特許 7552644 管理システム及び管理方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-09-09

(45)【発行日】2024-09-18

(54)【発明の名称】管理システム及び管理方法

(51)【国際特許分類】

   G01D 21/00 20060101AFI20240910BHJP

   G05B 19/418 20060101ALN20240910BHJP

【ＦＩ】

G01D21/00 Z

G05B19/418 Z

【請求項の数】 5

(21)【出願番号】P 2022059836

(22)【出願日】2022-03-31

(65)【公開番号】P2023150627

(43)【公開日】2023-10-16

【審査請求日】2023-04-06

(73)【特許権者】

【識別番号】000006507

【氏名又は名称】横河電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110002147

【氏名又は名称】弁理士法人酒井国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】黒澤 菜々子

【審査官】吉田 久

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１８－７３２７２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭６０－１７７２０２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１９－１６４５４２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２０－９１１５（ＪＰ，Ａ）

【文献】国際公開第２０２０／２４６２０９（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特開平５－２９８２２３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－２６２１３０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１４－４８９０１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２１－１９２３１５（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｄ ２１／００

Ｇ０５Ｂ １９／４１８、１９／０４－１９／０５、

２３／０２

Ｇ０１Ｂ １１／００－１１／３０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

測定システムを構成する複数の機器と、
前記複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得する取得部と、
前記取得部の取得結果に基づいて、前記複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更するシステム構成設定部と、
を備え、
前記システム構成設定部は、機器の識別ＩＤ及び機器の配置場所の組合せと、機器の機器設定とを対応付けて記述するデータベースを参照することによって、前記少なくとも１つの機器の機器設定を変更し、
前記システム構成設定部は、前記複数の機器のうち、前記データベースに示されるとおりに機器設定されていない機器の機器設定を変更するための処理を実行し、前記データベースに示されるとおりに機器設定されている機器の機器設定を変更するための処理は実行しない、
管理システム。

【請求項2】

測定システムを構成する複数の機器と、
前記複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得する取得部と、
前記取得部の取得結果に基づいて、前記複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更するシステム構成設定部と、
を備え、
前記測定システムは、シートを測定し、
前記複数の機器は、
前記シートが内側を通過するように設けられたフレーム機器と、
前記フレーム機器に搭載されたセンサ機器と、
を含み、
前記システム構成設定部は、前記複数の機器のうちの少なくとも前記センサ機器の機器設定を変更し、
前記システム構成設定部は、機器の識別ＩＤ及び機器の配置場所の組合せと、機器の機器設定とを対応付けて記述するデータベースを参照することによって、前記少なくとも１つの機器の機器設定を変更し、
前記システム構成設定部は、前記複数の機器のうち、前記データベースに示されるとおりに機器設定されていない機器の機器設定を変更するための処理を実行し、前記データベースに示されるとおりに機器設定されている機器の機器設定を変更するための処理は実行しない、
管理システム。

【請求項3】

前記複数の機器は、複数の測定システムを構成し、
前記システム構成設定部は、前記複数の測定システムそれぞれについて、機器の識別ＩＤと、機器の配置場所と、機器の機器設定とを対応付けて記述するデータベースを参照することによって、前記少なくとも１つの機器の機器設定を変更する、
請求項１又は２に記載の管理システム。

【請求項4】

測定システムを構成する複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得することと、
取得結果に基づいて、前記複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更することと、
を含み、
前記変更することでは、機器の識別ＩＤ及び機器の配置場所の組合せと、機器の機器設定とを対応付けて記述するデータベースを参照することによって、前記少なくとも１つの機器の機器設定を変更し、
前記変更することでは、前記複数の機器のうち、前記データベースに示されるとおりに機器設定されていない機器の機器設定を変更するための処理を実行し、前記データベースに示されるとおりに機器設定されている機器の機器設定を変更するための処理は実行しない、
管理方法。

【請求項5】

測定システムを構成する複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得することと、
取得結果に基づいて、前記複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更することと、
を含み、
前記測定システムは、シートを測定し、
前記複数の機器は、
前記シートが内側を通過するように設けられたフレーム機器と、
前記フレーム機器に搭載されたセンサ機器と、
を含み、
前記変更することでは、前記複数の機器のうちの少なくとも前記センサ機器の機器設定を変更し、
前記変更することでは、機器の識別ＩＤ及び機器の配置場所の組合せと、機器の機器設定とを対応付けて記述するデータベースを参照することによって、前記少なくとも１つの機器の機器設定を変更し、
前記変更することでは、前記複数の機器のうち、前記データベースに示されるとおりに機器設定されていない機器の機器設定を変更するための処理を実行し、前記データベースに示されるとおりに機器設定されている機器の機器設定を変更するための処理は実行しない、
管理方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、管理システム及び管理方法に関する。

【背景技術】

【0002】

例えば特許文献１に開示されるように、シート測定用のフレーム機器に搭載されたセンサ機器を交換することが知られている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開平１１－１８８８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

従来は、センサ機器を交換する度に、フレーム機器やセンサ機器の機器設定を手動で変更していた。そのため、機器設定に伴う作業負担が大きいという問題があった。

【0005】

本発明の一側面は、機器設定に伴う作業負担を軽減することを可能にする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

一側面に係る管理システムは、測定システムを構成する複数の機器と、複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得する取得部と、取得部の取得結果に基づいて、複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更するシステム構成設定部と、を備える。

【0007】

一側面に係る管理方法は、測定システムを構成する複数の機器それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得することと、取得結果に基づいて、複数の機器のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更することと、を含む。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、機器設定に伴う作業負担を軽減することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施形態に係る管理システム１００の概略構成の例を示す図である。

【図2】フレーム機器２及びセンサ機器３の概略構成の例を示す図である。

【図3】データベース４４１の例を示す図である。

【図4】管理システム１００において実行される処理（管理方法）の例を示すフローチャートである。

【図5】変形例を示す図である。

【図6】データベース５４１の例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下、図面を参照しつつ実施形態について説明する。同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明は適宜省略する。

【0011】

図１は、実施形態に係る管理システム１００の概略構成の例を示す図である。管理システム１００は、複数の機器１と、管理装置４とを含む。複数の機器１は、測定システムＭＳを構成する。

【0012】

複数の機器１は、１つ以上のフレーム機器２と、１つ以上のセンサ機器３とを含む。図１には、３つのフレーム機器２及び３つの複数のセンサ機器３が例示される。各フレーム機器２を区別できるように、フレーム機器２－１～フレーム機器２－３と称し図示する。各センサ機器３を区別できるように、センサ機器３－１～センサ機器３－３と称し図示する。

【0013】

複数の機器１に、識別ＩＤが付与される。識別ＩＤは、例えば、文字列、数字列等で表される。識別ＩＤには、機種名等が含まれてもよい。機器１は、識別ＩＤを有するように構成される。例えば、識別ＩＤが、機器１の内部の記憶部に記憶されたり、機器１の外観に含められたりする。後者の場合、識別ＩＤを示す文字列等、１次元又は２次元バーコード等が機器１の外表面上に設けられてよい。

【0014】

一実施形態において、測定システムＭＳは、シートを測定する。例えば、シートの厚さが測定される。シートの例は、紙、樹脂、電池電極シート等である。シートの測定に用いられるフレーム機器２及びセンサ機器３について、図２も参照して説明する。

【0015】

図２は、フレーム機器２及びセンサ機器３の概略構成の例を示す図である。測定対象のシートを、シート９と称し図示する。シート９は、製造工程に置かれるとともに、黒塗り矢印で示される方向に搬送される。製造工程の例は、塗工工程、乾燥工程等である。

【0016】

フレーム機器２は、シート９が内側を通過するように設けられる。図２には、フレーム機器２の構成要素のうち、フレーム２１及びセンサヘッド２２が符号を付して示される。フレーム２１は、シート９が内側を通過できるリング形状を有する。このようなフレーム２１は、Ｏ型フレーム等とも称される。センサヘッド２２は、この例では、シート９を挟んで互いに反対側に配置される一対のセンサヘッドであり、フレーム２１に係留等することによって支持される。センサヘッド２２は、フレーム内をシート９の搬送方向と交差する方向（例えば直交する方向）に移動することによって、シート９を走査する。センサヘッド２２は、例えば図示しないアクチュエータ（モータ等）によって駆動される。

【0017】

センサ機器３は、フレーム機器２、より具体的にはフレーム機器２のセンサヘッド２２に搭載される。センサ機器３は、例えば、β線、Ｘ線等の放射線源と、放射線検出器とを含む。一方のセンサヘッド２２にセンサ機器３の放射線源が搭載され、他方のセンサヘッド２２にセンサ機器３の放射線検出器が搭載される。一方のセンサヘッド２２からの放射線は、シート９を透過して、他方のセンサヘッド２２で検出される。これにより、シート９を透過した放射線の透過量や減衰量（透過率や減衰率でもよい）が検出される。例えばシート９の透過率等とシート９の厚さとの関係を示す検量線に基づいて、シート９の厚さが算出される。

【0018】

例えば上記のようにセンサ機器３が搭載された複数のフレーム機器２それぞれが、シート９の塗工工程の前後の位置、乾燥工程の前後の位置等に配置され、各位置でシート９の厚さが測定される。

【0019】

図１に戻り、フレーム機器２は、上述のフレーム２１及びセンサヘッド２２の他に、演算部２３を含む。演算部２３は、フレーム機器２のセンサヘッド２２に搭載されたセンサ機器３の検出結果に基づく演算を行う。例えば上述のシート９の厚さを算出するための演算が行われる。演算部２３は、専用に設計された回路等を含んで構成されてもよいし、汎用のプロセッサ等を含んで構成されてもよい。

【0020】

上述のフレーム機器２及びセンサ機器３を含む複数の機器１それぞれについて、機器設定が行われる。機器１の種類等に応じたさまざまな機器設定（の項目）が存在する。フレーム機器２の機器設定の例は、歪み等による補正データの設定、走査プロファイルの設定等である。センサ機器３の機器設定の例は、サンプリング周期の設定等である。

【0021】

複数の機器１それぞれの機器設定、配置場所等の組合せによって、測定システムＭＳの構成が規定される。この構成を、複数の機器１によるシステム構成とも称する。

【0022】

測定の目的等に応じて、システム構成が変更される。システム構成の変更に際して、機器１の交換、追加等、例えばフレーム機器２のプロセッサの交換、センサ機器３の交換、追加等が行われる。その場合、機器１の機器設定の変更が必要になる。

【0023】

従来は、システム構成を変更する度に、必要な機器設定の変更を手動で行っていた。例えば、作業者やオペレータが、機器１のディップスイッチを手動で切り替えたり、機器設定のための管理装置４の操作を行ったりしていた。多くの機器設定の項目を１つ１つ手作業で変更すると、作業に時間を要し、また、人為的操作によるミスが発生する可能性がある。これに対し、本実施形態では、この後で説明する管理装置４により、必要な機器設定の変更が自動的に行われる。

【0024】

管理システム１００の説明に戻り、管理装置４は、複数の機器１それぞれとの間で通信可能に構成され、複数の機器１を管理する。通信は、有線通信であってもよいし、無線通信であってもよい。管理装置４は、オペレータが操作可能な測定オペレータステーションである。管理装置４は、取得部４１と、演算部４２と、システム構成設定部４３と、記憶部４４とを含む。記憶部４４に記憶される情報として、データベース４４１が例示される。

【0025】

取得部４１は、複数のセンサ機器３それぞれの検出結果を取得する。例えば、センサ機器３と管理装置４との間の通信を用いて直接的に、又は、センサ機器３が搭載されたフレーム機器２と管理装置４との間の通信を用いて間接的に、センサ機器３の検出結果が取得される。取得部４１は、フレーム機器２の演算部２３による演算結果を取得してもよい。

【0026】

取得部４１は、複数の機器１それぞれの識別ＩＤを取得する。識別ＩＤの取得手法はとくに限定されない。例えば、識別ＩＤが機器１に記憶されている場合には、機器１と管理装置４との間の通信を用いて識別ＩＤが取得されてよい。識別ＩＤが機器１の外観に含まれている場合には、機器１の撮像画像等を用いて識別ＩＤが取得されてよい。取得部４１は、取得に必要な撮像機能、画像認識機能を含んでよい。

【0027】

取得部４１は、測定システムＭＳ内の複数の機器１それぞれの配置場所の情報を取得する。以下、配置場所の情報の取得を、単に配置場所の取得とも称する。例えば、フレーム機器２の配置場所は、フレーム機器２の番号等で特定されてよい。センサ機器３の配置場所は、フレーム機器２のセンサヘッド２２等で特定されてよい。配置場所の取得方法はとくに限定されない。例えば、配置場所の情報が機器１に記憶されている場合には、機器１と管理装置４との間の通信を用いて、機器１の配置場所が取得されてよい。測定システムＭＳ内に配置された機器１の撮像画像等を用いて、機器１の配置場所が取得されてもよい。

【0028】

取得部４１は、複数の機器１それぞれの現在の機器設定（の情報）を取得する。例えば、機器１と管理装置４との間の通信を用いて機器１の現在の機器設定が取得される。

【0029】

演算部４２は、取得部４１によって取得された複数のセンサ機器３それぞれの検出結果に基づく演算を行う。例えば、各フレーム機器２でのシート９の測定結果に基づく種々の演算が行われる。

【0030】

システム構成設定部４３は、複数の機器１によるシステム構成を設定する。システム構成は、先に述べたように、測定システムＭＳの構成であり、複数の機器１それぞれの機器設定、配置場所等によって規定される。

【0031】

システム構成設定部４３は、取得部４１の取得結果に基づいて、複数の機器１のうちの少なくとも１つの機器１の機器設定を変更する。例えば、機器設定を変更するための指令等が管理装置４から対応する機器１に送信され、その機器１が自機の機器設定を行う。

【0032】

一実施形態において、システム構成設定部４３は、記憶部４４に記憶されたデータベース４４１を参照することによって、機器設定を変更する。データベース４４１について、図３を参照して説明する。

【0033】

図３は、データベース４４１の例を示す図である。この例では、データベース４４１は、識別ＩＤと、配置場所と、機器設定と、他の情報とを対応付けて記述する。

【0034】

識別ＩＤは、機器１の識別ＩＤを示す。図３において、識別ＩＤは、フレーム機器２－１等として模式的に示される。

【0035】

配置場所は、測定システムＭＳ内の機器１の配置場所である。機器１を配置可能なさまざまな場所が、その機器１に対応付けられる。

【0036】

機器設定は、機器１の機器設定である。１つの機器１に設定することのできるさまざまな機器設定が、その機器１に対応付けられる。識別ＩＤ及び配置場所の組合せに対して、機器設定が一意に定められる。すなわち、データベース４４１は、識別ＩＤ及び配置場所の組合せと、機器設定とを対応付けて記述する。

【0037】

他の情報は、上記以外のあらゆる情報を含んでよい。フレーム機器２の他の情報として、フレーム種別、モータ種別が例示される。センサ機器３の他の情報として、線源種別、温調有無が例示される。

【0038】

図１に戻り、システム構成設定部４３は、取得部４１の取得結果に示される各機器１の識別ＩＤ、配置場所及び現在の機器設定と、データベース４４１とを比較し、データベース４４１に示されるとおりに機器設定されていない機器１を検索する。そのような機器１を、設定変更が必要な機器１とも称する。

【0039】

設定変更が必要な機器１を発見した場合、システム構成設定部４３は、データベース４４１に示されるその機器１の機器設定を、データベース４４１から読み出す。そして、システム構成設定部４３は、その機器１の機器設定がデータベース４４１から読み出した機器設定になるように、その機器１の機器設定を変更する。例えばこのようにして、設定変更が必要な機器１の機器設定が自動的に変更される。

【0040】

なお、システム構成設定部４３による設定は、測定シーケンスの設定を含んでよい。測定シーケンスの例は、フレーム機器２の状態のシーケンスであり、具体的には、測定を行う測定状態、測定を行わない待機状態等のシーケンスである。設定された測定シーケンスに従って各フレーム機器２が測定を行うように、例えば管理装置４から各フレーム機器２に指令が送られる。

【0041】

以上で説明した管理システム１００によれば、必要な機器設定の変更が自動的に行われる。従って、機器設定に伴う作業負担を軽減することが可能になる。手動での機器設定が不要になり、また、人為的操作によるミスが回避される。製品品質の向上、人件費の削減、機器設定を短時間で完了させることによるリードライム短縮等のメリットもある。

【0042】

図４は、管理システム１００において実行される処理（管理方法）の例を示すフローチャートである。具体的な処理はこれまで説明したとおりであるので、詳細な説明は省略する。

【0043】

ステップＳ１において、機器の識別ＩＤ、配置場所、現在の機器設定が取得される。管理装置４の取得部４１は、複数の機器１それぞれの識別ＩＤ、配置場所及び現在の機器設定を取得する。

【0044】

ステップＳ２において、データベースに示されるとおりに機器設定されていない機器があるか否かが判断される。管理装置４のシステム構成設定部４３は、複数の機器１のうち、データベース４４１に示される機器設定と異なる機器設定の機器１、すなわち設定変更が必要な機器１があるか否かを判断する。設定変更が必要な機器１がある場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）、ステップＳ３に処理が進められる。そうでない場合（ステップＳ２：Ｎｏ）、ステップＳ１に処理が戻される。

【0045】

ステップＳ３において、データベースから機器設定が読み出される。管理装置４のシステム構成設定部４３は、先のステップＳ２で発見した設定変更が必要な機器１の機器設定を、データベース４４１から読み出す。

【0046】

ステップＳ４において、機器の機器設定が変更される。管理装置４のシステム構成設定部４３は、先のステップＳ２で発見した設定変更が必要な機器１の機器設定が、先のステップＳ３でデータベース４４１から読み出した機器設定になるように、その機器１の機器設定を変更する。その後、ステップＳ１に処理が戻される。

【0047】

例えば上記のようなフローチャートの処理が、所定周期で繰り返し実行される。測定システムＭＳにおいて機器１の交換、追加等が行われると、設定変更が必要な機器１が生じるので、そのことがステップＳ２の処理で検出される。ステップＳ３及びステップＳ４の処理により、設定変更が必要な機器１の機器設定が変更される。

【0048】

＜第１変形例＞
開示される技術は、上記の実施形態に限定されない。いくつかの変形例について述べる。例えば、管理装置４の機能の一部又は全部が、測定システムＭＳの外部の装置やシステムに備えられてもよい。外部装置の例は、外付けのＰＣ、現場のＰＣ等である。外部システムの例は、クラウドシステム等である。外部装置を用いる例について、図５を参照して説明する。

【0049】

図５は、変形例を示す図である。管理システム１００は、外部装置５を含む。測定システムＭＳ内の管理装置４の一部の機能が、外部装置５に備えられる。この例では、先に説明した図１の管理装置４の取得部４１、システム構成設定部４３、及び、データベース４４１を記憶する記憶部４４の機能が、外部装置５に備えられる。

【0050】

外部装置５は、複数の機器１それぞれ及び管理装置４と通信可能である。外部装置５は、取得部５１と、システム構成設定部５３と、記憶部５４とを含む。記憶部５４に記憶される情報として、データベース５４１が例示される。これらの基本的な機能及び用途は、先に図１を参照して説明した管理装置４の取得部４１、システム構成設定部４３、記憶部４４及びデータベース４４１と同様であるので、詳細な説明は繰り返さない。なお、外部装置５の機能の一部は、管理装置４の機能と重複してもよい。例えば、外部装置５は、演算部を含んでもよく、その演算部には、管理装置４の演算部４２の機能が含まれてよい。

【0051】

図５に示される例では、管理装置４の操作によって、外部装置５に機器設定の変更を指示することができる。そのような指示が管理装置４から外部装置５に送られると、外部装置５のシステム構成設定部５３が、設定変更が必要な機器１の機器設定を変更する。例えば、作業者やオペレータは、測定システムＭＳ内の機器１の交換等の作業を行った後、管理装置４を操作してすぐに外部装置５に機器設定の変更を行わせることができる。

【0052】

図５に示される例では、複数の機器１は、複数の測定システムＭＳを構成する。具体的に、３つの測定システムＭＳが、測定システムＭＳ－１～測定システムＭＳ－３として例示される。これらの測定システムＭＳは、同じ領域、例えば同じ工場内に存在していてよい。外部装置５のシステム構成設定部５３は、複数の測定システムＭＳそれぞれについて、複数の機器１によるシステム構成を設定する。その場合に参照されるデータベース５４１について、図６を参照して説明する。

【0053】

図６は、データベース５４１の例を示す図である。この例では、データベース５４１は、測定システムと、識別ＩＤと、配置場所と、機器設定と、他の情報とを対応付けて記述する。測定システムは、測定システムＭＳを示し、測定システムＭＳ－１等として模式的に示される。

【0054】

測定システムＭＳ、識別ＩＤ及び配置場所の組合せに対して、機器設定が一意に定められる。すなわち、データベース５４１は、測定システムＭＳ、識別ＩＤ及び配置場所の組合せと、機器設定とを対応付けて記述する。システム構成設定部５３は、データベース５４１を参照することにより、機器設定を変更する。

【0055】

上述のような外部装置５を備える管理システム１００によっても、必要な機器設定の変更が自動的に行われるので、機器設定に伴う作業負担を軽減することが可能になる。また、データベース５４１が外部装置５の記憶部５４に記憶されるので、複数の測定システムＭＳそれぞれの情報をまとめて保存し、一元管理することができる。バックアップの作成も容易である。

【0056】

再び図１を参照し、一実施形態において、複数の機器１どうしの間で、互いの識別ＩＤ等の取得を含む通信が行われてよい。例えば、複数のセンサ機器３どうしが通信することで、複数のセンサ機器３の検出結果に基づく演算が可能になる。そのような演算を行う演算部が少なくとも一部のセンサ機器３に備えられてもよいし、そのような演算は、センサ機器３が搭載されたフレーム機器２の演算部２３によって行われてもよい。また、複数のフレーム機器２どうしが通信することで、各フレーム機器２の測定タイミング（例えばセンサヘッド２２の駆動タイミング）の同期制御が可能になる。複数の機器１が連携し、さまざまな制御、演算等を機器１上で行えるようにすることで、例えば、管理装置４での制御、演算等の負担を軽減し、また、測定システムＭＳの設計の自由度を向上させることができる。

【0057】

複数の機器１と管理装置４との間の通信において、複数の機器１の一部の機器１が親機器として機能し、残りの機器１が子機器として機能してもよい。子機器と管理装置４との間の通信は、親機器を介して行われてよい。親子関係の通信方式を用いて、各機器１の機器設定を変更することができる。

【0058】

以上で説明した技術は、例えば次のように特定される。開示される技術の１つは、管理システム１００である。図１等を参照して説明したように、管理システム１００は、複数の機器１と、取得部４１と、システム構成設定部４３と、を備える。複数の機器１は、測定システムＭＳを構成する。取得部４１は、複数の機器１それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得する。システム構成設定部４３は、取得部４１の取得結果に基づいて、複数の機器１のうちの少なくとも１つの機器の機器設定を変更する。

【0059】

上記の管理システム１００によれば、機器１の機器設定の変更が自動的に行われる。従って、機器設定に伴う作業負担を軽減することが可能になる。

【0060】

図１及び図３等を参照して説明したように、システム構成設定部４３は、機器１の識別ＩＤ及び機器１の配置場所の組合せと、機器１の機器設定とを対応付けて記述するデータベース４４１を参照することによって、少なくとも１つの機器１の機器設定を変更してよい。その場合、システム構成設定部４３は、複数の機器１のうち、データベース４４１に示されるとおりに機器設定されていない機器１の機器設定を変更してよい。例えばこのようにして、設定変更が必要な機器１の機器設定を変更することができる。

【0061】

図５及び図６等を参照して説明したように、複数の機器１は、複数の測定システムＭＳを構成し、システム構成設定部５３は、複数の測定システムＭＳそれぞれについて、機器１の識別ＩＤと、機器１の配置場所と、機器１の機器設定とを対応付けて記述するデータベース５４１を参照することによって、少なくとも１つの機器１の機器設定を変更してよい。これにより、複数の測定システムＭＳが存在する場合でも、機器１の機器設定を変更することができる。また、複数の測定システムＭＳそれぞれの情報をデータベース５４１で一元管理することができる。

【0062】

図２等を参照して説明したように、管理システム１００は、シート９を測定し、複数の機器１は、シート９が内側を通過するように設けられたフレーム機器２と、フレーム機器２に搭載されたセンサ機器３と、を含んでよい。例えばこのようなフレーム機器２やセンサ機器３の機器設定を自動的に変更することができる。

【0063】

図４等を参照して説明した管理方法も、開示される技術の１つである。管理方法は、測定システムＭＳを構成する複数の機器１それぞれの識別ＩＤ及び配置場所の情報を取得すること（ステップＳ１）と、取得結果に基づいて、複数の機器１のうちの少なくとも１つの機器１の機器設定を変更すること（ステップＳ４）と、を含む。このような管理方法によっても、これまで説明したように、機器設定に伴う作業負担を軽減することが可能になる。

【符号の説明】

【0064】

１００ 管理システム
１ 機器
２ フレーム機器
２１ フレーム
２２ センサヘッド
２３ 演算部
３ センサ機器
４ 管理装置
４１ 取得部
４２ 演算部
４３ システム構成設定部
５ 外部装置
５１ 取得部
５３ システム構成設定部
５４ 記憶部
５４１ データベース

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】