特許 7576451 複合物体内のプライの不整合を検出するための方法及び装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-10-23

(45)【発行日】2024-10-31

(54)【発明の名称】複合物体内のプライの不整合を検出するための方法及び装置

(51)【国際特許分類】

   G01R 27/02 20060101AFI20241024BHJP

   G01R 31/00 20060101ALI20241024BHJP

【ＦＩ】

G01R27/02 A

G01R31/00

【請求項の数】 15

【外国語出願】

(21)【出願番号】P 2020208157

(22)【出願日】2020-12-16

(65)【公開番号】P2021113802

(43)【公開日】2021-08-05

【審査請求日】2023-12-13

(31)【優先権主張番号】16/721,767

(32)【優先日】2019-12-19

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(73)【特許権者】

【識別番号】500520743

【氏名又は名称】ザ・ボーイング・カンパニー

【氏名又は名称原語表記】Ｔｈｅ Ｂｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ

(74)【代理人】

【識別番号】110002077

【氏名又は名称】園田・小林弁理士法人

(72)【発明者】

【氏名】コスラバニ， シャハリアル

【審査官】島▲崎▼ 純一

(56)【参考文献】

【文献】米国特許第５６０２４８６（ＵＳ，Ａ）

【文献】特開２００１－２２１８１９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００５－１５０４６１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｒ ２７／０２

Ｇ０１Ｒ ３１／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

異なる繊維配向のプライ（１０３）の抵抗を測定するために位置合わせされた２つの容量性プレート（１２４－１３８，６１０－６２０，７１６－７３８）を各々が備える、少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）を含む複数のプレートペア（１１２，６０４－６０８，７０４－７１４）と、
前記複数のプレートペア（１１２）が取り付けられるベース（１０２，６０２，７０２）と
を備える、装置。

【請求項2】

前記複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第１のプレートペア（１１６）と、
４５度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第２のプレートペア（１１８）と、
９０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第３のプレートペア（１２０）と、
－４５度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第４のプレートペア（１２２）と
を含む、請求項１に記載の装置。

【請求項3】

前記複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第１のプレートペア（６０４）と、
６０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第２のプレートペア（６０６）と、
－６０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第３のプレートペア（６０８）と
を含む、請求項１又は２に記載の装置。

【請求項4】

前記複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第１のプレートペア（７０４）と、
３０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第２のプレートペア（７０６）と、
６０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第３のプレートペア（７０８）と、
９０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第４のプレートペア（７１０）と、
－６０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第５のプレートペア（７１２）と、
－３０度の繊維配向における前記抵抗を測定するための第６のプレートペア（７１４）と
を含む、請求項１から３のいずれか一項に記載の装置。

【請求項5】

前記複数のプレートペア（１１２）が、前記複数のプレートペア（１１２）に対して中央に位置する試験エリアを画定する対称な八角形構成で配置される、請求項１から４のいずれか一項に記載の装置。

【請求項6】

前記複数のプレートペア（１１２）の各々の前記２つの容量性プレートが、同じ距離で分離されている、請求項１から５のいずれか一項に記載の装置。

【請求項7】

複数の分岐（４０４－４０６，５０４－５１４）を含む回路（４００）
を更に備え、
前記複数の分岐のうちの１つの分岐（４０６，５０８－５１４）が、前記複数のプレートペア（１１２）のうちの１つのプレートペアを含み、
前記プレートペアが、特定の繊維配向のために設計されており、
前記特定の繊維配向に対する前記抵抗が、前記分岐からの電圧出力（４０９）を使用して測定される、請求項１から６のいずれか一項に記載の装置。

【請求項8】

前記回路（４００）が、
予想される実効直列抵抗を有する少なくとも１つの基準抵抗器（５３４，５４６，５５８，５７０）を含む基準分岐（４０４，５０６）
を更に備える、請求項７に記載の装置。

【請求項9】

前記ベース（１０２，６０２，７０２）がプリント回路基板であり、前記ベース及び前記複数のプレートペア（１１２）が試験デバイス（１００，６００，７００）を形成し、前記試験デバイス（１００，６００，７００）が、
前記ベース（１０２）に取り付けられたハウジング（１０６）を更に備え、前記ハウジング（１０６）が、前記プリント回路基板に接続された回路機構を保持する、請求項１から８のいずれか一項に記載の装置。

【請求項10】

複合物体（１０１）を試験するための方法であって、
少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）を含む複数のプレートペア（１１２）を、前記複合物体（１０１）の表面（１１０）の上に位置付けること（８０２）と、
前記複合物体（１０１）の複数のプライ（１０３）の抵抗を、前記少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）のうちの対応する１つを介して各々が測定される少なくとも３つの異なる繊維配向で測定すること（８０４）ことと
を含む、方法。

【請求項11】

前記抵抗を測定すること（８０４）が、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（１１６）によって０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（１１８）によって４５度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（１２０）によって－４５度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第４のプレートペア（１２２）によって９０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと
を含む、請求項１０に記載の方法。

【請求項12】

前記抵抗を測定すること（８０４）が、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（６０４）によって０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（６０６）によって６０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（６０８）によって－６０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと
を含む、、請求項１０又は１１に記載の方法。

【請求項13】

前記抵抗を測定すること（８０４）が、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（７０４）によって０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（７０６）によって３０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（７０８）によって－３０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第４のプレートペア（７１０）によって６０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第５のプレートペア（７１２）によって－６０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと、
前記複数のプレートペア（１１２）内の第６のプレートペア（７１４）によって９０度の繊維配向における前記抵抗を測定することと
を含む、請求項１０から１２のいずれか一項に記載の方法。

【請求項14】

前記複数のプレートペア（１１２）を含む試験デバイス（１００，６００，７００）を、前記複合物体（１０１）の前記表面（１１０）に沿ってラスタパターンで移動させること（９０６）
を更に含む、請求項１３に記載の方法。

【請求項15】

前記抵抗を測定すること（８０４）が、
前記複合物体（１０１）の前記表面（１１０）に沿った複数の位置の各々において、前記少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）の各々に対して電圧測定値を生成すること（９０８）
を含む、請求項１０から１４のいずれか一項に記載の方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、概して、複合物体を試験することに関し、更に具体的には、容量性プレートのペアを使用して、複合物体内のプライを侵襲的に試験するための方法及び装置に関する。

【背景技術】

【0002】

炭素繊維強化ポリマー（ＣＦＲＰ）は、１つの種類の複合材料の例である。炭素繊維強化ポリマー内の炭素繊維は、機械的強度及び導電性の両方を提供する。複合部品は、炭素繊維強化ポリマーの複数のプライで形成されうる。非破壊検査（ＮＤＩ）試験は、そのような複合部品のプライを試験するために使用されうる。しかし、超音波伝搬を伴う技術など、従来の、現在利用可能な非破壊検査試験技術は、プライの層間剥離の領域のみを明らかにする。これらの試験技術は、プライ内の炭素繊維の不連続性についての情報を提供できないことがある。例えば、これらの試験技術は、複合物体内の繊維導電性又は繊維連続性についての情報を提供するのに十分に敏感でないこともある。

【0003】

複合物体内の炭素繊維の連続性は、複合物体の機械的な引張強度に関連する。例えば、破壊された又は不連続の炭素繊維は、複合物体の機械的引張強度を低下させることがある。更に、破壊された又は不連続の炭素繊維は、電流（例えば、雷）を流すための複合物体の能力を低下させることがある。したがって、複合体の製造及び修理の間に、複合物体内の炭素繊維の不連続性を検出する方法を有することは不可能である。したがって、上記問題の少なくともいくつかを考慮した方法及び装置を提供することが望ましいだろう。

【発明の概要】

【0004】

１つの例示的な実施例では、装置は、複数のプレートペアと、複数のプレートペアが取り付けられるベースとを備える。複数のプレートペアは、異なる繊維配向の複数のプライの抵抗を測定するように位置合わせされた２つの容量性プレートを各々が備える、少なくとも３つのプレートペアを含む。

【0005】

別の例示的実施例では、複合物体を試験するための方法が提供される。少なくとも３つのプレートペアを含む複数のプレートペアは、複合物体の表面上に位置付けられる。複合物体内の複数のプライの抵抗が、少なくとも３つの異なる繊維配向において測定される。少なくとも３つの異なる繊維配向の各々が、少なくとも３つのプレートペアの対応する１つを介して測定される。

【0006】

更に別の例示的実施例では、試験デバイスは、ベースと、ベースに取り付けられた複数のプレートペアとを備える。各プレートペアは、異なる繊維配向について複合物体内のプライの抵抗を測定するように位置合わせされた２つの容量性プレートを含む。複数のプレートペア間のエリアは、ターゲットエリアを画定する。複数のプレートペアが複合物体の表面上に位置付けられると、表面上の複数の異なる位置の各々で生成された電圧測定値が、複合物体内に繊維の不連続性が存在するかどうかの表示を提供する。

【0007】

これらの特性及び機能は、本開示の様々な実施形態で独立して実現することができ、以下の説明及び図面に関連して更なる詳細を理解することができる、更に別の実施形態において組み合わされてもよい。

【0008】

例示的な実施形態の特性と考えられる新規の特徴は、添付の特許請求の範囲に明記される。しかしながら、例示的な実施形態と、好ましい使用モードと、その更なる目的と特徴とは、添付図面と共に、本開示の例示的な実施形態の以下の詳細な説明を参照することにより、最もよく理解されるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】例示的な実施形態による試験デバイスの図である。

【図2】例示的な実施形態による図１の複合物体の表面上のプレートペアの上面図である。

【図3】例示的な実施形態による、複合物体上に位置付けられた試験デバイスの上面図である。

【図4】例示的な実施形態による回路図である。

【図5】例示的な実施形態による回路図である。

【図6】例示的な実施形態による試験デバイスの上面図である。

【図7】例示的な実施形態による試験デバイスの上面図である。

【図8】例示的な実施形態による複合物体を試験するためのプロセスのフローチャートである。

【図9】例示的な実施形態による複合物体を試験するためのプロセスのフローチャートである。

【図10】例示的な実施形態による電圧測定値を処理するためのフローチャートである。

【図11】例示的な実施形態による２次元マップセットの例である。

【図12】例示的な実施形態による、２次元標準偏差マップセットの例である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下に記載する例示的な実施形態は、特定の種類のプライの不整合を容易かつ効率的に検出するための方法、装置、及びシステムを提供する。特に、例示的実施形態は、炭素繊維強化ポリマー（ＣＦＲＰ）からなる複合物体内の繊維の不連続性を検出するための方法、装置、及びシステムを提供する。繊維抵抗は、容量結合と交流（ＡＣ）の印加を使用して測定される。これらの測定値は、繊維の不連続性の領域の２次元マップ又はマップセットを作成するために使用されうる。この種のマップ又はマップセットは、複合体の製造と修理に非常に役立ちうる。

【0011】

１つ又は複数の実施例では、複合物体は、様々な方向に向かう繊維のプライを有しうる。１つ又は複数の実施例では、ペアのプレートは、複合物体の表面上に容量結合されており、各ペアは、異なる繊維配向について等価直列抵抗を測定するために使用される。特に、基準分岐と少なくとも３つの測定分岐の各々との間の電圧差が測定される。これらの測定分岐の各々は、特定の繊維配向に対応する複合物体に容量結合された１つのペアのプレートを含みうる。電圧差は、繊維配向毎の等価直列抵抗を示し、プライの不整合（例えば、繊維の不連続性）を潜在的に含む複合物体のエリアを識別するために使用されうる。

【0012】

複合物体を非侵襲的に試験するための、この種のシステム及び方法により、プライの不整合の容易、迅速、かつ効率的な識別が可能になる。特に、上記のシステム及び方法に類似のシステム及び方法は、複合物体が、所望の機械的強度（例えば、機械的引張強度）及び所望の導電性（例えば、伝導し、それによって雷電流を放散するのを助ける能力）を確実に有するのを支援しうる。

【0013】

ここで図面を参照すると、図１は、例示的な実施形態による試験デバイスの図である。試験デバイス１００は、複合物体１０１などの複合物体を試験するために使用されうる。場合によっては、試験デバイス１００は、試験システム又は非侵襲的な試験デバイス若しくはシステムと呼ばれることがある。複合物体１０１は、複合材料の複数のプライ１０３を含む。特に、プライ１０３は、炭素繊維からなりうる。例えば、複合材料の各プライは、炭素繊維強化ポリマー（ＣＦＲＰ）のプライでありうる。

【0014】

試験デバイス１００は、望ましくないプライの不整合を有する複合物体１０１のエリアを検出するために使用される。望ましくないプライの不整合は、例えば、限定されないが、繊維の不連続性又はいくつかの他の種類のプライ欠陥でありうる。１つ又は複数の例示的実施例では、複合物体１０１は、航空機の複合構造でありうる。例えば、複合物体１０１は、複合胴体パネル、複合翼パネル、又はいくつかの他の種類の複合構造でありうる。

【0015】

試験デバイス１００は、ベース１０２、プレートシステム１０４、制御ボックス１０６、及びハンドル１０８を含む。この例示的実施例では、プレートシステム１０４と制御ボックス１０６の両方がベース１０２に取り付けられ、ハンドル１０８が制御ボックス１０６に取り付けられている。ベース１０２は開口部１０９を有している。場合によっては、開口部１０９はターゲットエリアに対応する。１つ又は複数の例示的実施例では、ベース１０２は、制御ボックス１０６内部の回路機構と通信しているか又はその回路機構に接続されている回路機構を有するプリント回路基板である。例えば、ベース１０２及び制御ボックス１０６の各々は、インダクタ、コンデンサ、抵抗器、スイッチ、他の種類の電気部品、又はこれらの組み合わせなどの任意の数の電気部品を含みうる。いくつかの実施例では、制御ボックス１０６はまた、ハウジングと呼ばれることもある。

【0016】

ハンドル１０８は、複合物体１０１表面１１０といった、物体の表面の上で試験デバイス１００を移動させるために、オペレータによって使用されうる。オペレータは、作業人員であってもロボットオペレータ（例えば、ロボットアーム若しくはエンドエフェクタ）であってもよい。

【0017】

この例示的実施例では、プレートシステム１０４は、複数のプレートペア１１２を含む。プレートペア１１２は、開口部１０９を通って中心軸１１４に対して対称に位置合わせされうる。例えば、プレートペア１１２の各々は、互いに向かい合うよう位置合わせされた２つのプレートを含みうる。言い換えると、プレートペア１１２の各々は、ベース１０２の反対側に位置付けられる２つのプレートを含みうる。この例では、プレートペア１１２の各々は、開口部１０９の反対側に位置付けられた２つのプレートを含む。プレートペア１１２の各々のプレートは、容量性プレートであり、同じ距離分離されうる。

【0018】

プレートペア１１２は、少なくとも３つのプレートペアを含む。この例示的実施例では、プレートペア１１２は、４つのプレートペアを含む。特に、プレートペア１１２は、第１のプレートペア１１６、第２のプレートペア１１８、第３のプレートペア１２０、及び第４のプレートペア１２２を含む。他の例では、プレートペア１１２は、例えば、３つのプレートペア又は６つのプレートペアなど、いくつかの他の数のプレートペアを含みうる。

【0019】

第１のプレートペア１１６は、プレート１２４及びプレート１２６を含む。第２のプレートペア１１８は、プレート１２８及びプレート１３０を含む。第３のプレートペア１２０は、プレート１３２及びプレート１３４を含む。第４のプレートペア１２２は、プレート１３６及びプレート１３８を含む。プレート１２４、１２６、１２８、１３０、１３２、１３４、１３６、及び１３８は、容量性プレートでありうる。これらの例示的実施例では、プレート１２４、１２６、１２８、１３０、１３２、１３４、１３６、及び１３８の各々が、金属層及び絶縁層を含む。他の例示的実施例では、各プレートは、金属層のみを含みうる。

【0020】

上述のように、プレートペア１１２は、開口部１０９周囲で対称に位置合わせされる。この例示的実施例では、プレートペア１１２は、中心軸１１４に対して対称な八角形構成で配置される。特に繊維配向（即ち、繊維方向）の抵抗の測定値を提供するために、プレートペア１１２の位置合わせが使用できるように、試験デバイス１００は、複合物体１０１上に位置付けられうる。より具体的には、プレートペア１１２の各々は、異なる繊維配向の抵抗を測定する際に使用するよう位置合わせされる。この抵抗は、その繊維配向の等価直列抵抗（ＥＳＲ）でありうる。

【0021】

１つの例示的な実施例として、第１のプレートペア１１６は、０度の繊維配向での抵抗を測定するために使用される。第２のプレートペア１１８は、４５度の繊維配向での抵抗を測定するために使用される。第３のプレートペア１２０は、９０度の繊維配向での抵抗を測定するために使用される。第４のプレートペア１２２は、４５度の繊維配向での抵抗を測定するために使用される。

【0022】

いくつかの例示的実施例では、試験デバイス１００によって生成された測定値は、コンピュータシステム１４０によって処理されうる。試験デバイス１００は、これらの実施例では、コンピュータシステム１４０と無線通信する。しかしながら、他の例では、試験デバイス１００は、１つ又は複数の有線通信リンク、無線通信リンク、光通信リンク、又はそれらの組み合わせを介して、コンピュータシステム１４０と通信しうる。

【0023】

図２は、例示的な実施形態による、図１の複合物体１０１の表面１１０上の試験デバイス１００の上面図である。プレートペア１１２のプレート間のエリア２００は、測定値が取られうるエリアである。複合物体１０１上に試験デバイス１００が載置されると、エリア２００は、複合物体１０１の対応するエリア又は表面領域と重なる。エリア１４０は、第１の測定エリア２０２、第２の測定エリア２０４、第３の測定エリア２０６、及び第４の測定エリア２０８を含む。

【0024】

第１の測定エリア２０２、第２の測定エリア２０４、第３の測定エリア２０６、及び第４の測定エリア２０８は、第１のプレートペア１１６、第２のプレートペア１１８、第３のプレートペア１２０、及び第４のプレートペア１２２にそれぞれ対応する。より具体的には、第１の測定エリア２０２は、プレートペア１１６に対応する配向の繊維（例えば、０度の繊維配向）に最も敏感であろう複合物体１０１上のエリアを示す。第２の測定エリア２０４は、プレートペア１１８に対応する配向の繊維（例えば、４５度の繊維配向）に最も敏感であろう複合物体１０１上のエリアを示す。第３の測定エリア２０６は、プレートペア１２０に対応する配向の繊維（例えば、９０度の繊維配向）に最も敏感であろう複合物体１０１上のエリアを示す。第４の測定エリア２０８は、プレートペア１２２に対応する配向の繊維（例えば、－４５度の繊維配向）に最も敏感であろう複合物体１０１上のエリアを示す。

【0025】

４つすべての測定エリア（即ち、第１の測定エリア２０２、第２の測定エリア２０４、第３の測定エリア２０６、及び第４の測定エリア２０８）が重なるエリアが、ターゲットエリア２１０を画定する。ターゲットエリア２１０は、複数のプレートペア１１２に対して中央に位置する。ターゲットエリア２１０は、異なる繊維配向のすべてについて、複合物体１０１などの複合物体の抵抗（例えば、等価直列抵抗）を決定するための最善の測定値を提供するエリア２００の一部である。ターゲットエリア２１０はまた、ターゲット試験エリア、検出エリア、又はターゲット検出エリアとも呼ばれることがある。

【0026】

図３は、例示的な実施形態による、複合物体上に位置付けられた図１の試験デバイス１００の上面図である。図３において、試験デバイス１００は、複合物体３００を試験するために使用される。図１の複合物体１０１に類似して、複合物体３００は、各々が炭素繊維（例えば、ＣＦＲＰ）からなる複数のプライを含む。

【0027】

これらのプライは、４つの異なる方向に向かう繊維を含むプライを含みうる。例えば、プライは、０度の繊維配向を有する繊維を含む１つ又は複数のプライ、４５度の繊維配向を有する繊維を含む１つ又は複数のプライ、９０度の繊維配向を有する繊維を含む１つ又は複数のプライ、及び－４５度の繊維配向を有する繊維を含む１つ又は複数のプライを含みうる。

【0028】

この例では、試験デバイス１００は、複合物体３００の表面３０２上に位置し、かつ表面３０２に接触する。先ほど上で検討されたように、試験デバイス１００は、複合物体３００について異なるすべての繊維配向の複合物体の抵抗を決定するための最善の測定値を提供するターゲットエリア２１０を有している。

【0029】

試験デバイス１００は、複合物体３００を試験するために、複数の異なるパターンのいずれかで、複合物体３００の表面３０２上を移動しうる。この例示的実施例では、試験デバイス１００は、ラスタパターンに従うように、表面３０２上で矢印３０４の方向に移動する。ラスタパターンは、エリアが上から下まで線で左右に走査される（これらの方向の表示は相対的です）走査パターンである。これらの例示的実施例では、これらの走査線の間の垂直な「ステップ」は、ターゲットエリア２１０の直径として設定され、試験デバイス１００が表面３０２上を移動する際に、ある点で、表面３０２のすべての部分が試験デバイス１００のターゲットエリア２１０と確実に重なる。

【0030】

図４は、例示的な実施形態による回路図である。回路４００は、複合物体を非侵襲的に試験するために使用されうるシステムの例を表す。回路４００は、電子部品と及び物理部品又は構造の組み合わせを示す構成要素を含む。

【0031】

この例示的実施例では、回路４００は、接地４０１と、周波数が共振周波数に設定された交流（ＡＣ）電圧源４０２とを含む。

【0032】

回路４００はまた、基準分岐４０４と、分岐４０６（回路分岐又は測定分岐とも呼ばれることもある）と、電圧出力４０８と、電圧出力４０９とを含む。基準分岐４０４は、インダクタ４１０と、コンデンサ４１２と、抵抗器４１４と、コンデンサ４１６と、抵抗器４１８とを含む。分岐４０６は、インダクタ４２０と、コンデンサ４２２と、抵抗器４２４と、コンデンサ４２６と、抵抗器４２８とを含む。

【0033】

回路４００において、交流電圧源４０２と、インダクタ４１０と、コンデンサ４１２と、抵抗器４１４と、コンデンサ４１６と、抵抗器４１８と、インダクタ４２０と、抵抗器４２８は、電子部品を表す。コンデンサ４２２及びコンデンサ４２６は、物理容量性部品を表す。例えば、コンデンサ４２２及びコンデンサ４２６の各々は、容量性プレートを表すことがある。特に、コンデンサ４２２及びコンデンサ４２６は、１つの配向の繊維の、等価直列抵抗でありうる抵抗を測定するために、複合物体上に位置付けられ位置合わせされるだろう容量性プレートを表す。抵抗器４２４は、試験されている複合物体の物理繊維の等価直列抵抗を表す。

【0034】

この例示的実施例では、抵抗器４１４、抵抗器４１８、及び抵抗器４２８は、複合物体に対して予想される等価直列抵抗に基づく抵抗値に設定される。予想される等価直列抵抗に対する値は、複合物体内のプライの数、プライの各々の厚さ、及びプライ密度に基づく。これらの例示的実施例では、プライ密度は、プライについての異なる繊維配向の各々におけるプライのパーセンテージを指す。例えば、プライ密度は、プライの何パーセントが第１の配向の繊維を有しているか、プライの何パーセントが第２の配向の繊維を有しているか、プライの何パーセントが第３の配向の繊維を有しているか、などを示しうる。電圧出力４０８と電圧出力４０９との差（即ち、電圧差）は、複合物体の等価直列抵抗と予想される等価直列抵抗との間の差を示す。選択した許容誤差外の電圧差は、繊維の不連続性の表示でありうる。

【0035】

よって、回路４００は、単一方向に向かう繊維を含む複合物体を試験するための構築ブロックを表す。この構築ブロックは、異なる方向に向かう繊維を含む複合物体を試験可能にするために構築されうる。例えば、分岐４０６などの複数の分岐は、デイジーチェーンスイッチングシステムを介して、まとめてデイジーチェーン結合され（ｄａｉｓｙ－ｃｈａｉｎｅｄ ｔｏｇｅｔｈｅｒ）、様々な繊維の方向又は配向を測定可能にする。

【0036】

図５は、例示的な実施形態による、図１－３の試験デバイス１００に含まれる回路機構を示す回路図である。この例示的実施例では、回路５００は、図１－３の複合物体１０１などの複合物体を試験可能にする試験デバイス１００の電子部品及び物理構造を表す。回路５００は、接地５０２と、交流電圧源５０４と、基準分岐５０６と、第１の分岐５０８と、第２の分岐５１０と、第３の分岐５１２と、第４の分岐５１４とを含む。第１の分岐５０８と、第２の分岐５１０と、第３の分岐５１２と、第４の分岐５１４はまた、測定分岐と呼ばれることもある。

【0037】

基準分岐５０６は、インダクタ５１５と、コンデンサ５１６と、抵抗器５１８と、コンデンサ５２０と、抵抗器５２２とを含む。基準分岐の部品は、例えば、図１の制御ボックス１０６内に存在しうる電子部品を表す。抵抗器５１８及び抵抗器５２２は、複合物体１０１内のプライ１０３の数、プライ１０３の各々の厚さ、及びプライ１０３のプライ密度に基づき、選択した許容誤差内の、複合物体１０１に予想される等価直列抵抗に設定される。

【0038】

第１の分岐５０８、第２の分岐５１０、第３の分岐５１２、及び第４の分岐５１４は、第１のプレートペア１１６、第２のプレートペア１１８、第３のプレートペア１２０、及び第４のプレートペア１２２それぞれを使用する、測定値を取る際に含まれる試験デバイス１００の回路機構の一部を表す。第１の分岐５０８は、スイッチ５２４と、インダクタ５２６と、コンデンサ５２８と、抵抗器５３０と、コンデンサ５３２と、抵抗器５３４とを含む。第２の分岐５１０は、スイッチ５３６と、インダクタ５３８と、コンデンサ５４０と、抵抗器５４２と、コンデンサ５４４と、抵抗器５４６とを含む。第３の分岐５１２は、スイッチ５４８と、インダクタ５５０と、コンデンサ５５２と、抵抗器５５４と、コンデンサ５５６と、抵抗器５５８とを含む。第４の分岐５１４は、スイッチ５６０と、インダクタ５６２と、コンデンサ５６４と、抵抗器５６６と、コンデンサ５６８と、抵抗器５７０とを含む。

【0039】

コンデンサ５２８及びコンデンサ５３２は、図１の第１のプレートペア１１６を表す。抵抗器５３０は、第１のプレートペア１１６に対応する繊維方向（即ち、０度の繊維配向）に沿った等価直列抵抗を表す。抵抗器５３４は、第１のプレートペア１１６に対応する繊維方向（即ち、０度の繊維配向）に予想される基準抵抗を表す。これらの例では、この基準抵抗（例えば、予想される等価直列抵抗）は、選択した許容誤差内の、抵抗器５１８及び抵抗器５２２と同じ値に設定される。

【0040】

コンデンサ５４０及びコンデンサ５４４は、図１の第２のプレートペア１１８を表す。抵抗器５４２は、第２のプレートペア１１８に対応する繊維方向（即ち、４５度の繊維配向）に沿った等価直列抵抗を表す。抵抗器５４６は、第２のプレートペア１１８に対応する繊維方向（即ち、４５度の繊維配向）に予想される基準抵抗を表す。これらの例では、この基準抵抗（例えば、予想される等価直列抵抗）は、選択した許容誤差内の、抵抗器５１８及び抵抗器５２２と同じ値に設定される。

【0041】

コンデンサ５５２及びコンデンサ５５６は、図１の第３のプレートペア１２０を表す。抵抗器５５４は、第３のプレートペア１２０に対応する繊維方向（即ち、９０度の繊維配向）に沿った等価直列抵抗を表す。抵抗器５５８は、第３のプレートペア１２０に対応する繊維方向（即ち、９０度の繊維配向）に予想される基準抵抗を表す。これらの例では、この基準抵抗（例えば、予想される等価直列抵抗）は、選択した許容誤差内の、抵抗器５１８及び抵抗器５２２と同じ値に設定される。

【0042】

コンデンサ５６４及びコンデンサ５６８は、図１の第４のプレートペア１２２を表す。抵抗器５６６は、第４のプレートペア１２２に対応する繊維方向（即ち、－４５度の繊維配向）に沿った等価直列抵抗を表す。抵抗器５７０は、第４のプレートペア１２２に対応する繊維方向（即ち、－４５度の繊維配向）に予想される基準抵抗を表す。これらの例では、この基準抵抗（例えば、予想される等価直列抵抗）は、選択した許容誤差内の、抵抗器５１８及び抵抗器５２２と同じ値に設定される。

【0043】

回路５００は、基準分岐５０６の電圧出力５７１、第１の分岐５０８の電圧出力５７２、第２の分岐５１０の電圧出力５７４、第３の分岐５１２の電圧出力５７６、及び第４の分岐５１４の電圧出力５７８を含む。スイッチ５２４、５３６、５４８、及び５６０は、基準分岐５０６と様々な測定分岐との間の電圧差を測定可能にするデイジーチェーンネットワークを形成する。

【0044】

例えば、電圧出力５７２と電圧出力５７１との間の差は、０度の繊維配向の繊維の等価直列抵抗と、その繊維配向に予想される等価直列抵抗との間に差があるかどうかを示すために使用される。電圧出力５７４と電圧出力５７１との間の差は、４５度の繊維配向の繊維の等価直列抵抗とその配向に予想される等価直列抵抗との間に差があるかどうかを示すために使用される。電圧出力５７６と電圧出力５７１との間の差は、９０度の繊維配向の繊維の等価直列抵抗とその配向に予想される等価直列抵抗との間に差があるかどうかを示すために使用される。電圧出力５７８と電圧出力５７１との間の差は、－４５度の繊維配向の繊維の等価直列抵抗とその配向に予想される等価直列抵抗との間に差があるかどうかを示すために使用される。これらの測定値は、複合物体を完全に試験するために、複合物体上の複数の位置で生成されうる。

【0045】

いくつかの例示的実施例では、電圧出力５７２、電圧出力５７４、電圧出力５７６、及び電圧出力５７８は、複合物体のプライ密度を決定するために使用されうる。例えば、複合物体は、以下のプライ密度を有する４つの繊維配向を有しうる。０度配向のプライの４０パーセント、４５度配向のプライの２０パーセント、－４５度配向のプライの２０パーセント、９０度配向のプライの１０パーセント。基準抵抗器（抵抗器５３４、抵抗器５４６、抵抗器５５８、及び抵抗器５７０、並びにオプションで、抵抗器５１８及び抵抗器５２２）がゼロに設定されると、電圧出力５７２、電圧出力５７４、電圧出力５７６、及び電圧出力５７８の互いに対する比率は、複合物体のプライ密度の表示を提供しうる。

【0046】

図６は、例示的な実施形態による、別の試験デバイスの図である。試験デバイス６００は、ベース６０２と、第１のプレートペア６０４、第２のプレートペア６０６、及び第３のプレートペア６０８とを含む。この例には示されないが、試験デバイス６００はまた、図１の制御ボックス１０６に類似の制御ボックス、図１のハンドル１０８に類似のハンドル、又はその両方を含みうる。

【0047】

第１のプレートペア６０４は、プレート６１０及びプレート６１２を含む。第２のプレートペア６０６は、プレート６１４及びプレート６１６を含む。第３のプレートペア６０８は、プレート６１８及びプレート６２０を含む。第１のプレートペア６０４、第２のプレートペア６０６、及び第３のプレートペア６０８は、ターゲットエリア６２２周囲に対称に位置合わせされる。特に、これら３つのプレートペアは、対称な六角形構成を有している。第１のプレートペア６０４は、０度の繊維配向における抵抗（例えば、等価直列抵抗）を測定するために使用されうる。第２のプレートペア６０６は、６０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。第３のプレートペア６０８は、－６０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。

【0048】

図７は、例示的な実施形態による、更に別の試験デバイスの図である。試験デバイス７００は、ベース７０２と、第１のプレートペア７０４、第２のプレートペア７０６、第３のプレートペア７０８、第４のプレートペア７１０、第５のプレートペア７１２、及び第６のプレートペア７１４とを含む。この例には示されないが、試験デバイス７００はまた、図１の制御ボックス１０６に類似の制御ボックス、図１のハンドル１０８に類似のハンドル、又はその両方を含みうる。

【0049】

第１のプレートペア７０４は、プレート７１６及びプレート７１８を含む。第２のプレートペア７０６は、プレート７２０及びプレート７２２を含む。第３のプレートペア７０８は、プレート７２４及びプレート７２６を含む。第４のプレートペア７１０は、プレート７２８及びプレート７３０を含む。第５のプレートペア７１２は、プレート７３２及びプレート７３４を含む。第６のプレートペア７１４は、プレート７３６及びプレート７３８を含む。

【0050】

第１のプレートペア７０４、第２のプレートペア７０６、第３のプレートペア７０８、第４のプレートペア７１０、第５のプレートペア７１２、及び第６のプレートペア７１４は、ターゲットエリア７４０周囲に対称に位置合わせされる。特に、これら６つのプレートペアは、対称な十二角形構成を有している。第１のプレートペア７０４は、０度の繊維配向で抵抗（例えば、等価直列抵抗）を測定するために使用されうる。第２のプレートペア７０６は、３０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。第３のプレートペア７０８は、６０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。第４のプレートペア７１０は、９０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。第５のプレートペア７１２は、－６０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。第６のプレートペア７１４は、－３０度の繊維配向における抵抗を測定するために使用されうる。

【0051】

図１－７の図は、例示的な実施形態が実装されうる方法に対する物理的又は構造的な制限を示唆することを意図していない。図示された構成要素に加えて又はそれらに代えて、他の構成要素も使用されうる。いくつかの構成要素はオプションでありうる。

【0052】

図８は、例示的な実施形態による、複合物体を試験するためのプロセスのフローチャートである。図８のプロセス８００は、図１－２の複合物体１０１又は図３の複合物体３００などの複合物体を試験するために使用されうる。更に、プロセス８００は、例えば、図１－３に記載の試験デバイス１００、図６の試験デバイス６００、図７の試験デバイス７００、又はいくつかの別の種類の同様に実施される試験デバイスなどの試験デバイスを使用して実行されうる。

【0053】

プロセス８００は、少なくとも３つのプレートペアを含む複数のプレートペアを複合物体の表面上に位置付けること（工程８０２）によって開始しうる。これらのプレートペアの各々が、複合物体との容量結合で使用する２つの容量性プレートを含む。

【0054】

少なくとも３つの異なる繊維配向の複合物体の複数のプライの抵抗が測定され、少なくとも３つの異なる繊維配向の各々が、少なくとも３つのプレートペアのうちの対応する１つを介して測定される（工程８０４）。測定される抵抗は、等価直列抵抗でありうる。１つ又は複数の実施例では、工程８０４において、繊維配向の抵抗は、その繊維配向を測定するように設計されたプレートペアを含む回路分岐から電圧出力を測定することにより測定される。したがって、工程８０４において、抵抗の測定値は、実際には、抵抗を示す電圧の測定値でありうる。

【0055】

次いで、測定値に基づき、複合物体にプライの不整合が存在するか否かが決定され（工程８０６）、その後、プロセスは終了する。工程８０６は、例えば、１つ又は複数の数学的分析ツール又はコンピュータプリグラムを使用して、測定値を処理することにより、実行されうる。

【0056】

図９は、例示的な実施形態による、複合物体を試験するためのプロセスのフローチャートである。図９のプロセス９００は、図１－２の複合物体１０１又は図３の複合物体３００などの複合物体を試験するために使用されうる。更に、プロセス９００は、例えば、図１－３に記載の試験デバイス１００、図６の試験デバイス６００、図７の試験デバイス７００、又はいくつかの別の種類の同様に実施される試験デバイスなどの試験デバイスを使用して実行されうる。

【0057】

プロセス９００は、少なくとも３つの異なる配向の繊維を有する複数のプライを含む複合物体を試験するための走査パターンを識別する（工程９０２）ことにより開始しうる。例えば、複合物体は、第１の繊維配向の繊維を有する第１の複数のプライ、第２の繊維配向の繊維を有する第２の複数のプライ、第３の繊維配向の繊維を有する第３の複数のプライ、及び第４の繊維配向の繊維を有する第４の複数のプライを有しうる。これらの繊維配向の１つは、一次繊維配向と見なされる０度の繊維配向である。いくつかの実施例では、工程９０２で識別される走査パターンは、ラスタパターンでありうる。

【0058】

次いで、一次プレートペアを複合物体の一次繊維配向に位置合わせするために、複数のプレートペアを含む試験デバイスが複合物体に対して配向される（工程９０４）。例えば、試験デバイスは、複合物体の第１の複数のプライ、第２の複数のプライ、第３の複数のプライ、第４の複数のプライ毎のプレートペアを含みうる。１つの例示的な実施例では、一次プレートペアは、０度の繊維配向である一次繊維配向と位置合わせするように設計されたプレートペアでありうる。

【0059】

その後、試験デバイスは、複合物体の表面上で、識別された走査パターンに基づき決定される初期位置まで移動される（工程９０６）。電圧測定値は、試験デバイスの現在位置において、複数のプレートペアのプレートペア毎に収集される（工程９０８）。プレートペア毎に、工程９０８は、回路の測定分岐から電圧出力を生成することを含み、この測定分岐は、少なくともプレートペア、複合物体（これにより、プレートペアに対応する繊維配向のプライの等価直列抵抗）、及び基準抵抗器を含む。

【0060】

いくつかの例示的実施例では、工程９０８は、オプションで、回路の基準分岐についての電圧測定値を生成することを含み、この基準分岐は、複合物体の予想される等価直列抵抗に設定された少なくとも２つの抵抗器を含む様々な電子部品を含む。先ほど上記で検討されたように、予想される等価直列抵抗は、複合物体内のプライ数、プライの各々の厚さ（及び／又は複合物体の厚さ）、並びにプライ密度に基づいている。他の例示的実施例では、工程９０８でプレートペアのために生成された電圧測定値は、プレートペアに対応する測定分岐からの第１の電圧出力と基準分岐からの第２の電圧出力との間の差である電圧差である。

【0061】

その後、走査パターンに従って試験される次の位置があるかどうか決定される（工程９１０）。次の位置がある場合、試験デバイスが次の位置まで移動される（工程９１２）。次いで、収集された電圧測定値が処理され、複合物体内にプライの不整合が存在するかどうかが決定されて（工程９１４）、その後、プロセスが終了する。再び工程９１０を参照すると、走査すべき次の位置が存在しない場合、プロセス９００は、上記の工程９１４に直接進む。

【0062】

図１０は、例示的な実施形態による電圧測定値を処理するためのフローチャートである。プロセス１０００は、図９の工程９１４が実施されうる１つの方法の実施例でありうる。プロセス１０００は、図１のコンピュータシステム１４０などのコンピュータシステム又はいくつかの他の種類のプロセッサを使用して、実施されうる。

【0063】

プロセス１０００は、２次元マップセット内の繊維配向ごとに収集された電圧測定値をプロットすること（工程１００２）によって開始しうる。２次元マップセットは、例えば、異なる繊維配向毎に２次元マップを含みうる。１つ又は複数の実施例では、所与の繊維配向の２次元マップは、その繊維配向のプライ内にプライの不整合が検出されるかどうかの視覚的表示を提供する等高線図である。

【0064】

場合によっては、プロセス１０００は、電圧測定値の標準偏差を２次元標準偏差マップセット内にプロットすること（工程１００４）を更に含み、その後、プロセスは終了する。２次元標準偏差マップセットは、繊維配向毎に２次元標準偏差マップを含む。所与の繊維配向の２次元標準偏差マップは、プライの不整合の検出がどのように信頼性があり正確であるかを示す。

【0065】

図示している種々の実施形態におけるフローチャート及びブロック図は、例示的な実施形態における装置及び方法の、いくつかの可能な実施態様のアーキテクチャ、機能性、及び動作を示している。そのため、フローチャート又はブロック図内の各ブロックは、モジュール、セグメント、機能、及び／又は動作若しくはステップの一部を表しうる。

【0066】

図示している種々の実施形態におけるフローチャート及びブロック図は、例示的な実施形態における装置及び方法の、いくつかの可能な実施形態のアーキテクチャ、機能性、及び動作を示している。例えば、場合によっては、連続して示されている２つのブロックが、関連機能に応じて、実質的に同時に実行されること、また時には、逆順に実施されることがありうる。また、フローチャート又はブロック図に示されているブロックに加えて、他のブロックが追加されることもある

【0067】

図１１は、例示的な実施形態による２次元マップセットの例である。２次元マップセット１１００は、図１０の工程１００２で生成される２次元マップセットの１つの実施態様の例である。

【0068】

２次元マップセット１１００は、各々が複合物体の異なる繊維配向に対する２次元マップである、マップ１１０２、マップ１１０４、マップ１１０６、及びマップ１１０８を含む。特に、これらのマップの各々が、複合物体に対して収集された電圧測定値の等高線図である。これらの電圧測定値は、電圧差である。更に、これらのマップの各々は、複合物体の表面の座標系と一致するＭ－Ｎ座標系を有する。

【0069】

マップ１１０２は、０度の繊維配向の繊維を有する複合物体のプライの２次元マップである。マップ１１０２は、電圧測定値のプロット１１１０を含む。この例示的実施例では、プライの不整合は、位置１１１２で視覚的に示される（又は検出される）。マップ１１０４は、４５度の繊維配向の繊維を有する複合物体のプライの２次元マップである。マップ１１０４は、電圧測定値のプロット１１１４を含む。この例示的実施例では、プライの不整合は、位置１１１６で視覚的に示される（又は検出される）。

【0070】

マップ１１０６は、４５度の繊維配向の繊維を有する複合物体のプライの２次元マップである。マップ１１０６は、電圧測定値のプロット１１１８を含む。この例では、プライの不整合は、位置１１２０で視覚的に示される（又は検出される）。マップ１１０８は、９０度の繊維配向の繊維を有する複合物体のプライの２次元マップである。マップ１１０８は、電圧測定値のプロット１１２２を含む。この例では、プライの不整合は、位置１１２４で視覚的に示される（又は検出される）。

【0071】

プロット１１１０、１１１４、１１１８、及び１１２２が、パターン化された線で図１１に示される。プロット１１１０、１１１４、１１１８、及び１１２２の異なるパターン化された線の各々は、異なる電圧測定値を表す。例えば、特定の値のある範囲内の電圧測定値が、あるパターンを使用してプロット化され、その一方で、異なる値のある範囲内の電圧測定値は、別のパターンを使用してプロット化されうる。他の例示的実施例では、プロット１１１０、１１１４、１１１８、及び１１２２は、異なる線のパターンの代わりに、異なる色を使用してもよい。

【0072】

図１２は、例示的な実施形態による、２次元標準偏差マップセットの例である。２次元標準偏差マップセット１２００は、図１０の工程１００４で生成された２次元標準偏差マップセットの１つの実施態様の例である。

【0073】

２次元標準偏差マップセット１２００は、図１２の２次元マップセット１２００に提供される電圧測定値データの標準偏差をとることによって生成される。２次元標準偏差マップセット１２００は、マップ１２０２、１２０４、１２０６、及び１２０８を含む。これらのマップの各々は、２次元標準偏差マップである。特に、これらのマップの各々は、標準偏差の等高線図である。

【0074】

マップ１２０２は、図１２のマップ１２０２の電圧測定値の標準偏差についての等高線図であるプロット１２１０を含む。プロット１２１０は、位置１２１２におけるプライの不整合の検出に加え、０度の繊維配向の電圧測定値データに多少のノイズが存在することを示す。マップ１２０４は、図１２のマップ１２０４の電圧測定値の標準偏差についての等高線図であるプロット１２１４を含む。プロット１２１４は、位置１２１４でのプライの不整合の検出以外に、４５度配向の電圧測定値データに最小のノイズが存在することを示す。

【0075】

マップ１２０６は、図１２のマップ１２０６の電圧測定値の標準偏差についての等高線図であるプロット１２１８を含む。プロット１２１８は、位置１２２０でのプライの不整合の検出以外に、－４５度配向の電圧測定値データに最小のノイズが存在することを示す。マップ１２０８は、図１２のマップ１２０８の電圧測定値の標準偏差についての等高線図であるプロット１２２２を含む。プロット１２２０は、位置１２２４でのプライの不整合の検出以外に、９０度配向の電圧測定値データに最小のノイズが存在することを示す。

【0076】

したがって、上記の様々な例示的実施形態は、繊維の不連続性などのプライの不整合を容易、迅速、かつ効率的に検出するために、複合物体を非侵襲的に試験するシステム及び方法を提供する。例えば、図１－３に記載の試験デバイス１００は、これらの複合物体が所望の機械的強度及び所望の導電性を確実に有するように、製造及び修理の間、繊維の不連続性について複合物体を試験するために使用されうる。

【0077】

更に、本開示は下記の条項による実施形態を含む。

【0078】

条項１．
異なる繊維配向のプライ（１０３）の抵抗を測定するために位置合わせされた２つの容量性プレート（１２４－１３８，６１０－６２０，７１６－７３８）を各々が備える、少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）を含む複数のプレートペア（１１２，６０４－６０８，７０４－７１４）と、
複数のプレートペア（１１２）が取り付けられるベース（１０２，６０２，７０２）と
を備える、装置。

【0079】

条項２．複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における抵抗を測定するための第１のプレートペア（１１６）と、
４５度の繊維配向における抵抗を測定するための第２のプレートペア（１１８）と、
９０度の繊維配向における抵抗を測定するための第３のプレートペア（１２０）と、
－４５度の繊維配向における抵抗を測定するための第４のプレートペア（１２２）と
を含む、条項１に記載の装置。

【0080】

条項３．複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における抵抗を測定するための第１のプレートペア（６０４）と、
６０度の繊維配向における抵抗を測定するための第２のプレートペア（６０６）と、
－６０度の繊維配向における抵抗を測定するための第３のプレートペア（６０８）と
を含む、条項１に記載の装置。

【0081】

条項４．複数のプレートペア（１１２）が、
０度の繊維配向における抵抗を測定するための第１のプレートペア（７０４）と、
３０度の繊維配向における抵抗を測定するための第２のプレートペア（７０６）と、
６０度の繊維配向における抵抗を測定するための第３のプレートペア（７０８）と、
９０度の繊維配向における抵抗を測定するための第４のプレートペア（７１０）と、
－６０度の繊維配向における抵抗を測定するための第５のプレートペア（７１２）と、
－３０度の繊維配向における抵抗を測定するための第６のプレートペア（７１４）と
を含む、条項１に記載の装置。

【0082】

条項５．複数のプレートペア（１１２）が、複数のプレートペア（１１２）に対して中央に位置する試験エリアを画定する対称な八角形構成で配置される、条項１に記載の装置。

【0083】

条項６．複数のプレートペア（１１２）の各々の２つの容量性プレートが、同じ距離で分離されている、条項１に記載の装置。

【0084】

条項７．
複数の分岐（４０４－４０６，５０４－５１４）を含む回路（４００）
を更に備え、
複数の分岐のうちの１つの分岐（４０６，５０８－５１４）が、複数のプレートペア（１１２）のうちの１つのプレートペアを含み、
プレートペアが、特定の繊維配向のために設計されており、
特定の繊維配向に対する抵抗が、分岐からの電圧出力（４０９）を使用して測定される、条項１に記載の装置。

【0085】

条項８．回路（４００）が、
予想される等価直列抵抗を有する少なくとも１つの基準抵抗器（５３４，５４６，５５８，５７０）を含む基準分岐（４０４，５０６）
を更に備える、条項７に記載の装置。

【0086】

条項９．ベース（１０２，６０２，７０２）がプリント回路基板である、条項１に記載の装置。

【0087】

条項１０．ベース及び複数のプレートペア（１１２）が試験デバイス（１００，６００，７００）を形成し、試験デバイス（１００，６００，７００）が、
ベース（１０２）に取り付けられたハウジング（１０６）を更に備え、ハウジング（１０６）が、プリント回路基板に接続された回路機構を保持する、条項９に記載の装置。

【0088】

条項１１．試験デバイス（１００，６００，７００）が、
ハウジング（１０６）に取り付けられたハンドル（１０８）
を更に備え、ハンドル（１０８）により、オペレータが、試験デバイス（１００，６００，７００）を複合物体（１０１）の表面（１１０）に沿って移動できるようにする、条項１０に記載の装置。

【0089】

条項１２．２つの容量性プレートのうちの１つの容量性プレートが、
金属層
を備える、条項１に記載の装置。

【0090】

条項１３．容量性プレートが、
絶縁層
を更に備える、条項１に記載の装置。

【0091】

条項１４．複合物体（１０１）を試験するための方法であって、
少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）を含む複数のプレートペア（１１２）を、複合物体（１０１）の表面（１１０）の上に位置付けること（８０２）と、
複合物体（１０１）の複数のプライ（１０３）の抵抗を、少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）のうちの対応する１つを介して各々が測定される少なくとも３つの異なる繊維配向で測定すること（８０４）ことと
を含む、方法。

【0092】

条項１５．抵抗を測定すること（８０２）が、
複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（１１６）によって０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（１１８）によって４５度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（１２０）によって－４５度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第４のプレートペア（１２２）によって９０度の繊維配向における抵抗を測定することと
を含む、条項１４に記載の方法。

【0093】

条項１６．抵抗を測定すること（８０２）が、
複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（６０４）によって０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（６０６）によって６０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（６０８）によって－６０度の繊維配向における抵抗を測定することと
を含む、条項１４に記載の方法。

【0094】

条項１７．抵抗を測定すること（８０２）が、
複数のプレートペア（１１２）内の第１のプレートペア（７０４）によって０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第２のプレートペア（７０６）によって３０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第３のプレートペア（７０８）によって－３０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第４のプレートペア（７１０）によって６０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第５のプレートペア（７１２）によって－６０度の繊維配向における抵抗を測定することと、
複数のプレートペア（１１２）内の第６のプレートペア（７１４）によって９０度の繊維配向における抵抗を測定することと
を含む、条項１４に記載の方法。

【0095】

条項１８．
複数のプレートペア（１１２）を含む試験デバイス（１００，６００，７００）を、複合物体（１０１）の表面（１１０）に沿ってラスタパターンで移動させること（９０６）
を更に含む、条項１７に記載の方法。

【0096】

条項１９．抵抗を測定すること（８０２）が、
複合物体（１０１）の表面（１１０）に沿った複数の位置の各々において、少なくとも３つのプレートペア（１１６－１２２，６０４－６０８，７０４－７１４）の各々に対して電圧測定値を生成すること（９０８）
を含む、条項１４に記載の方法。

【0097】

条項２０．
ベース（１０２，６０２，７０２）と、
ベース（１０２，６０２，７０２）に取り付けられた複数のプレートペア（１１２）と
を備え、
各プレートペアが、異なる繊維配向について複合物体（１０１）内のプライ（１０３）の抵抗を測定するように位置合わせされた２つの容量性プレート（１２４－１３８，６１０－６２０，７１６－７３８）を含み、
複数のプレートペア（１１２）間のエリアがターゲットエリア（２１０，６２２，７４０）を画定し、
複数のプレートペア（１１２）が複合物体（１０１）の表面（１１０）上に位置付けられると、表面（１１０）上の複数の異なる位置の各々で生成された電圧測定値が、複合物体（１０１）内に繊維の不連続性が存在するかどうかの表示を提供する、試験デバイス（１００，６００，７００）。

【0098】

種々の例示的な実施形態についての説明は、例示及び説明を目的として提示されており、網羅的であること、又は開示された形態の実施形態に限定することを意図するものではない。当業者には、多数の改変例及び変形例が自明となろう。更に、種々の例示的な実施形態は、他の望ましい実施形態と比較して、異なる特徴を提供しうる。選択された１つ又は複数の実施形態は、実施形態の原理や実際の用途の最善な説明を提供するために、かつ、他の当業者が、想定される特定の用途に適する様々な修正例を伴う様々な実施形態の開示内容を理解することを可能にするために、選択及び説明されている。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】