特許 7452341 洗浄制御装置、洗浄制御方法、洗浄制御プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-03-11

(45)【発行日】2024-03-19

(54)【発明の名称】洗浄制御装置、洗浄制御方法、洗浄制御プログラム

(51)【国際特許分類】

   B60S 1/62 20060101AFI20240312BHJP

   G06T 5/50 20060101ALI20240312BHJP

   G06T 1/00 20060101ALI20240312BHJP

   H04N 23/45 20230101ALI20240312BHJP

   H04N 23/52 20230101ALI20240312BHJP

   H04N 23/60 20230101ALI20240312BHJP

【ＦＩ】

B60S1/62 110B

G06T5/50

G06T1/00 330

B60S1/62 110A

H04N23/45

H04N23/52

H04N23/60

【請求項の数】 24

(21)【出願番号】P 2020153237

(22)【出願日】2020-09-11

(65)【公開番号】P2022047363

(43)【公開日】2022-03-24

【審査請求日】2023-07-11

(73)【特許権者】

【識別番号】000004260

【氏名又は名称】株式会社デンソー

(74)【代理人】

【識別番号】100106149

【弁理士】

【氏名又は名称】矢作 和行

(74)【代理人】

【識別番号】100121991

【弁理士】

【氏名又は名称】野々部 泰平

(74)【代理人】

【識別番号】100145595

【弁理士】

【氏名又は名称】久保 貴則

(72)【発明者】

【氏名】福本 晴継

【審査官】飯島 尚郎

(56)【参考文献】

【文献】特開２０２０－０７６５８９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１３－１２００７６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１４－０４１１０６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－１７３２９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００３－１１４２７７（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０２０／０２７１８２３（ＵＳ，Ａ１）

【文献】米国特許出願公開第２０１９／０２０８１１１（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｂ６０Ｓ １／００－１／６８

Ｇ０６Ｔ ５／５０

Ｇ０６Ｔ １／００

Ｈ０４Ｎ ２３／５２

Ｈ０４Ｎ ２３／６０

Ｈ０４Ｎ ２３／４５

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサ及び前記センシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
前記外光画像と前記カメラ画像とを対比することにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出する抽出部（１００）と、
前記入射面において前記アンマッチングの前記画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御部（１２０）とを、備える洗浄制御装置。

【請求項2】

前記抽出部は、前記外光画像と前記カメラ画像とのエッジ同士を対比する請求項１に記載の洗浄制御装置。

【請求項3】

前記抽出部は、前記外光画像と前記カメラ画像とのうち高解像度側を低解像度側に合わせて画素補間してから、それら画像を対比する請求項１又は２に記載の洗浄制御装置。

【請求項4】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、前記光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
前記カメラ画像において注目する注目物体を抽出する抽出部（２１００）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御部（２１２０）とを、備える洗浄制御装置。

【請求項5】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ前記光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
前記外光画像において注目する注目物体を抽出する抽出部（３１００）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御部（２１２０）とを、備える洗浄制御装置。

【請求項6】

前記制御部は、前記光学センサにおいて前記外光強度と同一素子によりセンシングされた、前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項５に記載の洗浄制御装置。

【請求項7】

前記制御部は、前記光学センサにより前記反射光強度に応じて取得された反射光画像（Ｉｏｒ）において前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項４～６のいずれか一項に記載の洗浄制御装置。

【請求項8】

前記制御部は、自動運転モードの前記車両において前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項１～７のいずれか一項に記載の洗浄制御装置。

【請求項9】

反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサ及び前記センシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
前記外光画像と前記カメラ画像とを対比することにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出する抽出工程（Ｓ１０１，Ｓ１０２，Ｓ１０３）と、
前記入射面において前記アンマッチングの前記画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御工程（Ｓ１０４，Ｓ１０５）とを、含む洗浄制御方法。

【請求項10】

前記抽出工程は、前記外光画像と前記カメラ画像とのエッジ同士を対比する請求項９に記載の洗浄制御方法。

【請求項11】

前記抽出工程は、前記外光画像と前記カメラ画像とのうち高解像度側を低解像度側に合わせて画素補間してから、それら画像を対比する請求項９又は１０に記載の洗浄制御方法。

【請求項12】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、前記光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
前記カメラ画像において注目する注目物体を抽出する抽出工程（Ｓ２０１）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む洗浄制御方法。

【請求項13】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ前記光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
前記外光画像において注目する注目物体を抽出する抽出工程（Ｓ３０１）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令する制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む洗浄制御方法。

【請求項14】

前記制御工程は、前記光学センサにおいて前記外光強度と同一素子によりセンシングされた、前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項１３に記載の洗浄制御方法。

【請求項15】

前記制御工程は、前記光学センサにより前記反射光強度に応じて取得された反射光画像（Ｉｏｒ）において前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項１２～１４のいずれか一項に記載の洗浄制御方法。

【請求項16】

前記制御工程は、自動運転モードの前記車両において前記洗浄制御を前記洗浄系に指令する請求項９～１５のいずれか一項に記載の洗浄制御方法。

【請求項17】

反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサ及び前記センシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
前記命令は、
前記外光画像と前記カメラ画像とを対比させることにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出させる抽出工程（Ｓ１０１，Ｓ１０２，Ｓ１０３）と、
前記入射面において前記アンマッチングの前記画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ１０４，Ｓ１０５）とを、含む洗浄制御プログラム。

【請求項18】

前記抽出工程は、前記外光画像と前記カメラ画像とのエッジ同士を対比させる請求項１７に記載の洗浄制御プログラム。

【請求項19】

前記抽出工程は、前記外光画像と前記カメラ画像とのうち高解像度側を低解像度側に合わせて画素補間させてから、それら画像を対比させる請求項１７又は１８に記載の洗浄制御プログラム。

【請求項20】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、前記光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
前記命令は、
前記カメラ画像において注目する注目物体を抽出させる抽出工程（Ｓ２０１）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む洗浄制御プログラム。

【請求項21】

光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ前記光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、前記光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の前記洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
前記命令は、
前記外光画像において注目する注目物体を抽出させる抽出工程（Ｓ３０１）と、
前記注目物体からの前記反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、前記入射面において前記許容範囲外の前記変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、前記洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む洗浄制御プログラム。

【請求項22】

前記制御工程は、前記光学センサにおいて前記外光強度と同一素子によりセンシングされた、前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令させる請求項２１に記載の洗浄制御プログラム。

【請求項23】

前記制御工程は、前記光学センサにより前記反射光強度に応じて取得された反射光画像（Ｉｏｒ）において前記注目物体からの前記反射光強度の前記変化量が前記許容範囲外となる場合に、前記洗浄制御を前記洗浄系に指令させる請求項２０～２２のいずれか一項に記載の洗浄制御プログラム。

【請求項24】

前記制御工程は、自動運転モードの前記車両において前記洗浄制御を前記洗浄系に指令させる請求項１７～２３のいずれか一項に記載の洗浄制御プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、車両のセンサ系に対する洗浄系の制御技術に、関する。

【背景技術】

【0002】

車両のセンサ系では、センシング領域から光の入射する入射面に汚れが付着すると、センシング精度の低下を招くことが知られている。そこで、入射面に汚れが付着した場合には、当該入射面を洗浄する必要がある。特に近年、車両の自動運転モードにおける入射面の洗浄は、自動運転の継続性を左右するため、重要となっている。

【0003】

ここで特許文献１には、入射面の汚れを判定する技術が、開示されている。この開示技術では、光照射に対する反射光の強度変化に基づくことで、入射面の汚れが判定されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２００５－１００９４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかし、特許文献１の開示技術では、入射面に近接する物体からの反射光強度と、入射面に付着の汚れ物質からの反射光強度とを、正確に判別することは難しいという懸念がある。そのため、特許文献１の開示技術による判定結果に基づき、入射面の洗浄が制御されるとすると、無駄な洗浄を招く事態が予想される。

【0006】

本開示の課題は、洗浄制御の適正度を高める洗浄制御装置を、提供することにある。本開示の別の課題は、洗浄制御の適正度を高める洗浄制御方法を、提供することにある。本開示のさらに別の課題は、洗浄制御の適正度を高める洗浄制御プログラムを、提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0007】

以下、課題を解決するための本開示の技術的手段について、説明する。尚、特許請求の範囲及び本欄に記載された括弧内の符号は、後に詳述する実施形態に記載された具体的手段との対応関係を示すものであり、本開示の技術的範囲を限定するものではない。

【0008】

本開示の第一態様は、
反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサ及びセンシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
外光画像とカメラ画像とを対比することにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出する抽出部（１００）と、
入射面においてアンマッチングの画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御部（１２０）とを、備える。

【0009】

本開示の第二態様は、
反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサ及びセンシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
外光画像とカメラ画像とを対比することにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出する抽出工程（Ｓ１０１，Ｓ１０２，Ｓ１０３）と、
入射面においてアンマッチングの画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御工程（Ｓ１０４，Ｓ１０５）とを、含む。

【0010】

本開示の第三態様は、
反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（４０）と、外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサ及びセンシングカメラにおいて重複するセンシング領域（Ａｏ，Ａｃ）から光の入射する入射面（３３ｏ，３３ｃ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
命令は、
外光画像とカメラ画像とを対比させることにより、アンマッチングの画素群（Ｐｏ，Ｐｃ）を抽出させる抽出工程（Ｓ１０１，Ｓ１０２，Ｓ１０３）と、
入射面においてアンマッチングの画素群に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ１０４，Ｓ１０５）とを、含む。

【0011】

これら第一～第三態様によると、反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じて光学センサにより取得される外光画像と、同センサとセンシング領域の重複するセンシングカメラにより外光強度に応じて取得されるカメラ画像とが、対比される。こうした対比により抽出されるアンマッチングの画素群は、光学センサ及びセンシングカメラの入射面のうち、いずれかにおいて付着した汚れに対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れの洗浄制御が洗浄系に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。

【0012】

本開示の第四態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
カメラ画像において注目する注目物体を抽出する抽出部（２１００）と、
注目物体からの反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御部（２１２０）とを、備える。

【0013】

本開示の第五態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
カメラ画像において注目する注目物体を抽出する抽出工程（Ｓ２０１）と、
注目物体からの反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む。

【0014】

本開示の第六態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得する光学センサ（２０４０）と、光学センサと重複するセンシング領域（Ａｃ）での外光強度に応じたカメラ画像（Ｉｃ）を取得するセンシングカメラ（４１）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
命令は、
カメラ画像において注目する注目物体を抽出させる抽出工程（Ｓ２０１）と、
注目物体からの反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む。

【0015】

これら第四～第六態様によると、光学センサと重複するセンシング領域での外光強度に応じてセンシングカメラにより取得されるカメラ画像においては、注目する注目物体が抽出される。こうして抽出される注目物体から光学センサが光照射によって取得する反射光強度の変化量は、許容範囲外となる場合、光学センサの入射面において付着した汚れに対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れの洗浄制御が洗浄系に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。

【0016】

本開示の第七態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御装置（１）であって、
外光画像において注目する注目物体を抽出する抽出部（３１００）と、
注目物体からの反射光強度の変化量が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御部（２１２０）とを、備える。

【0017】

本開示の第八態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御する洗浄制御方法であって、
外光画像において注目する注目物体を抽出する抽出工程（Ｓ３０１）と、
注目物体からの反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令する制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む。

【0018】

本開示の第九態様は、
光照射に対する反射光強度（ｉｒ）を取得し且つ光照射の停止中に外光強度に応じた外光画像（Ｉｏｏ）を取得する光学センサ（３０４０）と、光学センサにおいてセンシング領域（Ａｏ）から光の入射する入射面（３３ｏ）を洗浄する洗浄系（５）とを、搭載した車両（２）の洗浄系を制御するために、プロセッサ（１２）に実行させる命令を含む洗浄制御プログラムであって、
命令は、
外光画像において注目する注目物体を抽出させる抽出工程（Ｓ３０１）と、
注目物体からの反射光強度の変化量（δｉ）が許容範囲外となる場合に、入射面において許容範囲外の変化量に対応すると推定される汚れの洗浄制御を、洗浄系に指令させる制御工程（Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４）とを、含む。

【0019】

これら第七～第九態様によると、反射光強度を取得する光照射の停止中に外光強度に応じて光学センサにより取得される外光画像においては、注目する注目物体が抽出される。こうして抽出される注目物体から光学センサが光照射によって取得する反射光強度の変化量は、許容範囲外となる場合、光学センサの入射面において付着した汚れに対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れの洗浄制御が洗浄系に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0020】

【図1】第一実施形態による自動運転ユニットの車両への搭載状態を示す側面図である。

【図2】第一実施形態による自動運転ユニットの全体構成を示す横断面模式図である。

【図3】第一実施形態による洗浄制御装置の詳細構成を示すブロック図である。

【図4】第一実施形態による光学センサ及びセンシングカメラのセンシング範囲を示す横断面模式図である。

【図5】第一実施形態による光学センサの取得画像を説明するための模式図である。

【図6】第一実施形態によるセンシングカメラの取得画像を説明するための模式図である。

【図7】第一実施形態によるセンシングカメラの補間後画像を説明するための模式図である。

【図8】第一実施形態による洗浄制御方法を示すフローチャートである。

【図9】第二実施形態による洗浄制御装置の詳細構成を示すブロック図である。

【図10】第二実施形態による光学センサの取得強度を説明するためのグラフである。

【図11】第二実施形態による光学センサの取得画像を説明するための模式図である。

【図12】第二実施形態によるセンシングカメラの取得画像を説明するための模式図である。

【図13】第二実施形態による洗浄制御方法を示すフローチャートである。

【図14】第三実施形態による洗浄制御装置の詳細構成を示すブロック図である。

【図15】第三実施形態による光学センサの取得画像を説明するための模式図である。

【図16】第三実施形態による洗浄制御方法を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0021】

以下、複数の実施形態を図面に基づき説明する。尚、各実施形態において対応する構成要素には同一の符号を付すことで、重複する説明を省略する場合がある。また、各実施形態において構成の一部分のみを説明している場合、当該構成の他の部分については、先行して説明した他の実施形態の構成を適用することができる。さらに、各実施形態の説明において明示している構成の組み合わせばかりではなく、特に組み合わせに支障が生じなければ、明示していなくても複数の実施形態の構成同士を部分的に組み合わせることができる。

【0022】

（第一実施形態）
図１に示すように、第一実施形態の洗浄制御装置１を備える自動運転ユニットＡＤＵは、車両２に搭載される。車両２は、自律運転制御又は高度運転支援制御による自動運転モードにおいて、定常的若しくは一時的に自動走行可能となっている。自動運転ユニットＡＤＵは、洗浄制御装置１と共に、ハウジング３、センサ系４及び洗浄系５を含んで構成されている。尚、以下の説明において、前、後、左、右、上及び下とは、水平面上の車両２を基準に定義されている。

【0023】

図１，２に示すようにハウジング３は、例えば金属等により中空状の扁平箱形に形成されている。ハウジング３は、車両２のルーフ２０上に設置される。ハウジング３の壁３０には、複数のセンサ窓３１が開口している。各センサ窓３１は、それぞれ板状の透光カバー３２により覆われている。各透光カバー３２の外面は、車両２の外界から光の入射する入射面３３を、構成している。

【0024】

図２～４に示すようにセンサ系４は、光学センサ４０を備えている。光学センサ４０は、車両２において自動運転モードに活用可能な光学情報を取得する、所謂ＬｉＤＡＲ（Light Detection and Ranging / Laser Imaging Detection and Ranging）である。光学センサ４０は、発光素子４００、撮像素子４０１及び撮像回路４０２を有している。

【0025】

発光素子４００は、例えばレーザダイオード等の、指向性レーザ光を発する半導体素子である。発光素子４００は、車両２の外界へ向かうレーザ光を、断続的なパルスビーム状に照射する。撮像素子４０１は、例えばＳＰＡＤ（Single Photon Avalanche Diode）等の、光に対して高感度な半導体素子である。撮像素子４０１の外界側（本実施形態では前側）には、光学センサ４０専用の入射面３３ｏが、配置されている。外界のうち、撮像素子４０１の画角により決まるセンシング領域Ａｏから、入射面３３ｏへ入射する光により、同素子４０１が露光される。撮像回路４０２は、撮像素子４０１における複数画素の露光及び走査を制御すると共に、同素子４０１からの信号を処理してデータ化する、集積回路である。

【0026】

撮像回路４０２が発光素子４００からの光照射により撮像素子４０１を露光する反射光モードでは、センシング領域Ａｏ内の物点がレーザ光の反射点となる。その結果、反射点での反射されたレーザ光（以下、反射光という）が、入射面３３ｏを通して撮像素子４０１に入射する。このとき撮像回路４０２は、撮像素子４０１の複数画素を走査することで、反射光をセンシングする。

【0027】

一方、撮像回路４０２が発光素子４００からの断続的な光照射の停止中に撮像素子４０１を露光する外光モードでは、センシング領域Ａｏ内の物点が外光の反射点となる。その結果、反射点で反射された外光が、入射面３３ｏを通して撮像素子４０１に入射する。このとき撮像回路４０２は、撮像素子４０１の複数画素を走査することで、反射された外光をセンシングする。ここで特に撮像回路４０２は、センシングした外光の強度に応じて複数画素毎に取得される輝度値を、各画素値として二次元データ化することで、図５に示す如き外光画像Ｉｏｏを取得する。

【0028】

図２～４に示すようにセンサ系４は、こうした光学センサ４０に加えて、センシングカメラ４１も備えている。センシングカメラ４１は、車両２において自動運転モードに活用可能な光学情報を取得する、所謂外界カメラである。センシングカメラ４１は、撮像素子４１１及び撮像回路４０２を有している。

【0029】

撮像素子４１１は、例えばＣＭＯＳ等の半導体素子である。撮像素子４１１の外界側（本実施形態では前側）には、センシングカメラ４１専用の入射面３３ｃが、配置されている。外界のうち、撮像素子４１１の画角により決まるセンシング領域Ａｃから、入射面３３ｃへ入射する光により、同素子４１１が露光される。ここで図４に示すようにセンシングカメラ４１のセンシング領域Ａｃは、光学センサ４０のセンシング領域Ａｏと部分的に、重複する。センシング領域Ａｃ，Ａｏの重複率、即ちそれら各領域Ａｃ，Ａｏにおいて重複領域Ａｏｃの占める割合は、例えば５０％以上、好ましくは７０％以上、さらに好ましくは９０％以上である。撮像回路４１２は、撮像素子４１１における複数画素の露光及び走査を制御すると共に、同素子４１１からの信号を処理してデータ化する、集積回路である。

【0030】

撮像回路４１２が撮像素子４１１を露光する露光モードでは、センシング領域Ａｃ内の物点が外光の反射点となる。その結果、反射点で反射された外光が、入射面３３ｃを通して撮像素子４１１に入射する。このとき撮像回路４１２は、撮像素子４１１の複数画素を走査することで、反射された外光をセンシングする。ここで特に撮像回路４１２は、センシングした外光の強度に応じて複数画素毎に取得される輝度値を、各画素値として二次元データ化することで、図６に示す如きカメラ画像Ｉｃを取得する。

【0031】

図１～３に示す洗浄系５は、光学センサ４０及びセンシングカメラ４１においてセンシング領域Ａｏ，Ａｃから光の入射する入射面３３ｏ，３３ｃを含んだ、複数入射面３３を洗浄する。洗浄系５は、入射面３３毎に洗浄モジュール５０を備えている。各洗浄モジュール５０は、入射面３３を洗浄するための洗浄流体として、洗浄ガスを入射面３３へ噴射する、洗浄ノズルを有していてもよい。各洗浄モジュール５０は、入射面３３を洗浄するための洗浄流体として、洗浄液を入射面３３へ噴射する、洗浄ノズルを有していてもよい。各洗浄モジュール５０は、入射面３３を払拭により洗浄する、洗浄ワイパを有していてもよい。

【0032】

図２，３に示す洗浄制御装置１は、例えばＬＡＮ（Local Area Network）、ワイヤハーネス及び内部バス等のうち、少なくとも一種類を介して自動運転ユニットＡＤＵの電気的構成要素４，５と接続される。洗浄制御装置１は、少なくとも一つの専用コンピュータを含んで構成される。洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両２内のＥＣＵ（Electronic Control Unit）と共同して自動運転モードを制御する、運転制御ＥＣＵであってもよい。洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両２の走行アクチュエータを個別制御する、アクチュエータＥＣＵであってもよい。洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、自己位置を含んだ車両２の状態量を推定する、ロケータＥＣＵであってもよい。洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両２の走行経路をナビゲートする、ナビゲーションＥＣＵであってもよい。洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両２の情報提示系の情報提示を制御する、ＨＣＵ（HMI（Human Machine Interface） Control Unit）であってもよい。

【0033】

洗浄制御装置１は、こうした専用コンピュータを含んで構成されることで、メモリ１０及びプロセッサ１２を少なくとも一つずつ有している。メモリ１０は、コンピュータにより読み取り可能なプログラム及びデータ等を非一時的に記憶する、例えば半導体メモリ、磁気媒体及び光学媒体等のうち、少なくとも一種類の非遷移的実体的記憶媒体（non-transitory tangible storage medium）である。プロセッサ１２は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）及びＲＩＳＣ（Reduced Instruction Set Computer）－ＣＰＵ等のうち、少なくとも一種類をコアとして含む。

【0034】

プロセッサ１２は、メモリ１０に記憶された洗浄制御プログラムに含まれる複数の命令を、実行する。これにより洗浄制御装置１は、洗浄系５を制御するための機能部（即ち、機能ブロック）を、複数構築する。このように洗浄制御装置１では、洗浄系５を制御するためにメモリ１０に記憶された洗浄制御プログラムが複数の命令をプロセッサ１２に実行させることで、複数の機能部が構築される。洗浄制御装置１により構築される複数の機能部には、図３に示すように抽出部１００及び制御部１２０が含まれる。

【0035】

制御サイクル毎に抽出部１００には、光学センサ４０から外光画像Ｉｏｏが入力されると共に、センシングカメラ４１からカメラ画像Ｉｃが入力される。抽出部１００は、外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとを対比することで、アンマッチングの画素群を抽出する。そのために抽出部１００は、サブ機能部として画素補間部１０２、エッジ検出部１０４及びマッチング判定部１０６を有している。

【0036】

画素補間部１０２は、外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとのうち、高解像度側を低解像度側に合わせて画素補間する。ここで本実施形態では、センシング領域Ａｏ，Ａｃのうち重複領域Ａｏｃを撮影する画素群の数が、外光画像Ｉｏｏよりもカメラ画像Ｉｃにて多く設定されている。即ち、カメラ画像Ｉｃが高解像度側となっている一方、外光画像Ｉｏｏが低解像度側となっている。そこで画素補間部１０２は、カメラ画像Ｉｃにおいて各画素座標の画素値を、外光画像Ｉｏｏにおける各画素座標に合わせて内分補間する。補間の結果として画素補間部１０２は、重複領域Ａｏｃに関して外光画像Ｉｏｏと実質同一解像度のカメラ画像Ｉｃを、図７に示すように生成する。

【0037】

エッジ検出部１０４は、画素補間されたカメラ画像Ｉｃに対して、少なくとも一種類のエッジフィルタ処理を施すことで、当該画像Ｉｃからエッジを検出する。エッジ検出部１０４は、画素補間によりカメラ画像Ｉｃとは実質同一解像度となった重複領域Ａｏｃの外光画像Ｉｏｏに対しても、少なくとも一種類のエッジフィルタ処理を施すことで、当該画像Ｉｏｏからエッジを検出する。

【0038】

マッチング判定部１０６は、外光画像Ｉｏｏ及びカメラ画像Ｉｃにおいてそれぞれ検出されたエッジ同士を対比させることで、それら画像Ｉｏｏ，Ｉｃのマッチング状態を判定する。このときマッチング判定部１０６は、例えばエッジの構成画素値を互いに正規化して差分を演算することで、当該差分がマッチング範囲外となる画素群が確認された場合等に、アンマッチングとの判定を下す。このような判定によりマッチング判定部１０６は、外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとでアンマッチングなエッジに対応する画素群Ｐｏ，Ｐｃを、図５，７の如く抽出する。尚、画素群とは複数画素の群を意味し、特にアンマッチングと判定される場合の画素群Ｐｏ，Ｐｃは、隣り合って連続する複数画素の群であるとよい。また説明の便宜上、図５，７は、アンマッチングな画素群Ｐｏ，Ｐｃが、太実線の円に符号Ｐｏ，Ｐｃをそれぞれ付して示されている。

【0039】

図３に示すように制御部１２０には、各画像Ｉｏｏ，Ｉｃにおいてマッチング判定部１０６でのアンマッチング判定により抽出された画素群Ｐｏ，Ｐｃが、入力される。制御部１２０では、こうしたアンマッチングな画素群Ｐｏ，Ｐｃが、光学センサ４０及びセンシングカメラ４１の入射面３３ｏ，３３ｃのうちいずれかにおいて、図５～７の如く付着した汚れＤｏ，Ｄｃに対応すると推定される。そこで制御部１２０は、アンマッチングな画素群Ｐｏ，Ｐｃと対応推定される汚れＤｏ，Ｄｃを洗浄するように、自動運転モードの車両２における洗浄系５に対して洗浄制御を指令する。指令を受けて洗浄系５は、図２の如く入射面３３ｏ，３３ｃにそれぞれ対応する洗浄モジュール５０ｏ，５０ｃを駆動制御することで、それらの面３３ｏ，３３ｃの洗浄処理を実行する。

【0040】

このような機能部１００，１２０の共同により、洗浄制御装置１が洗浄系５を制御する洗浄制御方法のフローを、図８に従って以下に説明する。尚、本フローにおける各「Ｓ」は、洗浄制御プログラムに含まれた複数命令によって実行される複数ステップを、それぞれ意味する。

【0041】

まず、Ｓ１０１において抽出部１００の画素補間部１０２は、高解像度のカメラ画像Ｉｃを、低解像度側の外光画像Ｉｏｏに合わせて画素補間する。次に、Ｓ１０２において抽出部１００のエッジ検出部１０４は、外光画像Ｉｏｏ及びカメラ画像Ｉｃの各々から、エッジを検出する。続いて、Ｓ１０３において抽出部１００のマッチング判定部１０６は、外光画像Ｉｏｏ及びカメラ画像Ｉｃにおいて検出されたエッジ同士を対比させることで、それら画像Ｉｏｏ，Ｉｃのマッチング状態を判定する。

【0042】

Ｓ１０３の結果、外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとでアンマッチングと判定の画素群Ｐｏ，Ｐｃが抽出された場合には、本フローがＳ１０４へ移行する。Ｓ１０４において制御部１２０は、アンマッチングな画素群Ｐｏ，Ｐｃに対応すると推定される汚れＤｏ，Ｄｃへの洗浄制御の実行を、自動運転モードの車両２において洗浄系５に指令する。

【0043】

一方でＳ１０３の結果、アンマッチングと判定の画素群Ｐｏ，Ｐｃが抽出されなかった完全マッチングの場合には、本フローがＳ１０５へ移行する。Ｓ１０５において制御部１２０は、洗浄制御の停止を洗浄系５に指令する。以上より本フローでは、Ｓ１０１，Ｓ１０２，Ｓ１０３が抽出工程に相当し、Ｓ１０４，Ｓ１０５が制御工程に相当する。

【0044】

（作用効果）
以上説明した第一実施形態の作用効果を、以下に説明する。

【0045】

第一実施形態によると、反射光をセンシングする光照射の停止中に外光強度に応じて光学センサ４０により取得される外光画像Ｉｏｏと、同センサ４０とセンシング領域Ａｏ，Ａｃの重複するセンシングカメラ４１により外光強度に応じて取得されるカメラ画像Ｉｃとが、対比される。こうした対比により抽出されるアンマッチングの画素群Ｐｏ，Ｐｃは、光学センサ４０及びセンシングカメラ４１の入射面３３ｏ，３３ｃのうち、いずれかにおいて付着した汚れＤｏ，Ｄｃに対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れの洗浄制御が洗浄系５に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。これは、車両２において自動運転モードの継続性を左右する洗浄制御として、特に有効であるといえる。

【0046】

第一実施形態のような外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとのエッジ同士の対比によれば、アンマッチングの画素群Ｐｏ，Ｐｃを、それらエッジから正確に捉えて抽出することが容易となる。故に、アンマッチングの画素群Ｐｏ，Ｐｃに対応すると推定される汚れＤｏ，Ｄｃの洗浄を、適正に指令して制御することが可能となる。

【0047】

第一実施形態によると、外光画像Ｉｏｏとカメラ画像Ｉｃとのうち高解像度側が低解像度側に合わせて画素補間されてから、それら画像Ｉｏｏ，Ｉｃが対比される。こうした対比によれば、本来マッチングしているはずの画素群が解像度の違いに起因して誤抽出される事態を、抑止することができる。故に、アンマッチングの画素群Ｐｏ，Ｐｃに対応すると推定される汚れＤｏ，Ｄｃの洗浄を、適正に指令して制御することが可能となる。

【0048】

（第二実施形態）
図９に示すように第二実施形態は、第一実施形態の変形例である。

【0049】

第二実施形態の光学センサ２０４０では、反射光モードの撮像回路２４０２が、光照射に対してセンシングした反射光の強度を、図１０に示す如き反射光強度ｉｒとして取得する。このとき撮像回路２４０２は、後述の如く指定される指定画素の反射光強度ｉｒを、出力してもよい。あるいは撮像回路２４０２は、複数画素毎に反射光強度ｉｒに応じて取得される輝度値を、各画素値として二次元データ化することで、図１１に示す如き反射光画像Ｉｏｒを取得してもよい。尚、第二実施形態の光学センサ２０４０において外光画像Ｉｏｏを取得する機能は必須でなく、図９では、当該機能の図示が省かれている。

【0050】

第二実施形態の抽出部２１００には、制御サイクル毎にセンシングカメラ４１からカメラ画像Ｉｃが入力される。抽出部２１００は、図１２に示すようにカメラ画像Ｉｃにおいて注目する注目物体Ｏａを、少なくとも一つ抽出する。このとき注目物体Ｏａの抽出は、例えば画像フィルタ又は機械学習モデル等を用いたパターン認識により、実行される。その結果、特徴量の明確な一つの注目物体Ｏａが抽出されてもよいし、カメラ画像Ｉｃに点在する複数の注目物体Ｏａが抽出されてもよい。抽出部２１００は、カメラ画像Ｉｃのうち、こうして抽出される各注目物体Ｏａにそれぞれ対応した画素に関して、構成画素の画素座標情報Ｃａを生成する。

【0051】

第二実施形態の制御部２１２０には、図９に示すように、抽出部２１００によって抽出された注目物体Ｏａの画素座標情報Ｃａが、入力される。制御部２１２０は、サブ機能部として強度判定部２１２２及び洗浄指令部２１２４を有している。

【0052】

強度判定部２１２２は、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒに関して、図１０に示すように変化量δｉを判定する。このとき強度判定部２１２２は、注目物体Ｏａの画素座標情報Ｃａに対応する画素を制御サイクル毎に光学センサ２０４０に対して指定することで、当該指定画素での反射光強度ｉｒを同物体Ｏａからの反射光強度ｉｒとして取得してもよい。あるいは強度判定部２１２２は、光学センサ２０４０から入力される反射光画像Ｉｏｒにおいて、注目物体Ｏａの画素座標情報Ｃａに対応する画素の輝度値が表す反射光強度ｉｒを、同物体Ｏａからの反射光強度ｉｒとして取得してもよい。

【0053】

強度判定部２１２２は、このようにして図１０の如く今回制御サイクルにて取得される反射光強度ｉｒの前回制御サイクルからの変化量δｉを、所定の許容範囲との対比により判定する。ここで許容範囲とは、反射光強度ｉｒの変化量δｉに関する閾値未満、又は当該閾値以下の範囲に規定される。そこで強度判定部２１２２では、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲外に増大する場合には、光学センサ２０４０の入射面３３ｏにおいて、図１１の如く付着した汚れＤｏに当該許容範囲外変化量δｉが対応すると推定される。この推定は、同一の注目物体Ｏａであれば固有の反射率により、センシングされる間の反射光強度ｉｒが実質一定になるという知見に基づく。

【0054】

こうした強度判定部２１２２では、反射光画像Ｉｏにおいて反射光強度ｉｒの取得対象且つ変化量δｉの判定対象となる画素は、抽出部２１００から与えられる注目物体Ｏａの画素座標情報Ｃａに、図１１の如く対応する。そこで、同じ注目物体Ｏａに対しては、単一画素での反射光強度ｉｒの変化量δｉが判定されてもよいし、複数画素となる画素群での反射光強度ｉｒの平均変化量δｉ又は総和変化量δｉが判定されてもよい。

【0055】

図９に示すように洗浄指令部２１２４は、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲外の場合には、当該許容範囲外変化量δｉと対応推定される汚れＤｏを洗浄するように、自動運転モードの車両２における洗浄系５に対して洗浄制御を指令する。指令を受けて洗浄系５は、光学センサ２０４０の入射面３３ｏに対応する洗浄モジュール５０ｏを駆動制御することで、同面３３ｏの洗浄処理を実行する。このとき、センシングカメラ４１の入射面３３ｃに関する洗浄制御の指令は必須でなく、故に洗浄モジュール５０ｃも必須要素ではない。但し、光学センサ２０４０の入射面３３ｏに汚れ推定が成立する場合、同センサ２０４０とは可及的に近接配置されるセンシングカメラ４１の入射面３３ｃにも汚れ推定が成立するとして、同面３３ｃに関する洗浄制御が指令されてもよい。

【0056】

こうした第二実施形態による洗浄制御方法のフローでは、図１３に示すように、Ｓ２０１において抽出部２１００が、注目する注目物体Ｏａをカメラ画像Ｉｃから抽出する。次に、Ｓ２０２において制御部２１２０の強度判定部２１２２は、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲内外のいずれであるかを、判定する。

【0057】

Ｓ２０２の結果、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲外である場合には、本フローがＳ２０３へ移行する。Ｓ２０３において制御部２１２０の洗浄指令部２１２４は、許容範囲外の変化量δｉに対応すると推定される汚れＤｏの洗浄制御を、自動運転モードの車両２において洗浄系５に指令する。

【0058】

一方でＳ２０２の結果、変化量δｉが許容範囲内である場合には、本フローがＳ２０４へ移行する。Ｓ２０４において制御部２１２０の洗浄指令部２１２４は、洗浄制御の停止を洗浄系５に指令する。以上より本フローでは、Ｓ２０１が抽出工程に相当し、Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４が制御工程に相当する。

【0059】

（作用効果）
以上説明した第二実施形態の作用効果を、以下に説明する。

【0060】

第二実施形態によると、光学センサ２０４０と重複するセンシング領域Ａｃでの外光強度に応じてセンシングカメラ４１により取得されるカメラ画像Ｉｃにおいては、注目する注目物体Ｏａが抽出される。こうして抽出される注目物体Ｏａから光学センサ２０４０が光照射によって取得する反射光強度ｉｒの変化量δｉは、許容範囲外となる場合、光学センサ２０４０の入射面３３ｏにおいて付着した汚れＤｏ（図１１参照）に対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れＤｏの洗浄制御が洗浄系５に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。

【0061】

第二実施形態のように光学センサ２０４０により取得される場合の反射光画像Ｉｏｒにおいては、センシングカメラ４１により取得されるカメラ画像Ｉｃから抽出の注目物体Ｏａに対応する画素を、正確に特定し易くなる。これによれば、反射光画像Ｉｏｒにおいて注目物体Ｏａに対応する画素での反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲外となった場合に、当該許容範囲外変化量δｉとの対応が推定される汚れＤｏの洗浄を、適正に指令して制御することが可能となる。

【0062】

（第三実施形態）
図１４に示すように第三実施形態は、第二実施形態の変形例である。

【0063】

第三実施形態の光学センサ３０４０では、第二実施形態に準じた光照射中での反射光強度ｉｒの取得機能と共に、第一実施形態に準じた光照射停止中での外光画像Ｉｏｏの取得機能が、必須となっている。ここで、反射光強度ｉｒの取得機能における反射光のセンシングと、外光画像Ｉｏｏの取得機能における外光のセンシングとは、同一の撮像素子４０１により実現される。尚、第三実施形態のセンシングカメラ４１は必須でなく、図１４では、同カメラ４１の図示が省かれている。

【0064】

第三実施形態の抽出部３１００には、制御サイクル毎に光学センサ３０４０から外光画像Ｉｏｏが入力される。抽出部３１００は、図１５に示す如く外光画像Ｉｏｏにおいて注目する注目物体Ｏａを、少なくとも一つ抽出する。尚、注目物体Ｏａの具体的抽出機能は、抽出部３１００により第二実施形態に準じて実現される。

【0065】

こうした第三実施形態による洗浄制御方法のフローでは、図１６に示すように、Ｓ３０１において抽出部３１００が、注目する注目物体Ｏａを外光画像Ｉｏｏから抽出する。尚、Ｓ３０１後のＳ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４は、第二実施形態に準じて実行される。以上より本フローでは、Ｓ３０１が抽出工程に相当し、Ｓ２０２，Ｓ２０３，Ｓ２０４が制御工程に相当する。

【0066】

（作用効果）
以上説明した第三実施形態の作用効果を、以下に説明する。

【0067】

第三実施形態によると、反射光強度ｉｒを取得する光照射の停止中に外光強度に応じて光学センサ３０４０により取得される外光画像Ｉｏｏにおいては、注目する注目物体Ｏａが抽出される。こうして抽出される注目物体Ｏａから光照射によって光学センサ３０４０が取得する反射光強度ｉｒの変化量δｉは、許容範囲外となる場合、光学センサ３０４０の入射面３３ｏにおいて付着した汚れＤｏ（図１５参照）に対応すると正確に推定され得る。故に、推定の結果として汚れＤｏの洗浄制御が洗浄系５に指令されることによれば、当該洗浄制御の適正度を高めることが可能となる。

【0068】

第三実施形態のように光学センサ３０４０により取得される場合の反射光画像Ｉｏｒにおいては、同センサ３０４０により取得される外光画像Ｉｏｏから抽出の注目物体Ｏａに対応する画素を、正確に特定し易くなる。これによれば、反射光画像Ｉｏｒにおいて注目物体Ｏａに対応する画素での反射光強度ｉｒの変化量δｉが許容範囲外となった場合に、当該許容範囲外変化量δｉとの対応が推定される汚れＤｏの洗浄を、適正に指令して制御することが可能となる。

【0069】

第三実施形態によると、光学センサ３０４０において外光強度と同一素子４０１によりセンシングされた、注目物体Ｏａからの反射光強度ｉｒの変化量δｉは、それら強度センシング間での軸ズレに起因して許容範囲外となる事態を、抑止され得る。故に、許容範囲外変化量δｉに対応すると推定される汚れの洗浄を、適正に指令して制御することが可能となる。

【0070】

（他の実施形態）

【0071】

以上、複数の実施形態について説明したが、本開示は、それらの実施形態に限定して解釈されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態及び組み合わせに適用することができる。

【0072】

変形例において洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、車両２との間にて通信可能な少なくとも一つの外部センターコンピュータであってもよい。変形例において洗浄制御装置１を構成する専用コンピュータは、デジタル回路及びアナログ回路のうち、少なくとも一方をプロセッサとして含んでいてもよい。ここでデジタル回路とは、例えばＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、ＳＯＣ（System on a Chip）、ＰＧＡ（Programmable Gate Array）及びＣＰＬＤ（Complex Programmable Logic Device）等のうち、少なくとも一種類である。またこうしたデジタル回路は、プログラムを格納したメモリを、有していてもよい。

【0073】

変形例において入射面３３ｏを形成する透光カバー３２は、光学センサ４０，２０４０，３０４０に設けられていてもよい。変形例において入射面３３ｏは、光学センサ４０，２０４０，３０４０における例えばレンズ等の光学部材により、形成されていてもよい。変形例において入射面３３ｃを形成する透光カバー３２は、センシングカメラ４１に設けられていてもよい。変形例において入射面３３ｃは、センシングカメラ４１における例えばレンズ等の光学部材により、形成されていてもよい。

【符号の説明】

【0074】

１：洗浄制御装置、２：車両、５：洗浄系、１２：プロセッサ、３３ｃ，３３ｏ：入射面、４０，２０４０，３０４０：光学センサ、４１：センシングカメラ、１００，２１００，３１００：抽出部、１２０，２１２０：制御部、Ａｃ，Ａｏ：センシング領域、Ｉｃ：カメラ画像、Ｉｏｏ：外光画像、Ｉｏｒ：反射光画像、ｉｒ：反射光強度、Ｐｃ，Ｐｏ：画素群、δｉ：変化量

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】