(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-10-29
(45)【発行日】2024-11-07
(54)【発明の名称】誤り率測定装置及び誤り率測定方法
(51)【国際特許分類】
H04L 1/00 20060101AFI20241030BHJP
H04L 25/49 20060101ALI20241030BHJP
H04B 3/46 20150101ALI20241030BHJP
【ＦＩ】
H04L1/00 C
H04L25/49 L
H04B3/46
【請求項の数】
10
(21)【出願番号】P 2023001218
(22)【出願日】2023-01-06
(65)【公開番号】P2024097630
(43)【公開日】2024-07-19
【審査請求日】2023-07-24
(73)【特許権者】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100067323
【弁理士】
【氏名又は名称】西村 教光
(74)【代理人】
【識別番号】100124268
【弁理士】
【氏名又は名称】鈴木 典行
(72)【発明者】
【氏名】大沼 弘季
(72)【発明者】
【氏名】佐藤 遼
【審査官】鉢呂 健
(56)【参考文献】
【文献】特開２０２１－１５３２２６（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０２０／０３６４１２９（ＵＳ，Ａ１）
【文献】MX190000A シグナルクオリティアナライザ-R 制御ソフトウェア 取扱説明書，第16版，アンリツ株式会社，2022年09月30日，pp.4-65～4-68，<URL:https://dl.cdn-anritsu.com/ja-jp/test-measurement/files/Manuals/Operation-Manual/MP1900A/mx190000a_opm_j_16_0.pdf>
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０４Ｌ １／００
Ｈ０４Ｌ １／０８－１／２４
Ｈ０４Ｌ ２５／４９
Ｈ０４Ｂ ３／４６
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
被測定物（Ｗ）のＦＥＣ（Forward Error Correction）動作が可能か否かを測定する誤り率測定装置（１）であって、ＦＥＣシンボル、１ｂ／１ｂエンコーディング、ビットの中から選択される検索モード、ＭＳＢ、ＬＳＢ、全てのデータの中から選択される検索対象のデータ、エラー数をそれぞれ設定する操作部（４）と、
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御する表示制御手段（７ｄ）と、
前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルのエラーサーチを行う場合は、前記ＦＥＣシンボルを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチし、前記ＦＥＣシンボルとして定義されない領域のエラーサーチを行う場合は、前記１ｂ／１ｂエンコーディングを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチするエラーサーチ手段（７ｅ）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項2】
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをカウントするエラーカウント手段（７ｃ）を備え、前記表示制御手段（７ｄ）は、前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示画面に表示制御することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
【請求項3】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部（５）を備え、
前記表示制御手段（７ｄ）は、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線（４４）で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。
【請求項4】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部（５）を備え、
前記表示制御手段（７ｄ）は、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線（４４）で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。
【請求項5】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部（５）と、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンを生成するリファレンスパターン生成手段（７ａ）を備え、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部（４）にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出することを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。
【請求項6】
被測定物（Ｗ）のＦＥＣ（Forward Error Correction）動作が可能か否かを測定する誤り率測定方法であって、ＦＥＣシンボル、１ｂ／１ｂエンコーディング、ビットの中から選択される検索モード、ＭＳＢ、ＬＳＢ、全てのデータの中から選択される検索対象のデータ、エラー数を操作部（４）によりそれぞれ設定するステップと、
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、表示制御手段（７ｄ）により前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御するステップと、
エラーサーチ手段（７ｅ）により、前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルのエラーサーチを行う場合は、前記ＦＥＣシンボルを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチし、前記ＦＥＣシンボルとして定義されない領域のエラーサーチを行う場合は、前記１ｂ／１ｂエンコーディングを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチするステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【請求項7】
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをエラーカウント手段（７ｃ）によりカウントするステップと、前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示制御手段（７ｄ）により前記表示画面に表示制御するステップと、を含むことを特徴とする請求項６に記載の誤り率測定方法。
【請求項8】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部（５）に記憶するステップと、
前記表示制御手段（７ｄ）により、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線（４４）で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする請求項６または７に記載の誤り率測定方法。
【請求項9】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部（５）に記憶するステップと、
前記表示制御手段（７ｄ）により、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線（４４）で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする請求項６または７に記載の誤り率測定方法。
【請求項10】
パターン発生器（２）が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物（Ｗ）から折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部（５）に記憶するステップと、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンをリファレンスパターン生成手段（７ａ）により生成するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部（４）にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力ステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、を含むことを特徴とする請求項６または７に記載の誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターン（ＰＡＭ４信号）をテスト信号として被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定するにあたって、特に、被測定物のＦＥＣ（Forward Error Correction：前方誤り訂正）動作が可能か否かを測定する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する装置として従来から知られている。
【0003】
従来の誤り率測定装置では、例えば下記特許文献１に開示されるように、ＩＥＥＥ ８０２．３規格に準拠したＲＳ－ＦＥＣ測定機能を有しており、コードワード長で区切った領域のコードワード長ごとのＦＥＣシンボルエラー数を集計し、各々のエラーカウント数及びエラーレートを取得しＧＵＩに表示していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【文献】特開２０２１－１３６６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
上記特許文献１に示す従来の誤り率測定装置では、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格特有のＦｌｉｔデータに対応しておらず、キャプチャデータにエラーがあった場合、Ｆｌｉｔ内でのＦＥＣシンボルエラーの探索を行うことができなかった。しかも、Ｆｌｉｔ外データにエラーが分布しているのかも把握できなかった。
【0006】
また、上記特許文献１に示す従来の誤り率測定装置では、ユーザが設定したデータ長ごとに連続でエラーが挿入された場合、設定したシンボル（ＦＥＣシンボル或いは１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇシンボル）数以上の条件で連続したエラーを探索してサーチすることができなかった。このため、連続シンボル（ＦＥＣシンボル或いは１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇシンボル）のエラー発生箇所を目視で探索する必要があり、被測定物のデバッグを進めることが困難となる問題があった。
【0007】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーとＦｌｉｔとして定義されない領域のシンボルエラーとを区別してエラーサーチを行うことができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、被測定物ＷのＦＥＣ（Forward Error Correction）動作が可能か否かを測定する誤り率測定装置１であって、
ＦＥＣシンボル、１ｂ／１ｂエンコーディング、ビットの中から選択される検索モード、ＭＳＢ、ＬＳＢ、全てのデータの中から選択される検索対象のデータ、エラー数をそれぞれ設定する操作部４と、
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御する表示制御手段７ｄと、
前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルのエラーサーチを行う場合は、前記ＦＥＣシンボルを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチし、前記ＦＥＣシンボルとして定義されない領域のエラーサーチを行う場合は、前記１ｂ／１ｂエンコーディングを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチするエラーサーチ手段７ｅと、を備えたことを特徴とする。
ＦＥＣシンボル、１ｂ／１ｂエンコーディング、ビットの中から選択される検索モード、ＭＳＢ、ＬＳＢ、全てのデータの中から選択される検索対象のデータ、エラー数をそれぞれ設定する操作部４と、
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御する表示制御手段７ｄと、
前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルのエラーサーチを行う場合は、前記ＦＥＣシンボルを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチし、前記ＦＥＣシンボルとして定義されない領域のエラーサーチを行う場合は、前記１ｂ／１ｂエンコーディングを前記検索モードとして選択して設定するとともに前記検索対象のデータと前記エラー数を設定してエラーをサーチするエラーサーチ手段７ｅと、を備えたことを特徴とする。
【0009】
本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをカウントするエラーカウント手段７ｃを備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示画面に表示制御することを特徴とする。
本発明の請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５を備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする。
本発明の請求項４に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５を備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする。
本発明の請求項５に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５と、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンを生成するリファレンスパターン生成手段７ａを備え、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部４にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出することを特徴とする。
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをカウントするエラーカウント手段７ｃを備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示画面に表示制御することを特徴とする。
本発明の請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５を備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする。
本発明の請求項４に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５を備え、
前記表示制御手段７ｄは、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示することを特徴とする。
本発明の請求項５に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶する記憶部５と、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンを生成するリファレンスパターン生成手段７ａを備え、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部４にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出し、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力し、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出することを特徴とする。
【0010】
本発明の請求項６に記載された誤り率測定方法は、被測定物ＷのＦＥＣ（Forward Error Correction）動作が可能か否かを測定する誤り率測定方法であって、
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、表示制御手段７ｄにより前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御するステップと、
エラーサーチ手段７ｅにより前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーと前記Ｆｌｉｔとして定義されない領域のシンボルエラーとを区別してエラーをサーチするステップと、を含むことを特徴とする。
前記被測定物からのＰＡＭ４信号をハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、表示制御手段７ｄにより前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別して並べて表示画面に表示制御するステップと、
エラーサーチ手段７ｅにより前記ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーと前記Ｆｌｉｔとして定義されない領域のシンボルエラーとを区別してエラーをサーチするステップと、を含むことを特徴とする。
【0011】
本発明の請求項７に記載された誤り率測定方法は、請求項６の誤り率測定方法において、
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをエラーカウント手段７ｃによりカウントするステップと、
前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示制御手段７ｄにより前記表示画面に表示制御するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項８に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記表示制御手段７ｄにより、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項９に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記表示制御手段７ｄにより、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項１０に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンをリファレンスパターン生成手段７ａにより生成するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部４にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力ステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、を含むことを特徴とする。
前記区切った領域のＦＥＣシンボルとして定義されない領域をマスクしたときの前記ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーをエラーカウント手段７ｃによりカウントするステップと、
前記エラーカウント手段にてカウントされたＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのエラー数を前記表示制御手段７ｄにより前記表示画面に表示制御するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項８に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記表示制御手段７ｄにより、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分のシンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータを上下対に並べて複数段にわたって表示し、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項９に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記表示制御手段７ｄにより、前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを複数段にわたって表示し、複数段のＰＡＭ４信号のデータを前記ハイスピードシリアルバス規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４で区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明の請求項１０に記載された誤り率測定方法は、請求項６または７の誤り率測定方法において、
パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号の送信に伴って前記被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に記憶するステップと、
前記記憶部に記憶された前記被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンをリファレンスパターン生成手段７ａにより生成するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合、前記操作部４にて設定されるＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバルに基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力するステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定されるＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、
前記被測定物に送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合、前記操作部にて設定されるＣＰのパターン先頭と同じパターンを前記記憶部に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、前記操作部にて設定されるリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力ステップと、
前記パターン発生器が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、前記操作部にて設定される仮想Ｆｌｉｔの長さと数に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して前記ＰＡＭ４信号の先頭を検出するステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、ハイスピードシリアルバス規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーとＦｌｉｔとして定義されない領域のシンボルエラーとを区別してエラーサーチを行うことができ、ハイスピードシリアルバス規格でのＦＥＣシンボルエラー及びバーストエラーが発生している箇所の特定が容易になり、被測定物のデバッグを効率的に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
【図2】ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｌｉｔの説明図である。
【図3】ＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数ごとのＦｌｉｔ数の一例を示す図である。
【図4】本発明に係る誤り率測定装置において、被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを最上位ビット列データと最下位ビット列データに分割して１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するキャプチャ画面の一例を示す図である。
【図5】本発明に係る誤り率測定装置において、被測定物からのＰＡＭ４信号のデータを１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するキャプチャ画面の一例を示す図である。
【図6】（ａ），（ｂ）エラーサーチの選択画面の各例を示す図である。
【図7】本発明に係る誤り率測定装置の処理動作のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【0015】
本発明に係る誤り率測定装置は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返される受信信号の誤り率を測定するものである。
【0016】
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、パターン発生器２、誤り検出器３、操作部４、記憶部５、表示部６、制御部７を備えて概略構成され、被測定物ＷのＦＥＣ（Forward Error Correction）動作が可能か否かを測定するにあたって、被測定物Ｗから取得したＰＡＭ４信号のデータ（またはＰＡＭ４信号のデータを分割したＭＳＢデータとＬＳＢデータ）をハイスピードシリアルバス規格としてのＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格と言う）で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボル（４ＰＡＭ４ Ｓｙｍｂｏｌ＝８ｂｉｔ）ごとに区切り、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに表示し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーとＦｌｉｔとして定義されない領域のシンボルエラーとを区別してエラーサーチする機能を有する。
【0017】
なお、Ｆｌｉｔの概念はＰＣＩｅ Ｇｅｎ６から定義されたが、同様のＦｌｉｔの概念を用いた今後のＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ規格にも本発明の適用は可能である。また、本実施の形態では、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６を例示して説明するが、例えばＵＳＢ等の他のハイスピードシリアルバス規格において、Ｆｌｉｔ長で区切った領域の１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数やＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー数を確認する場合にも本発明の適用は可能である。
【0018】
まず、本実施の形態の誤り率測定装置１が取り扱うＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔについて説明する。Ｆｌｉｔは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格において、ＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine：リンク状態管理機構）のステートがＬ０のとき送信されるデータフォーマットであり、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。
【0019】
１Ｆｌｉｔは、図２に示すように、３つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２）でインターリーブされる。１つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐは、１ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ（４ＰＡＭ４ Ｓｙｍｂｏｌ＝８ｂｉｔ）で区切られる。
【0020】
そして、ＦｌｉｔがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる条件を要約すると、１Ｆｌｉｔ内において同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐに２回ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒが入った場合にＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅとなる。
【0021】
さらに図３を用いて説明する。図３はＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ数（２以上）、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数（０～７、８以上）ごとのＦｌｉｔ数の一例を示している。なお、図３において、右下がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる部分を示し、右上がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる場合とＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない場合がある部分を示している。
【0022】
例えばＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ ｉｎ Ｏｎｅ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（後述する閾値ｎ）≧２の場合を例にとって図３を参照しながら説明する。図３の点線で囲まれるＡ（Ｆｌｉｔ数：３）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生しているが、別々のＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０とＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１）のエラー数が１個ずつなので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない。
【0023】
これに対し、図３の点線で囲まれるＢ（Ｆｌｉｔ数：５）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが４個発生しているだけでなく、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数で見ても、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0024】
また、図３の点線で囲まれるＣ（Ｆｌｉｔ数：９）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生し、同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0025】
そして、本実施の形態では、後述するＦｌｉｔエラーを判別するための閾値として、１Ｆｌｉｔ内の１つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐで発生したＦＥＣシンボルエラー数の閾値：ｎを操作部４にて設定し、閾値ｎを超えたエラーをカウントしている。具体的には、図４の設定項目の「ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ ｉｎ Ｏｎｅ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ」（後述する閾値ｎ）を超えたものはＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ．Ｆｌｉｔとしてカウントを行い、ｎ以下のエラーは１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数とＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー数としてそれぞれカウントする。
【0026】
例えばｎ≧２の場合、ｎ＝０、１は１Ｆｌｉｔ内のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー数をそれぞれカウントし、ｎ＝２以上はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ．Ｆｌｉｔとしてカウントする。
【0027】
なお、後述するが、図４の設定項目において、「Ｃｏｎｓｅｃｕｔｉｖｅ ＦＥＣ Ｅｒｒｏｒ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ」は、連続して発生したＦＥＣシンボルエラー数の閾値：ｍであり、「Ｃｏｎｓｅｃｕｔｉｖｅ Ｅｒｒｏｒｅｄ Ｆｌｉｔ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ」は、連続して発生したＦｌｉｔエラー数の閾値ｋである。
【0028】
次に、誤り率測定装置１の各部の構成について説明する。パターン発生器２は、操作部４の設定に基づき、ＰＲＢＳ、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔ、ＭＣＰ（Modified Compliance Pattern ）、ＣＰ（Compliance Pattern）の何れかのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生する。このパターン発生器２で発生したＰＡＭ４信号は、既知パターンのテスト信号として被測定物Ｗに送信される。
【0029】
誤り検出器３は、パターン発生器２が発生するテスト信号（ＰＲＢＳ、Ｆｌｉｔ、ＭＣＰ、ＣＰの何れかのパターンに基づくＰＡＭ４信号）の送信に伴って被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号を受信して誤り検出を行うもので、信号受信部３ａ、エラー検出部３ｂを備える。
【0030】
信号受信部３ａは、データ分割手段３ａａを含み、リンクトレーニングにより被測定物Ｗが信号折り返しのステートに遷移した状態でパターン発生器２から被測定物Ｗにテスト信号（ＰＡＭ４信号）が送信されたときに、被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号を受信する。
【0031】
データ分割手段３ａａは、被測定物Ｗから受信したＰＡＭ４信号を必要に応じて最上位ビット列信号（以下、ＭＳＢデータと言う）と最下位ビット列信号（以下、ＬＳＢデータと言う）に分割する。
【0032】
エラー検出部３ｂは、記憶部５に保存した被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のＳＫＰ，ＥＩＥＯＳに相当する部分（ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌとして定義されないＦｌｉｔ外領域）をマスクパターンでマスクし、マスクしたＰＡＭ４信号と後述するリファレンスパターンとを比較して各種エラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー）の検出を行う。
【0033】
操作部４は、設定手段としても機能するものであり、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示部６の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成される。
【0034】
操作部４は、パターン発生器２や誤り検出器３に関する各種設定や指示を行うもので、例えば被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号を発生するための条件設定、被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号に基づいて各種エラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー）を検出するための条件設定、ボーレート、各種コンプライアンステストに関わる設定や指示などを行う。
【0035】
例えば被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号を発生するための条件設定、被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号に基づいて各種エラーを検出するための条件設定について説明すると、被測定物ＷにＰＲＢＳのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を送信して各種エラーを検出する場合は、ＰＲＢＳ段数、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰに相当する部分（Ｆｌｉｔ外部分）をマスクするためのマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇの設定、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定を行う。
【0036】
また、被測定物ＷにＦｌｉｔのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を送信して各種エラーを検出する場合は、レーン数に応じたＦｌｉｔパターン（ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰを含む）の１周期、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳとＳＫＰに相当する部分（Ｆｌｉｔ外部分）をマスクするためのマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇの設定、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定、ＥＩＥＯＳの挿入周期、パターン先頭の設定を行う。
【0037】
さらに、被測定物ＷにＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を送信して各種エラーを検出する場合は、ＭＣＰ（ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰを含む）の１周期、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳとＳＫＰに相当する部分（Ｆｌｉｔ外部分）をマスクするためのマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇの設定、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定、ＭＣＰパターン長、パターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を行う。
【0038】
また、被測定物ＷにＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を送信して各種エラーを検出する場合は、ＣＰ（ＥＩＥＯＳを含む）の１周期、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳに相当する部分（Ｆｌｉｔ外部分）をマスクするためのマスクパターン長とマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＰＡＭ４ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇの設定、ＰＡＭ４ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇの設定、ＣＰパターン長、パターン先頭の設定を行う。
【0039】
なお、上述したＦｌｉｔエラーを判別するための閾値は、１Ｆｌｉｔ内の１つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐで発生したＦＥＣシンボルエラー数の閾値：ｎ、連続して発生したＦＥＣシンボルエラー数の閾値：ｍ、連続して発生したＦｌｉｔエラー数の閾値：ｋからなる。
【0040】
記憶部５は、信号受信部３ａが被測定物Ｗから受信したＰＡＭ４信号（ＭＳＢデータとＬＳＢデータを含む）を保存する。また、記憶部５には、操作部４にて設定された各種設定情報、後述するリファレンスパターン生成手段７ａにて生成されるリファレンスパターン、マスクパターン生成手段７ｂにて生成されるマスクパターンの情報、エラーカウント手段７ｃによるカウント結果なども記憶される。
【0041】
表示部６は、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば液晶表示器などで構成され、後述する表示制御手段７ｄの制御により、被測定物ＷのＦＥＣ動作が可能か否かの測定を含む各種コンプライアンステスト（被測定物Ｗが通信規格に適合するか否かの試験）の設定画面、後述するエラーカウント手段７ｃのカウント結果に基づく各種エラー結果一覧、後述するキャプチャ画面２１などを表示する。なお、表示部６は、表示画面上のソフトキーなどの操作部４の操作機能を兼ね備えている。
【0042】
制御部７は、例えば中央処理装置（ＣＰＵ）、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含み、被測定物ＷのＦＥＣ動作が可能か否かの測定を含む各種コンプライアンステストを行う際に、パターン発生器２、誤り検出器３、操作部４、記憶部５、表示部６を統括制御するもので、リファレンスパターン生成手段７ａ、マスクパターン生成手段７ｂ、エラーカウント手段７ｃ、表示制御手段７ｄを備える。
【0043】
リファレンスパターン生成手段７ａは、記憶部５に保存した被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターンを生成する。
【0044】
さらに説明すると、被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＰＲＢＳの場合には、操作部４にて設定されるＰＲＢＳ段数で、記憶部５に記憶されたＰＡＭ４信号のＭＳＢデータを種として、ＭＳＢのリファレンスパターンとなるＰＲＢＳを生成する。また、ＬＳＢのリファレンスパターンを生成するための種を生成する。さらに、操作部４にて設定されるＰＲＢＳ段数で、ＭＳＢのリファレンスパターンを種として、ＬＳＢのリファレンスパターンとなるＰＲＢＳを生成する。
【0045】
被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＦｌｉｔの場合には、操作部４にて設定されたＦｌｉｔのパターン先頭と同じパターンを記憶部５に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、操作部４にて設定されたリファレンスとなるＦｌｉｔを生成し、生成したＦｌｉｔをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力する。
【0046】
被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＭＣＰの場合には、操作部４にて設定されたＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを記憶部５に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、操作部４にて設定されたリファレンスとなるＭＣＰを生成し、生成したＭＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力する。
【0047】
被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号の元になるパターンがＣＰの場合には、操作部４にて設定されたＣＰのパターン先頭と同じパターンを記憶部５に記憶されたＰＡＭ４信号から検索したときに発生するパターン先頭信号をトリガに、操作部４にて設定されたリファレンスとなるＣＰを生成し、生成したＣＰをＭＳＢのリファレンスパターンとＬＳＢのリファレンスパターンに分割して出力する。
【0048】
マスクパターン生成手段７ｂは、操作部４にて設定されるマスクパターン長とマスクパターン周期に基づくマスクパターンを生成する。
【0049】
エラーカウント手段７ｃは、エラー検出部３ｂのエラー検出結果に基づき、ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのそれぞれのカウントを行う。
【0050】
表示制御手段７ｄは、各種コンプライアンステストに関する設定画面、後述するエラーカウント手段７ｃのカウント結果に基づく各種エラー結果を含む測定画面、記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータ（ＭＳＢデータとＬＳＢデータを含む）によるキャプチャ画面２１などを表示部６の表示画面上に表示制御する。
【0051】
ここで、表示制御手段７ｄによって表示制御されるキャプチャ画面２１について説明する。図４は記憶部５に保存された被測定物ＷからＰＡＭ４信号のデータをＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割してＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するキャプチャ画面の一例を示している。
【0052】
図４のキャプチャ２１の右側上部の領域には、「Ｂｌｏｃｋ」、「Ｂｌｏｃｋ Ｌｅｎｇｔｈ」、「Ｔｒｉｇｇｅｒ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ」が表示される。「Ｂｌｏｃｋ」には、キャプチャ画面２１に表示するＭＳＢデータとＬＳＢデータが何番目のブロックかを数値入力するための入力ボックス２２が表示される。「Ｂｌｏｃｋ Ｌｅｎｇｔｈ」の表示ボックス２３には、１ブロック分のデータのサイズ（長さ）が表示される。「Ｔｒｉｇｇｅｒ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ」の表示ボックス２４には、トリガの位置が表示される。なお、「Ｂｌｏｃｋ」の入力ボックス２２には、記憶部５の記憶容量に応じて決まるブロックの分割数まで設定入力可能である。
【0053】
キャプチャ画面２１の「Ｔｒｉｇｇｅｒ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ」の下の領域には、デバッグ用途として用いられる「Ｖｉｅｗｅｒ Ｍｏｄｅ」（閲覧モード）が表示される。「Ｖｉｅｗｅｒ Ｍｏｄｅ」の「Ｎｏｔａｔｉｏｎ」には、キャプチャ画面２１上に表示するデータの表記（「Ｂｉｎ（ＭＳＢ／ＬＳＢ）、「Ｂｉｎ」（ＮＲＺモードのみ）、「Ｈｅｘ」（ＮＲＺモードのみ）、「Ｓｙｍｂｏｌ」（ＰＡＭ４モードのみ））をプルダウンメニューから選択設定する入力ボックス２５が表示される。「Ｖｉｅｗｅｒ Ｍｏｄｅ」の「Ｆｏｒｍａｔ」には、キャプチャ画面２１上のデータの表示形式（「Ｐａｔｔｅｒｎ」（シンボル値表示のパターンデータのみ）、「Ｐａｔｔｅｒｎ＋ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ」（シンボル値表示のパターンデータとＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ）、「Ｐａｔｔｅｒｎ＋Ｗａｖｅｆｏｒｍ」（シンボル値表示のパターンデータ上に例えば青線による波形イメージ表示を行う））をプルダウンメニューから選択設定する入力ボックス２６が表示される。
【0054】
キャプチャ画面２１の「Ｖｉｅｗｅｒ Ｍｏｄｅ」の下の領域には、「Ｅｒｒｏｒ－Ｒａｗ Ｓｉｇｎａｌ」が表示される。「Ｅｒｒｏｒ－Ｒａｗ Ｓｉｇｎａｌ」には、エラーがあったビットを遷移状態に応じて色分け表示するためのチェックボックス２７，２８が表示される。具体的に、「ＩＮＳ」のチェックボックス２７ａにチェックを入れると、Ｉｎｓｅｒｔｉｏｎ Ｅｒｒｏｒ（０→１）がある場合に赤色で表示、「ＯＭＩ」のチェックボックス２７ｂにチェックを入れると、Ｏｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｒｒｏｒ（１→０）がある場合に黄色で表示する。
【0055】
キャプチャ画面２１の「Ｅｒｒｏｒ－Ｒａｗ Ｓｉｇｎａｌ」の下の領域には、「Ｍｏｖｅ ａｎｄ Ｓｅａｒｃｈ」が表示される。「Ｍｏｖｅ ａｎｄ Ｓｅａｒｃｈ」の「Ｐａｔｔｅｒｎ」の入力ボックス２８には、検索対象の特定パターンが入力され、「Ｔａｒｇｅｔ」の入力ボックス２９には、検索対象のパターン（ＭＳＢ、ＬＳＢ、Ａｌｌの何れか）がプルダウンメニューから選択設定され、虫眼鏡ボタン３０により前後の検索を行う。
【0056】
キャプチャ画面２１の「Ｍｏｖｅ ａｎｄ Ｓｅａｒｃｈ」の下の領域には、不図示のカーソルを所望のＦｌｉｔの先頭ビットに移動させるための「Ｆｌｉｔ ａｒｅａ Ｈｅａｄ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｊｕｍｐ」が表示される。「Ｆｌｉｔ ａｒｅａ Ｈｅａｄ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｊｕｍｐ」には、キャプチャ画面２１上のカーソルを最初のＦｌｉｔの先頭ビットに移動するためのソフトキー３１、キャプチャ画面２１上のカーソルを起点として１つ前のＦｌｉｔの先頭ビットにカーソルを移動するためのソフトキー３２、キャプチャ画面２１上のカーソルを起点として１つ後のＦｌｉｔの先頭ビットにカーソルを移動するためのソフトキー３３、キャプチャ画面２１上のカーソルを最後のＦｌｉｔの先頭ビットに移動するためのソフトキー３４が表示される。
【0057】
キャプチャ画面２１の「Ｆｌｉｔ ａｒｅａ Ｈｅａｄ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｊｕｍｐ」の下の領域には、「Ｅｒｒｏｒ Ｓｅａｒｃｈ」が表示される。「Ｅｒｒｏｒ Ｓｅａｒｃｈ」には、エラー検索条件として検索モード、検索対象のデータ、エラー数を設定するための「Ｓｅａｒｃｈ Ｍｏｄｅ」、「Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｅｒｒｏｒ」、「Ｔａｒｇｅｔ」が表示される。「Ｓｅａｒｃｈ Ｍｏｄｅ」には、検索モード（ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ、１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇ、ｂｉｔの何れか）をプルダウンメニューから選択設定するための入力ボックス３５が表示される。「Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｅｒｒｏｒ」には、等号（＝）、符号付き不等号（≧）、数字を用いてエラー数を設定するための入力ボックス３６，３７が表示される。「Ｔａｒｇｅｔ」には、検索対象のデータ（ＭＳＢ、ＬＳＢ、Ａｌｌの何れか）をプルダウンメニューから選択設定するための入力ボックス３８が表示される。
【0058】
「Ｔａｒｇｅｔ」の下の領域には、キャプチャ画面２１上のカーソルを最初のエラーのビットの位置に移動するためのソフトキー３９、キャプチャ画面２１上のカーソルを起点として１つ前のエラーのビットの位置にカーソルを移動するためのソフトキー４０、キャプチャ画面２１上のカーソルを起点として１つ後のエラーのビットの位置にカーソルを移動するためのソフトキー４１、キャプチャ画面２１上のカーソルを最後のエラーのビットの位置に移動するためのソフトキー４２が表示される。
【0059】
キャプチャ画面２１の左側のデータ表示領域４３には、表示上の縦軸をアドレス、横軸をビットとして、記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータの１ブロック分の各シンボルごとのＭＳＢデータとＬＳＢデータが上下対に並んで複数段にわたって表示される。そして、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４によって区切られ、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに色分け（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０：青（実線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１：オレンジ（点線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２：緑（一点鎖線））により識別表示される。
【0060】
なお、データ表示領域４３に表示しきれないＭＳＢデータとＬＳＢデータは、右側のスクロールバー（上下キーを含む）４５を用いることによりデータ表示領域４３に表示させて確認することができる。
【0061】
キャプチャ画面２１におけるデータ表示領域４３の下部には、最初のブロックのＭＳＢデータとＬＳＢデータをデータ表示領域４３に表示するように指示するソフトキー４６、１つ前のブロックのＭＳＢデータとＬＳＢデータをデータ表示領域４３に表示するように指示するソフトキー４７、１つ後のブロックのＭＳＢデータとＬＳＢデータをデータ表示領域４３に表示するように指示するソフトキー４８、最後のブロックのＭＳＢデータとＬＳＢデータをデータ表示領域４３に表示するように指示するソフトキー４９が表示される。
【0062】
キャプチャ画面２１の下部の領域には、エラーカウント手段７ｃによるエラーカウントの結果として、「Ｆｉｒｓｔ Ｅｒｒｏｒ Ｂｌｏｃｋ／Ａｄｄｒｅｓｓ」、「Ｌａｓｔ Ｅｒｒｏｒ Ｂｌｏｃｋ／Ａｄｄｒｅｓｓ」、「Ｔｏｔａｌ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔｓ Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ／Ｔｏｔａｌ Ｂｉｔｓ」、「ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔｓ」、「Ｃａｐｔｕｒｅ Ｄｅｐｔｈ」が表示される。「Ｆｉｒｓｔ Ｅｒｒｏｒ Ｂｌｏｃｋ／Ａｄｄｒｅｓｓ」の表示ボックス５０には、最初にエラーが起こった箇所のブロックとアドレスが表示される。「Ｌａｓｔ Ｅｒｒｏｒ Ｂｌｏｃｋ／Ａｄｄｒｅｓｓ」の表示ボックス５１には、最後にエラーが起こった箇所のブロックとアドレスが表示される。「Ｔｏｔａｌ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔｓ Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ／Ｔｏｔａｌ Ｂｉｔｓ」の表示ボックス５２には、全体でカウントしたＢｉｔ Ｔｏｔａｌエラー数と全Ｂｉｔ数が表示される。「ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ Ｃｏｕｎｔｓ」の表示ボックス５３には、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数が表示される。「Ｃａｐｔｕｒｅ Ｄｅｐｔｈ」の表示ボックス５４には、キャプチャ取得ビット数が表示される。
【0063】
図５は記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータをＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに識別表示するキャプチャ画面の一例を示している。なお、図５のキャプチャ画面２１において、図４と同一の構成要素には同一番号を付し、その説明を省略している。
【0064】
図５のキャプチャ画面２１では、図４のキャプチャ画面２１のように、記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータをＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割せず、ＰＡＭ４信号のデータをそのまま複数段にわたって表示している。そして、複数段のＰＡＭ４信号のデータは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４によって区切られ、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに色分け（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０：青（実線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１：オレンジ（点線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２：緑（一点鎖線））により識別表示される。
【0065】
次に、上記のように構成される誤り率測定装置１のエラーカウントの処理動作について図７のフローチャートを参照しながら説明する。なお、このエラーカウントの処理動作においては、リンクトレーニングにより被測定物Ｗが信号折り返しのステートに遷移しているものとする。また、操作部４にて被測定物Ｗに送信するＰＡＭ４信号を発生するための条件設定、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、エラーカウント動作に必要な各種設定が行われているものとする。
【0066】
まず、ＰＲＢＳ、Ｆｌｉｔ、ＭＣＰ、ＣＰの何れかのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器２から発生して被測定物Ｗに送信する（ＳＴ１）。
【0067】
そして、パターン発生器２から被測定物ＷへのＰＡＭ４信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号を誤り検出器３の信号受信部３ａにより受信し、ＰＡＭ４信号のデータを記憶部５に保存する（ＳＴ２）。このＰＡＭ４信号のデータは、必要に応じてデータ分割手段３ａａによりＭＳＢビット列とＬＳＢビット列に分割される。
【0068】
次に、記憶部５に保存した被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータを元にリファレンスパターン生成手段７ａによりリファレンスパターンを生成する（ＳＴ３）。
【0069】
また、操作部４にて設定されるマスク長、マスクパターン周期に基づくマスクパターンをマスクパターン生成手段７ｂにより生成する（ＳＴ４）。
【0070】
そして、エラー検出部３ｂにおいて、記憶部５に保存した被測定物ＷからのＰＡＭ４信号の先頭（Ｆｌｉｔ内データの先頭）を検出し、被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のＳＫＰ，ＥＩＥＯＳに相当する部分（ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌとして定義されないＦｌｉｔ外領域）をマスクパターンでマスクし、マスクしたＰＡＭ４信号とリファレンスパターンとを比較して各種エラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー）を検出する（ＳＴ５）。
【0071】
なお、ＰＡＭ４信号の先頭の検出するにあたっては、パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号がＰＲＢＳのビット列データに基づく場合、操作部４の設定（ＰＲＢＳ段数）に基づくＰＲＢＳパターン１周期の先頭を検出する。また、パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号がＦｌｉｔのビット列データに基づく場合、操作部４の設定（レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＳＫＰインターバル）に基づくＦｌｉｔパターンの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して検出する。さらに、パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号がＭＣＰのビット列データに基づく場合、操作部４の設定（ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択、仮想Ｆｌｉｔの長さと数）に基づくＭＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して検出する。また、パターン発生器２が発生するＰＡＭ４信号がＣＰのビット列データに基づく場合、操作部４の設定（仮想Ｆｌｉｔの長さと数）に基づくＣＰの先頭と同じパターンを入力データの中から検索して検出する。
【0072】
続いて、エラー検出部３ｂのエラー検出結果に基づき、ビットエラーのカウント、ＰＡＭ４シンボルエラーのカウント、ＦＥＣシンボルエラーのカウント、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーのカウント、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーのカウントをエラーカウント手段７ｃにより行う（ＳＴ６）。
【0073】
そして、エラーカウント手段７ｃのカウント結果に基づく各種エラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー、１Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー、ＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー）の結果一覧を含むキャプチャ画面２１の表示（図４または図５の表示形式）を行う（ＳＴ７）。
【0074】
具体的に、図４のキャプチャ画面２１では、記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータをＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割し、上下対にして複数段にわたって表示する。さらに、上下対に表示される複数段のＭＳＢデータとＬＳＢデータは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４によって区切られ、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに色分け（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０：青（実線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１：オレンジ（点線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２：緑（一点鎖線））により識別表示される。また、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー結果（図４の「ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔｓ」のＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２）が表示される。
【0075】
また、図５のキャプチャ画面２１では、記憶部５に保存された被測定物ＷからのＰＡＭ４信号のデータをそのまま複数段にわたって表示する。さらに、複数段のＰＡＭ４信号のデータは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される１Ｆｌｉｔ内でＦＥＣシンボルごとに区切り線４４によって区切られ、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに色分け（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０：青（実線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１：オレンジ（点線）、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２：緑（一点鎖線））により識別表示される。また、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー結果（図４の「ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｕｎｔｓ」のＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２）が表示される。
【0076】
そして、上述した図４のＭＳＢ／ＬＳＢ分割表示のキャプチャ画面２１または図５のＰＡＭ４ Ｓｙｍｂｏｌ表示のキャプチャ画面２１でエラーサーチを行う場合には、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で定義された１ＦｌｉｔごとのＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌと、ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌとして定義されない領域（ＦＥＣでガード対象とならない領域）とを区別してエラーサーチ手段７ｅがエラーサーチを行う。
【0077】
さらに説明すると、図４のＭＳＢ／ＬＳＢ分割表示のキャプチャ画面２１または図５のＰＡＭ４ Ｓｙｍｂｏｌ表示のキャプチャ画面２１において、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で定義された１ＦｌｉｔごとのＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌのエラーサーチを行う場合は、図６（ａ）に示すように、エラー検索条件の一つである検索モード：「Ｅｒｒｏｒ Ｓｅａｒｃｈ」の入力ボックス３５のプルダウンメニューから「ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌ」を選択設定する。また、その他のエラー検索条件として検索対象のデータ、エラー数を設定するための「Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｅｒｒｏｒ」、「Ｔａｒｇｅｔ」を入力ボックス３６，３７のプルダウンメニューから選択設定し、ソフトキー３９，４０，４１，４２を操作してエラーサーチを行う。
【0078】
図４のＭＳＢ／ＬＳＢ分割表示のキャプチャ画面２１または図５のＰＡＭ４ Ｓｙｍｂｏｌ表示のキャプチャ画面２１において、ＦＥＣ Ｓｙｍｂｏｌとして定義されない領域（ＦＥＣでガード対象とならない領域）のエラーサーチを行う場合は、図６（ｂ）に示すように、エラー検索条件の一つである検索モード：「Ｅｒｒｏｒ Ｓｅａｒｃｈ」の入力ボックス３５のプルダウンメニューから「１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇ」を選択設定する。また、その他のエラー検索条件として検索対象のデータ、エラー数を設定するための「Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｅｒｒｏｒ」、「Ｔａｒｇｅｔ」を入力ボックス３６，３７のプルダウンメニューから選択設定し、ソフトキー３９，４０，４１，４２を操作してエラーサーチを行う。
【0079】
ところで、上述した実施の形態では、リンクトレーニングにより被測定物Ｗを信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で、パターン発生器２が発生したテスト信号（ＰＡＭ４信号）を被測定物Ｗに送信する構成として説明したが、リンクトレーニングを行わず被測定物Ｗ自身が信号折り返しのステートに遷移する機能を有する構成であってもよい。また、パターン発生器２を省くこともできる。この場合、被測定物Ｗ自身がテスト信号（ＰＡＭ４信号）を発生する。そして、この被測定物Ｗが発生するテスト信号（ＰＡＭ４信号）をリファレンスパターンとして誤り検出器３の記憶部５に記憶しておき、誤り検出器３が被測定物Ｗから受信したテスト信号（ＰＡＭ４信号）とリファレンスパターンとを比較して上述したエラーカウントの処理動作を実行する。
【0080】
このように、本実施の形態によれば、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｌｉｔ内の１ＦｌｉｔごとのＦＥＣシンボルエラーと、ＳＫＰやＥＩＥＯＳのようにＦｌｉｔとして定義されない領域（ＦＥＣでガード対象とならない領域）のシンボルエラーとを区別してエラーサーチを行うことができる。
【0081】
また、被測定物Ｗから取得したＰＡＭ４信号のシンボルデータにエラーがあった場合、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔ内でのＦＥＣシンボルエラーの探索を行うことができる。しかも、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されないＦｌｉｔ外データにエラーが分布しているのかも把握することができる。
【0082】
さらに、ユーザが設定したデータ長ごとに連続でエラーが挿入された場合、図６（ａ）や図６（ｂ）の「Ｅｒｒｏｒ Ｓｅａｒｃｈ」で設定したシンボル（ＦＥＣシンボル或いは１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇシンボル）数以上の条件で連続したエラーを検索することができ、連続シンボル（ＦＥＣシンボル或いは１ｂ／１ｂ Ｅｎｃｏｄｉｎｇシンボル）のエラー発生箇所を目視で探索する必要がなく、自動検索により視覚的に容易に把握することが可能となる。
【0083】
これにより、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格でのＦＥＣシンボルエラー及びバーストエラーが発生している箇所の特定が容易になり、被測定物のデバッグを効率的に行うことが可能となる。
【0084】
しかも、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅの場合、ＦＥＣシンボルエラーがどのように分布しているのかをエラーカウント値を比較しながらデータ解析が行えるようになり、ＭＳＢデータとＬＳＢデータのどちらにエラーがあるのか、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとに偏りはあるのかなど視覚的に判別することが可能となる。
【0085】
なお、Ｆｌｉｔは３ウェイ インターリーブＥＣＣであり、各ＥＣＣコードは１つのバイトエラーを訂正できる。そのため、任意のレーンで最大１６ビットのバーストエラーが、インターリーブされた各ＥＣＣコードワードの１バイトを超えて影響を与えることはない。
【0086】
以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【0087】
１ 誤り率測定装置
２ パターン発生器
３ 誤り検出器
３ａ 信号受信部
３ａａ データ分割手段
３ｂ エラー検出部
４ 操作部
５ 記憶部
６ 表示部
７ 制御部
７ａ リファレンスパターン生成手段
７ｂ マスクパターン生成手段
７ｃ エラーカウント手段
７ｄ 表示制御手段
７ｅ エラーサーチ手段
２１ キャプチャ画面
２２，２５，２６，２８，２９，３５，３６，３７，３８ 入力ボックス
２３，２４，５０，５１，５２，５３，５４ 表示ボックス
２７ａ，２７ｂ，２７ｃ チェックボックス
３０ 虫眼鏡ボタン
３１，３２，３３，３４，３９，４０，４１，４２，４６，４７，４８，４９ ソフトキー
４３ データ表示領域
４４ 区切り線
４５ スクロールバー
Ｗ 被測定物
２ パターン発生器
３ 誤り検出器
３ａ 信号受信部
３ａａ データ分割手段
３ｂ エラー検出部
４ 操作部
５ 記憶部
６ 表示部
７ 制御部
７ａ リファレンスパターン生成手段
７ｂ マスクパターン生成手段
７ｃ エラーカウント手段
７ｄ 表示制御手段
７ｅ エラーサーチ手段
２１ キャプチャ画面
２２，２５，２６，２８，２９，３５，３６，３７，３８ 入力ボックス
２３，２４，５０，５１，５２，５３，５４ 表示ボックス
２７ａ，２７ｂ，２７ｃ チェックボックス
３０ 虫眼鏡ボタン
３１，３２，３３，３４，３９，４０，４１，４２，４６，４７，４８，４９ ソフトキー
４３ データ表示領域
４４ 区切り線
４５ スクロールバー
Ｗ 被測定物
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】