特許 7468617 光測定方法、光測定装置、及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-04-08

(45)【発行日】2024-04-16

(54)【発明の名称】光測定方法、光測定装置、及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   A61B 5/107 20060101AFI20240409BHJP

   A61B 5/00 20060101ALI20240409BHJP

   A61B 10/00 20060101ALI20240409BHJP

   G01N 21/17 20060101ALI20240409BHJP

【ＦＩ】

A61B5/107 800

A61B5/107 700

A61B5/00 M

A61B10/00 E

G01N21/17 620

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2022507989

(86)(22)【出願日】2020-03-19

(86)【国際出願番号】 JP2020012428

(87)【国際公開番号】W WO2021186703

(87)【国際公開日】2021-09-23

【審査請求日】2022-08-19

(73)【特許権者】

【識別番号】000004237

【氏名又は名称】日本電気株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100103894

【弁理士】

【氏名又は名称】家入 健

(72)【発明者】

【氏名】赤川 武志

【審査官】▲高▼ 芳徳

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１６－０５４９８６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－０２３４７４（ＪＰ，Ａ）

【文献】国際公開第２０１５／０６０３７６（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特表２０１６－５２６９７８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－０００３８５（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ａ６１Ｂ ５／０６ － ５／２２

Ａ６１Ｂ ５／００

Ａ６１Ｂ １０／００

Ｇ０１Ｎ ２１／１７

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去するステップであって、
前記光干渉断層撮影法を用いる際に、光干渉計の測定器を、透過部を介して前記肌に対向させ、前記透過部が前記肌の最表面上に接触することにより、毛が前記肌の最表面上に延び、
前記第１の深さは、前記第１の平面画像が示す平面において、前記毛が平面上に延びる深さであり、
前記第２の深さは、前記第２の平面画像が示す平面において、前記毛が延びることが無く、シワが存在する深さであるステップと、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定するステップと、を含み、
前記毛穴の位置を特定するステップでは、
前記線を除去した第１の平面画像が示す線の太さを検出し、前記太さを検出した線の最も太い部分の位置により、前記毛穴の位置を特定する、
光測定方法。

【請求項2】

前記光干渉計の前記測定器を前記透過部を介して前記肌に対向させて、前記光干渉断層撮影法を用いることによって、前記透過部表面を示す透過部表面画像を取得するステップと、
前記第１の平面画像から前記透過部表面画像が示す線を除去するステップを含む、
ことを特徴とする請求項１に記載の光測定方法。

【請求項3】

前記毛穴の位置を特定するステップを行った後、前記毛穴の位置が特定された毛を三次元表示するステップを含む、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光測定方法。

【請求項4】

前記毛穴における毛の傾きに基づいて、前記毛穴を示す複数の断層面データを取得するステップと、を含む、
ことを特徴とする請求項１～３のいずれか１項に記載の光測定方法。

【請求項5】

前記第１の平面画像は、前記肌の表皮の表面を示す、
ことを特徴とする請求項１～４のいずれか１項に記載の光測定方法。

【請求項6】

前記第２の平面画像は、前記肌の表皮の内部における平面を示す、
ことを特徴とする請求項１～５のいずれか１項に記載の光測定方法。

【請求項7】

光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去する画像処理部と、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定する計測処理部と、
光干渉計の測定器と、を含み、
前記光干渉断層撮影法を用いる際に、前記光干渉計の測定器を、透過部を介して前記肌に対向させ、前記透過部が前記肌の最表面上に接触することにより、毛が前記肌の最表面上に延び、
前記第１の深さは、前記第１の平面画像が示す平面において、前記毛が平面上に延びる深さであり、
前記第２の深さは、前記第２の平面画像が示す平面において、前記毛が延びることが無く、シワが存在する深さであり、
前記計測処理部は、前記線を除去した第１の平面画像が示す線の太さを検出し、前記太さを検出した線の最も太い部分の位置により、前記毛穴の位置を特定する、
光測定装置。

【請求項8】

光測定装置として機能するコンピュータに、
光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去するステップであって、
前記光干渉断層撮影法を用いる際に、前記光測定装置に含まれる光干渉計の測定器を、透過部を介して前記肌に対向させ、前記透過部が前記肌の最表面上に接触することにより、毛が前記肌の最表面上に延び、
前記第１の深さは、前記第１の平面画像が示す平面において、前記毛が平面上に延びる深さであり、
前記第２の深さは、前記第２の平面画像が示す平面において、前記毛が延びることが無く、シワが存在する深さであるステップと、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定するステップと、を実行させ、
前記毛穴の位置を特定するステップでは、
前記線を除去した第１の平面画像が示す線の太さを検出し、前記太さを検出した線の最も太い部分の位置により、前記毛穴の位置を特定する、
プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、光測定方法、光測定装置、及び非一時的なコンピュータ可読媒体に関する。

【背景技術】

【0002】

光測定は、多種多様な技術であり、例えば、光超音波技術、共焦点顕微鏡、光干渉断層撮影等がある。この技術の一例として、特許文献１には、表面を有する被験者の皮膚の光干渉断層撮影（ＯＣＴ）スキャンを処理する方法が開示されている。当該方法は、被験者の皮膚を貫通する複数のスキャンを取得するステップを含む。複数のスキャンは、複数の平行面でユーザーの皮膚を貫通するスライスにおけるＯＣＴ信号を示すものである。複数のスキャンは、平行面に対して垂直な方向に互いにずれている。当該方法は、各スキャンにおける前記皮膚の表面の位置を決定するステップを含む。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特表２０１６－５２６９７８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかし、上記した方法では、毛と毛以外のものとを混同することによって、肌の表面において毛穴の位置を特定することができないことがあった。

【0005】

本開示の目的は、上述した課題を鑑み、毛穴の位置を特定することができる光測定方法、光測定装置、及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示の実施の形態の一つに係る光測定方法は、
光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去するステップと、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定するステップと、を含む。

【0007】

本開示の実施の形態の一つに係る光測定装置は、
光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去する画像処理部と、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定する計測処理部と、を含む。

【0008】

本開示の実施の形態の一つに係るプログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体は、
コンピュータに、
光干渉断層撮影法を用いることによって肌から取得された第１の三次元断層画像データにおいて第１の深さにおける第１の平面画像から、前記第１の深さよりも深い第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去するステップと、
前記線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定するステップと、を実行させる。

【発明の効果】

【0009】

本開示によれば、毛穴の位置を特定することができる光測定方法、光測定装置、及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】実施の形態にかかる光測定方法を示すフローチャートである。

【図2】実施の形態１にかかる光測定方法を示すフローチャートである。

【図3】実施の形態１にかかる光測定方法の一変形例を示すフローチャートである。

【図4】実施の形態２にかかる光測定方法を示すフローチャートである。

【図5】断層図の一例を示す模式図である。

【図6】肌の最表面の一例を示す模式図である。

【図7】肌の最表面から所定の深さにおける平面図の一例を示す模式図である。

【図8】透過部における測定器側表面の一例を示す模式図である。

【図9】シワに相当する線を除去した平面図の一例を示す模式図である。

【図10】異物に相当する線を除去した平面図の一例を示す模式図である。

【図11】残存した線の太さの測定方法を示す模式図である。

【図12】特定した毛穴の位置座標の測定方法を示す模式図である。

【図13】特定した毛穴を含む断層図の一例を示す模式図である。

【図14】光測定装置の制御ブロック図である。

【図15】肌の最表面とその断面との一例を示す模式図である。

【図16】光測定装置に含まれるハードウェア構成の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

以下、本発明を適用した具体的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。

【0012】

（実施の形態）
図１を参照して実施の形態にかかる光測定方法について説明する。図１は、実施の形態にかかる光測定方法を示すフローチャートである。

【0013】

第１の三次元断層画像データにおいて、第１の深さにおける第１の平面画像から、第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去する（ステップＳＴ１１）。

【0014】

第１の三次元断層画像データは、光干渉断層撮影法（OCT：Optical Coherence Tomography）を用いることによって、肌から取得される。この取得された第１の三次元断層画像データは、肌の最表面と当該肌の内部における複数の平面画像を含む。当該複数の平面画像は、第１の深さにおける第１の平面画像、及び第２の深さにおける第２の平面画像を含む。当該平面画像は、当該肌の最表面から所定の深さまでの、最表面と略平行な平面を示す。

【0015】

第２の深さは、第１の深さよりも深い。第１の深さは、第１の平面画像が示す平面において、毛が平面上に延びるような深さであるとよく、例えば、肌の最表面であるとよい。第１の平面画像が示す線は、毛、シワ、異物を示すことが多い。異物は、肌以外の構成物であり、例えば、ゴミ、埃、塵等が挙げられる。第２の深さは、第２の平面画像が示す平面において、毛が延びることが無く、シワが存在する深さであるとよい。第２の平面画像が示す線は、シワを示すことが多い。

【0016】

最後に、上記した線を除去した第１の平面画像から、毛穴の位置を特定する（ステップＳＴ１２）。

【0017】

以上より、シワを示す線を除去した第１の平面画像を取得することができる。よって、シワを毛と誤認するおそれを抑制して、毛穴の位置を特定することができる。また、細い毛等は、太い毛と比較して特定し難い傾向にある。このような太い毛は、肉眼で容易に確認できるものである。このような細い毛は、肉眼で確認し難いものであり、例えば、産毛等が挙げられる。よって、上記した実施の形態１にかかる光測定方法は、このような細い毛の位置を特定する用途に特に好ましい。

【0018】

（実施の形態１）
図２を参照して実施の形態１にかかる光測定方法について説明する。図２は、実施の形態１にかかる光測定方法を示すフローチャートである。

【0019】

光干渉断層撮影法を用いることによって、肌から第１の三次元断層画像データを取得する（ステップＳＴ２１）。

【0020】

続いて、第１の平面画像が示す線の太さを検出する（ステップＳＴ２２）。例えば、線の複数の部位の太さを検出してもよい。また、第１の平面画像が示す線の一端部の幅と、他端部の幅とを計測し、一端部の幅、及び他端部の幅を線の一端部の太さ、及び他端部の太さと認定してもよい。

【0021】

最後に、上記太さを検出した線の最も太い部分の座標を毛穴の位置と認定する（ステップＳＴ２３）。多くの場合、毛の毛根は、毛の先端部と比較して太い。一端部及び他端部のうち、太い方を毛根であると認定する。例えば、一端部が他端部よりも太い場合、一端部が毛根であると認定する。

【0022】

以上より、第１の平面画像から毛穴の位置を機械的に特定することができる。

【0023】

（一変形例）
なお、実施の形態１にかかる光測定方法の一変形例として、図３に示すフローチャートが示す光測定方法がある。当該光測定方法は、上記した実施の形態、及び上記した実施の形態１にかかる光測定方法の一部を組み合わせたものである。

【0024】

具体的には、ステップＳＴ２１と同様に、光干渉断層撮影法を用いることによって、肌から第１の三次元断層画像データを取得する（ステップＳＴ３１）。続いて、ステップＳＴ１１と同様に、第１の深さにおける第１の平面画像から、第２の深さにおける第２の平面画像が示す線を除去する（ステップＳＴ３２）。続いて、ステップＳＴ２２と同様に、第１の平面画像が示す線の太さを検出する（ステップＳＴ３３）。最後に、ステップＳＴ２３と同様に、上記太さを検出した線の最も太い部分の座標を毛穴の位置と認定する（ステップＳＴ３４）。

【0025】

以上より、シワを毛と誤認するおそれを抑制して、毛穴の位置を機械的に特定することができる。

【0026】

（実施の形態２）
図４～図１３を参照して実施の形態２にかかる光測定方法について説明する。図４は、実施の形態２にかかる光測定方法を示すフローチャートである。図５～図１３に示す図は、一例であり、実施の形態２にかかる光測定方法を限定するものでないことに留意する。

【0027】

図５は、断層図の一例を示す模式図である。図６は、肌の最表面の一例を示す模式図である。図７は、肌の最表面から所定の深さにおける平面図の一例を示す模式図である。図８は、透過部における測定器側表面の一例を示す模式図である。図９は、シワに相当する線を除去した平面図の一例を示す模式図である。図１０は、異物に相当する線を除去した平面図の一例を示す模式図である。図１１は、残存した線の太さの測定方法を示す模式図である。図１２は、特定した毛穴の位置座標の測定方法を示す模式図である。図１３は、特定した毛穴を含む断層図の一例を示す模式図である。また、図１３は、見やすさのため、ハッチングを省略した。

【0028】

なお、当然のことながら、図５及びその他の図面に示した右手系ｘｙｚ座標は、構成要素の位置関係を説明するための便宜的なものである。通常、ｚ軸プラス向きが鉛直上向き、ｘｙ平面が水平面であり、図面間で共通である。

【0029】

光干渉断層撮影法を用いることによって、肌から第１の三次元断層画像データを取得する（ステップＳＴ４１）。第１の三次元断層画像データは、所定の深さにおける各平面を示す画像データである。このような画像データは、例えば、第１の深さにおける第１の平面Ｂ１、第２の深さにおける第２の平面Ｂ２を示す画像データを含む。また、このような画像データの複数に基づいて、断層図を生成することができる。

【0030】

図５を参照して、断層図の一例である断層図Ａ１について説明する。図５に示すように、断層図Ａ１は、皮膚ＳＫ１と、透過部Ｔ１１と、空間ＳＰ１とを示す。透過部Ｔ１１は、皮膚ＳＫ１の上に接触しており、空間ＳＰ１が透過部Ｔ１１の上に広がる。空間ＳＰ１の上方（ここでは、Ｚ軸方向プラス側）に測定器(図示略)が配置される。

【0031】

図６に示すように、第１の平面Ｂ１には、線Ｌ１～Ｌ５を確認することができる。なお、線Ｌ１、Ｌ２は、異物である。線Ｌ３、Ｌ４は、シワである。線Ｌ５は、毛である。シワや毛は、当該光測定方法の測定対象である肌に由来する。しかし、第１の平面Ｂ１を示す画像のみを考慮しても、線Ｌ１～Ｌ５が異物、シワ、及び毛のいずれかであるかを確認し難い。

【0032】

図７に示すように、第２の平面Ｂ２には、線Ｌ３、及び線Ｌ４を確認することができる。一方、第２の平面Ｂ２には、線Ｌ１、Ｌ２、及び線Ｌ５を確認することができなかった。

【0033】

続いて、光干渉断層撮影法を用いることによって、透過部Ｔ１１から透過部表面画像データを取得する（ステップＳＴ４２）。光干渉断層撮影法では、光干渉計の測定器を透過部を介して肌に対向させる。透過部表面画像データは、透過部Ｔ１１の測定器側の透過部表面Ｂ３（図５参照）を示す画像データである。例えば、図８に示すように、透過部表面Ｂ３には、線Ｌ１、線Ｌ２を確認することができる。一方、第２の平面Ｂ２には、線Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５を確認することができなかった。

【0034】

続いて、第１の平面Ｂ１（図６参照）を示す画像から、第２の平面Ｂ２（図７参照）の線を除去する（ステップＳＴ４３）。例えば、第１の平面Ｂ１における線Ｌ３、Ｌ４を除去する。図９に示すように、第１の平面Ｂ１には、線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ５を確認することができる。

【0035】

続いて、上記線が除去された第１の平面Ｂ１（図９参照）を示す画像から、透過部表面Ｂ３（図８参照）の線を除去する（ステップＳＴ４４）。例えば、第１の平面Ｂ１から、線Ｌ１、Ｌ２を除去する。図１０に示すように、第１の平面Ｂ１には、線Ｌ５を確認することができる。

【0036】

続いて、第１の平面Ｂ１を示す画像が示す線の太さを検出する（ステップＳＴ４５）。例えば、図１１に示すように、線Ｌ５の一端部Ｌ５１の太さＤ１と、線Ｌ５の他端部Ｌ５２の太さＤ２とを計測する。

【0037】

続いて、ステップＳＴ２３、ＳＴ３４と同様に、上記太さを検出した線の最も太い部分の座標を毛穴の位置と認定する（ステップＳＴ４６）。例えば、図１１に示すように、一端部Ｌ５１の太さＤ１は、線Ｌ５の他端部Ｌ５２の太さＤ２と比較して太い。そのため、一端部Ｌ５１を毛穴の位置と認定する。

【0038】

最後に、この毛穴の位置と認定した座標における断層図を抽出する（ステップＳＴ４７）。断層図は、毛、毛穴、その周辺の断面を示す。例えば、図１２に示すように、毛穴の位置と認定された一端部Ｌ５１における断層図ＣＳ１を抽出する。図１３に示すように、断層図ＣＳ１には、毛Ｈ１を確認することができる。断層図ＣＳ１の面は、ＹＺ面に沿う。一端部Ｌ５１は、毛Ｈ１の毛穴の位置に相当する。毛Ｈ１、及び毛Ｈ１の周辺は、適宜、三次元表示すると、毛Ｈ１の毛穴をさらに把握できてよい。

【0039】

以上より、毛穴の位置を特定して、さらに毛等を示す断層図を取得することができる。ユーザーは断層図を参照することにより、この認定した座標が毛穴の位置であることを確認する。すなわち、高い精度で毛穴の位置を特定することができる。

【0040】

なお、ステップＳＴ４７でが、毛穴における毛の傾きに基づいて、毛穴を示す複数の断層面データを取得してもよい。例えば、図１２に示すように、一端部Ｌ５１における断層図ＣＳ２を抽出してもよい。断層図ＣＳ２の面は、平面（ここでは、ＸＹ平面）上において線Ｌ５の向きに沿っているため、断層図ＣＳ２は、線Ｌ５全体を包括的に示すことができてよい。

【0041】

また、上記した光測定方法を用いて、ステップＳＴ４１で取得した第１の三次元断層画像データと異なる第２の三次元断層画像データにおいて、毛穴の位置を特定してもよい。第２の三次元断層画像データが示す肌の部位は、第１の三次元断層画像データが示す肌の部位と異なる。また、第２の三次元断層画像データが示す肌の部位は、第１の三次元断層画像データから特定した毛穴の位置を含む。また、第１及び第２の三次元断層画像データによってそれぞれ特定された、線Ｌ５等の毛穴の位置を比較してもよい。これによって、毛穴の位置の検出精度の向上を図ることができる。

【0042】

（制御構成）
上記した実施の形態３にかかる光測定方法では、図１４に示す光測定装置１００を使用することができる。図１４は、光測定装置の制御ブロック図である。

【0043】

図１４に示すように、光測定装置１００は、測定器１と、制御部１０とを備える。

【0044】

測定器１は、光干渉計の測定器である。測定器１は、２つの光を合流させて干渉させた干渉光を測定する。具体的には、１つの光を２つの経路に分割し、分割した一方の光を被測定対象物に反射させて、分割した他方の光を参照ミラーにより反射させた後、２つの光を合流させる。当該被測定対象物は、例えば、肌等である。測定器１は、例えば、この測定した干渉光に基づく信号を明度変換する等して、肌の第１の三次元断層画像データを生成する。

【0045】

制御部１０は、画像処理部１１と、計測処理部１２とを備える。

【0046】

画像処理部１１は、測定器１から肌の第１の三次元断層画像データを取得する。画像処理部１１は、第１の三次元断層画像データが含む平面画像を画像処理することによって、画像データを生成する。この画像処理は、例えば、第１の三次元断層画像データが含む画像同士を比較し、一方の画像から、他方の画像が示す線を削除する処理である。また、この画像処理は、例えば、複数の平面画像に基づいて断層画像を生成する処理であってもよい。

【0047】

計測処理部１２は、測定器１から第１の三次元断層画像データを取得する。また、計測処理部１２は、画像処理部１１が画像処理した画像データを取得する。また、計測処理部１２は、この取得した第１の三次元断層画像データ、又は画像データから、線の太さを検出する。計測処理部１２は、例えば、線の各部位の太さを検出してもよい。計測処理部１２は、この検出した線の各部位のうち、最も太い部位を検出してもよい。

【0048】

制御部１０は、ハードウェア構成として、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を有する演算回路と、プログラムメモリやデータメモリその他のＲＡＭ（Random Access Memory）やＲＯＭ（Read Only Memory）等を有する記憶装置等を備えてもよい。制御部１０は、測定器１等の光測定装置１００の各構成からデータを取得し、当該記憶装置に記憶されたプログラムに従って各種データを演算回路によって演算する。制御部１０は、演算結果に応じて、画像処理部１１、及び計測処理部１２として機能させてもよい。

【0049】

なお、光測定装置１００は、適宜、表示部を備えてもよい。当該表示部は、適宜、上記した第１の三次元断層画像データに基づいて、断層画像、及び平面画像を表示する。また、当該表示部は、適宜、上記した画像処理された画像データに基づいて、画像処理された断層画像、平面画像等を表示する。

【0050】

（平面画像の深さと皮膚の構造との関係）
次に、図１５を参照して、実施の形態にかかる光測定方法のステップＳＴ１１（図１参照）における、第１及び第２の平面画像の深さと、皮膚の構造との関係について説明する。図１５は、肌の最表面とその断面との一例を示す模式図である。また、図１５は、見やすさのため、ハッチングを省略した。

【0051】

肌は、多くの場合、図１５に示す肌Ｋ１００と同じ構成を備える。図１５に示すように、肌Ｋ１００は、皮下組織Ｋ１と、真皮Ｋ２と、表皮Ｋ３とを備え、この順に積層する。真皮Ｋ２は、例えば、２ｍｍ未満である。表皮Ｋ３の厚みは、例えば、０．２ｍｍである。表皮Ｋ３は、最表面Ｋ３１を備える。最表面Ｋ３１は、外気と直接接触する。毛穴Ｋ５や汗孔Ｋ７が最表面Ｋ３１に位置する。毛Ｋ４が毛穴Ｋ５から延び出る。毛Ｋ４の毛包Ｋ６が毛穴Ｋ５の底に位置し、毛穴Ｋ５の底は、皮下組織Ｋ１内、又は真皮Ｋ２内に位置する。エクリン汗腺Ｋ８は、真皮Ｋ２内に位置し、汗孔Ｋ７とつながる。脂腺Ｋ９、及び立毛筋Ｋ１０は、真皮Ｋ２内に位置する。

【0052】

ステップＳＴ１１では、光干渉断層撮影法を用いることによって肌Ｋ１００から取得された第１の三次元断層画像データが利用される。この第１の三次元断層画像データは、肌の最表面と当該肌の内部における複数の平面画像を含む。

【0053】

複数の平面画像の深さＤｐ１は、最表面Ｋ３１から皮下組織Ｋ１までの範囲内であればよく、例えば、最表面Ｋ３１から深さ５ｍｍまでの範囲内である。

【0054】

第１の平面画像の深さＤｐ１１は、例えば、最表面Ｋ３１から表皮Ｋ３内部と同じ深さまでの範囲内である。第１の平面画像の深さＤｐ１１は、例えば、最表面Ｋ３１から30μｍ（=0.030ｍｍ）までの範囲内である。

【0055】

第２の平面画像の深さＤｐ１２は、例えば、最表面Ｋ３１から皮下組織Ｋ１内部までの範囲内であればよく、例えば、最表面Ｋ３１から深さ５ｍｍまでの範囲内である。

【0056】

第２の平面画像の深さＤｐ１２が、表皮Ｋ３の内部であるとよい。表皮Ｋ３は、毛包Ｋ６、エクリン汗腺Ｋ８、脂腺Ｋ９、及び立毛筋Ｋ１０を含まない傾向にある。そのため、深さＤｐ１２が、表皮Ｋ３の内部であると、第２の平面画像は、毛包Ｋ６、エクリン汗腺Ｋ８、脂腺Ｋ９、及び立毛筋Ｋ１０の影響を受けなくてよい。よって、第２の平面画像がシワを安定して示し得て、毛穴の位置を良好な精度で検出することができてよい。

【0057】

第２の平面画像の深さＤｐ１２が、真皮Ｋ２の内部であるとよい。真皮Ｋ２は、毛穴Ｋ５、及び汗孔Ｋ７を含まない傾向にある。そのため、深さＤｐ１２が、真皮Ｋ２の内部であると、第２の平面画像は、毛穴Ｋ５、及び汗孔Ｋ７の影響を受けなくてよい。よって、第２の平面画像がシワを安定して示し得て、毛穴の位置を良好な精度で検出することができてよい。

【0058】

第２の平面画像の深さＤｐ１２が、皮下組織Ｋ１の内部であるとよい。深さＤｐ１２が、皮下組織Ｋ１の内部であると、毛穴Ｋ５、汗孔Ｋ７、エクリン汗腺Ｋ８、脂腺Ｋ９、及び立毛筋Ｋ１０が皮下組織Ｋ１に無い傾向にある。そのため、深さＤｐ１２が、皮下組織Ｋ１の内部であると、第２の平面画像は、毛穴Ｋ５、汗孔Ｋ７、エクリン汗腺Ｋ８、脂腺Ｋ９、及び立毛筋Ｋ１０の影響を受けなくてよい。よって、第２の平面画像がシワを安定して示し得て、毛穴の位置を良好な制度で検出することができてよい。

【0059】

（他の実施の形態）
上述の実施の形態では、本発明を光測定方法として説明したが、本発明は、これに限定されるものではない。光測定方法を光測定装置１００（図１４参照）が実施できるとよい。本発明は、任意の方法、又はステップを、ＣＰＵ（Central Processing Unit）にコンピュータプログラムを実行させることにより実現することも可能である。

【0060】

光測定装置１００は、次のようなハードウェア構成を備えてもよい。図１６は、光測定装置１００に含まれるハードウェア構成の一例を示す図である。

【0061】

図１６に示す装置２００は、インタフェース２０３とともに、プロセッサ２０１及びメモリ２０２を備える。上述した実施の形態で説明した制御部１０、画像処理部１１及び計測処理部１２（図１４参照）は、プロセッサ２０１がメモリ２０２に記憶された制御プログラムを読み込んで実行することにより実現される。つまり、この制御プログラムは、プロセッサ２０１を図１４の制御部１０又はその一部として機能させるためのプログラムである。この制御プログラムは、図１４の制御部１０又はその一部における処理を実行させるためのプログラムであると言える。

【0062】

上述したプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体（non-transitory computer readable medium）を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体（tangible storage medium）を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体（例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ）、光磁気記録媒体（例えば光磁気ディスク）、ＣＤ－ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＣＤ－Ｒ、ＣＤ－Ｒ／Ｗ、半導体メモリ（例えば、マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ（Programmable ROM）、ＥＰＲＯＭ（Erasable PROM）、フラッシュＲＯＭ、ＲＡＭ（random access memory））を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体（transitory computer readable medium）によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。

【0063】

以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。例えば、上記した実施の形態では、光干渉断層撮影を用いて肌から三次元断層画像データを取得したが、光超音波技術や共焦点顕微鏡などの光測定方法を用いて肌から三次元断層画像データ、又はそれに近い構成のデータを取得してもよい。

【0064】

また、上記した実施の形態、上記した実施の形態１、２に係る光測定方法で、多種多様な産業に利用することができる。このような産業として、例えば、美容、医療等が挙げられる。

【符号の説明】

【0065】

１００ 光測定装置
１ 測定器 １０ 制御部
１１ 画像処理部 １２ 計測処理部
２００ 装置
２０１ プロセッサ ２０２ メモリ
２０３ インタフェース
Ａ１、Ａ１１ 断層図 Ｂ１、Ｂ２、Ｂ１１、Ｂ１２ 平面
Ｂ１１ａ、Ｂ１２ａ、Ｂ１３ａ 領域 Ｂ３、Ｂ１３ 透過部表面
ＣＳ１、ＣＳ２ 断層図
Ｈ１ 毛
Ｋ１００ 肌
Ｋ１ 皮下組織 Ｋ２ 真皮
Ｋ３ 表皮 Ｋ３１ 最表面
Ｋ４ 毛 Ｋ５ 毛穴
Ｋ６ 毛包
Ｌ１～Ｌ５、Ｌ１１～Ｌ１４ 線
Ｌ５１ 一端部 Ｌ５２ 他端部
ＳＫ１、ＳＫ１１ 皮膚 ＳＰ１、ＳＰ１１ 空間
ＳＴ１～ＳＴ 、ＳＴ１１～ＳＴ１３、ＳＴ２１～ＳＴ２３、ＳＴ３１～ＳＴ３４、ＳＴ４１～ＳＴ４７ ステップ
Ｔ１１、Ｔ２１ 透過部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】