特許 7447819 フリッカ測定装置、フリッカ測定方法及びフリッカ測定プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-03-04

(45)【発行日】2024-03-12

(54)【発明の名称】フリッカ測定装置、フリッカ測定方法及びフリッカ測定プログラム

(51)【国際特許分類】

   H04N 17/04 20060101AFI20240305BHJP

   G01J 1/44 20060101ALI20240305BHJP

   G01M 11/00 20060101ALI20240305BHJP

   G02F 1/133 20060101ALI20240305BHJP

【ＦＩ】

H04N17/04 C

G01J1/44 M

G01M11/00 T

G02F1/133 505

【請求項の数】 10

(21)【出願番号】P 2020572107

(86)(22)【出願日】2019-12-19

(86)【国際出願番号】 JP2019049721

(87)【国際公開番号】W WO2020166201

(87)【国際公開日】2020-08-20

【審査請求日】2022-11-21

(31)【優先権主張番号】P 2019022667

(32)【優先日】2019-02-12

(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000001270

【氏名又は名称】コニカミノルタ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100115381

【弁理士】

【氏名又は名称】小谷 昌崇

(74)【代理人】

【識別番号】100111453

【弁理士】

【氏名又は名称】櫻井 智

(72)【発明者】

【氏名】西川 宜弘

【審査官】佐野 潤一

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１７－１１６８２０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－２２１２１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００９－１６３０９０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－２４８０７７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００４－３１７４５０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｈ０４Ｎ １７／００

Ｈ０４Ｎ ５／６６

Ｈ０４Ｎ ９／１２

Ｇ０１Ｊ １／４４

Ｇ０１Ｍ １１／００

Ｇ０２Ｆ １／１３

Ｇ０９Ｇ ３／００－５／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定装置であって、
データを保存するための記憶部と、
光電変換素子を含み、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する受光部と、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて前記記憶部に保存する測定処理部と、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理部と、
を備え、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理部は、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求める、
フリッカ測定装置。

【請求項2】

前記演算処理部は、前記所定比率が第１比率である第１フリッカシフト時間と、前記所定比率が前記第１比率と異なる第２比率である第２フリッカシフト時間と、を求める、
請求項１に記載のフリッカ測定装置。

【請求項3】

前記受光部は、前記光電変換素子を複数含み、前記複数の光電変換素子に対応して複数の前記受光信号をそれぞれ出力し、
前記複数の光電変換素子は、二次元的に並んで配置され、それぞれ、前記被測定物の互いに異なる測定位置から出射される光を受光し、
前記測定処理部は、前記複数の受光信号に基づき、前記複数の測定位置のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記測定位置に対応付けて前記記憶部に保存し、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間をそれぞれ求める、
請求項１又は２に記載のフリッカ測定装置。

【請求項4】

前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間の平均値、最大値、最小値、及びばらつき値のうち少なくとも１つを求める、
請求項３に記載のフリッカ測定装置。

【請求項5】

表示部をさらに備え、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間の最大値及び最小値を求め、前記最大値、前記最小値、前記最大値の測定位置、及び前記最小値の測定位置を、前記表示部に表示する、
請求項３又は４に記載のフリッカ測定装置。

【請求項6】

表示部をさらに備え、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間に基づき、前記フリッカシフト時間のばらつきを表すばらつき値を求めて前記表示部に表示する、
請求項３～５のいずれか１項に記載のフリッカ測定装置。

【請求項7】

前記測定処理部は、前記測定開始時点から所定時間が経過した時点に、前記被測定物が前記定常状態となったと判定する、
請求項１～６のいずれか１項に記載のフリッカ測定装置。

【請求項8】

前記測定処理部は、今回取得した前記受光信号に基づくフリッカ値と、前回取得した前記受光信号に基づくフリッカ値との差を算出し、算出した前記差が所定の閾値以下になると、前記被測定物が前記定常状態となったと判定する、
請求項１～６のいずれか１項に記載のフリッカ測定装置。

【請求項9】

被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定方法であって、
光電変換素子を含む受光部が、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する信号出力ステップと、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存する測定処理ステップと、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理ステップと、
を備え、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理ステップは、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求める、
フリッカ測定方法。

【請求項10】

被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定装置のコンピュータに、
光電変換素子を含む受光部が、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する信号出力ステップと、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存する測定処理ステップと、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理ステップと、
を実行させ、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理ステップは、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求める、
フリッカ測定プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、液晶ディスプレイ等の被測定物に生じるフリッカを測定する技術に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、液晶ディスプレイ等の被測定物の表示部に生じるフリッカを測定するフリッカ測定装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。フリッカの測定方式としては、種々の方式が知られている。例えば特許文献１には、コントラスト方式と、電子情報技術産業協会（ＪＥＩＴＡ）方式とが挙げられている。その他に、Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｏｍｍｉｔｔｅｅ ｆｏｒ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｍｅｔｒｏｌｏｇｙにより規定されたＩＣＤＭ規格が知られている。

【0003】

一方、近年、表示装置としては、液晶ディスプレイが汎用されている。液晶ディスプレイでは、直流で駆動されると寿命が短くなるので、交流で駆動されている。この交流電圧駆動では、フレーム毎に極性が反転する。交流電圧の印加方式には、行ライン反転駆動方式、ドット反転駆動方式等がある。

【0004】

行ライン反転駆動方式は、フレーム毎に行方向の画素に印加する極性を互い違いに正極と負極とに反転させる方式である。この方式は、小型の液晶ディスプレイで多く用いられている。ドット反転駆動方式は、フレーム毎に行方向及び列方向に隣り合う画素に印加する極性を互い違いに正極と負極とに反転させる方式である。この方式は、大型の液晶ディスプレイで多く用いられている。上記特許文献１では、以下のように、液晶ディスプレイに特有のフリッカが説明されている。

【0005】

図１３、図１４は、液晶ディスプレイに同じ画面を表示し続けている状態において、フレーム毎に画素に印加される極性の反転を概略的に示すタイミングチャートである。図１３、図１４では、極性が正のフレームと極性が負のフレームとが交互に表れている。図１３に示されるように、基準電位と極性変化の波形の振幅中心とが等しい場合、極性が正のフレームと極性が負のフレームとでは、映像信号のレベルの絶対値が等しくなる。このため、極性の反転は人間の目に感知されない。

【0006】

これに対して、図１４に示されるように、製造ばらつき等に起因して、基準電位と極性変化の波形の振幅中心とが異なる場合がある。この場合、極性が正のフレームと極性が負のフレームとでは、映像信号のレベルの絶対値が異なる。このため、垂直同期信号の周波数の二分の一の周波数で映像信号が変化することになる。例えば、垂直同期信号の周波数が６０Ｈｚの場合、映像信号の変化の周波数は、３０Ｈｚとなる。３０Ｈｚは、人間の目が応答できる周波数の最大値以下であるので、人間の目に画面のちらつき、つまりフリッカとして認識される。フリッカが発生すると、表示部が非常に見づらくなる。液晶ディスプレイでは、各画素を構成する液晶材料特性のばらつき、駆動回路と各画素を接続する配線の差異等に基づき、各画素において発生するフリッカ値は、異なる値であることが多い。すなわち、液晶ディスプレイの表示画面において、フリッカ値が空間的に異なっている。

【0007】

近年、携帯電話、スマートフォン、タブレット型コンピュータ等の電池を電源とする携帯機器に使用される液晶ディスプレイでは、液晶ディスプレイの消費電力を低減して電池駆動時間を延ばすために、垂直同期信号の周波数が６０Ｈｚより低下させた機器が実用化されている。しかしながら、非特許文献１には、液晶ディスプレイでは垂直同期信号の周波数が低くなるほど、フリッカ値が増大することが報告されている。非特許文献２には、液晶ディスプレイでは時間の経過とともに、フリッカ値が変化することが報告されている。

【0008】

上述のように、液晶ディスプレイでは、時間的にも空間的にも、フリッカ値が変化するため、フリッカ値の変化をそのまま示すと、煩雑になってしまう。そこで、液晶ディスプレイ等の被測定物に生じるフリッカ値の時間的変化を、より簡潔に表すことが望まれる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0009】

【文献】国際公開第２０１７／０３８６７５号

【非特許文献】

【0010】

【文献】Isamu Miyake, etc. “Photo-alignment and n-FFS LCD Technologies with IGZO-TFT Applied to Generation Eight Factory”,(米), SID 2016 DIGEST p.592-595, 2016

【文献】Kun-Tsai Huang, etc. “Study on the Correlation of Flicker Shift Phenomenon and Ion Accumulation Mechanism in FFS Mode LCD Panel”,(米), SID 2017 DIGEST p.1834-1837, 2017

【発明の概要】

【0011】

本発明は、上述の事情に鑑みてなされた発明であり、被測定物に生じるフリッカ値の時間的変化を、より簡潔に表すことが可能なフリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラムを提供することを目的とする。

【0012】

上述した目的を実現するために、本発明の一側面を反映したフリッカ測定装置は、被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力し、測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存し、前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理を行い、前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、前記演算処理では、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求める。

【0013】

発明の１又は複数の実施形態により与えられる利点及び特徴は以下に与えられる詳細な説明及び添付図面から十分に理解される。これら詳細な説明及び添付図面は、例としてのみ与えられるものであり本発明の限定の定義として意図されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】フリッカ測定装置の電気的構成例を概略的に示すブロック図である。

【図2】フリッカ測定装置の光学系を概略的に示す図である。

【図3】フリッカ測定装置による被測定部のフリッカ測定状態を概略的に示す図である。

【図4】表示部における測定位置の具体的な一例を概略的に示す図である。

【図5】図４に示される測定位置におけるフリッカ値の時間変化の具体例を概略的に示す図である。

【図6】図５におけるフリッカ値等を測定位置毎に表形式で示す図である。

【図7】１つの測定位置におけるフリッカ値の時間変化の一例を示す図である。

【図8】フリッカ値の時間変化を液晶材料毎に示す図である。

【図9】フリッカ値の空間分布を概略的に示す図である。

【図10】フリッカ値の時間変化の一例を概略的に示す図である。

【図11】１つの測定位置におけるフリッカ値の時間変化の一例を示す図である。

【図12】フリッカ測定装置においてフリッカシフト時間を求める手順の一例を概略的に示すフローチャートである。

【図13】フレーム毎に画素に印加される極性の反転を概略的に示すタイミングチャートである。

【図14】フレーム毎に画素に印加される極性の反転を概略的に示すタイミングチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0015】

（本発明の基礎となった知見）
図８は、液晶ディスプレイにおけるフリッカ値の時間変化の一例を液晶材料毎に示す図である。図８において、横軸は時間［秒］を表し、縦軸はフリッカ値［ｄＢ］を表す。図９は、液晶ディスプレイにおけるフリッカ値の空間分布の一例を概略的に示す図である。図１０は、液晶ディスプレイにおけるフリッカ値の時間変化の一例を概略的に示す図である。図１１は、１つの測定位置におけるフリッカ値の時間変化の一例を示す図である。図１１において、横軸は時間［秒］を表し、縦軸はフリッカ値［ｄＢ］を表す。図８～図１１を用いて、本発明の基礎となった知見が説明される。

【0016】

図８に示されるように、液晶材料Ｍ１のフリッカ値は、測定開始当初は急峻に増大し、その後、緩やかに増大する一方、液晶材料Ｍ２，Ｍ３のフリッカ値は、測定開始当初は急峻に減少し、その後、緩やかに減少する。このように、図８でも、上述のようにフリッカ値は時間的に変化しているが、図８からは、さらに、フリッカ値の時間的な変化の様子が液晶材料毎に異なっていることが分かる。

【0017】

図９、図１０では、フリッカ値の大小が濃度で示されている。すなわち、図９、図１０の液晶ディスプレイ２０では、外周の高濃度領域のフリッカ値［ｄＢ］が最も高い値となり、その内側の低濃度領域のフリッカ値［ｄＢ］が次に高い値となり、中央の高濃度領域のフリッカ値［ｄＢ］が最も低い値となっている。図９に示されるように、液晶ディスプレイ２０のフリッカ値は、空間的な分布を有している。

【0018】

図１０では、測定開始から、０分後、５分後、１０分後、１５分後、２０分後、３０分後のフリッカ値が、それぞれ示されている。図１０から分かるように、空間的な分布を有する液晶ディスプレイ２０のフリッカ値は、それぞれ、時間的な変化も異なっている。このように、フリッカ値は、時間的な変化と空間的な分布とを有する。

【0019】

例えば図９、図１０の測定位置は、ｙ方向（縦方向）に３０箇所、ｘ方向（横方向）に４０箇所で、合計１２００箇所である。したがって、図８に示されるような曲線で、図９、図１０におけるフリッカ値の時間的な変化を測定位置毎に表すと、１２００本の曲線が図示されることとなる。このため、液晶ディスプレイ２０におけるフリッカ値の変化を容易に把握することが困難となる。そこで、空間的な分布を有するフリッカ値の時間的な変化が好適に表されるような指標に基づき、液晶ディスプレイ２０におけるフリッカ値を管理することが望まれる。

【0020】

図１１において、測定開始時点（基準時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶ＿ＩＮ（初期フリッカ値の一例に相当）は、時点ｔ０のフリッカ値ＦＶであり、定常時点（基準時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶ＿ＳＴ（定常フリッカ値の一例に相当）は、時点ｔＥ（つまり測定終了時）のフリッカ値ＦＶである。本実施形態では、測定終了時には、フリッカ値ＦＶが変化しない定常状態になっていると見なされている。全体変化量ＦＤは、測定開始時点のフリッカ値ＦＶ＿ＩＮから定常時点のフリッカ値ＦＶ＿ＳＴまでの、フリッカ値ＦＶの変化量であり、
ＦＤ
＝ＦＶ＿ＳＴ－ＦＶ＿ＩＮ （式１）
によって求められる。

【0021】

５０％変化値ＦＶ＿５０％は、測定開始時点のフリッカ値ＦＶ＿ＩＮから、全体変化量ＦＤの５０％のフリッカ値が変化した時点（所定比率時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶである。９０％変化値ＦＶ＿９０％は、測定開始時点のフリッカ値ＦＶ＿ＩＮから、全体変化量ＦＤの９０％のフリッカ値が変化した時点（所定比率時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶである。

【0022】

図１１の例では、ＦＶ＿ＩＮ＝－４５．００［ｄＢ］、ＦＶ＿ＳＴ＝－５２．６４［ｄＢ］である。したがって、全体変化量ＦＤは、上記（式１）により、
ＦＤ
＝ＦＶ＿ＳＴ－ＦＶ＿ＩＮ＝－７．６４
である。

【0023】

よって、５０％変化値ＦＶ＿５０％は、小数点以下第３位で四捨五入すると、
ＦＶ＿５０％
＝ＦＶ＿ＩＮ＋ＦＤ×０．５＝－４８．８２
である。９０％変化値ＦＶ＿９０％は、小数点以下第３位で四捨五入すると、
ＦＶ＿９０％
＝ＦＶ＿ＩＮ＋ＦＤ×０．９＝－５１．８８
である。

【0024】

図１１において、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶが５０％変化値ＦＶ＿５０％に等しくなる時点までの経過時間であり、９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶが９０％変化値ＦＶ＿９０％になる時点までの経過時間である。

【0025】

本発明者は、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％を以上のように定義し、これらにより液晶ディスプレイ２０におけるフリッカ値を管理する発明を想到した。

【0026】

（実施の形態）
以下、本発明の実施の形態が、図面を参照しながら説明される。なお、各図面において、同じ構成要素には同じ符号が用いられ、詳細な説明は、適宜、省略される。

【0027】

図１は、本実施形態のフリッカ測定装置の電気的構成例を概略的に示すブロック図である。図２は、本実施形態のフリッカ測定装置の光学系を概略的に示す図である。図３は、本実施形態のフリッカ測定装置による被測定部のフリッカ測定状態を概略的に示す図である。図１２は、フリッカ測定装置においてフリッカシフト時間を求める手順の一例を概略的に示すフローチャートである。

【0028】

図３に示されるように、本実施形態のフリッカ測定装置１００は、被測定物５の表示部１０における所定の二次元領域（本実施形態では、表示部１０の全体）に設定された複数の所定の測定位置におけるフリッカを測定する。図１、図２に示されるように、本実施形態のフリッカ測定装置１００は、二次元センサ１０７と、光学フィルタ１１０と、光学系１１５と、レンズ駆動部１１７と、距離センサ１２０と、表示部１２５と、入力部１３０と、制御回路１４０と、を備える。制御回路１４０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）１５０と、メモリ１６０と、周辺回路（図示省略）と、を含む。

【0029】

メモリ１６０（記憶部の一例に相当）は、例えばリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、電気的に消去書き換え可能なＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）等を含む。メモリ１６０は、例えばハードディスクドライブ（ＨＤＤ）を含んでもよい。メモリ１６０の例えばＲＯＭは、ＣＰＵ１５０を動作させる本実施形態の制御プログラム（フリッカ測定プログラムの一例に相当）を記憶する。ＣＰＵ１５０は、メモリ１６０に記憶された本実施形態の制御プログラムにしたがって動作することによって、測定処理部１５１、演算処理部１５２として機能する。測定処理部１５１、演算処理部１５２の機能は、後述される。

【0030】

二次元センサ１０７（受光部の一例に相当）は、行方向Ｘ及び列方向Ｙ（図２）に二次元的に配列された複数の光電変換素子１０７１～１０７Ｎ（例えばフォトダイオード）を含み、制御回路１４０に電気的に接続されている。光学系１１５は、１または複数のレンズにより構成され、二次元センサ１０７の受光面に被測定物５の像を結像する。光学フィルタ１１０は、本実施形態では、二次元センサ１０７と光学系１１５との間に配置される。レンズ駆動部１１７は、光学系１１５の光軸方向に光学系１１５の測定範囲調整用のレンズを移動させる。

【0031】

二次元センサ１０７の光電変換素子１０７１～１０７Ｎは、それぞれ、光学系１１５及び光学フィルタ１１０を透過した、被測定物５の表示部１０における複数の測定位置からの光を受光し、受光光量に応じた受光信号を制御回路１４０へ出力する。二次元センサ１０７は、例えば相補型金属酸化物半導体（ＣＭＯＳ）イメージセンサである。

【0032】

光学フィルタ１１０は、
（光電変換素子１０７１～１０７Ｎの分光感度特性）×（光学フィルタ１１０の分光透過特性）
＝（二次元センサ１０７の分光応答度）
＝標準比視感度Ｖ（λ） （式２）
を満たすような分光透過特性を有する。光学フィルタ１１０は、吸収型又は蒸着型のフィルタであり、公知の手法により（式２）を満たすような分光透過特性を有するように形成される。なお、図２では、光学フィルタ１１０は、二次元センサ１０７の前に配置されているが、光学系１１５と被測定物５との間に配置されてもよい。

【0033】

距離センサ１２０は、制御回路１４０に電気的に接続されており、測定処理部１５１により制御されて、被測定物５とフリッカ測定装置１００との距離であるＷＤを検出する。距離センサ１２０は、検出したＷＤを制御回路１４０に出力する。測定処理部１５１は、距離センサ１２０により検出されたＷＤに応じて、レンズ駆動部１１７を動作させて、光学系１１５を構成する１または複数のレンズの光軸方向における位置を調整することにより、測定範囲（画角）を調整する。距離センサ１２０は、例えばレーザ距離センサで構成される。距離センサ１２０は、レーザ距離センサに限られず、超音波センサ又は赤外線センサ等のＷＤを検出可能な他のセンサで構成されてもよい。

【0034】

ＷＤは、本実施形態では、図２に示されるように、被測定物５の表示部１０の表面と、二次元センサ１０７の受光面との間の水平方向に沿った距離に設定されているが、これに限られない。代替的に、ＷＤは、被測定物５の表示部１０の表面と、フリッカ測定装置１００の筐体の表面との間の水平方向に沿った距離に設定されてもよい。

【0035】

なお、測定処理部１５１は、例えばレンズ駆動部１１７が無くて画角固定の光学系１１５が用いられている場合には、距離センサ１２０によって検出されたＷＤに応じて、フリッカ測定装置１００の筐体を被測定物５に近づけたり遠ざけたりするようにユーザに促すメッセージを表示部１２５に表示してもよい。

【0036】

表示部１２５は、例えば液晶ディスプレイパネルを含む。表示部１２５は、ＣＰＵ１５０の測定処理部１５１により制御されて、例えばフリッカの測定結果を表示する。なお、表示部１２５は、液晶ディスプレイパネルに限られず、有機ＥＬ（ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）パネルなどの他の表示パネルを含んでもよい。

【0037】

入力部１３０は、ユーザによって操作される操作ボタンを含み、ユーザの操作内容を示す操作信号を制御回路１４０に出力する。入力部１３０は、測定時間を設定するための測定時間設定ボタン、測定開始を指示するための測定開始ボタン等を含む。なお、表示部１２５がタッチパネル式ディスプレイの場合には、操作ボタンに代えて、タッチパネル式ディスプレイが入力部１３０を兼用してもよい。

【0038】

ＣＰＵ１５０の測定処理部１５１は、二次元センサ１０７の光電変換素子１０７１～１０７Ｎから出力される受光信号に基づき、所定の手順でフリッカ値を求める。測定処理部１５１は、特許文献１に挙げられているコントラスト方式又はＪＥＩＴＡ方式に従うフリッカ値を求めてもよく、或いは、上記ＩＣＤＭ規格に従うフリッカ値を求めてもよい。

【0039】

例えば、入力部１３０の測定時間設定ボタンを用いて測定時間Ｔ１（本実施形態では例えばＴ１＝２０００［秒］）がユーザによって設定され、入力部１３０の測定開始ボタンを用いて測定開始がユーザによって指示されると、二次元センサ１０７の光電変換素子１０７１～１０７Ｎは、それぞれ受光信号の出力を開始する（図１２のステップＳ１００）。測定時間Ｔ１は、時点ｔ０（図１１の測定開始時点）から時点ｔＥ（図１１の測定終了時点）までの時間である。上述のように、本実施形態では、測定時間Ｔ１が経過すると、被測定物５のフリッカ値ＦＶが変化しない定常状態になっていると見なされている。ユーザは、入力部１３０を用いて、被測定物５の種別に応じて、フリッカ値ＦＶが定常状態になっていると見なせるような測定時間Ｔ１を設定する。

【0040】

測定処理部１５１は、例えば、所定時間Ｔ２（本実施形態では例えばＴ２＝１０秒）毎に、二次元センサ１０７の光電変換素子１０７１～１０７Ｎから出力される受光信号を取得し、受光信号の取得毎にフリッカ値を求め、求めたフリッカ値を、測定時点及び測定位置に対応付けて、メモリ１６０の例えばＲＡＭに保存する（図１２のステップＳ１０５）。すなわち、測定処理部１５１は、例えば、フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ）をメモリ１６０に保存する。フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ）は、測定位置（ｘｉ，ｙｊ）、測定時点ｔにおけるフリッカ値であり、ｉ＝１～Ｎｘ、ｊ＝１～Ｎｙである。例えば、上記図９、図１０では、Ｎｘ＝４０、Ｎｙ＝３０である。測定開始時点ｔ０、測定終了時点ｔＥとすると、測定時点ｔは、ｔ０≦ｔ≦ｔＥの範囲であり、測定時間Ｔ１は、Ｔ１＝ｔＥ－ｔ０によって求められる。

【0041】

演算処理部１５２は、測定処理部１５１により求められたフリッカ値から、上記５０％フリッカシフト時間、上記９０％フリッカシフト時間を算出する（図１２のステップＳ１１０）。演算処理部１５２は、まず、測定位置（ｘｉ，ｙｊ）におけるフリッカ値の全体変化量ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）を求める。全体変化量ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）は、上記（式１）に従って、
ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）
＝ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔＥ）－ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）
によって求められる。

【0042】

次に、演算処理部１５２は、測定位置（ｘｉ，ｙｊ）における５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％を求める。上記図１１を用いて説明されたように、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ）がＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）＋０．５×ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）に等しくなる時点までの経過時間であり、９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ）がＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）＋０．９×ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）に等しくなる時点までの経過時間である。

【0043】

次に、演算処理部１５２は、全ての測定位置（ｘｉ，ｙｊ）における５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の平均値ＡＶ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の平均値ＡＶ＿９０％をそれぞれ求める。これらは、
ＡＶ＿５０％
＝ΣｘΣｙ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％］／（Ｎｘ×Ｎｙ） （式３）
ＡＶ＿９０％
＝ΣｘΣｙ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％］／（Ｎｘ×Ｎｙ） （式４）
によって求められる。（式３）、（式４）において、Σｘは、ｘ軸方向のフリッカ値の加算を表し、Σｙは、ｙ軸方向のフリッカ値の加算を表し、Ｎｘは、ｘ軸方向の測定位置の個数を表し、Ｎｙは、ｙ軸方向の測定位置の個数を表す。

【0044】

次に、演算処理部１５２は、全ての測定位置（ｘｉ，ｙｊ）における５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最大値ＦＳｍａｘ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最大値ＦＳｍａｘ＿９０％をそれぞれ求める。これらは、
ＦＳｍａｘ＿５０％
＝ｍａｘ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％］ （式５）
ＦＳｍａｘ＿９０％
＝ｍａｘ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％］ （式６）
によって求められる。

【0045】

次に、演算処理部１５２は、全ての測定位置（ｘｉ，ｙｊ）における５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最小値ＦＳｍｉｎ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最小値ＦＳｍｉｎ＿９０％をそれぞれ求める。これらは、
ＦＳｍｉｎ＿５０％
＝ｍｉｎ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％］ （式７）
ＦＳｍｉｎ＿９０％
＝ｍｉｎ［ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％］ （式８）
によって求められる。

【0046】

次に、演算処理部１５２は、全ての測定位置（ｘｉ，ｙｊ）における５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％のばらつき値ＶＡ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％のばらつき値ＶＡ＿９０％をそれぞれ求める。これらは、
ＶＡ＿５０％
＝ＦＳｍａｘ＿５０％－ＦＳｍｉｎ＿５０％ （式９）
ＶＡ＿９０％
＝ＦＳｍａｘ＿９０％－ＦＳｍｉｎ＿９０％ （式１０）
によって求められる。すなわち、本実施形態では、ばらつき値は、最大値と最小値との差分と定義されている。

【0047】

次に、演算処理部１５２は、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の平均値、最大値、最小値、ばらつき値を、それぞれ表示部１２５に表示する。

【0048】

図４は、表示部１０における測定位置の具体的な一例を概略的に示す図である。図５は、図４に示される測定位置におけるフリッカ値の時間変化の具体例を概略的に示す図である。図６は、図５におけるフリッカ値等を測定位置毎に表形式で示す図である。図４～図６を用いて、演算処理部１５２により算出される５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％等の具体例が説明される。

【0049】

図４の例では、５箇所の測定位置Ｆ（ｘ１，ｙ１）、Ｆ（ｘ３，ｙ１）、Ｆ（ｘ２，ｙ２）、Ｆ（ｘ１，ｙ３）、Ｆ（ｘ３，ｙ３）が設定されている。測定処理部１５１によって測定された、各測定位置における測定開始時点のフリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）は、小数点以下第１位を四捨五入すると、図６に示されるように、それぞれ、－３４，－４１，－４４，－３１，－２６［ｄＢ］であり、各測定位置における定常時点のフリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔＥ）は、小数点以下第１位を四捨五入すると、それぞれ、－４７，－４６，－４８，－４８，－４７［ｄＢ］である。

【0050】

したがって、演算処理部１５２によって算出される全体変化量ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）は、上記（式１）に従って求められ、小数点以下第１位を四捨五入すると、図６に示されるように、それぞれ、－１３，－５，－４，－１６，－２１［ｄＢ］である。

【0051】

測定開始時点のフリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）から、全体変化量ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）の５０％のフリッカ値が変化した時点のフリッカ値である５０％変化値ＦＶ＿５０％は、小数点以下第１位を四捨五入すると、図６に示されるように、それぞれ、－４１，－４３，－４６，－３９，－３７［ｄＢ］である。したがって、図５から得られる５０％フリッカ時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％は、それぞれ、図６に示されるように、２３０，３４０，３３０，２６０，１４０［秒］である。

【0052】

測定開始時点のフリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）から、全体変化量ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）の９０％のフリッカ値が変化した時点のフリッカ値である９０％変化値ＦＶ＿９０％は、小数点以下第１位を四捨五入すると、図６に示されるように、それぞれ、－４６，－４６，－４８，－４６，－４５［ｄＢ］である。したがって、図５から得られる９０％フリッカ時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％は、それぞれ、図６に示されるように、１２００，１３４０，１３６０，１４４０，１０００［秒］である。

【0053】

５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の平均値ＡＶ＿５０％は、上記（式３）によって求められ、図６に示されるように、２６０［秒］である。９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の平均値ＡＶ＿９０％は、上記（式４）によって求められ、図６に示されるように、１２６８［秒］である。

【0054】

５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最大値ＦＳｍａｘ＿５０％は、上記（式５）によって求められ、図６に示されるように、３４０［秒］である。９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最大値ＦＳｍａｘ＿９０％は、上記（式６）によって求められ、図６に示されるように、１４４０［秒］である。

【0055】

５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最小値ＦＳｍｉｎ＿５０％は、上記（式７）によって求められ、図６に示されるように、１４０［秒］である。９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最小値ＦＳｍｉｎ＿９０％は、上記（式８）によって求められ、図６に示されるように、１０００［秒］である。

【0056】

５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％のばらつき値ＶＡ＿５０％は、上記（式９）によって求められ、図６に示されるように、２００［秒］である。９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％のばらつき値ＶＡ＿９０％は、上記（式１０）によって求められ、図６に示されるように、４４０［秒］である。

【0057】

以上説明されたように、本実施形態では、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％が、それぞれ算出され、その平均値ＡＶ＿５０％及び平均値ＡＶ＿９０％がそれぞれ算出されている。したがって、本実施形態によれば、被測定物５のフリッカ値の時間変化を表す指標として、５０％フリッカシフト時間の平均値ＡＶ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間の平均値ＡＶ＿９０％を用いることができる。このため、被測定物５のフリッカ値の時間変化を簡潔に表すことができる。例えば、図５に示されるように複数の測定位置におけるフリッカ値の時間変化をそのまま図示すると、測定位置の個数の曲線が重なって煩雑になるが、本実施形態によれば、このような煩雑さを避けることができる。

【0058】

本実施形態では、図１１に示されるように、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％には、フリッカ値ＦＶが急峻に変化する時間帯のみが含まれ、９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％には、フリッカ値ＦＶが急峻に変化する時間帯だけでなく、緩やかに変化する時間帯も含まれている。このため、本実施形態によれば、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％及び９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％を用いることにより、互いに異なる特徴を含むフリッカ値の時間変化を表すことができる。

【0059】

本実施形態では、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最大値及び最小値の差分がばらつき値ＶＡ＿５０％として算出され、９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最大値及び最小値の差分がばらつき値ＶＡ＿９０％として算出されている。ばらつき値ＶＡ＿５０％、ＶＡ＿９０％が大きいということは、被測定物５の空間的なフリッカの時間的変化特性が、均一になっていないということを意味する。したがって、本実施形態によれば、被測定物５の空間的なフリッカ特性を、容易に把握することができる。

【0060】

（その他）
（１）上記実施形態では、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶが５０％変化値ＦＶ＿５０％に等しくなる時点までの経過時間であると定義されている。言い換えると、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ）が、ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）＋０．５×ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）に等しくなる時点までの経過時間と定義されている。９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶが９０％変化値ＦＶ＿９０％に等しくなる時点までの経過時間であると定義されている。言い換えると、９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％は、測定開始時点から、フリッカ値ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ）が、ＦＶ（ｘｉ，ｙｊ，ｔ０）＋０．９×ＦＤ（ｘｉ，ｙｊ）に等しくなる時点までの経過時間と定義されている。しかし、これらの定義に限られない。

【0061】

図７は、１つの測定位置におけるフリッカ値の時間変化の一例を示す図である。図７において、横軸は時間［秒］を表し、縦軸はフリッカ値［ｄＢ］を表す。図７を用いて、フリッカシフト時間の異なる定義が説明される。

【0062】

図７では、上記実施形態と異なり、定常時点ｔＥ（つまり測定終了時点）を起点としてフリッカシフト時間が定義されている。すなわち、図７では、５０％変化値ＦＶ＿５０％は、定常時点ｔＥのフリッカ値ＦＶ＿ＳＴに対して、全体変化量ＦＤの５０％のフリッカ値が変化した時点（所定比率時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶである。この定義から分かるように、図７の実施形態における５０％変化値ＦＶ＿５０％は、上記実施形態（例えば図１１）における５０％変化値ＦＶ＿５０％と同じ値である。５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％は、フリッカ値ＦＶが５０％変化値ＦＶ＿５０％に等しくなる時点から、定常時点ｔＥ（つまり測定終了時点）までの経過時間である。

【0063】

図７では、９０％変化値ＦＶ＿９０％は、定常時点ｔＥのフリッカ値ＦＶ＿ＳＴに対して、全体変化量ＦＤの９０％のフリッカ値が変化した時点（所定比率時点の一例に相当）のフリッカ値ＦＶである。この定義から分かるように、図７の実施形態における９０％変化値ＦＶ＿９０％と測定開始時点ｔ０のフリッカ値ＦＶ＿ＩＮとの差は、上記実施形態（例えば図１１）における９０％変化値ＦＶ＿９０％と定常時点ｔＥのフリッカ値ＦＶ＿ＳＴとの差に等しい。９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％は、フリッカ値ＦＶが９０％変化値ＦＶ＿９０％に等しくなる時点から、定常時点ｔＥ（つまり測定終了時点）までの経過時間である。

【0064】

図７の定義によれば、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％は、フリッカ値ＦＶが緩やかに変化する時間帯のみを含み、９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％は、フリッカ値ＦＶが緩やかに変化する時間帯だけでなく、急峻に変化する時間帯も含んでいる。このため、図７の実施形態でも、上記実施形態と同様に、互いに異なる特徴を含むフリッカ値の時間変化が表されている。

【0065】

（２）上記実施形態では、５０％フリッカシフト時間ＦＳ＿５０％としているが、５０％に限られず、９０％フリッカシフト時間ＦＳ＿９０％としているが、９０％に限られない。５０％に代えて、例えば４０～６０％の範囲内でもよく、９０％に代えて、例えば８０～９５％の範囲内でもよい。但し、例えば５０％に代えて６０％、及び９０％に代えて８０％のように両者が比較的近い値よりも、離れた値の方が、より異なる特徴を表すことができると考えられるため、好ましい。

【0066】

（３）上記実施形態において、演算処理部１５２は、さらに、最大値の測定位置（ｘｉ，ｙｊ）を表示部１２５に表示してもよい。これによって、ユーザは、フリッカ値を低減するために改善すべき位置を把握することができる。演算処理部１５２は、最大値及び最小値の測定位置（ｘｉ，ｙｊ）を、それぞれ表示部１２５に表示してもよい。これによって、ユーザは、フリッカ値のばらつきを低減するために改善すべき位置を把握することができる。

【0067】

（４）上記実施形態では、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の最大値及び最小値の差分がばらつき値ＶＡ＿５０％として算出され、９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の最大値及び最小値の差分がばらつき値ＶＡ＿９０％として算出されている。代替的に、５０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿５０％の分散又は標準偏差がばらつき値として算出されてもよく、９０％フリッカシフト時間ＦＳ（ｘｉ，ｙｊ）＿９０％の分散又は標準偏差がばらつき値として算出されてもよい。但し、上記実施形態のように最大値及び最小値の差分の方が、ばらつき値を短時間で容易に算出することができる。

【0068】

（５）上記実施形態では、フリッカ値ＦＶが定常状態になっていると見なせるような測定時間Ｔ１がユーザによって設定されているが、これに限られない。測定処理部１５１は、フリッカ値ＦＶの算出毎に、前回のフリッカ値ＦＶと比較し、変化量（差）が閾値（例えば１％）以下になると、定常状態になったと判定して、フリッカ値の測定を終了するようにしてもよい。

【0069】

（６）上記実施形態では、測定処理部１５１は、所定時間Ｔ２毎に二次元センサ１０７の受光信号を取得してフリッカ値ＦＶを求めているが、所定時間Ｔ２を途中で変更してもよい。すなわち、測定処理部１５１は、測定開始当初（例えば図５では測定開始から５００［秒］まで）は、１０［秒］毎に二次元センサ１０７の受光信号を取得してフリッカ値ＦＶを求め、それ以降（例えば図５では５００［秒］から２０００［秒］まで）は、３０［秒］毎に二次元センサ１０７の受光信号を取得してフリッカ値ＦＶを求めてもよい。

【0070】

ユーザが、入力部１３０を用いて所定時間Ｔ２を設定可能に構成し、測定処理部１５１は、ユーザによって設定された所定時間Ｔ２毎に、二次元センサ１０７の受光信号を取得してフリッカ値ＦＶを求めるようにしてもよい。

【0071】

（７）上記実施形態では、メモリ１６０の例えばＲＯＭが、ＣＰＵ１５０を動作させる上記実施形態の制御プログラムを記憶しているが、制御プログラムを記憶する媒体は、メモリ１６０に限られない。

【0072】

例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）－ＲＯＭ、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）メモリ等の着脱可能な記録媒体に、上記実施形態の制御プログラムを記憶させてもよい。フリッカ測定装置１００は、上記着脱可能な記録媒体の記憶内容を読み取り可能な構成を有してもよい。

【0073】

（８）上記実施形態では光学フィルタ１１０を備えているが、光学フィルタを備えなくてもよい。例えば、被測定物５の表示部１０に表示される色によっては、二次元センサ１０７の分光応答度を標準比視感度Ｖ（λ）に一致させる必要がない場合もあり、その場合には光学フィルタを備えなくてもよい。

【0074】

（９）上記実施形態では、フリッカ測定装置１００が制御回路１４０を備えているが、これに限られない。例えば、外部のパーソナルコンピュータとフリッカ測定装置１００とを無線又は有線で通信可能に構成し、フリッカ測定装置１００に代えて、パーソナルコンピュータが、表示部１２５、入力部１３０及び制御回路１４０を備えてもよい。このような構成でも、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。フリッカ測定装置１００の構成を簡素化することができる。

【0075】

（１０）上記実施形態では、フリッカ測定装置１００は、被測定物５の表示部１０における所定の二次元領域に設定された複数の所定の測定位置におけるフリッカを測定する装置であるが、これに限られない。フリッカ測定装置は、被測定物５の表示部１０における単一の測定位置のフリッカを測定する装置であってもよい。

【0076】

以上のように、各実施形態によれば、被測定物におけるフリッカ値の時間的な変化を、より簡潔に表すことができる。

【0077】

本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。

【0078】

第１態様に係るフリッカ測定装置は、
被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定装置であって、
データを保存するための記憶部と、
光電変換素子を含み、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する受光部と、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて前記記憶部に保存する測定処理部と、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理部と、
を備え、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理部は、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求めるものである。

【0079】

第２態様に係るフリッカ測定方法は、
被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定方法であって、
光電変換素子を含む受光部が、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する信号出力ステップと、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存する測定処理ステップと、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理ステップと、
を備え、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理ステップは、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求めるものである。

【0080】

第３態様に係るフリッカ測定プログラムは、
被測定物のフリッカを測定するフリッカ測定装置のコンピュータに、
光電変換素子を含む受光部が、前記被測定物から出射される光を受光して受光光量に対応する受光信号を出力する信号出力ステップと、
測定開始時点から前記被測定物が定常状態となった定常時点までの間に、前記受光部から出力された前記受光信号を複数回取得し、取得した前記受光信号に基づき前記被測定物のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存する測定処理ステップと、
前記記憶部に保存された前記各フリッカ値を用いてフリッカシフト時間を求める演算処理ステップと、
を実行させ、
前記測定開始時点に求められた前記フリッカ値が初期フリッカ値と定義され、
前記定常時点に求められた前記フリッカ値が定常フリッカ値と定義され、
前記測定開始時点又は前記定常時点の一方が基準時点と定義され、
前記基準時点に求められた前記初期フリッカ値又は前記定常フリッカ値が基準フリッカ値と定義され、
前記演算処理ステップは、前記初期フリッカ値から前記定常フリッカ値までの前記フリッカ値の変化量である全体変化量を求め、前記基準フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点と前記基準時点との間の経過時間を、前記フリッカシフト時間として求めるものである。

【0081】

第１態様又は第２態様又は第３態様によれば、測定開始時点から定常時点までの間に求められた複数のフリッカ値が、受光信号の取得時点に対応付けて記憶部に保存される。初期フリッカ値から定常フリッカ値までのフリッカ値の変化量である全体変化量が求められる。基準フリッカ値からのフリッカ値の変化量が全体変化量の所定比率となる所定比率時点が求められる。所定比率時点と基準時点との間の経過時間が、フリッカシフト時間として求められる。このようにフリッカシフト時間が求められているため、被測定物におけるフリッカ値の時間的な変化を、より簡潔に表すことができる。

【0082】

上記第１態様において、例えば、前記基準時点は、前記測定開始時点であり、前記基準フリッカ値は、前記初期フリッカ値であり、前記演算処理部は、前記初期フリッカ値からの前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記測定開始時点から前記所定比率時点までの経過時間を、前記フリッカシフト時間として求めてもよい。

【0083】

上記第１態様において、例えば、前記基準時点は、前記定常時点であり、前記基準フリッカ値は、前記定常フリッカ値であり、前記演算処理部は、前記定常フリッカ値から遡った前記フリッカ値の変化量が前記全体変化量の所定比率となる所定比率時点を求め、前記所定比率時点から前記定常時点までの経過時間を、前記フリッカシフト時間として求めてもよい。

【0084】

上記第１態様において、例えば、
前記演算処理部は、前記所定比率が第１比率である第１フリッカシフト時間と、前記所定比率が前記第１比率と異なる第２比率である第２フリッカシフト時間と、を求めてもよい。

【0085】

この態様では、所定比率が第１比率と第２比率との２種類のフリッカシフト時間が求められる。したがって、この態様によれば、２種類のフリッカシフト時間として、フリッカ値の変化度合の緩急が、互いに異なる期間を含むフリッカシフト時間を、求めることができる。このため、被測定物におけるフリッカ値の時間的な変化を、より簡潔に表すことができる。

【0086】

上記第１態様において、例えば、
前記受光部は、前記光電変換素子を複数含み、前記複数の光電変換素子に対応して複数の前記受光信号をそれぞれ出力し、
前記複数の光電変換素子は、二次元的に並んで配置され、それぞれ、前記被測定物の互いに異なる測定位置から出射される光を受光し、
前記測定処理部は、前記複数の受光信号に基づき、前記複数の測定位置のフリッカ値をそれぞれ求め、求めた前記フリッカ値をそれぞれ前記測定位置に対応付けて前記記憶部に保存し、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間をそれぞれ求めてもよい。

【0087】

この態様では、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間がそれぞれ求められる。したがって、この態様によれば、被測定物におけるフリッカ値の時間変化が、測定位置によって、どのように異なっているかを把握することができる。

【0088】

上記第１態様において、例えば、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間の平均値、最大値、最小値、及び最頻度値のうち少なくとも１つを求めてもよい。

【0089】

この態様によれば、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間の平均値、最大値、最小値、及び最頻度値のうちの少なくとも１つが求められるので、被測定物の全体を評価する指標を得ることができる。

【0090】

上記第１態様において、例えば、
表示部をさらに備え、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間の最大値及び最小値を求め、前記最大値、前記最小値、前記最大値の測定位置、及び前記最小値の測定位置を、前記表示部に表示してもよい。

【0091】

この態様では、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間の最大値、最小値、及びそれらの各測定位置が、表示部に表示される。したがって、この態様によれば、被測定物のフリッカ値におけるばらつきの上下の位置を把握することができる。

【0092】

上記第１態様において、例えば、
表示部をさらに備え、
前記演算処理部は、前記複数の測定位置における前記フリッカシフト時間に基づき、前記フリッカシフト時間のばらつきを表すばらつき値を求めて前記表示部に表示してもよい。

【0093】

この態様では、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間に基づき、フリッカシフト時間のばらつきを表すばらつき値が求められて表示部に表示される。したがって、この態様によれば、被測定物におけるフリッカ値の時間変化のばらつき度合を把握することができる。上記ばらつき値は、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間の分散又は標準偏差であってもよい。代替的に、上記ばらつき値は、複数の測定位置におけるフリッカシフト時間の最大値と最小値との差分であってもよい。

【0094】

上記第１態様において、例えば、
前記測定処理部は、前記測定開始時点から所定時間が経過した時点に、前記被測定物が前記定常状態となったと判定してもよい。

【0095】

この態様によれば、被測定物が定常状態となったことを、より簡易に判定できる。

【0096】

上記第１態様において、例えば、
前記測定処理部は、今回取得した前記受光信号に基づくフリッカ値と、前回取得した前記受光信号に基づくフリッカ値との差を算出し、算出した前記差が所定の閾値以下になると、前記被測定物が前記定常状態となったと判定してもよい。

【0097】

この態様によれば、被測定物が定常状態となったことを、より正確に判定できる。

【0098】

本発明の実施形態が詳細に図示され、かつ、説明されたが、それは単なる図例及び実例であって限定ではない。本発明の範囲は、添付されたクレームの文言によって解釈されるべきである。

【0099】

２０１９年２月１２日に提出された日本国特許出願番号２０１９－０２２６６７の全体の開示は、その全体において参照によりここに組み込まれる。

【産業上の利用可能性】

【0100】

本開示のフリッカ測定装置、フリッカ測定方法およびフリッカ測定プログラムは、被測定物のフリッカを測定する装置に用いられる。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】