特許 7573998 光測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-10-18

(45)【発行日】2024-10-28

(54)【発明の名称】光測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01J 1/02 20060101AFI20241021BHJP

   G01J 1/04 20060101ALI20241021BHJP

   G01J 1/42 20060101ALI20241021BHJP

【ＦＩ】

G01J1/02 F

G01J1/04 B

G01J1/42 L

【請求項の数】 7

(21)【出願番号】P 2020102778

(22)【出願日】2020-06-15

(65)【公開番号】P2021196258

(43)【公開日】2021-12-27

【審査請求日】2023-04-21

(73)【特許権者】

【識別番号】000227180

【氏名又は名称】日置電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100104787

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 伸司

(72)【発明者】

【氏名】丸山 知行

【審査官】平田 佳規

(56)【参考文献】

【文献】特開平１０－２４６６７２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２０－０３００５０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１８－００４６１４（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｊ １／００ － Ｇ０１Ｊ １／０６

Ｇ０１Ｊ １／４２

Ｇ０１Ｊ ３／００ － Ｇ０１Ｊ ３／５１

Ｇ０１Ｍ １１／００

Ｇ０１Ｎ ２１／００ － Ｇ０１Ｎ ２１／０１

Ｇ０１Ｎ ２１／１７ － Ｇ０１Ｎ ２１／７４

Ｈ０４Ｎ １／０２４－ Ｈ０４Ｎ １／０３６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、
前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、
前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、
前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、
前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、
複数の前記光電変換部を備え、
前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第１の光電変換部が、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第１の仮想直線および当該第２の仮想直線の双方と直交する第３の仮想直線上に位置するように配置され、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部が、当該第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第３の仮想直線上に位置するように配置されると共に、当該各第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該各第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、
前記データ生成部は、前記第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第１の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成すると共に、当該第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する光測定装置。

【請求項2】

被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、
前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、
前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、
前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、
前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、
複数の前記光電変換部を備え、
前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第１の光電変換部と当該光電変換部としての他の少なくとも２つの第１の光電変換部とが、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、当該少なくとも２つの第１の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違し、かつ当該他の少なくとも２つの第１の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違するように配置され、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部と当該光電変換部としての他の少なくとも２つの第２の光電変換部とが、当該第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、当該少なくとも２つの第２の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違し、かつ当該他の少なくとも２つの第２の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違するように配置されると共に、当該各第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該各第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、
前記データ生成部は、前記各第１の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成すると共に、前記各第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する光測定装置。

【請求項3】

被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、
前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、
前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、
前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、
前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、
複数の前記光電変換部を備え、
前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部が、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第１の仮想直線および当該第２の仮想直線の双方と直交する第３の仮想直線上に位置するように配置され、当該光電変換部としての１つの第１の光電変換部が、当該第２の仮想直線と当該第３の仮想直線との交点に位置するように配置されると共に、当該第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、
前記データ生成部は、前記第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する光測定装置。

【請求項4】

前記データ生成部は、前記検出信号としての電流信号を電圧信号に変換するＩ／Ｖ変換部と、前記電圧信号を前記信号レベルデータに変換するＡ／Ｄ変換部とを備えると共に、当該Ｉ／Ｖ変換部に複数の前記電流信号が入力されて当該複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の前記電圧信号が当該Ｉ／Ｖ変換部から出力されるように構成されている請求項１から３のいずれかに記載の光測定装置。

【請求項5】

前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部は、光検出特性が互いに等しい当該光電変換部でそれぞれ構成されると共に、前記光通過孔を通過した前記被測定光が前記第２の仮想直線に対する一方の側に配置された当該光電変換部のうちの少なくとも１つ、および当該第２の仮想直線に対する他方の側に配置された当該光電変換部のうちの少なくとも１つに入射するようにそれぞれ配置されている請求項１から４のいずれかに記載の光測定装置。

【請求項6】

前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部が、当該第２の仮想直線を基準線として線対称の位置に配置されている請求項１から５のいずれかに記載の光測定装置。

【請求項7】

前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部が、前記第１の仮想直線と前記第２の仮想直線との交点を基準点として点対称の位置に配置されている請求項１から５のいずれかに記載の光測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、被測定光を拡散光学系において拡散させて光通過孔形成部の光通過孔を通過させた後に光電変換部に入射させ、被測定光の受光量に応じて光電変換部から出力される検出信号に基づいて被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

この種の光測定装置として、出願人は、被測定光についての波長（重心波長）や放射量などの光学的パラメータを測定可能な光測定装置を下記の特許文献に開示している。この光測定装置は、拡散光学系（積分球）、受光部、Ｉ／Ｖ変換部、Ａ／Ｄ変換部および処理部などを備えて構成されている。

【0003】

この場合、拡散光学系は、光測定装置に対する被測定光の入射方向の相違が測定結果に及ぼす影響を軽減するための光学的要素である。具体的には、拡散光学系が積分球で構成されている上記の光測定装置では、入射部の入射孔から入射した被測定光を積分球内で拡散させた後に出射部の出射孔から出射させることにより、入射孔に対する被測定光の入射方向（すなわち、光測定装置に対する被測定光の入射方向）が基準の入射方向（積分球の設計時に被測定光の入射方向として想定した方向）と相違したとしても、出射孔からの被測定光の出射方向や出射量が、被測定光を基準の入射方向で入射させたときと同程度となるように構成されている。

【0004】

また、入射部の入射孔は、積分球内への被測定光の入射量を規定量に制限することができるように開口形状や大きさが規定されており、出射部の出射孔は、積分球内で拡散された被測定光の出射量や、出射された被測定光を受光可能な範囲（領域）を制限することができるようにその開口形状や大きさが規定されている。さらに、受光部は、各波長毎の分光感度を相違させるための光学フィルタおよび光電変換部を有する一対の受光センサと、測定対象波長範囲を規定するための光学フィルタとを備え、上記の出射孔から出射された被測定光を受光可能に配置されている。

【0005】

この光測定装置による測定処理に際しては、拡散光学系（積分球）において拡散されて出射孔から出射された被測定光が受光部における一対の受光センサによって受光されることで両受光センサの光電変換部から被測定光の受光レベルに応じた検出信号がそれぞれ出力される。この検出信号が、Ｉ／Ｖ変換部においてＩ／Ｖ変換されてＡ／Ｄ変換部に入力され、Ａ／Ｄ変換部によって検出信号の信号レベルを特定可能な検出信号データが生成されて処理部に入力される。また、処理部は、入力された検出信号データに基づき、両受光センサ（両光電変換部）の検出信号の信号レベルをそれぞれ特定すると共に、特定した両信号レベルの比に基づいて被測定光の波長などを演算（測定）する。以上により、被測定光についての一連の測定処理が完了する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【文献】特開２０２０－０３００５０号公報（第６－１９頁、第１－３図）

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

ところが、出願人が上記特許文献に開示している光測定装置には、以下の改善すべき課題がある。具体的には、出願人が開示している光測定装置では、光測定装置に対する被測定光の入射方向の相違に関する影響を軽減するために、受光部に受光させる前に被測定光を拡散させるための拡散光学系（積分球）を備えると共に、拡散光学系（積分球）に対する被測定光の入射量を入射孔の形状や大きさの規定によって好適に制限し、かつ拡散光学系（積分球）からの被測定光の出射量や出射された被測定光の受光可能範囲を出射孔の形状や大きさの規定によって制限する構成が採用されている。

【0008】

ここで、図１４に示す積分球２ｘは、この種の光測定装置において採用される拡散光学系の一例である。この積分球２ｘでは、積分球本体１１ｘに設けられた入射部１２ｘの入射孔１２ｈｘから入射させた被測定光を積分球本体１１ｘ内で拡散させた後に出射部１３ｘの出射孔１３ｈｘから受光部３ｘに向けて出射させることで、入射孔１２ｈｘに対する被測定光の入射方向（すなわち、光測定装置に対する被測定光の入射方向）が基準の入射方向（矢印Ａ０ｘの向き）と僅かに相違したとしても、出射孔１３ｈｘからの被測定光の出射方向や出射量（すなわち、受光部３ｘによる被測定光の受光量）が、入射孔１２ｈｘに対して被測定光を基準の入射方向で入射させたときと同程度となるように構成されている。

【0009】

この場合、この積分球２ｘでは、出射部１３ｘにおける出射孔１３ｈｘの縁部を含む仮想平面Ｆｏｘと直交する方向（図１４，１５に示す矢印Ｂ０ｘと並行な向き）が、出射孔１３ｈｘからの被測定光の基準の出射方向となるように構成されている。また、この積分球２ｘを備えて構成された光測定装置では、図１５に示すように、受光部３ｘにおける受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘの受光面が、上記の仮想平面Ｆｏｘと平行な仮想平面Ｆｒｘと面一となるように（受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘの受光面が仮想平面Ｆｒｘ内に位置するように）積分球２ｘに対して受光部３ｘが配置されている。しかしながら、このような積分球２ｘを採用し、かつ上記のように受光部３ｘを積分球２ｘに対して配置したとしても、出射孔１３ｈｘから出射された被測定光の仮想平面Ｆｒｘ上の各部における受光量は完全に均一とはならない。

【0010】

具体的には、まず、出射孔１３ｈｘの形状や大きさの規定により、図１４～１６に示すように、仮想平面Ｆｒｘにおいて出射孔１３ｈｘと対向する領域Ｂｏｘよりも外側では、出射部１３ｘにおける出射孔１３ｈｘの周囲の部位によって被測定光が遮られるため、被測定光が全く受光されない。また、積分球本体１１ｘ内での被測定光の拡散があらゆる方向に対して均一とはならないため、例えば、入射孔１２ｈｘに対して基準の入射方向（図１４に示す矢印Ａ０ｘの向き）で被測定光が入射させられたときには、図１６に示すように、上記の仮想平面Ｆｏｘと直交すると共に出射孔１３ｈｘの重心１３ｏｘ（図１４，１５参照）を通過する矢印Ｂ０ｘに沿った仮想直線と仮想平面Ｆｒｘとの交点である位置ｒｏ０ｘにおいて被測定光の受光量が最も多くなり、位置ｒｏ０ｘから離間するほど受光量が減少する状態となる。

【0011】

このように、仮想平面Ｆｒｘの各部における受光量は相違するものの、入射孔１２ｈｘに対して被測定光が基準の入射方向で入射している状態では、仮想平面Ｆｒｘにおいて出射孔１３ｈｘと対向する領域Ｂｏｘ内（出射孔１３ｈｘを通過した被測定光が受光され得る範囲内）であって位置ｒｏ０ｘからの距離が等しい位置において被測定光の受光量が同程度となる。したがって、出願人が開示している光測定装置では、図１５，１６に示す積分球２ｘに対する受光部３ｘの配置の例と同様にして、仮想平面Ｆｒｘにおいて出射孔１３ｈｘと対向する領域Ｂｏｘにおいて位置ｒｏ０ｘからの距離が等しい位置に受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘをそれぞれ配置している。これにより、図１６に示すように、入射孔１２ｈｘに対して矢印Ａ０ｘの向きで被測定光が入射させられたときには、出射孔１３ｈｘから出射された被測定光の受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘによる受光量Ｒａ０ｘ，Ｒｂ０ｘが同程度となる。

【0012】

しかしながら、例えば、入射孔１２ｈｘに対して基準の入射方向（矢印Ａ０ｘの向き）とは相違する方向で被測定光が入射させられたときには、前述の仮想平面Ｆｒｘにおける位置ｒｏ０ｘ以外の部位において被測定光の受光量が最も多くなる状態となる。具体的には、入射孔１２ｈｘに対して基準の入射方向とは相違する方向（例えば、図１４に示す矢印Ａ１ｘの方向）で被測定光が入射させられたときには、出射孔１３ｈｘからの被測定光の出射方向が矢印Ｂ０ｘの向きとは相違する方向となる。このため、図１７に示すように、出射孔１３ｈｘの重心１３ｏｘを通過し、かつ仮想平面Ｆｏｘと斜めに交差する方向（例えば、図１４に示す矢印Ｂ１ｘの方向）に沿った仮想直線と仮想平面Ｆｒとの交点である位置ｒｏ１ｘ（位置ｒｏ０ｘとは相違する部位）において被測定光の受光量が最も多くなり、位置ｒｏ１ｘから離間するほど受光量が減少する状態となる。

【0013】

したがって、出射孔１３ｈから出射された被測定光の受光量を互いに等しくするために仮想平面Ｆｒｘにおいて位置ｒｏ０ｘからの距離が等しい位置に受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘを配置しているにも拘わらず、図１７の左図に示すように、受光センサ２０ａｘによる被測定光の受光量が上記の受光量Ｒａ０ｘよりも多い受光量Ｒａｈｘとなり、かつ受光センサ２０ｂｘによる被測定光の受光量が上記の受光量Ｒｂ０ｘよりも少ない受光量Ｒｂｌｘとなったり、図１７の右図に示すように、受光センサ２０ａｘによる被測定光の受光量が受光量Ｒａ０ｘよりも少ない受光量Ｒａｌｘとなり、かつ受光センサ２０ｂｘによる被測定光の受光量が受光量Ｒｂ０ｘよりも多い受光量Ｒｂｈｘとなったりする。

【0014】

このような受光状態において受光部３ｘから出力される検出信号に基づいて被測定光についての光学的パラメータを測定したときには、正確な測定値を得るのが困難となる。また、入射孔１２ｈｘに対する被測定光の入射方向が基準の入射方向から大きくずれたときや、両受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘを位置ｒｏ０ｘから大きく離間させて配置したときには、両受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘのいずれかにおいて、被測定光の実質的な受光ができない状態（有効な検出信号を出力できない状態）となるおそれもある。

【0015】

上記のような入射孔１２ｈｘに対する被測定光の入射方向のずれは、被測定光を出射する光源と光測定装置との位置関係（光源に対する光測定装置の設置位置や設置姿勢）に応じて生じる現象である。したがって、この種の光測定装置を使用した測定作業に不慣れな者が作業を行ったときには、入射孔１２ｈｘに対して被測定光が基準の入射方向とは異なる方向で入射する状態において測定が行われ、正確な測定結果を得ることができなかったり、測定結果を得ることができなかったりするおそれがある。このため、この点を改善するのが好ましい。なお、拡散光学系として積分球を備えた構成において生じ得る課題について説明したが、積分球以外の拡散光学系（例えば、光拡散板）を採用した構成においても同様の課題が生じる。

【0016】

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、光測定装置（拡散光学系）に対する被測定光の入射方向の相違の測定結果に対する影響を十分に軽減し得る光測定装置を提供することを主目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0017】

上記目的を達成すべく、請求項１記載の光測定装置は、被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、複数の前記光電変換部を備え、前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第１の光電変換部が、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第１の仮想直線および当該第２の仮想直線の双方と直交する第３の仮想直線上に位置するように配置され、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部が、当該第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第３の仮想直線上に位置するように配置されると共に、当該各第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該各第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、前記データ生成部は、前記第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第１の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成すると共に、当該第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する。
また、請求項２記載の光測定装置は、被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、複数の前記光電変換部を備え、前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第１の光電変換部と当該光電変換部としての他の少なくとも２つの第１の光電変換部とが、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、当該少なくとも２つの第１の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違し、かつ当該他の少なくとも２つの第１の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違するように配置され、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部と当該光電変換部としての他の少なくとも２つの第２の光電変換部とが、当該第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、当該少なくとも２つの第２の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違し、かつ当該他の少なくとも２つの第２の光電変換部の当該第２の仮想直線との距離がそれぞれ相違するように配置されると共に、当該各第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該各第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、前記データ生成部は、前記各第１の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成すると共に、前記各第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する。
また、請求項３記載の光測定装置は、被測定光の入射量に応じた検出信号を出力する光電変換部と、前記被測定光を拡散させる拡散光学系と、前記拡散光学系において拡散させられた前記被測定光の通過が可能な光通過孔が形成された光通過孔形成部と、前記検出信号に基づいて当該検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータを生成するデータ生成部とを備え、前記信号レベルデータに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置であって、複数の前記光電変換部を備え、前記各光電変換部は、前記光通過孔形成部における前記光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に当該光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、当該光電変換部としての少なくとも２つの第２の光電変換部が、当該第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間し、かつ当該第１の仮想直線および当該第２の仮想直線の双方と直交する第３の仮想直線上に位置するように配置され、当該光電変換部としての１つの第１の光電変換部が、当該第２の仮想直線と当該第３の仮想直線との交点に位置するように配置されると共に、当該第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と当該各第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように当該第１の光電変換部および当該各第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設され、前記データ生成部は、前記第２の仮想直線を挟んで配置された前記少なくとも２つの第２の光電変換部のそれぞれの前記検出信号の信号レベルを合計して前記信号レベルデータを生成する。

【0018】

また、請求項４記載の光測定装置は、請求項１から３のいずれかに記載の光測定装置において、前記データ生成部は、前記検出信号としての電流信号を電圧信号に変換するＩ／Ｖ変換部と、前記電圧信号を前記信号レベルデータに変換するＡ／Ｄ変換部とを備えると共に、当該Ｉ／Ｖ変換部に複数の前記電流信号が入力されて当該複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の前記電圧信号が当該Ｉ／Ｖ変換部から出力されるように構成されている。

【0019】

さらに、請求項５記載の光測定装置は、請求項１から４のいずれかに記載の光測定装置において、前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部は、光検出特性が互いに等しい当該光電変換部でそれぞれ構成されると共に、前記光通過孔を通過した前記被測定光が前記第２の仮想直線に対する一方の側に配置された当該光電変換部のうちの少なくとも１つ、および当該第２の仮想直線に対する他方の側に配置された当該光電変換部のうちの少なくとも１つに入射するようにそれぞれ配置されている。

【0020】

また、請求項６記載の光測定装置は、請求項１から５のいずれかに記載の光測定装置において、前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部が、前記第２の仮想直線を基準線として線対称の位置に配置されている。

【0021】

また、請求項７記載の光測定装置は、請求項１から５のいずれかに記載の光測定装置において、前記第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された前記各光電変換部が、前記第１の仮想直線と前記第２の仮想直線との交点を基準点として点対称の位置に配置されている。

【発明の効果】

【0023】

請求項１から３記載の光測定装置では、複数の光電変換部を備えると共に各光電変換部のうちの少なくとも２つの光電変換部が、光通過孔形成部における光通過孔の縁部を含む第１の仮想平面と直交すると共に光通過孔の重心を通過する第１の仮想直線に沿って見たときに、第１の仮想直線と直交する第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置され、データ生成部が、第２の仮想直線を挟んで配置された少なくとも２つの光電変換部のそれぞれの検出信号の信号レベルを合計して信号レベルデータを生成する。したがって、請求項１から３記載の光測定装置によれば、拡散光学系に対して基準の入射方向と相違する方向から被測定光が入射させられて、光通過孔からの被測定光の出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、いずれかの光電変換部に対する被測定光の入射量が光学的パラメータの測定に必要な十分な信号レベルの検出信号を出力可能な量を下回る状態になったとしても、各光電変換部の他のいずれか少なくとも１つによって、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号を出力可能な十分な量の被測定光が受光されるため、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違の測定結果に対する影響を十分に軽減することができ、予め規定された光学的パラメータを確実に測定することができる。

【0024】

また、請求項１から３記載の光測定装置では、第１の光電変換部および第２の光電変換部の少なくとも一方を複数備えて少なくとも一方が第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置されると共に、第１の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度と第２の光電変換部の測定対象波長範囲内の分光感度との比が測定対象波長範囲内の各波長の被測定光毎に相違するように第１の光電変換部および第２の光電変換部のいずれか、または双方に光学フィルタが配設されている。したがって、請求項１から３記載の光測定装置によれば、各第１の光電変換部から出力される検出信号、および／または各第２の光電変換部から出力される検出信号について、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違（光通過孔からの被測定光の出射方向の相違）の影響を十分に軽減することができるため、両検出信号の信号レベルに基づいて測定される各種光学的パラメータの確度を十分に向上させることができる。

【0025】

請求項４記載の光測定装置によれば、Ｉ／Ｖ変換部に複数の電流信号が入力されて複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の電圧信号がＩ／Ｖ変換部から出力されるようにデータ生成部を構成したことにより、１つの光電変換部から出力される１つの電流信号をＩ／Ｖ変換部においてＩ／Ｖ変換して電圧信号を出力させる構成と比較して、Ｉ／Ｖ変換部に大きな電流値の電流信号を入力させて電圧信号を短時間で出力させることができるため、そのような電圧信号に基づいて予め規定された光学的パラメータを短時間で測定することができる。また、大きな受光センサを採用した構成とは異なり、各光電変換部の配置に関する設計の自由度が向上するため、高精度な測定が可能な光測定装置を容易に製造することができ、各光電変換部の部品コストの高騰を回避できるため、光測定装置の製造コストの高騰を回避することができる。さらに、各光電変換部から出力された検出信号の合成信号をデータ生成部に入力する構成のため、データ生成部を構成するＩ／Ｖ変換部やＡ／Ｄ変換部の数を必要最低限の数とすることができる結果、光測定装置の製造コストを十分に低減することができる。

【0026】

請求項５記載の光測定装置では、第２の仮想直線を挟んで互いに離間するように配置された少なくとも２つの光電変換部が、光検出特性が互いに等しい光電変換部でそれぞれ構成されると共に、光通過孔を通過した被測定光が第２の仮想直線に対する一方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つ、および第２の仮想直線に対する他方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つに入射するようにそれぞれ配置されている。

【0027】

したがって、請求項５記載の光測定装置によれば、光通過孔からの被測定光の出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、被測定光が基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各光電変換部のいずれかの受光量が減少したとしても、各光電変換部の他のいずれかの受光量が増加するため、被測定光が基準の出射方向に出射されている状態、および被測定光が基準の出射方向とは相違する方向に出射されている状態において各光電変換部の総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違の測定結果に対する影響を一層軽減することができ、予め規定された光学的パラメータを一層確実に測定することができる。

【0028】

請求項６記載の光測定装置によれば、少なくとも２つの光電変換部を第２の仮想直線を基準線として線対称の位置に配置したことにより、光通過孔からの被測定光の出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となって被測定光の受光量が最も多い位置が第２の仮想直線から離間する方向に変位した状態になり、被測定光が基準の出射方向に出射されている状態と比較して、いずれかの光電変換部の受光量が減少したとしても、他のいずれかの光電変換部の受光量が増加するため、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違に起因して各光電変換部の総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違の測定結果に対する影響を一層軽減することができ、予め規定された光学的パラメータを一層確実に測定することができる。

【0029】

請求項７記載の光測定装置によれば、少なくとも２つの光電変換部を第１の仮想直線と第２の仮想直線との交点を基準点として点対称の位置に配置したことにより、光通過孔からの被測定光の出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となって被測定光の受光量が最も多い位置が第１の仮想直線と第２の仮想直線との交点から第２の仮想直線に沿って離間する方向に変位した状態になり、被測定光が基準の出射方向に出射されている状態と比較して、いずれかの光電変換部の受光量が減少したとしても、他のいずれかの光電変換部の受光量が増加するため、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違に起因して各光電変換部の総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、拡散光学系に対する被測定光の入射方向の相違の測定結果に対する影響を一層軽減することができ、予め規定された光学的パラメータを一層確実に測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【0032】

【図1】光測定装置１の構成を示す構成図である。

【図2】積分球２に対する被測定光Ｌの入射方向と積分球２からの被測定光Ｌの出射方向との関係について説明するための説明図である。

【図3】積分球２からの被測定光Ｌの出射方向と受光部３における各受光センサ２０ａ，２０ｂの配置との関係について説明するための説明図である。

【図4】受光部３の構成について説明するための説明図である。

【図5】受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度特性について説明するための説明図である。

【図6】積分球２に対する被測定光Ｌの入射方向と、積分球２から出射された被測定光Ｌの受光センサ２０ａ，２０ｂによる受光量との関係について説明するための説明図である。

【図7】積分球２に対する被測定光Ｌの入射方向と、積分球２から出射された被測定光Ｌの受光センサ２０ａ，２０ｂによる受光量との関係について説明するための他の説明図である。

【図8】受光部３Ａにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図9】受光部３Ａａにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図10】受光部３Ｂにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図11】受光部３Ｂａにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図12】受光部３Ｃにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図13】受光部３Ｄにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置について説明するための説明図である。

【図14】積分球ｘ２に対する被測定光の入射方向と積分球２ｘからの被測定光の出射方向との関係について説明するための説明図である。

【図15】積分球２ｘからの被測定光の出射方向と受光部３ｘにおける各受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘの配置との関係について説明するための説明図である。

【図16】積分球２ｘに対する被測定光の入射方向と、積分球２ｘから出射された被測定光の受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘによる受光量との関係について説明するための説明図である。

【図17】積分球２ｘに対する被測定光の入射方向と、積分球２ｘから出射された被測定光の受光センサ２０ａｘ，２０ｂｘによる受光量との関係について説明するための他の説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0033】

以下、光測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

【0034】

図１に示す光測定装置１は、「光測定装置」の一例であって、積分球２、受光部３、Ｉ／Ｖ変換部４、Ａ／Ｄ変換部５、操作部６、表示部７、処理部８および記憶部９を備え、被測定光Ｌについての「予め規定された光学的パラメータ」の一例である波長（重心波長）や放射量、およびそれらに基づいて演算される各種の光学的パラメータを測定可能に構成されている。この場合、被測定光Ｌは、「被測定光」の一例であって、本例の光測定装置１では、視聴覚機器（プロジェクタ）や照明器具などから発せられる赤色光、緑色光および青色光などを被測定光Ｌとして測定可能に構成されている。なお、実際には、赤色光、緑色光および青色光を別個独立して測定可能な複数の測定系を備えて光測定装置１が構成されているが、「光測定装置」の構成に関する理解を容易とするために、１種類の被測定光Ｌを測定可能な構成を例に挙げて説明する。

【0035】

積分球２は、「拡散光学系」および「光通過孔形成部」が一体的に構成された光学的要素であって、積分球本体１１、入射部１２、出射部１３を備えている。積分球本体１１は、「拡散光学系」の一例であって、図１，２に示すように、入射部１２から入射した被測定光Ｌを拡散させることにより、受光部３における後述の受光センサ２０ａ，２０ｂ・・に対する被測定光Ｌの入射方向および入射量（受光センサ２０ａ，２０ｂ・・による被測定光Ｌの受光量）を均一化可能に構成されている。

【0036】

入射部１２は、積分球本体１１内への被測定光Ｌの入射量や入射方向を制限するための光学的要素であって、一例として、円形の入射孔１２ｈが形成されている。この場合、図２に示すように、この積分球２では、入射部１２における入射孔１２ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｉと直交する方向（矢印Ａ０の向き）が積分球本体１１に対する被測定光Ｌの「基準の入射方向」となるように、積分球本体１１の形状および入射部１２の形成位置などが規定されている。

【0037】

出射部１３は、積分球本体１１において拡散された被測定光Ｌの出射量や出射方向を制限するための光学的要素であって、「光通過孔形成部」に相当し、一例として、円形の出射孔１３ｈ（「拡散光学系において拡散させられた被測定光の通過が可能な光通過孔」の一例）が形成されている。この場合、図２，３に示すように、この積分球２では、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏ（「第１の仮想平面」の一例）と直交する方向（矢印Ｂ０の向き）が積分球本体１１からの被測定光Ｌの「基準の出射方向」となるように、積分球本体１１の形状および出射部１３の形成位置などが規定されている。

【0038】

受光部３は、図４に示すように、一例として、２つの受光センサ２０ａ，２０ａ、２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ、および光学フィルタ２１を備えて構成されている。以下、受光センサ２０ａ，２０ａ，２０ｂ，２０ｂを区別しないときには「受光センサ２０」ともいう。この場合、光学フィルタ２１は、予め規定された測定対象波長範囲内の波長の被測定光Ｌの各受光センサ２０に対する入射を許容しつつ、測定対象波長範囲よりも短い波長の光や、測定対象波長範囲よりも長い波長の光の各受光センサ２０に対する入射を規制するように構成されている。

【0039】

具体的には、被測定光Ｌとしての赤色光を検出するための受光部３における光学フィルタ２１は、予め規定された赤色光波長範囲内の被測定光Ｌの透過を許容すると共に赤色光波長範囲外の被測定光Ｌの透過を規制し、被測定光Ｌとしての緑色光を検出するための受光部３における光学フィルタ２１は、予め規定された緑色光波長範囲内の被測定光Ｌの透過を許容すると共に緑色光波長範囲外の被測定光Ｌの透過を規制し、被測定光Ｌとしての青色光を検出するための受光部３における光学フィルタ２１は、予め規定された青色光波長範囲内の被測定光Ｌの透過を許容すると共に青色光波長範囲外の被測定光Ｌの透過を規制する。したがって、本例の光測定装置１とは相違するが、測定すべき被測定光Ｌの波長を制限する必要がない光測定装置１においては、この光学フィルタ２１が不要となる。

【0040】

受光センサ２０ａは、光学フィルタ２２ａおよび光電変換部２３ａを備えて構成され、受光センサ２０ｂは、光学フィルタ２２ｂおよび光電変換部２３ｂを備えて構成されている。この場合、本例の光測定装置１における受光部３では、受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａの光学特性と、受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂの光学特性とが相違するように構成されている。

【0041】

具体的には、図５に示すように、一例として、光学フィルタ２２ａは、実線Ｌａで示すように、波長λｓ～波長λｌまでの測定対象波長範囲の光に関する受光センサ２０ａの分光感度特性が「長い波長の光ほど高感度」との条件（すなわち、「長い波長の光ほど光電変換部２３ａへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たすように、「長い波長の光ほど透過率が高い」との光学特性を備えたフィルタで構成されている。また、光学フィルタ２２ｂは、実線Ｌｂで示すように、測定対象波長範囲の光に関する受光センサ２０ｂの分光感度特性が「短い波長の光ほど高感度」との条件（すなわち、「短い波長の光ほど光電変換部２３ｂへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たすように、「短い波長の光ほど透過率が高い」との光学特性を備えたフィルタで構成されている。このような光学フィルタ２２ａ，２２ｂを備えた本例の光測定装置１（受光部３）では、同図に示すように、受光センサ２０ａの測定対象波長範囲内の分光感度と、受光センサ２０ｂの測定対象波長範囲内の分光感度との比が、測定対象波長範囲内の各波長の被測定光Ｌ毎にそれぞれ相違する状態となる。

【0042】

光電変換部２３ａは、「光電変換部」としての「第１の光電変換部」の一例であって、光学フィルタ２１，２２ａを透過した被測定光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉａ（光電変換部２３ａへの被測定光Ｌの入射量に応じて電流値が変化する電流信号：「検出信号」としての「電流信号」の一例）を出力する。また、光電変換部２３ｂは、「光電変換部」としての「第２の光電変換部」の一例であって、光学フィルタ２１，２２ｂを透過した被測定光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉｂ（光電変換部２３ｂへの被測定光Ｌの入射量に応じて電流値が変化する電流信号：「検出信号」としての「電流信号」の他の一例）を出力する。この場合、図３に示すように、本例の光測定装置１（受光部３）では、各受光センサ２０の受光面が出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む前述の仮想平面Ｆｏと平行な仮想平面Ｆｒと面一となるように（各受光センサ２０の受光面が仮想平面Ｆｒ内に位置して各受光センサ２０の受光面が仮想平面Ｆｏと平行となるように）積分球２に対する受光部３（各受光センサ２０）の配設角度が規定されている。

【0043】

また、本例の光測定装置１（受光部３）では、入射部１２の入射孔１２ｈに対して、被測定光Ｌが、図２に矢印Ａｉで示す角度範囲（測定処理時に被測定光Ｌを出射する光源と光測定装置１との位置関係の相違に応じて生じ得る入射角度のばらつきの範囲：光測定装置１に対する被測定光Ｌの入射角度についての許容範囲）内のどのような入射方向で入射したとしても、出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌがすべての受光センサ２０に対して入射するように積分球２に対する受光部３（各受光センサ２０）の配設位置や配設姿勢が規定されている（「光通過孔を通過した被測定光が第２の仮想直線に対する一方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つ、および第２の仮想直線に対する他方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つに入射するようにそれぞれ配置されている」との構成の一例）。

【0044】

なお、本例の受光部３では、一例として、上記のように光学フィルタ２２ａおよび光学フィルタ２２ｂの光学特性が相違するものの、各光電変換部２３ａ，２３ａ，２３ｂ，２３ｂが光検出特性の互いに等しい同じ製品で構成されている（「光検出特性が互いに等しい当該光電変換部」を備えた構成の一例）。したがって、本例の受光部３では、一方の光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量と、他方の光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量とが等しいときには、同じ信号レベルの検出信号Ｓｉａがそれぞれ出力され、一方の光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量と、他方の光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量とが等しいときには、同じ信号レベルの検出信号Ｓｉｂがそれぞれ出力され、いずれかの光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量と、いずれかの光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量とが等しいときには、同じ信号レベルの検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂ（以下、区別しないときには「検出信号Ｓｉ」ともいう）がそれぞれ出力される。

【0045】

この場合、図６に示すように、本例の受光部３では、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏと直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏ（図２，３参照）を通過する「第１の仮想直線（図２，３における矢印Ｂ０と重なる仮想直線）」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する「第２の仮想直線（図３に示す実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ａ，２０ａが互いに離間するように配置されている。なお、この受光部３では、実線Ｌｒから一方の受光センサ２０ａまでの離間距離と、実線Ｌｒから他方の受光センサ２０ａまでの距離とが等しくなるように両受光センサ２０ａ，２０ａが配置されている。また、この受光部３では、「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０から一方の受光センサ２０ａまでの離間距離と、位置ｒｏ０から他方の受光センサ２０ａまでの距離とが等しくなるように両受光センサ２０ａ，２０ａが配置されている。

【0046】

また、本例の受光部３では、上記の「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂが互いに離間するように配置されている。なお、この受光部３では、実線Ｌｒから一方の受光センサ２０ｂまでの離間距離と、実線Ｌｒから他方の受光センサ２０ｂまでの距離とが等しくなるように両受光センサ２０ｂ，２０ｂが配置されている。また、この受光部３では、前述の位置ｒｏ０から一方の受光センサ２０ｂまでの離間距離と、位置ｒｏ０から他方の受光センサ２０ｂまでの距離とが等しくなるように両受光センサ２０ｂ，２０ｂが配置されている。

【0047】

一方、Ｉ／Ｖ変換部４は、「Ｉ／Ｖ変換部」の一例であって、Ａ／Ｄ変換部５と相俟って「データ生成部」を構成する。このＩ／Ｖ変換部４は、光電変換部２３ａ，２３ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂ（電流信号における電流値の大きさに応じて電圧値が変化する電圧信号：「電圧信号」の一例：以下、区別しないときには「検出信号Ｓｖ」ともいう）を出力する。この場合、本例の光測定装置１におけるＩ／Ｖ変換部４は、予め規定された量の検出信号Ｓｉ（電流信号）が入力されるのに要した時間長（内蔵の蓄電要素に規定量の電荷が蓄電されるのに要した時間長）に応じて電圧値が相違する検出信号Ｓｖ（電圧信号）を出力する構成が採用されている。また、Ｉ／Ｖ変換部４は、検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂを並行してＩ／Ｖ変換処理可能な２チャンネルＩ／Ｖ変換素子で構成されている。

【0048】

具体的には、本例の光測定装置１では、両受光センサ２０ａ，２０ａから出力される２つの検出信号Ｓｉａ，ＳｉａがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの一方に入力されると共に、両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される２つの検出信号Ｓｉｂ，ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの他方に入力される。したがって、本例の光測定装置１では、両検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベル（電流値）の合計値に対応する１つの検出信号Ｓｖａ（「複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の電圧信号」の一例）、および両検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベル（電流値）の合計値に対応する１つの検出信号Ｓｖｂ（「複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の電圧信号」の他の一例）がＩ／Ｖ変換部４から出力される。

【0049】

Ａ／Ｄ変換部５は、「Ａ／Ｄ変換部」の一例であって、前述したようにＩ／Ｖ変換部４と相俟って「データ生成部」を構成する。このＡ／Ｄ変換部５は、Ｉ／Ｖ変換部４から出力される検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｓａ（「検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータ」の一例）を生成する（電圧信号をデジタルデータに変換して信号レベルデータを生成する処理：「電圧信号を信号レベルデータに変換する」との処理の一例）と共に、Ｉ／Ｖ変換部４から出力される検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｓｂ（「検出信号の信号レベルを特定可能な信号レベルデータ」の他の一例）を生成し（電圧信号をデジタルデータに変換して信号レベルデータを生成する処理：「電圧信号を信号レベルデータに変換する」との処理の他の一例）、生成した検出信号データＤｓａ，Ｄｓｂ（以下、区別しないときには「Ｄｓ」ともいう）を処理部８に出力する。

【0050】

操作部６は、測定処理条件の設定操作や、測定処理の開始／停止を指示する各種の操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を処理部８に出力する。表示部７は、処理部８の制御に従い、測定条件設定画面や測定結果表示画面など（いずれも図示せず）を表示する。

【0051】

処理部８は、光測定装置１を総括的に制御する。具体的には、処理部８は、操作部６の操作によって測定処理の開始を指示されたときに、各Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号データＤｓを記憶部９に記憶させる。また、処理部８は、Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号データＤｓ、および後述のパラメータ演算用データＤｒに基づき、受光部３に入射している被測定光Ｌについての予め規定された光学的パラメータを測定（演算）する。具体的には、処理部８は、記憶部９に記憶させた検出信号データＤｓａに基づき、受光部３の両光電変換部２３ａ，２３ａから出力された検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの合計の信号レベルを特定すると共に、記憶部９に記憶させた検出信号データＤｓｂに基づき、受光部３の両光電変換部２３ｂ，２３ｂから出力された検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの合計の信号レベルを特定する。また、処理部８は、特定した検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの合計の信号レベル、および検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの合計の信号レベルの比（両信号レベルのいずれか一方に対する他方の比）、並びにパラメータ演算用データＤｒに記録されている演算用の情報に基づき、受光部３に入射している被測定光Ｌの波長（重心波長）を測定（演算）する。

【0052】

記憶部９は、処理部８の動作プログラムが記録されたプログラムデータＤｐや、処理部８が上記のように光学的パラメータを演算するのに使用するパラメータ演算用データＤｒ、およびＡ／Ｄ変換部５から出力される検出信号データＤｓなどを記憶する。この場合、上記のパラメータ演算用データＤｒには、位置ｒｏ０から受光センサ２０ａ，２０ｂまでの離間距離の相違に起因する検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルの相違や、各受光センサ２０（各光電変換部２３）の光学的特性の個体差に起因する各検出信号Ｓｉの信号レベルの相違などの影響を排除して「光学的パラメータ」を演算可能な情報が記録されている。

【0053】

なお、本例の光測定装置１の構成とは相違するが、受光センサ２０ａの数と受光センサ２０ｂの数とが相違する構成が採用されているときには、この数の相違に起因する検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルの相違の影響を排除して「光学的パラメータ」を演算可能な情報がパラメータ演算用データＤｒに記録される。同様にして、受光センサ２０ａの光検出特性と受光センサ２０ｂの光検出特性とが相違する構成が採用されているときには、この光検出特性の相違に起因する検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルの相違の影響を排除して「光学的パラメータ」を演算可能な情報がパラメータ演算用データＤｒに記録される。

【0054】

次に、光測定装置１による被測定光Ｌについての光学的パラメータの測定処理について、添付図面を参照して説明する。

【0055】

この光測定装置１による測定処理に際しては、まず、積分球２の入射部１２における入射孔１２ｈに対して被測定光Ｌが入射するように光測定装置１を設置する。この際には、光源から出射された被測定光Ｌが図２に矢印Ａｉで示す角度範囲内の角度で入射孔１２ｈに入射するように光源に対する光測定装置１の設置位置や設置姿勢を適宜調整する。

【0056】

次いで、操作部６を操作して測定処理を開始させると共に、光源から被測定光Ｌを出射させる。この際には、入射孔１２ｈから入射した被測定光Ｌが積分球２内において拡散されて、出射部１３の各出射孔１３ｈを通過して受光部３に向けて出射される。また、出射孔１３ｈから出射された被測定光Ｌが受光部３の各受光センサ２０によって受光されることにより、各受光センサ２０による被測定光Ｌの受光レベルに応じて受光部３から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部４に入力される。

【0057】

この際に、本例の光測定装置１では、前述したように、両受光センサ２０ａ，２０ａから出力される２つの検出信号Ｓｉａ，ＳｉａがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの一方に入力されると共に、両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される２つの検出信号Ｓｉｂ，ＳｂａがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの他方に入力される。これにより、両検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値に対応する１つの検出信号Ｓｖａ、および両検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルの合計値に対応する１つの検出信号ＳｖｂがＩ／Ｖ変換部４から出力されてＡ／Ｄ変換部５に入力される。

【0058】

また、Ａ／Ｄ変換部５は、検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｓａ，Ｄｓｂをそれぞれ出力し、処理部８は、Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号データＤｓａ，Ｄｓｂを記憶部９に記憶させる。さらに、処理部８は、検出信号データＤｓａの値（両受光センサ２０ａ，２０ａから出力された検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値に対応する値）、および検出信号データＤｓｂの値（両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力された検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルを合計値に対応する値）のいずれか予め規定された一方に対する他方の比（一例として、検出信号データＤｓａの値に対する検出信号データＤｓｂの値の比：検出信号データＤｓｂの値／検出信号データＤｓａの値）を演算し、演算した比、およびパラメータ演算用データＤｒ（演算された「比」と被測定光Ｌの「波長」との対応関係を特定可能な情報）に基づき、受光部３の各受光センサ２０に入射した被測定光Ｌの波長（重心波長）を特定（測定）する。

【0059】

この場合、この光測定装置１では、受光部３における両受光センサ２０ａ，２０ｂの光学フィルタ２２ａ，２２ｂが前述したような光学特性を有して光電変換部２３ａ，２３ｂへの光の入射量が制限される構成が採用されている。このため、受光部３に入射している被測定光Ｌの波長が長いほど、受光センサ２０ａ，２０ａの感度が高くなって検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルが高くなり、かつ受光センサ２０ｂ，２０ｂの感度が低くなって検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルが低くなる。また、被測定光Ｌの波長が短いほど、受光センサ２０ａ，２０ａの感度が低くなって検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルが低くなり、かつ受光センサ２０ｂ，２０ｂの感度が高くなって検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルが高くなる。

【0060】

したがって、処理部８は、パラメータ演算用データＤｒに記録されている各種の波長のなかから、検出信号データＤｓａに基づいて特定した検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値と、検出信号データＤｓｂに基づいて特定した検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルの合計値との比に対応する波長を特定することで被測定光Ｌの波長を特定する。

【0061】

次いで、処理部８は、被測定光Ｌの放射量をそれぞれ測定する。具体的には、処理部８は、直前に特定した被測定光Ｌの波長、検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値（検出信号データＤｓａの値）および検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルの合計値（検出信号データＤｓｂの値）のいずれか一方、並びにパラメータ演算用データＤｒ（被測定光Ｌの波長、および検出信号データＤｓのいずれか予め規定された一方の値から放射量を演算可能に予め規定された放射量算出用の係数についての情報）に基づき、被測定光Ｌの放射量を演算する。この後、処理部８は、演算した（測定した）波長や放射量を測定結果として表示部７に表示させると共に記憶部９に記憶させる。以上により、一連の測定処理が完了する。

【0062】

この場合、前述したように、本例の光測定装置１における積分球２では、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏと直交する方向（図２，３に示す矢印Ｂ０と並行な方向）が、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの基準の出射方向となるように構成されている。また、本例の光測定装置１では、図３に示すように、受光部３における各受光センサ２０の受光面が、仮想平面Ｆｏと平行な仮想平面Ｆｒと面一となるように（各受光センサ２０の受光面が仮想平面Ｆｒ内に位置するように）積分球２に対して受光部３が配置されている。このような光測定装置１においても、前述の特許文献に出願人が開示している光測定装置と同様にして、出射孔１３ｈから出射された被測定光Ｌの仮想平面Ｆｒ上の各部における受光量は完全に均一とはならない。

【0063】

具体的には、まず、出射孔１３ｈの形状や大きさの規定により、図２，３，６に示すように、仮想平面Ｆｒにおいて出射孔１３ｈと対向する領域Ｂｏよりも外側では、出射部１３における出射孔１３ｈの周囲の部位によって被測定光Ｌが遮られるため、被測定光Ｌが全く受光されない。また、積分球本体１１内での被測定光Ｌの拡散があらゆる方向に対して均一とはならないため、例えば、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向（図２に示す矢印Ａ０の向き）で被測定光Ｌが入射させられたときには、図６に示すように、上記の仮想平面Ｆｏと直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過する矢印Ｂ０に沿った仮想直線と仮想平面Ｆｒとの交点である位置ｒｏ０において被測定光Ｌの受光量が最も多くなり、位置ｒｏ０から離間するほど受光量が減少する状態となる。

【0064】

このため、本例の光測定装置１では、仮想平面Ｆｒにおいて位置ｒｏ０と直交する実線Ｌｒを挟んで互いに離間するように配置されている受光センサ２０ａ，２０ａ、および実線Ｌｒを挟んで互いに離間するように配置されている受光センサ２０ｂ，２０ｂのうち、実線Ｌｒに近い（位置ｒｏ０に近い）受光センサ２０ａ，２０ａにおける被測定光Ｌの受光量Ｒａ０よりも、実線Ｌｒから遠い（位置ｒｏ０から遠い）受光センサ２０ｂ，２０ｂにおける被測定光Ｌの受光量Ｒｂ０の方が少量となる。この結果、検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値（検出信号データＤｓａの値）よりも、検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルの合計値（検出信号データＤｓｂの値）の方が小さな値となる。

【0065】

この場合、積分球本体１１内での被測定光Ｌの拡散があらゆる方向に対して均一とはならないことで出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌの仮想平面Ｆｒ上の各位置における受光量が相違する状態となるのは、積分球２（積分球本体１１）、入射部１２（入射孔１２ｈ）、および出射部１３（出射孔１３ｈ）の形状や位置関係に応じて定まるものであり、被測定光Ｌの波長によって大きく変化するものではない。したがって、本例の光測定装置１では、位置ｒｏ０から受光センサ２０ａ，２０ａまでの離間距離と位置ｒｏ０から受光センサ２０ｂ，２０ｂまでの離間距離との相違等の影響を排除して「光学的パラメータ」を演算可能な情報を記録したパラメータ演算用データＤｒを予め用意しておき、そのようなパラメータ演算用データＤｒを用いて演算（測定）を行うことで、正確な重心波長や正確な放射量を得ることが可能となっている。

【0066】

一方、光測定装置１を使用した測定処理に際しては、例えば、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向（矢印Ａ０の向き）とは相違する方向で被測定光Ｌが入射させられることがあり、このような状態においては、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が矢印Ｂ０の向きとは相違する方向となる。具体的には、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向とは相違する方向（例えば、図２に示す矢印Ａ１の方向）で被測定光Ｌが入射させられたときには、仮想平面Ｆｏと斜めに交差する方向で出射孔１３ｈからの被測定光Ｌが出射される状態となる。このような状態においては、図７に示すように、出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過し、かつ仮想平面Ｆｏと斜めに交差する矢印Ｂ１の方向（図２参照）に沿った仮想直線と仮想平面Ｆｒとの交点である位置ｒｏ１（位置ｒｏ０とは相違する部位）において被測定光Ｌの受光量が最も多くなり、位置ｒｏ１から離間するほど受光量が減少する状態となる。

【0067】

しかしながら、本例の光測定装置１（受光部３）では、前述したように、入射孔１２ｈに対して、図２に矢印Ａｉで示す角度範囲内のどのような角度で被測定光Ｌが入射させられたとしても、出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌがすべての受光センサ２０に対して入射するように積分球２に対する受光部３（各受光センサ２０）の配設位置や配設姿勢が規定されている。

【0068】

これにより、本例の光測定装置１（受光部３）では、図７の左図に示す位置ｒｏ１において被測定光Ｌの受光量が最も多くなるように出射孔１３ｈから被測定光Ｌが出射されている状態では、左方の受光センサ２０ａにおいて受光量Ｒａｈの被測定光Ｌが受光され、かつ右方の受光センサ２０ａにおいて受光量Ｒａｌの被測定光Ｌが受光されると共に、左方の受光センサ２０ｂにおいて受光量Ｒｂｈの被測定光Ｌが受光され、かつ右方の受光センサ２０ｂにおいて受光量Ｒｂｌの被測定光Ｌが受光される。また、図７の右図に示す位置ｒｏ１において被測定光Ｌの受光量が最も多くなるように出射孔１３ｈから被測定光Ｌが出射されている状態では、左方の受光センサ２０ａにおいて受光量Ｒａｌの被測定光Ｌが受光され、かつ右方の受光センサ２０ａにおいて受光量Ｒａｈの被測定光Ｌが受光されると共に、左方の受光センサ２０ｂにおいて受光量Ｒｂｌの被測定光Ｌが受光され、かつ右方の受光センサ２０ｂにおいて受光量Ｒｂｈの被測定光Ｌが受光される。

【0069】

この場合、上記の受光量Ｒａｌは、前述の受光量Ｒａ０（入射孔１２ｈに対して基準の入射方向で被測定光Ｌが入射させられた状態における両受光センサ２０ａによる被測定光Ｌの受光量）よりも少ないが、上記の受光量Ｒａｈは、受光量Ｒａ０よりも多い。また、上記の受光量Ｒｂｌは、前述の受光量Ｒｂ０（入射孔１２ｈに対して基準の入射方向で被測定光Ｌが入射させられた状態における両受光センサ２０ｂによる被測定光Ｌの受光量）よりも少ないが、上記の受光量Ｒｂｈは、受光量Ｒｂ０よりも多い。このため、受光量Ｒａｈ，Ｒａｌの合計値と受光量Ｒｂｈ，Ｒｂｌの合計値との比は、受光量Ｒａ０，Ｒａ０の合計値と受光量Ｒｂ０，Ｒｂ０の合計値との比と同程度となる。

【0070】

つまり、仮想平面Ｆｒに対して位置ｒｏ０において交差する実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ａ，２０ａを互いに離間して配置した本例の光測定装置１では、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向の変化に起因して仮想平面Ｆｒ上で受光量が最も多くなる位置が上記の位置ｒｏ０から僅かに位置ずれしたときに、両受光センサ２０ａ，２０ａのいずれかの受光量が減少しても、両受光センサ２０ａ，２０ａの他のいずれかの受光量が多くなるため、両受光センサ２０ａ，２０ａの受光量を合計した総受光量は、出射孔１３ｈから基準の出射方向で被測定光Ｌが出射されている状態と同程度となる。同様にして、仮想平面Ｆｒに対して位置ｒｏ０において交差する実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂを互いに離間して配置した本例の光測定装置１では、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向の変化に起因して仮想平面Ｆｒ上で受光量が最も多くなる位置が上記の位置ｒｏ０から僅かに位置ずれしたときに、両受光センサ２０ｂ，２０ｂのいずれかの受光量が減少しても、両受光センサ２０ｂ，２０ｂの他のいずれかの受光量が多くなるため、両受光センサ２０ｂ，２０ｂの受光量を合計した総受光量は、出射孔１３ｈから基準の出射方向で被測定光Ｌが出射されている状態と同程度となる。

【0071】

したがって、前述したように、処理部８が、両受光センサ２０ａ，２０ａから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルの合計値に対応する検出信号データＤｓａの値と、両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルの合計値に対応する検出信号データＤｓｂの値とを使用して光学的パラメータを測定（演算）する本例の光測定装置１では、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向（光測定装置１に対する入射方向）の相違に起因して出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向になったとしても、波長や放射量などの光学的パラメータを正確に測定（演算）することが可能となっている。

【0072】

この場合、前述したように、本例の光測定装置１において採用されているＩ／Ｖ変換部４では、予め規定された量の検出信号Ｓｉ（電流信号）が入力されるのに要した時間長に応じて電圧値が相違する検出信号Ｓｖ（電圧信号）を出力する構成が採用されている。このため、Ｉ／Ｖ変換部４に対して小電流の電流信号が入力される状態では、予め規定された量の電流信号が入力されるのに要する時間長が長くなり、入力されている電流信号の電流値に対応する電圧値の電圧信号が出力されるまである程度長い時間を要することとなる。

【0073】

したがって、受光センサ２０に対して入射している被測定光Ｌが微弱で、受光センサ２０から出力される検出信号Ｓｉの信号レベルが低い状態（小電流の電流信号が出力されている状態）では、検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）に対応する検出信号Ｄｖが出力されるまでに要する時間が長くなるため、光学的パラメータを短時間で演算（測定）するのが困難となる。このため、例えば測定結果をリアルタイムに更新して報知したいときには、その更新周期が長くなってしまう。

【0074】

一方、１つの受光センサ（光電変換部）から大電流の検出信号Ｓｉ（電流信号）が出力されるように、受光面積が十分に広い大きな受光センサ（光電変換部）を採用することで、検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）に対応する検出信号ＤｖをＩ／Ｖ変換部４から短時間で出力させて、光学的パラメータを短時間で演算（測定）することができる可能性がある。しかしながら、大きな受光センサ（光電変換部）を採用する場合には、その配設位置に制約が生じる結果、設計の自由度が低下する。また、この種の光測定装置において必要とされる光検出特性を有する大きな受光センサが存在しなかったり、存在したとしても非常に高価であったりすることがある。このため、大きな受光センサ（光電変換部）の採用は、困難となっている現状がある。

【0075】

この点、前述したように、本例の光測定装置１では、受光センサ２０ａ，２０ａから出力される２つの検出信号Ｓｉａ，ＳｉａがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの一方に入力されると共に、両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される２つの検出信号Ｓｉｂ，ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの他方に入力され、Ｉ／Ｖ変換部４が、検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベル（電流値）の合計値に対応する検出信号Ｓｖａ、および検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベル（電流値）の合計値に対応する検出信号Ｓｖｂを出力する構成が採用されている。したがって、大きな受光センサを採用することなく、Ｉ／Ｖ変換部４に対して比較的大きな電流値の電流信号（検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの合成信号、および検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの合成信号）が入力される状態となる。これにより、検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）に対応する検出信号Ｄｖが出力されるまでに要する時間を短くなり、光学的パラメータを短時間で演算（測定）することが可能となっている。

【0076】

また、「データ生成部」を構成するＩ／Ｖ変換部４やＡ／Ｄ変換部５では、その処理結果（Ｉ／Ｖ変換部４から出力される検出信号Ｓｖや、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄｖ）が、変換部内で生じる一定レベル以上のノイズ成分の影響を受けてＳ／Ｎ比が僅かながらも低下する。したがって、例えば、受光センサ２０毎にＩ／Ｖ変換部４を接続して１つの検出信号Ｓｉを１つのＩ／Ｖ変換部４によってＩ／Ｖ変換させて検出信号Ｓｖを出力させ、Ｉ／Ｖ変換部４毎にＡ／Ｄ変換部５を接続して１つの検出信号Ｓｃを１つのＡ／Ｄ変換部５によってＡ／Ｄ変換させて検出信号Ｄｖを出力させる構成を採用したときには、Ｉ／Ｖ変換部４やＡ／Ｄ変換部５の数が多数となり、変換処理毎に混入する上記のノイズ成分の影響が大きくなる分だけ、光学的パラメータの測定精度が低下するおそれがある。さらに、Ｉ／Ｖ変換部４やＡ／Ｄ変換部５の数が増加する分だけ、「光測定装置」の製造コストが高騰するおそれもある。

【0077】

この点、本例の光測定装置１では、両受光センサ２０ａ，２０ａから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの合成信号を「データ生成部」に入力させると共に、両受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの合成信号を「データ生成部」に入力させる構成を採用したことで、「データ生成部」を構成するＩ／Ｖ変換部４やＡ／Ｄ変換部５の数が必要最低限の数となっている。これにより、測定精度の低下、設計の自由度の低下、および製造コストの高騰を好適に回避することが可能となっている。

【0078】

このように、この光測定装置１では、複数の光電変換部２３ａ，２３ａ，２３ｂ，２３ｂを備えると共に、両光電変換部２３ａ，２３ａが、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む「第１の仮想平面（図２，３に示す仮想平面Ｆｏ）」と直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過する「第１の仮想直線（図２，３に示す矢印Ｂ０と重なる仮想直線）」に沿って見たときに、「第１の仮想直線」と直交する「第２の仮想直線（図３，６，７に実線Ｌｒで示す直線）」を挟んで互いに離間するように配置され、両光電変換部２３ｂ，２３ｂが、「第１の仮想直線」に沿って見たときに「第２の仮想直線」を挟んで互いに離間するように配置され、かつ「データ生成部（本例では、Ｉ／Ｖ変換部４およびＡ／Ｄ変換部５）」が、光電変換部２３ａ，２３ａのそれぞれの検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベルを合計して「信号レベルデータ（検出信号データＤｓａ）」を生成し、光電変換部２３ｂ，２３ｂのそれぞれの検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルを合計して「信号レベルデータ（検出信号データＤｓｂ）」を生成する。この場合、この光測定装置１では、各光電変換部２３ａ，２３ａ，２３ｂ，２３ｂが、光検出特性が互いに等しい「光電変換部」でそれぞれ構成されると共に、出射孔１３ｈを通過した被測定光Ｌが、「第２の仮想直線」に対する一方の側に配置された光電変換部２３ａ、および「第２の仮想直線」に対する他方の側に配置された光電変換部２３ａに入射し、かつ「第２の仮想直線」に対する一方の側に配置された光電変換部２３ｂ、および「第２の仮想直線」に対する他方の側に配置された光電変換部２３ｂに入射するようにそれぞれ配置されている。

【0079】

したがって、この光測定装置１によれば、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ａ，２０ａのいずれかの受光量が減少したとしても、各受光センサ２０ａ，２０ａの他のいずれかの受光量が増加するため、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態、および被測定光Ｌが基準の出射方向とは相違する方向に出射されている状態において各受光センサ２０ａ，２０ａの総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。また、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ｂ，２０ｂのいずれかの受光量が減少したとしても、各受光センサ２０ｂ，２０ｂの他のいずれかの受光量が増加するため、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態、および被測定光Ｌが基準の出射方向とは相違する方向に出射されている状態において各受光センサ２０ｂ，２０ｂの総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、積分球２（積分球本体１１）被測定光Ｌの入射方向の相違の測定結果に対する影響を軽減することができ、予め規定された光学的パラメータ（重心波長や放射量等）を確実に測定することができる。

【0080】

また、この光測定装置１によれば、Ｉ／Ｖ変換部４に複数の電流信号（検出信号Ｓｉ）が入力されて複数の電流信号における電流値の合計値に対応する電圧値の電圧信号（検出信号Ｓｖ）がＩ／Ｖ変換部４から出力されるように「データ生成部」を構成したことにより、１つの受光センサ２０から出力される１つの検出信号ＳｉをＩ／Ｖ変換部４においてＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖを出力させる構成と比較して、Ｉ／Ｖ変換部４に大きな電流値の電流信号（検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの合成信号や、検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの合成信号）を入力させて検出信号Ｓｖを短時間で出力させることができるため、そのような検出信号Ｓｖに基づいて予め規定された光学的パラメータ（重心波長や放射量等）を短時間で測定することができる。また、大きな受光センサを採用した構成とは異なり、各受光センサ２０の配置に関する設計の自由度が向上するため、高精度な測定が可能な光測定装置１を容易に製造することができ、各受光センサ２０の部品コストの高騰を回避できるため、光測定装置１の製造コストの高騰を回避することができる。さらに、各受光センサ２０から出力された検出信号Ｓｉの合成信号を「データ生成部」に入力する構成のため、「データ生成部」を構成するＩ／Ｖ変換部４やＡ／Ｄ変換部５の数を必要最低限の数とすることができる結果、光測定装置１の製造コストを十分に低減することができる。

【0081】

さらに、この光測定装置１では、光電変換部２３ａおよび光電変換部２３ｂの少なくとも一方（本例では、双方）を複数備えて、光電変換部２３ａ，２３ａが「第２の仮想直線」を挟んで互いに離間するように配置され、かつ光電変換部２３ｂ，２３ｂが「第２の仮想直線」を挟んで互いに離間するように配置されると共に、光電変換部２３ａの測定対象波長範囲内の分光感度と光電変換部２３ｂの測定対象波長範囲内の分光感度との比が測定対象波長範囲内の各波長の被測定光Ｌ毎に相違するように光電変換部２３ａに光学フィルタ２２ａが配設され、かつ光電変換部２３ｂに光学フィルタ２２ｂが配設されている。

【0082】

したがって、この光測定装置１によれば、各受光センサ２０ａ，２０ａから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａ、および各受光センサ２０ｂ，２０ｂから出力される検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの双方について、積分球２（積分球本体１１）に対する被測定光Ｌの入射方向の相違（出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向の相違）の影響を十分に軽減することができるため、検出信号Ｓｉａ，Ｓｉａの信号レベル、および検出信号Ｓｉｂ，Ｓｉｂの信号レベルに基づいて測定（演算）される各種光学的パラメータ（重心波長や放射量等）の確度を十分に向上させることができる。

【0083】

なお、「光測定装置」の構成は、上記の光測定装置１の構成の例に限定されない。例えば、前述の光測定装置では、入射部１２の入射孔１２ｈに対して、被測定光Ｌが、図２に矢印Ａｉで示す角度範囲内のどのような入射方向で入射したとしても、出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌがすべての受光センサ２０に対して入射するように積分球２に対する受光部３（各受光センサ２０）の配設位置や配設姿勢が規定されている。

【0084】

このような構成に代えて、入射部１２の入射孔１２ｈに対して被測定光Ｌが上記の矢印Ａｉで示す角度範囲内の入射方向で入射したときに、入射孔１２ｈに対する入射角度によっては、出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌが両受光センサ２０ａ，２０ａのいずれか、および両受光センサ２０ｂ，２０ｂのいずれかだけに入射する状態（両受光センサ２０ａ，２０ａの他のいずれか、および両受光センサ２０ｂ，２０ｂの他のいずれかには、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号Ｓｉを出力可能な十分な量の被測定光Ｌが入射しない状態）となるような構成（「光通過孔を通過した被測定光が第２の仮想直線に対する一方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つ、および第２の仮想直線に対する他方の側に配置された光電変換部のうちの少なくとも１つに入射するようにそれぞれ配置されている」との構成の他の一例）を採用することができる。

【0085】

このように構成した光測定装置１によれば、積分球２（積分球本体１１）に対して基準の入射方向と相違する方向から被測定光Ｌが入射させられて、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、いずれかの受光センサ２０に対する被測定光Ｌの入射量が光学的パラメータの測定に必要な十分な信号レベルの検出信号Ｓｉを出力可能な量を下回る状態になったとしても、各受光センサ２０ａ，２０ａの他のいずれか少なくとも１つによって、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号Ｓｉａを出力可能な十分な量の被測定光Ｌが受光され、各受光センサ２０ｂ，２０ｂの他のいずれか少なくとも１つによって、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号Ｓｉｂを出力可能な十分な量の被測定光Ｌが受光されるため、積分球２（積分球本体１１）被測定光Ｌの入射方向の相違の測定結果に対する影響を十分に軽減することができ、予め規定された光学的パラメータ（重心波長や放射量等）を確実に測定することができる。

【0086】

また、２つの受光センサ２０ａ，２０ａおよび２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂを備え、実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ａ，２０ａを互いに離間させて配置すると共に実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂを互いに離間させて配置した受光部３を有する光測定装置１の構成について説明したが、図８～１２に示す受光部３Ａ，３Ａａ，３Ｂ，３Ｂａ，３Ｃのように、３つ以上の受光センサ２０ａおよび３つ以上の受光センサ２０ｂを備え、実線Ｌｒを挟んで複数の受光センサ２０ａと複数の受光センサ２０ａとを互いに離間させて配置すると共に実線Ｌｒを挟んで複数の受光センサ２０ｂと複数の受光センサ２０ｂとを互いに離間させて配置することもできる。

【0087】

なお、上記の受光部３Ａ，３Ａａ，３Ｂ，３Ｂａ，３Ｃや、後述の受光部３Ｄ（図１３参照）を備えた「光測定装置」において上記の光測定装置１と同様の構成要素については同一の符号を付して重複する説明を省略する。また、受光部３Ａ，３Ａａ，３Ｂ，３Ｂａ，３Ｃ，３Ｄを備えた「光測定装置」では、一例として、各受光センサ２０ａからそれぞれ出力される検出信号ＳｉａのすべてがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの一方に入力されて各検出信号Ｓｉａの信号レベルの合計値に対応する１つの検出信号ＳｖａがＩ／Ｖ変換部４から出力されると共に、各受光センサ２０ｂからそれぞれ出力される検出信号ＳｉｂのすべてがＩ／Ｖ変換部４の２チャンネルの測定チャネルの一方に入力されて各検出信号Ｓｉｂの信号レベルの合計値に対応する１つの検出信号ＳｖｂがＩ／Ｖ変換部４から出力されるものとする。

【0088】

この場合、図８に示す受光部３Ａでは、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏと直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過する「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ａ，２０ａと受光センサ２０ａ，２０ａとが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ａでは、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が、上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置されている。また、この受光部３Ａでは、上記の「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂと受光センサ２０ｂ，２０ｂとが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ａでは、各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が、上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置されている。

【0089】

このような受光部３Ａを備えた「光測定装置」を使用した測定処理時には、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向が基準の入射方向とは相違する方向となって出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」から離間した位置（例えば、同図における位置ｒｏ１）において被測定光Ｌの受光量が最も多い状態になったとしても、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ａのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少し、かつ各受光センサ２０ｂのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少するものの、各受光センサ２０ａのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加し、かつ各受光センサ２０ｂのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加する。

【0090】

したがって、実線Ｌｒを基準線として光電変換部２３ａ，２３ａを線対称の位置に配置すると共に、実線Ｌｒを基準線として光電変換部２３ｂ，２３ｂを線対称の位置に配置した受光部３Ａを備えた「光測定装置」によれば、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となって被測定光Ｌの受光量が最も多い位置が実線Ｌｒから離間する方向に変位した状態になり、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、いずれかの受光センサ２０ａの受光量が減少し、かついずれかの受光センサ２０ｂの受光量が減少したとしても、他のいずれかの受光センサ２０ａの受光量が増加し、かつ他のいずれかの受光センサ２０ｂの受光量が増加するため、積分球２（積分球本体１１）に対する被測定光Ｌの入射方向の相違に起因して各受光センサ２０ａの総受光量や各受光センサ２０ｂの総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、「光測定装置」に対する被測定光Ｌの入射方向の相違の測定結果に対する影響を一層軽減することができ、予め規定された光学的パラメータ（重心波長や放射量等）を一層確実に測定することができる。

【0091】

また、図９に示す受光部３Ａａでは、上記の受光部３Ａと同様にして、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置され、かつ各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置されている。

【0092】

この場合、受光部３Ａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図８における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図８における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されている。

【0093】

また、受光部３Ａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図８における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図８における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されている。

【0094】

これに対して、受光部３Ａａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図９における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図９における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されている。

【0095】

また、受光部３Ａａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図９における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図９における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されている。

【0096】

この受光部３Ａａのような構成を採用した場合においても、前述の受光部３Ａと同様にして、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向が基準の入射方向とは相違する方向となって出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」から離間した位置（例えば、同図における位置ｒｏ１）において被測定光Ｌの受光量が最も多い状態になったとしても、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ａのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少し、かつ各受光センサ２０ｂのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少するものの、各受光センサ２０ａのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加し、かつ各受光センサ２０ｂのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加する。したがって、前述の受光部３Ａを備えた構成と同様の効果を奏することができる。

【0097】

また、図１０に示す受光部３Ｂでは、上記の受光部３Ａと同様にして、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏと直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過する「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ａ，２０ａと受光センサ２０ａ，２０ａとが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ｂでは、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が、上記の「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置されている。また、この受光部３Ｂでは、上記の「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂと受光センサ２０ｂ，２０ｂとが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ｂでは、各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が、位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置されている。

【0098】

このような受光部３Ｂを備えた「光測定装置」を使用した測定処理時には、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向が基準の入射方向とは相違する方向となって出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」における「第１の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０から「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って離間した位置（例えば、同図における位置ｒｏ１）において被測定光Ｌの受光量が最も多い状態になったとしても、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ａのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少し、かつ各受光センサ２０ｂのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少するものの、各受光センサ２０ａのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加し、かつ各受光センサ２０ｂのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加する。

【0099】

したがって、「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０を基準点として光電変換部２３ａ，２３ａを点対称の位置に配置すると共に、位置ｒｏ０を基準点として光電変換部２３ｂ，２３ｂを点対称の位置に配置した受光部３Ｂを備えた「光測定装置」によれば、出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となって被測定光Ｌの受光量が最も多い位置が「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」との交点である位置ｒｏ０から実線Ｌｒに沿って離間する方向に変位した状態になり、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、いずれかの受光センサ２０ａの受光量が減少し、かついずれかの受光センサ２０ｂの受光量が減少したとしても、他のいずれかの受光センサ２０ａの受光量が増加し、かつ他のいずれかの受光センサ２０ｂの受光量が増加するため、積分球２（積分球本体１１）に対する被測定光Ｌの入射方向の相違に起因して各受光センサ２０ａの総受光量や各受光センサ２０ｂの総受光量が大きく変化する事態を好適に回避することができる。これにより、「光測定装置」に対する被測定光Ｌの入射方向の相違の測定結果に対する影響を一層軽減することができ、予め規定された光学的パラメータ（重心波長や放射量等）を一層確実に測定することができる。

【0100】

また、図１１に示す受光部３Ｂａでは、上記の受光部３Ｂと同様にして、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置され、かつ各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置されている。

【0101】

この場合、受光部３Ｂでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図１０における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図１０における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されている。

【0102】

また、受光部３Ｂでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図１０における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図１０における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）上に位置するように配置されている。

【0103】

これに対して、受光部３Ｂａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図１１における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ（図１１における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ａ，２０ａ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されている。

【0104】

また、受光部３Ｂａでは、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の一方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図１１における実線Ｌｒの左方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されると共に、仮想平面Ｆｒにおいて「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」によって区切られる両領域の他方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ（図１１における実線Ｌｒの右方に配置された２つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ）が「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」と直交する仮想直線（図示せず）に対して「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」に沿って位置ずれした状態となるように配置されている。

【0105】

この受光部３Ｂａのような構成を採用した場合においても、前述の受光部３Ｂと同様にして、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向が基準の入射方向とは相違する方向となって出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となり、「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」から離間した位置（例えば、同図における位置ｒｏ１）において被測定光Ｌの受光量が最も多い状態になったとしても、被測定光Ｌが基準の出射方向に出射されている状態と比較して、各受光センサ２０ａのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少し、かつ各受光センサ２０ｂのうちのいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が減少するものの、各受光センサ２０ａのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加し、かつ各受光センサ２０ｂのうちの他のいずれかにおける被測定光Ｌの受光量が増加する。したがって、前述の受光部３Ｂを備えた構成と同様の効果を奏することができる。

【0106】

さらに、図１２に示す受光部３Ｃでは、出射部１３における出射孔１３ｈの縁部を含む仮想平面Ｆｏと直交すると共に出射孔１３ｈの重心１３ｏを通過する「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで受光センサ２０ａ，２０ａと受光センサ２０ａ，２０ａとが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ｃでは、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が、上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置されている。さらに、この受光部３Ｃでは、各受光センサ２０ａ，２０ａ・・が、上記の「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点である位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置されている。

【0107】

また、この受光部３Ｃでは、上記の「第１の仮想直線」に沿って見たときに、この「第１の仮想直線」と直交する上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を挟んで４つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・と４つの受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・とが互いに離間するように配置されている。また、この受光部３Ｃでは、各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が、上記の「第２の仮想直線（実線Ｌｒ）」を基準線として線対称の位置に配置されている。さらに、この受光部３Ｃでは、各受光センサ２０ｂ，２０ｂ・・が、位置ｒｏ０を基準点として点対称の位置に配置されている。このような受光部３Ｃを備えた「光測定装置」によれば、上記の受光部３Ａ，３Ｂを備えた「光測定装置」と同様の効果を奏することができる。

【0108】

この場合、この受光部３Ｃでは、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向で被測定光Ｌを入射させたときに仮想平面Ｆｒ上において被測定光Ｌの受光量が最も多くなる位置ｒｏ０の近傍に各受光センサ２０ａを配設すると共に、出射孔１３ｈから出射される被測定光Ｌを受光可能な領域Ｂｏの外縁部寄りの位置に各受光センサ２０ｂを配設している。この際に、位置ｒｏ０の近傍に配設する受光センサ２０ａの数と、領域Ｂｏの外縁部寄りに配設する受光センサ２０ｂの数とを同数としたときには、受光量が少ない領域Ｂｏの外縁部寄りに配設した各受光センサ２０ｂの総受光量が、受光量が多い位置ｒｏ０の近傍に配設した各受光センサ２０ａの総受光量よりも少量となる。これに対して、上記の受光部３Ｃでは、受光量が少ない領域Ｂｏの外縁部寄りに配設した各受光センサ２０ｂの数が、受光量が多い位置ｒｏ０の近傍に配設した各受光センサ２０ａの数よりも多数となっている。

【0109】

したがって、受光量が多い位置ｒｏ０の近傍に配設した各受光センサ２０ａの総受光量と、受光量が少ない領域Ｂｏの外縁部寄りに配設した各受光センサ２０ｂの総受光量との差を十分に小さくすることができ、各受光センサ２０ａの位置ｒｏ０からの距離、および各受光センサ２０ｂの位置ｒｏ０からの距離の相違の影響を十分に小さくすることができる。これにより、光学的パラメータの測定（演算）時に検出信号データＤｓａの値および／または検出信号データＤｓｂの値を大きく変更する（補正する）必要がなくなるため、測定結果の確度を一層向上させることができる。

【0110】

さらに、上記の受光部３Ｃにおける受光センサ２０ａ，２０ｂの配置の例に限定されず、「第１の光電変換部」の数（光電変換部２３ａを備えた受光センサ２０ａの数）」、「第２の光電変換部」の数（光電変換部２３ｂを備えた受光センサ２０ｂの数）」を互いに相違する数とすることができる。この場合、上記の受光部３，３Ａ～３Ｃでは、受光センサ２０ａおよび受光センサ２０ｂの双方について偶数個を備えているが、「第１の光電変換部（光電変換部２３ａを備えた受光センサ２０ａ」、および「第２の光電変換部（光電変換部２３ｂを備えた受光センサ２０ｂ」のいずれか／または双方を奇数個とすることもできる（図示せず）。

【0111】

また、「第１の光電変換部」の一例である光電変換部２３ａを有する受光センサ２０ａ、および「第２の光電変換部」の一例である光電変換部２３ｂを有する受光センサ２０ｂをそれぞれ複数備え、「第２の仮想直線」の一例である実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ａ，２０ａを互いに離間するように配置すると共に実線Ｌｒを挟んで受光センサ２０ｂ，２０ｂを互いに離間するように配置した受光部３，３Ａ～３Ｃについて説明したが、「第１の光電変換部」および「第２の光電変換部」のいずれか一方を複数備えると共に、他方を１つだけ備えて構成することもできる。

【0112】

一例として、図１３に示す受光部３Ｄでは、「第１の光電変換部」の一例である光電変換部２３ａを有する受光センサ２０ａを１つだけ有すると共に、「第２の光電変換部」の一例である光電変換部２３ｂを有する受光センサ２０ｂを複数（この例では、２つ）備え、受光センサ２０ａについては、「第２の仮想直線」の一例である実線Ｌｒ上（具体的には、「第１の仮想直線」と「第２の仮想直線」との交点の一例である位置ｒｏ０上）に配置すると共に、受光センサ２０ｂ，２０ｂについては、実線Ｌｒを挟んで互いに離間するように配置されている。

【0113】

この受光部３Ｄでは、受光センサ２０ａの数が１つだけとなっているが、この受光センサ２０ａが、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向で被測定光Ｌを入射させたときに仮想平面Ｆｒ上において被測定光Ｌの受光量が最も多くなる位置ｒｏ０に配置されている。したがって、入射孔１２ｈに対する被測定光Ｌの入射方向が基準の入射方向とは相違する方向となって出射孔１３ｈからの被測定光Ｌの出射方向が基準の出射方向とは相違する方向となっても、受光センサ２０ａは、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号Ｓｉａを出力し得る十分な量の被測定光Ｌを受光することができる。一方、受光センサ２０ｂについては、入射孔１２ｈに対して基準の入射方向で被測定光Ｌを入射させたときに被測定光Ｌの受光量が、位置ｒｏ０よりも少量となる位置（領域Ｂｏにおける外縁部寄りの位置）に配置されているが、その配設数が受光センサ２０ａよりも多数（本例では、２つ）となっている。したがって、各受光センサ２０ｂの総受光量は、光学的パラメータの測定に必要十分な信号レベルの検出信号Ｓｉａを出力し得る十分な量となる。

【0114】

また、「第２の仮想直線を挟んで配置された少なくとも２つの光電変換部」について、「第２の仮想直線」からの距離が等しい位置に配置した構成を例に挙げて説明したが、上記の「少なくとも２つの光電変換部」を「第２の仮想直線」からの距離が相違する位置に配置することもできる。さらに、「第２の仮想直線を挟んで配置された少なくとも２つの光電変換部」について、「光検出特性」が等しい「光電変換部」を採用した構成について説明したが、「光検出特性が互いに相違する２つの光電変換部」を「第２の仮想直線」を挟んで配置することもできる。

【0115】

また、複数の受光センサ２０から出力される複数の検出信号Ｓｉを１つのＩ／Ｖ変換部４（Ｉ／Ｖ変換部４における１つの測定チャンネル）に入力してＩ／Ｖ変換部４から複数の検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）の合計値に対応する１つの検出信号Ｓｖを出力させる構成を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、受光センサ２０毎にＩ／Ｖ変換部４を接続して、複数のＩ／Ｖ変換部４から１つの検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）に対応する１つの検出信号Ｓｖを出力させると共に、複数の検出信号Ｓｖの出力を加算回路において加算した後に、１つのＡ／Ｄ変換部５に入力してＡ／Ｄ変換部５から「複数の検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）の合計値に対応する１つの検出信号データＤｓ」を出力させる構成を採用することもできる（図示せず）。

【0116】

さらに、各受光センサ２０毎にＩ／Ｖ変換部４およびＡ／Ｄ変換部５をそれぞれ接続してＩ／Ｖ変換部４から１つの検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）に対応する１つの検出信号Ｓｖを出力させ、かつＡ／Ｄ変換部５から１つの検出信号Ｓｖの信号レベル（電圧値）に対応する１つの検出信号データＤｓを出力させると共に、処理部８において、複数の検出信号データＤｓに基づいて複数の検出信号Ｓｉの信号レベル（電流値）の合計値を特定する構成を採用することもできる（図示せず）。

【0117】

また、「拡散光学系」としての積分球本体１１、積分球本体１１に対する被測定光Ｌの入射量および入射方向を制限するための入射部１２、および積分球本体１１において拡散された被測定光Ｌの受光部３に向けての出射量および出射方向を制限するための「光通過孔形成部」としての出射部１３を一体的に形成した積分球２を備えた構成を例に挙げて説明したが、積分球本体１１と入射部１２とを別体に形成したり、積分球本体１１と出射部１３とを別体に形成したりすることもできる（図示せず）。さらに、「拡散光学系」の一例である積分球本体１１（積分球２）を備えた構成を例に挙げて説明したが、「拡散光学系」は「積分球」等の「反射型拡散光学系」に限定されず、例えば、拡散板（透過時に光を拡散させる光学部品）などの「透過型拡散光学系」を「拡散光学系」として備えて構成することもできる（図示せず）。

【0118】

加えて、「第１の光電変換部」としての光電変換部２３ａ、および「第２の光電変換部」としての光電変換部２３ｂを備えた構成について説明したが、例えば、波長（重心波長）の測定を行わない「光測定装置」においては、光測定装置１における光電変換部２３ａ，２３ｂのいずれかに相当する「光電変換部」を複数備えて「光測定装置」を構成することもできる。

【符号の説明】

【0119】

１ 光測定装置
２ 積分球
３，３Ａ，３Ａａ，３Ｂ，３Ｂａ，３Ｃ，３Ｄ 受光部
４ Ｉ／Ｖ変換部
５ Ａ／Ｄ変換部
８ 処理部
９ 記憶部
１１ 積分球本体
１２ 入射部
１２ｈ 入射孔
１３ｏ 重心
１３ 出射部
１３ｈ 出射孔
２０ａ，２０ｂ 受光センサ
２１，２２ａ，２２ｂ 光学フィルタ
２３ａ，２３ｂ 光電変換部
Ｄｓａ，Ｄｓｂ 検出信号データ
Ｆｉ，Ｆｏ，Ｆｒ 仮想平面
Ｌ 被測定光
Ｌｒ 実線
Ｒａ０，Ｒｂ０，Ｒａｈ，Ｒａｌ，Ｒｂｈ，Ｒｂｌ 受光量
ｒｏ０ 位置
Ｓｉａ，Ｓｉｂ，Ｓｖａ，Ｓｖｂ 検出信号

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】