特許7503949イオン移動度分析装置およびイオン移動度分析方法

発明の名称　イオン移動度分析装置およびイオン移動度分析方法

出願人　理研計器株式会社　（識別番号 250421）

　　　　特許公開件数ランキング 4875 位（1件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1757 位（3件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7503949

公報発行日　2024年6月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7503949

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