特許 7498973 光学特性測定器

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-06-05

(45)【発行日】2024-06-13

(54)【発明の名称】光学特性測定器

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/01 20060101AFI20240606BHJP

   G01N 21/59 20060101ALI20240606BHJP

   G01N 21/57 20060101ALI20240606BHJP

【ＦＩ】

G01N21/01 B

G01N21/59 M

G01N21/57

【請求項の数】 6

(21)【出願番号】P 2022030669

(22)【出願日】2022-03-01

(65)【公開番号】P2023127101

(43)【公開日】2023-09-13

【審査請求日】2023-09-26

【早期審査対象出願】

(73)【特許権者】

【識別番号】000107583

【氏名又は名称】スガ試験機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001357

【氏名又は名称】弁理士法人つばさ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】須賀 茂雄

(72)【発明者】

【氏名】長谷川 剛

(72)【発明者】

【氏名】加藤 光利

(72)【発明者】

【氏名】田中 智

【審査官】田中 洋介

(56)【参考文献】

【文献】特開２００８－２６８０５９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００７－２２５４８０（ＪＰ，Ａ）

【文献】登録実用新案第３１００１２０（ＪＰ，Ｕ）

【文献】特開２００１－３５６０９２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００４－２４５９７９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特公平０３－０８１０９２（ＪＰ，Ｂ２）

【文献】特開２０１５－１１４２９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０９－０６１３１９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１９－０５２９７２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００３－２７０１５２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１４－２１５２５７（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２１／００－２１／９５８

Ｇ０１Ｊ １／００－１／６０

Ｇ０１Ｊ ３／００－３／５２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

フィルム状の試料における光学特性を測定する機器であって、
前記光学特性を数値として定量的に測定するための照射光を出射する光源と、
前記照射光を利用して、前記試料における前記光学特性を数値として定量的に測定する測定機構と、
前記光学特性を測定する際に、前記照射光の測定光路上における測定領域に、前記試料が配置される試料室と、
前記試料室内に前記試料を配置する際に、前記試料を保持する保持部材と、
開閉可能に構成されており、前記試料室を外部に対して露出または遮断させるための試料扉と、
前記試料扉の開閉状態に連動して、前記測定領域に対する前記照射光の照射状態と非照射状態とを切り替える切替機構と
を備え、
前記保持部材は、吸引機構を用いた吸引の際に使用される、１または複数の吸引用開口を有しており、
前記吸引の際の吸引強度が、前記試料の撓みまたは反りの度合いに応じて、任意かつ連続的に変更され、
前記測定機構が、
前記照射光における前記測定光路上に配置された入口開口と、前記測定光路とは異なる光路である前記照射光の補償光路上に配置された補償開口と、を有する積分球と、
前記積分球から出射される光束を受光する受光部と、
前記受光部において得られた受光データに基づいて所定の処理を行うことにより、前記光学特性の測定データを得る測定部と、
を含んで構成されていると共に、
前記入口開口を介した前記照射光と、前記補償開口を介した前記照射光とが、前記積分球の内部に、交互に入射するように構成されており、
前記切替機構は、
前記試料室が外部に露出されている前記試料扉の開状態では、前記測定領域に対して前記照射光が照射状態となるように設定し、
前記試料室が外部から遮断されている前記試料扉の閉状態では、前記光学特性の測定が開始される際に、最初に、前記測定領域に対して前記照射光が非照射状態となるように設定する
光学特性測定器。

【請求項2】

前記測定領域の中央付近を中心として、半径方向に沿って、前記吸引用開口が複数設けられている
請求項１に記載の光学特性測定器。

【請求項3】

前記光学特性を測定する際に、前記照射光が前記試料を透過するように構成されており、
前記保持部材が、前記試料が載置されて保持される、試料台である
請求項１または請求項２に記載の光学特性測定器。

【請求項4】

前記試料台上の前記吸引用開口と前記吸引機構との間を連結させる、開口連結部材が更に設けられている
請求項３に記載の光学特性測定器。

【請求項5】

前記試料台と前記測定機構との間に、防塵機能を有するフィルタが、更に設けられている
請求項３に記載の光学特性測定器。

【請求項6】

前記光学特性が、前記試料の曇り度合いとしてのヘーズ値であり、
ヘーズメーターとして構成されている
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の光学特性測定器。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試料の光学特性を測定する光学特性測定器に関する。

【背景技術】

【0002】

ヘーズ（曇り）、光沢（つや）、色、像鮮明度（写像性）などの物体の見え方（試料の光学特性）を、数値として定量的に評価する測定器として、例えば、ヘーズメーター、光沢計、測色計、写像性測定器などの光学特性測定器が、提案されている（例えば、特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開平０４－２９０２０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで、このような光学特性測定器では一般に、測定の際の再現性を向上させたり、利便性を向上させたりすることが求められている。測定の際の再現性を向上させつつ利便性を向上させることが可能な、光学特性測定器を提供することが望ましい。

【課題を解決するための手段】

【0005】

本発明の一実施の形態に係る光学特性測定器は、フィルム状の試料における光学特性を測定する機器であって、光学特性を数値として定量的に測定するための照射光を出射する光源と、照射光を利用して試料における光学特性を数値として定量的に測定する測定機構と、光学特性を測定する際に、照射光の測定光路上における測定領域に、試料が配置される試料室と、試料室内に試料を配置する際に、試料を保持する保持部材と、開閉可能に構成されており、試料室を外部に対して露出または遮断させるための試料扉と、この試料扉の開閉状態に連動して、測定領域に対する照射光の照射状態と非照射状態とを切り替える切替機構と、を備えたものである。上記保持部材は、吸引機構を用いた吸引の際に使用される、１または複数の吸引用開口を有している。また、上記吸引の際の吸引強度が、試料の撓みまたは反りの度合いに応じて、任意かつ連続的に変更されるようになっている。上記測定機構は、照射光における測定光路上に配置された入口開口と、測定光路とは異なる光路である照射光の補償光路上に配置された補償開口と、を有する積分球と、この積分球から出射される光束を受光する受光部と、この受光部において得られた受光データに基づいて所定の処理を行うことにより、光学特性の測定データを得る測定部と、を含んで構成されていると共に、入口開口を介した照射光と、補償開口を介した照射光とが、積分球の内部に、交互に入射するように構成されている。また、上記切替機構は、試料室が外部に露出されている試料扉の開状態では、測定領域に対して照射光が照射状態となるように設定し、試料室が外部から遮断されている試料扉の閉状態では、光学特性の測定が開始される際に、最初に、測定領域に対して照射光が非照射状態となるように設定する。

【発明の効果】

【0006】

本発明の一実施の形態に係る光学特性測定器によれば、測定の際の再現性を向上させつつ、利便性を向上させることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】本発明の第１の実施の形態に係る光学特性測定器の概略構成例を表す模式図である。

【図2】図１に示した光学特性測定器における試料扉の閉状態での構成例を表す模式図である。

【図3】図１に示した光学特性測定器における試料扉の開状態での構成例を表す模式図である。

【図4】第１の実施の形態の変形例（変形例１）に係る光学特性測定器の概略構成例を表す模式図である。

【図5】第２の実施の形態に係る光学特性測定器の概略構成例を表す模式図である。

【図6】図５に示した試料台の詳細構成例を模式的に表す平面図である。

【図7】比較例２に係る試料ホルダの構成例を表す模式図である。

【図8】第２の実施の形態の変形例（変形例２）に係る光学特性測定器の概略構成例を表す模式図である。

【図9】第２の実施の形態の変形例（変形例３）に係る光学特性測定器の概略構成例を表す模式図である。

【図10】図９に示した試料ホルダの詳細構成例を模式的に表す断面図である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（試料扉の開閉に連動して照射光の照射状態を切り替える例）
２．第１の実施の形態の変形例
変形例１（積分球に補償開口を更に設けるようにした例）
３．第２の実施の形態（試料の保持部材としての試料台に吸引用開口を設けた例）
４．第２の実施の形態の変形例
変形例２（防塵機能を有するフィルタを更に設けるようにした例）
変形例３（試料の保持部材および試料扉としての試料ホルダに吸引用開口を設けた例）
５．その他の変形例

【0009】

＜１．第１の実施の形態＞
［構成］
図１は、本発明の第１の実施の形態に係る光学特性測定器（光学特性測定器１）の概略構成例を、模式的に表したものである。

【0010】

光学特性測定器１は、試料室１４０内に配置された各種の材料からなる試料９について、ヘーズ（曇り）、光沢（つや）、色、像鮮明度（写像性）などの光学特性を、数値として定量的に評価する測定器である。特に本実施の形態の光学特性測定器１は、試料９の曇り度合いとしてのヘーズ値を評価する、ヘーズメーターとして構成されている。

【0011】

光学特性測定器１は、図１に示したように、筐体１０内に、光源１１、レンズ系１２ａ、反射板１３１、シャッターＳを有する遮光板１３０、試料室１４０、試料台１４１、および、試料扉１４２を、備えている。光学特性測定器１はまた、積分球１５、光トラップ１６０、受光部１６１、測定部１６２、センサー１６３、および、制御部１９を、備えている。

【0012】

ここで、シャッターＳ、センサー１６３および制御部１９は、本発明における「切替機構」の一具体例に対応している。また、積分球１５、受光部１６１および測定部１６２は、本発明における「測定機構（照射光を利用して、試料における光学特性を測定する機構）」の一具体例に対応している。

【0013】

光源１１は、試料９の光学特性を測定するための照射光Ｌｏを出射する光源である。光源１１から出射された照射光Ｌｏは、図１に示したように、レンズ系１２ａおよび反射板１３１を介して、測定光路Ｐ１に沿って、遮光板１３０および試料９（試料９上の測定領域Ａｍ）の方向へ向けて、進行するようになっている。この光源１１は、例えば、ハロゲンランプ等のランプ光源や、ＬＥＤ（半導体発光素子）などを用いて構成されている。

【0014】

遮光板１３０は、図１に示したように、試料室１４０の上面側（光源１１と試料９上の測定領域Ａｍとの間）に配置されており、測定光路Ｐ１上を進行する照射光Ｌｏが通過可能な、シャッターＳ（シャッター開口）を有している。この遮光板１３０は、後述する制御部１９から供給される制御信号ＣＴＬに従って、例えば図１中に示した方向ｄ１（Ｘ軸方向）に沿って、移動（変位）することが可能となっている。これにより後述するように、シャッターＳの開状態（照射光Ｌｏの通過状態）と、シャッターＳの閉状態（照射光Ｌｏの非通過状態（遮断状態））とが、切り替えられるようになっている。

【0015】

試料室１４０は、試料９の光学特性を測定する際に、照射光Ｌｏの測定光路Ｐ１上における測定領域Ａｍに、試料９が配置される部屋である。具体的には、試料９の光学特性を測定する際に、試料室１４０内において、試料台１４１上に試料９が載置されて、保持されている。また、図１に示したように、本実施の形態では、試料９の光学特性を測定する際に、試料室１４０内において、測定光路Ｐ１上を進行する照射光Ｌｏが試料９に照射され、試料９を透過した光が入口開口Ａ１から積分球１５へと入射されるように構成されている。

【0016】

試料扉１４２は、図１の例では、試料室１４０の前面（Ｚ－Ｘ平面）上に配置可能に構成されている。具体的には、この試料扉１４２は、図１中に示した方向ｄ２（Ｚ軸方向）に沿って開閉可能に構成されており、試料室１４０を光学特性測定器１の外部に対して露出または遮断させるための扉となっている。つまり、詳細は後述するが、試料扉１４２が開状態に設定された場合には、試料室１４０が外部に露出されている状態（露出状態）に設定され、試料扉１４２が閉状態に設定された場合には、試料室１４０が外部から遮断された状態（遮断状態）に設定されるようになっている。

【0017】

積分球１５は、図１に示したように、試料室１４０の下方に配置されており、照射光Ｌｏにおける測定光路Ｐ１上に配置された入口開口Ａ１と、出口開口Ａ３とを有する、球面状体となっている。積分球１５の内面は、拡散反射面となっている。また、この積分球１５の外部における入口開口Ａ１付近において、試料台１４１上に試料９が載置されている。一方、積分球１５の外部における出口開口Ａ３付近には、積分球１５の外部（下方）において、光トラップ１６０が配置されている。これにより、入口開口Ａ１を介して積分球１５内に入射した照射光Ｌｏのうち、平行光が光トラップ１６０にて吸収されると共に、散乱した光は積分球１５の内面（拡散反射面）で拡散反射され、図示しない開口を介して、後述する受光部１６１によって受光されるようになっている。

【0018】

受光部１６１は、積分球１５上の入口開口Ａ１から約９０°の中心角をなす位置に配置されており、積分球１５内において拡散反射された光（測定光Ｌｍ）を、受光するものである。この受光部１６１は、例えば、Ｓｉ（シリコン）フォトダイオード等を含んで構成されている。

【0019】

測定部１６２は、受光部１６１において得られた受光データＤに基づいて、所定の処理を行うものである。この所定の処理により、受光データＤに基づいて、試料９の光学特性の測定データが得られるようになっている。

【0020】

センサー１６３は、試料扉１４２の開閉状態を検出するセンサーである。このセンサー１６３による、試料扉１４２の開閉状態の検出結果は、図１に示したように、制御部１９へと出力されるようになっている。

【0021】

制御部１９は、光学特性測定器１全体の動作を制御する部分である。本実施の形態では制御部１９は、このような制御動作の１つとして、詳細は後述するが、センサー１６３による検出結果（試料扉１４２の開閉状態の検出結果）に応じて、シャッターＳを開状態または閉状態に設定するようになっている。

【0022】

［動作および作用・効果］
（切替動作）
この光学特性測定器１では、試料扉１４２の開閉状態に連動して、試料９が配置された測定領域Ａｍに対する、照射光Ｌｏの照射状態と非照射状態とが、切り替えられる。以下、このような切替動作について、詳細に説明する。

【0023】

ここで、図２は、光学特性測定器１における試料扉１４２の閉状態での構成例を、模式的に表したものである。また、図３は、光学特性測定器１における試料扉１４２の開状態での構成例を、模式的に表したものである。

【0024】

まず、図２に示した試料扉１４２の閉状態では、試料扉１４２が下方に（図２中に示した方向ｄ２に沿って）下ろされた状態となり、試料室１４０が、光学特性測定器１の外部から遮断された状態（遮断状態）に設定される。このような試料扉１４２の閉状態の際には、制御部１９によって、シャッターＳが閉状態となるように、遮光板１３０が移動される（図２中に示した方向ｄ１参照）。このようにしてシャッターＳが閉状態に設定されることで、図２に示したように、光源１１から出射されて測定光路Ｐ１上を進行する照射光Ｌｏが、遮光板１３０上で遮断され、その結果、測定領域Ａｍに対して、照射光Ｌｏが非照射状態となるように設定される（図２参照）。また、このような測定領域Ａｍに対する照射光Ｌｏの非照射状態の際にも、図２に示したように、光源１１では、照射光Ｌｏの出射状態が維持されている。

【0025】

一方、図３に示した試料扉１４２の開状態では、試料扉１４２が上方に（図３中に示した方向ｄ２に沿って）上げられた状態となり、試料室１４０が、光学特性測定器１の外部に露出された状態（露出状態）に設定される。このような試料扉１４２の開状態の際には、制御部１９によって、シャッターＳが開状態となるように、遮光板１３０が移動される（図３中に示した方向ｄ１参照）。このようにしてシャッターＳが開状態に設定されることで、図３に示したように、光源１１から出射されて測定光路Ｐ１上を進行する照射光Ｌｏが、遮光板１３０上で遮断されずにシャッターＳ内を通過する結果、測定領域Ａｍに対して、照射光Ｌｏが照射状態となるように設定される（図３参照）。

【0026】

（作用・効果）
このようにして、本実施の形態の光学特性測定器１では、照射光Ｌｏを利用して試料９の光学特性を測定する際に、試料扉１４２の開閉状態に連動して、試料９が配置された測定領域Ａｍに対する、照射光Ｌｏの照射状態と非照射状態とが切り替えられる。

【0027】

これにより本実施の形態では、例えば、測定領域（測定位置）を確認（観察）するための光源（投光器や観察光源など）や機構（観察光源の挿抜機構など）等の専用部材を、別途設けることなく、照射光Ｌｏを利用して測定領域の確認を行うことができる。よって、本実施の形態の光学特性測定器１では、そのような専用部材を別途設けるようにした比較例１の場合等と比べ、簡易な構成で利便性を向上させることが可能となる。

【0028】

また、本実施の形態では、測定領域Ａｍに対する照射光Ｌｏの非照射状態の際にも、光源１１において、照射光Ｌｏの出射状態を維持する（光源１１を消灯させない）ようにしたので、以下のようになる。すなわち、光源１１から出射される照射光Ｌｏの照度が安定化するため、この照射光Ｌｏを利用した測定の際に、測定精度の低下を防止することができる。これは、光源１１が前述したランプ光源を用いて構成されている場合、光源１１の消灯や点灯を繰り返すと、照射光Ｌｏの照度が不安定になってしまうからである。

【0029】

更に、本実施の形態では、試料扉１４２の閉状態（試料室１４０が外部から遮断されている状態）では、シャッターＳを閉状態に設定することによって、測定領域Ａｍに対して照射光Ｌｏが非照射状態となるようにしたので、以下のようになる。すなわち、試料扉１４２を閉状態にして測定を開始した際に、最初にシャッターＳを閉じる動作が不要となることから、測定時間を短縮することが可能となる。これは、従来では測定開始時に、シャッターＳを、スイッチなどを用いて手動で閉状態に設定する必要があり、測定時間の増大につながっていたためである。

【0030】

以下、上記第１の実施の形態の変形例（変形例１）、ならびに、本発明の他の実施の形態（第２の実施の形態）およびその変形例（変形例２，３）について、説明する。なお、以下では、第１の実施の形態等における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。

【0031】

＜２．第１の実施の形態の変形例＞
続いて、上記第１の実施の形態の変形例（変形例１）について説明する。

【0032】

［変形例１］
図４は、変形例１に係る光学特性測定器（光学特性測定器１Ａ）の概略構成例を、模式的に表したものである。

【0033】

この図４に示した変形例１の光学特性測定器１Ａは、図１に示した第１の実施の形態の光学特性測定器１において、いわゆるダブルビーム方式の光学測定器に変更したものに対応している。具体的には、光学特性測定器１Ａは、光学特性測定器１において、測定光路Ｐ１とは異なる補償光路Ｐ２上に、レンズ系１２ｂおよび反射板１３２を更に設けると共に、積分球１５上に補償開口Ａ２を更に設けたものに対応しており、他の構成は基本的には同様となっている。

【0034】

補償開口Ａ２は、積分球１５において、照射光Ｌｏの補償光路Ｐ２上に配置されている。具体的には、光源１１から出射された照射光Ｌｏが、補償光路Ｐ２上のレンズ系１２ｂおよび反射板１３２を介して、積分球１５上の補償開口Ａ２へと到達するようになっている。

【0035】

このようにして光学特性測定器１Ａでは、測定光路Ｐ１上の入口開口Ａ１を介した照射光Ｌｏと、補償光路Ｐ２上の補償開口Ａ２を介した照射光Ｌｏとが、積分球１５の内部に、交互に入射するように構成されている。これにより光学特性測定器１Ａでは、経時変化による照射光Ｌｏの光量減少が、補償光路Ｐ２を利用して常時補償されるため、長時間での安定した測定が実現可能となっている。より詳しくは、測定開始時にシャッターＳを閉状態に設定し、補償光路Ｐ２上の図示しないシャッターを、開状態に設定する。照射光Ｌｏは試料９を介さずに積分球１５内に入射されるため、単純に照射光Ｌｏの光量が受光部１６１にて得られる。続いて、シャッターＳを開状態に設定し、補償光路Ｐ２上のシャッターを、閉状態に設定する。照射光Ｌｏは試料９に照射されると共に、透過した光が積分球１５内に入射され、試料９の光学特性が測定される。このとき、試料９を透過した光によって得られた測定値を、試料９を介さずに測定した光の経時変化（光の安定性）によって、補正する。このように、測定開始時の動作は、シャッターＳの閉状態から開始されるため、試料扉１４２を閉状態に設定して測定を開始した際に、最初にシャッターＳを閉じる動作が不要となることから、測定時間を短縮することが可能となる。

【0036】

このような変形例１においても、基本的には、第１の実施の形態と同様の作用により、同様の効果を得ることが可能となる。すなわち、簡易な構成で利便性を向上させることが可能となる。

【0037】

＜３．第２の実施の形態＞
［構成］
図５は、本発明の第２の実施の形態に係る光学特性測定器（光学特性測定器１Ｂ）の概略構成例を、模式的に表したものである。また、図６は、図５に示した試料台（後述する試料台１４１Ｂ）の詳細構成例を、模式的に平面図（Ｘ－Ｙ平面図）で表したものである。

【0038】

図５に示した第２の実施の形態の光学特性測定器１Ｂは、図１に示した第１の実施の形態の光学特性測定器１において、試料台１４１の代わりに試料台１４１Ｂを設けると共に、チューブ１７１、ポンプ１７２および開口連結部材１８１を更に設けるようにしたものとなっており、他の構成は基本的には同様となっている。

【0039】

試料台１４１Ｂは、試料室１４０内に試料９を配置する際に、試料９を保持する部材となっている。つまり、この試料台１４１Ｂは、本発明における「保持部材」の一具体例に対応している。具体的には、図５に示したように、この光学特性測定器１Ｂでは、試料９の光学特性を測定する際に、測定光路Ｐ１上を進行する照射光Ｌｏが試料９に照射され、試料９を透過した光が入口開口Ａ１から積分球１５に入射されるように、構成されている。また、試料台１４１Ｂ上に試料９が載置されることで、試料９が保持されるようになっている。

【0040】

このような試料台１４１Ｂ上には、以下説明する吸引の際に使用される、１または複数の吸引用開口Ａ４（図５，図６の例では、複数の吸引用開口Ａ４）が、設けられている。具体的には、図６の例では、試料９が配置される測定領域Ａｍの中央付近（入口開口Ａ１付近）を中心として、その半径方向に沿って、吸引用開口Ａ４が複数設けられている。詳細には、図６の例では、測定領域Ａｍの中央付近を中心として、十字状（縦方向および横方向）に、複数の吸引用開口Ａ４が設けられている。

【0041】

ポンプ１７２は、チューブ１７１を介して、上記した吸引用開口Ａ４上での吸引（試料９の吸引）を行う部材である。本実施の形態では、このような吸引の際の吸引強度が、例えば、試料９の撓みまたは反りの度合いに応じて、任意に調整可能となっていてもよい。つまり、ポンプ１７２等による吸引動作は、例えば、スイッチ等によって、オン状態（実行状態）とオフ状態（停止状態）とが切り替えられるようにしてもよいし、あるいは、吸引強度が連続的に変更できるようにしてもよい。

【0042】

なお、これらのチューブ１７１およびポンプ１７２は、本発明における「吸引機構」の一具体例に対応している。

【0043】

開口連結部材１８１は、図５に示したように、試料台１４１Ｂの下方において、試料台１４１Ｂ上の吸引用開口Ａ４と、吸引機構（チューブ１７１およびポンプ１７２）との間を、連結させる部材である。

【0044】

［作用・効果］
本実施の形態の光学特性測定器１Ｂでは、試料室１４０内において試料９を保持する試料台１４１Ｂに、吸引機構（チューブ１７１およびポンプ１７２）を用いた吸引の際に使用される、吸引用開口Ａ４が設けられている。

【0045】

これにより本実施の形態では、例えば図７に示した比較例２に係る試料ホルダ１０１，１０２の場合等とは異なり、以下のようになる。

【0046】

すなわち、まず、フィルムなどの薄い試料９の光学特性を測定する際に、試料９に撓みや反りがあると、試料９に対して照射光Ｌｏが正確な角度で入射しにくくなる場合があり、測定の際の再現性が低下してしまうおそれがある。

【0047】

ここで、図７に示した比較例２の場合、一対の試料ホルダ１０１，１０２（例えば、マグネット式やリング式などの専用の治具）を用いて、試料９を上下方向から挟むことで、試料９を保持（固定）するようにしている。ところが、このような比較例２の構成（上記したような専用の治具を用いた構成）では、照射光Ｌｏを利用して試料９の光学特性を測定する際に、例えば、専用の治具の設定に手間がかかったり、専用の治具に起因した痕（不可逆な測定痕）が試料９に残存してしまうおそれがある。

【0048】

これに対して本実施の形態では、試料台１４１上に吸引用開口Ａ４を設けて、吸引を利用して試料９を保持することから、上記比較例２の場合等とは異なり、以下のようになる。すなわち、本実施の形態では、専用の治具の設定の手間を省いたり、専用の治具に起因した痕が試料９に残存してしまうおそれを回避したうえで、試料９の撓みや反りを抑えた状態で、試料９を保持することができる。その結果、本実施の形態の光学特性測定器１Ｂでは、測定の際の再現性を向上させつつ、上記比較例２の場合等と比べ、利便性を向上させることが可能となる。

【0049】

また、本実施の形態では、測定領域Ａｍの中央付近を中心として、半径方向に沿って、吸引用開口Ａ４が複数設けられているようにした場合には、以下のようになる。すなわち、様々な大きさの試料９にも対応可能となるため、利便性を更に向上させることが可能となる。

【0050】

更に、本実施の形態では、吸引の際の吸引強度が、試料９の撓みまたは反りの度合いに応じて、任意に調整可能となっているので、以下のようになる。すなわち、吸引強度を連続的に変更できることから、試料９の硬さ（撓みや反りの度合い等）に応じて、吸引強度を適切に調整することができ、試料９に上記した痕が残存してしまうおそれを、より確実に回避することが可能となる。

【0051】

加えて、本実施の形態では、試料台１４１Ｂ上の吸引用開口Ａ４と吸引機構（チューブ１７１およびポンプ１７２）との間を連結させる、開口連結部材１８１を設けるようにしたので、以下のようになる。すなわち、開口連結部材１８１にチューブ１７１等を連結させて、直接吸引しているため、筐体１０内に配置されている各部材（制御部１９や測定部１６２、光学系（積分球１５や受光部１６１等））に、埃等が侵入するのを防止することができる。よって、これらの各部材での埃等による不具合などを回避することができ、光学特性測定器１Ｂにおける信頼性を向上させることが可能となる。

【0052】

＜４．第２の実施の形態の変形例＞
続いて、上記第２の実施の形態の変形例（変形例２，３）について説明する。

【0053】

［変形例２］
図８は、変形例２に係る光学特性測定器（光学特性測定器１Ｃ）の概略構成例を、模式的に表したものである。

【0054】

この図８に示した変形例２の光学特性測定器１Ｃは、図５に示した第２の実施の形態の光学特性測定器１Ｂにおいて、チューブ１７１および開口連結部材１８１の代わりに、吸引用空間１７０およびフィルタ１８２を設けるようにしたものとなっており、他の構成は基本的には同様となっている。

【0055】

吸引用空間１７０内には、積分球１５、受光部１６１、測定部１６２および制御部１９等の各部材が、配置されている。この吸引用空間１７０は、図８に示したように、ポンプ１７２を用いて、例えば真空状態に設定されている。

【0056】

なお、これらの吸引用空間１７０およびポンプ１７２は、本発明における「吸引機構」の一具体例に対応している。

【0057】

フィルタ１８２は、試料台１４１Ｂと測定機構との間、具体的には、試料台１４１Ｂと隣接するように吸引用空間１７０との間に、配置されている。このフィルタ１８２は、防塵機能を有するフィルタとなっている。

【0058】

このような変形例２においても、基本的には、第２の実施の形態と同様の作用により、同様の効果を得ることが可能となる。すなわち、測定の再現性を向上させつつ、利便性を向上させることが可能となる。

【0059】

また、特にこの変形例２では、試料台１４１Ｂと吸引用空間１７０との間に、防塵機能を有するフィルタ１８２を設けるようにしたので、以下のようになる。すなわち、吸引用空間１７０内に配置されている各部材（制御部１９や測定部１６２、光学系（積分球１５や受光部１６１等））に、埃等が侵入するのを防止することができる。よって、これらの各部材での埃等による不具合などを回避することができ、光学特性測定器１Ｃにおける信頼性を向上させることが可能となる。

【0060】

［変形例３］
図９は、変形例３に係る光学特性測定器（光学特性測定器１Ｄ）の概略構成例を、模式的に表したものである。また、図１０は、図９に示した試料ホルダ（後述する試料ホルダ１４１Ｃ）の詳細構成例を、模式的に断面図（Ｚ－Ｘ断面図）で表したものである。

【0061】

図９，図１０に示した変形例３の光学特性測定器１Ｄは、これまでに説明してきた構成（照射光Ｌｏが試料９を透過する構成）とは異なり、以下のような構成となっている。すなわち、この光学特性測定器１Ｄでは、試料９の光学特性を測定する際に、光源１１から照射された照射光Ｌｏが試料９にて反射されると共に、試料９にて反射された光を測定光Ｌｍとして、受光部１６１にて受光する構成となっている。

【0062】

更に、例えば図９，図１０に示したように、この変形例３の光学特性測定器１Ｄでは、図８に示した変形例２の光学特性測定器１Ｃにおいて、試料台１４１Ｂおよび試料扉１４２の代わりに、試料ホルダ１４１Ｃを設けると共に、フィルタ１８２を設けないようにした（省いた）ものとなっており、他の構成は基本的には同様となっている。

【0063】

試料ホルダ１４１Ｃは、例えば図９中に矢印ｄ３で示したように、試料台上に載置されるようになっており、図９，図１０に示したように、試料９を保持する部材である。つまり、この試料ホルダ１４１Ｃは、本発明における「保持部材」の一具体例に対応している。

【0064】

また、図９，図１０に示したように、試料ホルダ１４１Ｃにおける試料９の保持面上には、ポンプ１７２を用いた吸引の際に使用される、吸引用開口Ａ４（この例では、複数の吸引用開口Ａ４）が設けられている。

【0065】

このような変形例３においても、基本的には、第２の実施の形態や変形例２と同様の作用により、同様の効果を得ることが可能となる。すなわち、測定の再現性を向上させつつ、利便性を向上させることが可能となる。

【0066】

＜５．その他の変形例＞
以上、実施の形態および変形例をいくつか挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。

【0067】

例えば、上記実施の形態等では、光学特性測定器における各機器の構成（形状、配置、個数等）を具体的に挙げて説明したが、これらの構成については、上記実施の形態等で説明したものには限られず、他の形状や配置、個数等であってもよい。

【0068】

具体的には、上記実施の形態等では、前述したランプ光源を用いて本発明における「光源」を構成する場合の例について説明したが、これには限られず、他の光源を用いて、本発明における「光源」を構成するようにしてもよい。

【0069】

また、上記実施の形態等では、本発明における「切替機構」や「測定機構」、「吸引機構」および「保持部材」の構成例について、具体的に挙げて説明したが、これらの各機構の構成を、他の構成としてもよい。

【0070】

更に、例えば、第１および第２の実施の形態、ならびに変形例１～３にて説明した各種構成例を、任意の組み合わせにて構成するようにしてもよい。

【0071】

加えて、上記実施の形態等では主に、試料の曇り度合いとしてのヘーズ値を評価する、ヘーズメーターとして構成された光学特性測定器を例に挙げて説明したが、この場合の例には限られない。すなわち、本発明に係る「光学特性測定器」は、例えば、試料の光沢（つや）、色、像鮮明度（写像性）などの、他の光学特性を測定する光学特性測定器においても、適用することが可能である。

【0072】

また、上記実施の形態等で説明した一連の制御は、ハードウェア（回路）で行われるようにしてもよいし、ソフトウェア（プログラム）で行われるようにしてもよい。ソフトウェアで行われるようにした場合、そのソフトウェアは、上記した各機能をコンピュータ（マイクロコンピュータ等）により実行させるためのプログラム群で構成される。各プログラムは、例えば、上記コンピュータに予め組み込まれて用いられてもよいし、ネットワークや記録媒体から上記コンピュータにインストールして用いられてもよい。

【符号の説明】

【0073】

１，１Ａ～１Ｄ…光学特性測定器、１０…筐体、１１…光源、１２ａ，１２ｂ…レンズ系、１３０…遮光板、１３１，１３２…反射板、１４０…試料室、１４１，１４１Ｂ…試料台、１４１Ｃ…試料ホルダ、１４２…試料扉、１５…積分球、１６０…光トラップ、１６１…受光部、１６２…測定部、１６３…センサー、１７０…吸引用空間、１７１…チューブ、１７２…ポンプ、１８１…開口連結部材、１８２…フィルタ、１９…制御部、９…試料、Ｌｍ…測定光、Ｌｏ…照射光、Ｐ１…測定光路、Ｐ２…補償光路、Ｓ…シャッター、Ａｍ…測定領域、Ａ１…入口開口、Ａ２…補償開口、Ａ３…出口開口、Ａ４…吸引用開口、Ｄ…受光データ、ＣＴＬ…制御信号、ｄ１，ｄ２…方向、ｄ３…矢印。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】