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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-02-15
(45)【発行日】2024-02-26
(54)【発明の名称】電解コンデンサ
(51)【国際特許分類】
   H01G 9/10 20060101AFI20240216BHJP
   H01G 2/10 20060101ALI20240216BHJP
【FI】
H01G9/10 Z
H01G2/10 301
【請求項の数】 3
(21)【出願番号】P 2020166141
(22)【出願日】2020-09-30
(65)【公開番号】P2022057741
(43)【公開日】2022-04-11
【審査請求日】2023-03-13
(73)【特許権者】
【識別番号】000004606
【氏名又は名称】ニチコン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001531
【氏名又は名称】弁理士法人タス・マイスター
(72)【発明者】
【氏名】大下 賢一
(72)【発明者】
【氏名】米田 満
(72)【発明者】
【氏名】酒井 孝也
(72)【発明者】
【氏名】熊谷 吉峻
(72)【発明者】
【氏名】近藤 稜大
【審査官】小林 大介
(56)【参考文献】
【文献】特開2005-209902(JP,A)
【文献】実開昭56-78452(JP,U)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01G 9/10
H01G 2/10
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1のリードタブが接続された弁金属の陽極箔と、第2のリードタブが接続された陰極箔とを、セパレータを介して重ね合わせ、巻回してなるコンデンサ素子と、
前記コンデンサ素子を収納する有底円筒状の外装ケースと、
前記外装ケースの開口部を封止するとともに前記第1のリードタブおよび前記第2のリードタブを挿通する一対の貫通孔が形成された封口体と、を備えた電解質に電解液を含む電解コンデンサであって、
前記封口体の前記コンデンサ素子に面した内面には、前記コンデンサ素子側に開口を有する複数の有底の穴部が前記一対の貫通孔の間の形成領域にメッシュ状に形成されていることを特徴とする電解コンデンサ。
【請求項2】
前記穴部は、穴径が0.1mm以上であり、かつ、前記一対の貫通孔の間の形成領域に対して、50%以上の面積占有率で形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電解コンデンサ。
【請求項3】
前記穴部の前記形成領域は、円形であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電解コンデンサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電解コンデンサに関し、セパレータを介して陽極箔と陰極箔を重ね合わせ、巻回したコンデンサ素子に電解液を含浸し、外装ケース内に挿入して封口体により封入した電解コンデンサに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、電解コンデンサとして、陽極箔と陰極箔とをセパレータを介して巻回したコンデンサ素子と、該コンデンサ素子を電解液とともに収納する有底筒状のコンデンサケースと、このコンデンサケースの開放端側を塞ぐ封口体とを有するものが知られている。封口体の外端面には陽極端子および陰極端子が引き出され、これらの端子の基端部には、陽極内部端子および陰極内部端子として陽極リードタブおよび陰極リードタブが、それぞれ陽極箔および陰極箔に接続されている(特許文献1参照)。
【0003】
また、従来の電解コンデンサとして、封口体の内面に、陽極端子および陰極端子のための2つの貫通孔の間に一続きの溝等による液溜まり部を形成し、当該液溜り部に電解液を溜めることにより、電解液の封入量を増加させるように構成された電解コンデンサが考えられている(特許文献2参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【文献】特開平04-352313号公報
【文献】特開2005-209902号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、従来の電解コンデンサにおいては、電解液の蒸散によって封口体の内面に発生する凝縮液の存在により、陽極側のリードタブと陰極側のリードタブが電気的に導通することで漏れ電流が発生し、陽極側のリードタブに腐食が発生する問題があった。
【0006】
本発明は、リードタブにおける腐食の発生を抑制し得る電解コンデンサを提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の電解コンデンサは、第1のリードタブが接続された弁金属の陽極箔と、第2のリードタブが接続された陰極箔とを、セパレータを介して重ね合わせ、巻回してなるコンデンサ素子と、前記コンデンサ素子を収納する有底円筒状の外装ケースと、前記外装ケースの開口部を封止するとともに前記第1のリードタブおよび前記第2のリードタブを挿通する一対の貫通孔が形成された封口体と、を備えた電解コンデンサであって、前記封口体の前記コンデンサ素子に面した内面には、前記コンデンサ素子側に開口を有する複数の有底の穴部がメッシュ状に形成されていることを特徴とする。
【0008】
この構成によれば、電解液の蒸散により発生する凝縮液をメッシュ状に形成された複数の穴部にそれぞれ保持することにより、第1および第2のリードタブ間において凝縮液で電気的に導通することを抑制することができる。これにより、第1および第2のリードタブ間に端子間電流が発生することを抑止し、腐食の発生を抑えることができる。
【0009】
また、本発明の電解コンデンサは、上記構成において、前記穴部は、穴径が0.1mm以上であり、かつ、前記一対の貫通孔の間の形成領域に対して、50%以上の面積占有率で形成されていることを特徴とする。
【0010】
この構成によれば、効果的に凝縮液を各穴部に保持することができる。
【0011】
また、本発明の電解コンデンサは、上記構成において、前記穴部の前記形成領域は、円形であることを特徴とする。
【0012】
この構成によれば、第1および第2のリードタブ間において、効果的に穴部を配置することができる。
【発明の効果】
【0013】
本発明の電解コンデンサによると、リードタブにおける腐食の発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【0014】
図1】本発明の実施形態に係る電解コンデンサの構成を示す断面図である。
図2】本発明の実施形態に係るコンデンサ素子を示す斜視図である。
図3】本発明の実施形態に係る封口体に形成された穴部を示す平面図である。
図4】本発明の実施形態に係る封口体の製造方法の説明に供する断面図である。
図5】他の実施形態に係る穴部を示す断面図である。
図6】他の実施形態に係る穴部の形成領域を示す平面図である。
図7】他の実施形態に係る穴部の形成領域を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【0015】
以下、本発明の実施の形態について、添付図面に基づき詳細に説明する。
図1に示すように、本実施形態における巻回形の電解コンデンサ1は、主として、コンデンサ素子2と、外装ケース12と、封口体20とから構成される。
【0016】
図2に示すように、コンデンサ素子2は、エッチング処理および誘電体酸化皮膜形成処理が施された陽極箔(陽極アルミニウム箔)3aとエッチング処理が施された陰極箔(陰極アルミニウム箔)3bとがセパレータ4を介して巻回され、素子止めテープ9(図1)で固定される。このコンデンサ素子2は、電解質が含浸されて有底筒状の外装ケース12(図1)に収納される。
【0017】
外装ケース12は、アルミニウムを素材として作製されており、その開口部には樹脂やゴム等で形成された封口体20が装着され、該開口部は絞り加工により密閉された構造を有する。具体的には、外装ケース12の外周面12aには、その周方向に沿って環状に延在する凹部12bが形成されている。凹部12bは、封口体20を外装ケース12に挿入した後に、外装ケース12の外周面12aに絞り加工を施すことで形成される。封口体20は、例えば、イソブチレン-イソプレンラバー(IIR)やエチレンプロピレンターポリマー(EPT)のような弾性ゴムを素材として作製されている。
【0018】
コンデンサ素子2から引き出されるリードタブ5、15にはリード線6、16が溶接され、封口体20を介して外部に引き出されている。外装ケース12は、スリーブ13によって被覆される。
【0019】
リードタブ5は、陽極箔3aに対して加締めまたは溶接等の方法により接続された陽極側のリードタブであり、リードタブ15は、陰極箔3bに対して加締めまたは溶接等の方法により接続された陰極側のリードタブである。
【0020】
図1および図3に示すように、封口体20には、コンデンサ素子2に面する内面20aから外部に面する外面20bに貫通する貫通孔20c、20dが所定の間隔を隔てて形成されており、貫通孔20c、20dにはリードタブ5、15が挿通されている。
【0021】
封口体20の内面20aには、複数の有底の穴部20eがメッシュ状に配置されている。各穴部20eは、直径が少なくとも0.09mmの非貫通の円形穴であり、穴の底部は略半球形状となっている。
【0022】
図3に示すように、封口体20の内面20aにおける穴部20eの形成領域AR1は、貫通孔20c、20dに挟まれた領域となっている。本実施形態の場合、当該形成領域AR1は、円形の領域となっており、貫通孔20c、20dは、当該円形の直径と円周との交わる2点にそれぞれ形成されている。
【0023】
このように穴部20eの形成領域AR1を設定することにより、貫通孔20c、20dの間、すなわち貫通孔20c、20dに挿通されたリードタブ5、15の間において、複数の穴部20eを効果的に配置することができる。これにより、当該領域に広がる凝縮液を有効に穴部20eに保持することができる。なお、本実施形態においては、形成領域AR1の面積における穴部20eの開口面積の合計の占有率(面積占有率)を45%以上とする。
【0024】
コンデンサ素子2に含浸された電解質から蒸散した凝縮液は、封口体20の内面20aに付着するが、リードタブ5、15の間には、複数の穴部20eが形成されていることにより、凝縮液は各穴部20eの内部に留まる。すなわち、穴部20eごとに独立して凝縮液を内部に留まらせるように保持することができ、これにより、各穴部20eに保持された凝縮液同士がつながることを抑制し、リードタブ5、15の間において凝縮液がつながることによる漏れ電流の発生を抑制することができる。
【0025】
また、複数の穴部20eがメッシュ状に独立して(穴部同士が離間している場合に限らず、穴部同士が当接して形成されている場合も含む)形成されていることにより、各穴部20eに保持された凝縮液(電解液)に対する表面張力による保持力を増加させることができる。これにより、例えば、電解コンデンサ1を横置きに設置して使用する場合においても、十分に凝縮液(電解液)を各穴部20eに保持することができ、リードタブ5、15の間に発生する端子間電流を抑制し、陽極側のリードタブ5における腐食の発生を抑えることができる。
【0026】
図4は、封口体20の製造方法を示す断面図である。図4に示すように、上方を開口する有底筒状の下金型51と、当該下金型51の内周面に嵌合する上金型52とにより成形加工が行われる。下金型51の内底面には、一対のピン51aと、複数のピン51bとが植設されている。一対のピン51aは、封口体20の貫通孔20c、20dを形成するためのものであり、複数のピン51bは、封口体20の穴部20eを形成するためのものである。
【0027】
下金型51と上金型52との間には封口体20を形成するゴム等の弾性材料が配置される。上金型52の底面にピン51aの上端が当接するまで下金型51を矢印A方向に上昇させると弾性材料が圧縮され、封口体20が成形される。この時、一対のピン51aにより貫通孔20c、20d(図1)が形成され、複数のピン51bにより穴部20e(図1)が形成される。
【0028】
次に、電解コンデンサ1の製造工程について説明する。
所定の幅に切断された陽極箔3a(陽極アルミニウム箔)および陰極箔3b(陰極アルミニウム箔)に外部引き出し電極用のリードタブ5および15(アルミニウム製)を加締め接続する。陽極箔3aは弁金属としてアルミニウム箔を用い、弁金属の表面にエッチング処理および化成処理を施すことによって、誘電体酸化皮膜が形成されたものを用いる。また、陰極箔3bも陽極箔3aと同様にアルミニウム箔を用い、アルミニウム箔の表面にエッチング処理が施されるとともに自然酸化皮膜が形成されている。なお、陰極箔3bについても誘電体酸化皮膜を形成したり、表面にカーボン、チタン、窒化チタン、炭化チタン等を形成してもよい。陽極箔3aおよび陰極箔3bを、セルロースを主体としたセパレータ4を介して巻回し、コンデンサ素子2を作製する。
【0029】
そして、電解質を含浸したコンデンサ素子2をアルミニウム製ケース(外装ケース12)に収納し、外装ケース12の開口部をカーリングして封止した。電解質には、エチレングリコールやγ―ブチロラクトン等を主溶媒とし溶質を溶解した電解液、ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸等の導電性高分子を主成分とする固体電解質と電解液との両方を使用することができる。その後、所定温度に設定された恒温槽内で、外装ケース12にコンデンサ素子2を収納したアルミニウム電解コンデンサ(電解コンデンサ1)に定格電圧を印加し、エージング処理を施すことにより、電解コンデンサ1の製造工程を終了する。
【実施例
【0030】
以下に実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明する。
【0031】
アルミニウムリードタブを陽極アルミニウム箔に加締め接続するとともに、アルミニウムリードタブを陰極アルミニウム箔に加締め接続する。そして、セパレータを介して陽極アルミニウム箔と陰極アルミニウム箔を重ね合わせ、巻回したアルミニウム電解コンデンサ素子に電解液を含浸する。そして、アルミニウム電解コンデンサ素子から引き出されている陽極側のリードタブおよび陰極側のリードタブの丸棒部をそれぞれ封口体の挿通孔から挿通させた後、アルミニウム電解コンデンサ素子を封口体とともに外装ケース内に挿入する。次に、外装ケースの開口部をカーリング加工するとともに外周面に絞り加工を施し封止する。これにより、定格400V/150μFのアルミニウム電解コンデンサ(外形寸法:直径φ18mm×長さ40mmのアルミニウム電解コンデンサ)を製作し、カテゴリ上限温度を超える115℃の環境下にて定格電圧(400V)を印加した場合に、陽極側のリードタブの近傍に腐食が発生するまでの時間を測定した。腐食の発生とは、腐食生成物の付着、またはアルミニウムの溶解が見られた状態を意味する。この測定結果を表1に示す。
【0032】
【表1】
【0033】
比較例1は、封口体20にメッシュ状の穴部20eを設けない場合の腐食発生時間を測定した結果を示すものであり、実施例1~7は、封口体20にメッシュ状の穴部20eを設けた場合の腐食発生時間を測定した結果を示すものである。
【0034】
(比較例1)
封口体20に穴部20eを設けない場合は、1500~1700時間でリードタブに腐食が発生した。
【0035】
(実施例1)
封口体20の形成領域AR1に直径0.09mmの穴部20eを60%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、5000~5500時間でリードタブに腐食が発生した。
【0036】
(実施例2)
封口体20の形成領域AR1に直径0.1mmの穴部20eを45%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、5000~5500時間でリードタブに腐食が発生した。
【0037】
(実施例3)
封口体20の形成領域AR1に直径0.1mmの穴部20eを50%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、10000時間を超えてもリードタブに腐食が発生しなかった。
【0038】
(実施例4)
封口体20の形成領域AR1に直径0.1mmの穴部20eを85%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、10000時間を超えてもリードタブに腐食が発生しなかった。
【0039】
(実施例5)
封口体20の形成領域AR1に直径0.8mmの穴部20eを50%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、10000時間を超えてもリードタブに腐食が発生しなかった。
【0040】
(実施例6)
封口体20の形成領域AR1に直径0.8mmの穴部20eを85%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、10000時間を超えてもリードタブに腐食が発生しなかった。
【0041】
(実施例7)
封口体20の形成領域AR1に直径0.8mmの穴部20eを45%の面積占有率でメッシュ状に設けた場合、3500~4000時間でリードタブに腐食が発生した。
【0042】
このように、穴部20eの穴径が0.1mm以上であって、かつ、穴部20eの面積占有率が50%以上であれば、10000時間を超えてもリードタブに腐食が発生しない結果となった。
【0043】
以上の測定結果から以下のことが分かる。
封口体20の内面20aの形成領域AR1に穴径が0.09mm以上の穴部20eを、45%以上の面積占有率で設けることにより、腐食発生時間を延ばすことができることが分かる(実施例1~7)。また、穴部20eの穴径を0.1mm以上とし、かつ、穴部20eの面積占有率を50%以上とすることにより、電解コンデンサのリードタブに腐食が発生することを効果的に抑制することができることが分かる(実施例3~6)。
【0044】
なお、上述の実施形態においては、穴部20eの底部形状を略半球形状とする場合について述べたが、本発明にこれに限られず、例えば、図5に示すように、穴部20eの底部形状を平面形状としてもよい。
【0045】
また、上述の実施形態においては、穴部20eを丸穴形状とする場合について述べたが、本発明はこれに限られず、例えば開口部が四角形の角穴であってもよい。
【0046】
また、上述の実施形態においては、すべての穴部20eを同一形状とする場合について述べたが、本発明はこれに限られず、異なる形状(穴径、穴の深さなどの穴の形状)のものが混在していてもよい。
【0047】
また、上述の実施形態においては、穴部20eの形成領域AR1を円形とした場合について述べたが、本発明はこれに限られず、例えば、図6に示すような四角形の領域、または図7に示すような楕円形の領域等、種々の形状の領域を適用することができる。
【0048】
また、上述の実施形態においては、定格400V/150μFのリード線形アルミニウム電解コンデンサ(外形寸法:直径φ18mm×長さ40mmのアルミニウム電解コンデンサ)について述べたが、本発明はこれに限られず、チップ形、基板自立形、ネジ端子形のアルミニウム電解コンデンサ、導電性高分子アルミニウム電解コンデンサ、導電性高分子ハイブリッドアルミニウム電解コンデンサ等、種々のアルミニウム電解コンデンサに広く適用することができる。
【符号の説明】
【0049】
1 電解コンデンサ
2 コンデンサ素子
3a 陽極箔
3b 陰極箔
4 セパレータ
5、15 リードタブ
12 外装ケース
13 スリーブ
20 封口体
20e 穴部
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7