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▶ リジェネロン・ファーマシューティカルズ・インコーポレイテッドの特許一覧
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-10-25
(45)【発行日】2024-11-05
(54)【発明の名称】万能モジュール式試験固定具
(51)【国際特許分類】
G01N 3/04 20060101AFI20241028BHJP
【ＦＩ】
G01N3/04 Z
【請求項の数】
15
(21)【出願番号】P 2022516387
(86)(22)【出願日】2020-09-16
(65)【公表番号】
(43)【公表日】2022-11-16
(86)【国際出願番号】 US2020051079
(87)【国際公開番号】W WO2021055483
(87)【国際公開日】2021-03-25
【審査請求日】2023-06-22
(31)【優先権主張番号】62/901,122
(32)【優先日】2019-09-16
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(31)【優先権主張番号】62/914,274
(32)【優先日】2019-10-11
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(73)【特許権者】
【識別番号】597160510
【氏名又は名称】リジェネロン・ファーマシューティカルズ・インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】ＲＥＧＥＮＥＲＯＮ ＰＨＡＲＭＡＣＥＵＴＩＣＡＬＳ， ＩＮＣ．
(74)【代理人】
【識別番号】100105957
【弁理士】
【氏名又は名称】恩田 誠
(74)【代理人】
【識別番号】100068755
【弁理士】
【氏名又は名称】恩田 博宣
(74)【代理人】
【識別番号】100142907
【弁理士】
【氏名又は名称】本田 淳
(72)【発明者】
【氏名】ハンター、クリストファー
(72)【発明者】
【氏名】シャルマ、ルチカ
(72)【発明者】
【氏名】マフニク、ウェズリー
【審査官】前田 敏行
(56)【参考文献】
【文献】実開昭５６－０３５０４５（ＪＰ，Ｕ）
【文献】米国特許出願公開第２０１９／０２３４８４５（ＵＳ，Ａ１）
【文献】特開平０４－００９７３９（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開昭５６－０４７７３３（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００３－３２９５５８（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２００９／０１２０１９９（ＵＳ，Ａ１）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ３／０４
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
試験機で試験中のサンプルを支持するために使用される試験固定具であって、前記試験機に連結されるように構成される第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第１の開口部を有する第１の空洞を含む第２のプラットフォームであって、前記第１の空洞は前記第１の開口部から第２のプラットフォームの中心に向かって延びるとともに、前記第１の空洞内に前記サンプルの一部を挿入可能に構成される、第２のプラットフォームと、
第３のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第２の開口部を有する第２の空洞を含む第３のプラットフォームであって、前記第２の空洞は前記第２の開口部から第３のプラットフォームの中心に向かって延びるとともに、前記第２の空洞内に前記サンプルの他の一部を挿入可能に構成される、第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験固定具は、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリをさらに含む、試験固定具。
【請求項2】
前記移動アセンブリは、第１の長手方向軸を有し、前記移動アセンブリは、前記第１のプラットフォーム、前記第２のプラットフォーム、及び前記第３のプラットフォームの各々に連結され、前記第１の長手方向軸の周りの前記移動アセンブリの回転により、前記第２のプラットフォームが前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動する、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項3】
前記第１の空洞及び前記第２の空洞の各々の少なくとも一部は、前記移動アセンブリの前記第１の長手方向軸に平行である第２の長手方向軸に沿って配置される、請求項２に記載の試験固定具。
【請求項4】
前記第１の開口部及び前記第２の開口部は、同じ方向を向いており、前記同じ方向は、前記試験固定具の前方を向く、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項5】
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームは、互いに実質的に平行であり、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームは、互いに実質的に平行である、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項6】
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームは、互いに対して固定される、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項7】
前記移動アセンブリは、エンドレスネジを含み、前記第２のプラットフォームは、前記エンドレスネジを受けるネジ状留め具を含む、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項8】
前記第１のプラットフォームは、前記移動アセンブリの端部を受けるように構成された駆動アセンブリを含み、前記駆動アセンブリは、前記移動アセンブリを前記第１の長手方向軸の周りで回転させるように構成されたサムホイールを含み、前記駆動アセンブリは、前記サムホイールによって囲まれたカラーを含み、前記移動アセンブリは、前記カラーを貫通して延びる、請求項２に記載の試験固定具。
【請求項9】
前記第２のプラットフォームは、第１のトラック及び第２のトラックを含み、前記第１のトラックは、第１のバネ式ホルダを受けるように構成され、前記第２のトラックは、第２のバネ式ホルダを受けるように構成され、前記第１のバネ式ホルダは第１のフィンガー及び第１のバネを含み、前記第１のフィンガーは前記第１のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢され、前記第２のバネ式ホルダは第２のフィンガー及び第２のバネを含み、前記第２のフィンガーは、前記第２のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項10】
前記第１のトラック及び前記第２のトラックは、同一直線上にある、請求項９に記載の試験固定具。
【請求項11】
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに固定されたスパインをさらに含み、前記第２のプラットフォームは、前記スパインが貫通して延びる第３の開口部を含み、前記スパインは、前記第１の空洞及び前記第２の空洞の閉じた端部に隣接し、前記スパインは、ポリマーと、前記ポリマー内に配置された１つ以上の金属シートと、を含む、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項12】
前記第２の空洞によって取り外し可能に受けられるＵ字形のブラケットをさらに含み、前記第２の空洞は、１つ以上のスロットを含み、前記Ｕ字形のブラケットは、前記１つ以上のスロットによって受けられるように構成された１つ以上の突起を含む、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項13】
前記第２のプラットフォームは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面と実質的に平行な第２の側端面を含み、前記試験固定具は、前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第１の支持体及び第２の支持体を含み、前記第１の支持体及び前記第２の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面の近くに配置され、
前記移動アセンブリは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、請求項１に記載の試験固定具。
【請求項14】
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第３の支持体をさらに含み、前記第３の支持体は、前記第１の支持体及び前記第２の支持体の各々よりも大きい直径を有し、前記第３の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、請求項１３に記載の試験固定具。
【請求項15】
２００Ｎの荷重が前記第３のプラットフォームに加えられたときに、前記第３のプラットフォームは、０．４０ｍｍ以下の変位を示す、請求項１に記載の試験固定具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示の実施形態は、サンプルの様々な機械的試験に使用することができる、異なる構成を有するモジュール式試験固定具に関する。
【背景技術】
【0002】
試験固定具は、試験機（例えば、万能試験機やＵＴＭ等）で試験中のサンプルを支持するために使用される。試験されるサンプルが同様の構成又は形状を有する場合（例えば、ロッドの引張試験）、同様の形状のサンプルのみを支持する（例えば、ロッドをつかむ）ように構成された試験固定具が試験機で使用される。しかし、異なる構成のサンプル及び／又は異なるタイプの試験（例えば、針キャップ除去力テスト、フランジ破壊強度テスト等）を実行する場合は、通常、サンプル及び／又は試験の異なる構成に対応するには、試験中のサンプルを支持する試験固定具（グリップ等）を交換しなければならない。試験の間に試験固定具を交換又は再構成するには時間がかかり、効率が低下する。そのような場合、試験固定具の変更を最小限にしつつ、サンプルに所望のタイプの力を加えることができる構成で、サイズの異なるサンプルを支持するように構成された試験固定具を使用することが望ましい。
【発明の概要】
【0003】
本開示の実施形態は、試験機で異なるタイプの試験を受けるサンプルの異なる構成を支持するように、容易に適合又は構成され得るモジュール式試験固定具を含む。しかし、本開示の範囲は、添付の特許請求の範囲によって定義され、特定の問題を解決する機能によって定義されるものではない。
【0004】
本明細書に組み込まれ、その一部を構成する添付の図面は、本開示の例示的な実施形態を示し、その説明と一緒に、本開示の原理を説明する役割を果たす。本明細書に開示される実施形態の各々は、他の開示される実施形態のいずれかに関連して記載される特徴の１つ以上を含み得る。
【図面の簡単な説明】
【0005】
【図1A】本開示の例示的な試験固定具の異なる図である。
【図1B】本開示の例示的な試験固定具の異なる図である。
【図1C】本開示の例示的な試験固定具の異なる図である。
【図1D】本開示の例示的な試験固定具の異なる図である。
【図3A】例示的なサンプルブラケット及び上部プレートの分解図である。
【図3B】例示的なサンプルブラケット及び上部プレートの分解図である。
【図5A】例示的な交換部品を示す図である。
【図5B】例示的な交換部品を示す図である。
【図5C】例示的な交換部品を示す図である。
【図5D】例示的な交換部品を示す図である。
【図5E】例示的な交換部品を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0006】
本開示は、例えば、Ｉｎｓｔｒｏｎ（登録商標）試験機等の万能試験機（ＵＴＭ）と組み合わせて使用され得る例示的な試験固定具について説明する。本開示の原理は、ＵＴＭの試験固定具を参照して説明されるが、開示はそれに限定されないことを理解されたい。むしろ、開示された試験固定具は、単独で、又は任意のタイプの装置又は機械（任意の用途で使用される）と組み合わせて使用され得る。一般に、本開示で使用される「約」、「実質的に」、又は「大体」等の相対的な用語は、表示値の±１０％の可能な変動を示すために使用される。本明細書で例示として説明されている実装は、他の実装よりも好ましい又は有利であると解釈されるべきではない。むしろ、「例示的」という用語は、例又は例示の意味で使用される。
【0007】
図１Ａ～図１Ｃは、本開示の例示的な試験固定具（試験装置）１００の異なる斜視図を示し、図１Ｄは、試験固定具１００の底面図を示す。以下の説明では、図１Ａ～図１Ｄを参照する。これらの図に示される実施形態では、試験固定具１００は、ｚ方向に離間された、上部プレート１０、中間プレート３０、及び下部プレート５０を含む（図１Ａ～図１ＣのＸＹＺトライアドを参照）。以下の説明では、ｚ方向を垂直方向と称し、「Ａ」とマークされた端部を試験固定具１００の前端と称し、「Ｂ」とマークされた端部をその後端と称する。ただし、「前」、「後」、「上」、「下」等の言及は、単に便宜上のものであり、必須ではないことに留意されたい。
【0008】
図１Ａ～図１Ｄに示されるように、上部、中間、及び下部プレート１０，３０，５０は、概ねｘｙ平面内に延びる平面構造であり得るため、それぞれが互いに実質的に平行であり得る。必須ではないが、いくつかの実施形態では、上部、中間、及び下部のプレート１０，３０，５０は、図示されるように、（ＸＹ平面において）概ね長方形の形状を有し得る。上部、中間、及び下部のプレート１０，３０，５０は、任意の材料で形成され得、任意の適切な方法で形成され得る。必須ではないが、いくつかの実施形態では、これらのプレート１０，３０，５０は、プラスチック又はポリマー材料（例えば、ナイロン、ガラス充填ポリアミド、エポキシ樹脂、ポリカーボネート等）を含み得る。これらのプレートは、任意の適切な方法（機械加工、成形等）で形成又は製造され得る。いくつかの実施形態では、これらのプレートのいくつか又はすべては、３Ｄプリントを使用して製造してもよい。いくつかの実施形態では、１つ以上の補強材のシートを、上部プレート１０、中間プレート３０、及び／又は下部プレート５０内に埋め込んでもよい。例えば、プレートの１つ以上は、他の３Ｄプリントされたポリマープレート内にプリントされた金属又はガラス繊維のシートを含んでもよい。
【0009】
上部、中間、及び下部のプレート１０，３０，５０は、支柱１２，１４，１６及び移動（例えば、回転ネジ）アセンブリ２０によって、例えばそれらの角に近接して一緒に連結され得る。図示されるように、支柱１２，１４は、試験固定具１００の前端Ａでプレート１０，３０，５０を一緒に連結し得、支柱１６及び移動アセンブリ２０は、試験固定具１００の後端Ｂでプレート１０，３０，５０を一緒に連結し得る。図１Ｃに最もよく示されるように、後端Ｂにおいて、上部及び下部プレート１０，５０も、スパイン（ｓｐｉｎｅ）６０によって一緒に連結されている。移動アセンブリ２０及びスパイン６０については、後述する。支柱１２，１４，１６は、（ＸＹ平面内において）直径を有する円筒形の柱状構造として示されているが、これは単なる例示である。一般に、これらの支柱１２，１４，１６は、任意の適切な構成又は形状（長方形、正方形等）を有し得る。いくつかの実施形態では、図１Ａに最もよく示されるように、試験固定具１００の前端Ａに配置された支柱１２，１４は、その後端Ｂに配置された支柱１６よりも小さい直径（又はこれらの支柱が円筒形でない実施形態では幅）を有し得る。小さな直径の支柱１２，１４を前端Ａに配置すると、これらの支柱１２，１４の間のクリアランスが大きくなるため、サンプル（注射器、ビーカー等）をより容易に試験固定具１００に装填することを可能にし得る。必須ではないが、いくつかの実施形態では、支柱１２，１４は、実質的に同じ直径又は幅を有し得るが、他の実施形態では、支柱１２，１４は、異なる直径及び／又は幅（各々が支柱１６の対応する直径及び／又は幅よりも小さい）を有し得る。支柱１２，１４，１６は、一般に、任意の適切な材料で形成され得、任意の適切な方法で形成され得る。いくつかの実施形態では、これらの支柱１２，１４，１６は、例えば、ステンレス鋼、アルミニウム等の金属材料で形成されてもよいが、他の実施形態では、支柱１２、支柱１４、及び／又は支柱１６は、ポリマー材料又は金属とポリマーの組み合わせから形成されてもよいことが企図される。いくつかの実施形態では、支柱１２、支柱１４、及び／又は支柱１６は、３Ｄプリントによって形成されてもよい。試験固定具１００は、Ｉｎｓｔｒｏｎ又はＺｗｉｃｋＲｏｅｌｌによって製造されたＵＴＭ等の万能試験機（ＵＴＭ）に連結され得ることが企図される。例えば、下部プレート５０は、ＵＴＭのボルトを受けるように構成されたボア５０Ｃ（図１Ａ参照）を介してＵＴＭに連結され得る。ボルトは、例えば、Ｍ６ボルト又はＭ１０ボルト等の任意の適切なサイズであり得る。
【0010】
支柱１２，１４，１６は、上部及び下部プレート１０，５０に固定的に連結され得、中間プレート３０にスライド可能に連結され得る。換言すると、上部及び下部プレート１０，５０は、支柱１２，１４，１６に対して固定され、中間プレート３０は、支柱１２，１４，１６上で支柱１２，１４，１６に対して垂直方向にスライド可能である。支柱１２，１４，１６は、任意の方法で上部及び下部プレート１０，５０に固定的に連結され得る。いくつかの実施形態では、これらの支柱１２，１４，１６は、上部及び下部プレート１０，５０に圧入されてもよい。追加的又は代替的に、いくつかの実施形態では、ネジ又は他のタイプの留め具（ｆａｓｔｅｎｅｒ）を使用して、支柱１２，１４，１６を上部及び下部プレート１０，５０に連結してもよい（例えば、図１Ｄ、図２Ａ、及び図２Ｂ参照）。いくつかの実施形態では、ベアリング１８Ａ，１８Ｂ，１８Ｃ（例えば、直線運動ベアリング）を中間プレート３０に連結することで、中間プレート３０が支柱１２，１４，１６上で比較的容易にスライドできるようにしてもよい。これらのベアリング１８Ａ，１８Ｂ，１８Ｃはまた、これらの支柱１２，１４，１６が貫通する中間プレート３０上の対応する貫通孔又は空洞で支柱１２，１４，１６を中心に置くことを可能にし、又は支援し得る。いくつかの実施形態では、図示されるように（例えば、図１Ａ～図１Ｃ参照）、ベアリング１８Ａ～１８Ｃは、それぞれの支柱１２，１４，１６の周りに実質的に対称に配置された留め具（例えば、４つの留め具）を使用して中間プレート３０に連結される。支柱１２，１４，１６上の中間プレート３０をスライド可能に連結するために使用され得る適切なベアリング１８Ａ，１８Ｂ，１８Ｃは、当業者に知られているため、それらは本明細書では詳細に説明しない。ベアリング１８Ａ，１８Ｂ，１８Ｃは、図示の実施形態では、中間プレート３０の下側（すなわち、上部プレート１０よりも下部プレート５０に近い）に固定されたものとして示されている。この構成は、中間プレート３０上にサンプルのための追加のスペースを作り出すのに役立ち得る。しかし、ベアリング１８Ａ、ベアリング１８Ｂ、及び／又はベアリング１８Ｃのうちの１つ以上は、中間プレート３０の上部（すなわち、下部プレート５０よりも上部プレート１０に近い）に配置され得ることが企図される。
【0011】
上部プレート１０は、前端Ａに第１の側端面１０Ａを有し、後端Ｂに第２の側端面１０Ｂを有し得る。第１の側端面１０Ａは、第２の側端面１０Ｂと実質的に平行であり得る。同様に、中間プレート３０は、前端Ａに第１の側端面３０Ａを有し、後端Ｂに第２の側端面３０Ｂを有し得る。第１の側端面３０Ａは、第２の側端面３０Ｂと実質的に平行であり得る。側端面１０Ａ、側端面１０Ｂ、側端面３０Ａ、及び／又は側端面３０Ｂは、互いに実質的に平行であり得ることもまた企図される。いくつかの実施形態では、支柱１２，１４は、第２の側端面１０Ｂ，３０Ｂよりも第１の側端面１０Ａ，３０Ａの近くに配置され得る。いくつかの実施形態では、支柱１６、スパイン６０、及び移動アセンブリ２０の各々は、第１の側端面１０Ａ，３０Ａよりも第２の側端面１０Ｂ，３０Ｂの近くに配置され得る。
【0012】
上部プレート１０及び中間プレート３０の各々は、試験固定具１００の前端Ａからその後端Ｂに向かって延びる中央空洞又は凹部１５，３２を有し得る。特に、空洞１５は、上部プレート１０の第１の側端面１０Ａにおける開口部１０Ｃから第２の側端面１０Ｂに向かって延び得る。同様に、空洞３２は、中間プレート３０の第１の側端面３０Ａにおける開口部３０Ｃから第２の側端面３０Ｂに向かって延び得る。いくつかの実施形態では、開口部１０Ｃ，３０Ｃが同じ方向を向いている（すなわち、試験装置１００の前端Ａを向いている）ことが企図される。しかし、空洞１５が第２の側端面１０Ｂから上部プレート１０の中心に向かって延びるように、開口部１０Ｃが第２の側端面１０Ｂを貫通して延び得ることが企図されるので、これは必須ではない。代替実施形態では、開口部１５Ｃは後端Ｂを向いていてもよい。必須ではないが、いくつかの実施形態では、図示されるように、中央空洞１５は、上部プレート１０の幅の実質的に中央に配置され得、中央空洞３２は、中間プレート３０の幅の実質的に中央に配置され得る。上部プレート１０上の中央空洞１５は、前端Ａから（閉じた）後端１５Ａまで延び得（図２Ａ参照）、中間プレート３０上の中央空洞３２は、前端Ａから（閉じた）後端３２Ａまで延び得る（図１Ａ、図２Ａ参照）。上部プレート１０上の中央空洞１５及び中間プレート３０上の中央空洞３２は、それらが垂直に整列するようにそれぞれのプレート上に配置され得る。すなわち、試験固定具１００の上部から見た場合、中央空洞１５は、中央空洞３２の真上に配置され得る（図２Ａ、図２Ｂ参照）。換言すると、１つ以上の長手方向軸（実質的にＺ軸に平行）は、空洞１５，３２の各々と交差し得る。交差する長手方向軸は、支柱１２，１４，１６、スパイン６０、及び移動アセンブリ２０の長手方向軸と実質的に平行であり得る。後述するように、ブラケット８０（例えば、異なるタイプのサンプルを支持するＵ字形のブラケット）は、上部プレート１０上の中央空洞１５に連結され得る。試験中にサンプルを支持するために試験固定具１００が使用される場合、サンプルは、中央空洞１５，３２の一方又は両方を介して試験固定具１００内に配置され得る（又は挿入され得る）。中央空洞１５，３２は、任意の形状及びサイズを有してもよい。一般に、中央空洞１５，３２の形状及びサイズは、試験固定具１００で使用されることが意図されているサンプルのサイズ及び構成に依存し得る。いくつかの実施形態では、中央空洞１５，３２の一方又は両方は、概ね長方形又はＵ字形を有し得る。一般に、中央空洞１５，３２は、これらの空洞１５，３２が試験固定具１００の前端Ａから後端Ｂまで完全に延びることがないようなサイズにし得る。すなわち、図１Ａ、図１Ｃ、図２Ａ、及び図２Ｂに示されるように、上部プレート１０及び中間プレート３０は、それぞれの中央空洞１５，３２の後端１５Ａ，３２Ａから試験固定具１００の後端Ｂまで延びる帯状の材料を含み得る。さらに、（閉じた）後端１５Ａ，３２Ａは、第１の側端面１０Ａ，３０Ａよりも第２の側端面１０Ｂ，３０Ｂの近くに配置され得る。
【0013】
上部及び下部プレート１０，５０を連結するスパイン６０は、中央空洞３２の後端３４と試験固定具１００の後端Ｂ（図１Ｃを参照）との間に配置された垂直に延びる空洞３６（又は貫通孔）を介して中間プレート３０を貫通して延び得る。空洞３６は、スパイン６０が中間プレート３０の垂直方向の動き（これについては後述する）を妨げることなく中間プレート３０を貫通して延びるようなサイズにされ得る。例えば、いくつかの実施形態では、空洞３６は、スパイン６０が中間プレートに物理的に接触することなく中間プレート３０を貫通して延び得るようなサイズにされてもよい。スパイン６０は、例えば留め具を使用して、上部及び下部プレート１０，５０に固定的に連結され得る。例えば、図１Ｃに示されるように、留め具５２Ａ，５２Ｂは、スパイン６０を下部プレート５０に連結するために、スパイン上の空洞を貫通して延び得る。同様の留め具（図示略）は、スパイン６０を上部プレート１０に連結するために、上部プレート１０上の空洞１６Ａ，１６Ｂを貫通して延び得る。スパイン６０を上部プレート１０に連結するために使用されるこれらの留め具は、空洞１６Ａ，１６Ｂを貫通し、中央空洞１５の後端１４を貫通して（上部プレート１０の）中央空洞１５内に延び得る。中央空洞１５内に延びるこれらの留め具の部分は、ブラケット８０（又は別の適切なブラケット、交換部品等）を中央空洞１５に取り付けるために使用され得る。スパイン６０は長方形の部品として図示されているが、これは単なる例示である。一般に、スパイン６０は、試験固定具１００に十分な剛性を付与する任意の適切な形状及びサイズ（例えば、幅、厚さ等）を有し得る。いくつかの実施形態では、スパイン６０は、試験中に生じる可能性のあるねじり力及び／又は曲げ力（例えば、試験固定具によって支持されているサンプルから試験固定具１００に生じるねじり力及び曲げ力）に耐えるために、試験固定具１００に十分な安定性を付与するような、サイズ及び材料を含んでもよい（もしくは構成されてもよい）。スパイン６０は、任意の適切な方法で形成され得る。いくつかの実施形態では、スパイン６０は、長さ方向に追加の剛性を付与するように構成された３Ｄプリントされた構成要素であってもよい。より具体的には、スパイン６０は、一般に、ポリマーの３Ｄプリントされた構成要素であってもよい。いくつかの実施形態では、１つ以上の補強材のシートをスパイン６０内に埋め込んでもよい。例えば、スパイン６０は、その中に１つ以上の補強材、例えば、金属ストランドを有するプラスチック複合材料からプリントし得る。別の例では、スパイン６０は、他の３Ｄプリントされたポリマープレート内にプリントされた金属又はガラス繊維のシートを含んでもよい。３Ｄプリントされた補強材を含めることで、スパイン６０が、要望に応じて迅速かつ簡単に製造されながら、試験中に発生する可能性のあるねじり力及び／又は曲げ力に耐えるのに十分な剛性を有することを補償できるようになる。上述のように、スパイン６０は、固定具１００全体を貫通して延びるボルトに十分なトルクが加わるのを助けるために、その中に一体化されたプレートを有し得る。固定具１００を単一の連続ユニットにする上部貫通ボルトは、いくつかの実施形態では、固定具１００の剛性に影響を及ぼし得る構成要素間に緩みを導入することがある。したがって、少なくともいくつかの実施形態では、正確な試験結果を得るために、単一の連続ユニット－固定具１００－が剛的であることが望ましい。
【0014】
反復試験を用いて、補強の有無にかかわらず、スパイン６０の有効性を実証した。反復試験中に、荷重が上部プレート１０に加えられた。荷重は約２００Ｎであり、荷重を加えている間の上部プレート１０のたわみを経時的に測定した。このおおよその荷重は、例えば、１）摺動降伏摺動平衡応力（ｂｒｅａｋ ｌｏｏｓｅ ｇｌｉｄｅ ｆｏｒｃｅ）試験（例えば、約１Ｎ未満から約２０Ｎまで）、２）ロックアウト機構のオーバーライド力試験（例えば、約５０Ｎから約１００Ｎ）、３）自動注入器の注入力試験（例えば、約５０Ｎから１００Ｎ）、及び４）キャップ除去力試験（例えば、約５０Ｎから約１００Ｎ）、を含む様々な医療用注射器試験における試験固定具１００の使用中に加えられる荷重よりも著しく高い。摺動降伏摺動平衡応力試験中、単位力あたりの変位は、例えば約１５ｍｍから約２０ｍｍの変位で測定され得る。これらの試験は、一般に約３秒から約５秒、又は最大で約１０秒に及ぶ。しかし、これらの継続時間は単なる例示であり、他の継続時間も企図される。このおおよその荷重で、上記のようにスパイン６０を金属プレートで補強した後、約２００Ｎの荷重で測定された上部プレート１０の変位は、約０．２２５から０．２４２ｍｍ（データのサンプリングは、下表１の「変位－サポートあり」の列に示される）、標準偏差は０．００４９ｍｍであった。さらに別の試験では、いかなるスパイン６０も有なさい固定具で、同じ約２００Ｎの負荷で測定された上部プレート１０の変位は１．１６４ｎｍから１．１９３ｍｍの範囲（データのサンプリングは、表１の「変位－サポートなし」の列に示される）、標準偏差は．００６８ｍｍであった。本明細書で説明する反復試験は、２０１９年４月に実施された。反復試験では、ＥｌｅｃｔｒｏＰｕｌｓ Ｉｎｓｔｒｏｎ機を使用して、２００Ｎの荷重を上方向に、次いで下方向に、上部プレート１０に周期的に加えた。各サイクル（力の上下両方の印加を含む）の継続時間は１秒で、各固定具の試験は７２時間（２５９２００サイクル又は２５９２００秒）実施された。上部プレート１０の変位は、５サイクル（秒）ごとに測定された。表１は、反復試験中に収集されたデータのサンプリングを反映している。サポートありの固定具及びサポートなしの固定具の試験は、異なる日に行われた。２つの試験間の等価サイクルの変位の差は０．９２７ｍｍから０．９６４ｍｍの範囲、標準偏差は０．０３４９であった。反復試験中に収集された変位データの（比較的小さな）偏差の多くは、試験領域の温度変化に起因することが観察された。表１に示されていないさらに別の試験では、スパイン６０はプラスチックのみからなり、補強材は含まれていなかったが、上部プレート１０の変位は約０．３５から０．４０ｍｍであった。
【0015】
【表1】
【0016】
さらに、本開示によれば、スパイン６０は強化されてもされなくてもよい。いくつかの実施形態では、スパイン６０が、動作中（例えば、注入医療機器の試験）に加えられると予期される負荷に耐えるように構成されている場合、補強は必要ないことがある。換言すると、注入医療機器の試験中に企図される荷重の下で、上部プレート１０が許容できる程度の小さな変形を示す、又は変形を示さないようにスパイン６０が上部プレート１０を支持することが可能な場合、補強は必要ないことがある。例えばスパイン６０を含む固定具１００の構成要素が、同じ日に単一の３Ｄプリント機でプラスチックから（補強なしで）製造されるとき、そのようなスパイン６０の性能（すなわち、上部プレート１０のたわみの欠如）は、その中に補強材を有するスパイン６０の性能と同等であろうと考えられる。
【0017】
中間プレート３０はまた、中央空洞３２に対して横方向（又は実質的に垂直）のＸ－Ｙ平面内に延びる凹状空洞又はトラック３８を含み得る（図１Ａを参照）。トラック３８は、中央空洞３２の一方の側に延びる第１の部分３８Ａと、中央空洞３２の反対側に延びる第２の部分３８Ｂとを含み得る。第１の部分３８Ａは、第２の部分３８Ｂと同一直線上にあり得る。トラック３８は、その中の１つ以上の構成要素をスライド可能に支持するように構成されたスロット付き空洞であり得る。フィンガーアセンブリ４０は、トラック３８の各部分３８Ａ、３８Ｂ上でスライド可能に支持され得る（１つのフィンガーアセンブリ４０（第１の部分３８Ａ上）のみが図１Ａに示されている）。各フィンガーアセンブリ４０は、トラック３８上を中央空洞３２に向かって、及び中央空洞３２から離れるようにスライドするような構成とされ得る。必須ではないが、いくつかの実施形態では、各フィンガーアセンブリ４０は、中央空洞３２に向かって付勢されたバネ式構成要素（又は構成要素のアセンブリ）であり得る。つまり、トラック３８の２つの部分３８Ａ，３８Ｂ上のフィンガーアセンブリ４０は、互いに向かって付勢され得る。
【0018】
各フィンガーアセンブリ４０は、トラック３８上を中央空洞３２に向かって、及び中央空洞３２から離れるようにスライドするような構成とされたベース４２又はキャリッジを含み得る。必須ではないが、いくつかの実施形態（図示略）では、つまみネジ（又は、例えばスロット等のような別の機構）を提供して、ベース４２をトラック３８上の所望の位置にロックしてもよい。フィンガー部材、すなわちフィンガー４６は、つまみネジ４８を使用して、各フィンガーアセンブリ４０のベース４２に連結され得る。図１Ａに最もよく示されるように、フィンガー４６は、つまみネジ４８に近接する端部から中央空洞３２に向かって反対側の端部まで延びる細長い構成要素であり得る。フィンガー４６は、フィンガー４６の長さがベース４２と角度をなすように、ベース４２に連結されている。つまり、フィンガー４６は、ベース４２に対して角度を付けられ得る。フィンガー４６がベース４２となす角度は、つまみネジ４８を使用して変更することができる。例えば、つまみネジ４８を緩めると（例えば、つまみネジ４８を回すことによって）、フィンガー４６をつまみネジ４８の周りで回転させることができ、フィンガー４６とベース４２との間の角度が変更される。
【0019】
フィンガーアセンブリ４０がバネ式である実施形態では、バネ４５は、フィンガー４６を上方向に（すなわち、上部プレート１０に向かい、かつ下部プレート５０から離れるように）付勢し得る。バネ４５は、フィンガー４６の下側に配置されたペグ４６ａに連結され得る。特に、バネ４５は、ペグ４６ａ上又はペグ４６ａに隣接する溝（図示せず）に受けられ得る。バネ４５はまた、ネジ又は他の留め具４６ｂに連結され得る。留め具４６ｂは、ベース４２を、トラック３８のスロット又は凹部によって受けられる突起に連結し得る。したがって、（サンプル又は試験機器によって）下向きの力がフィンガー４６に加えられると、バネ４５が圧縮されて、フィンガー４６が下向きに枢動することを可能にし得る。下向きの力が解放されると、バネ４５はその静止状態に拡張し、フィンガー４６はそれ自体の元の及び／又は静止位置に戻り得る。いくつかの実施形態では、バネ４５の存在により、サンプルをクランプすることなくサンプルの試験が可能になり得る。例えば、いくつかの実施形態では、サンプルは、張力によってのみ固定され得る。
【0020】
中央空洞３２に向かって配置されたフィンガー４６の端部は、試験中に試験固定具１００のサンプルに接触して支持するように構成され得る。例えば、注射器が試験のために試験固定具１００上で支持される実施形態では、注射器の本体は、注射器が中央空洞３２を介して下部プレート５０に向かって延びるように、中央空洞３２のいずれかの側のフィンガーアセンブリ４０のフィンガー４６によって垂直に支持され得る。この構成では、ＵＴＭのローディングアームは、上部プレート１０の中央空洞１５を介して試験固定具１００内に降下し、所望のタイプの力（引張力、圧縮力等）を注射器の所望の位置に加え得る。トラック３８上で（例えば、図１ＡのＸ方向に）フィンガーアセンブリ４０を並進させる機能により、フィンガー４６を使用して、異なるサイズのサンプル（例えば、注射器、ビーカ等）を試験固定具１００上で支持することができる。さらに、中央空洞３２に向かって配置されたフィンガー４６の端部は、試験される注入器又は注射器のフランジ（例えば、注射器のフィンガーフランジ等）を支持するために使用され得る内向きの凹部４６ｃを含み得る。フィンガー４６を有するフィンガーアセンブリ４０の特定の構成が図示されているが、これは単なる例示であることに留意されたい。一般に、フィンガーアセンブリ４０及びフィンガー４６は、任意の構成を有し得る。
【0021】
前述したように、試験固定具１００の中間プレート３０は、支柱１２，１４，１６にスライド可能に連結されている。移動アセンブリ２０を使用して、支柱１２，１４，１６上で中間プレート３０をスライドさせ、中間プレート３０を垂直方向（すなわち、上部又は下部プレート１０，５０に向かって又は離れるように）移動させ得る。図１Ｃを参照すると、移動アセンブリ２０は、下部プレート５０に設けられた分割クランプ５６（例えば、ＭｃＭａｓｔｅｒ分割クランプ）等のカラーに支持されるネジ２２を含む。いくつかの実施形態では、図１Ｃに示されるように、分割クランプ５６は、下部プレート１０上に形成されたサムホイール５４上に形成された対応する形状の空洞に設けられ得る、又は埋め込まれ得る。いくつかの実施形態では、図１Ｃに示されるように、サムホイール５４は、分割クランプ５６を支持する中央空洞を含む下部プレート５０上のタイヤ形状の突起である。
【0022】
当業者によって認識されるように、サムホイール５４をアセンブリ２０の長手方向（Ｚ）軸の周りで回転させることにより、ネジ２２（例えば、エンドレスネジ（ｅｎｄｌｅｓｓ ｓｃｒｅｗ））が下部プレート５０上で回転することができる。ネジ２２は、自己ブレーキ式であり、中間プレート３０を押すことによって中間プレート３０が垂直に並進しないようなネジ形状を有し得る。代わりに、移動アセンブリ２０は、サムホイール５４を回すことによってのみ中間プレート３０を垂直に動かすことができるように構成され得る。例えば、中間プレート３０は、ネジ２２のネジ山を受けるネジ山を有するベアリング、留め具（例えば、ナット）２４を含み得る。ネジ５２の上端は、それに取り付けられたベアリング２６を含む。いくつかの実施形態では、ベアリング２６は、ネジ５２の上端がスナップ止めされる半球形のボアを有し得る。いくつかの実施形態では、ベアリング２６は上部レート１０に取り付けられていない。いくつかの実施形態では、ベアリング２６の上部は、ベアリング２６が上部プレート１０上で（ＸＹ平面において）スライドして、試験固定具１００上の移動アセンブリ２０、例えば回転ネジアセンブリ２０のずれの影響を最小限に抑えることができるように、上部プレート１０の裏面に接触し得る。サムホイール５４が回される（又は回転される）と、ネジ２２（及びベアリング２６）は、上部及び下部プレート１０，５０に対して回転する。ネジ２２は、中間プレート３０に固定されたベアリング２４を介して中間プレート３０を貫通して延びる。当業者によって認識されるように、ベアリング２４は、ネジ２２の回転運動を、それに取り付けられた中間プレート３０の直線運動に変換する。図示されていないが、いくつかの実施形態では、中間プレート３０はまた、ネジ２２が延びる空洞内に配置されたベアリング（例えば、真鍮ベアリング、青銅ベアリング等）を含み得る。サムホイール５４を回すと、ボールネジ２２が上部及び下部プレート１０，５０を中心に回転し、中間プレート３０が垂直方向（Ｚ方向）に上下に並進する。サムホイール５４を一方向に回転させると、中間プレート３０が一方向に（例えば、上部プレート１０に向かって、又は下部プレート５０に向かって）移動し、サムホイールを反対方向に回転させると、中間プレート３０が反対方向に移動する。中間プレート３０を上下に移動させる機能は、異なるタイプ及びサイズのサンプルが試験固定具１００で支持されることを可能にする。
【0023】
移動アセンブリ２０は、上部プレート１０及び下部プレート５０に対してＹ軸に沿って中間プレート３０を並進させるように構成された任意の適切な直線運動構成要素であり得ることもまた企図される。例えば、移動アセンブリ２０は、滑車システム等を含み得る。
【0024】
前述したように、上部プレート１０の中央空洞１５は、ブラケット８０を支持し得る（図１Ａ、図１Ｂ、図２Ａ、図２Ｂ参照）。上部プレート１０で支持され得る例示的なブラケット８０が図３に示されている。図１Ａ及び図１Ｂに最もよく示されるように、中央空洞１５の側壁は、スロット８２Ａ（例えば、長方形状の凹部等）を含み得る。いくつかの実施形態では、スロット８２Ａは、試験固定具１００の前端Ａから中央空洞１５の後端１４まで、中央空洞１５の長さに沿って（すなわち、Ｙ軸に沿って、図２Ａ参照）延びている。中央空洞１５の側壁上のスロット８２Ａは、ブラケット８０の側面上の対応する形状の突起８２Ｂをスライド可能に受けるように構成されている。ブラケット８０は、突起８２Ｂを中央空洞１５のスロット８２Ａと係合させ、ブラケット８０の前面が上部プレート１０の前面と同一平面になるようにブラケット８０を中央空洞１５内にスライドさせることによって、中央空洞１５に取り付けることができる（図１Ａ、図１Ｂ参照）。次に、スパイン６０を上部プレート１０に連結するために使用される留め具を、空洞１６Ａ，１６Ｂに挿入することができる（図１Ｃ参照）。これらの留め具は、スパイン６０及びブラケット８０を上部プレート１０に取り付けるために、ブラケット８０の後面のネジ穴８６Ａ，８６Ｂ（図３参照）内に上部プレート１０を貫通して延び得る。
【0025】
ブラケット８０はまた、試験固定具１００内で試験のサンプルを支持するために使用され得る。ブラケット８０の内端は、サンプルと係合し、ブラケット８０上でサンプルを支持するように構成された構造８４を含み得る。図３に示されるブラケット８０及び構造８４は、単なる例示であることに留意されたい。一般に、使用されるブラケットとブラケット上に設けられる構造のタイプは、支持されるサンプルのタイプに依存する。いくつかの実施形態では、第１のブラケット（例えば、ブラケット８０）を使用して、１つの試験中に１つのタイプのサンプルを支持し得る。その試験の後、別の試験の異なるサンプルを支持するために、ブラケットが取り外され、別のブラケットが中央空洞１５に取り付けられ得る。異なるタイプのサンプルを支持するように構成されたブラケットをすばやく切り替える機能により、試験固定具の適応性が向上する。
【0026】
いくつかの実施形態では、ブラケット８０に設けられる構造は、別のブラケットを支持するように構成され得る。例えば、図３、図３Ａ、及び図３Ｂのブラケット８０を参照すると、いくつかの実施形態では、ブラケット８０の内面上の構造８４は、サンプルを支持するように構成された別のブラケット８０Ａと係合して支持するように構成され得る（例えば、ブラケット８０に嵌合し、いくつかの試験サンプルを支持するように構成される内側ブラケット８０Ａ）。そのような実施形態では、上部プレート１０に取り付けられたブラケット（例えば、ブラケット８０）は、異なるように構成された試験サンプルを支持するために交換されなくてもよい。代わりに、上部プレートに取り付けられたブラケット８０によって支持されている内側ブラケット８０Ａを、新しい試験サンプルを支持するように構成された別の内側ブラケットと置き換えてもよい。ブラケット及び／又は内側ブラケットを迅速に交換して異なるサンプル構成を支持する機能により、試験固定具１００を使用して多くの異なる構成の試験サンプルを支持することができる。
【0027】
内側ブラケット８０Ａは、円形の開口部、及び例えば注射器等の試験サンプルを支持するように構成された他の適切な構造を含み得る。いくつかの実施形態では、内側ブラケット８０Ａは、ＵＴＭによって実施される試験で使用される１つ以上の注射器アダプタ又はパックを受けるように構成され得る。注射器アダプタ又はパックは、市販のもの又はカスタムメイドであってもよく、異なるサンプル、注射器、容器等を支持するように個別に設計され得る。例えば、アダプタ又はパックは、様々な注射器の直径、形状、構成等を収容又は支持するように構成され得る。
【0028】
いくつかの実施形態では、上部プレート１０のブラケット（例えば、ブラケット８０）及び中間プレート３０のフィンガーアセンブリ４０は、試験用のサンプルを協働で支持するように構成され得る。例えば、（上部及び中間プレート１０，３０の）空洞１２，３２の両方を貫通して延びる（例えば、垂直に貫通する）注射器は、上部プレート１０のブラケット８０及び中間プレート３０のフィンガーアセンブリ４０のフィンガー４６の両方によって支持され得る。サムホイール５４を使用して中間プレート３０を垂直に移動させることによって上部及び中間プレート１０，３０との間の間隔を変更する機能により、固定具を変更することなく、異なる構成及びサイズのサンプルを試験固定具１００上で容易に支持することができる。異なる試験サンプルを試験するために試験固定具１００を容易に再構成する能力により、時間及び費用を節約しながら効率が高められる。
【0029】
図５Ａ及び図５Ｂは、センタープレート３０に装着可能な例示的な交換部品を示す。例えば図５Ａは、プラットフォーム５０２上でサンプル収集容器を支持するために使用することができるサンプル保持アーム５００を示す。例えば、保持アーム５００は、張力で試験される「バルク（ｂｕｌｋ）」主容器（すなわち、注射器）を支持するために使用されてもよく、又は保持アーム５００は、サンプルの計量が必要でない場合、廃棄物収集カップを保持するために使用されてもよい。これらの使用は非限定的であり、保持アーム５００は他の試験の用途でも同様に使用され得ることが企図される。サンプル収集容器は、試験中に注射器又は試験装置から排出された液体を収集し得る。同様に、図５Ｂは、遠心分離管等を支持又は保持するために使用することができるホルダ５１０を示す。図５Ａ及び図５Ｂに示される交換部品又はアダプタは、フィンガーアセンブリ４０を利用しない特定の試験で使用され得る。保持アーム５００及び／又はホルダ５１０は、保持アーム５００及び／又はホルダ５１０の開口を貫通し、センタープレート３０の開口を貫通して延びる１つ以上の留め具（例えば、ボルト）によって、センタープレート３０に連結され得る。
【0030】
図５Ｃ～図５Ｅは、例えば、ＩＳＯバイアル又は他の同様の容器で試験を実施するために上部プレート１０と一緒に使用することができる例示的な交換部品を示す。図５Ｃは、（上述した内側ブラケット８０Ａの代わりに）内側ブラケット８０Ｂと一緒に使用されるブラケット８０を示す。内側ブラケット８０Ｂは、穿刺試験用のバイアルを支持するために使用され得る。内側ブラケット８０Ｂは、内側ブラケット８０Ｂをブラケット８０に連結するために、ブラケット８０の上面に載るように構成された嵌合フランジ８０Ｃを含み得る。内側ブラケット８０Ｂはまた、嵌合フランジ８０Ｃからオフセットされた（異なる平面にある）底面８０Ｄを含み得るが、少なくともいくつかの実施形態では、嵌合フランジ８０Ｃ及び底面８０Ｄは同一平面上にあってもよいことが企図される。側壁８０Ｅは、嵌合フランジ８０Ｃと底面８０Ｄとの間に配置され得、いくつかの実施形態では、嵌合フランジ８０Ｃ及び底面８０Ｄの両方に対して実質的に垂直であってもよい。側壁８０Ｅは、両端部が側壁８０Ｅの実質的に平行な部分に接続される部分的に円筒形の部分を含み得る。側壁８０Ｅの部分的に円筒形の部分は、試験されるサンプル容器又はバイアルの半径に近似する、又はそれよりわずかに大きい半径を有し得る。さらに、側壁８０Ｅの実質的に平行な部分の間の距離は、試験されるサンプル容器又はバイアルの半径に近似し得る、又はそれよりわずかに大きくし得る。試験中、サンプル容器又はバイアルの下部は、底面８０Ｄ及び側壁８０Ｅによって支持され得る。
【0031】
図５Ｄは、例えば突起８２Ｂを使用して、本明細書で述べたブラケット８０と実質的に同様の方法で上部プレート１０に挿入され得るブラケット８０Ｆを示す。ブラケット８０Ｆは、突起８２Ｂの上に配置され、かつ突起８２Ｂからオフセットされた上面８０Ｇを含み得るが、いくつかの実施形態では、これらは同一平面上にあってもよい。ブラケット８０Ｆは、上面８０Ｇから上方に向かって離れるように延びる１つ以上の支柱８０Ｈを含み得る。図示される実施形態では、ブラケット８０Ｆは３つの支柱８０Ｈを含むが、この数は限定的ではなく、ブラケット８０Ｆはより多い又はより少ない支柱８０Ｈを含んでもよい。各支柱８０Ｈは、それを貫通して延びる管腔を含み得、かつ留め具（ボルト又はネジ等）の補完的な構造を受けるために、ネジ山、レール等のような１つ以上の嵌合構造を含み得る。ブラケット８０Ｆは、上面８０Ｇよりも低く配置され、かつ上面８０Ｇからオフセットされた底面８０Ｉを含み得る。側壁８０Ｊは、上面８０Ｇと底面８０Ｉとの間に配置され、かつ上面８０Ｇ及び底面８０Ｉに対して実質的に垂直であり得る。上述した側壁８０Ｅと同様に、側壁８０Ｊは、両端部が側壁８０Ｊの実質的に平行な部分に接続される部分的に円筒形の部分を含み得る。
【0032】
図５Ｅは、サンプル容器又はバイアルでキャップ除去力試験（試験力がサンプル容器又はバイアルの側面から回転する）を実施するためにブラケット８０Ｆに連結されて使用され得る保持プレート８０Ｋを示す。保持プレート８０Ｋは、ブラケット８０Ｆからの対応する支柱８０Ｈと整列するようにそれぞれ構成された、保持プレート８０Ｋを貫通して延びる１つ以上の開口部８０Ｌを含み得る。図示される実施形態では、保持プレート８０Ｋは、３つの開口部８０Ｌを含むが、これは限定的ではなく、保持プレート８０ｋは、追加の又はより少ない開口部８０Ｌを含んでもよい。保持プレート８０Ｋは、ブラケット８０Ｆの底面８０Ｉに少なくとも部分的に形状が対応する凹部８０Ｍを含み得る。追加的に、側壁８０Ｎは、凹部８０Ｍを取り囲んでもよく、側壁８０Ｎの一部は、形状及び幾何学的にブラケット８０Ｆの側壁８０Ｊに対応してもよい。保持プレート８０Ｋがブラケット８０Ｆに連結されるときに、側壁８０Ｊ，８０Ｎの部分的に円筒形の部分は、垂直に整列され得る。
【0033】
保持プレート８０Ｋは、開口部８０Ｌを支柱８０Ｈの管腔の開口部と整列させることによってブラケット８０Ｆに連結され得る。留め具（ネジ又はボルト等）をそれぞれの開口部８０Ｌ／支柱８０Ｈに挿入して、保持プレート８０Ｋをブラケット８０Ｆに固定し得る。保持プレート８０Ｋ及びブラケット８０Ｆの対応する形状は、保持プレート８０Ｋ及びブラケット８０Ｆの両方が、同じサンプル容器又はバイアルの異なる部分を支持することを可能にし得る。例えば、底面８０Ｉ及び側壁８０Ｊは、サンプル容器又はバイアルの下部を支持しつつ、側壁８０Ｎは、同じサンプル容器又はバイアルの上部又は中間部分を支持し得る。
【0034】
図５Ｃ～図５Ｅの構成要素は、本明細書に記載されている他の交換部品と同様に、同じ試験を実施するために使用される既存の構成要素よりも実質的に短い時間で設計及び製造され得る。例えば、図５Ｃ～５Ｅの構成要素は、３時間未満で設計でき、１０時間未満でプリントできる。上記のようにこれらの交換部品は、ＩＳＯバイアルの試験に使用され得、試験固定具１００は、サンプルと交換部品とを同心に保ち、サンプル容器又はバイアルをシステムの最小試験高さに配置するのに役立ち得る。試験固定具１００、及びそのさまざまな交換部品は、異なる構成要素（例えば、充填済み注射器及びＩＳＯバイアル）の試験に対応するために試験固定具１００を迅速に変更することを可能にするが、既存の試験構成は、はるかに多くのハードウェア及びセットアップ時間／コストを必要とする。
【0035】
本開示の実施形態は、任意の適切な試験構成で使用され得る。例えば、本開示の実施形態は、注射器又は自動注入器の試験において、力対時間の日付（ｄａｔｅ）を収集するために使用され得る。開示された装置は、例えば、離脱力（ｂｒｅａｋａｗａｙ ｆｏｒｃｅ）試験（プランジャを最初に押し下げるのに必要な力を判定する）又は摺動持続／摺動平衡力（ｓｕｓｔａｉｎｉｎｇ／ｇｌｉｄｅ ｆｏｒｃｅ）試験（プランジャを移動させ続けるのに必要な力を判定する）等の注射器／プランジャ力試験で使用することができる。開示された装置はまた、（１）針キャップ又は他の引き抜き試験（例えば、針／安全キャップを取り除く力）、（２）活性化力及び変位試験、（３）針ガードを変位させるのに必要な力を判定するための試験、（４）針の貫通及び引き抜き試験、（５）Ｌｕｅｒ ｃｏｎｅ破損試験、において使用することができる。開示された装置はまた、ブリスターパック試験、ピルクラッシュ試験、あるいは新たな支持構造の開発又は購入を必要とするＵＴＭによって実施される他の試験に使用され得る。したがって、開示された装置は、試験される装置を特定の向きに固定する又は締め付ける必要がある、医療装置等の装置、サンプル容器、又はバイアルの任意の引張又は圧縮試験で使用され得る。開示された装置は、体積が約０．５ｍＬから約５ｍＬ以上の範囲の多種多様な試験構造物を固定するために使用され得る。例えば約０．５ｍＬ以下の容量を有する容器、例えば約０．４ｍＬ以下、約０．３ｍＬ以下、約０．２ｍＬ以下、又は約０．１ｍＬ以下を含む、より小さく、より大きな容量の容器もまた企図される。さらに、例えば約１０ｍＬ以上、約２０ｍＬ以上、約３０ｍＬ以上等の容量を有する容器を含む、約５ｍＬより大きい容器が試験され得る。試験される容器は、円筒形、円錐形、長方形、ピラミッド形、不規則な形状であり得、及び／又は他の任意の適切な形状又は形状の組み合わせを有し得る。
【0036】
図６は、例示的な方法６００を示す。方法６００は、ステップ６０２で開始し得、試験装置１００は、例えば上記のような万能試験機等の試験機に連結される、又は固定され得る。次に、方法６００は、ステップ６０４に進み、ユーザは、所望の第１の試験のために、適切な挿入物（ｉｎｓｅｒｔ）又は交換部品を選択し、試験固定具１００に固定し得る。例えば、ユーザは、ブラケット８０、内側ブラケット８０Ａ、フィンガーアセンブリ４０、保持アーム５００、ホルダ５１０、及び／又は第１の試験に必要な他の任意の適切な交換部品のうちの１つ以上を選択し得る。方法６００はまた、試験固定具１００及び選択された交換部品がさらに構成され得るステップ６０６を含み得る。これには、例えば第１の試験で必要な場合に垂直方向にセンタープレート３０を移動すること、フィンガーアセンブリ４０の張力を調整すること、又は他の必要なセットアップ作業が含まれ得る。ステップ６０６は、ステップ６０４の前、途中、又は後に行われてもよい。次に、方法６００は、第１の試験が実施されるステップ６０８に進み得る。場合によっては、ユーザは試験固定具１００を使用して別の試験を実施することを望むことがある。したがって、方法６００は、ステップ６１０に進み得、ユーザは、第２の試験又は後続の試験中に使用する新しい挿入物又は交換部品を選択し得る。ステップ６１０から、方法６００は、ステップ６１２，６１４に進み得、これらのステップは、それぞれ、ステップ６０４，６０６と実質的に同様であり得、第１の試験と第２又は後続の試験との間の差異に起因して必要に応じて変更される。ステップ６０４，６０６と同様に、ステップ６１２は、ステップ６１０の前、途中、又は後に行われてもよい。ステップ６１４の後、方法６００は完了してもよく、又は追加の後続の試験のためにステップ６１０に戻ってもよい。
【0037】
第２又は後続の試験は、第１の試験と同じタイプの試験（例えば、摺動平衡（ｇｌｉｄｅ）試験）であり得るが、異なるサンプル又は装置（例えば、異なる注射器）で実施され得る。第２又は後続の試験はまた、第１の試験で使用されたものと同じサンプル又は装置での異なるタイプの試験、又は第１の試験で使用されたものと異なるサンプル／装置での異なるタイプの試験であり得る。しかし、第２又は後続の試験で使用が企図される試験又はサンプルのタイプに関係なく、同じ試験固定具１００が使用され得、新しい構成の交換部品及び／又は挿入物が単に必要とされ得る。例えば、新しいブラケット８０及び／又は新しい内側ブラケット８０Ａが試験で使用され得る。いくつかの例では、新しい内側ブラケット８０Ａのみが利用されてもよく、又は内側ブラケット８０Ａが取り外されてもよい。他の例では、保持アーム５００及び／又はホルダ５１０は、フィンガーフランジ４０を使用する代わりに、第２の試験でセンタープレート３０上で使用されてもよく、又はその逆もあり得る。いくつかの実施形態では、方法のステップ６１０は、試験固定具１００を万能試験機から分離することなく行われ得る。しかし、これは限定的ではなく、実際、いくつかの実施形態では、試験固定具１００は、異なる試験間でいくらかの分離／再結合を必要としながら、異なる万能試験機と一緒に又は同じ万能試験機と一緒に使用され得ることが企図される。
【0038】
本開示の実施形態は、既存の試験解決策と比較して、最小の諸経費で試験を実施することを可能にし得る。例えば、既存の試験設備の費用は１００ドルから１，０００ドルを超える範囲である。さらに、新しい試験を実施するために新しい設備を購入しなければならず、その結果、資本コスト及び従業員の人件費（多くの場合、資本コストよりも大幅に高い）の両方が支出されることになる。さらに、既存の設備では、新しい試験装置の設計、製造、及び／又は出荷の際に生産性の損失が生じる。しかし、本開示のモジュラー試験固定具は、これらの問題を軽減するのに役立ち得る。例えば、初期モジュールや、例えば３Ｄプリンタ（約３００ドルから約２５０，０００ドル以上の範囲）に投資した後、特に多くのユーザが既に適切な３Ｄプリンタに投資している可能性があるため、新しい試験を大幅に低いコストで実施することができる。一部の３Ｄプリンタは、挿入物又は交換部品を最終的なすぐに使用できる形式でプリントするように構成され得るが、他のプリンタは、さらなる変更が必要な中間構成要素をプリントすることがある。例えば、特定のプリンタでは、追加の支持体（例えば、鋼棒）が必要になることがあり、又は中間構成要素をさらにフライス加工又は機械加工することが必要になることがある。例えば、新しい挿入物や交換部品には、１０～１００ドル程度の材料費が含まれ得る。モジュール全体ではなく、設計する必要があるのが挿入物／交換部品のみであるため、設計時間（したがって従業員の人件費）が削減される。さらに、挿入物／交換部品を作成するための設計及び製造の専門知識をあまり必要としないため、試験機器の作成に十分な経験がない可能性のある個人（例えば化学者、化学技術者、生物医学技術者、生物科学者等）でも、適切な挿入物／交換部品を作成できることがある。さらに、エンジニアリング／設計／製造の専門家に追加の支援を要請する場合、そのような支援は、まったく新しい試験の設備が必要な場合と比較して限定的であり得る。さらに、本開示の挿入物／交換部品の多くは、現場で（例えば、３Ｄプリンタによって）プリントされ得る。これにより、カスタムの挿入物／交換部品は数時間／日で使用できるため、新しい試験設備を構築して出荷するために必要な長いタイムフレームと比較して、生産性の損失を低減し得る。さらに、新しい挿入物又は交換部品の設計後、そのような挿入物又は交換部品の３Ｄプリントは、約４００米ドルから約７００米ドルの範囲のユーザの費用で、第三者の３Ｄプリンタに委託され得ることが企図される。
【0039】
本開示の実施形態では、新しい交換部品の必要性が第１の時点で特定され得、そして新しい交換部品が、すぐに使用できる構成要素に設計及び製造（例えば、３Ｄプリントによって）され得、その後、引張試験又は圧縮試験で、約１２時間以内（第１の時点から測定）に使用されることが企図される。特に特定の構成要素の複雑さを考慮すると、他の時間期間もまた企図される。他の実施形態では、新しい交換部品はすぐに使用でき、交換部品は、第１の時点から測定して、約１８時間以内又は約２４時間以内に、引張又は圧縮試験で実際に使用され得る。さらに、本開示の少なくともいくつかの実施形態では、新しい交換部品は、３Ｄプリント（すなわち、プリント指示を３Ｄプリンタに送信し、完全な、すぐに使用できる構成要素を、他の任意のフライス加工、機械加工等の必要なしにプリントすること）によってのみ製造されてもよい。
【0040】
本明細書で使用される場合、挿入物又は交換部品は、サンプル又は容器に対して圧縮及び／又は引張試験を実施するために、モジュール式試験固定具を使用して試験サンプル又は容器を支持及び／又は配向するために必要とされる任意の構成要素であり得る。構成要素は、試験サンプル又は容器に直接又は間接的に接触し得、ブラケット、プラットフォーム、支持面、支柱、フランジ、留め具等の任意の構造を含み得るが、これらに限定されない。
【0041】
本開示の原理は、別の装置（例えば、ＵＴＭ）と組み合わせて使用され得る試験固定具を参照して本明細書に記載されているが、本開示はそれに限定されないことを理解されたい。むしろ、本明細書に記載のシステムは、任意の用途の電池に使用することができる。また、当業者及び本明細書で提供される教示へのアクセスを有する者は、追加の変更、適用、実施形態、及び均等物の置換がすべて本明細書に記載の実施形態の範囲内にあることを認識する。したがって、本開示は、前述の説明によって限定されるものとはみなされない。例えば、特定の特徴が様々な実施形態に関連して説明されてきたが、本明細書に開示される任意の実施形態に関連して説明される任意の特徴は、本明細書に開示される任意の他の実施形態とともに使用され得ることが理解されるべきである。
以下、上記実施形態から把握できる技術的思想について記載する。
［付記１］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第１の開口部を有する第１の空洞を含む第２のプラットフォームであって、前記第１の空洞は前記第１の開口部から第２のプラットフォームの中心に向かって延びる、第２のプラットフォームと、
前記第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第２の開口部を有する第２の空洞を含む第３のプラットフォームであって、前記第２の空洞は前記第２の開口部から第３のプラットフォームの中心に向かって延びる、第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリをさらに含む、試験装置。
［付記２］
前記移動アセンブリは、第１の長手方向軸を有し、前記移動アセンブリは、前記第１のプラットフォーム、前記第２のプラットフォーム、及び前記第３のプラットフォームの各々に連結され、前記第１の長手方向軸の周りの前記移動アセンブリの回転により、前記第２のプラットフォームが前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動する、付記１に記載の試験装置。
［付記３］
前記第１の空洞及び前記第２の空洞の各々の少なくとも一部は、前記移動アセンブリの前記第１の長手方向軸に平行である第２の長手方向軸に沿って配置される、付記２に記載の試験装置。
［付記４］
前記第１の開口部及び前記第２の開口部は、同じ方向を向いている、付記１に記載の試験装置。
［付記５］
前記同じ方向は、前記試験装置の前方を向く、付記４に記載の試験装置。
［付記６］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームは、互いに実質的に平行である、付記１に記載の試験装置。
［付記７］
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームは、互いに実質的に平行である、付記６に記載の試験装置。
［付記８］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームは、互いに対して固定される、付記１に記載の試験装置。
［付記９］
前記移動アセンブリは、エンドレスネジを含む、付記１に記載の試験装置。
［付記１０］
前記第２のプラットフォームは、前記エンドレスネジを受けるネジ状留め具を含む、付記９に記載の試験装置。
［付記１１］
前記第１のプラットフォームは、前記移動アセンブリの端部を受けるように構成された駆動アセンブリを含み、前記駆動アセンブリは、前記移動アセンブリを前記第１の長手方向軸の周りで回転させるように構成されたサムホイールを含む、付記２に記載の試験装置。
［付記１２］
前記駆動アセンブリは、前記サムホイールによって囲まれたカラーを含み、前記移動アセンブリは、前記カラーを貫通して延びる、付記１１に記載の試験装置。
［付記１３］
前記試験装置は、圧縮試験及び引張試験の少なくとも一方で使用される、付記１に記載の試験装置。
［付記１４］
前記第２のプラットフォームは、第１のトラック及び第２のトラックを含み、前記第１のトラック及び前記第２のトラックの各々は、バネ式ホルダを受けるように構成される、付記１に記載の試験装置。
［付記１５］
前記第１のトラック及び前記第２のトラックは、同一直線上にある、付記１４に記載の試験装置。
［付記１６］
前記第１のトラックによって受けられるように構成された第１のバネ式ホルダと、前記第２のトラックによって受けられるように構成された第２のバネ式ホルダと、をさらに含む、付記１４に記載の試験装置。
［付記１７］
前記第１のバネ式ホルダは第１のフィンガー及び第１のバネを含み、前記第１のフィンガーは前記第１のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢され、第２のバネ式ホルダは第２のフィンガー及び第２のバネを含み、前記第２のフィンガーは、前記第２のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、付記１６に記載の試験装置。
［付記１８］
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに固定されたスパインをさらに含み、前記第２のプラットフォームは、前記スパインが貫通して延びる第３の開口部を含み、前記スパインは、前記第１の空洞及び前記第２の空洞の閉じた端部に隣接する、付記１に記載の試験装置。
［付記１９］
前記スパインは、ポリマーと、前記ポリマー内に配置された１つ以上の金属シートと、を含む、付記１８に記載の試験装置。
［付記２０］
前記第２の空洞によって取り外し可能に受けられるＵ字形のブラケットをさらに含む、付記１に記載の試験装置。
［付記２１］
前記第２の空洞は、１つ以上のスロットを含み、前記Ｕ字形のブラケットは、前記１つ以上のスロットによって受けられるように構成された１つ以上の突起を含む、付記２０に記載の試験装置。
［付記２２］
前記第２のプラットフォームは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面と実質的に平行な第２の側端面を含み、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第１の支持体及び第２の支持体を含み、前記第１の支持体及び前記第２の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面の近くに配置される、付記１に記載の試験装置。
［付記２３］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第３の支持体をさらに含み、前記第３の支持体は、前記第１の支持体及び前記第２の支持体の各々よりも大きい直径を有し、前記第３の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、付記２２に記載の試験装置。
［付記２４］
前記移動アセンブリは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、付記２２に記載の試験装置。
［付記２５］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームであって、第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる開口部を有する空洞と、第１のトラック及び第２のトラックと、を含む、第２のプラットフォームと、
第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリと、
前記第１のトラックによって受けられるように構成された第１のバネ式ホルダであって、第１のフィンガー及び第１のバネを含み、前記第１のフィンガーは前記第１のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、第１のバネ式ホルダと、
前記第２のトラックによって受けられるように構成された第２のバネ式ホルダであって、第２のフィンガー及び第２のバネを含み、前記第２のフィンガーは前記第２のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、第２のバネ式ホルダと、をさらに含む、試験装置。
［付記２６］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる開口部を有する空洞を含む第２のプラットフォームと、
第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリと、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに固定されたスパインであって、前記第２のプラットフォームはスパインが貫通して延びる開口部を含み、スパインは、ポリマー、及びポリマー内に配置された１つ以上の金属シートを含む、スパインと、をさらに含む試験装置。
［付記２７］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第１の開口部を有する第１の空洞を含む第２のプラットフォームであって、前記第１の空洞は前記第１の開口部から第２のプラットフォームの中心に向かって延びる、第２のプラットフォームと、
前記第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第２の開口部を有する第２の空洞を含む第３のプラットフォームであって、前記第２の空洞は前記第２の開口部から第３のプラットフォームの中心に向かって延びる、第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリをさらに含み、
約２００Ｎの荷重が前記第３のプラットフォームに加えられたときに、前記第３のプラットフォームは、約０．４０ｍｍ以下の変位を示す、試験装置。
［付記２８］
前記荷重が加えられたときに、前記第３のプラットフォームは、約０．２３ｍｍ以下の変位を示す、付記２７に記載の試験装置。
以下、上記実施形態から把握できる技術的思想について記載する。
［付記１］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第１の開口部を有する第１の空洞を含む第２のプラットフォームであって、前記第１の空洞は前記第１の開口部から第２のプラットフォームの中心に向かって延びる、第２のプラットフォームと、
前記第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第２の開口部を有する第２の空洞を含む第３のプラットフォームであって、前記第２の空洞は前記第２の開口部から第３のプラットフォームの中心に向かって延びる、第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリをさらに含む、試験装置。
［付記２］
前記移動アセンブリは、第１の長手方向軸を有し、前記移動アセンブリは、前記第１のプラットフォーム、前記第２のプラットフォーム、及び前記第３のプラットフォームの各々に連結され、前記第１の長手方向軸の周りの前記移動アセンブリの回転により、前記第２のプラットフォームが前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動する、付記１に記載の試験装置。
［付記３］
前記第１の空洞及び前記第２の空洞の各々の少なくとも一部は、前記移動アセンブリの前記第１の長手方向軸に平行である第２の長手方向軸に沿って配置される、付記２に記載の試験装置。
［付記４］
前記第１の開口部及び前記第２の開口部は、同じ方向を向いている、付記１に記載の試験装置。
［付記５］
前記同じ方向は、前記試験装置の前方を向く、付記４に記載の試験装置。
［付記６］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームは、互いに実質的に平行である、付記１に記載の試験装置。
［付記７］
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームは、互いに実質的に平行である、付記６に記載の試験装置。
［付記８］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームは、互いに対して固定される、付記１に記載の試験装置。
［付記９］
前記移動アセンブリは、エンドレスネジを含む、付記１に記載の試験装置。
［付記１０］
前記第２のプラットフォームは、前記エンドレスネジを受けるネジ状留め具を含む、付記９に記載の試験装置。
［付記１１］
前記第１のプラットフォームは、前記移動アセンブリの端部を受けるように構成された駆動アセンブリを含み、前記駆動アセンブリは、前記移動アセンブリを前記第１の長手方向軸の周りで回転させるように構成されたサムホイールを含む、付記２に記載の試験装置。
［付記１２］
前記駆動アセンブリは、前記サムホイールによって囲まれたカラーを含み、前記移動アセンブリは、前記カラーを貫通して延びる、付記１１に記載の試験装置。
［付記１３］
前記試験装置は、圧縮試験及び引張試験の少なくとも一方で使用される、付記１に記載の試験装置。
［付記１４］
前記第２のプラットフォームは、第１のトラック及び第２のトラックを含み、前記第１のトラック及び前記第２のトラックの各々は、バネ式ホルダを受けるように構成される、付記１に記載の試験装置。
［付記１５］
前記第１のトラック及び前記第２のトラックは、同一直線上にある、付記１４に記載の試験装置。
［付記１６］
前記第１のトラックによって受けられるように構成された第１のバネ式ホルダと、前記第２のトラックによって受けられるように構成された第２のバネ式ホルダと、をさらに含む、付記１４に記載の試験装置。
［付記１７］
前記第１のバネ式ホルダは第１のフィンガー及び第１のバネを含み、前記第１のフィンガーは前記第１のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢され、第２のバネ式ホルダは第２のフィンガー及び第２のバネを含み、前記第２のフィンガーは、前記第２のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、付記１６に記載の試験装置。
［付記１８］
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに固定されたスパインをさらに含み、前記第２のプラットフォームは、前記スパインが貫通して延びる第３の開口部を含み、前記スパインは、前記第１の空洞及び前記第２の空洞の閉じた端部に隣接する、付記１に記載の試験装置。
［付記１９］
前記スパインは、ポリマーと、前記ポリマー内に配置された１つ以上の金属シートと、を含む、付記１８に記載の試験装置。
［付記２０］
前記第２の空洞によって取り外し可能に受けられるＵ字形のブラケットをさらに含む、付記１に記載の試験装置。
［付記２１］
前記第２の空洞は、１つ以上のスロットを含み、前記Ｕ字形のブラケットは、前記１つ以上のスロットによって受けられるように構成された１つ以上の突起を含む、付記２０に記載の試験装置。
［付記２２］
前記第２のプラットフォームは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面と実質的に平行な第２の側端面を含み、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第１の支持体及び第２の支持体を含み、前記第１の支持体及び前記第２の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面の近くに配置される、付記１に記載の試験装置。
［付記２３］
前記第１のプラットフォーム及び前記第２のプラットフォームに連結された第３の支持体をさらに含み、前記第３の支持体は、前記第１の支持体及び前記第２の支持体の各々よりも大きい直径を有し、前記第３の支持体は、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、付記２２に記載の試験装置。
［付記２４］
前記移動アセンブリは、前記第２のプラットフォームの前記第１の側端面よりも前記第２のプラットフォームの前記第２の側端面の近くに配置される、付記２２に記載の試験装置。
［付記２５］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームであって、第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる開口部を有する空洞と、第１のトラック及び第２のトラックと、を含む、第２のプラットフォームと、
第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリと、
前記第１のトラックによって受けられるように構成された第１のバネ式ホルダであって、第１のフィンガー及び第１のバネを含み、前記第１のフィンガーは前記第１のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、第１のバネ式ホルダと、
前記第２のトラックによって受けられるように構成された第２のバネ式ホルダであって、第２のフィンガー及び第２のバネを含み、前記第２のフィンガーは前記第２のバネによって前記第３のプラットフォームに向かって付勢される、第２のバネ式ホルダと、をさらに含む、試験装置。
［付記２６］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる開口部を有する空洞を含む第２のプラットフォームと、
第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリと、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに固定されたスパインであって、前記第２のプラットフォームはスパインが貫通して延びる開口部を含み、スパインは、ポリマー、及びポリマー内に配置された１つ以上の金属シートを含む、スパインと、をさらに含む試験装置。
［付記２７］
試験装置であって、
第１のプラットフォームと、
第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第１の開口部を有する第１の空洞を含む第２のプラットフォームであって、前記第１の空洞は前記第１の開口部から第２のプラットフォームの中心に向かって延びる、第２のプラットフォームと、
前記第２のプラットフォームの第１の側端面を貫通して延びる第２の開口部を有する第２の空洞を含む第３のプラットフォームであって、前記第２の空洞は前記第２の開口部から第３のプラットフォームの中心に向かって延びる、第３のプラットフォームと、を備え、
前記第２のプラットフォームは、
前記第１のプラットフォームと前記第３のプラットフォームとの間に配置され、
前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して移動可能であり、
前記試験装置は、前記第１のプラットフォーム及び前記第３のプラットフォームに対して前記第２のプラットフォームを移動させるように構成された移動アセンブリをさらに含み、
約２００Ｎの荷重が前記第３のプラットフォームに加えられたときに、前記第３のプラットフォームは、約０．４０ｍｍ以下の変位を示す、試験装置。
［付記２８］
前記荷重が加えられたときに、前記第３のプラットフォームは、約０．２３ｍｍ以下の変位を示す、付記２７に記載の試験装置。
【図1A】
【図1B】
【図1C】
【図1D】
【図2A】
【図2B】
【図3】
【図3A】
【図3B】
【図4A】
【図4B】
【図4C】
【図5A】
【図5B】
【図5C】
【図5D】
【図5E】
【図6】
