特許7463632光学式粒子分析計のための較正検証

発明の名称　光学式粒子分析計のための較正検証

出願人　パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド　（識別番号 506061299）

　　　　特許公開件数ランキング 14682 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 4182 位（1件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7463632

公報発行日　2024年4月9

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7463632

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