特許 7477938 無停電電源システム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-04-23

(45)【発行日】2024-05-02

(54)【発明の名称】無停電電源システム

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/94 20060101AFI20240424BHJP

   H02J 9/06 20060101ALI20240424BHJP

【ＦＩ】

G01N21/94

H02J9/06 120

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2021105383

(22)【出願日】2021-06-25

(65)【公開番号】P2023003970

(43)【公開日】2023-01-17

【審査請求日】2023-07-14

(73)【特許権者】

【識別番号】501137636

【氏名又は名称】株式会社ＴＭＥＩＣ

(74)【代理人】

【識別番号】110001195

【氏名又は名称】弁理士法人深見特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】林 健太

【審査官】横尾 雅一

(56)【参考文献】

【文献】特開平０７－２１９６８８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平１１－２０１７２６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－１９１３６４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１９－１２４５３１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０２－１０２４３４（ＪＰ，Ａ）

【文献】韓国登録特許第１０－１９２４９９９（ＫＲ，Ｂ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２１／８４ － Ｇ０１Ｎ ２１／９５８

Ｇ０１Ｎ ２１／００ － Ｇ０１Ｎ ２１／６１

Ｈ０２Ｊ ９／０６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

無停電電源装置に設置された基板と、
前記基板に対向して設置された対向部材と、
前記基板に配置された少なくとも１つの発光センサと、
前記対向部材に配置された少なくとも１つの受光センサとを備え、
前記基板には、複数の部品が配置され、
前記少なくとも１つの受光センサの各々は、前記少なくとも１つの発光センサのうちの対応する発光センサに対向して配置され、
前記少なくとも１つの受光センサの検出値に対応した少なくとも１つの汚損状態を検知する処理部をさらに備える、無停電電源システム。

【請求項2】

前記少なくとも１つの発光センサは、複数の発光センサであり、
前記少なくとも１つの受光センサは、前記複数の発光センサに対向して配置された複数の受光センサであり、
前記複数の受光センサの検出値に対応した複数の汚損状態を記憶する記憶部をさらに備え、
前記処理部は、前記複数の汚損状態のうちの少なくとも１つが第１判定値以上である場合、アラーム情報を出力する、請求項１に記載の無停電電源システム。

【請求項3】

前記記憶部は、前記複数の汚損状態の履歴をさらに記憶し、
前記処理部は、前記複数の汚損状態の履歴に基づき、将来の前記複数の汚損状態を推定する、請求項２に記載の無停電電源システム。

【請求項4】

前記記憶部は、前記複数の発光センサに対応した複数の重要度係数をさらに記憶し、
前記複数の重要度係数の各々は、前記複数の発光センサのうちの対応する発光センサが配置された領域内の部品の重要度に応じて設定されており、
前記処理部は、
前記複数の重要度係数の各々に、前記複数の汚損状態のうちの対応する汚損状態を乗じた値を算出し、
算出された複数の値のうちの少なくとも１つが第２判定値以上である場合、前記アラーム情報を出力する、請求項２または請求項３に記載の無停電電源システム。

【請求項5】

前記複数の重要度係数の各々は、前記複数の発光センサのうちの対応する発光センサが配置された領域内の部品の集積度、または当該部品が保護回路を有するか否かに応じて設定されている、請求項４に記載の無停電電源システム。

【請求項6】

前記基板は、複数の領域に区画され、
前記記憶部は、前記複数の領域に対応した複数の重要度係数と、前記複数の領域に対応した複数の重み係数とをさらに記憶し、
前記複数の重要度係数の各々は、前記複数の領域のうちの対応する領域内の部品の重要度に応じて設定されており、
前記複数の重み係数の各々は、前記複数の領域のうちの対応する領域の汚損しやすさに応じて設定されており、
前記処理部は、
前記複数の重み係数の各々に、前記複数の重要度係数のうちの対応する重要度係数を乗じ、さらに、前記複数の汚損状態のうちの対応する汚損状態を乗じた値を算出し、
算出された複数の値のうちの少なくとも１つが第３判定値以上である場合、前記アラーム情報を出力する、請求項２または請求項３に記載の無停電電源システム。

【請求項7】

前記複数の重要度係数の各々は、前記複数の領域のうちの対応する領域内の部品の集積度、または当該部品が保護回路を有するか否かに応じて設定されており、
前記複数の重み係数の各々は、前記複数の領域のうちの対応する領域に対する送風状態、または当該領域内の部品の取り付け状態に応じて設定されている、請求項６に記載の無停電電源システム。

【請求項8】

前記記憶部は、前記複数の汚損状態の履歴をさらに記憶し、
前記処理部は、前記複数の汚損状態の履歴に基づき、前記重み係数を更新する、請求項６または請求項７に記載の無停電電源システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、無停電電源システムに関する。

【背景技術】

【0002】

無停電電源システムは、２４時間、３６５日止まることなく、長期間に亘り連続運用されることが前提となっている。無停電電源システムでは、稼働を開始した後にメンテナンスが行われる頻度は高くない。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０２０－２０１０５４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

長期間連続運用した場合、設置環境によっては、無停電電源システムの基板上に塵埃等が蓄積する。このような塵埃等はメンテナンス時に除去される。仮に、メンテンスをすることなく塵埃等が蓄積し続けた場合、基板上の回路が短絡あるいは断線する虞がある。

【0005】

この場合、無停電電源システムは故障を検出して、商用給電へ切り替わることになる。こういった故障によりシステムが停止する時間あるいは修理に必要な時間が発生した場合、無停電電源システムの給電信頼性が低下することになる。

【0006】

本開示は、このような課題を解決するためになされたものであって、その目的は、給電信頼性の高い無停電電源システムを提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本開示に係る無停電電源システムは、基板と、対向部材と、発光センサと、受光センサとを備える。基板は、無停電電源装置に設置されている。対向部材は、基板に対向して設置されている。少なくとも１つの発光センサは、基板に配置されている。少なくとも１つの受光センサは、対向部材に配置されている。基板には、複数の部品が配置されている。少なくとも１つの受光センサの各々は、少なくとも１つの発光センサのうちの対応する発光センサに対向して配置されている。無停電電源システムは、さらに処理部を備える。処理部は、少なくとも１つの受光センサの検出値に対応した少なくとも１つの汚損状態を検知する。

【発明の効果】

【0008】

本開示によれば、給電信頼性の高い無停電電源システムを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施の形態１に係る無停電電源システムの概略構成を示す図である。

【図2】実施の形態１に係る無停電電源装置の基板および対向部材の構成例を示す図である。

【図3】実施の形態１に係る無停電電源装置の基板上にたまる塵埃について説明するための図である。

【図4】実施の形態１に係る制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。

【図5】実施の形態１に係る制御部が実行する処理のフローチャートである。

【図6】実施の形態２に係る制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。

【図7】実施の形態２に係る汚損状態の推定を説明するための図である。

【図8】実施の形態２に係る制御部が実行する処理のフローチャートである。

【図9】実施の形態３に係る制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。

【図10】実施の形態３に係る制御部が実行する処理のフローチャートである。

【図11】実施の形態４に係る制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。

【図12】実施の形態４に係る制御部が実行する処理のフローチャートである。

【図13】実施の形態５に係る制御部の機能ブロック図の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、図面を参照しつつ、実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。

【0011】

［実施の形態１］
まず、実施の形態１に係る無停電電源システム（「ＵＰＳシステム」とも称する）１について説明する。図１は、実施の形態１に係る無停電電源システム１の概略構成を示す図である。

【0012】

無停電電源システム１は、無停電電源装置（「ＵＰＳ」とも称する）１００と、処理部２００と、表示部２０４とを備える。無停電電源装置１００は、基板５１と、対向部材５２と、基板５１に配置された発光センサＫ１～Ｋ８と、対向部材５２に配置された受光センサＬ１～Ｌ８とを備える。

【0013】

無停電電源装置１００は、さらに、制御部１０１と、通信インターフェイス１０２とを備える。制御部１０１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１２１と、記憶部１２２とを有する。これらは、バスを介して相互に通信可能に接続されている。記憶部１２２は、たとえば、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）により構成される。

【0014】

ＣＰＵ１２１は、無停電電源装置１００全体を総括的に制御する。ＣＰＵ１２１は、記憶部１２２に格納されているプログラムを展開して実行する。記憶部１２２は、無停電電源装置１００が行う処理の処理手順が記されたプログラムを格納する。また、記憶部１２２は、プログラムやプログラムを実行する際のデータ等を一時的に記憶する。

【0015】

制御部１０１は、発光センサＫ１～Ｋ８を発光させる。受光センサＬ１～Ｌ８は、発光センサＫ１～Ｋ８が発する光を受光する。制御部１０１は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値を取得する。発光センサＫ１～Ｋ８、発光センサＫ１～Ｋ８に関する詳細については、図２～図５を用いて後述する。

【0016】

無停電電源装置１００の制御部１０１は、通信インターフェイス１０２を介して処理部２００と通信可能である。制御部１０１は、通信インターフェイス１０２を介して、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値を処理部２００に送信する。

【0017】

処理部２００は、制御部２０１と、通信インターフェイス２０２とを備える。制御部２０１は、ＣＰＵ２２１と、記憶部２２２とを有する。これらは、バスを介して相互に通信可能に接続されている。記憶部２２２は、たとえば、ＲＯＭおよびＲＡＭにより構成される。

【0018】

ＣＰＵ２２１は、処理部２００全体を総括的に制御する。ＣＰＵ２２１は、記憶部２２２に格納されているプログラムを展開して実行する。記憶部２２２は、処理部２００が行う処理の処理手順が記されたプログラムを格納する。また、記憶部２２２は、プログラムやプログラムを実行する際のデータ等を一時的に記憶する。

【0019】

処理部２００の制御部２０１は、通信インターフェイス２０２を介して、無停電電源装置１００と通信可能である。制御部２０１は、通信インターフェイス２０２を介して受光センサＬ１～Ｌ８の検出値を取得する。記憶部２２２は、制御部２０１が取得した受光センサＬ１～Ｌ８の検出値を記憶する。

【0020】

制御部２０１は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値に基づき、基板５１の汚損状態（塵埃の蓄積状況）を判定し、汚損状態に関するアラーム情報を出力する。表示部２０４は、制御部２０１が出力したアラーム情報を表示する。表示部２０４は、たとえば、ディスプレイである。具体的な処理内容については、図４，図５を用いて後述する。

【0021】

なお、本実施の形態では、無停電電源装置（ＵＰＳ）１００は、１つの筐体に格納された装置を想定しており、処理部２００は、無停電電源装置１００の外部に設置された端末（たとえば、パーソナルコンピュータ）に内蔵された基板等を想定している。たとえば、端末にインストールされたソフトウェアを実行することで、汚損状態の判定を行い、端末に接続されたディスプレイにアラーム情報を表示させるようにすればよい。

【0022】

あるいは、無停電電源システム（ＵＰＳシステム）１は、１つの筐体に格納された装置であってもよい。この場合、無停電電源システム１の筐体の内部に、基板５１と処理部２００（基板）が格納される。この場合、表示部２０４はＬＥＤであってもよく、ＬＥＤの点灯状態によりアラーム情報を報知してもよい。

【0023】

図２は、実施の形態１に係る無停電電源装置１００の基板５１および対向部材５２の構成例を示す図である。図２（Ａ）は、基板５１の構成例である。図２（Ｂ）は、対向部材５２の構成例である。図２（Ｃ）は、基板５１に対向して対向部材５２が配置された状態を説明する図である。

【0024】

基板５１は、無停電電源装置１００に設置されている。図２（Ａ）に示すように、基板５１には、複数の部品７１～７４が配置されている。基板５１には、少なくとも１つの発光センサが配置される。本実施の形態では、８つの発光センサＫ１～Ｋ８が配置されている。

【0025】

無停電電源装置１００には、図示しないファンが設置されている。ファンが作動することにより、基板５１に対して風が送られる。図２（Ａ）において、図の左側（基板５１の左部）から右側（基板５１の右部）に向けてファンによる風が送られる。

【0026】

ここでは、基板５１の左部が風上側となり、基板５１の右部が風下側となる。基板５１の左部の風上側には、発光センサＫ１，Ｋ２が配置されており、その右側（風下側）には、１２個の部品７１が配置されている。１２個の部品７１の右側（風下側）には、発光センサＫ３，Ｋ４が配置されている。

【0027】

このように風上側から順に、発光センサＫ１，Ｋ２、１２個の部品７１、発光センサＫ３，Ｋ４、３つの部品７２、３つの部品７３、発光センサＫ５，Ｋ６、４つの部品７４、発光センサＫ７，Ｋ８が基板５１に配置されている。

【0028】

対向部材５２には、少なくとも１つの受光センサが配置されている。本実施の形態では、図２（Ｂ）に示すように、対向部材５２には、８つの受光センサＬ１～Ｌ８が配置されている。受光センサＬ１～Ｌ８の各々は、発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８に対向して配置されている。

【0029】

受光センサＬ１は、発光センサＫ１に対向して配置されている。発光センサＫ１が発光した光は、受光センサＬ１が受光する。受光センサＬ２は、発光センサＫ２に対向して配置されている。発光センサＫ２が発光した光は、受光センサＬ２が受光する。以下、発光センサＫ３～Ｋ８、受光センサＬ３～Ｌ８についても同様であり、発光センサＫ３が受光センサＬ３、発光センサＫ４が受光センサＬ４、発光センサＫ５が受光センサＬ５、発光センサＫ６が受光センサＬ６、発光センサＫ７が受光センサＬ７、発光センサＫ８が受光センサＬ８にそれぞれ対応する。

【0030】

なお、発光センサは１つ設置されていればよく、この場合、１つの発光センサに対向して１つの受光センサが配置されていればよい。

【0031】

図２（Ｃ）に示すように、対向部材５２は、基板５１に対向して設置されている。複数の発光センサＫ１～Ｋ８に対向して、複数の受光センサＬ１～Ｌ８が配置されている。

【0032】

ここで、各部品を基板５１に配置したときの高さを比較すると、部品７１，７３よりも部品７４の高さの方が高い。部品７４よりも部品７２の高さの方が高い。このように、基板５１には形状の異なる部品が配置されている。

【0033】

たとえば、部品７１のような背の低い部品は、チップ抵抗やコンデンサ等である。背の高い部品７２は、リアクトル等である。部品７３は、電流を測定するための電流センサ等である。部品７４は、四角く大きめの、フィルタのコンデンサである。その他、部品としてリレー等が配置されていてもよい。図示しないが、ＣＰＵ１２１および記憶部１２２も基板５１に配置される。

【0034】

上述のように基板５１に対してはファンから風が送られる。風上にある発光センサＫ１，Ｋ２および部品７１は、風通しが良い位置に配置されていると言える。一方、風下にある発光センサＫ７，Ｋ８および部品７４は、風通しが悪い位置に配置されていると言える。

【0035】

また、発光センサＫ５，Ｋ６は、背の高い部品７２の風下に配置されているため、風通しが悪いと言える。同じく、発光センサＫ７，Ｋ８は、背の高い部品７４の風下に配置されているため、風通しが悪いと言える。このように、発光センサＫ１～Ｋ８は、風の当たりにくい場所や、風の当たりやすい場所にちりばめる形で配置されている。

【0036】

図３は、実施の形態１に係る無停電電源装置１００の基板５１上にたまる塵埃について説明するための図である。基板５１上には、時間の経過とともに塵埃が蓄積していく。

【0037】

基板５１上に塵埃が蓄積し続けることで、基板５１上の回路が短絡・断線する虞がある。基板５１上の回路が短絡・断線すると、無停電電源システム１は故障を検出して、商用給電へ切り替わる。当該故障により無停電電源システム１が停止する時間あるいは修理に必要な時間が発生した場合、給電を行えなくなるため、無停電電源システム１の給電信頼性が低下する。

【0038】

このため、メンテナンスにより基板５１上の塵埃を除去することが必要になるが、メンテナンスの頻度が低い場合、塵埃の蓄積状況（基板５１の汚損状況）の把握が難しくなる。汚損状況を精度よく検知してこれを通知することができれば、客先あるいはメンテナンスを行う保守員は、メンテナンスが必要なタイミングを的確に把握することができる。

【0039】

塵埃のたまり方は、基板５１の位置によって異なる。図２を用いて説明したように、基板５１において風上の位置は風通しが良く、風に吹き飛ばされるため、塵埃がたまりにくい。一方、基板５１において風下の位置は風通しが悪くいため、塵埃がたまりやすい。

【0040】

加えて、部品７２，７４のような背の高い部品の風下の位置においては、風通しが悪くなるため、塵埃がたまりやすくなる。

【0041】

図３（Ａ）は、部品７２の風下にたまる塵埃を説明する図である。部品７２は、ドーナツ型の形状をしたリアクトルである。図３（Ａ）に示すように、ドーナツ型の形状の中心部分は穴が空いているため、風を通す。

【0042】

部品７２の穴が空いている位置の風下の位置は、比較的塵埃がたまりにくい。このため、発光センサＫ５上には比較的塵埃がたまりにくい。一方で、部品７２の穴が空いていない位置の風下の位置は、塵埃８１および塵埃８２がたまっている。

【0043】

図３（Ｂ）は、部品７４の風下にたまる塵埃を説明する図である。部品７４は、背が高いコンデンサである。図３（Ｂ）に示すように、部品７４の風下は風が通りにくいため、塵埃８３がたまっている。このため、発光センサＫ７上にも塵埃がたまっている。

【0044】

図４は、実施の形態１に係る制御部２０１の機能ブロック図の一例を示す図である。図４に示すように、制御部２０１は、基板汚損チェック部２１１を備える。記憶部２２２は、汚損判定値２１２を記憶する。以下、図５のフローチャートを用いて処理の流れを説明する。

【0045】

図５は、実施の形態１に係る制御部２０１が実行する処理のフローチャートである。本処理は、周期的に実行すればよい。あるいは、本処理は、制御部２０１が受光センサＬ１～Ｌ８の検出値を受信するたびに実行するようにしてもよい。以下、「ステップ」を単に「Ｓ」とも称する。

【0046】

図５に示すように、制御部２０１が実行する処理が開始すると、Ｓ１１において、制御部２０１は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値（Ｘ１～Ｘ８）に対応した汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）を検知するとともに、これを記憶部２２２に記憶し、処理をＳ１２に進める。

【0047】

受光センサＬ１～Ｌ８の検出値は、それぞれ検出値Ｘ１～Ｘ８である。検出値Ｘ１～Ｘ８のそれぞれに対応した汚損状態は、汚損状態Ｙ１～Ｙ８である。たとえば、受光センサＬ１の検出値は検出値Ｘ１であり、検出値Ｘ１に対応する汚損状態は、汚損状態Ｙ１である。

【0048】

汚損状態としては、受光センサの検出値に応じて、１～５のいずれかの値が設定される。発光センサの上に全く塵埃がたまっていない状態では、受光センサで受光される光の量は最も多くなる（具体的には、電流値が大きくなる）。一方、発光センサの上に塵埃がたまればたまるほど、受光センサで受光される光の量は少なくなる（電流値が小さくなる）。

【0049】

受光センサで受光される光の量が最も多くなる状態で汚損状態＝１となり、光の量がゼロである状態で汚損状態＝５となるように、受光センサの検出値に応じて汚損状態を１～５のいずれかに振分けられる。

【0050】

たとえば、発光センサＫ１に全く塵埃がたまっていない状態であれば、受光センサＬ１に対応した汚損状態Ｙ１＝１となる。発光センサＫ１に塵埃がたまり光を全く受光できない状態であれば、受光センサＬ１に対応した汚損状態Ｙ１＝５となる。

【0051】

このように、塵埃の蓄積度合が最も小さい場合は、汚損状態＝１が設定され、塵埃の蓄積度合が最も大きい場合は、汚損状態＝５が設定される。塵埃の蓄積度合が小さい順に、１，２，３，４，５が設定される。

【0052】

汚損状態が大きい場合は、発光センサ上に塵埃が蓄積されているのみならず、発光センサ周辺の領域（周辺の部品や配線）にも塵埃が蓄積されていると予測することができる。

【0053】

Ｓ１２において、制御部２０１の基板汚損チェック部２１１は、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８の少なくともいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であるか否かを判断する。ここで、汚損判定値＝３である。

【0054】

基板汚損チェック部２１１は、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８の少なくともいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であると判断した場合（Ｓ１２でＹＥＳ）、Ｓ１３に処理を進める。基板汚損チェック部２１１は、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８の少なくともいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であるか否かを判断しなかった場合（Ｓ１２でＮＯ）、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0055】

Ｓ１３において、制御部２０１は、アラーム情報を出力し、制御部２０１が実行する処理を終了する。つまり、受光センサＬ１～Ｌ８に対応した汚損状態Ｙ１～Ｙ８のうち、１つでも３以上の値が設定されている場合は、アラーム情報が出力される。なお、これに限らず、汚損状態Ｙ１～Ｙ８のうちのＮ個（たとえば、２個）以上が汚損判定値以上である場合に、アラーム情報が出力されるようにしてもよい。

【0056】

以上説明したように、基板５１に設置された発光センサに対向して設置された受光センサの検出結果に基づき汚損状態を検知することで、基板５１の汚損状態（塵埃の蓄積状況）が把握できる。また、発光センサおよび受光センサを複数備えることで、基板５１上の複数の領域のそれぞれについて汚損状況を把握することができる。このように、基板５１の汚損状態を確認することができる予防保全機能を有することで、長期間連続運用された場合においても、故障が発生する前に無停電電源システム１のメンテナンスを行うことができる。これにより、メンテナンス機会の少ないシステムにおいても、故障による装置停止時間および修理時間を抑制して装置稼働時間を延ばすことができるため、給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0057】

［実施の形態２］
以下、実施の形態２について説明する。実施の形態２の説明においては、実施の形態１と異なる点について説明し、共通する部分については説明を省略する。実施の形態２では、制御部２０１は、劣化推定部２１４をさらに備える。

【0058】

図６は、実施の形態２に係る制御部２０１の機能ブロック図の一例を示す図である。図６に示すように、制御部２０１は、基板汚損チェック部２１１と劣化推定部２１４とを備える。記憶部２２２は、汚損判定値２１２および汚損進行ログ２１３を記憶する。汚損進行ログ２１３は、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８の履歴である。

【0059】

劣化推定部２１４は、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８の履歴（汚損進行ログ）に基づき、将来の複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８を推定する。図７は、実施の形態２に係る汚損状態の推定を説明するための図である。

【0060】

記憶部２２２は、汚損進行ログ２１３として、汚損状態Ｙ１～Ｙ８の過去の履歴を記憶している。たとえば、劣化推定部２１４は、汚損状態Ｙ１の過去の履歴から汚損状態Ｙ１の将来の値を推定する。

【0061】

図７において、縦軸は汚損状態を示し、横軸は時間を示す。本実施の形態においては、汚損状態は、内部的には０．１刻みの値を保持しているとする。たとえば、内部的な値が０～１．９であるときに汚損状態＝１と判断され、２．０～２．９であるときに汚損状態＝２と判断され、３．０～３．９であるときに汚損状態＝３と判断され、４．０～４．９であるときに汚損状態＝４と判断され、５．０以上であるときに汚損状態＝５と判断されるとする。

【0062】

たとえば、無停電電源システム１の稼働を開始した時に、汚損状態Ｙ１＝１（内部的な値は０）であり、稼働開始から１年後に１（内部的な値は０．５）であり、稼働開始から２年後のｔ１に１（内部的な値は１．０）であり、稼働開始から３年後に１（内部的な値は１．５）であり、稼働開始から４年後のｔ２（現在）に２（内部的な値は２．０）となったとする。

【0063】

この場合、１年ごとに、内部的な値は０．５ずつ増加している。このため、現在からさらにＮ年後（２年後、稼働開始から６年後）に汚損状態Ｙ１＝３（内部的な値は３．０）に達すると推定される。

【0064】

たとえば、劣化推定部２１４は、記憶部２２２に記憶された汚損状態Ｙ１の過去の履歴から、最小自乗法等により時間と汚損状態Ｙ１の関係をモデル化する。そして、劣化推定部２１４は、本モデルを用いて、現在からＮ年後（本実施の形態では、２年後）の汚損状態を推定する。汚損状態Ｙ２～Ｙ８についても同様の方法で推定する。

【0065】

以下、フローチャートを用いて処理の流れを説明する。図８は、実施の形態２に係る制御部２０１が実行する処理のフローチャートである。ここでは、上記劣化推定部２１４による処理について説明する。基板汚損チェック部２１１の処理については、実施の形態１と同様であるため、ここでは説明を省略する。

【0066】

図８に示すように、制御部２０１が実行する処理が開始すると、Ｓ２１において、劣化推定部２１４は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値（Ｘ１～Ｘ８）に対応した汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）を記憶部２２２から取得し、処理をＳ２２に進める。ここでは、劣化推定部２１４は、無停電電源システム１の稼働を開始した時あるいは無停電電源システム１のメンテナンスを行った時以降の汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）の履歴を取得する。

【0067】

Ｓ２２において、劣化推定部２１４は、受光センサＬ１～Ｌ８のそれぞれについて、Ｎ年後の汚損状態ＹＮ１～ＹＮ８を推定し、処理をＳ２３に進める。上述のように、劣化推定部２１４は、汚損状態の過去の履歴からモデル化を行う。そして、劣化推定部２１４は、生成したモデルを用いて、Ｎ年後の汚損状態ＹＮ１～ＹＮ８を推定する。

【0068】

Ｓ２３において、劣化推定部２１４は、Ｎ年後の汚損状態ＹＮ１～ＹＮ８のいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であるか否かを判断する。劣化推定部２１４は、Ｎ年後の汚損状態ＹＮ１～ＹＮ８のいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であると判断した場合（Ｓ２３でＹＥＳ）、Ｓ２４に処理を進める。劣化推定部２１４は、Ｎ年後の汚損状態ＹＮ１～ＹＮ８のいずれかの汚損状態が汚損判定値以上であると判断しなかった場合（Ｓ２３でＮＯ）、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0069】

Ｓ２４において、制御部２０１は、予告アラーム情報を出力し、制御部２０１が実行する処理を終了する。たとえば、図７の例では、発光センサＫ１（受光センサＬ１）に対応するＮ年後（２年後）の汚損状態ＹＮ１が「３」となるため、発光センサＫ１がＮ年後（２年後）に汚損判定値以上となる旨の予告アラーム情報を出力する。

【0070】

なお、劣化推定部２１４は、汚損状態Ｙ１～Ｙ８のいずれかの汚損状態が汚損判定値以上になる時期を予告アラーム情報として出力するようにしてもよい。

【0071】

以上のように構成することで、無停電電源システム１のメンテナンスを行うべき時期を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0072】

［実施の形態３］
以下、実施の形態３について説明する。実施の形態３の説明においては、実施の形態１，２と異なる点について説明し、共通する部分については説明を省略する。実施の形態３では、基板汚損チェック部２１１は、さらに回路重要度（「重要度係数」とも称する）２１６を考慮して、汚損状態を判定する。

【0073】

図９は、実施の形態３に係る制御部２０１の機能ブロック図の一例を示す図である。図９（Ａ）に示すように、制御部２０１は、基板汚損チェック部２１１と劣化推定部２１４とを備える。記憶部２２２は、汚損判定値２１５、回路重要度（重要度係数）２１６および汚損進行ログ２１３を記憶する。

【0074】

回路重要度（重要度係数）２１６は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８に対応した複数の重要度係数２１６（重要度係数Ｗ１～Ｗ８）を示す。複数の重要度係数Ｗ１～Ｗ８の各々は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８が配置された領域内の部品７１～７４の重要度に応じて設定されている。

【0075】

具体的には、複数の重要度係数Ｗ１～Ｗ８の各々は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８が配置された領域内の部品７１～７４の集積度、または部品７１～７４が保護回路を有するか否かに応じて設定されている。

【0076】

回路重要度（重要度係数）２１６は、重要度に応じて１～５段階のいずれかが設定されている。最も重要度が高い場合は５が設定され、最も重要度が低い場合は１が設定される。重要度が高い順に、５，４，３，２，１が設定される。発光センサが配置された領域内の部品７１～７４の集積度が高い場合、または、発光センサが配置された領域内の部品７１～７４が保護回路を有さない場合は、重要度係数として大きな値が設定される。

【0077】

図９（Ｂ）に、回路重要度２１６の例を示す。図９（Ｂ）では、回路重要度２１６は、５行６列のマップによって示されているが、実際には、発光センサＫ１～Ｋ８のそれぞれに対応する値（Ｗ１～Ｗ８）が設定されていれば足りる。

【0078】

このマップは、図２（Ａ）で示した基板５１を５×６＝３０の領域に分割し、分割したそれぞれの領域について重要度を示したものである。発光センサＫ１に対応した回路重要度Ｗ１は、２行１列目の数値「５」である。発光センサＫ２に対応した回路重要度Ｗ２は、４行１列目の数値「５」である。発光センサＫ３対応した回路重要度Ｗ３は、２行２列目の数値「５」である。発光センサＫ４対応した回路重要度Ｗ４は、４行２列目の数値「５」である。

【0079】

発光センサＫ５対応した回路重要度Ｗ５は、２行４列目の数値「３」である。発光センサＫ６対応した回路重要度Ｗ６は、４行４列目の数値「３」である。発光センサＫ７対応した回路重要度Ｗ７は、１行６列目の数値「１」である。発光センサＫ８対応した回路重要度Ｗ８は、５行６列目の数値「１」である。たとえば、発光センサＫ１～Ｋ４が配置された領域においては、部品の集積度が高いため「５」が設定されている。一方で、部品の集積度が低い領域には「１」が設定されている。

【0080】

制御部２０１は、複数の重要度係数Ｗ１～Ｗ８の各々に、複数の汚損状態Ｙ１～Ｙ８のうちの対応する汚損状を乗じた値を算出する。制御部２０１は、算出された複数の値（Ｙ１×Ｗ１）～（Ｙ８×Ｗ８）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上である場合、アラーム情報を出力する。以下、フローチャートを用いて処理の流れを説明する。

【0081】

図１０は、実施の形態３に係る制御部２０１が実行する処理のフローチャートである。ここでは、基板汚損チェック部２１１による処理について説明する。

【0082】

劣化推定部２１４の処理については、実施の形態２と類似するため、ここでは説明を省略する。実施の形態２においては、汚損状態の推定を行ったが、実施の形態３においては、汚損状態×重要度係数の推定を行う。

【0083】

図１０に示すように、制御部２０１が実行する処理が開始すると、Ｓ３１において、制御部２０１は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値（Ｘ１～Ｘ８）に対応した汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）を検知するとともに、これを記憶部２２２に記憶し、処理をＳ３２に進める。

【0084】

Ｓ３２において、基板汚損チェック部２１１は、発光センサＫ１～Ｋ８に対応した回路重要度Ｗ１～Ｗ８（図９（Ｂ）参照）を記憶部２２２から取得し、処理をＳ３３に進める。

【0085】

Ｓ３３において、基板汚損チェック部２１１は、（発光センサＹ１×回路重要度Ｗ１）～（発光センサＹ８×回路重要度Ｗ８）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上であるか否かを判断する。ここで、汚損判定値２１５＝９である。

【0086】

基板汚損チェック部２１１は、（発光センサＹ１×回路重要度Ｗ１）～（発光センサＹ８×回路重要度Ｗ８）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上であると判断した場合（Ｓ３３でＹＥＳ）、Ｓ３４に処理を進める。基板汚損チェック部２１１は、（発光センサＹ１×回路重要度Ｗ１）～（発光センサＹ８×回路重要度Ｗ８）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上であると判断しなかった場合（Ｓ３３でＮＯ）、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0087】

Ｓ３４において、制御部２０１は、アラーム情報を出力し、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0088】

たとえば、発光センサＫ１に対応する汚損状態Ｙ１および回路重要度Ｗ１を例に挙げて説明する。汚損状態Ｙ１＝２，回路重要度Ｗ１＝５である場合、汚損状態Ｙ１（２）×回路重要度Ｗ１（５）＝１０となり、９以上であるためアラーム情報が出力される。実施の形態１においては、汚損状態Ｙ１＝２ではアラーム情報が出力されなかった。しかしながら、回路重要度Ｗ１＝５（重要度：高）が設定されているため、汚損状態Ｙ１＝２であってもアラーム情報が出力される。

【0089】

また、発光センサＫ７に対応する汚損状態Ｙ７および回路重要度Ｗ７を例に挙げて説明する。汚損状態Ｙ７＝４，回路重要度Ｗ７＝１である場合、汚損状態Ｙ７（４）×回路重要度Ｗ７（１）＝４となり、９未満であるためアラーム情報が出力されない。実施の形態１においては、汚損状態Ｙ７＝４ではアラーム情報が出力された。しかしながら、回路重要度Ｗ７＝１（重要度：低）が設定されているため、汚損状態Ｙ７＝４であってもアラーム情報が出力されない。

【0090】

以上のように構成することで、重要度の高い部品として、集積度の高い部品または保護回路を有さない部品に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0091】

［実施の形態４］
以下、実施の形態４について説明する。実施の形態４の説明においては、実施の形態１～３と異なる点について説明し、共通する部分については説明を省略する。実施の形態４では、制御部２０１は、さらに基板汚損マップ生成部２１８を備える。

【0092】

図１１は、実施の形態４に係る制御部２０１の機能ブロック図の一例を示す図である。図１１（Ａ）に示すように、制御部２０１は、基板汚損マップ生成部２１８と基板汚損チェック部２１１と劣化推定部２１４とを備える。記憶部２２２は、汚損状態重みデータ２１７と、汚損判定値２１５と、回路重要度（重要度係数）２１６と、汚損進行ログ２１３とを記憶する。

【0093】

ここで、劣化推定部２１４による推定処理は、実施形態２や実施の形態３と類似であるので説明を省略する。実施の形態３においては、汚損状態×重要度係数の推定を行ったが、実施の形態４においては、汚損状態×重要度係数×重み係数の推定を行う。

【0094】

基板５１は、複数の領域に区画されている。「複数の領域」は、図２（Ａ）で示した基板５１を５×６＝３０に分割した領域である。記憶部２２２は、複数の領域（３０の領域）に対応した複数の重要度係数（回路重要度）２１６と、複数の領域に対応した複数の重み係数（「汚損状態重みデータ」とも称する）２１７とを記憶する。

【0095】

この３０の領域は、図２（Ａ）に図示された基板５１の上部から下部までを５分割し、基板５１の左部から右部までを６分割したものである。最上部の領域において、左から順に、Ａ１１、Ａ１２、Ａ１３、Ａ１４、Ａ１５、Ａ１６と称し、その１つ下の領域を左から、Ａ２１、Ａ２２、Ａ２３、Ａ２４、Ａ２５、Ａ２６と称し、その１つ下の領域を左から、Ａ３１、Ａ３２、Ａ３３、Ａ３４、Ａ３５、Ａ３６と称し、その１つ下の領域を左から、Ａ４１、Ａ４２、Ａ４３、Ａ４４、Ａ４５、Ａ４６と称し、その１つ下の領域を左から、Ａ５１、Ａ５２、Ａ５３、Ａ５４、Ａ５５、Ａ５６と称する。

【0096】

回路重要度（重要度係数）２１６は、図９（Ｂ）と同じである。ただし、実施の形態４においては、５行６列の３０個の全てのデータを使用する。ここで、１行目の６つのデータを左から、Ｗ１１、Ｗ１２、Ｗ１３、Ｗ１４、Ｗ１５、Ｗ１６とし、２行目の６つのデータを左から、Ｗ２１、Ｗ２２、Ｗ２３、Ｗ２４、Ｗ２５、Ｗ２６とし、３行目の６つのデータを左から、Ｗ３１、Ｗ３２、Ｗ３３、Ｗ３４、Ｗ３５、Ｗ３６とし、４行目の６つのデータを左から、Ｗ４１、Ｗ４２、Ｗ４３、Ｗ４４、Ｗ４５、Ｗ４６とし、５行目の６つのデータを左から、Ｗ５１、Ｗ５２、Ｗ５３、Ｗ５４、Ｗ５５、Ｗ５６とする。

【0097】

汚損状態重みデータ（重み係数）２１７は、図１１（Ｂ）に示す通りである。ここで、１行目の６つのデータを左から、Ｍ１１、Ｍ１２、Ｍ１３、Ｍ１４、Ｍ１５、Ｍ１６とし、２行目の６つのデータを左から、Ｍ２１、Ｍ２２、Ｍ２３、Ｍ２４、Ｍ２５、Ｍ２６とし、３行目の６つのデータを左から、Ｍ３１、Ｍ３２、Ｍ３３、Ｍ３４、Ｍ３５、Ｍ３６とし、４行目の６つのデータを左から、Ｍ４１、Ｍ４２、Ｍ４３、Ｍ４４、Ｍ４５、Ｍ４６とし、５行目の６つのデータを左から、Ｍ５１、Ｍ５２、Ｍ５３、Ｍ５４、Ｍ５５、Ｍ５６とする。

【0098】

たとえば、領域Ａ１１に対応するのは、回路重要度（重要度係数）Ｗ１１、および、汚損状態重みデータ（重み係数）Ｍ１１である。領域Ａ１２に対応するのは、回路重要度（重要度係数）Ｗ１２、および、汚損状態重みデータ（重み係数）Ｍ１２である。

【0099】

複数の重み係数２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）の各々は、複数の領域（Ａ１１～Ａ５６）のうちの対応する領域の汚損しやすさに応じて設定されている。重み係数２１７は、汚損しやすさに応じて１～５段階のいずれかが設定されている。最も汚損しやすい場合は５が設定され、最も汚損しにくい場合は１が設定される。汚損しやすい順に、５，４，３，２，１が設定される。

【0100】

具体的には、複数の重み係数２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）の各々は、複数の領域（Ａ１１～Ａ５６）のうちの対応する領域に対する送風状態、または当該領域内の部品７１～７４の取り付け状態に応じて設定されている。

【0101】

たとえば、領域Ａ３１～Ａ３３に対応する重み係数Ｍ３１～Ｍ３３は、全て「１」が設定されている。この領域は、最も風が入りやすい（送風状態が良い）領域であり（図２（Ａ）参照）、塵埃がたまりづらいため、重み係数として「１」が設定されている。一方、領域Ａ２４，Ａ４４に対応する重み係数Ｍ２４，Ｍ４４は「５」が設定されている。この領域は、背の高い部品７２によって風が遮られて塵埃がたまりやすい（送風状態が悪い）領域であるため（図２（Ａ），（Ｃ），図３（Ａ）参照）、重み係数として「５」が設定されている。

【0102】

部品７１～７４の取り付け状態は、たとえば、部品が設置されている向きである。風向きに対して設置されている部品の向きに応じても、汚損しやすさが異なる場合がある。たとえば、図２（Ａ）の部品７１～７３のような向きで設置されている場合と、これを９０度回転させた向きで設置されている場合とで、汚損しやすさが異なる場合がある（たとえば、後者の方が、電極同士が短絡しやすくなる等）。

【0103】

複数の重要度係数（回路重要度）２１６（Ｗ１１～Ｗ５６）の各々は、複数の領域（Ａ１１～Ａ５６）のうちの対応する領域内の部品７１～７４の集積度、または当該部品７１～７４が保護回路を有するか否かに応じて設定されている。重要度係数の考え方については、実施の形態３と同様である。

【0104】

制御部２０１は、複数の重み係数（汚損状態重みデータ）２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）の各々に、複数の重要度係数（回路重要度）２１６（Ｗ１１～Ｗ５６）のうちの対応する重要度係数を乗じ、さらに、複数の汚損状態のうちの対応する汚損状態（汚損状態Ｙ１～Ｙ８）を乗じた値を算出する。制御部２０１は、算出された複数の値のうちの少なくとも１つが汚損判定値（本実施の形態においては、２７）以上である場合、アラーム情報を出力する。以下、フローチャートを用いて説明する。

【0105】

図１２は、実施の形態４に係る制御部２０１が実行する処理のフローチャートである。図１２に示すように、制御部２０１が実行する処理が開始すると、Ｓ４１において、制御部２０１は、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値（Ｘ１～Ｘ８）に対応した汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）を検知するとともに、これを記憶部２２２に記憶し、処理をＳ４２に進める。

【0106】

Ｓ４２において、制御部２０１は、複数の重み係数（汚損状態重みデータ）２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）を記憶部２２２から読み出し、対応する汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）を乗じて基板汚染マップ（ＭＡ１１～ＭＡ５６）を生成し、処理をＳ４３に進める。

【0107】

重み係数Ｍ１１～Ｍ５６のそれぞれは、基板汚染マップＭＡ１１～ＭＡ５６のそれぞれに１対１で対応する。また、汚損状態Ｙ１は重み係数Ｍ１１，Ｍ２１，Ｍ３１に対応し、汚損状態Ｙ２は重み係数Ｍ４１，Ｍ５１に対応し、汚損状態Ｙ３は重み係数Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ３２，Ｍ３３に対応し、汚損状態Ｙ４は重み係数Ｍ４２，Ｍ４３，Ｍ５２，Ｍ５３に対応し、汚損状態Ｙ５は重み係数Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ３４，Ｍ３５に対応し、汚損状態Ｙ６は重み係数Ｍ４４，Ｍ４５，Ｍ５４，Ｍ５５に対応し、汚損状態Ｙ７は重み係数Ｍ１６，Ｍ２６，Ｍ３６に対応し、汚損状態Ｙ８は重み係数Ｍ４６，Ｍ５６に対応するものとする。

【0108】

汚損状態は８個であり、重み係数は５６個であるため、上記のように汚損状態と重み係数とは、一対多の関係になる。たとえば、基板汚染マップＭＡ１１＝汚損状態Ｙ１×重み係数Ｍ１１、基板汚染マップＭＡ２１＝汚損状態Ｙ１×重み係数Ｍ２１、基板汚染マップＭＡ１２＝汚損状態Ｙ３×重み係数Ｍ１２となる。

【0109】

Ｓ４３において、制御部２０１は、複数の重要度係数（回路重要度）２１６（Ｗ１１～Ｗ５６）を記憶部２２２から読み出し、処理をＳ４４に進める。

【0110】

Ｓ４４において、基板汚損チェック部２１１は、（基板汚染マップＭＡ１１×回路重要度Ｗ１１）～（基板汚染マップＭＡ５６×回路重要度Ｗ５６）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上である否かを判断する。汚損判定値２１５＝２７である。

【0111】

基板汚損チェック部２１１は、（基板汚染マップＭＡ１１×回路重要度Ｗ１１）～（基板汚染マップＭＡ５６×回路重要度Ｗ５６）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上であると判断した場合（Ｓ４４でＹＥＳ）、Ｓ４５に処理を進める。基板汚損チェック部２１１は、（基板汚染マップＭＡ１１×回路重要度Ｗ１１）～（基板汚染マップＭＡ５６×回路重要度Ｗ５６）のうちの少なくとも１つが汚損判定値２１５以上であると判断しなかった場合（Ｓ４４でＮＯ）、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0112】

Ｓ４５において、制御部２０１は、アラーム情報を出力し、制御部２０１が実行する処理を終了する。

【0113】

たとえば、発光センサＫ３に対応する汚損状態Ｙ３、回路重要度Ｗ２２、重み係数Ｍ２２について考える。回路重要度Ｗ２２＝５、重み係数Ｍ２２＝２である。ここで発光センサＫ３に対応する汚損状態Ｙ３＝２であったとする。この場合、基板汚染マップＭＡ２２＝汚損状態Ｙ３×重み係数Ｍ２２＝２×２＝４である。基板汚染マップＭＡ２２×回路重要度Ｗ２２＝４×５＝１０であり、汚損判定値２１５の「２７」以上にならない。

【0114】

一方、汚損状態Ｙ３＝３であった場合は、基板汚染マップＭＡ２２＝汚損状態Ｙ３×重み係数Ｍ２２＝３×２＝６となる。基板汚染マップＭＡ２２×回路重要度Ｗ２２＝６×５＝３０であり、汚損判定値２１５の「２７」以上となるため、アラーム情報が出力される。

【0115】

以上のように構成することで、重要度の高い部品として、集積度の高い部品または保護回路を有さない部品に着目し、かつ、汚損しやすい領域として、送風状態あるいは部品の取り付け状態に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0116】

［実施の形態５］
以下、実施の形態５について説明する。実施の形態５の説明においては、実施の形態１～４と異なる点について説明し、共通する部分については説明を省略する。

【0117】

図１３は、実施の形態５に係る制御部２０１の機能ブロック図の一例を示す図である。実施の形態４においては、複数の重み係数（汚損状態重みデータ）２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）は、固定値であった。これに対して、実施の形態５では、図１３（Ａ）に示すように、汚損状態重みデータ２１７の重みは更新される。

【0118】

記憶部２２２に事前に記憶されている汚損状態重みデータ（重み係数）２１７は、工場出荷段階において、事前に設定されているデータである。このデータは、工場において予め行った試験の結果に基づき、汚損しやすさをデータとして設定したものである。たとえば、意図的に吸気口から塵埃を吸い込ませ、基板５１のどの位置に塵埃が蓄積されやすいかを試験して、データとして数値化する。

【0119】

しかしながら、実際に無停電電源装置１００が設置された場合、その設置環境によっては、上記試験と塵埃の蓄積具合が異なる場合がある。実施の形態５では、実際の客先の設置環境に合わせて、汚損状態重みデータ２１７を更新させるように構成している。

【0120】

記憶部２２２は、複数の汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）の履歴を記憶する。制御部２０１は、複数の汚損状態（Ｙ１～Ｙ８）の履歴に基づき、重み係数（汚損状態重みデータ）２１７（Ｍ１１～Ｍ５６）を更新する。

【0121】

図１３（Ｂ）は、更新される前の汚損状態重みデータＭ１１～Ｍ５６である。図１３（Ｃ）は、更新された後の汚損状態重みデータＭ１１～Ｍ５６である。本例では、Ｍ２２，Ｍ４２は、「２」から「３」に更新されている。Ｍ４４は、「５」から「４」に更新されている。Ｍ２５は、「４」から「３」に更新されている。Ｍ３５は、「３」から「２」に更新されている。Ｍ４５は、「４」から「２」に更新されている。

【0122】

たとえば、Ｍ２２は、発光センサＫ３が設置されているエリアである。設計段階においては、試験の結果、風通しが比較的良いと判断していたため、汚損状態重みデータＭ２２＝２と設定している。そして、客先において実際にシステムが稼働した後、記憶部２２２は、発光センサＫ３に対応する汚損状態Ｙ３の履歴（時系列データ）を記憶する。これにより、図７に示したような、汚損状態の経時変化を把握することができる。

【0123】

たとえば、制御部２０１は、システムが稼働した後の汚損状態の時間あたりの変化量が、試験の際の汚損状態の時間あたりの変化量よりも上方に大きく乖離するような場合（図７のようなグラフにおいて、試験時よりも稼働後の方が上方に大きく傾くような場合）は、汚損状態重みデータを大きくするように更新する。

【0124】

一方、制御部２０１は、システムが稼働した後の汚損状態の時間あたりの変化量が、試験の際の汚損状態の時間あたりの変化量よりも下方に大きく乖離するような場合（図７のようなグラフにおいて、試験時よりも稼働後の方が下方に大きく傾くような場合）は、汚損状態重みデータを小さくするように更新する。汚損状態重みデータは、受光センサＬ１～Ｌ８の検出値（または、汚損状態Ｙ１～Ｙ８）の履歴に基づいて、機械学習により更新を行うようにしてもよい。

【0125】

一例として、汚損状態重みデータＭ４５に対応する領域Ａ４５では、設計段階においては塵埃がたまりやすいと判断されていたため、汚損状態重みデータＭ４５＝４と判断されていた（図１３（Ｂ））。ところが、実際にはこの領域には塵埃がさほどたまらなかったため、汚損状態重みデータＭ４５は、「４」から「２」に更新されている（図１３（Ｃ））。

【0126】

以上のように構成することで、工場出荷段階では想定し得なかった、客先における無停電電源システム１の設置環境に応じて重み係数を変更することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0127】

［主な構成および効果］
以下、前述した実施の形態の主な構成および効果を説明する。

【0128】

（１） 無停電電源システム１は、基板５１と、対向部材５２と、発光センサＫ１～Ｋ８と、受光センサＬ１～Ｌ８とを備える。基板５１は、無停電電源装置１００に設置されている。対向部材５２は、基板５１に対向して設置されている。少なくとも１つの発光センサＫ１～Ｋ８は、基板５１に配置されている。少なくとも１つの受光センサＬ１～Ｌ８は、対向部材５２に配置されている。基板５１には、複数の部品７１～７４が配置されている。少なくとも１つの受光センサＬ１～Ｌ８の各々は、少なくとも１つの発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８に対向して配置されている。無停電電源システム１は、さらに処理部２００を備える。処理部２００は、少なくとも１つの受光センサＬ１～Ｌ８の検出値に対応した少なくとも１つの汚損状態を検知する。このように、受光センサを用いて汚損状態を検知することで、基板５１の汚損状態が把握でき、故障が発生する前に無停電電源システム１のメンテナンスを行うことができる。これにより、給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0129】

（２） 少なくとも１つの発光センサＫ１～Ｋ８は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８である。少なくとも１つの受光センサＬ１～Ｌ８は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８に対向して配置された複数の受光センサＬ１～Ｌ８である。無停電電源システム１は、記憶部２２２をさらに備える。記憶部２２２は、複数の受光センサＬ１～Ｌ８の検出値に対応した複数の汚損状態を記憶する。処理部２００は、複数の汚損状態のうちの少なくとも１つが第１判定値以上である場合、アラーム情報を出力する。これにより、基板５１上の複数の領域のそれぞれについて汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0130】

（３） 記憶部２２２は、複数の汚損状態の履歴をさらに記憶する。処理部２００は、複数の汚損状態の履歴に基づき、将来の複数の汚損状態を推定する。これにより、無停電電源システム１のメンテナンスを行うべき時期を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0131】

（４） 記憶部２２２は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８に対応した複数の重要度係数をさらに記憶する。複数の重要度係数の各々は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８が配置された領域内の部品７１～７４の重要度に応じて設定されている。処理部２００は、複数の重要度係数の各々に、複数の汚損状態のうちの対応する汚損状態を乗じた値を算出する。処理部２００は、算出された複数の値のうちの少なくとも１つが第２判定値以上である場合、アラーム情報を出力する。これにより、重要度の高い部品に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0132】

（５） 複数の重要度係数の各々は、複数の発光センサＫ１～Ｋ８のうちの対応する発光センサＫ１～Ｋ８が配置された領域内の部品７１～７４の集積度、または当該部品７１～７４が保護回路を有するか否かに応じて設定されている。これにより、重要度の高い部品として、集積度の高い部品または保護回路を有さない部品に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0133】

（６） 基板５１は、複数の領域に区画されている。記憶部２２２は、複数の領域に対応した複数の重要度係数と、複数の領域に対応した複数の重み係数とをさらに記憶する。複数の重要度係数の各々は、複数の領域のうちの対応する領域内の部品７１～７４の重要度に応じて設定されている。複数の重み係数の各々は、複数の領域のうちの対応する領域の汚損しやすさに応じて設定されている。処理部２００は、複数の重み係数の各々に、複数の重要度係数のうちの対応する重要度係数を乗じ、さらに、複数の汚損状態のうちの対応する汚損状態を乗じた値を算出する。処理部２００は、算出された複数の値のうちの少なくとも１つが第３判定値以上である場合、アラーム情報を出力する。これにより、重要度の高い部品および汚損しやすい領域に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0134】

（７） 複数の重要度係数の各々は、複数の領域のうちの対応する領域内の部品７１～７４の集積度、または当該部品７１～７４が保護回路を有するか否かに応じて設定されている。複数の重み係数の各々は、複数の領域のうちの対応する領域に対する送風状態、または当該領域内の部品７１～７４の取り付け状態に応じて設定されている。これにより、汚損しやすい領域として、送風状態あるいは部品の取り付け状態に着目した汚損状況を把握することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0135】

（８） 記憶部２２２は、複数の汚損状態の履歴をさらに記憶する。処理部２００は、複数の汚損状態の履歴に基づき、重み係数を更新する。これにより、工場出荷段階では想定し得なかった、客先における無停電電源システム１の設置環境に応じて重み係数を変更することができるため、より給電信頼性の高い無停電電源システム１を提供することができる。

【0136】

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

【符号の説明】

【0137】

Ｋ１～Ｋ８ 発光センサ、Ｌ１～Ｌ８ 受光センサ、１ ＵＰＳ（無停電電源システム）システム、５１ 基板、５２ 対向部材、７１～７４ 部品、８１～８３ 塵埃、１００ ＵＰＳ（無停電電源装置）、１０１，２０１ 制御部、１０２，２０２ 通信インターフェイス、１２１，２２１ ＣＰＵ、１２２，２２２ 記憶部、２００ 処理部、２０４ 表示部、２１１ 基板汚損チェック部、２１２ 汚損判定値、２１３ 汚損進行ログ、２１４ 劣化推定部、２１５ 汚損判定値、２１６ 回路重要度、２１７ 汚損状態重みデータ、２１８ 基板汚損マップ生成部。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】