特許 7472775 波形処理支援装置および波形処理支援方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-04-15

(45)【発行日】2024-04-23

(54)【発明の名称】波形処理支援装置および波形処理支援方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 30/86 20060101AFI20240416BHJP

【ＦＩ】

G01N30/86 B

G01N30/86 E

G01N30/86 D

G01N30/86 G

【請求項の数】 10

(21)【出願番号】P 2020211336

(22)【出願日】2020-12-21

(65)【公開番号】P2022098024

(43)【公開日】2022-07-01

【審査請求日】2023-05-22

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川 雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100098305

【弁理士】

【氏名又は名称】福島 祥人

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根 剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村 英幸

(72)【発明者】

【氏名】石川 勇樹

(72)【発明者】

【氏名】小澤 弘明

(72)【発明者】

【氏名】吉田 剛

(72)【発明者】

【氏名】勝山 祐治

(72)【発明者】

【氏名】柳沢 年伸

【審査官】黒田 浩一

(56)【参考文献】

【文献】国際公開第２０２０／０７０７８６（ＷＯ，Ａ１）

【文献】国際公開第２０１８／１６３２７６（ＷＯ，Ａ１）

【文献】国際公開第２０１９／０８２８３６（ＷＯ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ３０／８６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援装置であって、
試料の分析により得られた複数の波形データを取得する取得部と、
前記取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択する選択部と、
前記基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、前記複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を複数の正解データとして抽出する抽出部と、
前記複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、前記処理区間の各々で波形処理を行うパラメータ初期値を決定する決定部と、
前記取得された前記複数の波形データについて前記決定された前記複数の処理区間の各々において前記パラメータ初期値に基づいて波形処理を行う波形処理部と、
前記複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が前記複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応する前記パラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成する調整部と、
前記複数の処理区間の各々において対応する前記パラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するプログラム作成部とを備える、波形処理支援装置。

【請求項2】

前記調整部は、前記複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が前記複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、少なくとも１つの処理区間を調整し、
前記プログラム作成部は、前記調整された処理区間において前記パラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含むように前記波形処理実行プログラムを作成する、請求項１記載の波形処理支援装置。

【請求項3】

前記取得部は、前記複数の波形データの少なくとも１つとして、手動で修正された波形処理結果を有する波形データを取得可能に構成される、請求項１または２記載の波形処理支援装置。

【請求項4】

前記調整部は、前記パラメータ初期値および前記パラメータ調整値の調整の回数の上限値を設定可能に構成される、請求項１～３のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。

【請求項5】

前記波形処理実行プログラムに従って前記複数の波形データとは異なる他の波形データについて波形処理を実行する実行部をさらに備える、請求項１～４のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。

【請求項6】

前記実行部の波形処理により得られた波形処理結果を手動で調整可能に構成された手動修正部をさらに備え、
前記調整部は、前記手動修正部により修正された波形処理結果を新たな正解データとして用いて前記パラメータ調整値をさらに調整する、請求項５記載の波形処理支援装置。

【請求項7】

前記決定部は、前記分析装置の分析条件に関連する補助データを用いて前記パラメータ初期値を決定する、請求項１～６のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。

【請求項8】

前記取得部は、同じ試料の分析により得られた複数の波形データを取得する、請求項１～７のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。

【請求項9】

分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援方法であって、
試料の分析により得られた複数の波形データを取得するステップと、
前記取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択するステップと、
前記基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、前記複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を複数の正解データとして抽出するステップと、
前記複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、前記処理区間の各々で波形処理を行うパラメータ初期値を決定するステップと、
前記取得された前記複数の波形データについて前記決定された前記複数の処理区間の各々において前記パラメータ初期値に基づいて波形処理を行うステップと、
前記複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が前記複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応する前記パラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成するステップと、
前記複数の処理区間の各々において対応する前記パラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するステップとを含む、波形処理支援方法。

【請求項10】

分析装置の分析結果を示す波形データのピークを分離する波形処理支援装置であって、
試料の分析により得られた複数の波形データを取得する取得部と、
前記取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択する選択部と、
前記基準データに対して第１の波形処理を行うことにより、前記基準データから分離された複数のピークを示す複数の正解ピークの各々について、前記第１の波形処理の波形処理結果を正解データとして抽出する抽出部と、
前記複数の正解ピークのうち少なくとも１つの前記正解ピークを含む複数の処理区間を決定するとともに、前記複数の処理区間における第２の波形処理で用いられるピークを分離するためのパラメータの初期値を決定する決定部と、
前記取得された前記複数の波形データについて前記決定された複数の処理区間の各々において前記パラメータに基づいて前記第２の波形処理を行う波形処理部と、
前記複数の処理区間の各々において得られた前記第２の波形処理の波形処理結果が前記複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応する前記パラメータを調整することによりパラメータ調整値を生成する調整部と、
前記複数の波形データとは異なる他の波形データに対する、前記複数の処理区間の各々において対応する前記パラメータ調整値を用いた前記第２の波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するプログラム作成部とを備える、波形処理支援装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、波形処理支援装置および波形処理支援方法に関する。

【背景技術】

【0002】

種々の分析装置により分析結果として得られる波形データから、各ピークを分離するために波形処理が行われる。例えば、クロマトグラフ装置では、波形データとしてクロマトグラムが得られる。また、質量分析装置では、波形データとしてマススペクトルが得られる。波形データから各ピークを分離するためには、波形処理パラメータの値が設定される。波形処理パラメータとしては、最小の半値全幅（Ｗｉｄｔｈ）、およびベースラインの傾き（Ｓｌｏｐｅ）が用いられる（例えば、特許文献１参照）。波形処理結果としては、ピークの区間、ピークの強度、およびピークの面積等が得られる。波形データから各ピークを分離するためには、波形処理パラメータの値が設定される。使用者は、少なくとも１種類の波形処理パラメータの値を設定することにより、波形データから各ピークを分離する。

【0003】

波形データの全体に波形処理パラメータの同一の値を用いて波形処理を行うと、各ピークの形状および大きさ等によっては一部のピークを分離することができないことがある。

【0004】

特許文献２には、波形処理用タイムテーブルが記載されている。使用者は、波形処理用タイムテーブルの複数の処理区間において互いに異なる波形処理用ベースライン描画法を指定することができる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【文献】特開２０１５－５９７８２号公報

【文献】特開２００８－５８１５６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

しかしながら、波形処理用タイムテーブルの複数の処理区間の各々において適切な波形処理パラメータの値を決定するためには、熟練を要する。また、波形処理パラメータの値は高い自由度を有するため、試行錯誤が必要である。さらに、分析装置の分離カラムの劣化または分析装置の精度によりピークの溶出時間または強度がずれることがある。時間および強度に対して頑健な波形処理パラメータの値を決定するためには、複数の波形データに波形処理を行う必要がある。それにより、各処理区間における波形処理パラメータの値の決定に手間がかかる。

【0007】

本発明の目的は、一または複数の波形データについての波形処理を適切かつ容易に行うことを可能にする波形処理支援装置および波形処理支援方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0008】

一態様に係る波形処理支援装置は、分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援装置であって、試料の分析により得られた複数の波形データを取得する取得部と、取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択する選択部と、基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を正解データとして抽出する抽出部と、複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値をパラメータ初期値として決定する決定部と、取得された複数の波形データについて決定された複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理を行う波形処理部と、複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応するパラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成する調整部と、複数の処理区間の各々において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するプログラム作成部とを備える。

【0009】

他の態様に係る波形処理支援方法は、分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援方法であって、試料の分析により得られた複数の波形データを取得するステップと、取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択するステップと、基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を正解データとして抽出するステップと、複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値をパラメータ初期値として決定するステップと、取得された複数の波形データについて決定された複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理を行うステップと、複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応するパラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成するステップと、複数の処理区間の各々において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するステップとを含む。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、一または複数の波形データについての波形処理を適切かつ容易に行うことが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】本発明の一実施の形態に係る波形処理支援装置を含む分析システムの構成を示すブロック図である。

【図2】波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。

【図3】波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。

【図4】波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。

【図5】波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。

【図6】波形処理支援装置によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。

【図7】波形処理支援装置によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。

【図8】波形処理支援装置によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。

【図9】波形処理支援装置によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。

【図10】波形処理支援装置によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。

【図11】波形処理支援装置の機能的な構成を示すブロック図である。

【図12】図１１の波形処理支援装置の動作を示すフローチャートである。

【図13】図１１の波形処理支援装置の動作を示すフローチャートである。

【図14】図１１の波形処理支援装置の動作を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下、本発明の実施の形態に係る波形処理支援装置および波形処理支援方法について図面を参照しながら詳細に説明する。

【0013】

（１）分析システムの構成
図１は、本発明の一実施の形態に係る波形処理支援装置を含む分析システムの構成を示すブロック図である。図１に示すように、分析システム１００は、制御装置１および分析装置２を含む。

【0014】

制御装置１は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１１０、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１２０、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）１３０、記憶部３０、操作部４０、表示部５０および入出力Ｉ／Ｆ（インターフェイス）６０により構成される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、記憶部３０、操作部４０、表示部５０および入出力Ｉ／Ｆ６０はバス７０に接続される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０およびＲＯＭ１３０が波形処理支援装置１０を構成する。波形処理支援装置１０の詳細については、後述する。

【0015】

ＲＡＭ１２０は、ＣＰＵ１１０の作業領域として用いられる。ＲＯＭ１３０にはシステムプログラムが記憶される。記憶部３０は、ハードディスクまたは半導体メモリ等の記憶媒体を含む。記憶部３０には、波形処理支援プログラムが記憶されている。波形処理支援プログラムは、波形処理支援装置１０が波形処理支援動作を行うためのコンピュータプログラムである。波形処理支援プログラムは、ＲＯＭ１３０または外部の記憶装置に記憶されていてもよい。

【0016】

ＣＰＵ１１０が記憶部３０等に記憶された波形処理支援プログラムをＲＡＭ１２０上で実行することにより、波形処理支援動作が行われる。波形処理支援動作については、後述する。

【0017】

操作部４０は、キーボード、マウスまたはタッチパネル等の入力デバイスであり、波形処理支援装置１０に所定の指示を与えるために使用者により操作される。表示部５０は、液晶表示装置等の表示デバイスである。入出力Ｉ／Ｆ６０は、分析装置２に接続される。

【0018】

分析装置２は、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフまたは超臨界流体クロマトグラフ等のクロマトグラフであってもよく、または質量分析装置等であってもよい。本実施の形態において、分析装置２は液体クロマトグラフである。分析装置２は、表示部２Ａを有する。

【0019】

分析装置２は、分析結果を示す波形データを生成する。分析装置２がクロマトグラフである場合には、波形データはクロマトグラムである。クロマトグラムの横軸は溶出時間（保持時間）であり、縦軸は信号強度である。分析装置２が質量分析装置である場合には、波形データはマススペクトルである。マススペクトルの横軸は質量電荷比（ｍ／ｚ）であり、縦軸は信号強度である。波形データの横軸を位置と呼ぶ。波形データの縦軸を強度と呼ぶ。本実施の形態において、波形データはクロマトグラムである。

【0020】

（２）波形処理パラメータおよび波形処理結果
波形データには、１種類または複数種類の波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離するために波形処理が行われる。ここで、波形処理パラメータおよび波形処理について説明する。

【0021】

図２～図５は、波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。本実施の形態では、波形処理パラメータとして、“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”が用いられる。波形処理パラメータとして、ピークの分離方法が用いられてもよい。ピーク分離方法には、垂直分割、完全分離（ベースライン分離）およびショルダピークの完全分離等がある。

【0022】

図２には“Ｓｌｏｐｅ”の値が異なる場合の波形処理結果が示される。“Ｓｌｏｐｅ”（単位：μＶ／ｍｉｎ）は、ピーク開始点ＳＰおよびピーク終了点ＥＰを検出するための傾きのしきい値であり、ピークの検出感度を表す。図２の左側の例では“Ｓｌｏｐｅ”の値がθ１に設定され、図２の右側の例では“Ｓｌｏｐｅ”の値がθ１よりも大きいθ２に設定される。

【0023】

“Ｓｌｏｐｅ”の値に基づいて波形処理が行われると、左側のベースラインからピークに向かう波形の傾きが “Ｓｌｏｐｅ”の値になる位置がピーク開始点ＳＰとして検出される。また、ピークから右側のベースラインに向かう波形の傾きが“Ｓｌｏｐｅ”の値になる位置がピーク終了点ＥＰとして検出される。このように、“Ｓｌｏｐｅ”の値が異なると、検出されるピーク開始点ＳＰおよびピーク終了点ＥＰが異なる。

【0024】

図３には“Ｗｉｄｔｈ”の値が異なる場合の波形処理結果が示される。“Ｗｉｄｔｈ”（単位：ｓｅｃ）は、検出されるべきピークの半値幅の最小値である。図３の左側の例では、“Ｗｉｄｔｈ”の値がｗ１に設定され、図３の右側の例では、“Ｗｉｄｔｈ”の値がｗ１よりも大きいｗ２に設定される。

【0025】

“Ｗｉｄｔｈ”の値に基づいて波形処理が行われると、図３の左側の例では、半値幅ｗ１以上のピークがすべて検出される。例えば、ピークＰａとピークＰｂとが分離される。一方、ノイズがピークＰｎとして検出される。図３の右側の例では、半値幅ｗ２以上のピークＰｃのみが検出される。例えば、部分的に重なり合った隣接する２つのピークが１つのピークとして検出される。一方、ノイズｎはピークとして検出されない。

【0026】

このように、“Ｗｉｄｔｈ”の値が大きく設定された場合には、ノイズがピークとして検出されることを防止することができる。一方、“Ｗｉｄｔｈ”の値が大きすぎる場合には、部分的に重なり合った隣接するピークが１つのピークとして検出されることがある。

【0027】

図４には、“Ｄｒｉｆｔ”の値によるピーク分離方法の違いが示される。Ｄｒｉｆｔ（単位：μＶ／ｍｉｎ）は、ベースラインの変動のしきい値である。図４には、複数のピークＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４および複数の極小点（ピーク間の谷）Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅが示される。図４の例では、“Ｄｒｉｆｔ”の値がθ３に設定される。

【0028】

“Ｄｒｉｆｔ”の値に基づいて波形処理が行われると、各極小点を通る傾きθ３のＤｒｉｆｔ設定線Ｌが描かれる。例えば、極小点Ｂは、極小点Ａを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも上方に位置する。この場合、極小点Ａ，Ｂを結ぶ直線は、ベースラインとみなされない。これに対して、極小点Ｃは、極小点Ａを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも下方に位置する。この場合、極小点Ａ，Ｃを結ぶベースライン補正線ＢＬ１が設定される。これにより、ピークＰ１，Ｐ２は、極小点Ｂで垂直分割される。極小点Ｄは、極小点Ｃを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも下方に位置する。この場合、極小点Ｃ，Ｄを結ぶベースライン補正線ＢＬ２が設定される。これにより、ピークＰ３は完全分離される。同様に、極小点Ｅは、極小点Ｄを通るＤｒｉｆｔ設定線（図示せず）よりも下方に位置する。この場合、極小点Ｄ，Ｅを結ぶベースライン補正線ＢＬ３が設定される。これにより、ピークＰ４は完全分離される。

【0029】

“Ｄｒｉｆｔ”の値が小さく設定された場合には、各ピークが垂直分割されやすい。一方、“Ｄｒｉｆｔ”の値が大きく設定された場合には、各ピークが完全分離されやすい。このように、“Ｄｒｉｆｔ”の値によりピーク分離方法を異ならせることができる。

【0030】

ここで、ピークの分離方法について説明する。ピーク分離方法（垂直分割／完全分離）は、波形処理パラメータとして設定される場合と、“Ｄｒｉｆｔ”の値により波形処理結果として得られる場合とがある。本実施の形態においては、ピークの分離方法は、垂直分割および完全分離を含む。図５の左側および右側の例では、部分的に重なり合った隣接するピークＰ５，Ｐ６が示される。

【0031】

図５の左側の例は、垂直分割を示す。垂直分割では、極小点Ａ１，Ｂ１，Ｃ１からそれぞれ横軸に垂直な直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および直線Ｃ１－Ｃ２が設定される。ピークＰ５，Ｐ６は、直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および直線Ｃ１－Ｃ２によりそれぞれ分離される。ピークＰ５の面積は、極小点Ａ１と極小点Ｂ１とを結ぶ曲線、直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および横軸で囲まれた領域の面積である。ピークＰ６の面積は、極小点Ｂ１と極小点Ｃ１とを結ぶ曲線、直線Ｂ１－Ｂ２、直線Ｃ１－Ｃ２および横軸で囲まれた領域の面積である。

【0032】

図５の右側の例は、完全分離を示す。完全分離では、隣り合う極小点Ａ１，Ｂ１を結ぶベースライン補助線ＢＬ５が設定され、隣り合う極小点Ｂ１，Ｃ１を結ぶベースライン補助線ＢＬ６が設定される。ピークＰ５，Ｐ６は、ベースライン補助線ＢＬ５，ＢＬ６によりそれぞれ分離される。ピークＰ５の面積は、極小点Ａ１と極小点Ｂ１とを結ぶ曲線およびベースライン補助線ＢＬ５で囲まれた領域の面積である。ピークＰ６の面積は、極小点Ｂ１と極小点Ｃ１とを結ぶ曲線およびベースライン補助線ＢＬ６で囲まれた領域の面積である。

【0033】

このように、垂直分割により分離されたピークの面積は、完全分離により分離されたピークの面積よりも大きい。したがって、ピークに対応する成分を定量する場合には、同一成分のピークは同じ分離方法で分離されることが望ましい。

【0034】

なお、波形処理パラメータの値は、数値に限らず、ピーク分離方法が垂直分割であるか完全分離であるかを特定する識別情報をも含む。このような識別情報は、ＣＰＵ１１０においては、デジタル値で表される。

【0035】

ここで、本実施の形態における波形処理により得られる波形処理結果について説明する。波形処理結果は、設定された１種類または複数種類の波形処理パラメータの値に基づいて波形データから各ピークを分離することにより得られる。波形処理結果は、ピークの開始点の位置、ピークの開始点の強度、ピークの終了点の位置、ピークの終了点の強度、ピークトップの位置、ピークトップの強度、ピークの面積、Ｓ／Ｎ（信号ノイズ比）、ピーク分離方法の種類（垂直分割／完全分離）等を含む。

【0036】

（３）タイムプログラムの自動作成動作
波形処理により得られた波形処理結果において、波形データからピークが分離されていない場合がある。この場合、使用者は、一または複数のピークを含む区間（以下、処理区間と呼ぶ。）を決定するとともに、各処理区間で所望のピークが分離されるように処理区間ごとに波形処理パラメータの値を決定する。

【0037】

波形処理実行プログラムは、処理区間ごとに設定された波形処理パラメータの値を用いた波形処理の実行命令を含む。波形処理実行プログラムによれば、複数の処理区間においてそれぞれ設定された波形処理パラメータの値を用いて波形データに対して順次波形処理が実行される。本実施の形態では、波形処理実行プログラムをタイムプログラムと呼ぶ。本実施の形態に係る波形処理支援装置１０は、タイムプログラムを自動的に作成する機能を有する。以下、本実施の形態に係る波形処理支援装置１０におけるタイムプログラム自動作成動作について説明する。

【0038】

図６～図１０は、波形処理支援装置１０によるタイムプログラムの自動作成動作を説明するための模式図である。図１の記憶部３０には、図６に示すように、同じ試料の分析により得られた複数の波形データａ～ｊが記憶される。各波形データａ～ｊの横軸は時間を表し、縦軸は信号強度を表す。また、図１の記憶部３０には、同じ分析条件で試料を用いない分析により得られた波形データが記憶される。以下、試料を用いない分析により得られた波形データをバックグラウンドクロマトグラムと呼ぶ。

【0039】

波形データａ～ｊには、１種類または複数種類の波形処理パラメータの値を用いて予め波形処理が行われている。それにより、波形データａ～ｊは、それぞれ波形処理結果を有する。すなわち、波形データａ～ｊから一または複数のピークが分離されている。

【0040】

波形データａ～ｊは、同じ試料について異なる分析条件で得られた波形データであってもよい。波形データａ～ｊは、既存の波形処理アルゴリズムにより波形処理された波形処理結果を有してもよい。波形データａ～ｊは、既存のタイムプログラムにより得られた波形処理結果を有してもよい。

【0041】

また、使用者は、波形処理により得られた波形処理結果を図１の操作部４０を用いて修正することができる。例えば、使用者は、波形処理により分離されたピークの開始点および終了点を修正することができる。波形データａ～ｊの少なくとも１つが、手動で修正された波形処理結果を有する波形データであってもよい。

【0042】

波形処理支援装置１０においては、波形データａ～ｊの少なくとも一つが選択される。以下、選択された波形データを基準データと呼ぶ。本例では、基準データとして一つの波形データｂが選択される。基準データとして複数の波形データが選択されてもよい。

【0043】

図６に示すように、波形データｂからは、ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６が分離されている。以下、基準データから分離された各ピークを正解ピークと呼び、各正解ピークについての波形処理結果を正解データと呼ぶ。本例では、波形データｂのピークＮｏ．１～Ｎｏ．６を正解ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６と呼ぶ。

【0044】

次に、複数の初期処理区間が決定される。図７の上側には、波形データｂが示され、図７の下側には、バックグラウンドクロマトグラムｂｋが示される。波形データｂは、正解ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６を有する。正解ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６は、それぞれのピークトップ１Ｔ～６Ｔを有する。図７には、正解ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６の開始点１ａ～６ａが示される。

【0045】

複数の初期処理区間は、複数の正解ピークＮｏ．１～Ｎｏ．６をそれぞれ含むように決定される。本実施の形態では、隣り合う２つの正解ピークのピークトップの中間位置に隣り合う２つの初期処理区間の境界が決定される。左端の正解ピークＮｏ．１を含む初期処理区間の開始位置は、波形データｂの開始点と正解ピークＮｏ．１の開始点１ａとの間の任意の位置０１Ｍに決定される。ピークトップ１Ｔ，２Ｔの中間位置に境界１２Ｍが決定される。同様にして、正解ピークＮｏ．２～Ｎｏ．６をそれぞれ含む初期処理区間の境界２３Ｍ，３４Ｍ，４５Ｍ，５６Ｍが決定される。右端の正解ピークＮｏ．６を含む初期処理区間の終了位置は、波形データｂの終了点と正解ピークの終了点との間の任意の位置６０Ｍに決定される。このようにして、初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍ，１２Ｍ～２３Ｍ，２３Ｍ～３４Ｍ，３４Ｍ～４５Ｍ，４５Ｍ～５６Ｍ，５６Ｍ～６０Ｍが決定される。

【0046】

続いて、各初期処理区間における波形処理に用いられる波形処理パラメータの初期値が決定される。以下、各初期処理区間における波形処理に用いられる波形処理パラメータの初期値をパラメータ初期値と呼ぶ。本例では、パラメータ初期値として、“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”のパラメータ初期値が決定される。図８の上側には、波形データｂの初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍの部分が示され、図８の下側には、バックグラウンドクロマトグラムｂｋの初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍの部分が示される。

【0047】

初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍについてのパラメータ初期値については、例えば、次のように決定される。正解ピークＮｏ．１の開始点１ａの傾き１Ｓの値が“Ｓｌｏｐｅ”のパラメータ初期値として決定される。また、正解ピークＮｏ．１の半値幅１Ｗの値が“Ｗｉｄｔｈ”のパラメータ初期値として決定される。この場合、グラジエント比率等の分析条件を補助データとして用いて“Ｗｉｄｔｈ”のパラメータ初期値が決定されてもよい。さらに、バックグラウンドクロマトグラムｂｋの開始点１ａの傾き１Ｄの値が“Ｄｒｉｆｔ”のパラメータ初期値として決定される。この場合、バックグラウンドクロマトグラムｂｋがパラメータ初期値の決定のための補助データとして用いられる。あるいは、分析メソッドファイルに規定された分析条件を補助データとして用いて“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”または “Ｄｒｉｆｔ”パラメータ初期値が決定されてもよい。同様にして、初期処理区間１２Ｍ～２３Ｍ，２３Ｍ～３４Ｍ，３４Ｍ～４５Ｍ，４５Ｍ～５６Ｍ，５６Ｍ～６０Ｍについてのパラメータ初期値が決定される。

【0048】

次に、各初期処理区間においてパラメータ初期値を用いて複数の波形データａ～ｊに波形処理が行われる。それにより、各初期処理区間について、複数の波形データａ～ｊに対応する複数の波形処理結果が得られる。複数の波形データａ～ｊの各初期処理区間に対応する複数の波形処理結果は、対応する正解データと一致するとは限らない。

【0049】

そこで、複数の波形データａ～ｊの各初期処理区間に対応する複数の波形処理結果と対応する正解データとが一致または近似するように各初期処理区間におけるパラメータ初期値が調整される。以下、各パラメータ初期値の調整により生成される波形処理パラメータの値をパラメータ調整値と呼ぶ。また、パラメータ初期値およびパラメータ調整値をパラメータ値と総称する。

【0050】

また、複数の波形データａ～ｊの各初期処理区間に対応する複数の波形処理結果と対応する正解データとが一致または近似するように少なくとも１つの初期処理区間が調整されてもよい。具体的には、少なくとも１つの初期処理区間の長さまたは位置（開始点または終了点の位置）が調整されてもよい。以下、各初期処理区間の調整により生成される処理区間を調整処理区間と呼ぶ。

【0051】

図９に示すように、複数の波形データａ～ｊの初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍにおいてパラメータ初期値を用いて波形処理が行われる。続いて、複数の波形データａ～ｊの波形処理により得られた複数の波形処理結果と正解ピークＮｏ．１の正解データとが一致または近似しているか否かが近似度に基づいて判定される。以下、複数の波形処理結果と正解データとが一致または近似しているか否かを判定する動作を判定動作と呼ぶ。

【0052】

近似度は、例えば、各波形処理結果の値と正解データの値との差の絶対値で表される。波形処理結果がピークの面積である場合、近似度は、各波形処理結果の面積値と正解ピークの面積値との差の絶対値で表される。

【0053】

一の波形処理結果についての近似度の値が０の場合、当該波形処理結果と正解ピークＮｏ．１の正解データとが一致していると判定される。また、一の波形処理結果についての近似度の値が予め定められたしきい値以下である場合、当該波形処理結果と正解ピークＮｏ．１の正解データとが近似していると判定される。一方、一の波形処理結果についての近似度の値がしきい値よりも大きい場合、当該波形処理結果と正解ピークＮｏ．１の正解データとが近似していないと判定される。

【0054】

複数の波形データａ～ｊについての波形処理結果のうちいずれかの波形処理結果が正解ピークＮｏ．１の正解データと近似していない場合、初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍにおけるパラメータ初期値が調整される。それにより、初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍにおけるパラメータ調整値が生成される。

【0055】

波形データａ～ｊの初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍにおいてパラメータ調整値を用いて波形処理が行われる。続いて、波形データａ～ｊの波形処理により得られた複数の波形処理結果と正解ピークＮｏ．１の正解データとが一致または近似しているか否かが近似度に基づいて判定される。近似度は、例えば、波形データａ～ｊのピークと正解ピークＮｏ．１との時間的な重なりの程度、または完全分離および垂直分割の一致率を基準として算出される。

【0056】

複数の波形データａ～ｊについての複数の波形処理結果のうちいずれかが正解ピークＮｏ．１の正解データと一致または近似しない場合には、パラメータ調整値がさらに調整される。複数の波形データａ～ｊについての複数の波形処理結果が正解ピークＮｏ．１の正解データと一致または近似するまで、パラメータ値の調整が繰り返される。パラメータ値の調整の回数の上限値は、予め設定されてもよい。あるいは、使用者が操作部４０を用いてパラメータ値の調整の回数の上限値を設定可能であってもよい。

【0057】

また、複数の波形データａ～ｊについての複数の波形処理結果が正解ピークＮｏ．１の正解データと一致または近似するように初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍが調整されてもよい。それにより、図９に示すように、調整処理区間０１Ｍ’～１２Ｍ’が生成される。以下、パラメータ値を調整する動作および処理区間を調整する動作を調整動作と呼ぶ。

【0058】

図９の例では、調整前には、初期処理区間０１Ｍ～１２Ｍにおけるパラメータ初期値として、“Ｓｌｏｐｅ”の値１Ｓ、“Ｗｉｄｔｈ”の値１Ｗおよび“Ｄｒｉｆｔ”の値１Ｄが決定されている。調整後には、調整処理区間０１Ｍ’～１２Ｍ’におけるパラメータ調整値として、“Ｓｌｏｐｅ”の値１Ｓ’、“Ｗｉｄｔｈ”の値１Ｗ’および“Ｄｒｉｆｔ”の値１Ｄ’が決定されている。以下、調整動作、波形処理および判定動作を含む一連の動作を探索動作と呼ぶ。

【0059】

上記の探索動作が、他の初期処理区間１２Ｍ～２３Ｍ，２３Ｍ～３４Ｍ，３４Ｍ～４５Ｍ，４５Ｍ～５６Ｍ，５６Ｍ～６０Ｍについて順次行われる。探索動作により決定された複数の処理区間に対応するパラメータ値は図１の記憶部３０に順次記憶される。それにより、処理区間ごとに決定されたパラメータ値を用いた波形処理の実行命令を含むタイムプログラムが作成される。

【0060】

図１０の例では、タイムプログラムは、複数の処理区間として調整処理区間０１Ｍ’～１２Ｍ’，１２Ｍ’～２３Ｍ、および初期処理区間２３Ｍ～３４Ｍ，３４Ｍ～４５Ｍ，４５Ｍ～５６Ｍ，５６Ｍ～６０Ｍを含み、各処理区間のパラメータ値として調整後の“Ｓｌｏｐｅ”の値、調整後の“Ｗｉｄｔｈ”の値および調整後の“Ｄｒｉｆｔ”の値を含む。各処理区間のパラメータ値は、当該パラメータ値を用いた波形処理の実行命令に相当する。

【0061】

（４）波形処理支援装置１０の機能的な構成
図１１は、波形処理支援装置１０の機能的な構成を示すブロック図である。波形処理支援装置１０は、機能部として、取得部１１、選択部１２、抽出部１３、決定部１４、波形処理部１５、調整部１６、プログラム作成部１７、実行部１８および手動修正部１９を含む。本実施の形態では、波形処理支援装置１０の各構成要素（１１～１９）は、図１のＣＰＵ１１０がＲＯＭ１３０または記憶部３０に記憶される波形処理支援プログラムを実行することにより実現される。波形処理支援装置１０の各構成要素（１１～１９）の一部または全てが電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

【0062】

記憶部３０には、図１の分析装置２により得られた複数の波形データが記憶される。複数の波形データは、同じ試料の分析により得られた複数の波形データを含む。また、記憶部３０には、バックグラウンドクロマトグラムが記憶される。

【0063】

取得部１１は、記憶部３０に記憶される同じ試料の分析により得られた複数の波形データを取得する。取得部１１により取得された複数の波形データは、表示部５０に表示される。取得部１１により取得される複数の波形データの少なくとも１つが手動で修正された波形処理結果を有する波形データであってもよい。選択部１２は、使用者による操作部４０の操作に基づいて、取得部１１により取得された波形データのうち１つの波形データを基準データとして選択する。なお、選択部１２は、予め定められた条件に従って基準データを選択してもよい。

【0064】

抽出部１３は、基準データから複数の正解ピークに対応する複数の正解データを抽出する。決定部１４は、正解ピークをそれぞれ含む複数の初期処理区間および複数のパラメータ初期値を決定する。この場合、決定部１４は、分析装置２の分析条件を補助データとして用いて複数の初期処理区間および複数のパラメータ初期値を決定してもよい。ここで、分析条件は、例えば、分析メソッドファイル、グラジエント比率またはバックグラウンドクロマトを含む。波形処理部１５は、取得部１１により取得された複数の波形データの各処理区間においてパラメータ値を用いて波形処理を行う。

【0065】

調整部１６は、波形処理部１５により得られた波形処理結果と対応する正解データとが一致または近似するようパラメータ値および処理区間を調整する。使用者は、操作部４０の操作により調整部１６の調整動作の回数の上限値を設定することができる。調整部１６の調整動作により得られたパラメータ値、処理区間および近似度は記憶部３０に記憶される。

【0066】

プログラム作成部１７は、記憶部３０に記憶された複数の処理区間および複数のパラメータ値を含むタイムプログラムを作成する。また、プログラム作成部１７は、作成されたタイムプログラムを表示部５０に表示させるとともに記憶部３０に記憶させる。

【0067】

実行部１８は、記憶部３０に記憶されたタイムプログラムに従って、図１の分析装置２により生成された任意の波形データについて波形処理を実行する。それにより、任意の波形データについて波形処理を容易に行うことができる。

【0068】

手動修正部１９は、実行部１８による波形処理により得られた波形処理結果を使用者による操作部４０の操作に基づいて修正する。また、手動修正部１９は、修正された波形処理結果を新たな基準データとして抽出部１３に与えることができる。この場合、修正された波形処理結果が抽出部１３により正解データとして抽出される。この場合、調整部１６は、新たな正解データを用いてパラメータ調整値をさらに調整することができる。それにより、プログラム作成部１７は使用者が望む波形処理結果を得ることが可能なタイムプログラムを作成することができる。

【0069】

（５）波形処理支援装置１０の動作
図１２～図１４は、図１１の波形処理支援装置１０の動作を示すフローチャートである。まず、図１２を参照しながら波形処理支援装置１０によるタイムプログラム自動作成動作について説明する。

【0070】

まず、取得部１１は、同一の試料の分析により得られた複数の波形データを記憶部３０から取得する（ステップＳ１）。選択部１２は、使用者による操作部４０の操作に基づいて、取得された複数の波形データのうち１つの波形データを基準データとして選択する（ステップＳ２）。なお、選択部１２は、予め定められた条件に従って基準データを選択してもよい。抽出部１３は、基準データから複数の正解ピークに対応する複数の正解データ（波形処理結果）を抽出する（ステップＳ３）。

【0071】

次に、決定部１４は、正解ピークをそれぞれ含む複数の初期処理区間および複数のパラメータ初期値を決定する（ステップＳ４）。また、決定部１４は、複数の初期処理区間の数Ｎを決定する（ステップＳ５）。

【0072】

調整部１６は、変数ｎの値を１に設定する（ステップＳ６）。波形処理部１５および調整部１６は、後述する探索動作を行う（ステップＳ７）。調整部１６は、探索動作により決定されたｎ番目の処理区間およびｎ番目のパラメータ値を記憶部３０に記憶させる（ステップＳ８）。その後、調整部１６は、変数ｎに１を加算する（ステップＳ９）。

【0073】

調整部１６は、変数ｎの値がＮよりも大きいか否かを判定する（ステップＳ１０）。変数ｎの値がＮ以下である場合には、調整部１６はステップＳ７に戻る。それにより、次の処理区間についてステップＳ７～Ｓ１０の処理が行われる。変数ｎの値がＮよりも大きくなるまで、ステップＳ７～Ｓ１０の処理が繰り返される。その結果、１番目～Ｎ番目の処理区間およびパラメータ値が記憶部３０に記憶される。

【0074】

変数ｎの値がＮ以下である場合には、プログラム作成部１７は、記憶部３０に記憶された１番目～Ｎ番目の処理区間およびパラメータ値を含むタイムプログラムを作成する（ステップＳ１１）。

【0075】

次に、図１３および図１４を参照しながら図１２の探索動作について説明する。まず、調整部１６は、変数ｋの値を１に設定する（ステップＳ２１）。波形処理部１５は、複数の波形データのｎ番目の処理区間においてｎ番目のパラメータ値を用いた波形処理を行う（ステップＳ２２）。それにより、複数の波形データのｎ番目の処理区間における複数の波形処理結果が得られる。

【0076】

調整部１６は、複数の波形データのｎ番目の処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似するか否かを判定する（ステップＳ２３）。複数の波形処理結果のいずれかが正解データと一致も近似もしない場合には、調整部１６は、ｎ番目のパラメータ値を調整する（ステップＳ２４）。調整後のパラメータ値（パラメータ調整値）および複数の波形データの近似度は記憶部３０に記憶される。

【0077】

その後、調整部１６は、変数ｋの値に１を加算する（ステップＳ２５）。調整部１６は、変数ｋの値が予め設定された調整回数の上限値Ｋよりも大きいか否かを判定する（ステップＳ２６）。ここで、調整回数の上限値Ｋは、使用者による操作部４０に基づいて設定されてもよく、上限値Ｋとして予め定められた値が用いられてもよい。

【0078】

変数ｋの値が予め設定された調整回数の上限値Ｋ以下である場合には、調整部１６は、ステップＳ２２に戻る。それにより、ステップＳ２２～Ｓ２６の処理が行われる。

【0079】

ステップＳ２３において、複数の波形データのｎ番目の処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似するか、または変数ｋの値がＫより大きくなるまで、ステップＳ２２～Ｓ２６の処理が繰り返される。

【0080】

ステップＳ２３において、複数の波形データのｎ番目の処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似した場合には、調整部１６は、ｎ番目の初期処理区間およびその時点のパラメータ値（パラメータ初期値またはパラメータ調整値）をｎ番目の処理区間およびパラメータ値として決定する（図１４のステップＳ３８）。

【0081】

ステップＳ２６において変数ｋの値がＫよりも大きくなった場合には、調整部１６は、変数ｈの値を１に設定する（図１４のステップＳ３１）。調整部１６は、ｎ番目の処理区間を調整する（ステップＳ３２）。この場合、ｎ番目の処理区間の位置および長さの少なくとも一方が調整される。例えば、ｎ番目の処理区間の終了点の位置が調整される。

【0082】

波形処理部１５は、複数の波形データのｎ番目の調整された処理区間（調整処理区間）においてｎ番目のパラメータ値を用いた波形処理を行う（ステップＳ３３）。この場合、パラメータ値としては、記憶部３０に記憶されたＫ個のパラメータ値のうち、複数の波形データに対応する近似度が総合的に０により近くなる場合に用いられたパラメータ値が用いられる。それにより、複数の波形データのｎ番目の調整された処理区間における複数の波形処理結果が得られる。

【0083】

調整部１６は、複数の波形データのｎ番目の調整された処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似するか否かを判定する（ステップＳ３４）。調整後の処理区間（調整処理区間）および複数の波形データの近似度は記憶部３０に記憶される。

【0084】

その後、調整部１６は、変数ｈの値に１を加算する（ステップＳ３５）。調整部１６は、変数ｈの値が予め設定された調整回数の上限値Ｈよりも大きいか否かを判定する（ステップＳ３６）。ここで、調整回数の上限値Ｈは、使用者による操作部４０に基づいて設定されてもよく、上限値Ｋとして予め定められた値が用いられてもよい。

【0085】

変数ｈの値が予め設定された調整回数の上限値Ｈ以下である場合には、調整部１６は、ステップＳ３２に戻る。それにより、ステップＳ３２～Ｓ３６の処理が行われる。

【0086】

ステップＳ３４において、複数の波形データのｎ番目の処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似するか、または変数ｈの値がＨより大きくなるまで、ステップＳ３２～Ｓ３６の処理が繰り返される。

【0087】

ステップＳ３４において、複数の波形データのｎ番目の調整後の処理区間における複数の波形処理結果が正解データと一致または近似した場合には、調整部１６は、調整後の処理区間およびパラメータ値をｎ番目の処理区間およびパラメータ値として決定する（ステップＳ３８）。その後、調整部１６は、図１２のステップＳ８に進む。

【0088】

ステップＳ３５において変数ｋの値がＫよりも大きくなった場合には、調整部１６は、予め定められた方法でｎ番目の処理区間およびパラメータ値を決定する（ステップＳ３７）。例えば、調整部１６は、記憶部３０に記憶されたＨ個の処理区間のうち、複数の波形データに対応する近似度が総合的に０により近くなる場合に用いられた処理区間およびパラメータ値がｎ番目の処理区間およびパラメータ値として決定される。その後、調整部１６は、図１２のステップＳ８に進む。

【0089】

ステップＳ１１により作成されたタイムプログラムは、記憶部３０に記憶されてもよい。また、実行部１８は、図１の分析装置２により生成された任意の他の波形データに記憶部に記憶されたタイムプログラムを用いて波形処理を行ってもよい。それにより、適切な波形処理結果が得られる。また、手動修正部１９は、使用者の操作により実行部１８の波形処理により得られた波形処理結果を修正してもよい。また、手動修正部１９により修正された波形処理結果は、正解データとして抽出部１３に与えられてもよい。

【0090】

（６）実施の形態の効果
本実施の形態に係る波形処理支援装置によれば、複数の波形データおよび基準データを用いた探索動作により汎用的なタイムプログラムが自動的に作成される。このようにして作成されたタイムプログラムによれば、波形データの各処理区間においてピークの時間および強度に対して高い頑健性を有する適切なパラメータ調整値を用いた波形処理が実行される。したがって、使用者は、同一の試料の分析により得られた一または複数の波形データについての波形処理を適切かつ容易に行うことが可能になる。

【0091】

また、調整部１６により各処理区間においてパラメータ調整値が得られるとともに少なくとも１つの処理区間が調整されるので、波形処理をより適切に行うことが可能なタイムプログラムが作成される。

【0092】

さらに、取得部１１により取得された複数の波形データが手動で修正された波形処理結果を有する波形データを含む場合、より適切な波形処理結果を得ることが可能なタイムプログラムが作成される。

【0093】

また、パラメータ値の調整が繰り返し行われるので、各処理区間においてより適切なパラメータ調整値が得られる。また、パラメータ値の調整の回数の上限値Ｋまたは処理区間の調整の回数の上限値Ｈを設定することが可能であるので、波形処理に要する時間を制限することができる。それにより、適切な波形処理結果を得ることが可能なタイムプログラムを適切な時間で作成することができる。

【0094】

また、パラメータ初期値の決定の際にバックグラウンドクロマト等の分析条件を補助データとして用いることができるので、より適切な波形処理結果を得ることが可能なタイムプログラムを作成することができる。

【0095】

（７）他の実施の形態
上記実施の形態では、波形データとしてクロマトグラムに波形処理を行うタイムプログラムの自動作成動作について説明されているが、波形処理支援装置１０は、波形データとしてマススペクトルに波形処理を行う波形処理実行プログラムの自動作成動作を行うこともできる。

【0096】

上記実施の形態では、１つの基準データを用いて探索動作が行われるが、複数の基準データを用いて探索動作が行われてもよい。

【0097】

上記実施の形態では、１種類または複数種類の波形処理パラメータについて複数の処理区間が共通に決定されるが、複数種類の波形処理パラメータについて複数の処理区間がそれぞれ別個に決定されてもよい。この場合、各種類の波形処理パラメータについて互いに独立に探索動作が行われる。

【0098】

上記実施の形態において、取得部１１により取得された複数の波形データおよびプログラム作成部１７により作成されたタイムプログラムが表示部５０に表示されるが、複数の波形データおよびタイムプログラム等の各種情報が分析装置２の表示部２Ａに表示されてもよい。

【0099】

（８）態様
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0100】

（第１項）一態様に係る波形処理支援装置は、分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援装置であって、
試料の分析により得られた複数の波形データを取得する取得部と、
取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択する選択部と、
基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を正解データとして抽出する抽出部と、
複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値をパラメータ初期値として決定する決定部と、
取得された複数の波形データについて決定された複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理を行う波形処理部と、
複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応するパラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成する調整部と、
複数の処理区間の各々において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するプログラム作成部とを備えてもよい。

【0101】

一態様に係る波形処理支援装置によれば、試料の分析により得られた複数の波形データが取得され、取得された複数の波形データの少なくとも１つが基準データとして選択される。基準データから分離された複数のピークが複数の正解ピークとして抽出される。また、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果が正解データとして抽出される。複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間が決定されるとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値がパラメータ初期値として決定される。複数の波形データについて、複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理が行われる。各処理区間において得られた波形処理結果が対応する正解データと一致または近似するように各処理区間についてパラメータ初期値が調整される。それにより、パラメータ調整値が生成される。各処理区間において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む汎用的な波形処理実行プログラムが自動的に作成される。

【0102】

このようにして作成された波形処理実行プログラムによれば、波形データの各処理区間において適切なパラメータ調整値を用いた波形処理が実行される。したがって、使用者は、一または複数の波形データについての波形処理を適切かつ容易に行うことが可能になる。

【0103】

（第２項）第１項に記載の波形処理支援装置において、調整部は、複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、少なくとも１つの処理区間を調整し、
プログラム作成部は、調整された処理区間においてパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含むように波形処理実行プログラムを作成してもよい。

【0104】

第２項に記載の波形処理支援装置によれば、各処理区間においてパラメータ調整値が得られるとともに少なくとも１つの処理区間が調整されるので、波形処理をより適切に行うことが可能な波形処理実行プログラムが作成される。

【0105】

（第３項）第１項または第２項に記載の波形処理支援装置において、取得部は、複数の波形データの少なくとも１つとして、手動で修正された波形処理結果を有する波形データを取得可能に構成されてもよい。

【0106】

第３項に記載の波形処理支援装置によれば、複数の波形データは手動で修正された波形処理結果を有する波形データを含むので、より適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理実行プログラムが作成される。

【0107】

（第４項）第１項～第３項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置において、調整部は、パラメータ初期値およびパラメータ調整値の調整の回数の上限値を設定可能に構成されてもよい。

【0108】

第４項に記載の波形処理支援装置によれば、パラメータ初期値およびパラメータ調整値の調整が繰り返し行われるので、各処理区間においてより適切なパラメータ調整値が得られる。また、パラメータ初期値およびパラメータ調整値の調整の回数の上限値を設定することが可能であるので、波形処理に要する時間を制限することができる。それにより、適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理実行プログラムを適切な時間で作成することができる。

【0109】

（第５項）第１項～第４項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置は、波形処理実行プログラムに従って複数の波形データとは異なる他の波形データについて波形処理を実行する実行部をさらに備えてもよい。

【0110】

第５項に記載の波形処理支援装置によれば、作成された波形処理実行プログラムにより任意の波形データについて波形処理を容易に行うことができる。

【0111】

（第６項）第５項に記載の波形処理支援装置は、実行部の波形処理により得られた波形処理結果を手動で調整可能に構成された手動修正部をさらに備え、
調整部は、手動修正部により修正された波形処理結果を新たな正解データとして用いてパラメータ調整値をさらに調整してもよい。

【0112】

第６項に記載の波形処理支援装置によれば、使用者により修正された波形処理結果を正解データとして用いてパラメータ調整値がさらに調整されるので、使用者が望む波形処理結果を得ることが可能な波形処理実行プログラムが作成される。

【0113】

（第７項）第１項～第６項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置において、決定部は、分析装置の分析条件に関連する補助データを用いてパラメータ初期値を決定してもよい。

【0114】

第７項に記載の波形処理支援装置によれば、分析条件を考慮してパラメータ初期値が決定されるので、より適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理実行プログラムを作成することができる。

【0115】

（第８項）第１項～第７項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置において、取得部は、同じ試料の分析により得られた複数の波形データを取得してもよい。

【0116】

第８項に記載の波形処理支援装置によれば、取得部は、同じ試料の分析により得られた複数の波形データを取得するので、より適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理実行プログラムが作成される。

【0117】

（第９項）他の態様に係る波形処理支援方法は、分析装置の分析結果を示す波形データのピークを波形処理パラメータの値に基づいて分離する波形処理を支援する波形処理支援方法であって、
試料の分析により得られた複数の波形データを取得するステップと、
取得された複数の波形データの少なくとも１つを基準データとして選択するステップと、
基準データから分離された複数のピークを複数の正解ピークとして抽出するとともに、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果を正解データとして抽出するステップと、
複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間を決定するとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値をパラメータ初期値として決定するステップと、
取得された複数の波形データについて決定された複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理を行うステップと、
複数の処理区間の各々において得られた波形処理結果が複数の正解データのうち対応する正解データと一致または近似するように、各処理区間に対応するパラメータ初期値を調整することによりパラメータ調整値を生成するステップと、
複数の処理区間の各々において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む波形処理実行プログラムを作成するステップとを含んでもよい。

【0118】

他の態様に係る波形処理支援方法によれば、試料の分析により得られた複数の波形データが取得され、取得された複数の波形データの少なくとも１つが基準データとして選択される。基準データから分離された複数のピークが複数の正解ピークとして抽出される。また、複数の正解ピークの各々についての波形処理結果が正解データとして抽出される。複数の正解ピークをそれぞれ含む複数の処理区間が決定されるとともに、複数の正解データを得るための波形処理パラメータの値がパラメータ初期値として決定される。複数の波形データについて、複数の処理区間の各々においてパラメータ初期値に基づいて波形処理が行われる。各処理区間において得られた波形処理結果が対応する正解データと一致または近似するように各処理区間についてパラメータ初期値が調整される。それにより、パラメータ調整値が生成される。各処理区間において対応するパラメータ調整値を用いた波形処理の実行命令を含む汎用的な波形処理実行プログラムが自動的に作成される。

【0119】

このようにして作成された波形処理実行プログラムによれば、波形データの各処理区間において適切なパラメータ調整値を用いた波形処理が実行される。したがって、使用者は、一または複数の波形データについての波形処理を適切かつ容易に行うことが可能になる。

【符号の説明】

【0120】

１…制御装置，２…分析装置，２Ａ…表示部，１０…波形処理支援装置，１２…選択部，１３…抽出部，１４…決定部，１５…波形処理部，１６…調整部，１７…プログラム作成部，１８…実行部，１９…手動修正部，３０…記憶部，４０…操作部，５０…表示部，６０…入出力Ｉ／Ｆ，７０…バス，１００…分析システム，１１０…ＣＰＵ，１２０…ＲＡＭ，１３０…ＲＯＭ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】