(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-08-02
(45)【発行日】2024-08-13
(54)【発明の名称】走査光学装置及び画像形成装置
(51)【国際特許分類】
G02B 26/12 20060101AFI20240805BHJP
G02B 26/10 20060101ALI20240805BHJP
B41J 2/47 20060101ALI20240805BHJP
H04N 1/113 20060101ALI20240805BHJP
【FI】
G02B26/12
G02B26/10 B
B41J2/47 101D
H04N1/113
(21)【出願番号】P 2020133980
(22)【出願日】2020-08-06
【審査請求日】2023-08-02
(73)【特許権者】
【識別番号】000001007
【氏名又は名称】キヤノン株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100123559
【氏名又は名称】梶 俊和
(74)【代理人】
【識別番号】100177437
【氏名又は名称】中村 英子
(72)【発明者】
【氏名】片山 皓貴
(72)【発明者】
【氏名】富岡 雄一
(72)【発明者】
【氏名】谷田部 透
【審査官】井亀 諭
(56)【参考文献】
【文献】特開平11-125776(JP,A)
【文献】特開2005-062399(JP,A)
【文献】特開2009-265503(JP,A)
【文献】特開2008-180873(JP,A)
【文献】特開2004-020787(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G02B 26/12
G02B 26/10
B41J 2/47
H04N 1/113
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
レーザ光束を出射する発光点を有する光源と、
前記光源が電気的に繋がれる基板と、
前記レーザ光束の一部を遮蔽することにより、前記レーザ光束の光束幅を制限する開口絞りと、
前記レーザ光束が像担持体上を走査するように前記開口絞りを通過した前記レーザ光束を偏向する偏向器と、
前記開口絞り、及び前記偏向器を収容し、前記
基板が固定される光学箱と、
を備え、
前記光源は、
前記発光点から出射する前記レーザ光束の光軸が前記発光点と前記開口絞りの中心とを結ぶ直線に対して角度をなすように
且つ前記基板の平面に垂直な方向に対して角度をなすように、前記
基板に
繋がれていることを特徴とする走査光学装置。
【請求項2】
前記レーザ光束の光軸は、前記発光点と前記開口絞りの中心とを結ぶ直線に対して直交する方向に前記角度をなしていることを特徴とする請求項
1に記載の走査光学装置。
【請求項3】
前記光源は、複数の発光点を有し、
前記複数の発光点から出射されるレーザ光束の光軸は、複数の前記発光点が並んでいる方向と直交する方向に前記角度をなしていることを特徴とする請求項
2に記載の走査光学装置。
【請求項4】
像担持体上に形成された静電潜像を現像した画像を記録媒体上に形成する画像形成部と、
前記像担持体に前記静電潜像を形成する請求項1から請求項
3のいずれか1項に記載の走査光学装置と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子写真技術を備えたレーザプリンタ、複写機、ファクシミリ等の画像形成装置に用いられている走査光学装置、及び画像形成装置に関する。
【背景技術】
【0002】
電子写真方式によって画像形成を行う画像形成装置に用いられる走査光学装置は、次のような部材を備えている。すなわち、走査光学装置は、画像情報に基づいてレーザ光束を出射する光源、光源からのレーザ光束を回転多面鏡により偏向する偏向器、偏向器を回転駆動させる駆動回路基板を備えている。また、走査光学装置は、光学走査に必要な光量を取り込み、回転多面鏡に集光させるレンズを有する入射光学系、回転多面鏡により偏向されたレーザ光束を感光ドラム上で等速走査させ、スポットを結像させるレンズを有する走査光学系を備えている。そして、走査光学装置は、光学箱の内部に偏向器、駆動回路基板、入射光学系、走査光学系を収容し、光源を保持する保持部材は例えば接着剤等により光学箱に固定され、光学箱の開口部は、蓋により遮蔽されている。
【0003】
従来の走査光学装置は、例えば特許文献1に示すように、半導体レーザの発光光量を調整することで、一定の走査幅を有する感光ドラム上で必要とされる単位面積当たりの照射光量(以下、ドラム面光量という)に対応している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
上述した従来の走査光学装置において、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大させようとした際に、従来と同じ仕様の光学部品を用いる場合、半導体レーザの光量範囲は製品仕様により一定の範囲内に制限されるため、対応可能なドラム面光量には限界がある。また、対応可能なドラム面光量の範囲拡大のために、走査光学系などの光学部品を新規に設計し、仕様を変更した走査光学装置を開発する対応も考えられる。ところが、仕様変更することにより、光学部品や光学部品の保持部材等を作製するための新規金型、光学系に合わせた新たな生産設備などが必要となり、製造コストが増加するという課題が生じる。
【0006】
本発明は、このような状況のもとでなされたもので、新たな光学部品及び半導体レーザを用いることなく、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上述した課題を解決するために、本発明では、以下の構成を備える。
【0008】
(1)レーザ光束を出射する発光点を有する光源と、前記光源が電気的に繋がれる基板と、前記レーザ光束の一部を遮蔽することにより、前記レーザ光束の光束幅を制限する開口絞りと、前記レーザ光束が像担持体上を走査するように前記開口絞りを通過した前記レーザ光束を偏向する偏向器と、前記開口絞り、及び前記偏向器を収容し、前記基板が固定される光学箱と、を備え、前記光源は、前記発光点から出射する前記レーザ光束の光軸が前記発光点と前記開口絞りの中心とを結ぶ直線に対して角度をなすように且つ前記基板の平面に垂直な方向に対して角度をなすように、前記基板に繋がれていることを特徴とする走査光学装置。
【0009】
(2)像担持体上に形成された静電潜像を現像した画像を記録媒体上に形成する画像形成部と、前記像担持体に前記静電潜像を形成する前記(1)に記載の走査光学装置と、を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、新たな光学部品及び半導体レーザを用いることなく、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【
図1】実施例1、2の画像形成装置の構成を示す概略断面図
【
図2】実施例1、2の走査光学装置の構成を示す斜視図
【
図3】実施例1の半導体レーザの接合方法を説明する斜視図
【
図4】実施例1のアナモフィックレンズの位置調整の方法を説明する図
【
図5】実施例1の半導体レーザの接合角度を説明する断面図
【
図6】実施例1、2の半導体レーザの光強度分布を説明する図
【
図7】実施例1の半導体レーザが接合された状態における光強度分布を説明する図
【
図11】実施例2の半導体レーザの位置調整の方法を説明する図
【
図12】実施例2の光学箱と保持部材の周辺の構成を説明する上面図
【
図13】実施例2の光学箱と保持部材の周辺の構成を説明する断面図
【発明を実施するための形態】
【0012】
以下に、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【実施例1】
【0013】
[画像形成装置の構成]
図1は、本発明の走査光学装置100を備える実施例1の画像形成装置101の構成を示す概略断面図である。
図1において、画像形成部であるプロセスカートリッジ107は、静電潜像が形成される感光ドラム8、感光ドラム8を所定の電位に帯電する帯電ローラ109、感光ドラム8上の静電潜像にトナーを付着し、トナー像を形成する現像ローラ110を有している。像担持体である感光ドラム8に対向する位置には、搬送される記録媒体である用紙P上(記録媒体上)に感光ドラム8上に形成されたトナー像を転写する転写ローラ105が配置されている。また、走査光学装置100は、感光ドラム8上に画像データに応じたレーザ光を照射し、静電潜像を形成する。なお、走査光学装置100は、画像形成装置101の筐体の一部である光学台102に設置されている。
【0014】
画像形成装置101が画像形成動作を開始すると、プロセスカートリッジ107では、感光ドラム8が回転駆動され、帯電ローラ109は感光ドラム8の表面を一様な電位に帯電する。走査光学装置100は、一様な電位に帯電された感光ドラム8の表面に画像データに応じたレーザ光を照射して、静電潜像を形成する。そして、感光ドラム8上(像担持体上)に形成された静電潜像は、現像ローラ110によりトナーが付着され、トナー像が形成される。一方、用紙Pが載置された給紙部103からは、給送ローラ104により用紙Pが1枚ずつ搬送路に給送される。搬送路に給送された用紙Pは、転写ローラ105により、感光ドラム8上に形成されたトナー像が転写される。トナー像が転写された用紙Pは定着器106に搬送され、定着器106によりトナー像は加熱、加圧されて、用紙Pに定着される。トナー像が定着された用紙Pは、その後、排出ローラ対108により画像形成装置101の外部に排出される。
【0015】
[走査光学装置の構成]
図2は、
図1に示した本実施例の走査光学装置100の構成を示す斜視図であり、走査光学装置100を斜め上方向から見たときの内部の構成を示している。
図2において、半導体レーザ1は、レーザ光束Lを出射する発光点を有し、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lが入射するアナモフィックレンズ2は、コリメータレンズとシリンドリカルレンズを一体に成形したレンズである。開口絞り3は、アナモフィックレンズ2を透過したレーザ光束Lの光束幅を制限し、偏向器5により回転駆動される回転多面鏡4は、開口絞り3を通過して入射するレーザ光束Lの光路を偏向する。BD(ビームディテクタ)6は、回転多面鏡4により偏向されたレーザ光束Lを検知すると、書き出し位置同期信号を出力する。走査レンズであるfθレンズ7には、回転多面鏡4により偏向されたレーザ光束Lが入射し、fθレンズ7を透過したレーザ光束Lは,感光ドラム8上を走査する。
【0016】
光学箱9には、上述した光学部材等が収容され、蓋10は粉塵侵入防止等の観点から光学箱9の図中上部の開口部に取り付けられ、光学箱9の内部と外部を遮断する。また、電気基板11には、BD6及び半導体レーザ1が固定されており、半導体レーザ1を発光させるための回路が設けられている。
【0017】
なお、図に示すz軸は、感光ドラム8が回転する方向である副走査方向を示し、z軸と直交するx軸は、レーザ光束Lが感光ドラム8上を走査する主走査方向を示し、y軸は、z軸とx軸とに直交する軸である。なお、以下の各図におけるx軸、y軸、z軸についても同様であり、各図における説明は省略する。また、詳細については後述するが、本実施例では、半導体レーザ1は、副走査方向(z軸方向)に傾いた状態で電気基板11に固定されている。
【0018】
図2において、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lは、図中、レーザ光路L1上を進む。なお、レーザ光束Lの詳細については後述する。レーザ光路L1上を進むレーザ光束Lは、光学箱9上の設置位置が調整されたアナモフィックレンズ2に入射し、アナモフィックレンズ2によって、レーザ光束Lは、図中y軸方向には略平行光又は収束光とされ、副走査方向(z軸方向)は収束光とされる。そして、アナモフィックレンズ2を通過したレーザ光束Lは、開口絞り3により光束幅が制限され、回転多面鏡4の反射面上においてレーザ光束Lは、y軸方向に一定幅を有した焦線状に結像する。そして、レーザ光束Lは回転多面鏡4により偏向される。回転多面鏡4の反射面に反射して偏向されたレーザ光束Lは、BD6に入射する。BD6はレーザ光束Lを検知するとBD信号を出力し、BD6から出力されたBD信号を画像の書き出しを行うタイミングの基準として、半導体レーザ1は画像データに応じたレーザ光束Lを出射する。
【0019】
回転多面鏡4が図中に示す回転方向に回転すると、その後、回転多面鏡4に反射して偏向されたレーザ光束Lは、fθレンズ7に入射する。fθレンズ7は、感光ドラム8上にスポットを形成するようにレーザ光束Lを集光し、かつ感光ドラム8上に形成されるスポットの走査速度が等速になるように設計されている。このようなfθレンズ7の特性を得るために、fθレンズ7は非球面レンズで形成されている。そして、fθレンズ7を通過したレーザ光束Lは、感光ドラム8上に走査線L2として結像される。
【0020】
回転多面鏡4の回転によりレーザ光束Lが偏向されることで、感光ドラム8上ではレーザ光束Lによって主走査方向(x軸方向)の走査が行われる。また、感光ドラム8が感光ドラム8の軸線まわりに図中矢印方向(反時計回り方向)に回転駆動されることにより、レーザ光束Lによって副走査方向(z軸方向)の走査が行われる。このようにして、感光ドラム8の表面には静電潜像が形成される。
【0021】
[半導体レーザの電気基板への接合]
図3は、本実施例の半導体レーザ1の電気基板11への接合方法を説明する図であり、半導体レーザ1が接合された電気基板11を走査光学装置100の外側から見たときの斜視図である。
図3において、半導体レーザ1が接合される電気基板11には、電気基板11の表面側(不図示)に配置されている半導体レーザ1のリード線1a~1cを電気基板11の裏面に通すための貫通穴11a~11cが設けられている。リード線1a~1cは、半導体レーザ1のレーザ光束Lを出射する側とは反対側に設けられており、リード線1a~1cは、それぞれ対応する貫通穴11a~11cを通って電気基板11の外側へと延びている。また、貫通穴11a~11cの周りには接合ランド11d~11fが設けられており、貫通穴11a~11cを通るリード線1a~1cに対応する回路パターンと接続されている。なお、電気基板11は、締結ビス12により光学箱9に締結されている。
【0022】
半導体レーザ1のリード線は、一般的に各レーザ光の制御端子、コモン端子、PD(Photodiode;フォトダイオード)端子と接続されている。そのため、半導体レーザ1のリード線の本数は、レーザ光を出射する発光点の数(ビーム数)+2本(=制御端子用のリード線、コモン端子用のリード線)となる。例えば、半導体レーザ1が2ビームの場合には、リード線の本数は4本となり、リード線を貫通させる貫通穴と同じ数の接合ランドも4つとなる。本実施例では、1ビームの半導体レーザ1を採用しているため、リード線は3本で、接合ランドも3つとなる。
【0023】
図3に示すように、半導体レーザ1のリード線1a~1cを電気基板11の貫通穴11a~11cに通した状態で、リード線1a~1cと接合ランド11d~11fを半田で接合することにより、半導体レーザ1は電気基板11に接合されている。すなわち、半導体レーザ1は半田により電気基板11に固定される。
【0024】
[アナモフィックレンズの位置調整]
次に、本実施例のアナモフィックレンズ2の位置調整方法について説明する。本実施例では、半導体レーザ1は電気基板11に接合され、電気基板11は光学箱9に固定されている。そのため、半導体レーザ1から出射されるレーザ光束Lのピント調整は、アナモフィックレンズ2を固定する位置を調整することにより行われる。
図4は、本実施例のアナモフィックレンズ2の位置調整を行う方法を説明する概略図である。
図4(a)は、
図2に示す走査光学装置100をx軸に平行な面で切断し、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lのレーザ光路L1(一点鎖線で表示)を示した断面図である。一方、
図4(b)は、走査光学装置100をz軸上方向から見たときの、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lが回転多面鏡4により偏向され、スポット観測系13へと進むレーザ光路L1(一点鎖線で表示)の様子を示す上視図である。
【0025】
図4(a)に示すように、アナモフィックレンズ2は光学箱9に設けられた平面部15に設置され、紫外線等が照射されることにより硬化する接着剤によって、平面部15上に固定される。ライトガイド14は照明光源(不図示)に接続されており、アナモフィックレンズ2に塗布された接着剤に、紫外線等の接着剤硬化用の光L3を照射することにより、アナモフィックレンズ2を平面部15上に固定する。なお、アナモフィックレンズ2はチャック(不図示)によりy軸方向に把持されている。また、チャックは3軸ステージ(不図示)により、x軸、y軸、z軸方向に位置の移動が可能となっており、アナモフィックレンズ2は、平面部15上に固定する際に、3軸ステージにより固定位置を移動させることができる。また、
図4(b)に示すスポット観測系13は、例えばCCDカメラ等であり、アナモフィックレンズ2を光学箱9の平面部15上に固定する位置を調整する際に使用する調整工具である。
【0026】
アナモフィックレンズ2を平面部15に固定する際の位置調整は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lがアナモフィックレンズ2等の各光学部品を通過した後のスポット観測系13上でのスポット径のピント(y軸方向)を調整することにより行われる。なお、この位置調整作業は、半導体レーザ1が固定された電気基板11を締結ビス12により光学箱9に締結し、電気基板11が光学箱9に固定された状態において実施される。
【0027】
実際の位置調整作業の手順としては、予め平面部15に所要量の光硬化型の接着剤(不図示)を塗布する。次に、チャック(不図示)により把持されたアナモフィックレンズ2を、3軸のステージ(不図示)により平面部15上の所定の位置にセットする。この状態で、半導体レーザ1を発光させ、レーザ光束Lを出射させる。レーザ光束Lは、レーザ光路L1で示すように、アナモフィックレンズ2を透過し、開口絞り3を通過して、回転多面鏡4へと進む。レーザ光路L1で示すように、レーザ光束Lは、回転多面鏡4の反射面4aにより偏向され、fθレンズ7を透過して、主走査方向(x軸方向)の中央に設置されているスポット観測系13上に結像する。そして、スポット観測系13上のレーザスポットの結像状態を観察しながら、3軸ステージによりアナモフィックレンズ2の位置をx軸方向に移動させることにより、スポット観測系13上の結像のピント調整(y軸方向)を行う。
【0028】
そして、アナモフィックレンズ2の位置調整が終了した後、ライトガイド14から接着剤硬化用の光L3を照射して、平面部15に塗布した光硬化型の接着剤を硬化させ、アナモフィックレンズ2を平面部15上に固定して、位置調整作業を終了する。このように、本実施例では、fθレンズ7などの各光学部品を光学箱9に実装した状態で、アナモフィックレンズ2のピント調整(y軸方向)を行う。これにより、光学箱9を含む走査光学装置100の各部品の製造誤差などを加味した状態で、アナモフィックレンズ2の位置調整を行うことができる。
【0029】
[半導体レーザの電気基板との接合]
次に、本実施例の特徴的な構成である、半導体レーザ1の電気基板11との接合角度について説明する。
図5は、走査光学装置100の電気基板11から回転多面鏡4までの箇所を
図2に示すA-A線に沿って切断したときの断面図である。
図5は、電気基板11に固定された半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lが、レーザ光路L1で示すように、アナモフィックレンズ2を透過して光学箱9に設けられた開口絞り3の中心を通過して回転多面鏡4(
図5では不図示)へと進む様子を示している。本実施例では、
図5に示すように、半導体レーザ1は、出射するレーザ光束の光軸である中心軸L4を副走査方向(z軸方向)に傾けた状態(中心軸L4がレーザ光路L1に対して同軸上にない状態)で電気基板11に接合されている。なお、
図5では、半導体レーザ1の傾きをわかりやすくするため、模式的に図示しており、半導体レーザ1はレーザ光を出射する発光点(不図示)を中心に副走査方向(z軸方向)に傾けて、電気基板11と接合されている。
【0030】
本実施例において、半導体レーザ1を電気基板11に対して傾けて接合している目的は、半導体レーザ1の光強度分布を利用し、光利用効率を変更することにある。
図6は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lの、半導体レーザ1の中心軸L4上の任意の場所における副走査方向(z軸方向)の光強度分布(図中、ハッチングで示す)を示した図である。
図6に示す光強度分布では、中心軸L4に近いほど(ハッチングの山が高いほど)光強度が強く、中心軸L4から離れるほど(ハッチングの山が低いほど)光強度が弱い。
図6に示すように、一般的に、半導体レーザ1は、図中に点線で示すように、一定の角度の広がりをもったレーザ光束Lを出射する。また、出射されたレーザ光束Lの光強度は、半導体レーザ1の中心軸L4上が最も強く、中心軸L4から離れるにしたがって弱くなる。そのため、レーザ光束Lの光強度は、図中の領域Fが示す形状のガウス分布で表すことができる。また、
図6で示すレーザ光束Lの光強度分布は、副走査方向(z軸方向)の光強度分布を示しているが、副走査方向(z軸方向)に限らず、中心軸L4を中心に全方向(x軸方向、y軸方向、z軸方向)に対して、同様の光強度分布になっている。
【0031】
[レーザ光路における光強度分布]
次に、半導体レーザ1を電気基板11に傾けて接合した場合と、傾けずに接合した場合のレーザ光路における光強度分布について説明する。
図7は、走査光学装置100の電気基板11から回転多面鏡4までの箇所を
図2に示すA-A線で切断し、半導体レーザ1から出射されるレーザ光束の光路を示した断面図である。
図7(a)は、半導体レーザ1を電気基板11に傾けて接合した構成(半導体レーザ1の中心軸L4がレーザ光路L1に対してz軸方向に傾いた構成)の場合の半導体レーザ1から出射されるレーザ光束Lのレーザ光路L1を示した断面図である。一方、
図7(b)は、半導体レーザ1を電気基板11に傾けずに接合した構成(半導体レーザ1の中心軸L4がレーザ光路L1に対して同軸上にある構成)の場合の半導体レーザ1から出射されるレーザ光束Lのレーザ光路L1を示した断面図である。
図7(a)、(b)の点線は、レーザ光束Lの広がりを示している。また、
図7(a)、(b)の各図の下部には、レーザ光束Lの半導体レーザ1から出射直後、アナモフィックレンズ2通過後、開口絞り3到達時、開口絞り3通過後の各箇所におけるレーザ光束Lの光強度分布(ハッチングで表示)を示す図を追加している。なお、
図7(a)のF1、
図7(b)のF2は、開口絞り3到達時、開口絞り3通過後におけるレーザ光束Lの光強度分布を示している。
【0032】
上述したように半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lは、点線で挟まれた領域で示すように、一定の角度で広がりながらレーザ光路L1を進む。ところが、アナモフィックレンズ2を透過することにより、副走査方向(z軸方向)においては収束した光束となる。アナモフィックレンズ2を透過したレーザ光束Lは、その後、開口絞り3を通過することにより、光束幅が制限された光束となり、回転多面鏡4の反射面4aへと向かう。
【0033】
図7(b)に示す、半導体レーザ1を傾けない構成の場合、開口絞り3到達時、及び通過後のレーザ光束Lの光強度(図中、F2で示す)は、光強度分布の中で最も強い中心軸L4上の光強度であることがわかる。一方、
図7(a)に示す、半導体レーザ1を傾けた構成の場合、開口絞り3到達時、及び通過後のレーザ光束Lの光強度(図中、F1で示す)は、半導体レーザ1を傾けているため、光強度分布の中で最も強い中心軸L4上の光強度からずれていることがわかる。そのため、開口絞り3通過後のレーザ光束Lの光強度を比較すると、
図7(a)に示す半導体レーザ1を傾けた構成における光強度の積算光量(F1)は、
図7(b)に示す半導体レーザ1を傾けない構成における光強度の積算光量(F2)よりも小さくなる。すなわち、回転多面鏡4に偏向された後のレーザ光路L1上のレーザ光束Lの光強度は、半導体レーザ1を傾けた構成の方が半導体レーザ1を傾けない構成の方よりも小さくなり、その結果、感光ドラム8上に照射される単位面積当たりのドラム面光量も低くなる。したがって、半導体レーザ1を電気基板11に傾けて接合することにより、光利用効率を低減させることができる。
【0034】
光利用効率を低減する目的は、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大することにある。ここで、半導体レーザ1は、所定の光量よりも低い光量で発光させると、発光状態が安定せず、所望のビーム形状が得られなくなる。すなわち、同じ仕様の半導体レーザ1を使用してドラム面光量の対応可能範囲を拡大するためには、半導体レーザ1を所定の光量以上の光量で安定的に発光しつつ、光利用効率を低下させる必要がある。
【0035】
光利用効率を低減させる方法としては、例えば、アナモフィックレンズ2やfθレンズ7等の各光学部品の透過率及び反射率を低くすることによっても実現することができる。ところが、この場合、光学部品の表面処理等が必要となり、コストアップの要因になる。一方、上述した半導体レーザ1を傾けて電気基板11に接合する構成では、半導体レーザ1を安定的に発光させながら、光学部品の仕様を変更することなく、従来と同じ仕様の光学部品を用いて、光利用効率を低下させることができる。その結果、上述した構成を用いることにより、容易に幅広いドラム面光量に対応することができる。
【0036】
半導体レーザ1を電気基板11に接合する際の角度を1°傾けることにより、感光ドラム8上に照射されるレーザ光束Lの光強度分布を1~3%程度変えることができる。そのため、必要なドラム面光量に応じて、半導体レーザ1を電気基板11に接合する際の傾き量を決定すればよい。ただし、半導体レーザ1を電気基板11に接合する際の傾き量が20°を超えると、アナモフィックレンズ2を通過するレーザ光束L内で光強度分布の偏りが大きくなる。その結果、感光ドラム8上におけるスポット径が歪になる弊害が生じるため、傾き量は20°以下にすることが望ましい。
【0037】
また、本実施例で使用する半導体レーザ1は、発光点が1つの素子であるが、半導体レーザの中には、複数の発光点を有する素子もある。複数の発光点を有する半導体レーザ1を用いた走査光学装置では、発光点が配列された方向に半導体レーザ1を傾けて電気基板11に接合すると、発光点から感光ドラム8までの距離が各発光点によって異なることになる。その結果、発光点によって感光ドラム8上でのピント位置がずれて、形成されるスポット径が肥大する可能性が生じる。そのため、複数の発光点を有する半導体レーザ1を用いる走査光学装置においては、発光点の配列方向と直交する方向に半導体レーザ1を傾けて、電気基板11に接合することが望ましい。
【0038】
また、上述した走査光学装置100を用いることにより、画像形成装置101は幅広い単位時間あたりの印刷枚数(以下、PPMという)に対応可能となる。偏向器5の単位時間あたりの回転数は、PPMが大きくなると高くなり、PPMが小さくなると低くなる。ここで、PPMによらず、ドラム面光量を一定にするためには、偏向器5の回転数が高い場合は半導体レーザ1を強く発光させ、偏向器5の回転数が低い場合は半導体レーザ1を弱く発光させる必要がある。しかしながら、上述したように、半導体レーザ1の発光光量には限界がある。そこで、半導体レーザ1を傾けて電気基板11に接合する構成により、光利用効率を低下させることができるため、偏向器5の回転数をより低くすることが可能となる。これにより、走査光学装置100の仕様変更等を行わずに、より小さいPPMにも対応可能となる。
【0039】
以上説明したように、本実施例では、半導体レーザ1を副走査方向(z軸方向)に傾けて電気基板11に接合する構成により、半導体レーザ1から出射されるレーザ光束の光利用効率を低下させることができる。これにより、新たな仕様の光学部品及び半導体レーザを用いることなく、容易に幅広いドラム面光量に対応できる走査光学装置100を提供することができ、画像形成装置101は幅広いPPM仕様に対応可能となる。
【0040】
なお、本実施例では、半導体レーザ1を副走査方向(z軸方向)のみに傾けて電気基板11に接合する構成について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、半導体レーザ1をy軸方向のみに傾けた構成、又は半導体レーザ1をz軸方向とy軸方向の両方向に傾けた構成でもよい。
【0041】
以上説明したように、本実施例によれば、新たな光学部品及び半導体レーザを用いることなく、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大させることができる。
【実施例2】
【0042】
実施例1では、半導体レーザをレーザ光路から予め所定の角度で傾けて電気基板に接合した構成を用いた走査光学装置について説明した。実施例1では、半導体レーザが電気基板に接合された状態であるため、半導体レーザから出射されたレーザ光束が感光ドラム上に結合するためのピント調整は、アナモフィックレンズを光学箱に固定する位置を移動することにより行っている。実施例2では、半導体レーザから出射されたレーザ光束が感光ドラム上に結合するためのピント調整は、半導体レーザを保持する保持部材の光学箱への固定位置を調整することにより行う実施例について説明する。また、実施例2においても、半導体レーザの中心軸の方向は、実施例1と同様に、レーザ光路から所定の角度だけ傾けた方向である。なお、実施例2における画像形成装置の構成は、実施例1と同様であり、ここでの説明は省略する。
【0043】
[走査光学装置の構成]
次に、本実施例の走査光学装置200について説明する。本実施例の走査光学装置200は、実施例1のように半導体レーザ1が接合された電気基板11を光学箱9に固定する構成ではなく、後述する半導体レーザ1を保持する保持部材201(
図9参照)を光学箱209に接着剤を用いて固定する構成である。
図8は、本実施例の光学箱209の形状を示す斜視図である。なお、
図8は、アナモフィックレンズ2、fθレンズ7等の光学部品や、回転多面鏡4、偏向器5等を収容していない状態の光学箱209の状態を示している。
【0044】
本実施例では、半導体レーザ1を保持する保持部材201を光学箱209に接着剤を用いて固定する構成である。そのため、光学箱209の保持部材201が固定される箇所には、保持部材201を接着剤で固定するために、光学箱209から突出した一対の突起部209aが設けられている。また、保持部材201に固定された半導体レーザ1からのレーザ光束を通過させるために、光学箱209の保持部材201が設置される箇所から、光学箱209の内部のアナモフィックレンズ2に向かう方向に、略円筒形状の貫通部209bが設けられている。そして、保持部材201を光学箱209に固定する際に、保持部材201を図中下部方向に傾けた際に貫通部209bと接触しないように、貫通部209bの図中下部は、切り欠いた切り欠き部209cとなっている。なお、光学箱209内部に収容されるアナモフィックレンズ2、fθレンズ7等の光学部品や回転多面鏡4、偏向器5等の部材、及び各部材の配置位置については、後述する
図11(b)に示すように、実施例1の
図4(b)に示す光学箱9と同様である。
【0045】
[保持部材]
図9は、半導体レーザ1を保持する保持部材201の形状を説明する図である。
図9(a)は、半導体レーザ1を挿入(圧入)する側から見たときの保持部材201の形状を示す斜視図であり、
図9(b)は、半導体レーザ1からのレーザ光束Lが出射される側から見たときの保持部材201の形状を示す斜視図である。
【0046】
図9(a)、(b)に示すように、保持部材201は、フランジ部201a、接着部201b、貫通穴201cを有している。フランジ部201aの長手方向の両端部(
図9(a)において、上下方向の端部)には、略V字形状の溝201dが設けられている。また、フランジ部201aの中央部には、貫通穴201cと連通した円柱形状の貫通穴が設けられている。フランジ部201aに設けられた貫通穴の径は、貫通穴201cの径よりも大きい(
図10(a)参照)。また、半導体レーザ1の外径の径はフランジ部201aに設けられた貫通穴の径よりは小さいが、貫通穴201cの径よりも大きい。そのため、フランジ部201aの貫通穴から挿入された半導体レーザ1は、貫通穴201cには挿入できない構造になっている。なお、半導体レーザ1は、フランジ部201a側から貫通穴201cの方向に圧入することにより、保持部材201に固定される。
【0047】
貫通穴201cは、フランジ部201aに接続された、内部が空洞の筒形状部の内部部分であり、フランジ部201aに固定された半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lが通過する空洞部である。また、接着部201bは、フランジ部201a及び貫通穴201cを有する筒形状部の側面に設けられた円柱形状の部分である。保持部材201は、接着部201bの位置が光学箱209の突起部209aと対向する位置となるように配置される。保持部材201の位置調整が終了すると、接着部201bと突起部209aに跨るように接着剤が塗布され、保持部材201は、光学箱209に固定される。
【0048】
[光学箱と保持部材の接着部]
次に、保持部材201の接着部201bの詳細な形状について説明する。
図10は、半導体レーザ1を固定した保持部材201を光学箱209に固定するために、光学箱209の一対の突起部209aの近傍に配置した状態を示した図である。
図10(a)は、保持部材201をz軸上方向から見たときの上視図であり、
図10(b)は、保持部材201のフランジ部201a側からx軸方向に保持部材201を見たときの正面図である。
【0049】
図10(a)では、保持部材201に固定された半導体レーザ1の固定位置を示すために、実線で示し、貫通穴201cの内径及びフランジ部201aの貫通穴の内径を点線で示している。上述したように、
図10(a)より、貫通穴201cの内径とフランジ部201aの貫通穴の内径の違いにより、フランジ部201aに挿入された半導体レーザ1はフランジ部201a内部に固定されていることがわかる。また、
図10(a)において、L4は半導体レーザ1の中心軸を示しており、本実施例の半導体レーザ1は1つの発光点を有しているため、3本のリード線が描かれている。そして、光学箱209の突起部209aに対向する接着部201bの表面は、中心軸L4上の点Sを中心とする円(図中、点線で示す)の円弧形状(曲率形状)を有している。
【0050】
図10(b)において、半導体レーザ1上の3つの丸印は、半導体レーザ1の3つのリード線を示している。また、光学箱209の突起部209aに対向する接着部201bの表面は、中心軸L4を中心とする円(図中、点線で示す)の円弧形状(曲率形状)を有して、中心軸L4の軸対称となっている。
図10(a)、(b)より、接着部201bの表面は、中心軸L4上の点Sを中心とする球体の曲率形状を有しており、中心軸L4の軸対称であると同時に、中心軸L4上の点Sを通るz軸の軸対称でもある。
【0051】
[半導体レーザの位置調整方法]
次に、本実施例の半導体レーザ1の位置調整方法について説明する。本実施例では、半導体レーザ1は保持部材201に固定されているため、半導体レーザ1の位置調整は保持部材201の光学箱209への固定位置を調整することにより行われる。
図11は、本実施例の保持部材201の位置調整を行う方法を説明する概略図である。
図11(a)は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lのレーザ光路L1(一点鎖線で表示)を示す、走査光学装置200の断面図である。一方、
図11(b)は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lが回転多面鏡4により偏向され、スポット観測系13へと進むレーザ光路L1(一点鎖線で表示)の様子を示す、走査光学装置200をz軸上方向から見た上視図である。
【0052】
図11(a)では、アナモフィックレンズ2は、予め光学箱209に設けられた平面部15上に固定されている。ライトガイド214は照明光源(不図示)に接続されており、保持部材201の接着部201b及び光学箱209の突起部209aに塗布された接着剤に、紫外線等の接着剤硬化用の光L3を上下方向から照射する。これにより、保持部材201は光学箱209に固定される。保持部材201は、先端が略円柱形状に形成されているチャック(不図示)により、フランジ部201aのV字溝201dを掴まれて、z軸方向に把持されている。その際、保持部材201に固定されている半導体レーザ1が、実施例1同様に、副走査方向(z軸方向)に傾くように、チャックは保持部材201を傾けた状態で把持している。また、チャックは3軸ステージ(不図示)により、x軸、y軸、z軸方向に位置移動が可能となっており、保持部材201は、光学箱209に固定する際に、3軸ステージにより固定位置を移動させることができる。また、
図11(b)に示すスポット観測系13は、実施例1と同様に、保持部材201を光学箱209に固定する位置を調整する際に使用するCCDカメラ等の調整工具である。
【0053】
半導体レーザ1(保持部材201)と光学箱209の位置調整では、次のような調整が行われる。すなわち、予め光学箱209に固定されたアナモフィックレンズ2などの各光学部品を通過した後のレーザ光束Lのスポット観測系13上での主走査方向(x軸方向)、副走査方向(z軸方向)の照射位置と、スポット径のピント(y軸方向)の調整を行う。
【0054】
実際の位置調整作業の手順としては、まず、チャックにより把持された保持部材201を、3軸のステージ(不図示)により、光学箱209の突起部209a近傍の所定の位置にセットする。そして、この状態で、保持部材201に固定された半導体レーザ1のリード線を半導体レーザ発光回路(不図示)に接続し、半導体レーザ発光回路により半導体レーザ1を駆動して、レーザ光束Lを出射させる。半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lは、アナモフィックレンズ2、開口絞り3を通過し、回転多面鏡4により偏向され、fθレンズ7を通過し、画像主走査方向(x軸方向)の中央に設置されているスポット観測系13上に結像する。そして、スポット観測系13上のレーザスポットの結像状態を観測しながら、3軸ステージを動かすことにより、半導体レーザ1が固定された保持部材201を位置移動させ、照射位置調整(x軸方向及びz軸方向)とピント調整(y軸方向)を行う。
【0055】
保持部材201の位置調整が終了した後、保持部材201の接着部201bと光学箱209の突起部209aの両方に跨るように、光硬化型の接着剤(不図示)を塗布する。そして、ライトガイド214から接着剤硬化用の光L3を接着剤に照射することにより、塗布した接着剤を硬化させて、保持部材201を光学箱209に固定して調整を終了する。このように、本実施例では、アナモフィックレンズ2など各光学部品を光学箱209に実装した状態で、半導体レーザ1の照射位置調整(x軸方向、z軸方向)、及びピント調整(y軸方向)を行う。これにより、光学箱209を含む走査光学装置200の各部品の製造誤差などを加味した状態で、半導体レーザ1の各調整を行うことができる。
【0056】
[保持部材の光学箱との相対関係]
次に、本実施例の特徴的な構成である、保持部材201と光学箱209との相対関係について説明する。
図12は、保持部材201が光学箱209に固定された状態における保持部材201の周辺をZ軸上方向から見たときの上面図である。
図12において、一点鎖線で示す直線は、半導体レーザ1(
図12では不図示)の中心軸L4を示し、保持部材201のフランジ部201aの開口からの延びている3つの端子は、半導体レーザ1のリード線を示している。
【0057】
図12に示すように、保持部材201の接着部201bは、光学箱209の突起部209aと対向する位置に接着材(不図示)により固定されている。上述したように、接着部201bの突起部209aに対向する面は、中心軸L4に軸対称で、かつ中心軸L4上の点S(
図10(a))に直交するz軸にも軸対称の円弧形状(曲率形状)を有している。そのため、接着部201bの先端部分と突起部209aとの間の距離Dは、保持部材201の傾き方向(y軸方向/z軸方向)及び傾き量によらず、常に一定の距離に保つことができる。これにより、保持部材201の傾き方向及び傾き量によらず、保持部材201を光学箱209に固定するために光硬化型の接着剤を塗布する面積を常に一定量にできるため、保持部材201と光学箱209との安定した接着状態を実現することができる。
【0058】
図13は、
図12に示す中心軸L4上のB-B線に沿って、保持部材201及び光学箱209を切断したときの断面図である。
図13に示すように、保持部材201は、図中z軸下方向に向かって傾いた状態で光学箱209に固定されている。
図13に示すように、略円筒形状の貫通部209bは、図中z軸下方向に切り欠き部209cを有している。そのため、保持部材201を副走査方向(z軸方向)に傾けても、切り欠き部209cを設けているため、保持部材201の貫通穴201cを有する筒形状部の先端は貫通部209bに接触しない(干渉しない)。
図13に示すように、切り欠き部209cは、半導体レーザ1が固定された保持部材201が傾いている方向に対して設けられており、保持部材201をいかなる方向に対しても傾けることが可能である。
【0059】
なお、本実施例では、半導体レーザ1が固定された保持部材201を主に副走査方向(z軸方向)のみに傾ける構成について説明した。保持部材201を傾ける方向は、副走査方向(z軸方向)に限定されるものではなく、y軸方向のみ、又はy軸方向及びz軸方向の両方に傾けた構成であってもよい。
【0060】
また、本実施例では、保持部材201の接着部201bの光学箱209の突起部209aに対向する面に、中心軸L4と軸対称で、かつ中心軸L4と直交するz軸と軸対称の曲率形状を有する保持部材201について説明した。接着部201bは、このような曲率形状を有するものに限定されるものではない。保持部材201を傾ける方向と突起部209aの位置によって、中心軸L4と軸対称、又は中心軸L4上の点Sに直交するz軸と軸対称(
図10(a))のどちらかの曲率形状が接着部201bに設けられていればよい場合がある。上述したように、接着部201bに曲率形状をもたせる目的は、保持部材201を傾けた際に、接着部201bと突起部209aとの間の距離Dを一定の距離に保つことにある。例えば、保持部材201をy軸方向に傾け、かつ突起部209aがy軸方向に設けられている構成においては、中心軸L4上の点Sに直交するz軸と軸対称の曲率形状を接着部201bに設ければよい。また、例えば、保持部材201をy軸方向に傾け、かつ突起部209aが副走査方向(z軸方向)に設けられている構成においては、中心軸L4と軸対称の曲率形状を接着部201bに設ければよい。このような構成の場合にも、保持部材201を傾けた際に、保持部材201の接着部201bと光学箱209の突起部209aとの間の距離Dを一定の距離に保つことができるため、保持部材201と光学箱209との安定した接着状態を実現することができる。
【0061】
また、本実施例で使用する半導体レーザ1は、発光点が1つの素子であるが、半導体レーザの中には、複数の発光点を有する素子もある。実施例1と同様に、複数の発光点を有する半導体レーザを用いる走査光学装置においては、発光点が並んでいる方向と直交する方向に半導体レーザを保持する保持部材201を傾けて、光学箱209に固定することが望ましい。
【0062】
以上説明したように、半導体レーザ1を固定した保持部材201を光学箱209に固定する構成においても、半導体レーザ1を保持部材201と共に副走査方向(z軸方向)に傾けることで、実施例1同様、光利用効率を低下させることができる。これにより、新たな仕様の光学部品及び半導体レーザ1を用いることなく、容易に幅広いドラム面光量に対応できる走査光学装置200を提供することができる。
【0063】
以上説明したように、本実施例によれば、新たな光学部品及び半導体レーザを用いることなく、対応可能なドラム面光量の範囲を拡大させることができる。
【符号の説明】
【0064】
1 半導体レーザ
3 開口絞り
5 偏向器
9 光学箱