特許7543345表面検査装置及びそれを用いた検出処理方法

発明の名称　表面検査装置及びそれを用いた検出処理方法

出願人　株式会社エイチアンドエフ　（識別番号 238946）

　　　　特許公開件数ランキング 2052 位（3件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11941 位（0件）（共同出願を含む）

出願人　国立大学法人福井大学　（識別番号 504145320）

　　　　特許公開件数ランキング 1036 位（8件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1021 位（6件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7543345

公報発行日　2024年9月2

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7543345

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