特許 7466399 光測定装置およびロボット

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-04-04

(45)【発行日】2024-04-12

(54)【発明の名称】光測定装置およびロボット

(51)【国際特許分類】

   G01S 7/481 20060101AFI20240405BHJP

   G21F 7/06 20060101ALI20240405BHJP

   G21F 3/00 20060101ALI20240405BHJP

【ＦＩ】

G01S7/481 A

G21F7/06 M

G21F3/00 L

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2020129330

(22)【出願日】2020-07-30

(65)【公開番号】P2022026051

(43)【公開日】2022-02-10

【審査請求日】2023-01-16

(73)【特許権者】

【識別番号】000006208

【氏名又は名称】三菱重工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110002147

【氏名又は名称】弁理士法人酒井国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】小島 弘義

(72)【発明者】

【氏名】藤田 淳

(72)【発明者】

【氏名】松原 和輝

【審査官】山下 雅人

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１６－２１９２５８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００８－０７６３７０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０４－１８８０９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－２２８１９５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１８－０１３３７０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特表平０８－５０９９２４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２１－１７７１３７（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２００８／０１５１２６４（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特開２０１８－１８０２５７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１５－１５２５４８（ＪＰ，Ａ）

【文献】国際公開第２０１６／１１７０６０（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特開昭６１－０８８１９７（ＪＰ，Ａ）

【文献】韓国登録特許第１０－１９３６９２８（ＫＲ，Ｂ１）

【文献】特開２００１－１４１４２９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０６－３００５３２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００２－１８１５１１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｓ ７／４８－ ７／５１

Ｇ０１Ｓ１７／００－１７／９５

Ｇ０１Ｃ ３／０６－ ３／０８

Ｇ０１Ｂ１１／００－１１／３０

Ｇ２１Ｆ １／００－ ７／０６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

光源を有する光測定器と、
前記光測定器を載置する載置部と、
放射線を遮蔽するもので前記光測定器を載置する領域を覆うように前記載置部から筒状に立ち上がり当該筒状の上部が閉塞して構成され、前記筒状の周方向に開口部を有する遮蔽体と、
第一反射体および第二反射体からなる反射体と、
を備え、
前記第一反射体は、前記遮蔽体の内部において前記光測定器を周方向で囲むように形成され、自身の反射面が前記光測定器の前記光源に向くと共に前記第二反射体の反射面に向くように傾斜して設けられ、
前記第二反射体は、前記遮蔽体の内部において前記開口部の内側で周方向に沿って形成され、前記第一反射体で反射した前記光源からの光を前記開口部を介して前記遮蔽体の外部に照射し、かつ前記光測定器が照射した光が散乱した光を前記開口部を介して前記第一反射体に照射するように、自身の反射面が前記開口部を介して前記遮蔽体の外側に向くと共に前記第一反射体の反射面に向くように傾斜して設けられる、
光測定装置。

【請求項2】

前記第一反射体は、前記反射面が逆円錐状に形成され、
前記第二反射体は、前記反射面が円錐状に形成される、
請求項１に記載の光測定装置。

【請求項3】

光源を周方向に移動可能にする光測定器と、
前記光測定器を載置する載置部と、
放射線を遮蔽するもので前記光測定器を載置する領域を覆うように前記載置部から筒状に立ち上がり当該筒状の上部が閉塞して構成され、前記筒状の周方向に連続または断続して開口部を有する遮蔽体と、
第一反射体および第二反射体からなる反射体と、
を備え、
前記第一反射体は、前記遮蔽体の内部において前記光測定器を周方向で連続して囲むように環状に形成され、環状の自身の反射面が前記光測定器の前記光源に向くと共に前記第二反射体の反射面に向くように傾斜して逆円錐状に形成され、
前記第二反射体は、前記遮蔽体の内部において前記開口部の内側で周方向に連続して環状に形成され、前記第一反射体で反射した前記光源からの光を前記開口部を介して前記遮蔽体の外部に照射し、かつ前記光測定器が照射した光が散乱した光を前記開口部を介して前記第一反射体に照射するように、環状の自身の反射面が前記開口部を介して前記遮蔽体の外側に向くと共に前記第一反射体の反射面に向くように傾斜して円錐状に形成される、
光測定装置。

【請求項4】

前記放射線は、γ線である、請求項１から３のいずれか１項に記載の光測定装置。

【請求項5】

各前記反射体は、鏡である、請求項１から４のいずれか１項に記載の光測定装置。

【請求項6】

前記載置部に載置された前記光測定器と各前記反射体との相対位置である位置情報を取得し、前記光測定器が検出した光から取得された座標情報を前記位置情報に基づき補正する補正制御部を有する、請求項１から５のいずれか１項に記載の光測定装置。

【請求項7】

前記光測定器は、前記光源がレーザからなる、請求項１から６のいずれか１項に記載の光測定装置。

【請求項8】

請求項１から７のいずれか１項に記載の光測定装置を備える、ロボット。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、光測定器支持装置、光測定装置およびロボットに関する。

【背景技術】

【0002】

例えば、特許文献１に記載の放射線画像撮像装置は、光電変換撮像素子が放射線に暴露されることでの損傷を防ぎ、かつカメラ装置の交換による不経済の問題を解決することを目的としている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】国際公開第２００６／０４９１８３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上述した特許文献１は、放射線を利用した画像撮像装置であるが、作業を行う環境が放射線環境下である場合も電子機器が放射線により損傷することを防止することが望まれている。具体的には、対象物の位置を光により測定する場合、投受光部が電子機器で構成されていることから、当該電子機器を放射線から保護しつつ、測定を行うことが望まれている。

【0005】

本開示は、上述した課題を解決するものであり、電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことのできる、光測定器支持装置、光測定装置およびロボットを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上述の目的を達成するために、本開示の一態様に係る光測定器支持装置は、光測定器を載置する載置部と、放射線を遮蔽する遮蔽体と、前記載置部に載置された前記光測定器が照射しかつ検出する光を前記遮蔽体を避けて反射により導く反射体と、を備える。

【0007】

上述の目的を達成するために、本開示の一態様に係る光測定装置は、光により測定を行う光測定器と、当該光測定器を支持する上述した光測定器支持装置と、を備える。

【0008】

上述の目的を達成するために、本開示の一態様に係るロボットは、上述した光測定装置を備える。

【発明の効果】

【0009】

本開示によれば、光測定器の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】図１は、実施形態１の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【図2】図２は、実施形態１の光測定器支持装置の機能を示すブロック図である。

【図3】図３は、実施形態１の光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。

【図4】図４は、実施形態１のロボットを示す概略図である。

【図5】図５は、実施形態１のロボットの他の形態を示す概略図である。

【図6】図６は、実施形態２の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【図7】図７は、実施形態３の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【図8】図８は、図７に示す光測定器支持装置の機能を示すブロック図である。

【図9】図９は、図７に示す光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。

【図10】図１０は、実施形態４の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【図11】図１１は、図１０に示す光測定器支持装置の機能を示すブロック図である。

【図12】図１２は、図１０に示す光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0011】

以下に、本開示に係る実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が置換可能かつ容易なもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。

【0012】

［実施形態１］
図１は、実施形態１の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【0013】

図１に示す光測定器支持装置１は、放射線環境下で光Ｌにより測定を行う光測定器１００を支持するものである。放射線環境とは、実施形態では、主にγ線が放射されている環境をいう。また、光測定器１００は、光Ｌを照射し、この光Ｌが対象物Ｐに当たった散乱光を検出することで対象物Ｐまでの距離や形状などを測定する。例えば、光測定器１００は、ライダー（ＬＩＤＡＲ：Light Detection And Ranging）である。本実施形態において、光測定器１００が照射する光Ｌの光源は、レーザが好ましい。レーザの他の光源として、可視光や、赤外線や、紫外線を照射するものであってもよく、測定する対象物Ｐにより選択する。なお、図１に示す実施形態の光測定器１００は、円柱形状に形成された本体に対して複数の光源を周方向に並べて配置した構成、または、円柱形状に形成された本体に対して１つの光源を周方向に移動可能に配置した構成とされている。

【0014】

光測定器支持装置１は、載置部２と、遮蔽体３と、反射体４と、を有する。

【0015】

載置部２は、上記光測定器１００を載置する部分であり、光測定器１００が動かないように固定する部分である。載置部２は、光測定器１００の底部を支持する板状に形成されている。載置部２は、光測定器１００の底部を嵌合する凹部を有していてもよい。載置部２は、光測定器１００をネジなどにより固定してもよい。載置部２は、光測定器１００の着脱を可能に設けられている。

【0016】

遮蔽体３は、光測定器１００を載置する載置部２の少なくとも一部を放射線から遮蔽または低減する。遮蔽体３は、光測定器１００を載置する領域Ａを覆うように、載置部２に設けられている。遮蔽体３は、板状の載置部２から筒状に立ち上がり、筒状の上部が閉塞して構成されている。遮蔽体３は、光測定器１００を領域Ａから出し入れをできるように載置部２から着脱可能に設けられている。または、遮蔽体３は、筒状の上部が閉塞した部分は、光測定器１００の領域Ａからの出し入れをできるように筒状の部分から着脱可能に設けられている。遮蔽体３は、載置部２と共に容器を形成し、この容器の内部が光測定器１００を載置する領域Ａとなる。遮蔽体３と載置部２は、光測定器１００を収容するケースとして構成される。遮蔽体３と載置部２は、放射線を透過しない、または放射線の透過を抑える部材からなる。部材としては、例えば、鉛などの金属、コンクリート、水が内部に貯められた壁体などがある。このように、遮蔽体３は、光測定器１００を載置する載置部２の周りを覆って放射線を遮蔽または低減する。

【0017】

また、遮蔽体３は、開口部５を有する。開口部５は、載置部２に載置される光測定器１００に対し、載置部２の周りを囲んだ外側から直線方向において光測定器１００を見ることができない位置に形成されている。従って、開口部５は、載置部２に載置される光測定器１００に放射線が照射されないように開口し、光測定器１００を載置する領域Ａの内外に通じて形成されている。開口部５は、筒状の遮蔽体３の周方向に連続または断続して設けられている。

【0018】

反射体４は、この実施形態では、光測定器１００を載置する領域Ａの内部に設けられている。反射体４は、図１に破線で示すように、載置部２に載置された光測定器１００が照射した光Ｌを遮蔽体３を避けて開口部５から領域Ａの外部に反射して導く。また、反射体４は、対象物Ｐで散乱した光Ｌを載置部２に載置された光測定器１００が検出できるように、検出する光Ｌを遮蔽体３を避けて開口部５から領域Ａの内部に反射して導く。

【0019】

反射体４は、光Ｌを反射させるもので、鏡であることが好ましい。反射体４は、本実施形態では複数（２つ）設けられている。１つの反射体４Ａは、光測定器１００を周方向で連続して囲むように環状に形成されている。反射体４Ａは、光測定器１００の図示しない光源からの光Ｌの照射方向および検出する光Ｌの照射方向に対して反射面４Ａａを傾斜させて形成されている。本実施形態では、反射体４Ａは、光測定器１００を周方向で囲む環状の反射面４Ａａが、光測定器１００に向くと共に開口部５のある上方に向くように傾斜して、逆円錐状（すり鉢状）に形成されている。もう１つの反射体４Ｂは、反射体４Ａの上方であって開口部５の内側（領域Ａの内部）に設けられ、周方向に連続して囲むように環状に形成されている。反射体４Ｂは、反射体４Ａで反射した光Ｌを開口部５を介して領域Ａの外部に照射するように、かつ光測定器１００が照射した光Ｌが散乱した光Ｌを開口部５を介して領域Ａの内部の反射体４Ａに照射するように、反射面４Ｂａを傾斜させて形成されている。本実施形態では、反射体４Ｂは、開口部５の内側において環状の反射面４Ｂａが、開口部５を介して領域Ａの外側に向くと共に反射体４Ａのある下方に向くように傾斜して、円錐状に形成されている。このように、反射体４は、複数の反射体４Ａ，４Ｂにより、光測定器１００の光Ｌを複数回屈折させて遮蔽体３を避けて導く。

【0020】

図２は、実施形態１の光測定器支持装置１の機能を示すブロック図である。

【0021】

図２に示すように、光測定器支持装置１は、補正制御部を構成する制御部６と、記憶部７と、出力部８と、を有する。制御部６は、例えば、コンピュータであり、図には明示しないが、ＣＰＵ（Central Processing Unit）のようなマイクロプロセッサを含む演算処理装置などにより実現される。制御部６は、載置部２に載置された光測定器１００が検出した光Ｌから対象物Ｐの座標情報を取得する。記憶部７は、制御部６が取得する各種情報が記憶される。記憶部７は、載置部２に載置された光測定器１００と反射体４との相対位置である位置情報が記憶される。よって、制御部６は、記憶部７から位置情報を取得する。出力部８は、制御部６で処理された処理情報を出力する。出力部８は、例えば、図には明示しない制御装置に接続されている。制御装置は、例えば、コンピュータであり、後述するロボット６０，７０を制御する。本実施形態の光測定器支持装置１では、制御部６は、載置部２に載置された光測定器１００と反射体４との相対位置である位置情報を取得し、光測定器１００が検出した光Ｌから取得された座標情報を位置情報に基づき補正し、出力部８により出力する補正制御部を構成する。

【0022】

図３は、実施形態１の光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。

【0023】

図３に示すように、制御部（補正制御部）６は、載置部２に載置された光測定器１００が検出した光Ｌから対象物Ｐの座標情報を取得する（ステップＳ１）。次に、制御部６は、記憶部７から位置情報を取得する（ステップＳ２）。次に、制御部６は、座標情報を位置情報に基づき補正する（ステップＳ３）。次に、制御部６は、補正した座標情報を出力部８により出力する（ステップＳ４）。

【0024】

このような、光測定器１００を載置する構成が光測定器支持装置１であり、この光測定器支持装置１に光測定器１００が載置された構成が光測定装置５０である。

【0025】

図４は、実施形態１のロボットを示す概略図である。図５は、実施形態１のロボットの他の形態を示す概略図である。

【0026】

上述した光測定器支持装置１および光測定装置５０は、図４に示すロボット６０や、図５に示すロボット７０に用いることができる。

【0027】

図４に示すロボット６０は、基部６１にマニピュレータ６２が取り付けられたものである。光測定器支持装置１および光測定装置５０は、基部６１に取り付けられる。光測定装置５０は、マニピュレータ６２が掴む対象物Ｐまでの距離や対象物Ｐの形状を測定する。ロボット６０は、この光測定装置５０からの座標情報に基づいて対象物Ｐを掴んだり運んだりすることができる。また、光測定装置５０は、マニピュレータ６２が作業を行う際に邪魔になる障害物である対象物Ｐまでの距離や対象物Ｐの形状を測定する。ロボット６０は、この光測定装置５０からの座標情報に基づいて障害物である対象物Ｐを避けて作業を行うことができる。

【0028】

図５に示すロボット７０は、基部７１に走行装置７２が取り付けられたものである。光測定器支持装置１および光測定装置５０は、基部７１に取り付けられる。光測定装置５０は、ロボット７０が走行する目的の対象物Ｐまでの距離や対象物Ｐの形状を測定する。ロボット７０は、この光測定装置５０からの座標情報に基づいて対象物Ｐまで走行することができる。また、光測定装置５０は、ロボット７０が走行する際に邪魔になる障害物である対象物Ｐまでの距離や対象物Ｐの形状を測定する。ロボット７０は、この光測定装置５０からの座標情報に基づいて障害物である対象物Ｐを避けて走行することができる。

【0029】

このように、実施形態１の光測定器支持装置１は、光測定器１００を載置する載置部２と、放射線を遮蔽する遮蔽体３と、載置部２に載置された光測定器１００が照射しかつ検出する光Ｌを遮蔽体３を避けて反射により導く反射体４と、を備える。

【0030】

この光測定器支持装置１は、載置部２に載置した光測定器１００に対して遮蔽体３により放射線を遮蔽し、光測定器１００への放射線の影響を防ぐ。また、この光測定器支持装置１は、反射体４により、光測定器１００が照射したり検出したりする光Ｌを遮蔽体３を避けて導くため、光測定器１００による計測動作を可能とする。この結果、光測定器支持装置１によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0031】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、放射線は、γ線である。従って、この光測定器支持装置１によれば、載置部２に載置した光測定器１００に対して遮蔽体３でγ線を遮蔽し、光測定器１００の電子機器をγ線から保護できる。

【0032】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、反射体４は、鏡である。従って、この光測定器支持装置１によれば、放射線を反射させることなく、光測定器１００の光Ｌを反射させることで、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0033】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、反射体４を複数有する。従って、この光測定器支持装置１によれば、光測定器１００の光Ｌを複数回の屈折により遮蔽体３を避けつつ、遮蔽体３による放射線の遮蔽効果を確保できる。

【0034】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、載置部２に載置された光測定器１００と反射体４との相対位置である位置情報を取得し、光測定器１００が検出した光Ｌから取得された座標情報を位置情報に基づき補正する制御部（補正制御部）６を有する。従って、この光測定器支持装置１によれば、反射体４による光Ｌの屈折に伴う座標のずれを補正し、正確な測定を実現できる。

【0035】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、遮蔽体３は、載置部２の周りを覆った一部に開口部５を有し、反射体４は、開口部５を介して光測定器１００が照射しかつ検出する光Ｌを遮蔽体３を避けて反射により導く。従って、この光測定器支持装置１によれば、遮蔽体３で載置部２の周りを覆い、その一部に開口部５を設けて、開口部５を介して反射体４により光Ｌを導くため、光測定器１００の電子機器をあらゆる方向において放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0036】

また、実施形態１の光測定器支持装置１では、反射体４は、反射面４Ａａ，４Ｂａが円錐状または逆円錐状に形成されている。従って、この光測定器支持装置１によれば、光測定器１００を中央に置いて周方向に光Ｌを導くため、周方向で測定を行うことができる。

【0037】

また、実施形態１の光測定装置５０は、光Ｌにより測定を行う光測定器１００と、光測定器１００を支持する上述した光測定器支持装置１と、を備える。

【0038】

この光測定装置５０によれば、載置部２に載置した光測定器１００に対して遮蔽体３により放射線を遮蔽し、放射線環境下において光測定器１００への放射線の影響を防ぐ。この光測定装置５０によれば、反射体４により、光測定器１００が照射したり検出したりする光Ｌを遮蔽体３を避けて導くため、光測定器１００による計測動作を可能とする。この結果、本実施形態の光測定装置５０によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0039】

また、実施形態１の光測定装置５０では、光測定器１００は、光源を複数有する。従って、この光測定装置５０によれば、広範囲にわたって測定を実施できる。

【0040】

また、実施形態１の光測定装置５０では、光測定器１００は、光源がレーザからなる。従って、この光測定装置５０によれば、レーザ光による測定により、高精度な測定を実施できる。

【0041】

また、実施形態１のロボット６０，７０は、上述した光測定装置５０を備える。

【0042】

このロボット６０，７０によれば、放射線環境下において、作業対象となる対象物Ｐや、障害物となる対象物Ｐを測定しつつ、作業を実施できる。

【0043】

［実施形態２］
図６は、実施形態２の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【0044】

図６に示す光測定器支持装置１０１は、放射線（γ線）環境下で光Ｌにより測定を行う光測定器１００を支持するものである。光測定器１００については実施形態１で説明したとおりである。

【0045】

光測定器支持装置１０１は、載置部１２と、遮蔽体１３と、反射体１４と、を有する。

【0046】

載置部１２は、上記光測定器１００を載置する部分であり、実施形態１で説明した載置部２に相当する。

【0047】

遮蔽体１３は、実施形態１で説明した遮蔽体３に相当し、光測定器１００を載置する載置部２の少なくとも一部を放射線から遮蔽または低減する。遮蔽体１３は、載置部１２に設けられている。遮蔽体１３は、載置部１２と一体に構成され、載置部１２から板状をなして立ち上がって構成されている。遮蔽体１３と載置部１２は、放射線を透過しない、または放射線の透過を抑える部材からなる。部材としては、例えば、鉛などの金属、コンクリート、水が内部に貯められた壁体などがある。このように、遮蔽体１３は、載置部１２に載置される一部において放射線を遮蔽または低減する。

【0048】

反射体１４は、実施形態１で説明した反射体４に相当し、この実施形態では、載置部１２に載置される光測定器１００と遮蔽体１３との間から外れた位置で載置部１２に設けられている。反射体１４は、図６に破線で示すように、載置部１２に載置された光測定器１００が照射した光Ｌを遮蔽体１３を避けて反射して導く。また、反射体１４は、対象物Ｐで拡散した光Ｌを載置部１２に載置された光測定器１００が検出できるように、検出する光Ｌを遮蔽体１３を避けて反射して導く。反射体１４は、光Ｌを反射させるもので、鏡であることが好ましい。反射体１４は、本実施形態では図６中１つであるが複数設けられていてもよい。

【0049】

このような、光測定器１００を載置する構成が光測定器支持装置１０１であり、この光測定器支持装置１０１に光測定器１００が載置された構成が光測定装置１５０である。

【0050】

このように、実施形態２の光測定器支持装置１０１は、光測定器１００を載置する載置部１２と、載置部１２の少なくとも一部で放射線を遮蔽する遮蔽体１３と、載置部１２に載置された光測定器１００が照射しかつ検出する光Ｌを遮蔽体３を避けて反射により導く反射体１４と、を備える。

【0051】

この光測定器支持装置１０１は、載置部１２に載置した光測定器１００に対して遮蔽体１３により放射線を遮蔽し、光測定器１００への放射線の影響を防ぐ。また、この光測定器支持装置１０１は、反射体１４により、光測定器１００が照射したり検出したりする光Ｌを遮蔽体１３を避けて導くため、光測定器１００による計測動作を可能とする。この結果、光測定器支持装置１０１によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0052】

その他、実施形態２の光測定器支持装置１０１は、実施形態１と同様の構成により、同様の効果が得られる。

【0053】

また、実施形態２の光測定装置１５０は、光Ｌにより測定を行う光測定器１００と、光測定器１００を支持する上述した光測定器支持装置１０１と、を備える。従って、この光測定装置１５０によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0054】

また、実施形態２の光測定装置１５０は、実施形態１で説明したロボット６０，７０に適用できる。従って、このロボット６０，７０によれば、放射線環境下において、作業対象となる対象物Ｐや、障害物となる対象物Ｐを測定しつつ、作業を実施できる。

【0055】

［実施形態３］
図７は、実施形態３の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【0056】

図７に示す光測定器支持装置２０１は、放射線（γ線）環境下で光Ｌにより測定を行う光測定器１００を支持するものである。光測定器１００については実施形態１で説明したとおりである。また、図７に示す光測定器支持装置２０１は、実施形態２で説明した光測定器支持装置１０１に対し、反射体２４の構成が異なり、それ以外は同等の構成である。従って、実施形態３の説明において、実施形態２と同等の構成および作用効果については同一の符号を付して説明を省略する。

【0057】

反射体２４は、実施形態２で説明した反射体１４に相当し、載置部１２に載置される光測定器１００と遮蔽体１３との間から外れた位置で載置部１２に設けられている。反射体２４は、図７に破線で示すように、載置部１２に載置された光測定器１００が照射した光Ｌを遮蔽体１３を避けて反射して導く。また、反射体２４は、対象物Ｐで拡散した光Ｌを載置部１２に載置された光測定器１００が検出できるように、検出する光Ｌを遮蔽体１３を避けて反射して導く。反射体２４は、光Ｌを反射させるもので、鏡であることが好ましい。反射体２４は、本実施形態では図７中１つであるが複数設けられていてもよい。

【0058】

本実施形態の光測定器支持装置２０１は、反射体２４の反射面２４ａの位置を変更する反射体可動部９を有する。反射体可動部９は、例えば、多軸の関節部を有するマニピュレータを適用できる。

【0059】

図８は、図７に示す光測定器支持装置の機能を示すブロック図である。

【0060】

図８に示すように、光測定器支持装置２０１は、実施形態１で説明した補正制御部を構成する共に、反射体可動制御部を構成する制御部１６と、記憶部７と、出力部８と、を有する。制御部１６は、例えば、コンピュータであり、図には明示しないが、ＣＰＵ（Central Processing Unit）のようなマイクロプロセッサを含む演算処理装置などにより実現される。補正制御部については、実施形態１と同様であり説明を省略する。制御部１６は、載置部１２に載置された光測定器１００が検出した光Ｌから対象物Ｐの座標情報を取得する。制御部１６は、例えば取得した座標情報から、図７に示すように、光Ｌの照射範囲外にも対象物Ｐが連続してあり得る場合、対象物Ｐの他の位置の座標情報を取得するため、反射体可動部９を制御し、反射体２４の反射面２４ａの位置を変更する。従って、本実施形態の光測定器支持装置２０１では、制御部１６は、光測定器１００から取得した座標情報に基づき反射体可動部９を制御する反射体可動制御部を構成する。

【0061】

図９は、図７に示す光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。図９において、ステップＳ１１からステップＳ１４については、実施形態１で説明した図３のフローチャートのステップＳ１からステップＳ４と同様であり、説明を省略する。そして、図９に示すように、ステップＳ１４の後、制御部１６は、対象物Ｐの他の位置の座標情報を取得するため、追加座標が必要の場合（ステップＳ１５：Ｙｅｓ）、反射体可動部９を制御して反射体２４の反射面２４ａの位置を変更し（ステップＳ１６）、再びステップＳ１１からステップＳ１４の制御を行う。また、ステップＳ１５において、追加座標が必要でない場合（ステップＳ１５：Ｎｏ）は、本制御を終了する。

【0062】

このような、光測定器１００を載置する構成が光測定器支持装置２０１であり、この光測定器支持装置２０１に光測定器１００が載置された構成が光測定装置２５０である。

【0063】

このように、実施形態３の光測定器支持装置２０１は、反射体２４の反射面２４ａの位置を変更する反射体可動部９と、光測定器１００から取得した座標情報に基づき反射体可動部９を制御する制御部（反射体可動制御部）１６と、を有する。

【0064】

この光測定器支持装置２０１によれば、必要に応じて反射体２４の反射面２４ａの位置を変更することで、測定範囲を拡張できる。

【0065】

その他、実施形態３の光測定器支持装置２０１は、実施形態１－２と同様の構成により、同様の効果が得られる。

【0066】

また、実施形態３の光測定装置２５０は、光Ｌにより測定を行う光測定器１００と、光測定器１００を支持する上述した光測定器支持装置２０１と、を備える。従って、この光測定装置２５０によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができ、かつ測定範囲を拡張できる。

【0067】

また、実施形態３の光測定装置２５０は、実施形態１で説明したロボット６０，７０に適用できる。従って、このロボット６０，７０によれば、放射線環境下において、作業対象となる対象物Ｐや、障害物となる対象物Ｐを測定しつつ、作業を実施でき、かつ測定範囲を拡張できる。

【0068】

［実施形態４］
図１０は、実施形態４の光測定器支持装置および光測定装置を示す概略図である。

【0069】

図１０に示す光測定器支持装置３０１は、放射線（γ線）環境下で光Ｌにより測定を行う光測定器１００を支持するものである。光測定器１００については実施形態１で説明したとおりである。また、図１０に示す光測定器支持装置３０１は、実施形態３で説明した光測定器支持装置２０１に対し、遮蔽体３３の構成が異なり、それ以外は同等の構成である。従って、実施形態４の説明において、実施形態２，３と同等の構成および作用効果については同一の符号を付して説明を省略する。

【0070】

遮蔽体３３は、実施形態２で説明した遮蔽体１３に相当し、光測定器１００を載置する載置部１２の少なくとも一部を放射線から遮蔽または低減する。遮蔽体３３は、載置部１２に設けられている。遮蔽体３３は、載置部１２から板状をなして立ち上がって構成されている。遮蔽体３３と載置部１２は、放射線を透過しない、または放射線の透過を抑える部材からなる。部材としては、例えば、鉛などの金属、コンクリート、水が内部に貯められた壁体などがある。このように、遮蔽体３３は、載置部１２に載置される一部において放射線を遮蔽または低減する。

【0071】

本実施形態の光測定器支持装置３０１は、遮蔽体３３の位置を変更する遮蔽体可動部１０を有する。遮蔽体可動部１０は、例えば、載置部１２に設けられたレールに沿って遮蔽体３３に固定されたスライダを移動させる駆動部により構成できる。

【0072】

図１１は、図１０に示す光測定器支持装置の機能を示すブロック図である。

【0073】

図１１に示すように、光測定器支持装置３０１は、実施形態１で説明した補正制御部と、実施形態３で説明した反射体可動制御部を構成する共に、遮蔽体可動制御部を構成する制御部２６と、記憶部７と、出力部８と、放射線検出部１１と、を有する。制御部２６は、例えば、コンピュータであり、図には明示しないが、ＣＰＵ（Central Processing Unit）のようなマイクロプロセッサを含む演算処理装置などにより実現される。補正制御部については、実施形態１と同様であり説明を省略する。また、反射体可動制御部についても、実施形態３と同様であり説明を省略する。放射線検出部１１は、載置部１２の周囲のγ線の放射線量を検出するもので、載置部１２の周囲において放射線量の高い方向を検出する。制御部２６は、放射線検出部１１により検出された放射線量の高い方向に基づき、この方向において、載置部１２に載置された光測定器１００の間に遮蔽体３３が配置されるように、遮蔽体可動部１０を制御して遮蔽体３３の位置を変更する。従って、本実施形態の光測定器支持装置３０１では、制御部２６は、放射線検出部１１から取得した放射線情報に基づき遮蔽体可動部１０を制御する遮蔽体可動制御部を構成する。

【0074】

図１２は、図１０に示す光測定器支持装置の動作を示すフローチャートである。図１２において、ステップＳ２６からステップＳ３１は、実施形態３で説明した図９のステップＳ１１からステップＳ１６と同様であり、説明を省略する。図１２に示すように、制御部２６は、放射線検出部１１から放射線情報を取得（ステップＳ２１）する。制御部２６は、この放射線情報に基づいて、遮蔽体３３の移動が必要である場合（ステップＳ２２：Ｙｅｓ）、即ち、放射線量の高い方向に対して載置部１２に載置された光測定器１００の間に遮蔽体３３が配置されていない場合は、遮蔽体可動部１０を制御して遮蔽体３３の位置を変更し（ステップＳ２３）、放射線量の高い方向に対して光測定器１００の間に遮蔽体３３を配置する。一方、ステップＳ２２において、遮蔽体３３の移動が必要でない場合（ステップＳ２２：Ｎｏ）は、ステップＳ２６に進む。また、ステップＳ２３の後、制御部２６は、反射体２４の移動が必要である場合（ステップＳ２４：Ｙｅｓ）、即ち、遮蔽体３３の位置変更に伴って遮蔽体３３を避けて光Ｌを導けない場合は、反射体可動部９を制御して反射体２４の反射面２４ａの位置を変更する（ステップＳ２５）。ステップＳ２５の後は、ステップＳ２６に進む。一方、ステップＳ２４において、反射体２４の移動が必要でない場合（ステップＳ２４：Ｎｏ）は、ステップＳ２６に進む。その後は、ステップＳ２６からステップＳ３１（実施形態３で説明した図９のステップＳ１１からステップＳ１６）の制御を行う。

【0075】

このような、光測定器１００を載置する構成が光測定器支持装置３０１であり、この光測定器支持装置３０１に光測定器１００が載置された構成が光測定装置３５０である。

【0076】

このように、実施形態４の光測定器支持装置３０１は、遮蔽体３３の位置を変更する遮蔽体可動部１０と、放射線を検出する放射線検出部１１と、放射線検出部１１から取得した放射線情報に基づき遮蔽体可動部１０を制御する制御部（遮蔽体可動制御部）２６と、を有する。

【0077】

この光測定器支持装置３０１によれば、必要に応じて遮蔽体３３の位置を変更することで、放射線の遮蔽を行い、光測定器１００の電子機器を放射線から保護できる。

【0078】

その他、実施形態４の光測定器支持装置３０１は、実施形態１－３と同様の構成により、同様の効果が得られる。

【0079】

また、実施形態４の光測定装置３５０は、光Ｌにより測定を行う光測定器１００と、光測定器１００を支持する上述した光測定器支持装置３０１と、を備える。従って、この光測定装置３５０によれば、光測定器１００の電子機器を放射線から保護しつつ測定を行うことができる。

【0080】

また、実施形態４の光測定装置３５０は、実施形態１で説明したロボット６０，７０に適用できる。従って、このロボット６０，７０によれば、放射線環境下において、作業対象となる対象物Ｐや、障害物となる対象物Ｐを測定しつつ、作業を実施できる。

【符号の説明】

【0081】

１，１０１，２０１，３０１ 光測定器支持装置
２，１２ 載置部
３，１３，３３ 遮蔽体
４（４Ａ，４Ｂ），１４，２４ 反射体
４Ａａ，４Ｂａ，２４ａ 反射面
５ 開口部
６ 制御部（補正制御部）
７ 記憶部
８ 出力部
９ 反射体可動部
１０ 遮蔽体可動部
１１ 放射線検出部
１６ 制御部（補正制御部，反射体可動制御部）
２６ 制御部（補正制御部，反射体可動制御部，遮蔽体可動制御部）
５０，１５０，２５０，３５０ 光測定装置
６０，７０ ロボット
１００ 光測定器

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】