーカ、９８６：マイク、９８７：カメラ、１００１：配線、１００２：配線、１００３：配線、１００４：配線、１００５：配線、１００６：配線、１００７：配線、１００８：配線、１００９：配線、１０１０：配線、３１００：半導体装置、３３００：記憶装置、３３１１：周辺回路、３３２１：ローデコーダ、３３２２：ワード線ドライバ回路、３３３０：ビット線ドライバ回路、３３３１：カラムデコーダ、３３３２：プリチャージ回路、３３３３：増幅回路、３３３４：入出力回路、３３４０：出力回路、３３６０：コントロールロジック回路、３４０１：セルアレイ、３４１１：メモリセル、３４１１Ａ：メモリセル、３４１１Ｂ：メモリセル、３４１１Ｃ：メモリセル、３４１１Ｄ：メモリセル、３４２０：メモリセル、３４３０：メモリセル
【図1】
【図2A】
【図2B】
【図2C】
【図3A】
【図3B】
【図4A】
【図4B】
【図5A】
【図5B】
【図6A】
【図6B】
【図6C】
【図7A】
【図7B】
【図8A】
【図8B】
【図8C】
【図8D】
【図9】
【図10】
【図11A】
【図11B】
【図11C】
【図11D】
【図12】
【図13】
【図14A】
【図14B】
【図14C】
【図14D】
【図14E】
【図14F】
【図15A】
【図15B】
【図15C】
【図15D】
【図15E】
【図15F】