特許 7527852 フラップ検査装置及びフラップ検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-07-26

(45)【発行日】2024-08-05

(54)【発明の名称】フラップ検査装置及びフラップ検査方法

(51)【国際特許分類】

   B65B 57/02 20060101AFI20240729BHJP

   B65B 57/00 20060101ALI20240729BHJP

【ＦＩ】

B65B57/02 F

B65B57/00 F

B65B57/02 B

【請求項の数】 6

(21)【出願番号】P 2020100256

(22)【出願日】2020-06-09

(65)【公開番号】P2021195129

(43)【公開日】2021-12-27

【審査請求日】2023-06-06

(73)【特許権者】

【識別番号】303040183

【氏名又は名称】サッポロビール株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100088155

【弁理士】

【氏名又は名称】長谷川 芳樹

(74)【代理人】

【識別番号】100128381

【弁理士】

【氏名又は名称】清水 義憲

(74)【代理人】

【識別番号】100176773

【弁理士】

【氏名又は名称】坂西 俊明

(74)【代理人】

【識別番号】100182006

【弁理士】

【氏名又は名称】湯本 譲司

(72)【発明者】

【氏名】千葉 真一

(72)【発明者】

【氏名】大友 章平

(72)【発明者】

【氏名】岩本 哲也

(72)【発明者】

【氏名】鶴間 栄一

(72)【発明者】

【氏名】白鳥 哲也

【審査官】西塚 祐斗

(56)【参考文献】

【文献】特開平１１－０４６８３１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１３－２４５０２３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００７－２９８４７２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１０－００６３９３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－２４０９７８（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｂ６５Ｂ ５７／０２

Ｂ６５Ｂ ５７／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

開口を覆う第１フラップ及び第２フラップを備えた梱包体の前記第１フラップ及び前記第２フラップを検査するフラップ検査装置であって、
前記第１フラップの表面と前記第２フラップの表面との間の段差を検出するセンサと、
前記センサによって検出された前記段差の値が閾値以上である場合に、前記第１フラップ及び前記第２フラップが異常であると判定する異常判定部と、
を備え、
前記センサは、前記段差の検出を一定時間継続して行い、
前記異常判定部は、検出された前記段差が前記一定時間継続して前記閾値以上である場合に異常と判定する、
フラップ検査装置。

【請求項2】

前記センサは、搬送されている前記梱包体の前記第１フラップ及び前記第２フラップにレーザ光を照射して前記段差を検出する、
請求項１に記載のフラップ検査装置。

【請求項3】

前記センサは、前記第１フラップ及び前記第２フラップを跨ぐ線状の前記レーザ光を照射し、前記第１フラップにおける前記レーザ光上の第１設定点と、前記第２フラップにおける前記レーザ光上の第２設定点との間に位置する前記段差を検出する、
請求項２に記載のフラップ検査装置。

【請求項4】

前記レーザ光上の前記第１設定点の位置、及び前記レーザ光上の前記第２設定点の位置が可変とされている、
請求項３に記載のフラップ検査装置。

【請求項5】

前記一定時間は、６ｍｓ以上且つ１５０ｍｓ以下である、
請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のフラップ検査装置。

【請求項6】

開口を覆う第１フラップ及び第２フラップを備えた梱包体の前記第１フラップ及び前記第２フラップを検査するフラップ検査方法であって、
前記第１フラップの表面と前記第２フラップの表面との間の段差を検出する工程と、
前記検出する工程において検出された前記段差の値から前記第１フラップ及び前記第２フラップの異常を判定する工程と、
を備え、
前記段差を検出する工程では、前記段差の検出を一定時間継続して行い、
前記異常を判定する工程では、検出された前記段差が前記一定時間継続して閾値以上である場合に異常と判定する、
フラップ検査方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、フラップ検査装置及びフラップ検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来から、段ボール箱等におけるフラップの異常を検査するフラップ検査装置としては種々のものが知られている。特開２０１１－２４０９７８号公報には、フラップ折れ込み不良検知装置が記載されている。フラップ折れ込み不良検知装置は、制御部と、フラップ検知センサと、判定結果出力装置とを備える。フラップ検知センサは、可視光線を用いた距離センサである。フラップ検知センサは、搬送されるカートンの前面に可視光線を照射して当該前面からの反射光を受けてカートンまでの距離を測定する。判定結果出力装置は、フラップ検出センサによって測定された距離が所定の閾値から逸脱したときに、フラップの折れ込みの不良が生じていると判定し、当該判定結果を出力する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０１１－２４０９７８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところで、前述したように、距離センサを用いてフラップの折れ込み等の異常を検出する場合には、フラップの異常の検出の精度において改善の余地がある。カートンの前面に可視光線を照射してカートンとの距離を測定する場合には、例えば、搬送ラインに対して斜めに搬送されたカートンを異常と判定する可能性がある。すなわち、フラップの状態が正常であるにもかかわらず、斜めに搬送されたカートンが異常と判定される可能性がある。従って、フラップの状態が正常であるカートンを異常であると誤判定する懸念がある。また、前述した距離センサを用いてフラップの異常を判定する場合には、フラップの間に紙屑が挟まっている異常等を検出できない可能性がある。よって、より高精度にフラップの異常を検出することが求められている。

【0005】

本開示は、フラップの異常をより高精度に検出することができるフラップ検査装置及びフラップ検査方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示に係るフラップ検査装置は、開口を覆う第１フラップ及び第２フラップを備えた梱包体の第１フラップ及び第２フラップを検査するフラップ検査装置であって、第１フラップの表面と第２フラップの表面との間の段差を検出するセンサと、センサによって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第１フラップ及び第２フラップが異常であると判定する異常判定部と、を備える。

【0007】

このフラップ検査装置では、第１フラップの表面と第２フラップの表面との段差をセンサが検出する。そして、センサによって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第１フラップ及び第２フラップが異常であると異常判定部が判定する。よって、第１フラップの表面と第２フラップの表面との間に形成された段差をセンサによって検出し、当該段差の値に応じて第１フラップ及び第２フラップの異常判定が行われる。すなわち、第１フラップと第２フラップとの段差から異常判定を行うので、第１フラップの位置と第２フラップの位置との位置関係から異常判定がなされる。従って、第１フラップと第２フラップの位置関係から異常判定を行うことにより、斜めに搬送された梱包体でフラップの状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができる。よって、第１フラップ及び第２フラップの異常判定を高精度に行うことができる。また、第１フラップ及び第２フラップの位置関係から異常判定を行うことにより、第１フラップと第２フラップとの間に挟まれた抜き屑の検出を行うことができる。従って、フラップの異常をより高精度に判定することができる。

【0008】

センサは、一体の段差検出センサであってもよい。この場合、１つの段差検出センサを配置すればよいので、センサの構成を簡易にすることができる。更に、複数のセンサを備える場合と比較して、複数のセンサの測定結果の比較を行わずに１台の段差検出センサで段差の測定を行うことができるので、測定精度を高めることができる。

【0009】

センサは、搬送されている梱包体の第１フラップ及び第２フラップにレーザ光を照射して段差を検出してもよい。この場合、指向性が高いレーザ光を第１フラップ及び第２フラップに照射して段差の測定を行うことができるので、より高精度な段差の測定が可能となる。

【0010】

センサは、第１フラップ及び第２フラップを跨ぐ線状のレーザ光を照射し、第１フラップにおけるレーザ光上の第１設定点と、第２フラップにおけるレーザ光上の第２設定点との間に位置する段差を検出してもよい。この場合、線状のレーザ光上における第１設定点と第２設定点との間に位置する段差を測定できるので、容易且つ高精度に段差の測定を行うことができる。

【0011】

レーザ光上の第１設定点の位置、及びレーザ光上の第２設定点の位置が可変とされていてもよい。この場合、段差を測定する対象となる２つの位置が可変となるので、レーザ光上における任意の箇所の段差測定が可能となる。従って、より高精度に段差を測定することができる。

【0012】

センサは、段差の検出を一定時間継続して行い、異常判定部は、検出された段差が一定時間継続して閾値以上である場合に異常と判定してもよい。この場合、第１フラップと第２フラップとの段差が一定時間未満、一時的に生じた場合を異常と判定される場合から除外することができるので、誤判定の可能性をより低減させることができる。

【0013】

前述した一定時間は、６ｍｓ以上且つ１５０ｍｓ以下であってもよい。この場合、６ｍｓ以上継続して段差を測定することによって、誤判定の可能性を一層低減させることができる。また、１５０ｍｓ以下継続して段差を測定することにより、検出すべき段差を検出して異常判定の精度をより高めることができる。

【0014】

本開示に係るフラップ検出方法は、開口を覆う第１フラップ及び第２フラップを備えた梱包体の第１フラップ及び第２フラップを検査するフラップ検査方法であって、第１フラップの表面と第２フラップの表面との間の段差を検出する工程と、検出する工程において検出された段差の値から第１フラップ及び第２フラップの異常を判定する工程と、を備える。

【0015】

このフラップ検査方法では、第１フラップの表面と第２フラップの表面との段差が検出され、検出された段差の値から、第１フラップ及び第２フラップが異常であるか否かが判定される。従って、前述したフラップ判定装置と同様、第１フラップの表面と第２フラップの表面との段差から異常判定が行われるので、第１フラップと第２フラップとの位置関係に応じた判定を行うことができる。よって、斜めに搬送された梱包体でフラップの状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができると共に、第１フラップと第２フラップとの間に挟まれた抜き屑の検出を行うことができる。以上より、フラップの異常をより高精度に判定することができる。

【発明の効果】

【0016】

本開示によれば、フラップの異常をより高精度に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0017】

【図1】実施形態に係るフラップ検査装置の構成の例を模式的に示す図である。

【図2】図１のフラップ検査装置のセンサから照射されたレーザ光及び梱包体の第１フラップと第２フラップを示す側面図である。

【図3】第１フラップ及び第２フラップが異常である状態の例を示す梱包体の側面図である。

【図4】第１フラップ及び第２フラップが異常である状態の別の例を示す梱包体の斜視図である。

【図5】比較例に係るレーザ光の照射の例を模式的に示す梱包体の側面図である。

【図6】図２のレーザ光と第１フラップ及び第２フラップとを示す梱包体の側面図である。

【図7】実施形態に係るフラップ検査方法の工程の例を示すフローチャートである。

【図8】斜めに搬送された梱包体の例を示す斜視図である。

【発明を実施するための形態】

【0018】

以下では、図面を参照しながら本開示に係るフラップ検査装置及びフラップ検査方法の実施形態について説明する。図面の説明において、同一又は相当する要素には同一の符号を付し、重複する説明を適宜省略する。また、図面は、理解の容易のため、一部を簡略化又は誇張して描いている場合があり、寸法比率等は図面に記載のものに限定されない。

【0019】

本開示において、「フラップ」とは、梱包体の開口を覆う蓋となる部分を示している。「フラップ」は、外フラップと内フラップとを含む。但し、以下の実施形態では、外フラップを検査対象とする例について説明する。「梱包体」は、梱包対象物を梱包する箱を示している。

【0020】

「梱包体」は、例えば、段ボール箱であってもよいし、段ボール箱以外の紙箱であってもよい。「梱包対象物」は、梱包体に梱包される対象の物を示している。「梱包対象物」としては、例えば、飲料缶等の缶、ペットボトル、又は瓶等を含む飲料容器が挙げられる。以下の実施形態では、梱包対象物が飲料缶Ｃ（図３参照）である例について説明する。

【0021】

図１は、例示的なフラップ検査装置１の各機器を示す図である。図２は、フラップ検査装置１のセンサ１０が梱包体Ｂを検査している状態の例を示す側面図である。図１及び図２に示されるように、フラップ検査装置１は、例えば、梱包体に梱包対象物を梱包するケーサー２と、梱包体Ｂの第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２を検査するセンサ１０と、フラップ検査装置１の各部を制御する制御部５（異常判定部）と、センサ１０によって異常と判定された梱包体Ｂを排斥する排斥機４とを備える。フラップ検査装置１は、更に、センサ１０の検査状況をモニタするモニタ３を備えてもよい。

【0022】

例えば、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２は梱包体Ｂのショートフラップ（外フラップ）である。一例として、第１フラップＢ１は鉛直上側に位置するショートフラップであり、第２フラップＢ２は鉛直下側に位置するショートフラップである。梱包体Ｂの「異常」とは、例えば、第１フラップＢ１又は第２フラップＢ２の内折れ、第１フラップＢ１又は第２フラップＢ２の剥がれ、及び、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２の間に抜き屑が挟まった状態、等が挙げられる。

【0023】

例えば、ケーサー２は、段ボール等の梱包体Ｂを取り出すと共に梱包体Ｂに複数の梱包対象物を収容し、梱包体Ｂを成形することによって梱包対象物を梱包する装置である。ケーサー２は、例えば、取り出した梱包体Ｂ及び梱包対象物を搬送する搬送ラインを備えており、当該搬送ラインに沿って梱包体Ｂ及び梱包対象物を搬送しながら梱包体Ｂを成形する。ケーサー２とセンサ１０とは搬送経路Ｒ１によって互いに接続されており、ケーサー２によって飲料缶Ｃが収容された梱包体Ｂは搬送経路Ｒ１を介してセンサ１０に搬送される。なお、センサ１０は、ケーサー２の出口付近に配置されていてもよい。

【0024】

センサ１０は、例えば、搬送経路Ｒ１に沿って搬送された梱包体Ｂの第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の状態を検査する。センサ１０は、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２のそれぞれの表面にレーザ光Ｌを照射して、第１フラップＢ１の表面と第２フラップＢ２の表面との間の段差を測定する一体の段差測定センサである。そして、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の異常有無を制御部５が判定する。異常判定の詳細については後述する。

【0025】

制御部５によって正常と判定された梱包体Ｂは、センサ１０から延びる搬送経路Ｒ２に沿って搬送される。制御部５によって異常と判定された梱包体Ｂは、排斥機４によって搬送経路Ｒ２から排斥される。これにより、異常と判定された梱包体Ｂを正常な梱包体Ｂから分離することが可能となる。

【0026】

制御部５は、例えば、センサ１０を制御可能な構成要素であってもよく、モニタ３は、センサ１０の検査状況を表示してもよい。モニタ３は、例えば、図２に示されるように、センサ１０によるレーザ光Ｌの照射状態を表示してもよい。また、オペレータ等が制御部５を通じてセンサ１０によるレーザ光Ｌの照射を制御可能であってもよい。

【0027】

一例として、レーザ光Ｌが照射される梱包体Ｂの表面Ｂ１１は、長手方向Ｄ１及び短手方向Ｄ２に延びる長方形状とされている。例えば、梱包体Ｂは長手方向Ｄ１に沿って搬送される。短手方向Ｄ２は鉛直方向であってもよい。第１フラップＢ１は表面Ｂ１１の短手方向Ｄ２の一方側（例えば上側）を構成し、第２フラップＢ２は表面Ｂ１１の短手方向Ｄ２の他方側（例えば下側）を構成する。

【0028】

例示的な第１フラップＢ１は、梱包体Ｂの長手方向Ｄ１の中央側に位置する第１線部Ｂ１２と、第１線部Ｂ１２の長手方向Ｄ１の端部側から短手方向Ｄ２の一端側に傾斜する第１傾斜部Ｂ１３とを備える。例示的な第２フラップＢ２は、梱包体Ｂの長手方向Ｄ１の中央側に位置する第２線部Ｂ２２と、第２線部Ｂ２２の長手方向Ｄ１の端部側から短手方向Ｄ２の他端側に傾斜する第２傾斜部Ｂ２３とを備える。なお、第１線部Ｂ１２、第１傾斜部Ｂ１３、第２線部Ｂ２２、及び第２傾斜部Ｂ２３は、直線状であってもよいし、曲線状であってもよい。

【0029】

第１線部Ｂ１２と第２線部Ｂ２２の間、及び第１傾斜部Ｂ１３と第２傾斜部Ｂ２３の間には隙間Ｓが形成されており、隙間Ｓは第１線部Ｂ１２及び第２線部Ｂ２２から長手方向Ｄ１の端部側に向かうに従って広く形成されている。例えば、隙間Ｓから内フラップＢ３の一部が露出していてもよい。しかしながら、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の形状は、前述した例に限られず適宜変更可能である。

【0030】

センサ１０は、例えば、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２を跨ぐレーザ光Ｌを照射する。レーザ光Ｌは、例えば、長手方向Ｄ１に交差する方向に延びる線状とされており、一例として、短手方向Ｄ２に直線状に延在する。センサ１０は、レーザ光Ｌ上における第１設定点Ｌ１の位置と第２設定点Ｌ２の位置との間に位置する段差を測定する。センサ１０が段差を測定するときのサンプリング周期は、例えば、１ｍｓ以上且つ３００ｍｓ以下である。しかしながら、当該サンプリング周期は、２ｍｓ以上、５ｍｓ以上、６ｍｓ以上、８ｍｓ以上、１０ｍｓ以上、１１ｍｓ以上、１５ｍｓ以上、２０ｍｓ以上、３０ｍｓ以上、５０ｍｓ以上、１００ｍｓ以上、又は１２０ｍｓ以上であってもよい。更に、当該サンプリング周期は、２５０ｍｓ以下、２２５ｍｓ以下、２００ｍｓ以下、１７５ｍｓ以下、又は１５０ｍｓ以下であってもよい。なお、当該サンプリング周期は、上記の値に限られることはなく、適宜変更可能である。

【0031】

例えば、センサ１０は、第１設定点Ｌ１における第１フラップＢ１の表面の高さと、第２設定点Ｌ２における第２フラップＢ２の表面の高さと、の差を段差として測定する。なお、「高さ」とは、レーザ光Ｌを照射するセンサ１０から第１設定点Ｌ１及び第２設定点Ｌ２のそれぞれまでのレーザ光Ｌの照射方向（例えば、長手方向Ｄ１及び短手方向Ｄ２の双方に直交する方向、又は図２の紙面に直交する方向）への距離を示している。

【0032】

一例として、センサ１０は、レーザ光Ｌの照射を行うと共に上記の段差を電気信号として測定するセンサヘッドと、センサヘッドの電気信号を増幅するセンサアンプとを含んでいてもよい。例えば、センサ１０は、ケーブルを介してコントロールパネルである制御部５に接続されていてもよく、制御部５はセンサ１０によって測定された段差を電気信号として受信して判定を行ってもよい。しかしながら、センサ１０及び制御部５のハードウェア構成及び機能構成は、上記の例に限られず適宜変更可能である。

【0033】

制御部５は、センサ１０によって測定された第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との段差から第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の異常判定を行う。例えば、制御部５は、センサ１０によって測定された段差が閾値以上である場合に異常と判定し、センサ１０によって測定された段差が当該閾値以上でない場合に正常と判定する。当該閾値は、例えば、１ｍｍ以上、２ｍｍ以上、３ｍｍ以上、５ｍｍ以上、７ｍｍ以上、又は１０ｍｍ以上である。当該閾値の上限は、例えば、２０ｍｍ以下である。一例としての当該閾値は、１０ｍｍである。しかしながら、当該閾値の値は、１０ｍｍに限定されず、適宜変更可能である。また、当該閾値は、制御部５を介して可変とされていてもよい。一例として、当該閾値は５００μｍ（０．５ｍｍ）単位で変更可能である。

【0034】

例えば、レーザ光Ｌにおける第１設定点Ｌ１及び第２設定点Ｌ２のそれぞれの位置（第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離）は制御部５によって変更可能とされている。一例として、第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離は、１００ｍｍ以上且つ２００ｍｍ以下の範囲において可変とされている。第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離は、１１０ｍｍ以上、１２０ｍｍ以上、１３０ｍｍ以上、１４０ｍｍ以上、又は１５０ｍｍ以上であってもよい。また、第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離は、１９０ｍｍ以下、１８０ｍｍ以下、１７０ｍｍ以下、１６０ｍｍ以下、又は１５０ｍｍ以下であってもよい。しかしながら、第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２の距離の値は、上記の各例に限定されず、適宜変更可能である。また。第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離は可変とされていなくてもよい。

【0035】

本実施形態では、第１設定点Ｌ１は第１フラップＢ１の位置に設定され、第２設定点Ｌ２は第２フラップＢ２の位置に設定される。また、図３に示されるように、梱包対象物が飲料缶Ｃである場合には、第２設定点Ｌ２が飲料缶Ｃの缶胴Ｃ１の位置（高さ）に設定され、第１設定点Ｌ１が飲料缶Ｃのネック部Ｃ２の位置（高さ）に設定されてもよい。「ネック部」とは、飲料缶の缶胴から窪んだ部分を示している。

【0036】

この場合、図３に例示されるように、センサ１０が缶胴Ｃ１とネック部Ｃ２との間に位置する段差を検出するので、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２のそれぞれが飲料缶Ｃの上下のそれぞれに内折れしている異常も検出可能となる。なお、飲料缶Ｃとして、図３では一例として、３５０ｍｌ（ミリリットル）の飲料缶Ｃを示しているが、例えば５００ｍｌの飲料缶であってもよく、飲料缶のサイズは特に限定されない。

【0037】

以上のように、レーザ光Ｌにおける第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との間に位置する段差を測定することにより、例えば図４に示されるように、抜き屑Ｂ４が挟まっている異常を検出可能である。図４の例では、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２の間に挟まっている抜き屑Ｂ４が第１フラップＢ１側に延びており、第２設定点Ｌ２よりも第１設定点Ｌ１が高い段差がセンサ１０で測定されることによって制御部５が異常と判定する。この抜き屑Ｂ４の例のように、本実施形態では、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２の間に異物が挟まっている異常を検出することが可能である。

【0038】

ところで、例えばピンポイントで第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との段差を測定する場合、図５に示されるように、長手方向Ｄ１及び短手方向Ｄ２の双方に傾斜する端辺Ｂ５１を有するフラップＢ５を異常と誤判定する懸念がある。そこで、本実施形態では、図６に示されるように、一定時間Ｔ段差の測定を継続して行う。これにより、図５のように一時的に段差が現れる場合を異常と誤判定しないようにすることが可能である。

【0039】

前述したように、梱包体Ｂは、長手方向Ｄ１に沿って搬送される。従って、梱包体Ｂの表面Ｂ１１にレーザ光Ｌを一定時間Ｔ照射すると、図６に示されるように、長手方向Ｄ１に延びる一定区間で段差の有無が測定される。一定時間Ｔの値は、例えば、制御部５を介して可変とされている。

【0040】

一例として、梱包体Ｂの長手方向Ｄ１の一端がセンサ１０の前に到達してから梱包体Ｂが長手方向Ｄ１に搬送され、梱包体Ｂの長手方向Ｄ１の他端がセンサ１０の前に到達するまでの時間は３００ｍｓである。これに対し、一例として一定時間Ｔを６ｍｓとすると、レーザ光Ｌは、梱包体Ｂの長手方向Ｄ１の全体のうち１／１５の区間に照射されることとなる。

【0041】

この場合、一定時間Ｔに相当する区間で段差がセンサ１０によって測定され続けたときに制御部５が異常と判定する。これに対し、一定時間Ｔに相当する区間の一部のみで段差がセンサ１０によって測定されても制御部５は異常と判定しない。従って、一定時間Ｔの値が大きすぎると、検出すべき異常が生じていても当該異常を検出できなくなる可能性がある。よって、一定時間Ｔの値は、梱包体Ｂを搬送する速度等に応じて適切に定められることが好ましい。例えば、一定時間Ｔが６ｍｓ以上且つ１００ｍｓ以下（又は１５０ｍｓ以下（若しくは１５０ｍｓ未満））であれば、図５の状態を異常と誤判定することを回避できると共に、検出すべき異常を確実に異常と判定することができる。なお、一定時間Ｔは、１０ｍｓ以上、１５ｍｓ以上、２０ｍｓ以上、３０ｍｓ以上、又は５０ｍｓ以上であってもよい。また、一定時間Ｔは、１２０ｍｓ以下、９０ｍｓ以下、８０ｍｓ以下、７０ｍｓ以下、６０ｍｓ以下、又は５０ｍｓ以下であってもよい。このように、一定時間Ｔの値は適宜変更可能である。

【0042】

次に、本実施形態に係るフラップ検査方法の工程の例について図７のフローチャートを参照しながら説明する。図７のフローチャートは、フラップ検査装置１のケーサー２によって梱包対象物を梱包体Ｂに梱包し、当該梱包体Ｂの第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の状況をセンサ１０及び制御部５が判定する例を示している。

【0043】

まず、飲料缶Ｃ等の梱包対象物の搬送を行い（ステップＳ１）、その後、ケーサー２が梱包対象物の梱包を行う。一例として、ケーサー２は、段ボールを取り出し、取り出した段ボールを搬送ラインに搬送する。そして、段ボールを折り曲げて箱状の梱包体Ｂを成形し、複数の飲料缶Ｃを梱包体Ｂに押し込んで梱包体Ｂへの飲料缶Ｃの収容を行う。

【0044】

その後、缶検出センサによって梱包体Ｂの中に飲料缶Ｃがあるか否かが検査されてもよい。そして、ケーサー２は、梱包体Ｂの内フラップＢ３の外面に接着剤を塗布し、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２を梱包体Ｂの内側に折り曲げて内フラップＢ３の外面に第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２を接着してもよい。

【0045】

以上のように梱包対象物の梱包体Ｂへの梱包が終わった後に梱包体Ｂのフラップ検査を行う（段差を検出する工程、ステップＳ３）。なお、ステップＳ３より前に、センサ１０によって照射されるレーザ光Ｌの第１設定点Ｌ１の位置、第２設定点Ｌ２の位置（第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との距離）、段差を測定する時間である一定時間Ｔ、及び異常判定のための段差の閾値が設定されてもよい。

【0046】

図６に例示されるように、長手方向Ｄ１に沿って搬送される梱包体Ｂに対してセンサ１０が短手方向Ｄ２に沿って延びる線状のレーザ光Ｌを照射し、設定した第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との間に位置する段差を測定する。当該段差の測定は、設定した一定時間Ｔ継続して行う。そして、制御部５がフラップの異常有無の判定を行う（異常を判定する工程、ステップＳ４）。

【0047】

制御部５は、センサ１０によって測定された段差の値が予め設定した閾値以上である場合（ステップＳ４においてＹＥＳ）、当該段差を有する梱包体Ｂを排斥機４によって搬送経路Ｒ２から排斥する（ステップＳ５）。一方、制御部５は、センサ１０によって測定された段差の値が当該閾値以上でない場合（ステップＳ４においてＮＯ）、当該段差を有する梱包体Ｂを搬送経路Ｒ２に沿って搬送する。

【0048】

また、制御部５は、ステップＳ４において、測定された段差の値が一定時間Ｔ継続して閾値以上である場合に、当該梱包体Ｂを排斥してもよい。そして、制御部５は、測定された段差の値が一定時間Ｔ未満継続して閾値以上である場合には、当該梱包体Ｂを搬送経路Ｒ２に沿って搬送してもよい。以上の異常有無の判定を経て一連の工程が完了する。

【0049】

次に、本実施形態に係るフラップ検査装置１及びフラップ検査方法から得られる作用効果について説明する。本実施形態に係るフラップ検査装置１及びフラップ検査方法では、第１フラップＢ１の表面と第２フラップＢ２の表面との段差をセンサ１０が検出する。そして、センサ１０によって検出された段差の値が閾値以上である場合に、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２が異常であると制御部５が判定する。

【0050】

よって、第１フラップＢ１の表面と第２フラップＢ２の表面との間に形成された段差をセンサ１０によって検出し、当該段差の値に応じて第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の異常判定が行われる。すなわち、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２との段差から異常判定を行うので、第１フラップＢ１の位置と第２フラップＢ２の位置との位置関係から異常判定がなされる。

【0051】

従って、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２の位置関係から異常判定を行うことにより、図８に示されるように、搬送経路Ｒ１に対して斜めに搬送された梱包体Ｂで第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の状態が正常であるものを異常と判定しないようにすることができる。

【0052】

図８は、搬送経路Ｒ１に対して斜めに搬送される梱包体Ｂの例を示しており、搬送経路Ｒ１に対するずれＺの値は、一例として３０ｍｍである。このように斜めに搬送される正常な梱包体Ｂを異常でないと判定することが可能であるため、誤判定を抑制することができる。よって、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の異常判定を高精度に行うことができる。

【0053】

また、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の位置関係から異常判定を行うことにより、図４に示されるように、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２との間に挟まれた抜き屑Ｂ４の検出を行うことができる。従って、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２の異常をより高精度に判定することができる。

【0054】

前述したように、センサ１０は、一体の段差検出センサであってもよい。この場合、１つの段差検出センサを配置すればよいので、センサの構成を簡易にすることができる。更に、複数のセンサを備える場合と比較して、複数のセンサの測定結果の比較を行わずに１台の段差測定センサで段差の測定を行うことができるので、測定精度を高めることができる。

【0055】

センサ１０は、搬送されている梱包体Ｂの第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２にレーザ光Ｌを照射して段差を検出してもよい。この場合、指向性が高いレーザ光Ｌを第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２に照射して段差の測定を行うことができるので、より高精度な段差の測定が可能となる。

【0056】

センサ１０は、第１フラップＢ１及び第２フラップＢ２を跨ぐ線状のレーザ光Ｌを照射し、第１フラップＢ１におけるレーザ光Ｌ上の第１設定点Ｌ１と、第２フラップＢ２におけるレーザ光Ｌ上の第２設定点Ｌ２との間に位置する段差を検出してもよい。この場合、線状のレーザ光Ｌ上における第１設定点Ｌ１と第２設定点Ｌ２との間に位置する段差を測定できるので、容易且つ高精度に段差の測定を行うことができる。

【0057】

レーザ光Ｌ上の第１設定点Ｌ１の位置、及びレーザ光Ｌ上の第２設定点Ｌ２の位置が可変とされていてもよい。この場合、段差を形成する基準となる２つの位置が可変となるので、レーザ光Ｌ上における任意の箇所の段差測定が可能となる。従って、より高精度に段差を測定することができる。

【0058】

センサ１０は、図６に示されるように、段差の検出を一定時間Ｔ継続して行い、制御部５は、検出された段差が一定時間Ｔ継続して閾値以上である場合に異常と判定してもよい。この場合、第１フラップＢ１と第２フラップＢ２との段差が一定時間Ｔ未満、一時的に生じた場合を異常と判定される場合から除外することができるので、誤判定の可能性をより低減させることができる。

【0059】

一定時間Ｔは、６ｍｓ以上且つ１５０ｍｓ以下であってもよい。この場合、６ｍｓ以上継続して段差を測定することによって、誤判定の可能性を一層低減させることができる。また、１５０ｍｓ以下継続して段差を測定することにより、検出すべき段差を検出して異常判定の精度をより高めることができる。

【0060】

以上、本開示に係るフラップ検査装置及びフラップ検査方法の実施形態について説明した。しかしながら、本開示は、前述した実施形態に限定されるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲において変形し、又は他のものに適用したものであってもよい。すなわち、フラップ検査装置の各部の構成及び機能、並びに、フラップ検査方法の工程の数、内容及び順序は、上記の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。

【0061】

例えば、前述の実施形態では、ケーサー２の出口付近の搬送経路Ｒ１にセンサ１０が設けられる例について説明した。しかしながら、センサ１０が設けられる場所は上記の例に限られず適宜変更可能である。また、梱包体Ｂの搬送経路は、前述した搬送経路Ｒ１及び搬送経路Ｒ２に限られない。梱包体Ｂの搬送経路は、例えば、曲線状に湾曲した搬送経路、又は途中で他の経路と合流したり分離したりする経路であってもよく、搬送経路の種類は適宜変更可能である。

【0062】

前述の実施形態では、梱包対象物として飲料缶Ｃを例示した。しかしながら、梱包対象物は飲料缶Ｃ以外のものであってもよく、梱包対象物の種類は適宜変更可能である。更に、前述の実施形態では、梱包体Ｂが段ボール箱である例について説明した。しかしながら、梱包体は段ボール以外のものであってもよく、梱包体の種類及び材料についても適宜変更可能ある。

【符号の説明】

【0063】

１…フラップ検査装置、２…ケーサー、３…モニタ、４…排斥機、５…制御部（異常判定部）、１０…センサ、Ｂ…梱包体、Ｂ１…第１フラップ、Ｂ２…第２フラップ、Ｂ３…内フラップ、Ｂ４…抜き屑、Ｂ５…フラップ、Ｂ１１…表面、Ｂ１２…第１線部、Ｂ１３…第１傾斜部、Ｂ２２…第２線部、Ｂ２３…第２傾斜部、Ｂ５１…端辺、Ｃ…飲料缶（梱包対象物）、Ｃ１…缶胴、Ｃ２…ネック部、Ｄ１…長手方向、Ｄ２…短手方向、Ｌ…レーザ光、Ｌ１…第１設定点、Ｌ２…第２設定点、Ｒ１，Ｒ２…搬送経路、Ｓ…隙間、Ｔ…一定時間。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】