特許7525846IP Force 特許公報全文掲載

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フラックストランスフォーマー設計支援方法、フラックストランスフォーマー設計支援装置、フラックストランスフォーマー設計支援プログラム、およびセンサーモジュールに関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

一般的に、測定対象の磁場の周波数が低い場合、フラックストランスフォーマーの磁場伝送効率は低くなる。そのため、ＮＶＣなどといったカラーセンターを利用したセンシング部材を使用した低周波数磁場測定に使用するフラックストランスフォーマーを簡単に設計することは困難である。例えば、実験などで、コイル巻数などを変化させて実測することで、良好な伝送効率となるフラックストランスフォーマーの構成を探すことになり、多くの手間と長い時間がかかってしまう。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係るフラックストランスフォーマー設計支援方法は、カラーセンターを利用したセンシング部材用のフラックストランスフォーマーの設計を支援するフラックストランスフォーマー設計支援方法であって、フラックストランスフォーマーの設計パラメーターの値を指定するパラメーター値指定ステップと、所定の計算式に従って、その設計パラメーターの値に対応する伝送効率を計算する伝送効率計算ステップとを備える。そして・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、カラーセンターを利用したセンシング部材用のフラックストランスフォーマーの効率的な設計を実行可能にするフラックストランスフォーマー設計支援方法、フラックストランスフォーマー設計支援装置、フラックストランスフォーマー設計支援プログラム、およびセンサーモジュールが得られる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、本発明の実施の形態１にフラックストランスフォーマー設計支援装置の構成を示すブロック図である。
【図2】 図２は、図１に示すフラックストランスフォーマー設計支援装置における設計対象としてのフラックストランスフォーマーについて説明するブロック図である。
【図3】 図３は、図２における１次側コイル１１１または２次側コイル１１２の構成について説明する断面図である。
【図4】 図４は、図１における伝送効率評価部２２で使用される計算式を説明する図である（１／５）。
【図5】 図５は、図１における伝送効率評価部２２で使用される計算式を説明する図である（２／５）。
【図6】 図６は、図１における伝送効率評価部２２で使用される計算式を説明する図である（３／５）。
【図7】 図７は、図１における伝送効率評価部２２で使用される計算式を説明する図である（４／５）。
【図8】 図８は、図１における伝送効率評価部２２で使用される計算式を説明する図である（５／５）。
【図9】 図９は、図１に示すフラックストランスフォーマー設計支援装置の動作について説明するフローチャートである。
【図10】 図１０は、伝送効率ＢＲの計算結果の例を示す図である。
【図11】 図１１は、図１０に示す伝送効率ＢＲの計算に使用したパラメーター値を示す図である。
【図12】 図１２は、伝送効率ＢＲの計算結果の別の例を示す図である。
【図13】 図１３は、図１２に示す伝送効率ＢＲの計算に使用したパラメーター値を示す図である。
【図14】 図１４は、伝送効率ＢＲの周波数特性を説明する図である。
【図15】 図１５は、図１４に示す伝送効率ＢＲの計算に使用したパラメーター値を示す図である。
【図16】 図１６は、本発明の実施の形態２に係るセンサーモジュールの構成を示すブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

３ 演算処理装置（コンピューターの一例） １１ フラックストランスフォーマー設計支援プログラム ２０１ 磁気共鳴部材（センシング部材の一例） ２１４ フラックストランスフォーマー ２０５ 照射装置（検出装置の一例の一部） ２０６ 受光装置（検出装置の一例の一部） ２２１ 測定制御部 ２２２ 演算部

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