(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-08-05
(45)【発行日】2024-08-14
(54)【発明の名称】平面基板の乗り上げ検知システム
(51)【国際特許分類】
H01L 21/68 20060101AFI20240806BHJP
【FI】
H01L21/68 G
(21)【出願番号】P 2020071560
(22)【出願日】2020-04-13
【審査請求日】2023-03-22
(73)【特許権者】
【識別番号】000003193
【氏名又は名称】TOPPANホールディングス株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100149548
【氏名又は名称】松沼 泰史
(74)【代理人】
【識別番号】100139686
【氏名又は名称】鈴木 史朗
(74)【代理人】
【識別番号】100169764
【氏名又は名称】清水 雄一郎
(74)【代理人】
【識別番号】100147267
【氏名又は名称】大槻 真紀子
(72)【発明者】
【氏名】中村 晃昌
【審査官】湯川 洋介
(56)【参考文献】
【文献】特開2018-168432(JP,A)
【文献】特開2010-226014(JP,A)
【文献】特開平06-323811(JP,A)
【文献】特開2010-141213(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 21/68
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
枠付き台座と前記枠付き台座上の透明基板の正しい配置からのずれを検知するための位置検知システムであって、
前記透明基板の前記台座と接する面とは反対の面側に配置される照明で、前記透明基板の交差する二辺で構成される角部を一定の照射角度で照射する照明部と、
前記照明部により前記透明基板に対し照射をし、反射した反射光を撮像する撮像部と、
を有する、位置特定装置と
予め前記枠付き台座と前記枠付き台座上の前記透明基板の正しい配置状態で、前記反射光を撮像した反射光監視領域を設定し、前記透明基板の製造過程で前記照明部の反射光を撮像した照射範囲領域画像を2値化した照射範囲領域2値化画像を生成する画像処理部と、
前記反射光監視領域と前記照射範囲領域2値化画像に基づき、前記反射光監視領域内の一定輝度以上の画素数を測定し、前記枠付き台座と前記枠付き台座上の前記透明基板のずれを解析する画像解析部と、
を有する、画像解析端末
を備える位置検知システム。
【請求項2】
前記照明部は、
前記透明基板の交差する二辺で構成される角部と、前記角部と対角線上に位置するもう一方の角部の少なくとも2か所に配置される
請求項1に記載の位置検知システム。
【請求項3】
前記照明部は、
前記透明基板の一つの角部に対し、複数の前記照明を直交するように配置する
請求項1又は2いずれか一項に記載の位置検知システム。
【請求項4】
枠付きの台座の上に水平状態で配置されている矩形板状の透明基板を搬送する過程で、前記台座と前記台座上の前記透明基板との正しい配置からのずれを検知するための位置検知方法であって、
予め
前記台座と
前記台座上の前記透明基板の正しい配置状態で、前記
透明基板の前記台座と接する面とは反対の面側から前記透明基板の交差する二辺で構成される角部に一定の照射角度で照射された光が反射した反射光を撮像した
反射光監視画像に基づいて反射光監視領域を設定する反射光監視領域設定工程と、
前記透明基板の製造過程で
前記反射光を撮像した照射範囲領域画像を2値化した照射範囲領域2値化画像を生成する画像処理工程と、
前記反射光監視領域と前記照射範囲領域2値化画像に基づき、前記反射光監視領域内の一定輝度以上の画素数を測定し、
前記台座と
前記台座上の前記透明基板のずれを解析する画像解析工程と、
を有する、位置検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、位置特定装置、画像解析端末から構成される位置検知システムである。
【背景技術】
【0002】
従来、ガラス基板とマスクとの位置を画像認識により特定する技術が提案されている。
【0003】
透明基板の製造過程で、透明基板を台座上に配置し搬送を行うことは一般的である。しかし台座の枠上に透明基板が乗りあがって配置されてしまうと、搬送過程でエラーが生じてしまう。従来、ガラス基板の位置を特定する方法として、ガラス基板とマスク上に予め定められた位置に刻印され、又は、印刷されたマークを重ねて読み取り、読み取ったマークの座標から、ガラス基板の位置を特定することが行われていた。(例えば、特許文献1)
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、この方法では、極めて高精度に刻印、または印刷されたマークが必要となり工程が煩雑になるという問題が存在する。
【0006】
上述の課題を鑑み、本発明の目的は、透明基板と搬送時必要な台座とのずれを特定するためのマークの刻印、印刷を不要とし、ずれの検知を簡易的にした位置特定装置、画像解析端末から構成される位置検知システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上述の課題を解決するために、本発明の請求項1に係る発明は、枠付き台座と前記枠付き台座上の透明基板の正しい配置からのずれを検知するための位置検知システムであって、前記透明基板の前記台座と接する面とは反対の面側に配置される照明で、前記透明基板の交差する二辺で構成される角部を一定の照射角度で照射する照明部と、前記照明部により前記透明基板に対し照射をし、反射した反射光を撮像する撮像部と、を有する、位置特定装置と予め前記枠付き台座と前記枠付き台座上の前記透明基板の正しい配置状態で、前記反射光を撮像した反射光監視領域を設定し、前記透明基板の製造過程で前記照明部の反射光を撮像した照射範囲領域画像を2値化した照射範囲領域2値化画像を生成する画像処理部と、前記反射光監視領域と前記照射範囲領域2値化画像に基づき、前記反射光監視領域内の一定輝度以上の画素数を測定し、前記枠付き台座と前記枠付き台座上の前記透明基板のずれを解析する画像解析部と、を有する、画像解析端末を備える位置検知システムとしたものである。
【0008】
次に、本発明の請求項2に係る発明は、前記照明部は、前記透明基板の交差する二辺で構成される角部と、前記角部と対角線上に位置するもう一方の角部の少なくとも2か所に配置される請求項1に記載の位置検知システムとしたものである。
【0009】
次に、本発明の請求項3に係る発明は、前記照明部は、前記透明基板の一つの角部に対し、複数の前記照明を直交するように配置する請求項1又は2いずれか一項に記載の位置検知システムとしたものである。
【0010】
次に、本発明の請求項4に係る発明は、枠付きの台座の上に水平状態で配置されている矩形板状の透明基板を搬送する過程で、前記台座と前記台座上の前記透明基板との正しい配置からのずれを検知するための位置検知方法であって、
予め前記台座と前記台座上の前記透明基板の正しい配置状態で、前記透明基板の前記台座と接する面とは反対の面側から前記透明基板の交差する二辺で構成される角部に一定の照射角度で照射された光が反射した反射光を撮像した反射光監視画像に基づいて反射光監視領域を設定する反射光監視領域設定工程と、前記透明基板の製造過程で前記反射光を撮像した照射範囲領域の照射範囲画像を2値化した照射範囲領域2値化画像を生成する画像処理工程と、前記反射光監視領域と前記照射範囲領域2値化画像に基づき、前記反射光監視領域内の一定輝度以上の画素数を測定し、前記台座と前記台座上の前記透明基板のずれを解析する画像解析工程と、を有する、位置検知方法である。
【発明の効果】
【0011】
本発明によれば、マークの刻印、印刷を不要とし、透明基板と搬送時必要な台座とのずれを特定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0012】
【
図1】本実施形態に係る位置検知システムの構成の一例を示すブロック図である。
【
図2】本実施形態に係る位置特定装置の拡大図である。
【
図3】本実施形態に係る
図1におけるA矢視図である。
【
図4】本実施形態に係る
図1におけるA矢視図であり、照明の配置の一例を示す図である。
【
図5】本実施形態に係る複数個の光源から構成される照明の一例を示す図である。
【
図6】本実施形態に係る画像解析端末の構成の一例を示すブロック図。
【
図7】本実施形態に係る透明基板が枠付き台座に正常に配置されている際の照明部から撮像部への光反射経路の一例である。
【
図8】本実施形態に係る透明基板が枠付き台座に乗り上げている際の照明部から撮像部への光反射経路の一例である。
【
図9】本実施形態に係る画像解析端末における画像処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【
図10】本実施形態に係る画像解析端末における画像解析による位置ずれの判定方法の一例を示す図である。(正常時)
【
図11】本実施形態に係る画像解析端末における画像解析による位置ずれの判定方法の一例を示す図である。(右端乗り上げ時)
【
図12】本実施形態に係る画像解析端末における画像解析による位置ずれの判定方法の一例を示す図である。(下端乗り上げ時)
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳しく説明する。
【0014】
<1.位置検知システムの構成>
まず、
図1を参照して、本実施形態に係る位置検知システムの構成の一例について説明する。
図1は、本実施形態に係る位置検知システム1の構成の一例を示すブロック図である。位置検知システム1は、
図1に示す位置特定装置2と画像解析端末7で構成される。
【0015】
位置特定装置2と画像解析端末7は、互いに通信可能に接続される。例えば、位置特定装置2と画像解析端末7は、ネットワークNWを介して接続され、有線または無線による通信を行う。位置特定装置2は、当該通信により、撮像画像を画像解析端末7へ送信する。画像解析端末7は、当該通信により、位置特定装置2から撮像画像を受信する。
【0016】
<2.位置特定装置の構成>
以上、本実施形態に係る位置検知システム1の構成の一例について説明した。続いて、
図2~
図5を参照して、本実施形態に係る位置特定装置2の構成の一例について説明する。位置特定装置2は、撮像装置3、照明部4、透明基板5、枠付き台座6、照明部固定用保持部8、及び撮像部固定用保持部9から構成される。
【0017】
本実施形態に係る撮像装置3は、
図2に示す様に撮像部固定用保持部9に装着され、透明基板5と枠付き台座6との接地面とは反対側の上部から撮像した撮像画像を取得する装置(例えばカメラ)である。
【0018】
本実施形態に係る撮像装置3には、撮像を制御する撮像制御部を設けてもよい。撮像装置3に関する制御は、例えば、透明基板の移載機からのタイミング信号を利用した撮像タイミングの制御である。
【0019】
撮像装置3と撮像制御部は、互いに通信可能に接続される。例えば、撮像装置3と撮像制御部は、通信ケーブルによって接続され、有線による通信を行う。撮影装置3は、当該通信により、撮像画像を撮像制御部へ送信し、撮像制御部から制御信号を受信する。なお、撮像装置3と撮像制御部は、無線による通信を行ってもよい。
【0020】
本実施形態に係る照明部4は
図2に示す様に照明部固定用保持部8により固定されている。また照明部4は
図3に示す様に透明基板5の交差する二辺の角部を一定の照射角度で照射するように配置されている。
【0021】
撮像装置3と照明部4は
図3に示す様に透明基板5の交差する二辺で構成された角部と、角部と対角線上に位置するもう一方の角部の少なくとも2か所に配置される。
【0022】
照明部4は透明基板5に対し照明を複数個配置してもよい。例えば、
図4のように一つの角部に対し、直角に交わるように二つの照明を配置し、照明部としてもよい。一つの角部に対し複数の照明を配置することで、透明基板5と枠付き台座6のずれの方向を把握することが容易となる。
【0023】
照明部4の一つの照明は、例えば、複数の球状のLEDを長方形状に並べたLED光源などが挙げられる。
図5に示す様に照明は球状の光源10を複数個長方形に配置したものでもよい。
【0024】
透明基板5としては、カラーフィルタ基板、透明ガラス基板等が適用可能である。透明基板5の形状としては、例えば、正方形状、長方形状等、基板の所定の位置に照明部4が照射可能であれば、角部に丸みを帯びている形状でもよく、その形状はどの様な形状でもよい。
【0025】
枠付き台座6は少なくとも一辺に枠がついており、枠の高さや形状はどの様な形状でも良い。枠付き台座6の材料はどの様な材料でもよく、透明基板を傷つけず搬送が可能な安価な発砲スチロールでもよい。
【0026】
<3.画像解析端末の構成・機能構成>
以上、本実施形態に係る位置特定装置の構成の一例について説明した。続いて、
図6を参照にして、本実施形態に係る画像解析端末7の機能構成の一例について説明する。
図6は、本実施形態に係る画像解析端末7の機能構成の一例を示すブロック図である。
図6に示すように、画像解析端末7は、通信部710、制御部720、記憶部730、及び出力部740を備える。
【0027】
画像解析端末7は、撮像装置2が撮像した撮像画像を解析する端末である。画像解析端末7は、本実施形態に係る画像解析装置である。画像解析端末7は、例えば、PC等の端末である。画像解析端末7は、撮像画像の解析により、透明基板5と枠付き台座6とのずれの位置を取得する。
【0028】
通信部710は、各種情報の送受信を行う機能を有する。例えば通信710は、撮像装置2から送信される撮像画像を受信する。通信部710は、受信した撮像画像を制御部720へ出力する。
【0029】
制御部720は、画像解析端末7の動作全体を制御する。制御部720、画像解析端末7がハードウェアとして備えるCPU(Central Processing Unit)にプログラムを実行させることによって実現される。
図6に示すように、制御部720は、画像処理部7202、画像解析部7204、判定部7206及び出力処理部7208を備える。
【0030】
画像処理部7202は、各種処理に応じた画像処理を行う。例えば、画像処理部7202は、画像解析部7204の解析処理、判定部7206の判定処理、出力処理部7208の出力処理等で用いられる反射光監視領域13の設定や、照射範囲領域2値化画像等を生成する。具体的な画像処理の詳細は後述する。画像処理部7202は、生成した画像を画像解析7204へ出力する。
【0031】
画像解析部7204は画像処理部7202で生成した反射光監視領域13および照射範囲領域画像11に基づき、反射光監視領域13内の一定輝度以上の画素数を解析する。解析処理の詳細は後述する。画像解析部7204は、取得した画素数を判定部7206へ出力する。
【0032】
判定部7206は、画像解析部7204で解析した画素数と反射光監視領域13内の一定輝度以上の閾値を基に、透明基板5が正常な位置で枠付き台座6に配置されているか否かを判定する。例えば、判定部7206は、予め枠付き台座6と透明基板5とが正しい配置状態で、反射光を撮像した反射光監視画像より反射光監視領域13を設定し、透明基板5の製造過程で照明部4の反射光を撮像した照射範囲領域画像11より照射範囲領域2値化画像を生成し、両者が適切に一致しているかを判定する。判定部7206は、判定結果を出力処理部7208へ出力する。
【0033】
出力処理部7208は、画像解析端末7における処理で得られる情報に関する出力処理を行う。例えば、出力処理部7208は、判定部7206が判定の結果透明基板5と枠付き台座6がずれていることを判定した場合、そのずれている照射範囲画像を出力部740へ出力し、記憶部730で記憶させる。
【0034】
また、出力処理部7208は、通信部710が撮像装置2から受信した撮像画像を記憶部730へ出力し、記憶させる。撮像画像は、例えば、アーカイブとして記憶部730に記憶される。
【0035】
記憶部730は、記憶媒体、例えば、HDD(Hard Disk Drive)、フラッシュメモリ、EEPROM(ElectricallyErasable Programmable Read Only Memory)、RAM(RandomAccess read/write Memory)、ROM(Read Only Memory)、またはこれらの記憶媒体の任意の組み合わせによって構成される。記憶部730は、例えば、不揮発性メモリを用いることができる。
記憶部730は、各種情報を記憶する。各種情報は、例えば、出力処理部7208から入力される指示値または撮像画像である。
【0036】
出力部740は、各種情報を出力する。例えば、ディスプレイ等の表示装置であり、出力処理部7208から入力される撮像画像である。
【0037】
<4.撮像方法について>
以上、本実施形態に係る画像解析端末7における処理の流れの一例について説明した。続いて
図7及び
図8を参照にして、本実施形態における撮像方法について説明する。
図7及び
図8は、本実施形態に係る位置特定装置2の撮像部分の構成を横から見た図であり、照明部4からの光が透明基板5に反射する構成図である。
【0038】
図7に示す通り、照明部4より透明基板5に対し、一定の照射角度の光で照射する。この場合、
図7及び
図8に示す通り透明基板5が枠付き台座6に正常に配置されている場合と、枠付き台座6の枠部分に透明基板5が乗り上げている場合では、同様の照射角度でも撮像部への光の反射角度が異なる。
【0039】
まず反射光監視領域設定工程として、予め透明基板5が枠付き台座6に正常に配置されている場合の照明部4からの反射光を撮像部2が撮像し、反射光監視画像を取得する。この時の画像内の反射光範囲を反射光監視領域13とし、画像解析端末7の記憶部730に保管しておく。
【0040】
次に画像処理工程として、透明基板5の製造過程で照明部4からの反射光を撮像部2で撮像した照射範囲領域画像も同様に撮像し、取得する。
【0041】
<5.画像処理の流れ>
以上、本実施形態に係る撮像方法について説明した。続いて、
図9を参照して、本実施形態に係る画像解析端末7における画像処理および画像解析の流れの一例について説明する。
図9は、本実施形態に係る画像解析端末7における処理の流れの一例のフローチャートである。
【0042】
図9に示すように、まず画像解析端末7は、透明基板5が枠付き台座6に正常に配置されている際の反射光の撮像画像である反射光監視画像を受信し、反射光監視領域13を設定する(S102)。
【0043】
画像解析端末7は、反射光監視領域13内で透明基板5が枠付き台座6に正常に配置されている際の一定輝度以上の画素数の閾値を設定し、記憶部730に保管する(S104)。
【0044】
画像解析端末7は、実際に透明基板5が移送されている際に、透明基板5に反射した反射光を撮像した照射範囲領域画像を受信する。画像処理部7202は、照射範囲領域画像11を2値化し、照射範囲領域2値化画像を生成する。生成された照射範囲領域2値化画像から一定輝度以上の画素数をカウントする。(S106)。
【0045】
画像解析端末7は、照射範囲領域2値化画像の画素数をカウントした結果、予め設定した閾値を上回った場合は正常となり、閾値を下回った場合は透明基板5が枠付き台座6からずれているということであるため、異常の判定を行う(S108)。
【0046】
判定結果が正常であった場合、枠付き台座6に透明基板5を配置した状態で製造過程を続行する(S110)。
【0047】
判定結果が異常であった場合、異常時の照射範囲画像を画像解析端末7の記憶部730に保管する(S112)。
【0048】
画像解析端末7は、異常発生時には警告を発報し、周囲の人々に透明基板5のずれを一早く知らせることができる(S114)。
【0049】
画像解析端末7は、透明基板5が枠付き台座6からずれていると判定された際の照射範囲画像を異常時の画像として表示させる(S116)。
【0050】
<6.判定方法>
以上、本実施形態に係る画像解析端末7における画像処理の流れの一例について説明した。続いて、
図10~
図12を参照にして、本実施形態における判定方法について説明する。
図10~
図12の画像は、照射範囲領域画像11に反射光監視領域を重ね合わせした画像である。
【0051】
図10においては、反射光監視領域13と照射範囲領域画像11の照射範囲領域12が一致していることから、透明基板5は枠付き台座6に正常に配置していると判定される。また
図10の様に一つの角部に複数の照明を配置させた照明部では、透明基板5が枠付き台座6からずれていることだけではなく、ずれている方向も認識できる。
【0052】
図11においては、照射範囲領域12(b)は反射光監視領域13(b)と一致しているが、照射範囲領域12(a)は反射光監視領域13(a)からずれている。つまり透明基板5は枠付き台座6右端に乗り上げていることが分かる。
【0053】
図12においては、照射範囲領域12(c)は反射光監視領域13(c)と一致しているが、照射範囲領域12(d)は反射光監視領域13(d)からずれている。つまり透明基板5は枠付き台座6下端に乗り上げていることが分かる。
【0054】
上述のように本発明の位置検知システムは、透明基板と枠付き台座のずれを光の反射の画像認識により検知するように構成されている。そのため、基板が透明であっても、マークの刻印や印刷工程が不必要であり、特に基板製造の搬送過程において、透明基板と枠付き台座とのずれを精度よく検知することができる。
【0055】
以上、図面を参照してこの発明の実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様々な設計変更等をすることが可能である。
【符号の説明】
【0056】
1・・・位置検知システム
2・・・位置特定装置
3・・・撮像装置
4・・・照明部
5・・・透明基板
6・・・枠付き台座
7・・・画像解析端末
8・・・照明部固定用保持部
9・・・撮像部固定用保持部
10・・・球状光源
11・・・照射範囲領域画像
12・・・照射範囲領域
13・・・反射光監視領域
710・・・通信部
720・・・制御部
730・・・記憶部
740・・・出力部
7202・・・画像処理部
7204・・・画像解析部
7206・・・判定部
7208・・・出力処理部
NW・・・ネットワーク