特許 7481066 物品監視システムにおけるＲＦＩＤ装置の性能の収束

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-04-30

(45)【発行日】2024-05-10

(54)【発明の名称】物品監視システムにおけるＲＦＩＤ装置の性能の収束

(51)【国際特許分類】

   G06K 7/00 20060101AFI20240501BHJP

   G06K 7/10 20060101ALI20240501BHJP

   G06K 19/07 20060101ALI20240501BHJP

   H04B 1/59 20060101ALI20240501BHJP

   G08B 13/24 20060101ALI20240501BHJP

【ＦＩ】

G06K7/00 008

G06K7/10 244

G06K19/07 260

H04B1/59

G08B13/24

【請求項の数】 25

(21)【出願番号】P 2022551702

(86)(22)【出願日】2021-02-25

(65)【公表番号】

(43)【公表日】2023-04-17

(86)【国際出願番号】 US2021019561

(87)【国際公開番号】W WO2021173772

(87)【国際公開日】2021-09-02

【審査請求日】2022-10-24

(31)【優先権主張番号】62/981,211

(32)【優先日】2020-02-25

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(73)【特許権者】

【識別番号】518000176

【氏名又は名称】エイヴェリー デニソン リテール インフォメーション サービシズ リミテッド ライアビリティ カンパニー

【氏名又は名称原語表記】ＡＶＥＲＹ ＤＥＮＮＩＳＯＮ ＲＥＴＡＩＬ ＩＮＦＯＲＭＡＴＩＯＮ ＳＥＲＶＩＣＥＳ ＬＬＣ

【住所又は居所原語表記】８０８０ Ｎｏｒｔｏｎ Ｐａｒｋｗａｙ， Ｍｅｎｔｏｒ， Ｏｈｉｏ ４４０６０ Ｕｎｉ－ｔｅｄ Ｓｔａｔｅｓ ｏｆ Ａｍｅｒｉｃａ

(74)【代理人】

【識別番号】110001519

【氏名又は名称】弁理士法人太陽国際特許事務所

(74)【代理人】

【識別番号】100101683

【弁理士】

【氏名又は名称】奥田 誠司

(74)【代理人】

【識別番号】100155000

【弁理士】

【氏名又は名称】喜多 修市

(74)【代理人】

【識別番号】100139930

【弁理士】

【氏名又は名称】山下 亮司

(74)【代理人】

【識別番号】100188813

【弁理士】

【氏名又は名称】川喜田 徹

(74)【代理人】

【識別番号】100202142

【弁理士】

【氏名又は名称】北 倫子

(72)【発明者】

【氏名】フォースター，イアン ジェイ．

【審査官】田中 啓介

(56)【参考文献】

【文献】特表２００８－５３９５１０（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１２／００４４０７４（ＵＳ，Ａ１）

【文献】米国特許出願公開第２００６／０２２６９８２（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特開２０１０－０８６１６６（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｂ６２Ｄ４１／００－６７／００

Ｂ６５Ｇ１／１３７

Ｇ０１Ｓ７／００－７／４２

Ｇ０１Ｓ１３／００－１３／９５

Ｇ０５Ｂ１９／４１８

Ｇ０６Ｋ７／００－７／１４

Ｇ０６Ｋ１９／００－１９／１８

Ｇ０８Ｂ１３／００－１５／０２

Ｇ０８Ｂ２３／００－３１／００

Ｈ０４Ｂ１／００、１／３０、１／５９、１／７２

Ｈ０４Ｂ５／００－５／０６

Ｈ０４Ｂ１１／００－１３／０２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

複数のＲＦＩＤ装置が取り付けられた複数の製品が配置される在庫ゾーンと、前記複数のＲＦＩＤ装置が検出される感知ゾーンと、前記在庫ゾーンと前記感知ゾーンとの間の移行ゾーンとを含む環境で使用される電子物品監視（ＥＡＳ）システム用の複数のＲＦＩＤ装置を構成する方法であって、
前記在庫ゾーンに配置され、前記ＥＡＳシステムによって監視される複数の異なる製品に取り付けられる複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置を用意するステップと、
ある周波数範囲で前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能をテストするステップと、
前記周波数範囲における前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を前記周波数範囲における複数の補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能と比較するステップと、
前記周波数範囲における１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が、前記周波数範囲における前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能と十分に類似しない場合、前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を前記周波数範囲における前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能に収束させるために、前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の１つ以上を再構成するステップと、
再構成後、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が、前記周波数範囲における前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能または互いの性能と十分に類似する場合、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を前記電子物品監視システムに組み込むことにより、前記移行ゾーンを縮小させ、前記感知ゾーンにおける誤検出の可能性を低減するステップと、
を含む方法。

【請求項2】

前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置をデジタル的に修正することを含む、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に対するデジタル修正は、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に対応する前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能を含む複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報を含むデジタルデータベースにリンクされた固有のデジタルインジケータを、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれに付与することを含む、請求項２に記載の方法。

【請求項4】

前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置が同じタイプの製品のセットにタグ付けされる場合、前記１つ以上のＲＦＩＤ装置に付与される前記固有のデジタルインジケータは同一である、請求項３に記載の方法。

【請求項5】

前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能を含む前記複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報は、対応する複数のサンプルＲＦＩＤ装置がタグ付けされる製品のタイプに基づいて判定される、請求項３または４に記載の方法。

【請求項6】

前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に物理的修正を行うことを含む、請求項１に記載の方法。

【請求項7】

前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための物理的修正を含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つのアンテナの構成を変更すること含む、請求項６に記載の方法。

【請求項8】

前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための物理的修正を含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つのアンテナのサイズを変更すること含む、請求項６に記載の方法。

【請求項9】

前記周波数範囲における第１および第２のＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための物理的修正を含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つのアンテナの形状を変更することを含む、請求項７に記載の方法。

【請求項10】

前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための物理的修正を含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つのアンテナの材料組成を変更することを含む、請求項７に記載の方法。

【請求項11】

前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための物理的修正を含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つのＲＦＩＤチップの構成を変更することを含む、請求項７に記載の方法。

【請求項12】

前記ＲＦＩＤチップの構成を変更することは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つの前記ＲＦＩＤチップの感度を変更することを含む、請求項１１に記載の方法。

【請求項13】

前記ＲＦＩＤチップの構成を変更することは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つの前記ＲＦＩＤチップの入力キャパシタンスを変更することを含む、請求項１１に記載の方法。

【請求項14】

前記ＲＦＩＤチップの構成を変更することは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つの前記ＲＦＩＤチップの識別子を変更することを含む、請求項１１に記載の方法。

【請求項15】

前記１つ以上のＲＦＩＤ装置の性能を前記周波数範囲における前記補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能にまたは互いに収束させるために、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップは、前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つに関連付けられた少なくとも１つの製品の構成を変更することを含む、請求項１に記載の方法。

【請求項16】

前記ＥＡＳシステムは、前記感知ゾーンに配置されるＲＦＩＤリーダであって、前記デジタルデータベースからアクセスされた前記１つ以上のＲＦＩＤ装置に対応する性能の構成情報に基づいて、前記固有のデジタルインジケータをそれぞれ含む前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を読み取るように構成されたＲＦＩＤリーダを含む、請求項３～５のいずれか一項に記載の方法。

【請求項17】

前記周波数範囲における前記１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能は、前記電子物品監視システムを用いてテストされる、請求項１６に記載の方法。

【請求項18】

前記周波数範囲は、前記電子物品監視システムに使用される周波数に基づいて決定される、請求項１７に記載の方法。

【請求項19】

複数のＲＦＩＤ装置が取り付けられた複数の製品が配置される在庫ゾーンと、前記複数のＲＦＩＤ装置が検出される感知ゾーンと、前記在庫ゾーンと前記感知ゾーンとの間の移行ゾーンとを含む環境で使用される電子物品監視（ＥＡＳ）システム用のＲＦＩＤ装置を製造する方法であって、
同一の初期構成を有する複数のサンプルＲＦＩＤ装置を用意するステップと、
第１の最終構成を有するように前記複数のサンプルＲＦＩＤ装置のうちの１つを再構成するステップと、
第２の最終構成を有するように前記複数のサンプルＲＦＩＤ装置のうちの他の１つを再構成するステップと、
前記第１および第２の最終構成を有するサンプルＲＦＩＤ装置を前記電子物品監視システムに組み込むステップと、
を含み、
前記第１の最終構成は、前記第２の最終構成と異なり、
前記第１の最終構成を有するサンプルＲＦＩＤ装置および前記第２の最終構成を有するサンプルＲＦＩＤ装置は、前記電子物品監視システムに使用される周波数または周波数範囲において十分に類似する性能を有し、
前記再構成により、前記移行ゾーンを縮小させ、前記感知ゾーンにおける誤検出の可能性を低減する、
方法。

【請求項20】

前記サンプルＲＦＩＤ装置の前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、初期構成のアンテナと異なるサイズのアンテナを有する、請求項１９に記載の方法。

【請求項21】

前記サンプルＲＦＩＤ装置の前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、前記初期構成のアンテナと異なる形状のアンテナを有する、請求項１９に記載の方法。

【請求項22】

前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、前記初期構成に含まれないオーバープリントされた抵抗性材料を含む、請求項１９に記載の方法。

【請求項23】

前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、前記初期構成に含まれないオーバープリントされた誘電体材料を含む、請求項１９に記載の方法。

【請求項24】

前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、前記初期構成に含まれないオーバープリントされた導電性材料を含む、請求項１９に記載の方法。

【請求項25】

前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、前記初期構成に含まれないオーバープリントされた磁性材料を含む、請求項１９に記載の方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

（関連出願の相互参照）
本出願は、２０２０年２月２５日に出願された米国仮特許出願番号６２／９８１，２１１の利益を主張し、その全体が本明細書に参照として含まれる。

【0002】

本主題は、無線周波数識別（「ＲＦＩＤ」）装置に関する。より具体的に、本主題は、電子物品監視（「ＥＡＳ」）システムに用いられる異なる構成のＲＦＩＤ装置の性能を収束させることに関する。

【背景技術】

【0003】

小売店では、陳列品および／または在庫品の正確な計数が重要である。また、適所に効果的な盗難防止システムを備えることが重要である。これらの機能を共に実行するために、ＲＦＩＤタグおよびラベル（本明細書において、まとめて「ＲＦＩＤ装置」と呼ぶ）を使用するのが通常である。

【0004】

通常、ＲＦＩＤ技術を使用するＥＡＳシステムは、２つの主な読み取りゾーンを有し、これらは、それぞれ関連のＲＦＩＤリーダを含む。読み取りゾーンの一方は、製品が消費者に提示される商店内の領域（本明細書において、「在庫ゾーン」と呼ぶ）であり、他方の読み取りゾーンは、製品を盗もうとしていることを示す一種の警報をトリガするよう、適切に解除されていない任意のＲＦＩＤ装置を感知し得る商店の出口領域（本明細書において、「感知ゾーン」と呼ぶ）である。顧客がアイテムを適切に購入した場合、レジ係はこれに関連するＲＦＩＤ装置を除去または解除させる。ＲＦＩＤ装置が除去または解除されていない場合、ＲＦＩＤリーダは、装置を読み取り、感知ゾーンで警報またはその他警告をトリガする。

【0005】

上述のシステムが広く普及しているが、一部欠点が存在する。ＥＡＳシステム用のＲＦＩＤ装置／システムを用いる場合、１つの一般的な問題は、特定の状況におけるＲＦＩＤ装置の読み取り範囲が、在庫ゾーン内のＲＦＩＤ装置が感知ゾーンで読み取られるほど、あるいはその逆の状況が生じ得るほど、十分に大きくなり得ることである。このようなリスクを減らすために、在庫ゾーンと感知ゾーンとの間に移行ゾーンが頻繁に備えられ、２つの読み取りゾーンを物理的に分離する。しかし、動作周波数でより高い感度を有する異なるＲＦＩＤ装置および／または関連のＲＦＩＤ装置の性能に異なる影響を与える異なる物品により、移行ゾーンは相対的に大きい必要がある。移行ゾーンが大きいほど在庫ゾーンは小さくなるため、購入において、小売業者が提示できる商品は少なくなる。従って、異なる構成のＲＦＩＤ装置がＥＡＳシステムの動作周波数または周波数範囲で同じ性能を有するシステムを備えることが有利であり、これにより移行ゾーンのサイズを縮小させることができる。

【発明の概要】

【0006】

以下に記載および請求される装置、システム、および方法において、個別にまたは共に実施し得る本主題の様々な態様がある。これらの態様は、単独で、または本明細書に記載する主題の他の態様と組み合わせて使用され得、これらの態様を共に説明することは、これらの態様を個別に用いたり、本明細書に添付の請求範囲に明示され得るように、かかる態様を個別にまたは異なる組み合わせで請求することを排除するよう意図するものではない。

【0007】

ＥＡＳシステム用のＲＦＩＤ装置を構成する方法が、本明細書に記載されている。一部の実施形態において、前記方法は、（１）ＥＡＳシステムによって監視された異なる製品にタグ付けされる複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置を備えるステップと、（２）ある周波数範囲で複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能をテストするステップと、（３）前記周波数範囲におけるサンプルＲＦＩＤ装置の性能を前記周波数範囲における複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能と比較するステップと、（４）前記周波数範囲における１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が、同じ周波数範囲における補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能と十分に類似しない場合、前記周波数範囲における１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるために、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つ以上を再構成するステップと、を含む。前記周波数範囲における１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるために、前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の少なくとも１つ以上を再構成するステップは、装置をデジタル的に再構成すること、装置を物理的に再構成すること、またはこれらの組み合わせを含むことができる。装置をデジタル的および物理的に再構成する方法は、以下より詳細に記載する。

【0008】

複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成は、再構成後、異なる商品／製品にタグ付けされ得るにもかかわらず、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれのサンプルＲＦＩＤ装置の性能を類似させる方式で選択される。再構成された１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置は、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が前記周波数範囲で十分に類似する場合、ＥＡＳシステムに組み込まれる。同様に、複数のＲＦＩＤ装置の他のサンプルＲＦＩＤ装置がテストされ、補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能と比較され、最終的にＥＡＳシステムに組み込まれる。性能の収束により全てのサンプルＲＦＩＤ装置が同じように作動すると、ＥＡＳシステムはより予測可能になる。これは、ＥＡＳシステムの感知ゾーン（ゲート）において良好に感知できるようにシステムを最適化するのに役に立つ。

【0009】

一部の実施形態において、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の再構成は、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置をデジタル的に修正することにより達成される。一部の実施形態において、デジタル修正は、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に対応する補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能を含む複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報を含むデジタルデータベースにリンクされた固有のデジタルインジケータを、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれに付与することを含む。一部の実施形態において、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置が同じタイプの製品のセットにタグ付けされる際、固有のデジタルインジケータは同じである。また、補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能を含む複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報は、対応する複数のサンプルＲＦＩＤ装置がタグ付けされる製品のタイプに基づいて判定される。

【0010】

一部の実施形態において、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるために１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成することは、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を物理的に修正することにより達成される。一部の実施形態において、物理的修正は、アンテナの構成変更、アンテナのサイズ変更、アンテナの材料組成変更などを含むアンテナの構成変更、並びにこれらの組み合わせを含むが、これらに限定されない。

【0011】

一部の実施形態において、再構成されたサンプルＲＦＩＤ装置がＥＡＳシステムに組み込まれる。ＥＡＳシステムは、デジタルデータベースからアクセスされた１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に対応する性能の構成情報に基づいて、固有のデジタルインジケータをそれぞれ含む１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を読み取るように構成されたＲＦＩＤリーダをさらに含む。これは、感知ゾーンにおけるＲＦＩＤリーダを含むＥＡＳシステムが全てのサンプルＲＦＩＤ装置の動作をデジタル的に捉えて、任意の製品が盗まれた場合、感知ゾーンにおけるリーダが警報を鳴らすようにする。同時に、過度な読み取りによる誤警報を発生させない。

【0012】

一部の実施形態において、ＥＡＳシステム用のＲＦＩＤ装置を製造する方法がまた本明細書に記載されている。前記方法は、同じ初期構成を有する複数のサンプルＲＦＩＤ装置を備えるステップと、第１の最終構成を有するように複数のサンプルＲＦＩＤ装置のうちの１つのサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップと、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能と異なるか、および／または互いの性能と異なる場合、第２の最終構成を有するように複数のサンプルＲＦＩＤ装置のうちの他のサンプルＲＦＩＤ装置を再構成するステップと、を含む。次いで、第１および第２の最終構成を有するサンプルＲＦＩＤ装置は電子物品監視（ＥＡＳ）システムに組み込まれ、第１の最終構成は第２の最終構成と異なる。第１および第２の最終構成を有するサンプルＲＦＩＤ装置は、ＥＡＳシステムに使用された周波数または周波数範囲で十分に類似する性能を有する。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】第１のサンプルＲＦＩＤ装置の概略図であり、ある周波数範囲におけるその性能を示す。

【図2】第２のサンプルＲＦＩＤ装置の概略図であり、図１のように、同じ周波数範囲におけるその性能を示す。

【図3】図１および図２のサンプルＲＦＩＤ装置の再構成バージョンの概略図であり、図１および図２のように、同じ周波数範囲におけるその性能を示す。

【発明を実施するための形態】

【0014】

本発明の詳細な実施形態を本明細書に開示しているが、開示している実施形態は、多様な形態で実施し得る発明の単なる例示に過ぎないことを理解すべきである。従って、本明細書に開示している特定の詳細は、限定的なものと解釈されてはならず、単なる請求の範囲の根拠として、かつ実質的に任意の適切な方法で本発明を多様に使用するように当業者に教示するための代表的な根拠として解釈しなければならない。

【0015】

異なるサイズ、材料、および／または構成のＲＦＩＤ装置は、パラメータの異なる組み合わせを有することができるので、ＥＡＳシステムが１つのＲＦＩＤ装置の移行ゾーンのサイズを減らすように最適化される場合、異なる構成のＲＦＩＤ装置には効果的ではないことがある。ＥＡＳシステムに用いられた全てのＲＦＩＤ装置を同じくレンダリングできる場合でも、商品の異なる構成の部分は、関連のＲＦＩＤ装置の性能に異なる影響を与えるであろう。従って、異なる構成のＲＦＩＤ装置および異なる構成の商品を収容するＥＡＳシステムの移行ゾーンのサイズを減らそうとする場合、非常に様々な要因を考慮しなければならない。

【0016】

一部の実施形態において、２つの異なる構成のＲＦＩＤ装置（または商品／製品の異なる部分若しくは異なる位置にある同じタイプの商品／製品に関連する２つの類似する構成のＲＦＩＤ装置）の性能がある周波数範囲にわたってテストされる。図１は、周波数範囲にわたるの性能と共に、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置（図示せず）の第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０を示す。「性能」という用語が包括している正確な基準は、本開示の範囲から逸脱することなく変わり得るが、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０の感度を含み得ることを理解すべきである。同様に、周波数範囲にわたってその性能を判定するために、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０に実施されるテストまたはテストの特性は、対象となる基準（すなわち、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０の「性能」を規定するために用いられた基準）に応じて、正確なテストにより変わり得る。周波数範囲にわたって第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０に対して２回以上テストが実行される場合、テストされる異なる値の相対的な重要性に応じて、少なくとも２回のテストの結果に異なる加重値が与えられ得る。本明細書で言及している第１のサンプルＲＦＩＤ装置を含む複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置は、ＥＡＳシステムに組み込まれるＲＦＩＤ装置である。

【0017】

ＲＦＩＤ装置の性能が考慮される特定の周波数範囲はまた、本開示の範囲から逸脱することなく変わり得ることを理解すべきである。しかし、周波数範囲は、同じ周波数範囲であるか、またはＲＦＩＤ装置が組み込まれるＥＡＳシステムに用いられた動作周波数を含むことが有利であり得る。可能な場合、ＲＦＩＤ装置が組み込まれる正確なＥＡＳシステムでＲＦＩＤ装置の性能を考慮することが有利であり得る。不可能な場合、ＲＦＩＤ装置が組み込まれるＥＡＳシステムを模倣した環境でＲＦＩＤ装置の性能を考慮することが有利であり得る。

【0018】

図２は、図１のように、同じ周波数範囲にわたるその性能と共に、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置（図示せず）の第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２を示す。前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置は、ＥＡＳシステムにおいて、それらの全体的な性能に基づいてそれらの元の構成の通りにＥＡＳシステムに組み込まれたり、再構成されるように備えられる。様々な製品にタグ付けされ、ＥＡＳシステムにより監視される全てのサンプルＲＦＩＤ装置が同じように作動すると、ＥＡＳシステムは予測可能になり、これは、感知ゾーンにおける誤警報を防止すると共に、感知ゾーンにおいて良好に感知できるようにシステムを最適化するのに役に立つ。従って、在庫ゾーンに配置されるように構成された複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能の収束が必要となる。在庫ゾーンの全てのサンプルＲＦＩＤ装置の読み取り範囲を収束させることで、在庫ゾーンのサンプルＲＦＩＤ装置のばらつきを制御することにより、ＥＡＳシステムの在庫ゾーンおよび感知ゾーンをよりよく制御することができるようになる。

【0019】

一部の実施形態において、性能の比較および収束のための基準として複数のターゲットＲＦＩＤ装置が備えられる。例えば、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能は、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれに対応する補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能に収束できる。本発明の態様により、ターゲットＲＦＩＤ装置は、補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能とサンプルＲＦＩＤ装置の性能との収束が全ての異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能の全体的な収束をもたらすように選択される。一実施形態において、異なる製品にタグ付けされ、異なる読み取り範囲を有する複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤは、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置が周波数範囲にわたって同じ読み取り範囲を有するように再構成されることにより、性能の収束をもたらす。異なる材料で製造される異なる商品／製品に取り付けられる場合でも、全てのサンプルＲＦＩＤ装置の性能が類似するように性能の収束を行うようにする。一実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能は、単一のターゲットＲＦＩＤ装置に収束できる。別の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置の性能は、補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能に収束できる。複数のターゲット装置に対応する性能の構成情報は、性能の収束を完了するためにアクセスできるデジタルデータベースに格納される。複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置がタグ付けされる商品／製品の特性は、複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報を判定する際に考慮される。

【0020】

通常、第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２の構成は、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０の構成と異なり、これは、そのアンテナの構成（形状、サイズ、および材料組成を含む）、そのＲＦＩＤチップの構成（感度、入力キャパシタンス、および識別子）、関連する非機能的構成要素の特性および構成、関連する商品／製品の部分の特性、並びに、関連する商品にそれが取り付けられる位置の１つ以上の差を含み得る。上述の列挙は単なる例示であるだけで、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０と第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２との間に他の差異点があり得ることを理解すべきである。

【0021】

図１と図２との比較から分かるように、サンプルＲＦＩＤ装置１０および１２は、同じ周波数範囲にわたって異なる性能を示す。性能の差により（周波数範囲が、ＲＦＩＤ装置１０および１２が組み込まれるＥＡＳシステムに使用された動作周波数または周波数範囲を示すと仮定する場合）、ＲＦＩＤ装置１０および１２の両方を組み込むＥＡＳシステムは、誤警報を防止するために相対的に大きな移行ゾーンを必要とし得る。

【0022】

一部の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の１つ以上は、ＥＡＳシステムの移行ゾーンが相対的に小さくなるように、（上述のようにデジタル的および／または物理的に）再構成することができる。例えば、本実施形態において、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０および第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２の両方は、テストされた周波数範囲にわたってそれらの性能を収束（すなわち、より類似するようにレンダリング）させるために再構成される。図３は、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０の再構成バージョン１０'、第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２の再構成バージョン１２'、並びに、図１および図２のように、同じ周波数範囲にわたって再構成された第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０’および第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２'の両方の性能比較を示し、実線は、再構成された第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０'の性能を示し、破線は、再構成された第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２'の性能を示す。図３から分かるように、２つの再構成された第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０'および第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２'の性能は、周波数範囲にわたって同一ではないが、非常に類似しており、図１および図２に示されている性能よりも顕著に類似している。従って、テストされた周波数範囲にわたる元の第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０および第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２の性能は、それらを再構成することにより収束されていると言える。

【0023】

一部の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための再構成は、サンプルＲＦＩＤ装置を個別にテストして互いに比較し、サンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれを修正することにより実行できる。別の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させるための再構成は、テスト後の補完的なターゲットＲＦＩＤ装置と比較し、補完的なターゲットＲＦＩＤ装置のそれぞれの性能の構成に基づいて、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれを修正することを含むことができる。複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成は、再構成後、異なる商品／製品にタグ付けされ得るにもかかわらず、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置のそれぞれのサンプルＲＦＩＤ装置の性能を類似させる方式で選択される。

【0024】

一部の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の再構成は、異なる性能の構成を有する１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置をデジタル的に修正することを含む。デジタル修正は、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に対応する補完的なターゲットＲＦＩＤ装置の性能を含む複数のターゲットＲＦＩＤ装置の性能の構成情報を含むデジタルデータベースにリンクされた固有のデジタルインジケータを有する１つ以上のＲＦＩＤ装置を備えることを含むが、これに限定されない。従って、前記複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置がＥＡＳシステムに組み込まれる。ＥＡＳシステムは、デジタルデータベースからアクセスされた１つ以上のＲＦＩＤ装置に対応する性能の構成情報に基づいて、固有のデジタルインジケータをそれぞれ含む１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置を読み取るように構成されたＲＦＩＤリーダをさらに含む。これは、感知ゾーンのＲＦＩＤリーダを含むＥＡＳシステムが在庫ゾーンに配置された全てのサンプルＲＦＩＤ装置の動作をデジタル的に捉えて、任意の製品が盗まれた場合、感知ゾーン（ゲート）におけるリーダが警報を鳴らすようにする。同時に、過度な読み取りによる誤警報を発生させない。

【0025】

別の実施形態において、複数の異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の再構成は、１つ以上のサンプルＲＦＩＤ装置に物理的修正を行うことを含む。例えば、それぞれのサンプルＲＦＩＤ装置１０、１２に行われた特定の物理的修正は、本開示の範囲から逸脱することなく変わり得る。この例において、ＲＦＩＤ装置１０および１２の一方または両方のアンテナの構成が変更され得る。これは、アンテナのサイズ（アンテナの表面積および／または厚さを変更することを含み得る）、アンテナの形状（アンテナの外周の形状およびその外周内に規定された任意の空隙の数、サイズ、並びに／または構成を含む）、および／またはアンテナの少なくとも一部分の材料組成（例えば、アルミニウム箔の代わりに導電性インクを用いるか、または全ての位置で同じ材料を用いる代わりにアンテナの異なる領域に異なる材料を用いること）を変更（増加または減少）することを含み得る。

【0026】

他に可能な修正は、第１のサンプルＲＦＩＤ装置が関連付けられる商品の部分などの関連する非機能的構成要素の特性および構成、並びに、関連する商品の部分に第１のサンプルＲＦＩＤ装置が取り付けられる位置の修正を含む（しかし、これに限定されない）。例えば、第１のサンプルＲＦＩＤ装置の利用可能な取付スペースは、金属物品、導電性ファブリック、高密度高誘電率材料の領域などのように、異なる材料を有する空間に隣接する領域を有し得る。第１のサンプルＲＦＩＤ装置の性能は、取付スペース内および取付スペースに隣接するこれらの他の材料に対するその位置によって異なるので、これらの領域に対する第１のサンプルＲＦＩＤ装置の位置は、第１のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を修正するように変更され得、従って、ＥＡＳシステムに用いられるサンプルＲＦＩＤ装置の全体的なセットと第１のサンプルＲＦＩＤ装置との収束に寄与する。

【0027】

サンプルＲＦＩＤ装置を再構成することはまた、（または代案的に）ＲＦＩＤチップの１つ以上の特徴、例えば、その感度、入力キャパシタンス、およびＲＦＩＤチップの識別子を変更することを含む。サンプルＲＦＩＤ装置に対する物理的な変更は、製造施設における修正を必要とし得るが、サンプルＲＦＩＤ装置のＲＦＩＤチップに対する特定の修正は、テスト現場で行われ得る。例えば、例示的な一実施形態において、サンプルＲＦＩＤ装置は、それを商品の部分に関連付け、（可能な場合）サンプルＲＦＩＤ装置が組み込まれるＥＡＳシステムの在庫ゾーン、またはそのようなＥＡＳシステムと近似する環境に配置することによりテストされる。次いで、感知ゾーンでのみサンプルＲＦＩＤ装置を感知するように構成されたＥＡＳシステムのＲＦＩＤリーダは、商店または環境が規定された状態にある（例えば、顧客がいない）間に起動され、読み取ることができる在庫ゾーンのタグにおける任意のサンプルＲＦＩＤ装置が感知される。次いで、ＥＡＳシステム（または在庫ゾーンにあるシステム）は、感知ゾーンと関連付けられたＲＦＩＤリーダによりサンプルＲＦＩＤ装置が読み取られることを排除するために選択されたパラメータ（例えば、チップ感度、入力キャパシタンス、および識別子）を変更することができる感知されたサンプルＲＦＩＤ装置のＲＦＩＤチップに命令を送信することができ、それによって収束性を高めることができる。別の例示的な実施形態において、感知ゾーンのＲＦＩＤリーダによって読み取ることができる在庫スペース内のサンプルＲＦＩＤ装置が感知されるが、同じサンプルＲＦＩＤ装置は、在庫ゾーンに関連付けられたＲＦＩＤリーダ（例えば、オーバーヘッドリーダシステム）によっても同時に感知される。感知されたサンプルＲＦＩＤ装置の一部または全部のＲＦＩＤチップのパラメータを変化させることで、在庫性能を維持しながら、ＥＡＳシステムの感知ゾーンと関連付けられたＲＦＩＤリーダからの誤警報の読み取りを排除させる。

【0028】

例えば、図２において、第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２の性能は、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０（図１）の性能が再構成された第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０'（図３）と類似しているというよりは、再構成された第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２'（図３）の性能の方がより類似していることが分かるであろう。従って、第２のサンプルＲＦＩＤ装置１２を再構成するよりも、第１のサンプルＲＦＩＤ装置１０を再構成するのにより多くの（および／またはかなりの）修正を必要とすることがあり得る。周波数範囲にわたる２つのサンプルＲＦＩＤ装置の相対的な性能に応じて、他のサンプルＲＦＩＤ装置の性能を模倣または近似するように、サンプルＲＦＩＤ装置の１つのみを再構成することが可能であり得る。しかし、サンプルＲＦＩＤ装置の構成に対する任意の様々な制約により、サンプルＲＦＩＤ装置の全てが少なくともわずかに再構成されなければならないことがしばしばあり得る。例えば、サンプルＲＦＩＤ装置のアンテナの最大表面積が限定され得るので、アンテナの表面積を最大サイズ以上に増やすことが好ましい場合には、ＲＦＩＤ装置の一部の他の態様を変更しなければならない。アンテナの表面積のサイズへの制限を補償するために変更することができるサンプルＲＦＩＤ装置の一部の他の態様がない場合（例えば、アンテナの材料組成および／または厚さの変更が許容されないことにより）、そのサンプルＲＦＩＤ装置の性能を収束させる代わりに他のサンプルＲＦＩＤ装置の一部態様を変更する必要があり得る。

【0029】

２つの異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能が同じＥＡＳシステムで用いるのに好適にそれらをレンダリングするために十分に類似していると判断されるポイントは、本開示の範囲から逸脱することなく変わり得る。より小さい移行ゾーンが要望される場合、より高い類似度が必要となり得るものの、移行ゾーンがさらに大きくなる場合、より低い類似度が許容され得る。また、周波数範囲にわたる２つの異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置の性能間の必要な類似度を判定するにあって、他の要因（例えば、ＥＡＳシステムに使用されたＲＦＩＤリーダの特性および誤警報防止の重要性）が考慮され得る。サンプルＲＦＩＤ装置の単一の再設計が不十分であり得るが、再構成されたサンプルＲＦＩＤ装置をテストしてから、それらの1つ以上を再構成する複数の繰り返しは、それらの性能が収束されていると判断される前に必要とする場合があり得る。

【0030】

一部の実施形態において、一般的なＥＡＳシステムに組み込まれる異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置は、同じ初期のサンプルＲＦＩＤ装置のテンプレートから製造され得る。テンプレートは、最終構成の（全てではなくても）少なくとも１つ、例えば、ＥＡＳシステムに組み込まれるサンプルＲＦＩＤ装置の第１の最終構成と異なる初期構成を有し得る。好ましくは、テンプレートは、低コストで大量構築が可能な構成を有し、おそらく、１つのＥＡＳシステムだけでなく、複数の異なるＥＡＳシステムに用いられる異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置に用いられた異なるＲＦＩＤ装置に対して再構成させるのに十分に簡単または基本的な構成を有する。所望の最終構成により、特定のＥＡＳシステムおよび製品ミックスの周波数範囲にわたって収束する性能を有している第２の最終構成を有する異なる構成のサンプルＲＦＩＤ装置のセットを生成するように、テンプレートはアンテナの全体的な形状を変更するための切断、導体のレーザ変調または性能を変更するためのオーバープリントされた材料（例えば、導体、抵抗性材料、誘電体、および磁性材料）の追加などの方法を含み得る任意のアプローチによって修正できる。例えば、一実施形態において、第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、サンプルＲＦＩＤ装置のテンプレートの初期構成に含まれないオーバープリントされた抵抗性材料を含む。別の実施形態において、前記第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、初期構成に含まれないオーバープリントされた誘電体材料を含む。１つ以上の実施形態において、第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、初期構成に含まれないオーバープリントされた導電性材料を含む。また別の実施形態において、第１および第２の最終構成の少なくとも１つは、初期構成に含まれないオーバープリントされた磁性材料を含む。

【0031】

上述の実施形態は、本主題の原理における適用例の一部を例示するものであることを理解するであろう。本明細書で個別に開示または請求される特徴の組み合わせを含めて、請求される主題の概念および範囲から逸脱することなく、当業者によって多数の修正が行われ得る。かかる理由により、本明細書の範囲は上記説明に限定されないが、以下の請求範囲に明示されている通りであり、請求範囲は、本明細書で個別に開示または請求される特徴の組み合わせを含めて、本明細書の特徴に関するものであり得ることが理解される。

【図1】

【図2】

【図3】