特許7449858IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

関連特許出願への相互参照 本願は、2017年11月16日出願の米国仮特許出願第62/587,337号及び2018年7月3日出願の米国仮特許出願第62/693,810号の利益を請求する。これら出願の全体的な内容は参照により本明細書に援用する。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

特許又は出願のファイルは、カラーで作成された少なくとも1つの図面を含有する。カラー図面を含む本特許又は本願の公報の写しは、申請して必要な手数料を納付すれば、特許庁により提供されることとなる。 開示の態様は、本明細書において、単に例として、添付の図面を参照しながら説明される。ここで詳細な図面を具体的に参照して、図示される個々の事項は、例とするものであり、かつ、本開示の態様の説明的な議論を目的とするものであることを強調する。この点において、明細書及び図面により、単独で考慮されても組合せて考慮されても、当業者に対して、開示の態様がどのように実施され得るかということが明らかにされる。
【図1】 図1は、本開示に従う、介護施設の入所から介護施設の退所までの、SEM値に基づく褥瘡性潰瘍処置の選択処理全体の例を図示している。
【図2A】 図2Aは、本開示に従う、健常な組織の目視評価のサンプルである。
【図2B】 図2Bは、本開示に従う、健常な仙骨における及び健常な仙骨周辺の各場所において得られたSEM測定の平均値のプロットである。
【図3A】 図3Aは、本開示に従う、損傷組織の目視評価のサンプルである。
【図3B】 図3Bは、本開示に従う、損傷した仙骨における及び損傷した仙骨周辺の各場所において得られたSEM測定の平均値のプロットである。
【図4】 図4は、本開示に従う、SEM測定由来のデルタ値が閾値を超えた量に基づいて、介入レベルを選択してモニタリングする処理の図である。
【図5】 図5は、本開示に従う、現在の介入レベルと新規デルタ値とを用いて新規介入レベルを選択する、ワークフローガイダンスのマトリックスの例である。
【図6A】 図6A、6B及び6Cは、本開示に従う、褥瘡性潰瘍が発症している単一の場所における、1人の患者についてのデルタ値の経時的な進行の例を示す。
【図6B】 同上。
【図6C】 同上。
【図6D】 図6Dは、本開示に従う、褥瘡性潰瘍が発症している単一の場所における、1人の患者についての経時的なデルタ値の変化のプロットの例である。
【図7A】 図7A及び7Bは、本開示に従う、組織の損傷の区域をマッピングする方法の例である。
【図7B】 同上。
【図8A】 図8Aは、リスク評価及び目視評価を組み合せた、入院患者の褥瘡性潰瘍を予防するための、現在推奨されている処置決定経路の例である。
【図8B】 図8Bは、いくつかの医療施設で現在実施されているような、褥瘡性潰瘍を予防するための現在の拡大された処置決定経路の例である。
【図9】 図9は、本開示に従う、SEMスキャナが独立型の褥瘡性潰瘍予防処理においてどのように用いられ得るかについてのフローチャートの例である。
【図10】 図10は、本開示に従う、図8Bの拡大された処置決定経路をさらに改善する補助として、SEMスキャナがどのように用いられ得るかについてのフローチャートの例である。
【図11】 図11は、本開示に従う、複数のケア環境にわたる継続したケアを提供することの概念を示している。

代表図 図1本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります