計測対象物のエッジ部分は光の反射が安定しない。このため、計測対象物の全体に光を照射して三次元形状を計測する場合、計測対象物のエッジ部分周辺での輝度がばらついてしまい、計測したデータの誤差が大きくなりやすい。先行技術文献の構成では、画面全体ではなく、マスク処理により決定された距離計測用の領域のみに照明パターンを照射し、三次元情報を算出している。また、距離計測用の領域は、撮像される画像内において濃淡変化が小さく、エッジが検出されにくい領域であることが開示されている。しかしながら、照明パターンを局所的に照射する必要があるため、三次元計測装置のハードウェア構成が複雑化しやすい。上述の観点において、または言及されていない他の観点において、認識システムにはさらなる改良が求められている。

ここに開示された第１の認識システムは、計測対象物（４１、２４１）の形状を計測して計測対象物の位置姿勢を認識するための位置姿勢認識を行う認識システムであって、 計測対象物の表面画像を撮像し、表面画像と対応する三次元点群を算出する計測ユニット（２０）と、 計測対象物の三次元形状を示すモデルデータから平面部分のデータを抽出したモデル平面データを取得するモデル平面データ取得部（７２）と、 ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る