(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-10-23
(45)【発行日】2024-10-31
(54)【発明の名称】データパケット信号トランシーバを試験するための方法
(51)【国際特許分類】
H04B 17/29 20150101AFI20241024BHJP
H04B 17/15 20150101ALI20241024BHJP
【ＦＩ】
H04B17/29
H04B17/15
【請求項の数】
14
(21)【出願番号】P 2021540411
(86)(22)【出願日】2020-01-08
(65)【公表番号】
(43)【公表日】2022-03-03
(86)【国際出願番号】 US2020012678
(87)【国際公開番号】W WO2020150051
(87)【国際公開日】2020-07-23
【審査請求日】2022-12-26
(31)【優先権主張番号】16/248,473
(32)【優先日】2019-01-15
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(73)【特許権者】
【識別番号】507308186
【氏名又は名称】ライトポイント・コーポレイション
【氏名又は名称原語表記】ＬｉｔｅＰｏｉｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ
(74)【代理人】
【識別番号】100083806
【弁理士】
【氏名又は名称】三好 秀和
(74)【代理人】
【識別番号】100095500
【弁理士】
【氏名又は名称】伊藤 正和
(74)【代理人】
【識別番号】100111235
【弁理士】
【氏名又は名称】原 裕子
(74)【代理人】
【識別番号】100195257
【弁理士】
【氏名又は名称】大渕 一志
(72)【発明者】
【氏名】オルガード、 クリスチャン ヴォルフ
(72)【発明者】
【氏名】ワン、 ルイツ
【審査官】前田 典之
(56)【参考文献】
【文献】特表２０１８－５１７３３３（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００７－２３５９５９（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００４－０５６２１６（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０４Ｂ １７／２９
Ｈ０４Ｂ １７／１５
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法であって、ＤＵＴに由来する複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を、テスタが受信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、前記複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、前記テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、前記ＩＤＴＰｎは、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は前記最小ＩＤＴＰと前記最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有することと、
前記テスタが各ＲＤＴＰｎを、その対応するＩＤＴＰｎに関連付けることと、
トリガフレームを含むとともにテスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を、前記ＤＵＴのための前記テスタが送信することであって、前記トリガフレームは、前記テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）であって、前記ＲＴＴＰ及び前記ＴＴＯＰは等しくない、ＲＴＴＰと、前記ＤＵＴから前記テスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含むことと、
ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を、前記テスタが前記ＤＵＴから受信することと、
前記ＤＵＴから前記テスタが受信した前記ＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを決定することと、
前記決定されたＩＤＴＰｎをＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較して、前記ＤＵＴが決定した受信信号強度インジケータ（ＲＳＳＩ）の正確さを決定することと、
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記送信、ＤＵＴデータパケット信号の前記受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、及び前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を繰り返すことと
を含む、方法。
【請求項2】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記送信、ＤＵＴデータパケット信号の前記受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、及び前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの一定値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記受信を繰り返すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記送信、ＤＵＴデータパケット信号の前記受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、並びに前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの複数の相互に異なる値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記受信を繰り返すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項4】
前記テスタが各ＲＤＴＰｎを、その対応するＩＤＴＰｎに前記関連付けることは、その対応するＩＤＴＰｎに従って、各ＲＤＴＰｎを記憶することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項5】
被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法であって、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を、テスタのためのＤＵＴが送信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、前記複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、前記テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、前記ＩＤＴＰｎは、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は前記最小ＩＤＴＰと前記最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有することと、
トリガフレームを含むとともにテスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を、前記ＤＵＴが前記テスタから受信することであって、前記トリガフレームは、前記テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）であって、前記ＲＴＴＰ及び前記ＴＴＯＰは等しくない、ＲＴＴＰと、前記ＤＵＴから前記テスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含むことと、
ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を、前記テスタのための前記ＤＵＴが送信することであって、前記ＤＵＴから前記テスタが受信した前記ＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを前記テスタが決定し、前記テスタが前記決定されたＩＤＴＰｎをＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較して、前記ＤＵＴが決定した受信信号強度インジケータ（ＲＳＳＩ）の正確さを決定することと、
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記受信、及びＤＵＴデータパケット信号の前記送信を繰り返すことと、を含む、方法。
【請求項6】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記受信、及びＤＵＴデータパケット信号の前記送信を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの一定値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記送信を繰り返すことを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項7】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の前記受信、及びＤＵＴデータパケット信号の前記送信を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの複数の相互に異なる値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記送信を繰り返すことを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項8】
前記テスタが、各ＲＤＴＰｎをその対応するＩＤＴＰｎに従って記憶することによって、各ＲＤＴＰｎをその対応するＩＤＴＰｎに関連付けることを更に含む、請求項５に記載の方法。
【請求項9】
前記テスタのための前記ＤＵＴが、ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を前記送信することに続いて、前記ＤＵＴから前記テスタによって受信した前記ＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを決定することを更に含む、請求項５に記載の方法。
【請求項10】
被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法であって、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を、ＤＵＴが送信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、前記複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、前記ＩＤＴＰｎは、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は前記最小ＩＤＴＰと前記最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有することと、
前記テスタが、各ＲＤＴＰｎをその対応するＩＤＴＰｎと関連付けることによって、前記複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の受信に応答することと、
トリガフレームを含むとともにテスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を、前記テスタが送信することであって、前記トリガフレームは、前記テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）であって、前記ＲＴＴＰ及び前記ＴＴＯＰは等しくない、ＲＴＴＰと、前記ＤＵＴから前記テスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含むことと、
前記ＤＵＴが前記テスタデータパケット信号を受信することと、
ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を、前記ＤＵＴが送信することと、
前記テスタが、前記ＤＵＴから前記テスタが受信した前記ＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを決定することによって、ＲＤＴＰｎを有する前記ＤＵＴデータパケット信号の受信に応答することと、
前記決定されたＩＤＴＰｎをＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較して、前記ＤＵＴが決定した受信信号強度インジケータ（ＲＳＳＩ）の正確さを決定することと、
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、前記テスタデータパケット信号の前記送信及び受信、前記ＤＵＴデータパケット信号の前記送信及び受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、並びに前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を繰り返すことと
を含む、方法。
【請求項11】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、前記テスタデータパケット信号の前記送信及び受信、前記ＤＵＴデータパケット信号の前記送信及び受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、並びに前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの一定値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記受信を繰り返すことを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項12】
前記ＴＴＯＰ、前記ＲＴＴＰ、及び前記ＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、前記テスタデータパケット信号の前記送信及び受信、前記ＤＵＴデータパケット信号の前記送信及び受信、ＩＤＴＰｎの前記決定、並びに前記決定されたＩＤＴＰｎの前記比較を前記繰り返すことは、前記ＲＤＴＰｎの複数の相互に異なる値を有するＤＵＴデータパケット信号の前記受信を繰り返すことを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項13】
各ＲＤＴＰｎをその対応するＩＤＴＰｎと前記関連付けることは、前記テスタが、その対応するＩＤＴＰｎに従って各ＲＤＴＰｎを記憶することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項14】
前記ＲＴＴＰは前記ＴＴＯＰよりも大きい、請求項１、５又は１０に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、被試験データパケット信号トランシーバ装置（device under test、ＤＵＴ）を試験する、特に、テスタとＤＵＴとの間の最低限要求される相互作用を用いてＤＵＴの送信及び／又は受信性能を試験することに関する。
【背景技術】
【0002】
現代の電子装置の多くは、接続性と通信の両方の目的のために、無線信号技術を使用する。無線装置は電磁エネルギーを送受信し、かつ２つ以上の無線装置は、それらの信号周波数及びパワースペクトル密度によって互いの動作に干渉する可能性があるため、これらの無線装置及びその無線信号技術は、様々な無線技術規格仕様に準拠しなければならない。
【0003】
そのような無線装置を設計するときに、技術者らは、そのような装置が、それらに含まれる無線技術の定められた規格に基づく仕様の各々を満たし、又は超越することを確実にするために特に注意を払う。更に、これらの装置が後に大量に製造されているとき、含まれる無線信号技術規格に基づく仕様にそれらの装置が順守していることを含み、製造欠陥により誤操作を引き起こさないことを確実にするために、これらの装置は試験される。
【0004】
そのような無線装置の試験は、典型的には、被試験装置（ＤＵＴ）の受信サブシステム及び送信サブシステムの試験を伴う。試験システムは、ＤＵＴ受信サブシステムが適切に動作しているかどうかを判定するために、例えば、異なる周波数、電力レベル、及び／又は信号変調技術を使用して、ＤＵＴに試験データパケット信号の定められたシーケンスを送信する。同様に、ＤＵＴは、ＤＵＴ送信サブシステムが適切に動作しているかどうかを判定するために、試験システムによる受信及び処理のための様々な周波数、電力レベル、及び／又は変調技術で試験データパケット信号を送信する。
【0005】
これらの装置をそれらの製造及び組み立て後に試験するために、現在の無線装置試験システムは、典型的には、各被試験装置（ＤＵＴ）に試験信号を提供し、各ＤＵＴから受信した信号を分析するための様々なサブシステムを有する試験システムを採用する。いくつかのシステム（しばしば「テスタ」と呼ばれる）としては、ＤＵＴに送信されるソース信号を提供するための試験信号の少なくとも１つ以上のソース（例えば、ベクトル信号発生器、又は「ｖｅｃｔｏｒ ｓｉｇｎａｌ ｇｅｎｅｒａｔｏｒ、ＶＳＧ」の形態）、ＤＵＴによって生成される信号を分析するための１つ以上の受信機（例えば、ベクトル信号分析器、又は「ｖｅｃｔｏｒ ｓｉｇｎａｌ ａｎａｌｙｚｅｒ、ＶＳＡ」の形態）を含む。ＶＳＧによる試験信号の生成及びＶＳＡによって行われる信号分析とは、（例えば、内部プログラム可能なコントローラ、又はパーソナルコンピュータなどの外部プログラム可能なコントローラの使用を通して）概してプログラム可能であり、各々が、様々な周波数範囲、帯域幅、及び信号変調特性で、様々な無線技術の規格への準拠について様々な装置を試験するために使用されることを可能にする。
【0006】
ＩＥＥＥ ８０２．１１規格のセット内の最近の無線ローカルエリアネットワーク（wireless local area network、ＷＬＡＮ）規格は、ＩＥＥＥ８０２．１１ａｘとして知られており、既存の２．４ＧＨｚ及び５ＧＨｚのスペクトルで動作し、それらが利用可能となるように１～７ＧＨｚの追加帯域を組み込む予定である。ＭＩＭＯ及びＭＵ－ＭＩＭＯを使用することに加えて、ＯＦＤＭＡは、全体的なスペクトル効率と、スループットの増大のためのより高次の１０２４－ＱＡＭ変調サポートを改善するように導入されている。公称データレートは、ＩＥＥＥ８０２．１１ａｃよりも３７％高いだけであるが、より効率的なスペクトル利用及び高密度配置の改善により、平均ユーザスループットに対して４倍の増加を達成することが期待される。しかしながら、装置の送信（ＴＸ）電力及び受信信号強度インジケータ（received signal strength indicator、ＲＳＳＩ）読み取り値の８０２．１１ａｘ電力精度についての要件は、ＷＬＡＮ内でのその互換性及び動作を確実にするために、著しくより制限的である。
【0007】
したがって、ＴＸ電力及びＲＳＳＩは、製造プロセスの一部として較正され、試験されなければならない。ＴＸ電力試験は、一般に、単純であり、ＭＰＳ（ｍｕｌｔｉ ｐａｃｋｅｔ ｔｅｓｔｉｎｇ、マルチパケット試験）のような技術で効率について最適化することができるが、ＲＳＳＩ試験は、典型的には、その測定又は報告されたＲＳＳＩ値についてＤＵＴに問い合わせる必要がある。しかしながら、クエリ及び応答パケットの交換に対応するために必要とされる追加の試験時間により、ＤＵＴに問い合わせることは非効率的である。
【0008】
加えて、製造試験の開発ソフトウェアは、ＤＵＴ較正が、多くの場合、チップセット製造業者のうちで、及び製造業者によるチップセットごとに異なって実装されるという事実によって、著しく複雑である。例えば、上記のように、受信（ＲＸ）信号動作の較正は、多くの場合、ＤＵＴにその受信機動作状態及び／又は性能について問い合わせる必要があるため、特に時間がかかる。
【発明の概要】
【0009】
被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験するためのシステム及び方法が提供される。多数の連続するＤＵＴデータパケット信号がテスタによって受信され、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、各ＤＵＴデータパケット信号は、テスタによって受信され、多数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、ＩＤＴＰｎが、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は最小ＩＤＴＰと最大ＩＤＴＰとの間の中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有する。各ＲＤＴＰｎをその対応するＩＤＴＰｎに関連付けることに続いて、トリガフレームを含み、テスタ送信出力電力（tester transmit output power、ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号が送信され、トリガフレームが、テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（reported tester transmit power、ＲＴＴＰ）と、ＤＵＴからテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（received signal strength、ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含む。ＲＤＴＰｎを有する戻りＤＵＴデータパケット信号が受信され、そこから、ＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎが決定され、ＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較される。ＴＴＯＰ、ＲＴＴＰ、及びＤＲＳＳの値の多数の組み合わせについて、このようなテスタ及びＤＵＴデータパケット信号及びＩＤＴＰｎ比較の連続的な繰り返しにより、テスタとＤＵＴとの間の信号相互作用を最小限に抑えて、ＲＳＳＩ測定値を抽出することを含む、ＤＵＴの受信性能を試験することが可能になる。
【0010】
例示的実施形態によれば、被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法は、テスタで、ＤＵＴに由来する複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を受信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、ＩＤＴＰｎが、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は最小ＩＤＴＰと最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有する、受信することと、テスタで、各ＲＤＴＰｎを、その対応するＩＤＴＰｎに関連付けることと、ＤＵＴに対するテスタで、トリガフレームを含み、テスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を送信することであって、トリガフレームが、テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）であって、ＲＴＴＰ及びＴＴＯＰが等しくない、ＲＴＴＰと、ＤＵＴからテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含む、送信することと、ＤＵＴからテスタで、ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を受信することと、ＤＵＴからテスタで受信したＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを決定することと、決定されたＩＤＴＰｎをＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較することと、テスタデータパケット信号の送信、ＤＵＴデータパケット信号の受信、ＩＤＴＰｎの決定、及びＴＴＯＰ、ＲＴＴＰ、及びＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、決定されたＩＤＴＰｎを比較することと、を含む。
【0011】
更なる例示的実施形態によれば、被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法は、テスタに対するＤＵＴで、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を送信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、ＩＤＴＰｎが、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は最小ＩＤＴＰと最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有する、送信することと、テスタからＤＵＴで、トリガフレームを含み、テスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を受信することであって、トリガフレームが、テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）データであって、ＲＴＴＰ及びＴＴＯＰが等しくない、ＲＴＴＰと、ＤＵＴからテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含む、受信することと、テスタに対するＤＵＴで、ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を送信することと、ＴＴＯＰ、ＲＴＴＰ、及びＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の送信、及びＤＵＴデータパケット信号の受信を繰り返すことと、を含む。
【0012】
更なる例示的実施形態によれば、被試験データパケット信号トランシーバ装置（ＤＵＴ）の受信性能を試験する方法は、ＤＵＴで、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号を送信することであって、ｎ＝１、．．．、ｍに対して、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の各々が、テスタによって受信され、複数の意図されるＤＵＴ送信電力のそれぞれ１つ（ＩＤＴＰｎ）に対応するそれぞれのＤＵＴ送信電力（ＲＤＴＰｎ）を有し、ＩＤＴＰｎが、最小ＩＤＴＰ若しくは最大ＩＤＴＰ、又は最小ＩＤＴＰと最大ＩＤＴＰとの間の少なくとも１つの中間ＩＤＴＰのうちの１つに等しい電力を有する、送信することと、テスタで、各ＲＤＴＰｎを対応するＩＤＴＰｎと関連付けることによって、複数の連続するＤＵＴデータパケット信号の受信に応答することと、テスタで、トリガフレームを含み、テスタ送信出力電力（ＴＴＯＰ）を有するテスタデータパケット信号を送信することであって、トリガフレームが、テスタデータパケット信号の報告されたテスタ送信電力（ＲＴＴＰ）であって、ＲＴＴＰ及びＴＴＯＰが等しくない、ＲＴＴＰと、ＤＵＴからテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号の所望の受信信号強度（ＴＲＳＳ）と、に対応するデータを含む、送信することと、ＤＵＴで、テスタデータパケット信号を受信することと、ＤＵＴで、ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号を送信することと、テスタで、ＤＵＴからテスタで受信したＲＤＴＰｎに対応するＩＤＴＰｎを決定することによって、ＲＤＴＰｎを有するＤＵＴデータパケット信号の受信に応答することと、決定されたＩＤＴＰｎをＲＴＴＰ－ＴＴＯＰ＋ＴＲＳＳと比較することと、ＴＴＯＰ、ＲＴＴＰ、及びＴＲＳＳの値の複数の組み合わせについて、テスタデータパケット信号の送信及び受信、ＤＵＴデータパケット信号の送信及び受信、ＩＤＴＰｎの決定、並びに決定されたＩＤＴＰｎの比較を繰り返すことと、を含む。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】例示的実施形態による、データパケット信号トランシーバ装置を試験するための有線又は導電性試験環境を示す。
【0014】
【図2】例示的実施形態による、データパケット信号トランシーバ装置を試験するための無線又は放射性試験環境を示す。
【0015】
【図3】例示的実施形態による、データパケット信号トランシーバ装置を試験するための所定の意図された電力レベルを有する多数のデータパケットのＤＵＴによる送信を示す。
【0016】
【0017】
【図5】例示的実施形態による、データパケット信号トランシーバ装置を試験するためのテスタとＤＵＴとの間のデータパケット信号交換の例示的なシーケンスを示す。
【0018】
【図6】ＤＵＴからの、最小から最大までの理想的及び現実的な利用可能な送信電力レベルの比較グラフを示す。
【0019】
【図6A】２つの例示のステップサイズ解像度に従って、対応する意図されたか、又はプログラムされたＤＵＴ出力電力に応答して生成された実際のＤＵＴ出力電力の多数の値を定性的に示す。
【0020】
【図7】ＤＵＴによる受信信号強度表示（ＲＳＳＩ）測定の理想的及び現実的な線形性の比較グラフを示す。
【0021】
【図8】例示的実施形態による、データパケット信号トランシーバ装置を試験するためのテスタとＤＵＴとの間のデータパケット信号交換の別の例示のシーケンスを示す。
【0022】
【発明を実施するための形態】
【0023】
以下の発明を実施するための形態は、添付の図面を参照した、本特許請求の範囲に記載された発明の例示の実施形態である。このような説明は、例証となることを意図しており、本発明の範囲について限定するものではない。このような実施形態は、当業者が対象となる発明を実施することが可能になるように、十分詳細に記載されており、また、他の実施形態が、対象となる発明の趣旨又は範囲から逸脱することなく、何らかの変形例を伴って実施され得ることが、理解されるであろう。
【0024】
本開示を通じて、文脈からの矛盾に対する明示がない限り、記載されるような個々の回路素子は、単数又は複数でもよいことが理解されるであろう。例えば、「回路（circuit）」という用語及び「回路（circuitry）」という用語は、単一の構成要素又は複数の構成要素のいずれかを含んでもよく、これらは能動型及び／又は受動型のいずれかであってもよく、記載した機能を提供するために、互いに接続、又はそうでなければ（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）結合される。加えて、「信号」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指すことができる。図面内で、同様の、又は関連する要素は、同様の、又は関連するアルファベット、数字、又は英数字の識別子を有することとなる。更に、本発明は、個別の電子回路（好ましくは、１つ以上の集積回路チップの形態）を使用する実施態様の関連で考察されているが、このような回路のいかなる部分の機能も、代替的に、処理される信号周波数又はデータ転送速度により、１つ以上の適切にプログラムされたプロセッサを使用して実装され得る。更に、図面が様々な実施形態の機能ブロックの図を示す範囲において、この機能ブロックは、必ずしもハードウェア回路同士の区分を示すものではない。
【0025】
携帯電話、スマートフォン、タブレットなどの無線装置は、ＩＥＥＥ ８０２．１１ ａ／ｂ／ｇ／ｎ／ａｃ（「ＷｉＦｉ」）、３ＧＰＰ ＬＴＥ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、Ｚｉｇｂｅｅ（登録商標）、Ｚ－Ｗａｖｅ（登録商標）などの規格に基づく技術を使用する。これらの技術の下にある規格は、信頼性の高い無線接続性及び／又は通信を提供するように設計される。規格は、一般に、エネルギー効率であるように設計され、無線スペクトルに隣接するか又は共有する同じ技術又は他の技術を使用して装置間の干渉を最小限に抑えるように設計される物理的及びより高レベルの仕様を定める。
【0026】
これらの規格によって定められた試験は、そのような装置が基準仕様に準拠するように設計されており、製造された装置がその定められた仕様に準拠し続けることを確実にすることを意味する。ほとんどの装置は、少なくとも１つ以上の受信機及び１つ以上の送信機を含むトランシーバである。したがって、試験は、受信機と送信機の両方が準拠するかどうかを確認することが意図される。ＤＵＴの受信機の試験（ＲＸ試験）は、典型的には、試験パケットを受信機に送信する試験システム（テスタ）と、ＤＵＴ受信機がそれら試験パケットに対してどのように応答するかを決定する何らかの方式とを伴う。ＤＵＴの送信機の試験（ＴＸ試験）は、それらがパケットを試験システムに送信するようにして、次いで、試験システムがＤＵＴからの信号の様々な物理的特性を評価し得ることによって行われる。
【0027】
Ｗｉ－Ｆｉ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ、Ｚｉｇｂｅｅ、及びＺ－Ｗａｖｅ装置などの無線装置の試験は、テスタとＤＵＴとの間の頻繁な双方向メッセージングから、試験フローの主要部分が、固有の装置識別子及びＰＨＹの部分のみがアクティブである非リンク試験ソリューションを用いて、テスタとＤＵＴ内で実行されるか、又はこれらの間で調整される頻繁ではない双方向メッセージングまでわたる。しかしながら、このような試験の結果は、プロトコルスタックの上位レベルがアクティブではないため、典型的には、通信ポート及び経路を介してＤＵＴからテスタに搬送され、それによって、データが送信されたパケット内でデータが容易に搬送されることを防止する。したがって、ＤＵＴとテスタとの間の唯一の接続は、伝導又は放射された信号経路かのいずれかであり、交換されたデータはデータパケットを介している場合、ＤＵＴが、非リンク試験方法を使用して試験結果をテスタに搬送することは難しく、場合によって全くできない。以下でより詳細に考察されるように、本特許請求の範囲に記載された発明の例示的実施形態によれば、ＲＦデータパケットトランシーバの試験は、少なくとも部分的に、ネットワークデータパケット信号通信プロトコルの下位層で試験することによって行われ得る。
【0028】
図１を参照すると、典型的な試験環境１０ａは、テスタ１２及びＤＵＴ１６を含み、典型的には同軸ＲＦケーブル２０ｃ及びＲＦ信号コネクタ２０ｔｃ、２０ｄｃの形態で、導電性信号経路２０ａを介してテスタ１２とＤＵＴ１６との間で搬送されるＲＦ信号として、試験データパケット信号２１ｔ及びＤＵＴデータパケット信号２１ｄが交換される。上記のように、テスタは、典型的には、信号ソース１４ｇ（例えば、ＶＳＧ）及び信号分析器１４ａ（例えば、ＶＳＡ）を含む。テスタ１２及びＤＵＴ １６はまた、典型的にはテスタ１２内のファームウェア１４ｆ及びＤＵＴ１６内のファームウェア１８ｆに具現化される所定の試験シーケンスに関して予めロードされた情報を含むことができる。所定の試験フローに関するこのファームウェア１４ｆ、１８ｆ内の試験の詳細は、典型的には、データパケット信号２１ｔ、２１ｄを介して、テスタ１２とＤＵＴ１６との間の何らかの形態の明示的同期を必要とする。
【0029】
代替的には、試験は、本明細書に示されるように、テスタ１２又は外部（例えば、ローカル又はネットワーク化されたプログラムされたパーソナルコンピュータ）と一体であり得るコントローラ３０によって制御され得る。コントローラ３０は、１つ以上の信号経路（例えば、イーサネットケーブリング、ネットワークスイッチ及び／又はルータなど）３１ｄを介してＤＵＴ１６と通信して、コマンド及びデータを搬送することができる。テスタ１２の外部にある場合、コントローラ３０は、追加のコマンド及びデータを搬送するために、１つ以上の追加の信号経路（例えば、イーサネットケーブリング、ネットワークスイッチ及び／又はルータなど）３１ｔを介して、テスタ１２と更に通信することができる。
【0030】
コントローラ３０及びテスタ１２は、別個の装置又はシステムとして示されるが、以下の考察において「テスタ」への言及は、本明細書に示されるような別個の装置又はシステムを含んでもよく、また、上述のコントローラ３０及びテスタ１２の機能及び能力が共通のハードウェアインフラストラクチャ内に共配置され得る組み合わせ装置又はシステムを含んでもよい。したがって、特に具体的に必要とされる又は限定されない限り、様々な制御機能及び／又はコマンドに対する参照は、テスタ１２、コントローラ３０、又は組み合わせられたテスタ／コントローラシステム（図示せず）に由来するものと見なされてもよい。同様に、コマンド、データなどの記憶は、テスタ１２、コントローラ３０又は組み合わせられたテスタ／コントローラシステム、代替的には、上記のようにネットワークを介して遠隔に位置するメモリ装置内で行われると見なされてもよい。
【0031】
図２を参照すると、代替的な試験環境１０ｂは、無線信号経路２０ｂを使用し、これを介して、試験データパケット信号２１ｔ及びＤＵＴデータパケット信号２１ｄがテスタ１２及びＤＵＴ１６のそれぞれのアンテナシステム２０ｔａ、２０ｄａを介して通信され得る。
【0032】
以下でより詳細に考察されるように、トリガに基づく試験（trigger based test、TBT）が有利に使用されてもよく、そこでは、テスタは、トリガフレームを含むデータパケットをＤＵＴに送信し、それによってＤＵＴに周波数補正信号で適時に応答させる。当該技術分野において周知であるように、仕様のＩＥＥＥ８０２．１１セットに準拠して、トリガフレームが、ＳＴＡ装置（例えば、試験環境内のＤＵＴ）のアクセスポイント（ａｃｃｅｓｓ ｐｏｉｎｔ、ＡＰ、例えば、試験環境内のテスタ）によって提供されてもよく、ＡＰアクセスポイントをエミュレートするテスタからの送信信号に関する様々な種類の情報を含むことができる。例えば、テスタによって（例えば、そのＶＳＧを介して）送信される実際の信号電力は、トリガフレーム内に含まれる報告されたテスタ電力レベル情報とは別個に制御されてもよく、それによってパスロスが存在しないことをエミュレートする。また、所望のＲＳＳＩ情報は、ＤＵＴによって応答で送信されるデータパケット信号の強度を識別するトリガフレームに含まれてもよい。ＤＵＴは、テスタによる報告された送信電力とＤＵＴ受信信号強度との間の電力の差としてパスロスを計算し、次いで、（テスタで）所望のＲＳＳＩに計算されたパスロスを加えた送信電力を計算することができる。
【0033】
しかしながら、テスタによって測定されるような送信電力は、意図された送信電力と実際の送信電力との間の差、及びＲＳＳＩ測定誤差の２つの誤差によって影響を受ける。以下でより詳細に考察されるように、これは、ＴＢＴ試験の前にＤＵＴによってサポートされる多数のＴＸ電力の「強制的」送信によって補償され得る。ＭＰＳを使用することによって、意図されたＴＸ電力は、送信のために選択され、テスタで測定されるような対応する実際の受信されたＴＸ電力に関連付けられた各ＤＵＴ ＴＸ電力について、事前に知られてもよい。これに続いて、従来のＴＢＴ試験が続き、測定された送信電力から、ＤＵＴによって選択された意図された電力レベルを決定することができ、それによって、ＤＵＴが選択された意図された送信電力を選択するために使用しなければならなかった（ＤＵＴにおける）ＲＳＳＩの計算を可能にする。これにより、ＤＵＴに問い合わせることなく、ＤＵＴ ＲＳＳＩの決定（例えば、推理）を可能にする。これは、ＤＵＴ内の異なるＲＳＳＩレベルに対してＴＢＴステップを繰り返し、その後、検証中にＲＳＳＩレベルを掃引することによって、更に拡張され得る。
【0034】
例えば、ＤＵＴのＴＸ電力は、既知の数の送信電力レベルについて（例えば、ＭＰＳを使用して）走査及び測定されてもよく、その後、試験される異なるＲＳＳＩレベルについてＴＢＴ試験を行ってもよく、その間、目標電力レベルは固定されたままであってもよく、又は変動してもよい。固定された目標電力（テスタによって受信されるようなＤＵＴ ＴＸ信号の電力）を維持することにより、（例えば、ＶＳＧ出力電力レベルを変化させることによって、ＤＵＴによって見えるように異なるパスロスを効果的にモデリングして）試験データパケットの再使用を可能にするが、それによって、大きいＲＳＳＩ範囲を掃引するときにＤＵＴ内の電力範囲を制限することがある。上記のように、ＤＵＴによって選択されたＴＸ電力レベルが識別されると、ＤＵＴ内の対応するＲＳＳＩが計算されてもよい。代替的には、異なるトリガフレームパケットを送信している間に一定のＶＳＧ出力電力が維持されてもよい（例えば、修正され報告されたＶＳＧ出力電力及び目標テスタＲＳＳＩレベルで）。
【0035】
図３及び図４を参照すると、所定の意図された電力レベル１０２ｉを有する多数のデータパケット信号（例えば、各々が所望の又は必要に応じて単一又は多数のデータパケットを有する）のシーケンス１０２は、ＤＵＴによって送信され、テスタによって受信されて、各送信に対する対応する実際の電力レベル１０２ｒを決定してもよい。例えば、ＭＰＳは、最初に、ＤＵＴ内の所与のＴＸ電力設定に対して、テスタによって（例えば、ＶＳＡで）測定されるようなＤＵＴ ＴＸ電力を決定するために使用され得る。これは、ＤＵＴ ＴＸ電力精度を検証するのに有利であり得る。ＤＵＴは、所望の又は必要に応じて、例えば、第１の電力ＴＸ１０（１０ｄｂｍ）で始まり、１つ以上の同様のデータパケット送信、例えばＴＸ１１、ＴＸ１２、．．．、ＴＸ２０が続く、単一のデータパケット又は多数のデータパケット（その数は典型的には、事前に知られている）を送信してもよい。（本実施例の目的では、ＴＸ１０、ＴＸ１１、ＴＸ１２、．．．、ＴＸ２０は、それぞれ＋１０ｄＢｍ、＋１１ｄＢｍ、＋１２ｄＢｍ、．．．、＋２０ｄＢｍの意図された電力レベル１０２ｉを示すが、他の電力範囲が所望又は必要に応じて使用されてもよい。）
【0036】
テスタ（例えば、ＶＳＡ）は、各送信された信号の受信電力１０２ｒを測定し、図示のように、それぞれ対応する意図された１０２ｉ及び受信された（例えば、ＶＳＡによって測定された）１０２ｒの表を作成する。例えば、ＤＵＴ ＴＸ信号が１５ｄＢｍと（例えば、ＤＵＴ送信機回路の設計によって）意図されたが、ＶＳＡは、１４．５ｄＢｍとして実際の受信電力を測定することがある。これらの対応する値は、（以下で考察されるように）後で使用するためにメモリに（例えば、ローカルにテスタ内で、又はネットワークを介してアクセス可能なメモリ内でリモートに）記憶されてもよい。ＤＵＴはその後、ＴＢＴモードで動作するようにプログラムされてもよい。
【0037】
図５を参照すると、示されるように、テスタデータパケット信号シーケンス２０２ｔ及びＤＵＴデータパケット信号シーケンス２０２ｄの実施例が交換し得る。これらの例は、ＤＵＴ ＴＸ電力を一定の１５ｄＢｍに間接的に制御するために異なる設定がどのように使用され得るかを実証している。所望又は必要に応じて、他のレベル及びレベルの組み合わせが使用され得る。いずれの場合も、性能特性に影響を及ぼす他の要因（例えば、熱変化など）の検出を可能にするために、１つのパラメータを一定に保つことが望ましいことがある。
【0038】
第１のテスタシーケンス２０３ｔａでは、テスタは、＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３５ｄＢｍの所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰにおいて、データパケット信号を送信し得る。第１のＤＵＴシーケンス２０３ｄａでは、ＤＵＴは、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４０ｄＢｍと決定し、以下のように知覚されるパスロスＰＰＬを計算する。
【0039】
ＰＰＬ＝ＲＴＴＰ－ＤＲＳＳ＝＋１０ｄＢｍ－（－４０ｄＢｍ）＝５０ ｄＢ
【0040】
したがって、５０ｄＢのパスロス及び－３５ｄＢｍの（パスロスを考慮した後の）テスタでの所望のＲＳＳＩで、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならない。
【0041】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３５ｄＢｍ＋５０ｄＢ＝＋１５ｄＢｍ
【0042】
テスタは、ＤＵＴからの応答データパケット信号を＋１４．４ｄＢｍの受信電力で捕捉し、これを＋１５ｄＢｍの対応するＩＤＴＰと比較する（図４）。したがって、これは予想されたものであるため、ＤＵＴによって決定されたＲＳＳＩは正確であると考えられる。
【0043】
次のテスタシーケンス２０３ｔｂにおいて、テスタは、（＋１０ｄＢｍの前のＴＴＯＰに対して）＋８ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３５ｄＢｍの同じ所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４２ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰにおいて、データパケット信号を送信し得る。応答性ＤＵＴシーケンス２０３ｄｂにおいて、ＤＵＴは、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４２ｄＢｍと決定し、以下のように知覚されるパスロスＰＰＬを計算する。
【0044】
ＰＰＬ＝ＲＴＴＰ－ＤＲＳＳ＝＋８ｄＢｍ－（－４２ｄＢｍ）＝５０ｄＢ
【0045】
したがって、５０ｄＢのパスロス及び－３５ｄＢｍの（パスロスを考慮した後の）テスタでの所望のＲＳＳＩでは、ＤＵＴは再び、＋１５ｄＢｍの意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならない。したがって、テスタは、ＤＵＴからの応答データパケット信号を、＋１４．４ｄＢｍの受信電力で捕捉し、これを＋１５ｄＢｍの対応するＩＤＴＰと比較する（図４）。再び、これは予想されたものであるため、ＤＵＴによって決定されたＲＳＳＩは正確であると考えられる。
【0046】
第３のテスタシーケンス２０３ｔｃにおいて、テスタは、（例えば、第１のシーケンス２０３ｔａにおけるように）＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３９ｄＢｍの同じ所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４４ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰにおいて、データパケット信号を送信し得る。応答性ＤＵＴシーケンス２０３ｄｃにおいて、ＤＵＴは、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４４ｄＢｍと決定し、以下のように知覚されるパスロスＰＰＬを計算する。
【0047】
ＰＰＬ＝ＲＴＴＰ－ＤＲＳＳ＝＋１０ｄＢｍ－（－４４ｄＢｍ）＝５４ｄＢ
【0048】
したがって、５４ｄＢのパスロス及び－３９ｄＢｍの（パスロスを考慮した後の）テスタでの所望のＲＳＳＩでは、ＤＵＴは再び、＋１５ｄＢｍの意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならない。したがって、テスタは、ＤＵＴからの応答データパケット信号を、＋１４．４ｄＢｍの受信電力で捕捉し、これを＋１５ｄＢｍの対応するＩＤＴＰと比較する（図４）。再び、これは予想されたものであるため、ＤＵＴによって決定されたＲＳＳＩは正確であると考えられる。
【0049】
最後のテスタシーケンス２０３ｔｄでは、誤ったＤＵＴ受信信号強度ＤＲＳＳが検出され得る。例えば、テスタは、＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３３ｄＢｍの同じ所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－３８ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰにおいて、データパケット信号を送信し得る。応答性ＤＵＴシーケンス２０３ｄｃにおいて、ＤＵＴは、（送信された－３８ｄＢｍに対して）その受信信号強度ＤＲＳＳを－３９ｄＢｍと決定し、以下のように知覚されるパスロスＰＰＬを計算する。
【0050】
ＰＰＬ＝ＲＴＴＰ－ＤＲＳＳ＝＋１０ｄＢｍ－（－３９ｄＢｍ）＝４９ｄＢ
【0051】
したがって、４９ｄＢのパスロス及び－３３ｄＢｍの（パスロスを考慮した後の）テスタでの所望のＲＳＳＩで、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならない。
【0052】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３３ｄＢｍ＋４９ｄＢ＝＋１６ｄＢｍ
【0053】
テスタは、ＤＵＴからの応答データパケット信号を、＋１５．５ｄＢｍの受信電力で捕捉し、これを＋１６ｄＢｍの対応するＩＤＴＰと比較する（図４）。したがって、これは予想されたものではないため、ＤＵＴによって決定されたＲＳＳＩは誤っていると考えられる。
【0054】
当業者には容易に理解されるように、このプロセスの多くの変形例は、例えば、ＴＴＯＰ、ＲＴＴＰ、及びＴＲＳＳの値の様々な組み合わせについて実施され得る。例えば、ＤＵＴ ＴＸ電力は必ずしも一定のままである必要はないが、一定に保つことは、温度及び温度補償機構などの一次効果の追跡を有利に可能にし得る（例えば、ＤＵＴは、温度が上昇しているために減少しているとして検出される場合に、そのＴＸ電力を増加させるように設計され得る）。
【0055】
図６を参照すると、ＤＵＴは特定の送信信号性能特性３０２ｉを提供するように設計され得るが、その実際の性能特性３０２ｒは多くの場合変動する。例えば、ＤＵＴは、理想的には、線形範囲３０３ｉｃにわたって最小電力３０３ｉａから最大電力３０３ｉｂまで送信電力レベルを提供するように設計され得るが、その現実的な送信電力レベルは、代わりに非線形範囲３０３ｉｒにわたって異なる最小電力３０３ｉｒ及び最大電力３０３ｉｒで提供され得る。
【0056】
図６Ａを参照すると、容易に理解されるように、ＤＵＴによる製造のためにテスタによって指定された特定の電力レベル３０７、３０９に応じて、試験中に指定及び測定される電力レベルの数が大きいことが望ましいことがある。したがって、最小３０３ａ及び最大３０３ｂの実際の電力レベルが正確に決定されることを確実にするために、例えば、電力が可変電力３０３ｃから最小３０３ａ又は最大３０３ｂ電力に遷移するときに電力が一定になる電力レベル３０７ｂ、３０７ｆにおいて、より多くの電力ステップを特定することが望ましいことがある。例えば、最小３０３ａ及び最大３０３ｂ出力電力レベルが最初に発生する電力レベル３０７ｂ、３０７ｆを識別するだけはなく、最小３０３ａ及び最大３０３ｂ出力電力レベルが一定のままである電力レベル３０７ａ、３０７ｇを識別する、対応する出力電力ステップ間隔３０３ｃｏｂ（「正方形」で示される）をもたらすより小さい入力電力ステップ間隔３０３ｉｃｂを使用することが好ましいことがある。これに対して、より大きい入力電力ステップ間隔３０３ｃｉａが使用される場合、対応してより大きい出力電力ステップ間隔３０３ｃｏａ（「円」で示される）は、最小３０３ａ及び最大３０３ｂ出力電力レベルが最初に発生する遷移電力レベル３０７ｂ、３０７ｆを捕捉し損なうことをもたらすことがある。
【0057】
図７を参照すると、同様に、ＤＵＴは特定の受信信号性能特性を提供するように設計され得るが、その実際の性能特性は多くの場合変動する。例えば、ＤＵＴは、理想的には、期待される受信信号３０３ｉｃの範囲にわたって受信信号強度３０５ｉを線形的に決定するように設計され得るが、その現実的に測定された受信信号強度３０５ｒは非線形分散を呈し得る。
【0058】
更なる例示的実施形態によれば、トリガに基づく試験（ＴＢＴ）を使用して、その挙動を制御し、（例えば、初期のデフォルト較正が一般的に設計及び早期の製造プロセス中に行われているため、トリム較正の形態で）較正を実行するために必要なパラメータの抽出を可能にするために、ＤＵＴに情報が提示されることを可能にしてもよい。ＴＢＴの一部として、ＤＵＴに送信されるパケットは、（例えば、テスタからの）データパケット送信電力、及び（テスタにおける）所望のＲＳＳＩに関する情報を含んでもよい。ＤＵＴは、これを使用して、データパケットのソース（テスタ）とＤＵＴとの間のパスロス（パスロス＝データパケットの送信電力－ＤＵＴでのＲＳＳＩ）を決定することができ、これにより、ＤＵＴは、適切なＤＵＴ ＴＸ電力を選択して、データパケットソース（ＤＵＴ ＴＸ電力＝テスタＲＳＳＩ＋パスロス）で所望のＲＳＳＩを取得してもよい。ソースとしてテスタを使用することにより、かなりの制御が可能となる。例えば、所与のデータパケットを用いてＤＵＴへの入力電力を単純に制御することにより、ＤＵＴ ＴＸ電力の制御が可能となる。例えば、同じデータパケットが２つの異なるテスタ送信電力レベルでＤＵＴに送信される場合、ＤＵＴは、２つのテスタ送信電力レベル間の差と一致する２つの異なるパスロスを推定するべきであり、データパケットが同一であるため、得られるＤＵＴ ＴＸ電力レベルは理想的には、２つの送信されたデータパケット間の差であるべきである。同様に、実際のテスタ送信電力は、テスタにおける所望のＲＳＳＩ及び／又は報告されたテスタ送信電力を変更しながら一定に維持されてもよく、それによってＤＵＴが異なるＴＸ電力で送信するようにする。
【0059】
これらの技術では、ＤＵＴ送信電力の線形性は、ＲＳＳＩを（例えば、テスタからの一定の送信電力を用いて）ＤＵＴに対して一定に維持することによって測定され、データパケット内容を制御して、ＤＵＴが異なる電力レベルで送信するようにし、それによって電力制御範囲を効果的に掃引することができる。サポートされた電力範囲が知られている（例えば、ＤＵＴがその最小電力レベル及び最大電力レベルを制限する）と仮定すると、ＤＵＴがその送信電力を修正することを中止する場合にレベルが決定され得、それによってその内部ＴＸ値を明らかにし、本質的に掃引曲線を絶対的にする。次いで、同様に使用されるＲＳＳＩレベルが知られており、使用されるＴＸ電力ステップが既知である状態で、ＤＵＴによって測定されるＲＳＳＩが決定され得る。これにより、ＤＵＴへのＲＳＳＩ入力レベルの掃引、理想的には、データパケット内容を制御することによって、ＤＵＴ ＴＸ電力を一定に維持することを更に可能にして、ＤＵＴがＤＵＴに提供された所与のＲＳＳＩに対して同じ電力レベルを送信するようにする。加えて、ＲＳＳＩは、スイッチオーバーポイントがどこであるかを決定するために、ＤＵＴ ＲＳＳＩレベル報告の能力よりも細かい増分でステッピングされてもよい。完全なＲＳＳＩ掃引を実行することにより、期待される（「理想的な」）ＲＳＳＩ曲線からのオフセットに基づいて、実際のＲＳＳＩ曲線の補正を可能にする。
【0060】
図８及び図９を参照すると、他の実施例のテスタデータパケット信号シーケンス４０２ｔ及びＤＵＴデータパケット信号シーケンス４０２ｄ（例えば、各信号４０２ｔ、４０２ｄが所望の又は必要に応じて、単一又は多数のデータパケットを有する）が交換されてもよく、所定の意図された電力レベル４０２ｄｉがＤＵＴによって送信され、テスタによって受信されて、各送信の対応する実際の電力レベル４０２ｄｒを決定する。例えば、（例えば、図４と同様の）対応する意図された及び実際のＤＵＴ ＴＸ電力レベルの表が決定されると、対応するＲＳＳＩ値の同様の決定がなされ得る。（この実施例は、電力掃引の終了付近をピックアップし、同様の測定は、試験におけるこの点に到達する前に行われ得る）。
【0061】
第１のテスタシーケンス４０３ｔａでは、＋１７ｄＢｍの目標ＤＵＴ ＴＸ電力で、テスタは、＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３３ｄＢｍの所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰにおいて、データパケット信号を送信し得る。第１のＤＵＴシーケンス４０３ｄａでは、ＤＵＴは、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４１ｄＢｍと誤って決定し、以下のように知覚されるパスロスＰＰＬを算出する。
【0062】
ＰＰＬ＝ＲＴＴＰ－ＤＲＳＳ＝＋１０ｄＢｍ－（－４１ｄＢｍ）＝５１ｄＢ
【0063】
したがって、５１ｄＢのパスロス及び－３３ｄＢｍの（パスロスを考慮した後の）テスタでの所望のＲＳＳＩで、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならない。
【0064】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３３ｄＢｍ＋５１ｄＢ＝＋１８ｄＢｍ
【0065】
テスタ（例えば、ＶＳＡ）は、ＤＵＴからの応答データパケット信号を、＋１９．０ｄＢｍの受信電力で捕捉するが、ＤＵＴ ＴＸ電力が２ｄＢオフであるか、若しくはＲＳＳＩが２ｄＢオフであるか、又は両方が何らかの他の組み合わせによってオフである場合（例えば、それぞれが１ｄＢオフである）場合に決定することができない。
【0066】
第１のテスタシーケンス４０３ｔｂでは、＋１８ｄＢｍの目標ＤＵＴ ＴＸ電力で、テスタは、＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３２ｄＢｍの増加した所望の又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍの一定のテスタ送信出力電力ＴＴＯＰを維持する。応答性ＤＵＴシーケンス４０３ｄｂでは、ＤＵＴは再び、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４１ｄＢｍと誤って決定し、再び５１ｄＢの知覚されるパスロスＰＰＬを誤って計算する。したがって、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならないと決定する。
【0067】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３２ｄＢｍ＋５１ｄＢ＝＋１９ｄＢｍ
【0068】
テスタは、＋２０．０ｄＢｍの受信電力でＤＵＴから応答データパケット信号を捕捉するが、ここでも、エラーのソースは不明である。
【0069】
第３のテスタシーケンス４０３ｔｃでは、＋１８ｄＢｍの目標ＤＵＴ ＴＸ電力で、テスタは、＋１０ｄＢｍの報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３１ｄＢｍの更に増加した所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍのテスタ送信出力電力ＴＴＯＰを維持する。応答性ＤＵＴシーケンス４０３ｄｃでは、ＤＵＴは再び、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４１ｄＢｍと誤って決定し、再び５１ｄＢの知覚されるパスロスＰＰＬを誤って計算する。したがって、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならないと決定する。
【0070】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３１ｄＢｍ＋５１ｄＢ＝＋２０ｄＢｍ
【0071】
テスタは、＋２０．８ｄＢｍの受信電力で、ＤＵＴから応答データパケット信号を捕捉する。
【0072】
次のテスタシーケンス４０３ｔｄでは、テスタは、＋１０ｄＢｍの一定の報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－３０ｄＢｍの更に増加した所望又は期待される受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍの一定のテスタ送信出力電力ＴＴＯＰを維持する。応答性ＤＵＴシーケンス４０３ｄｄでは、ＤＵＴは再び、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４１ｄＢｍと誤って決定し、再び５１ｄＢの知覚されるパスロスＰＰＬを誤って計算する。したがって、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならないと決定する。
【0073】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－３０ｄＢｍ＋５１ｄＢ＝＋２１ｄＢｍ
【0074】
テスタは再び、＋２０．８ｄＢｍの受信電力でＤＵＴからの応答データパケット信号を捕捉する。
【0075】
最後のテスタシーケンス４０３ｔｅでは、＋２０ｄＢｍの増加した目標ＤＵＴ ＴＸ電力で、テスタは、＋１０ｄＢｍの一定の報告されたテスタ送信電力ＲＴＴＰを識別するデータ、及びテスタによって受信されるＤＵＴデータパケット信号に対して－２９ｄＢｍの更に増加した所望の受信信号強度ＴＲＳＳを識別するデータを含むトリガフレームで、－４０ｄＢｍの一定のテスタ送信出力電力ＴＴＯＰを維持する。応答性ＤＵＴシーケンス４０３ｄｅでは、ＤＵＴは再び、その受信信号強度ＤＲＳＳを－４１ｄＢｍと誤って決定し、再び５１ｄＢの知覚されるパスロスＰＰＬを誤って計算する。したがって、ＤＵＴは、以下のように意図されたＤＵＴ送信電力ＩＤＴＰを送信しなければならないと決定する。
【0076】
ＩＤＴＰ＝ＴＲＳＳ＋ＰＰＬ＝－２９ｄＢｍ＋５１ｄＢ＝＋２２ｄＢｍ
【0077】
テスタは再び、＋２０．８ｄＢｍの受信電力でＤＵＴからの応答データパケット信号を捕捉する。
【0078】
しかしながら、ＤＵＴ ＴＸ電力が最大＋２０ｄＢｍに制限されることが知られているため、－３１ｄＢｍのＴＲＳＳでは、ＤＵＴによって＋２０ｄＢｍが送信され、ＤＲＳＳが１ｄＢオフになると結論付けることができる。これは、ＤＵＴが＋２０ｄＢｍのＤＵＴ ＴＸ電力について決定するために５１ｄＢのパスロスを誤って計算する結果として、ＤＵＴが＋２０ｄＢｍを送信しており、そのようにしなければならないためである。したがって、対応する意図された４０２ｄｉ、及び受信した４０２ｄｒ ＤＵＴ Ｔｘ電力の表（図９）が導出され得る。
【0079】
本発明の構造及び動作方法における、様々な他の変更例及び代替例が、本発明の範囲及び趣旨から逸脱することなく当業者には明らかとなるであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明されてきたが、特許請求される本発明は、そのような特定の実施形態に不当に限定されるべきではないことが、理解されるべきである。以下の特許請求の範囲が本発明の範囲を定義すること、かつ、これらの特許請求の範囲及びその均等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されていること、が意図される。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図6A】
【図7】
【図8】
【図9】