特許 7439840 差動信号伝送用ケーブル

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-02-19

(45)【発行日】2024-02-28

(54)【発明の名称】差動信号伝送用ケーブル

(51)【国際特許分類】

   H01B 11/00 20060101AFI20240220BHJP

【ＦＩ】

H01B11/00 J

H01B11/00 G

【請求項の数】 16

(21)【出願番号】P 2021574355

(86)(22)【出願日】2020-01-30

(86)【国際出願番号】 JP2020003326

(87)【国際公開番号】W WO2021152757

(87)【国際公開日】2021-08-05

【審査請求日】2022-07-21

(73)【特許権者】

【識別番号】000002130

【氏名又は名称】住友電気工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001195

【氏名又は名称】弁理士法人深見特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】後藤 健吾

(72)【発明者】

【氏名】細江 晃久

(72)【発明者】

【氏名】小林 優斗

(72)【発明者】

【氏名】越智 祐司

【審査官】木村 励

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１９－１６０４１４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００９－１２３４９０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｈ０１Ｂ １１／００

Ｈ０１Ｂ ７／１８

Ｈ０１Ｂ １３／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

差動信号伝送用ケーブルであって、
前記差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、
前記長手方向に沿って延在しており、前記絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、
前記絶縁層の外周面を被覆している中間層と、
前記中間層の外周面を被覆しているシールドと、
触媒粒子とを備え、
前記シールドは、前記中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有し、
前記触媒粒子は、前記中間層と前記無電解めっき層との間に分散されている、差動信号伝送用ケーブル。

【請求項2】

前記差動信号伝送用ケーブルに含まれている前記触媒粒子の含有量は、前記長手方向に沿った１ｃｍあたり０．１μｇ以上１０μｇ以下である、請求項１に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項3】

前記絶縁層の外周面における算術平均粗さは、２．０μｍ以下である、請求項１又は請求項２に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項4】

前記絶縁層の外周面における算術平均粗さは、０．６μｍ未満である、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項5】

前記中間層と前記無電解めっき層との間の接着強度は、０．１Ｎ／ｃｍ以上６Ｎ／ｃｍ以下である、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項6】

前記中間層の厚さは、１μｍ以下である、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項7】

前記無電解めっき層の厚さは、０．０５μｍ以上０．５μｍ以下である、請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項8】

前記シールドは、前記無電解めっき層の外周面を被覆している電解めっき層をさらに有する、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項9】

前記電解めっき層は、電解銅めっき層であり、
前記電解めっき層中における銅結晶粒の平均粒径は、０．５μｍ以上である、請求項８に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項10】

前記無電解めっき層の厚さ及び前記電解めっき層の厚さの合計は、０．０５μｍより大きく６μｍ以下である、請求項８又は請求項９に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項11】

前記触媒粒子は、パラジウムを含有している、請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項12】

前記絶縁層は、融点が１４０℃以上のポリオレフィンを含む、請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項13】

前記絶縁層は、ポリプロピレン、環状オレフィンポリマー及びポリメチルペンテンの少なくともいずれかを含む、請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【請求項14】

前記絶縁層は、ポリプロピレン結晶粒を含み、
前記ポリプロピレン結晶粒は、以下の式（１）により算出される結晶化度Ｘ_ｃが０．３以上であり、
前記式（１）において、Ｉ_ｃは結晶成分のＸ線回折強度であり、Ｉ_ａは非晶質成分のＸ線回折強度である、請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載の差動信号伝送用ケーブル。

【数1】

【請求項15】

差動信号伝送用ケーブルであって、
前記差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、
前記長手方向に沿って延在しており、前記絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、
前記絶縁層の外周面を被覆している中間層と、
前記中間層の外周面を被覆しているシールドとを備え、
前記シールドは、前記中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有し、
前記絶縁層は、ポリプロピレン結晶粒を含み、
前記ポリプロピレン結晶粒は、単斜晶の結晶構造、六方晶の結晶構造又はそれらの少なくとも一方が共存した状態を有するとともに、特定の２つ以下の結晶軸に沿って配向されており、
前記絶縁層において、以下の式（２）により算出される結晶配向度Ｏ_１１０が０．６５以下であり、
前記式（２）において、Ｉ_１１０は指数１１０のＸ線回折の積分強度であり、Ｉ_０４０は指数０４０のＸ線回折の積分強度である、差動信号伝送用ケーブル。

【数2】

【請求項16】

差動信号伝送用ケーブルであって、
前記差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、
前記長手方向に沿って延在しており、前記絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、
前記絶縁層の外周面を被覆している中間層と、
前記中間層の外周面を被覆しているシールドとを備え、
前記シールドは、前記中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有し、
前記絶縁層は、ポリプロピレン結晶粒を含み、
前記ポリプロピレン結晶粒は、以下の式（１）により算出される結晶化度Ｘ_ｃが０．３以上であり、
前記式（１）において、Ｉ_ｃは結晶成分のＸ線回折強度であり、Ｉ_ａは非晶質成分のＸ線回折強度である、差動信号伝送用ケーブル。

【数3】

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、差動信号伝送用ケーブルに関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１（特開２０１９－１６４５１号公報）には、差動信号伝送用ケーブルが記載されている。特許文献１に記載されている差動信号伝送用ケーブルは、絶縁層と、一対の信号線と、無電解めっき層とを有している。一対の信号線は、絶縁層の内部に埋設されている。無電解めっき層は、絶縁層の外周面に形成されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０１９－１６４５１号公報

【発明の概要】

【0004】

本開示に係る差動信号伝送用ケーブルは、差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、長手方向に沿って延在しており、絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、絶縁層の外周面を被覆している中間層と、シールドと、触媒粒子とを備えている。シールドは、中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有する。触媒粒子は、中間層と無電解めっき層との間に分散されている。

【図面の簡単な説明】

【0005】

【図1】図１は、差動信号伝送用ケーブル１０の斜視図である。

【図2A】図２Ａは、差動信号伝送用ケーブル１０の断面図である。

【図2B】図２Ｂは、中間層４０と無電解めっき層５１との界面近傍における図２Ａの拡大図である。

【図3】図３は、差動信号伝送用ケーブル１０の製造方法を示す工程図である。

【図4】図４は、準備工程Ｓ１において準備される処理対象部材１０Ａの断面図である。

【図5】図５は、中間層形成工程Ｓ２が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。

【図6】図６は、触媒粒子配置工程Ｓ３が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。

【図7】図７は、無電解めっき工程Ｓ４が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。

【図8】図８は、差動信号伝送用ケーブル７０の中間層４０と無電解めっき層５１との界面近傍における拡大断面図である。

【図9A】図９Ａは、差動信号伝送用ケーブル７０における減衰特性を示すグラフである。

【図9B】図９Ｂは、差動信号伝送用ケーブル１０における減衰特性を示すグラフである。

【図10】図１０は、差動信号伝送用ケーブル８０の断面図である。

【発明を実施するための形態】

【0006】

［本開示が解決しようとする課題］
特許文献１に記載されている差動信号伝送用ケーブルにおいては、絶縁層の外周面がエッチングにより粗面化されている。これにより、絶縁層と無電解めっき層との間のアンカー効果が得られるため、絶縁層と無電解めっき層との間の密着性が確保されている。

【0007】

しかしながら、エッチングにより絶縁層の外周面が均一に粗面化されるため、エッチング後の絶縁層の外周面には、微少な凹凸が周期的に存在することになる。この周期的に存在する微少な凹凸は、３０ＧＨｚ以上の高周波領域において、減衰特性を悪化させる原因となる。

【0008】

本開示は、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされたものである。より具体的には、本開示は、高周波領域における減衰特性を悪化させることなく、無電解めっき層の密着性を確保することが可能な差動信号伝送用ケーブルを提供するものである。

【0009】

［本開示の効果］
本開示に係る差動信号伝送用ケーブルによると、高周波領域における減衰特性の悪化を抑制しつつ、無電解めっき層の密着性を確保することができる。

【0010】

［本開示の実施形態の説明］
まず、本開示の実施形態を列記して説明する。

【0011】

（１）一実施形態に係る差動信号伝送用ケーブルは、差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、長手方向に沿って延在しており、絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、絶縁層の外周面を被覆している中間層と、シールドと、触媒粒子とを備えている。シールドは、中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有する。触媒粒子は、中間層と無電解めっき層との間に分散されている。

【0012】

上記（１）の差動信号伝送用ケーブルによると、高周波領域における減衰特性の悪化を抑制しつつ、無電解めっき層の密着性を確保することができる。

【0013】

（２）上記（１）の差動信号伝送用ケーブルでは、差動信号伝送用ケーブルに含まれている触媒粒子の含有量が、長手方向に沿った１ｃｍあたり０．１μｇ以上１０μｇ以下であってもよい。

【0014】

上記（２）の差動信号伝送用ケーブルによると、高周波領域における減衰特性の悪化を抑制しつつ、無電解めっき層の密着性を確保することができる。

【0015】

（３）上記（１）又は上記（２）の差動信号伝送用ケーブルでは、絶縁層の外周面における算術平均粗さが、２．０μｍ以下であってもよい。

【0016】

上記（３）の差動信号伝送用ケーブルによると、高周波領域における減衰特性の悪化をさらに抑制することができる。

【0017】

（４）上記（１）～上記（３）の差動信号伝送用ケーブルでは、絶縁層の外周面における算術平均粗さが、０．６μｍ未満であってもよい。

【0018】

上記（４）の差動信号伝送用ケーブルによると、高周波領域における減衰特性の悪化をさらに抑制することができる。

【0019】

（５）上記（１）～上記（４）の差動信号伝送用ケーブルでは、中間層と無電解めっき層との間の接着強度が、０．１Ｎ／ｃｍ以上６Ｎ／ｃｍ以下であってもよい。

【0020】

上記（５）の差動信号伝送用ケーブルによると、複数の差動信号伝送用ケーブルを撚線にする際に無電解めっき層が剥がれてしまうことを抑制しつつ、差動信号伝送用ケーブルの端末処理を行う際に絶縁層が中間層とともに剥がれてしまうことを抑制することができる。

【0021】

（６）上記（１）～上記（５）の差動信号伝送用ケーブルでは、中間層の厚さが、１μｍ以下であってもよい。

【0022】

上記（６）の差動信号伝送用ケーブルによると、絶縁層及び無電解めっき層と中間層とのインピーダンスの不一致に起因した高周波領域での減衰特性の悪化を抑制することができる。

【0023】

（７）上記（１）～上記（６）の差動信号伝送用ケーブルでは、無電解めっき層の厚さが、０．０５μｍ以上０．５μｍ以下であってもよい。

【0024】

上記（７）の差動信号伝送用ケーブルによると、無電解めっき層形成中のガス発生に起因して無電解めっき層と中間層との界面におけるボイドの発生を抑制しつつ、中間層の外周面上に無電解めっき層が未着となる領域が発生することを抑制できる。

【0025】

（８）上記（１）～上記（７）の差動信号伝送用ケーブルでは、シールドが、無電解めっき層の外周面を被覆している電解めっき層をさらに有していてもよい。

【0026】

上記（８）の差動信号伝送用ケーブルによると、シールドの電気抵抗値を低減することができる。

【0027】

（９）上記（８）の差動信号伝送用ケーブルでは、電解めっき層が、電解銅めっき層であってもよい。電解めっき層中における銅結晶粒の平均粒径は、０．５μｍ以上であってもよい。

【0028】

上記（９）の差動信号伝送用ケーブルによると、差動信号伝送用ケーブルが曲げられた際に電解めっき層にクラックが発生することを抑制できる。

【0029】

（１０）上記（８）又は上記（９）の差動信号伝送用ケーブルでは、無電解めっき層の厚さ及び電解めっき層の厚さの合計が、６μｍ以下であってもよい。

【0030】

上記（１０）の差動信号伝送用ケーブルによると、シールドを形成することに伴う製造コストを低減することができる。

【0031】

（１１）上記（１）～上記（１０）の差動信号伝送用ケーブルでは、触媒粒子が、パラジウムを含有していてもよい。

【0032】

（１２）上記（１）～上記（１１）の差動信号伝送用ケーブルでは、絶縁層が、融点が１４０℃以上のポリオレフィンを含んでいてもよい。

【0033】

（１３）上記（１）～上記（１１）の差動信号伝送用ケーブルでは、絶縁層が、ポリプロピレン、環状オレフィンポリマー及びポリメチルペンテンの少なくともいずれかを含んでいてもよい。

【0034】

（１４）上記（１）～上記（１１）の差動信号伝送用ケーブルでは、絶縁層が、ポリプロピレン結晶粒を含んでいてもよい。ポリプロピレン結晶粒は、以下の式（１）により算出される結晶化度Ｘ_ｃが０．３以上であってもよい。式（１）において、Ｉ_ｃは結晶成分のＸ線回折強度であり、Ｉ_ａは非晶質成分のＸ線回折強度である。

【0035】

【数1】

【0036】

上記（１４）の差動信号伝送用ケーブルによると、無電解めっき層の密着性が高くなることにより、差動信号伝送用ケーブルの伝送損失を抑制することができる。

【0037】

（１５）他のの実施形態に係る差動信号伝送用ケーブルは、差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、長手方向に沿って延在しており、絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、絶縁層の外周面を被覆している中間層と、中間層の外周面を被覆しているシールドとを備えている。シールドは、中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有している。絶縁層は、ポリプロピレン結晶粒を含む。ポリプロピレン結晶粒は、単斜晶の結晶構造、六方晶の結晶構造又はそれらの少なくとも一方が共存した状態を有しているとともに、特定の２つ以下の結晶軸に沿って配向されている。絶縁層において、以下の式（２）により算出される結晶配向度Ｏ_１１０が０．６５以下である。式（２）において、Ｉ_１１０は指数１１０のＸ線回折の積分強度であり、Ｉ_０４０は指数０４０のＸ線回折の積分強度である。

【0038】

【数2】

【0039】

上記（１５）の差動信号伝送用ケーブルによると、無電解めっき層の密着性が高くなることにより、差動信号伝送用ケーブルの伝送損失を抑制することができる。

【0040】

（１６）他の実施形態に係る差動信号伝送用ケーブルは、差動信号伝送用ケーブルの長手方向に沿って延在している絶縁層と、長手方向に沿って延在しており、絶縁層の内部に埋設されている一対の信号線と、絶縁層の外周面を被覆している中間層と、中間層の外周面を被覆しているシールドとを備えている。シールドは、中間層の外周面を被覆している無電解めっき層を有している。絶縁層は、ポリプロピレン結晶粒を含む。ポリプロピレン結晶粒は、上記の式（１）により算出される結晶化度Ｘ_ｃが０．３以上である。

【0041】

上記（１６）の差動信号伝送用ケーブルによると、無電解めっき層の密着性が高くなることにより、差動信号伝送用ケーブルの伝送損失を抑制することができる。

【0042】

［本開示の実施形態の詳細］
次に、実施形態の詳細を、図面を参酌しながら説明する。以下の図面においては、同一又は相当する部分に同一の参照符号を付し、重複する説明は繰り返さない。

【0043】

（第１実施形態）
以下に、第１実施形態に係る差動信号伝送用ケーブル（以下「差動信号伝送用ケーブル１０」とする）を説明する。

【0044】

＜差動信号伝送用ケーブル１０の構成＞
図１は、差動信号伝送用ケーブル１０の斜視図である。図２Ａは、差動信号伝送用ケーブル１０の断面図である。図２Ｂは、中間層４０と無電解めっき層５１との界面近傍における図２Ａの拡大図である。図１、図２Ａ及び図２Ｂに示されるように、差動信号伝送用ケーブル１０は、絶縁層２０と、信号線３０と、中間層４０と、シールド５０と、触媒粒子６０とを有している。

【0045】

絶縁層２０は、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿って延在している。絶縁層２０は、絶縁性の材料により形成されている。絶縁層２０は、例えば、ポリエチレンにより形成されている。但し、絶縁層２０は、ポリエチレン以外の材料により形成されていてもよい。絶縁層２０は、例えば、ポリオレフィンにより形成されていてもよい。このポリオレフィンの融点は、耐熱性の観点から、例えば１４０℃以上であることが好ましく、１５０℃以上であることがさらに好ましい。

【0046】

絶縁層２０は、外周面２０ａを有している。外周面２０ａにおける算術平均粗さは、２μｍ以下であることが好ましい。外周面２０ａにおける算術平均粗さは、０．６μｍ未満であることがさらに好ましい。外周面２０ａにおける算術平均粗さは、レーザ顕微鏡ＶＭ－Ｘ１５０（株式会社キーエンス製）により測定される。より具体的には、外周面２０ａを５０倍の対物レンズを用いて観察し、その観察結果に対して解析ソフトウェアＶＫ－Ｈ１ＸＭを適用することにより差動信号伝送用ケーブルの長手方向における算術平均粗さが算出される。

【0047】

信号線３０は、一対になっている（以下において、一対になっている信号線３０を、それぞれ「信号線３０ａ」及び「信号線３０ｂ」とする）。信号線３０ｂには、信号線３０ａに印加される信号とは反対位相の信号が印加される。これにより、差動信号伝送用ケーブル１０を介して差動信号が伝送される。

【0048】

信号線３０ａ及び信号線３０ｂは、絶縁層２０の内部に埋設されている。信号線３０ａ及び信号線３０ｂは、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿って延在している。信号線３０ａ及び信号線３０ｂは、導電性の材料により形成されている。信号線３０ａ及び信号線３０ｂは、例えば、銅（Ｃｕ）により形成されている。但し、信号線３０ａ及び信号線３０ｂは、銅以外により形成されていてもよい。

【0049】

中間層４０は、外周面２０ａを覆うように形成されている。中間層４０は、厚さＴ１を有している。厚さＴ１は、例えば、１．５μｍ以下である。厚さＴ１は、１μｍ以下であることが好ましい。中間層４０は、外周面４０ａを有している。中間層４０は、絶縁性の材料により形成されている。中間層４０は、例えば、ポリオレフィンにより形成されている。但し、中間層４０は、ポリオレフィン以外の材料により形成されていてもよい。

【0050】

シールド５０は、外周面４０ａを覆うように形成されている。シールド５０は、導電性を有している。シールド５０は、無電解めっき層５１を有している。なお、無電解めっき層５１は、無電解めっき法により形成されためっき層である。

【0051】

無電解めっき層５１は、外周面４０ａを覆うように形成されている。無電解めっき層５１は、厚さＴ２を有している。厚さＴ２は、例えば、０．０５μｍ以上である。厚さＴ２は、例えば、０．５μｍ以下である。厚さＴ２は、０．０５μｍ以上０．５μｍ以下であることが好ましい。無電解めっき層５１は、例えば、無電解銅めっき層である。無電解めっき層５１は、外周面５１ａを有している。

【0052】

無電解めっき層５１の電気抵抗値は、５０ｍΩ／ｃｍ未満であることが好ましい。無電解めっき層５１における欠陥率は、１．５未満であることが好ましい。無電解めっき層５１における欠陥率は、無電解めっき層５１の電気抵抗値の実測値を無電解めっき層５１の電気抵抗値の理論値で除した値である。

【0053】

中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度は、例えば、０．１Ｎ／ｃｍ以上である。中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度は、例えば、６Ｎ／ｃｍ以下である。中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度は、好ましくは、０．３Ｎ／ｃｍ以上６Ｎ／ｃｍ以下である。なお、中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度は、引張試験により測定される。

【0054】

シールド５０は、さらに、電解めっき層５２を有していてもよい。なお、電解めっき層５２は、電解めっき法により形成されためっき層である。電解めっき層５２は、外周面５１ａを覆うように形成されている。電解めっき層５２は、厚さＴ３を有している。厚さＴ２及び厚さＴ３の合計は、６μｍ以下であることが好ましい。電解めっき層５２は、例えば、電解銅めっき層である。

【0055】

電解めっき層５２が電解銅めっき層である場合、電解めっき層５２中には、複数の銅結晶粒が含まれている。電解めっき層５２中における銅結晶粒の平均粒径は、例えば０．５μｍ以上である。電解めっき層５２中における銅結晶粒の平均粒径は、電解めっき層５２の断面をＳＥＭ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、走査型電子顕微鏡）により観察し、所定の測定視野（例えば、３０μｍ×２０μｍ）における電解めっき層５２の厚さを５箇所測定した平均値とされる。

【0056】

触媒粒子６０は、無電解めっき層５１と中間層４０との間（無電解めっき層５１と中間層４０との界面）に分散している。すなわち、触媒粒子６０は、無電解めっき層５１と中間層４０との間において、層状になっていない。外周面４０ａのうちの触媒粒子６０が配置されていない領域の面積が外周面４０ａ全体の面積の９０パーセント以上であるときには、「触媒粒子６０が無電解めっき層５１と中間層４０との間に分散している」ことになる。触媒粒子６０の間の距離の平均値は、５０ｎｍ以上であることが好ましい。

【0057】

触媒粒子６０の平均粒径は、例えば、３００ｎｍ以下である。触媒粒子６０の平均粒径は、ＴＥＭ（Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、透過型電子顕微鏡）を用いて測定される。触媒粒子６０は、例えば、パラジウム（Ｐｄ）を含有している。但し、触媒粒子６０は、パラジウム以外の材料を含有していてもよい。触媒粒子６０は、例えば、銅、銀（Ａｇ）、金（Ａｕ）等を含有していてもよい。

【0058】

差動信号伝送用ケーブル１０に含まれている触媒粒子６０の含有量は、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたり、例えば、０．１μｇ以上である。差動信号伝送用ケーブル１０に含まれている触媒粒子６０の含有量は、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたり、例えば１０μｇ以下である。差動信号伝送用ケーブル１０に含まれている触媒粒子６０の含有量は、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたり、０．１μｇ以上１０μｇ以下であることが好ましい。

【0059】

差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたりの触媒粒子６０の含有量は、誘導結合プラズマ質量分析計を用いて測定される。本発明者らが見出した知見によると、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたりの触媒粒子６０の含有量が０．１μｇ以上１０μｇ以下であるとき、触媒粒子６０は、無電解めっき層５１と中間層４０との間において層状にならず、無電解めっき層５１と中間層４０との間に分散する。

【0060】

＜差動信号伝送用ケーブル１０の製造方法＞
図３は、差動信号伝送用ケーブル１０の製造方法を示す工程図である。図３に示されるように、差動信号伝送用ケーブル１０の製造方法は、準備工程Ｓ１と、中間層形成工程Ｓ２と、触媒粒子配置工程Ｓ３と、無電解めっき工程Ｓ４と、電解めっき工程Ｓ５とを有している。

【0061】

中間層形成工程Ｓ２は、準備工程Ｓ１の後に行われる。触媒粒子配置工程Ｓ３は、中間層形成工程Ｓ２の後に行われる。無電解めっき工程Ｓ４は、触媒粒子配置工程Ｓ３の後に行われる。電解めっき工程Ｓ５は、無電解めっき工程Ｓ４の後に行われる。

【0062】

準備工程Ｓ１においては、処理対象部材１０Ａが準備される。図４は、準備工程Ｓ１において準備される処理対象部材１０Ａの断面図である。図４に示されるように、処理対象部材１０Ａは、絶縁層２０及び信号線３０を有している。処理対象部材１０Ａにおいて、中間層４０、シールド５０及び触媒粒子６０は未形成である。

【0063】

図５は、中間層形成工程Ｓ２が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。図５に示されるように、中間層形成工程Ｓ２においては、外周面２０ａを覆うように中間層４０が形成される。中間層形成工程Ｓ２においては、外周面２０ａに中間層４０を構成する材料が塗布されるとともに、塗布された当該材料を硬化させることにより、外周面２０ａを覆うように中間層４０が形成される。

【0064】

図６は、触媒粒子配置工程Ｓ３が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。図６に示されるように、触媒粒子配置工程Ｓ３においては、外周面４０ａ上に、触媒粒子６０が分散配置される。触媒粒子配置工程Ｓ３においては、触媒粒子６０を含む溶液が外周面４０ａに塗布されるとともに、当該溶液を揮発させることにより、外周面４０ａ上に触媒粒子６０が分散配置される。

【0065】

図７は、無電解めっき工程Ｓ４が行われた後の処理対象部材１０Ａの断面図である。図７に示されるように、無電解めっき工程Ｓ４においては、外周面４０ａを覆うように無電解めっき層５１が形成される。無電解めっき工程Ｓ４においては、無電解めっき層５１に含まれる材料が溶解しているめっき液中に、処理対象部材１０Ａが浸漬される。これにより、外周面４０ａ上に分散配置されている触媒粒子６０を触媒として外周面４０ａを覆うように無電解めっき層５１を構成する材料が析出し、無電解めっき層５１が形成される。

【0066】

電解めっき工程Ｓ５においては、外周面５１ａを覆うように電解めっき層５２が形成される。電解めっき工程Ｓ５においては、電解めっき層５２に含まれる材料が溶解しているめっき液中に処理対象部材１０Ａが浸漬されるとともに、無電解めっき層５１に通電がなされる。これにより、外周面５１ａ上に電解めっき層５２を構成する材料が析出し、図２Ａ及び図２Ｂに示される構造の差動信号伝送用ケーブル１０が製造される。

【0067】

＜差動信号伝送用ケーブル１０の効果＞
差動信号伝送用ケーブル１０においては、中間層４０と無電解めっき層５１との間に触媒粒子６０が分散配置されている。そのため、外周面４０ａには、触媒粒子６０に起因した微細な凹凸が存在していることになる。この微細な凹凸は、外周面４０ａを覆うように形成されている無電解めっき層５１と中間層４０との接着においてアンカー効果を生じさせるため、無電解めっき層５１の密着性が確保される。

【0068】

上記のとおり、中間層４０と無電解めっき層５１との間に触媒粒子６０を分散配置することにより無電解めっき層５１の密着性が確保されるため、外周面２０ａを粗面化する必要がない。そのため、差動信号伝送用ケーブル１０においては、外周面２０ａを粗面化することに伴う高周波領域での減衰特性が悪化しがたい。このように、差動信号伝送用ケーブル１０によると、高周波領域における減衰特性の悪化を抑制しつつ、無電解めっき層５１の密着性を確保することができる。

【0069】

差動信号伝送用ケーブル１０において、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたりの触媒粒子６０の含有量が０．１μｇ未満である場合、外周面４０ａ上に無電解めっき層５１と接着されていない箇所が生じるおそれがある。

【0070】

他方で、差動信号伝送用ケーブル１０において、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたりの触媒粒子６０の含有量が１０μｇを超える場合、外周面２０ａにある触媒粒子６０に起因した凹凸が大きくなり過ぎ、高周波領域での減衰特性が悪化するおそれがある。そのため、差動信号伝送用ケーブル１０の長手方向に沿った１ｃｍあたりの触媒粒子６０の含有量を０．１μｇ以上１０μｇ以下とすることにより、高周波領域における減衰特性の悪化を抑制しつつ、無電解めっき層５１の密着性を確保することができる。

【0071】

外周面２０ａにおける算術平均粗さが２．０μｍ以下（特に、０．６μｍ未満）である場合には、高周波領域における減衰特性の悪化をさらに抑制することができる。

【0072】

差動信号伝送用ケーブル１０は、複数本撚り集められて撚線にされることがある。中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度が０．１Ｎ／ｃｍ未満である場合、差動信号伝送用ケーブル１０が撚線にされる際に、無電解めっき層５１が剥がれてしまうおそれがある。

【0073】

また、差動信号伝送用ケーブル１０をコネクタ等に接続する際に、シールド５０を剥がす端末処理が行われる。中間層４０と無電解めっき層５１との間の接着強度が６Ｎ／ｃｍを超える場合、この端末処理の際に、シールド５０が無電解めっき層５１と中間層４０との界面において剥がれず、シールド５０を剥がす際に、絶縁層２０の一部が中間層４０とともに剥がれてしまうおそれがある。

【0074】

そのため、中間層４０と絶縁層２０との間の接着強度を０．１Ｎ／ｃｍ以上６Ｎ／ｃｍ以下とすることにより、複数の差動信号伝送用ケーブル１０を撚線にする際に無電解めっき層５１が剥がれてしまうことを抑制しつつ、差動信号伝送用ケーブル１０の端末処理を行う際に絶縁層２０が中間層４０とともに剥がれてしまうことを抑制することができる。

【0075】

厚さＴ１が１μｍ以下である場合、絶縁層２０及び無電解めっき層５１と中間層４０とのインピーダンスの不一致に起因した高周波領域での減衰特性の悪化を抑制することができる。厚さＴ２及び厚さＴ３の合計が６μｍ以下である場合、シールド５０の形成に伴う製造コストを低減することができる。

【0076】

シールド５０が電解めっき層５２をさらに有している場合、シールドの電気抵抗値を低減することができる。電解めっき層５２中における銅結晶粒の平均粒径が１μｍ以上である場合、電解めっき層５２が比較的軟質であるため、差動信号伝送用ケーブルが曲げられた際（例えば、曲げ半径が３００ｍｍ程度の曲げ変形を受けた際）に電解めっき層５２にクラックが発生することが抑制される。

【0077】

＜実験例＞
比較例に係る差動信号伝送用ケーブル（以下「差動信号伝送用ケーブル７０」とする）と差動信号伝送用ケーブル１０との比較試験結果を説明する。差動信号伝送用ケーブル７０は、絶縁層２０と、信号線３０と、中間層４０と、無電解めっき層５１及び電解めっき層５２を含むシールド５０と、触媒粒子６０とを有している。この点に関して、差動信号伝送用ケーブル７０の構成は、差動信号伝送用ケーブル１０の構成と共通している。

【0078】

図８は、差動信号伝送用ケーブル７０の中間層４０と無電解めっき層５１との界面近傍における拡大断面図である。図８に示されるように、差動信号伝送用ケーブル７０において、触媒粒子６０が、中間層４０と無電解めっき層５１との間に層状に配置されている。差動信号伝送用ケーブル７０において、触媒粒子６０の層は、内部に空隙を含むポーラスな構造になっている。これらの点に関して、差動信号伝送用ケーブル７０の構成は、差動信号伝送用ケーブル１０の構成と異なっている。

【0079】

図９Ａは、差動信号伝送用ケーブル７０における減衰特性を示すグラフである。図９Ｂは、差動信号伝送用ケーブル１０における減衰特性を示すグラフである。図９Ａ及び図９Ｂ中において、横軸は信号線３０に印加される信号の周波数（単位：ＧＨｚ）であり、縦軸はＳｄｄ２１（ディファレンシャル挿入損失）で評価した伝送損失（単位：ｄＢ）である。なお、図９Ａ及び図９Ｂに示されるグラフにおいて、無電解めっき層５１の厚さＴ２及び欠陥率は、それぞれ５μｍ及び１．１とされた。

【0080】

図９Ａに示されるように、差動信号伝送用ケーブル７０においては、５０ＧＨｚ近傍において、触媒粒子６０の内部に存在している空隙に起因して、伝送損失が局所的に大きく増加している周波数帯域が存在している。他方で、図９Ｂに示されるように、差動信号伝送用ケーブル１０においては、少なくとも６０ＧＨｚまでの周波数領域において、伝送損失が局所的に大きく増加している周波数帯域は存在しなかった（サックアウトが生じていなかった）。このように、中間層４０と無電解めっき層５１との間に触媒粒子６０を分散配置させることにより高周波領域における減衰特性の悪化を抑制できることが、実験的にも示された。

【0081】

なお、触媒粒子６０が中間層４０と無電解めっき層５１との間に層状に配置されている差動信号伝送用ケーブル７０においては、無電解めっき層５１と中間層４０との間の接着強度が高くなり過ぎ、端末処理においてシールド５０（無電解めっき層５１）を剥がす際に絶縁層２０の一部が中間層４０とともに剥がれてしまうおそれがある。

【0082】

（第２実施形態）
以下に、第２実施形態に係る差動信号伝送要ケーブル（以下「差動信号伝送用ケーブル８０」とする）を説明する。ここでは、差動信号伝送用ケーブル１０と異なる点を主に説明し、重複する説明は繰り返さないものとする。

【0083】

＜差動信号伝送用ケーブル８０の構成＞
図１０は、差動信号伝送用ケーブル８０の断面図である。図１０に示されるように、差動信号伝送用ケーブル８０は、絶縁層２０と、信号線３０と、中間層４０と、シールド５０と、触媒粒子６０（図１０中において図示せず）とを有している。なお、差動信号伝送用ケーブル８０は、触媒粒子６０を有していなくてもよい。

【0084】

差動信号伝送用ケーブル８０において、シールド５０は、無電解めっき層５１と、電解めっき層５２とを有している。差動信号伝送用ケーブル８０において、触媒粒子６０は、中間層４０と無電解めっき層５１との間に分散している。これらの点に関して、差動信号伝送用ケーブル８０の構成は、差動信号伝送用ケーブル１０の構成と共通している。しかしながら、差動信号伝送用ケーブル８０の構成は、絶縁層２０がポリプロピレンにより形成されている点に関して、差動信号伝送用ケーブル１０の構成と異なっている。

【0085】

絶縁層２０は、ポリプロピレンの結晶粒（以下「ポリプロピレン結晶粒」という）を含んでいる。絶縁層２０は、ポリプロピレンの非晶質相を含んでいてもよい。絶縁層２０を構成しているポリプロピレンの結晶化度Ｘ_ｃは、０．３以上になっている。なお、結晶化度Ｘ_ｃは、上記の式（１）により算出される。

【0086】

絶縁層２０中のポリプロピレン結晶粒は、単斜晶の結晶構造、六方晶の結晶構造又はそれらの少なくとも一方が共存した状態を有している。絶縁層２０中のポリプロピレン結晶粒は、特定の２つ以下の結晶軸に沿って配向されている。絶縁層２０中のポリプロピレン結晶粒の結晶配向度Ｏ_１１０は、０．６５以下となっている。なお、絶縁層２０中のポリプロピレン結晶粒の結晶配向度は、上記の式（２）により算出される。

【0087】

＜変形例＞
上記においては、絶縁層２０がポリプロピレンにより形成されるものとしたが、絶縁層２０は、ポリプロピレン以外の材料により形成されていてもよい。より具体的には、絶縁層２０は、環状オレフィンポリマー又はポリメチルペンテンにより形成されてもよい。

【0088】

＜差動信号伝送用ケーブル８０の効果＞
差動信号伝送用ケーブル８０によると、絶縁層２０と中間層４０との間の密着性及び中間層４０と触媒粒子６０との間の密着性が改善され、ひいては無電解めっき層５１の密着性が高くなるため、差動信号伝送用ケーブルの伝送損失を抑制することができる。結晶化度Ｘ_ｃが０．３以上である場合、絶縁層２０と中間層４０との間の密着性及び中間層４０と触媒粒子６０との間の密着性がさらに改善され、ひいては無電解めっき層５１の密着性がさらに高くなるため、差動信号伝送用ケーブルの伝送損失をさらに抑制することができる。

【0089】

今回開示された実施形態は全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態ではなく請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。

【符号の説明】

【0090】

１０，７０，８０ 差動信号伝送用ケーブル、１０Ａ 処理対象部材、２０ 絶縁層、２０ａ 外周面、３０，３０ａ，３０ｂ 信号線、４０ 中間層、４０ａ 外周面、５０ シールド、５１ 無電解めっき層、５１ａ 外周面、５２ 電解めっき層、６０ 触媒粒子、Ｓ１ 準備工程、Ｓ２ 中間層形成工程、Ｓ３ 触媒粒子配置工程、Ｓ４ 無電解めっき工程、Ｓ５ 電解めっき工程、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３ 厚さ。

【図1】

【図2A】

【図2B】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9A】

【図9B】

【図10】