(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-07-01
(45)【発行日】2024-07-09
(54)【発明の名称】プラズマ処理装置
(51)【国際特許分類】
H05H 1/46 20060101AFI20240702BHJP
【FI】
H05H1/46 M
H05H1/46 A
(21)【出願番号】P 2023550761
(86)(22)【出願日】2021-09-28
(86)【国際出願番号】 JP2021035547
(87)【国際公開番号】W WO2023053171
(87)【国際公開日】2023-04-06
【審査請求日】2023-09-19
(73)【特許権者】
【識別番号】591159619
【氏名又は名称】島津産機システムズ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100121441
【氏名又は名称】西村 竜平
(74)【代理人】
【識別番号】100154704
【氏名又は名称】齊藤 真大
(74)【代理人】
【識別番号】100206151
【氏名又は名称】中村 惇志
(74)【代理人】
【識別番号】100218187
【氏名又は名称】前田 治子
(74)【代理人】
【識別番号】100227673
【氏名又は名称】福田 光起
(74)【代理人】
【識別番号】100231038
【氏名又は名称】正村 智彦
(72)【発明者】
【氏名】大岸 厚文
(72)【発明者】
【氏名】徳嵩 佑
(72)【発明者】
【氏名】尾崎 悟
【審査官】藤田 健
(56)【参考文献】
【文献】米国特許第4801839(US,A)
【文献】実開平02-020325(JP,U)
【文献】特開2008-028087(JP,A)
【文献】特開2012-054377(JP,A)
【文献】特開2015-086471(JP,A)
【文献】特開2010-248548(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H05H 1/24
H01J 37/32
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
処理対象物を保持するホルダと、
前記ホルダに対向配置され、該ホルダを向く面であるプラズマ生成面に有底のホローが形成されたホローカソード電極と、
該ホローカソード電極のプラズマ生成面から所定距離隔離して着脱可能に取り付けられるとともに、複数の貫通孔が形成された平板状をなす電位シールド板とを備え、
プラズマ生成面が平面である平板カソード電極を、前記ホローカソード電極と交換可能に構成されているプラズマ処理装置。
【請求項2】
前記ホローカソード電極及び電位シールド板を収容するチャンバをさらに備え、前記ホローカソード電極が前記チャンバに絶縁部材を介して取り付けられているとともに、前記電位シールド板は、前記チャンバに直接的に取り付けられている請求項1記載のプラズマ処理装置。
【請求項3】
前記ホローカソード電極が取り付けられてこれを冷却する冷却体をさらに備え、
前記冷却体に対し、前記平板カソード電極が、前記ホローカソード電極と交換可能に取り付けられる請求項1または2に記載のプラズマ処理装置。
【請求項4】
前記冷却体に対するホローカソード電極の取付構造が、当該冷却
体に対する前記平板カソード電極の取付構造と共通である請求項3記載のプラズマ処理装置。
【請求項5】
前記冷却体が導電体で形成されており、プラズマ放電のための電源が、該冷却体を通じて前記ホローカソード電極に接続されている請求項3または4記載のプラズマ処理装置。
【請求項6】
前記平板カソード電極を、前記ホローカソード電極及び前記電位シールド板と交換可能に構成されている請求項1に記載のプラズマ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、プラズマを利用して、処理対象物に表面改質や成膜などのプラズマ処理を施すプラズマ処理装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
この種のプラズマ処理装置は、真空チャンバ内に導入された原料ガスを、カソード電極からの放電によってプラズマとし、処理対象物に対して表面改質や成膜などのプラズマ処理を施すものである。
【0003】
ところで、特許文献1に示すように、前記カソード電極として、平板カソード電極を用いたタイプものとホローカソード電極を用いたタイプものとが知られており、これらは、プラズマの発生態様がやや異なるため、処理目的によって使い分けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、従来は、ユーザにとってみれば、処理目的が異なれば、双方のプラズマ処理装置が必要になるし、メーカーにとってみれば、種々の処理目的に対応できるように、少なくとも2機種のプラズマ処理装置を製造可能にしておかなければならない。
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであって、効率的で高品質なプラズマ処理を担保できるのはもちろんのこと、より広い用途に容易に対応できるという従来には全くみられないプラズマ処理装置を提供すべく図ったものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
すなわち、本発明に係るプラズマ処理装置は、処理対象物を保持するホルダと、前記ホルダに対向配置され、該ホルダを向く面であるプラズマ生成面に有底のホローが形成されたホローカソード電極と、複数の貫通孔が形成された平板状をなす電位シールド板とを備え、
前記電位シールド板が、前記ホローカソード電極のプラズマ生成面から所定距離隔離して着脱可能に取り付けられているとともに、プラズマ生成面が平面である平板カソード電極を、前記ホローカソード電極と交換し得るように構成されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
このようなものであれば、原料ガスの流通経路を共通化することにより、ホローカソード電極と平板カソード電極とを取り換えるだけで、プラズマ処理装置のタイプを、ホローカソード電極タイプと平行平板電極タイプとのいずれにも簡単に変更することができるので、より広い用途に容易に対応できるようになる。また、電位シールド板により、プラズマ処理品質を向上させるとともに、低電力化やサイクルタイムの短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【
図1】本発明の一実施形態におけるプラズマ処理装置の模式的断面図である。
【
図2】同実施形態におけるプラズマ処理装置にホローカソード電極を装着したときの部分縦断面図(a)及びホローカソード電極を下方から視た部分平面図(b)である。
【
図3】同実施形態におけるプラズマ処理装置に平板カソード電極を装着したときの部分縦断面図(a)及びホローカソード電極を下方から視た部分平面図(b)である。
【
図4】従来におけるプラズマ処理装置の模式的断面図である。
【符号の説明】
【0009】
W・・・処理対象物
100・・・プラズマ処理装置
1・・・チャンバ
2・・・ホローカソード電極
2a・・・プラズマ生成面
2b・・・うら面(反プラズマ生成面)
3・・・ホルダ
41・・・冷却体
8・・・取付構造
9・・・電位シールド板
91・・・貫通孔
10・・・平板カソード電極
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明の一実施形態を、図面を参照して説明する。
【0011】
本実施形態にかかるプラズマ処理装置100は、
図1に模式的に示すように、真空チャンバ1(以下、単にチャンバ1ともいう。)と、該チャンバ1内に互いに対向するように配置されたホローカソード電極2及びホルダ3と、前記ホローカソード電極2を冷却する冷却機構4と、前記ホローカソード電極2に高周波電圧を印加する電源5とを備えており、チャンバ1内に導入された原料ガス(例えば、O
2/Ar)をホローカソード電極2からの放電によりプラズマとし、これによって、前記ホルダ3に保持させた処理対象物Wを表面改質処理するものである。
【0012】
次に、各部を詳述する。
前記チャンバ1は、一対の対向壁11、12とその間の側周壁13とから形成される密閉可能な金属製のものであり、その内部空間を減圧する図示しない排気系に接続されている。そして、一方の対向壁11にホローカソード電極2が取り付けられ、他方の対向壁12に前記ホルダ3が取り付けられている。また、前記側周壁13には、原料ガスが導入される図示しない原料ガス導入口が形成してある。なお、この真空チャンバ1は、電位でいえば、接地されている。
【0013】
前記ホローカソード電極2は、例えば、矩形等厚平板をなすものである。そして、そのホルダ3側を向く一方の面であるプラズマ生成面2aには、有底円孔状のホロー7がマトリクス状に規則正しく設けられており、他方の面2b(以下、うら面2bともいう。)は平面となっている。
前記ホルダ3は、台状をなすもので、ホローカソード電極2を向く面には、前記処理対象物Wを保持する保持領域が設けられている。
【0014】
前記冷却機構4は、導電体である金属製の冷却体41と、この冷却体41の内部に形成された流路41aに冷媒(ここでは液体である水)を循環流通させるポンプ等からなる循環機構42とを備えたものである。
【0015】
前記冷却体41は、
図2に示すように、例えば、鍔部411を有した矩形平板状をなすものであり、その一方の面41bがホローカソード電極2と輪郭形状が同じ矩形となっている。そして、この冷却体41の鍔部411が、前記真空チャンバ1の一方の対向壁11に設けられた開口11aを塞ぐようにして当該対向壁11に取り付けられているとともに、該冷却体41の一方の面41bが、真空チャンバ1内に突出するように、該開口11aに嵌り込んでいる。なお、
図2中符号6は、冷却体41と真空チャンバ1とを電気的に絶縁するために、該冷却体41と対向壁11との間に介在させた矩形環状をなす絶縁体である。
【0016】
そして、上述したように、真空チャンバ1内に突出する冷却体41の一方の面41bに、前記ホローカソード電極2のうら面2bが、所定の取付構造8により密着させて取り付けられている。
【0017】
この取付構造8とは、例えば、前記冷却体41の一方の面の複数個所に設けられたネジ穴(図示しない)に対し、前記ホローカソード電極2の対応箇所に貫通させた複数のネジ挿通孔(図示しない)を介してネジ(図示しない)をそれぞれ締結することにより、ホローカソード電極2を前記冷却体41に着脱可能に取り付けるものである。もっとも、取付構造8はこれに限られるものではなく、例えば、クリップなどを利用して着脱可能としたものでも構わない。
【0018】
さらに、この実施形態では、
図1、
図2に示すように、電位シールド板9がホローカソード電極2とホルダ3との間に配設してある。この電位シールド板9は、例えば前記ホローカソード電極2よりも大きい、矩形等厚平板状をなすものであり、ホローカソード電極2と近接対向するように配置されている。
【0019】
具体的には、
図2に示すように、前記対向壁11に設けられた開口11aの周縁部から内側に向かって一体に突出する保持体14が設けてあり、この保持体14の先端部に前記電位シールド板9の周縁部がネジ等により着脱可能に取り付けてある。このことにより、電位シールド板9の電位は、真空チャンバ1と同じ接地電位に維持される。また、この電位シールド板9には、
図2等に示すように、前記ホローカソード電極2の各ホロー7と同軸となる位置に、該ホロー7よりも大径の貫通孔91がそれぞれ設けてある。
【0020】
電源5は、冷却体41を介して前記ホローカソード電極2に高周波電力を供給するものである。
【0021】
しかして、この実施形態におけるプラズマ処理装置100は、
図3に示すように、前記ホローカソード電極2と交換可能な平板カソード電極10を備えている。
この平板カソード電極10は、前記ホローカソード電極2と平面視略同一形状をなす矩形等厚平板状のものであり、ホルダ3側を向くプラズマ生成面10aは平面である。
そして、この平板カソード電極10を、ホローカソード電極2と共通する取付構造8によって前記冷却体41に着脱可能に密着させることができるようにしてある。
【0022】
具体的には、該平板カソード電極10には、前記ホローカソード電極2のネジ挿通孔と同じ位置にネジ挿通孔が設けてあり、ホローカソード電極2同様、冷却体41のネジ穴に、前記ネジ挿通孔を通過させたネジを締結することにより、平板カソード電極10のうら面10bを前記冷却体41の端面41bに着脱可能に取り付けることができるようにしてある。なお、平板カソード電極10を取り付けた場合は、電位シールド板9は取り外される。
【0023】
次に、上述したプラズマ処理装置100を用いたプラズマ処理(表面改質)方法について簡単に説明する。
【0024】
まず、ホローカソード電極2及び電位シールド板9が取り付けられている場合(
図1)について述べる。
ホルダ3上に処理対象物Wを配置した状態で、図示しない原料ガス導入口から真空チャンバ1内に原料ガスを導入するとともに、電源5を駆動し、ホローカソード電極2に高周波電力を供給する。
【0025】
このことにより、ホローカソード電極2と電位シールド板9との間、特にホローカソード電極2のホロー7内またはその近傍で放電が生じて原料ガスがプラズマ化し、そのプラズマが、電位シールド板9の貫通孔91を通って処理対象物Wに至り、該処理対象物Wの表面を改質する。
【0026】
平板カソード電極10を用いる場合は、前記ホローカソード電極2及び電位シールド板9を取り外し、
図3に示すように、冷却体41の一面に平板カソード電極10を取り付ける。
【0027】
そして、ホローカソード電極2の場合と同様、ホルダ3上に処理対象物Wを配置した後、原料ガス導入口から真空チャンバ1内に原料ガスを導入するとともに、電源5を駆動し、平板カソード電極10に高周波電力を供給する。
【0028】
このことにより、平板カソード電極10とホルダ3との間でグロー放電が生じ、原料ガスがプラズマ化して処理対象物Wの表面を改質する。もちろん、処理対象物Wを原料ガス分子で成膜することも可能である。
【0029】
以上に述べた構成によれば、冷却体41に対し、ホローカソード電極2または平板カソード電極10のいずれかを取り付けるだけで、真空チャンバ1、ホルダ3、原料ガスの供給経路などの他の構成をほとんど変えることなく、プラズマ処理装置100のタイプを、ホローカソード電極タイプと平行平板電極タイプとのいずれにも容易に変更することができる。
【0030】
したがって、ユーザにとってみれば、処理目的に応じたタイプにプラズマ処理装置100を変更することができるので、その用途が大幅に広がる。
また、メーカーにとってみれば、電極を取り換えるだけで2つのタイプのプラズマ処理装置100を製造できるので、ユーザからの発注に柔軟かつ迅速に応じることができるし、部材の共通化によるコスト削減も図れる。
【0031】
さらに本実施形態では、ホローカソード電極2と電位シールド板9とがセットになっているため、電極の交換時には、電位シールド板9の着脱が必要となるところ、チャンバ1が接地してあるので、電位シールド板9を該チャンバ1(から一体に突出する前記保持体14)にネジなどで直接取り付けるだけでよく、その着脱に大きな手間がかかることもないし、該電位シールド板9を接地電位に維持するための特段の配線等も不要となる。
【0032】
また、冷却体41がホローカソード電極2のうら面2bおよび平板カソード電極10のうら面10bの全てに面密着しているので、これら電極2、10を均一に冷却することができ、その熱変形を抑制するなどして効率的で高品質なプラズマ処理が可能になる。
【0033】
さらにこの実施形態では、ホローカソード電極2とホルダ3との間に電位シールド板9を介在させているので、平行平板型放電(CCP)の発生を抑制するとともに、そのことによる処理対象物Wの温度上昇を抑制でき、例えば処理対象物Wがプラスチック材料などであっても、その変形や溶融の問題を回避できる。
【0034】
なお、下記表に、前記ホローカソード電極2を用いて処理対象物WであるABS基板の表面改質を行い、さらにその上にスパッタリングによりCuを成膜した場合のピール強度評価結果を示す。比較対象は、
図4に示す従来型のホローカソード電極を有するプラズマ処理装置である。
【0035】
【0036】
この結果から明らかにように、従来型と比べて、本実施形態のプラズマ処理装置100によれば、半分以下の電力でほぼ同等の密着強度を得ることができるし、放電時間を短くしてサイクルタイムを短くすることも可能になる。
【0037】
以上に述べた本実施形態の特徴は次のようにまとめることができる。
(1)本実施形態に係るプラズマ処理装置100は、処理対象物Wを保持するホルダ3と、前記ホルダ3に対向配置され、該ホルダ3を向く面であるプラズマ生成面2aに有底のホロー7が形成されたホローカソード電極2と、前記プラズマ生成面2aから所定距離隔離して着脱可能に取り付けられているとともに、複数の貫通孔91が形成された平板状をなす電位シールド板9とを備え、
プラズマ生成面2aが平面である平板カソード電極10が、前記ホローカソード電極2と交換可能に構成されていることを特徴とする。
【0038】
(2)電位シールド板9の着脱構造の簡単化を図るには、前記ホローカソード電極2及び電位シールド板9を収容する、接地電位等の基準電位に設定されたチャンバ1をさらに備え、前記ホローカソード電極2が前記チャンバ1に絶縁部材を介して取り付けられているとともに、前記電位シールド板9は、前記チャンバ1に直接的に取り付けられているものが好ましい。
【0039】
(3)交換を容易化するための具体的な実施態様としては、前記ホローカソード電極2が取り付けられてこれを冷却する冷却体41をさらに備え、前記冷却体41に対し、前記平板カソード電極10が、前記ホローカソード電極2と交換可能に取り付けられているものを挙げることができる。
【0040】
(4)ホローカソード電極2と平板カソード電極10の取り換えをさらに容易化するとともに部品点数等の削減を図るには、前記冷却体41に対するホローカソード電極2の取付構造8を、当該冷却機構4に対する前記平板カソード電極10の取付構造8と共通化しておくことが望ましい。
【0041】
(5)前記冷却体41にカソード電極2、10を直接的に接続できるようにして、前記取付構造8の簡単化を図るには、前記冷却体41が導電体で形成されており、プラズマ放電のための高周波電源が、該冷却体41を通じて前記カソード電極2、10に接続されているものが好適である。
【0042】
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、各カソード電極の形状は円形状に限られず、矩形状や多角形状などでもよい。冷却体の形状も種々変更可能であるし、冷却機構も液冷式に限られず、空冷式や冷凍サイクルを利用したものなどでも構わない。また、温水を用いて70度程度に温調を行うようにしてもよい。
ホローの形状は、有底凹部であればよく、例えば矩形状の穴や溝でも構わない。
【0043】
各カソード電極の冷却体に対する取付構造や電位シールド板の取付構造も前記実施形態に限られない。
ホルダや電位シールド板は、接地電位のみならず、他の電位に設定してもよいし、高周波電源に限られず、直流電源でも可能である。
プラズマ処理は、表面改質処理に限られず、成膜やエッチングでも構わない。例えば、原料ガスとしてCH4ガスを導入してDLC成膜したり、Arガスを導入してエッチングしたりすることも可能である。
その他、本発明は、以上に述べた図示例や説明に限られることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。
【産業上の利用可能性】
【0044】
ホローカソード電極と平板カソード電極とを取り換えるだけで、プラズマ処理装置のタイプを、ホローカソード電極タイプと平行平板電極タイプとのいずれにも簡単に変更することができるので、より広い用途に容易に対応できるようになる。また、電位シールド板により、プラズマ処理品質を向上させるとともに、低電力化やサイクルタイムの短縮を図ることができる。