(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-10-29
(45)【発行日】2024-11-07
(54)【発明の名称】誤り率測定装置及び誤り率測定方法
(51)【国際特許分類】
H04L 1/00 20060101AFI20241030BHJP
【ＦＩ】
H04L1/00 C
【請求項の数】
10
(21)【出願番号】P 2023044408
(22)【出願日】2023-03-20
(65)【公開番号】P2024134213
(43)【公開日】2024-10-03
【審査請求日】2023-07-24
(73)【特許権者】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100067323
【弁理士】
【氏名又は名称】西村 教光
(74)【代理人】
【識別番号】100124268
【弁理士】
【氏名又は名称】鈴木 典行
(72)【発明者】
【氏名】城所 久生
【審査官】竹内 亨
(56)【参考文献】
【文献】特開２０２１－１５８４１４（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０２１－０８７２１６（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１９／００４２３８０（ＵＳ，Ａ１）
【文献】米国特許出願公開第２０２１／０２３２５２０（ＵＳ，Ａ１）
【文献】MX183000A ハイスピード シリアルデータ テスト ソフトウエア 取扱説明書 [online]，第24版，日本，アンリツ株式会社，2023年10月17日，Page 1-2, 130-133，https://dl.cdn-anritsu.com/ja-jp/test-measurement/files/Manuals/Operation-Manual/MP1900A/mx183000a_opm_j_24_0.pdf
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０４Ｌ １／００－１／２４
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を行う操作部（２）と、前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物（Ｗ）に送信するパターン発生器（３）と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部（４４）と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部（４５）と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部（４６）とを含むエラー検出器（４）と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項2】
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
【請求項3】
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
【請求項4】
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする請求項１～３の何れかに記載の誤り率測定装置。
【請求項5】
ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を行う操作部（２）と、前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物（Ｗ）に送信するパターン発生器（３）と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部（４４）と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部（４５）と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部（４６）とを含むエラー検出器（４）と、
を備え、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定し、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定し、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項6】
ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を操作部（２）にて行うステップと、前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器（３）にて発生してループバック状態の被測定物（Ｗ）に送信するステップと、
エラー検出器（４）のエラー検出部（４４）により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部（４５）により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【請求項7】
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする請求項６に記載の誤り率測定方法。
【請求項8】
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする請求項６に記載の誤り率測定方法。
【請求項9】
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップを含むことを特徴とする請求項６～８の何れかに記載の誤り率測定方法。
【請求項10】
ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を操作部（２）にて行うステップと、前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器（３）にて発生してループバック状態の被測定物（Ｗ）に送信するステップと、
エラー検出器（４）のエラー検出部（４４）により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部（４５）により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、リンクトレーニングでループバック状態に遷移するデバイスを被測定物とし、ループバック状態の被測定物から折り返して送信されるＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号のエラー測定を行う誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率（ＢＥＲ：Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）を測定する装置として従来から知られている。
【0003】
また、下記特許文献１に開示されるように、ＩＥＥＥ ８０２．３規格に準拠したＲＳ－ＦＥＣ測定機能を有する誤り率測定装置が知られている。この誤り率測定装置では、コードワード長で区切った領域のコードワード長ごとのＦＥＣシンボルエラー数を集計し、各々のエラーカウント数及びエラーレートを取得して表示していた。
【0004】
ところで、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ５．０の物理層評価は、被測定物のＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ）とリンクトレーニングを行って被測定物をＬｏｏｐｂａｃｋ状態（信号折り返しの状態）にし、ＭＣＰ（Ｍｏｄｉｆｉｅｄ Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅ Ｐａｔｔｅｒｎ）を用いて行われていた。このときの性能指標は、ＢＥＲ＜１０-12 である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【文献】特開２０２１－１３６６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０ではＦＥＣが導入された。しかしながら、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０でもＭＣＰが定義されているが、ＦＥＣガードの対象外となっている。性能指標用に用意されたＭＣＰは、ＦＥＣガードされたＦｌｉｔと異なるパターンであり、ＦＥＣによるエラー訂正を持っていない。このため、Ｆｌｉｔとは異なるパターン長、ＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ）間隔のＭＣＰを用いてビットエラーの状況を評価するだけでは、実際にＦｌｉｔパターンを流したときのＦｌｉｔエラーの状況を把握することが難しいという問題があった。
【0007】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＭＣＰを用いてビットエラーだけでなく、Ｆｌｉｔエラーの測定を同時に行う誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を行う操作部２と、
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するパターン発生器３と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部４４と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部４５と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部４６とを含むエラー検出器４と、
を備えたことを特徴とする。
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するパターン発生器３と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部４４と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部４５と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部４６とを含むエラー検出器４と、
を備えたことを特徴とする。
【0009】
本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする。
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする。
【0010】
本発明の請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする。
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定することを特徴とする。
【0011】
本発明の請求項４に記載された誤り率測定装置は、請求項１～３の何れかの誤り率測定装置において、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする。
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする。
【0012】
本発明の請求項５に記載された誤り率測定装置は、ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を行う操作部２と、
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するパターン発生器３と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部４４と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部４５と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部４６とを含むエラー検出器４と、
を備え、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定し、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定し、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする。
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するパターン発生器３と、
前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするエラー検出部４４と、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するＦｌｉｔエラー検出部４５と、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示する同期状態管理部４６とを含むエラー検出器４と、
を備え、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定し、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定し、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させることを特徴とする。
【0013】
本発明の請求項６に記載された誤り率測定方法は、ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を操作部２にて行うステップと、
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３にて発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するステップと、
エラー検出器４のエラー検出部４４により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部４５により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部４６により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、を含むことを特徴とする。
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３にて発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するステップと、
エラー検出器４のエラー検出部４４により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部４５により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部４６により、前記エラー検出部にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、を含むことを特徴とする。
【0014】
本発明の請求項７に記載された誤り率測定方法は、請求項６の誤り率測定方法において、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする。
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする。
【0015】
本発明の請求項８に記載された誤り率測定方法は、請求項６の誤り率測定方法において、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする。
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップを含むことを特徴とする。
【0016】
本発明の請求項９に記載された誤り率測定方法は、請求項６～８の何れかの誤り率測定方法において、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップを含むことを特徴とする。
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップを含むことを特徴とする。
【0017】
本発明の請求項１０に記載された誤り率測定方法は、ＥＩＥＯＳとＳＫＰ ＯＳを含むＭＣＰ、前記ＭＣＰのパターン長、ハイスピードバス規格で定義されるレーン数に応じたＦｌｉｔ長、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、前記ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定を操作部２にて行うステップと、
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３にて発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するステップと、
エラー検出器４のエラー検出部４４により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部４５により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップと、を含むことを特徴とする。
前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３にて発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信するステップと、
エラー検出器４のエラー検出部４４により、前記ループバック状態の被測定物から折り返して送信される前記ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号のＭＣＰスクランブル領域を擬似的に前記Ｆｌｉｔ長の長さに区切り、前記ＥＩＥＯＳと前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外としてＦｌｉｔに相当する部分のエラーを検出してカウントするステップと、
前記エラー検出器のＦｌｉｔエラー検出部４５により、前記Ｆｌｉｔに相当する部分のＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラーを検出してＦＥＣシンボルエラー数をカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数が前記閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定するステップと、
前記エラー検出器にて検出される前記Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、前記ＭＣＰのパターン先頭の再取得を指示するステップと、
前記ＳＫＰ ＯＳに相当する部分を測定対象外とするときに、該当部分のビットエラーをマスクするか、前記ＳＫＰ ＯＳ自体をフィルタリングして除去するかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記Ｆｌｉｔに相当する部分について、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除無しか、前記ハイスピードバス規格のコーディング解除有りかを前記操作部にて選択設定するステップと、
前記被測定物とリンクトレーニングを行い、前記被測定物のＬＴＳＳＭをループバック状態に遷移させるステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0018】
本発明によれば、リンクトレーニングで被測定物をループバック状態に遷移させた後、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６の物理層評価で使われているＭＣＰ（Ｍｏｄｉｆｉｅｄ Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅ Ｐａｔｔｅｒｎ）を用いて、擬似的にＦｌｉｔとそれ以外とに区別を行い、Ｆｌｉｔ領域についてのＦＥＣシンボルエラー状況から、Ｆｌｉｔエラーが起きるかを推定することが可能となる。また、ＦＥＣでガードされたパターンと、ＦＥＣでガードされていないパターンが混在する環境でもＦＥＣでガードされたパターンを識別し、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになるかの判定を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
【図3】ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０規格で定義されるＦｌｉｔの説明図である。
【図4】ＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数ごとのＦｌｉｔ数の一例を示す図である。
【図5】Ｎｏｔ ＳＲＩＳパターンのときの本発明に係る誤り率測定装置によるエラー測定方法の概略説明図である。
【図6】ＳＲＩＳパターンのときの本発明に係る誤り率測定装置によるエラー測定方法の概略説明図である。
【図7】本発明に係る誤り率測定装置における各種エラー検出のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図9】本発明に係る誤り率測定装置におけるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ毎のＦＥＣシンボルエラー検出のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図10】本発明に係る誤り率測定装置の処理動作のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0020】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【0021】
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、リンクトレーニングでループバック状態に遷移するデバイスを被測定物（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）Ｗとし、ハイスピードバス規格としてのＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６と言う）規格の物理層のエラー測定において、ＭＣＰを用いてビットエラーだけでなく、Ｆｌｉｔエラー（ＦｌｉｔのＦＥＣがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになるか）の測定を同時に行う機能を有するものであり、操作部２、パターン発生器３、エラー検出器４を備えて概略構成される。
【0022】
なお、本実施の形態が対象とするＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格では、取り扱う信号がＰＡＭ４信号となる。また、Ｆｌｉｔの概念はＰＣＩｅ Ｇｅｎ６から定義されたが、同様のＦｌｉｔの概念を用いた今後のＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ規格にも本発明の適用は可能である。さらに、本実施の形態では、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６を例示して説明するが、例えばＵＳＢ等の他のハイスピードバス規格において、Ｆｌｉｔエラーを測定する場合にも本発明の適用は可能である。
【0023】
［Ｆｌｉｔについて］
まず、本実施の形態の誤り率測定装置１が取り扱うＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔについて図３および図４を参照しながら説明する。Ｆｌｉｔは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格において、ＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ：リンク状態管理機構）のステートがＬ０のとき送信されるデータフォーマットであり、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。
まず、本実施の形態の誤り率測定装置１が取り扱うＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｌｉｔについて図３および図４を参照しながら説明する。Ｆｌｉｔは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格において、ＬＴＳＳＭ（Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ ａｎｄ Ｓｔａｔｕｓ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎｅ：リンク状態管理機構）のステートがＬ０のとき送信されるデータフォーマットであり、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。
【0024】
１Ｆｌｉｔは、図３に示すように、３つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２）でインターリーブされる。１つのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐは、１ＦＥＣシンボル（４ＰＡＭ４シンボル＝８ｂｉｔ）で区切られる。
【0025】
そして、ＦｌｉｔがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる条件を要約すると、１Ｆｌｉｔ内において同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐに２回ＦＥＣシンボルエラーが入った場合にＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅとなる。
【0026】
さらに図４を用いて説明する。図４はＦｌｉｔのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ数（２以上）、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラー数（０～７、８以上）ごとのＦｌｉｔ数の一例を示している。なお、図４において、右下がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる部分を示し、右上がりの斜線で示す部分はＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる場合とＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない場合がある部分を示している。
【0027】
例えばＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎ≧２の場合を例にとって図４を参照しながら説明する。図４の点線で囲まれるＡ（Ｆｌｉｔ数：３）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生しているが、別々のＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０とＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１）のエラー数が１個ずつなので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅにならない。
【0028】
これに対し、図４の点線で囲まれるＢ（Ｆｌｉｔ数：５）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが４個発生しているだけでなく、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐごとのエラー数で見ても、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0029】
また、図４の点線で囲まれるＣ（Ｆｌｉｔ数：９）では、Ｆｌｉｔ内のＦＥＣシンボルエラーが２個発生し、同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ（この場合、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０）のエラー数が２個なので、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになる。
【0030】
このように、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６では、新しくＦｌｉｔのモードが導入されており、Ｆｌｉｔは２５６ＦＥＣシンボル長（１ＦＥＣシンボル＝８ｂｉｔ）で、ＦＥＣによるエラー訂正機能を有している。また、Ｇｅｎ６のＦｌｉｔは１ｂ／１ｂエンコーディングされているものなので、１ＦＥＣシンボル＝１ｂ／１ｂシンボルでもある。ＦｌｉｔのＦＥＣは、３－ｗａｙ ｉｎｔｅｒｌｅａｖｅｄ ＥＣＣであり、各ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐはシングルバイトエラー（１ＦＥＣシンボルのエラー）を訂正することができる。
【0031】
そして、１Ｆｌｉｔでは、３ＦＥＣシンボルまでの誤りが訂正可能であり、誤り訂正ができない場合、Ｆｌｉｔエラー（ＥＣＣがＵｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅ）となる。しかし、３ＦＥＣシンボル誤りでも誤り位置の発生状況によっては、訂正不可となってしまう。例えば、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のシンボル０、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１のシンボル１、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２のシンボル２が誤りであった場合は訂正可能であるが、同じＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のシンボル０、３、６が誤りであった場合は訂正不可となる。これは同じビットエラーレートでも、ビットエラーの発生位置によってＦｌｉｔエラー発生数が異なることを意味する。
【0032】
［本発明の概要について］
図５や図６に示すように、誤り率測定装置１は、被測定物Ｗをリンクトレーニングでループバック状態にした後に被測定物ＷにＭＣＰを送信する。このとき受信したＭＣＰのスクランブル領域（１６ １ｂ／１ｂシンボル×２５６Ｂｌｏｃｋ＝３２７６８ｂｉｔ）を一定間隔で区切り（擬似的にＦｌｉｔの長さ（２５６ＦＥＣシンボル＝２０４８ｂｉｔ）に区切り）、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）とＦｌｉｔエラーを同時に測定する。このとき、ＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ、以下、ＳＫＰと省略する：図面上では「ＳＫＰ」にて図示）位置のパターンをマスクし、さらにＥＩＥＯＳ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ Ｉｄｌｅ Ｅｘｉｔ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔ）位置のパターンをマスクすることで測定対象外とし、Ｆｌｉｔに相当する部分のみエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）をカウントする。また、Ｆｌｉｔ部分については、ＥＣＣグループ毎のＦＥＣシンボルエラーをカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数がＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
図５や図６に示すように、誤り率測定装置１は、被測定物Ｗをリンクトレーニングでループバック状態にした後に被測定物ＷにＭＣＰを送信する。このとき受信したＭＣＰのスクランブル領域（１６ １ｂ／１ｂシンボル×２５６Ｂｌｏｃｋ＝３２７６８ｂｉｔ）を一定間隔で区切り（擬似的にＦｌｉｔの長さ（２５６ＦＥＣシンボル＝２０４８ｂｉｔ）に区切り）、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）とＦｌｉｔエラーを同時に測定する。このとき、ＳＫＰ ＯＳ（ＳＫＰ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ、以下、ＳＫＰと省略する：図面上では「ＳＫＰ」にて図示）位置のパターンをマスクし、さらにＥＩＥＯＳ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ Ｉｄｌｅ Ｅｘｉｔ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔ）位置のパターンをマスクすることで測定対象外とし、Ｆｌｉｔに相当する部分のみエラー（ビットエラー、ＰＡＭ４シンボルエラー、ＦＥＣシンボルエラー）をカウントする。また、Ｆｌｉｔ部分については、ＥＣＣグループ毎のＦＥＣシンボルエラーをカウントし、ＦＥＣシンボルエラー数がＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたものをＦｌｉｔエラーと判定する。
【0033】
上記エラー測定を行うにあたって、ＳＫＰに相当する部分を測定対象外とする方法は、該当部分のビットエラーをマスクする方法と、ＳＫＰ自体をフィルタリングして除去する方法の２つを操作部２にて選択可能とする。また、Ｆｌｉｔに相当する部分については、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコーディング解除無しと、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコーディング解除有りを操作部２にて選択可能とし、コーディング解除の有無によるエラーの発生具合を確認可能とする。なお、ＭＣＰは、Ｎｏｔ ＳＲＩＳパターンと、ＳＲＩＳパターンとの２種類が存在するが、図５や図６に示すように、どちらのパターンでも測定を行うことができる。
【0034】
［誤り率測定装置の各部の構成について］
操作部２は、設定手段や表示手段としても機能するものであり、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示手段の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成され、ユーザの操作に応じて各種設定、指示や測定結果の表示を行う。
操作部２は、設定手段や表示手段としても機能するものであり、図１の誤り率測定装置１の本体に備える例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示手段の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースで構成され、ユーザの操作に応じて各種設定、指示や測定結果の表示を行う。
【0035】
操作部２にて設定される設定内容としては、ＭＣＰ（含むＥＩＥＯＳ，ＳＫＰ）、ＭＣＰのパターン長、レーン数に応じたＦｌｉｔ長、ＳＫＰに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＳＫＰの繰り返し周期に相当するマスクパターン周期、Ｆｌｉｔエラーを判別するための閾値、ＥＩＥＯＳに相当する部分をマスクするためのマスクパターン長、ＥＩＥＯＳの挿入周期、ＭＣＰのパターン先頭、ＳＲＩＳかＮｏｔ ＳＲＩＳの選択の設定がある。また、操作部２では、ＳＫＰを測定対象外とする方法として、該当部分のビットエラーをマスクする方法と、ＳＫＰ自体をフィルタリングして除去する方法の何れかを選択可能とし、Ｆｌｉｔ部分については、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコーディング解除無しと、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコーディング解除有りの何れかを選択可能としている。
【0036】
パターン発生器３は、操作部２からの指示に従い、ＭＣＰエラー測定パターンを発生するもので、図１に示すように、第１選択部１１、第１シーケンス発生部１２、第２シーケンス発生部１３、測定パターン発生部１４、第１エンコーダ１５、第２エンコーダ１６、第２選択部１７、ビット分割部１８、ＰＡＭ４エンコーダ１９を備えて構成される。
【0037】
第１選択部１１は、Ｌｉｎｋ Ｓｐｅｅｄに応じて第１シーケンス発生部１２、第２シーケンス発生部１３、測定パターン発生部１４からの何れかの送信完了信号を選択してＬＴＳＳＭ３６に出力する。
【0038】
第１シーケンス発生部１２は、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－２で使用されるＴＳ１、ＴＳ２、ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰなどのトレーニングシーケンス（ＴＳｘ ＯＳ）と、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ３－５で使用されるＴＳ１、ＴＳ２、ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰなどのトレーニングシーケンス（ＴＳｘ ＯＳ）を選択的に発生する。
【0039】
第２シーケンス発生部１３は、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で使用されるＴＳ０、ＴＳ１、ＴＳ２、ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰなどのトレーニングシーケンス（ＴＳｘ ＯＳ）を発生する。
【0040】
測定パターン発生部１４は、被測定物Ｗに送信するＭＣＰエラー測定パターンの元になるパターンとして、操作部２にて設定されるＭＣＰ（含むＥＩＥＯＳ，ＳＫＰ）の１周期、レーン数に応じたＦｌｉｔ長によるＭＣＰを発生する。
【0041】
第１エンコーダ１５は、８ｂ／１０ｂエンコーダと１２８ｂ／１３０ｂエンコーダから構成される。８ｂ／１０ｂエンコーダは、第１シーケンス発生部１２にて発生するトレーニングシーケンスに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－２で使用される８ｂ／１０ｂエンコーディングを行う。また、１２８ｂ／１３０ｂエンコーダは、第１シーケンス発生部１２にて発生するトレーニングシーケンスに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ３－５で使用される１２８ｂ／１３０ｂエンコーディングを行う。
【0042】
第２エンコーダ１６は、第１シーケンス発生部１２にて発生するトレーニングシーケンスに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で使用される１ｂ／１ｂエンコーディングを行う。
【0043】
第２選択部１７は、ＬＴＳＳＭ３６からのＬＴＳＳＭ状態とＬｉｎｋ Ｓｐｅｅｄに応じて測定パターン発生部１４、第１エンコーダ１５、第２エンコーダ１６の何れかの出力データを選択する。
【0044】
ビット分割部１８は、ＬＴＳＳＭ３６から指示されるＬｉｎｋ Ｓｐｅｅｄに応じて、入力信号を最上位ビット列データ（以下、ＭＳＢデータと言う）と最下位ビット列データ（以下、ＬＳＢデータと言う）に振り分ける。なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－５では、ＮＲＺとなるようにＭＳＢデータとＬＳＢデータに同じ信号を出力し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６では、ＰＡＭ４信号となるように入力信号をビットインターリーブしてＭＳＢデータとＬＳＢデータに出力する。
【0045】
ＰＡＭ４エンコーダ１９は、ビット分割部１８にて分割されたＭＳＢデータとＬＳＢデータをＰＡＭ４エンコードし、ＰＡＭ４エンコードしたＰＡＭ４信号をＦｌｉｔエラー測定パターンとして出力する。
【0046】
エラー検出器４は、パターン発生器３からＭＣＰエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）が被測定物Ｗに送信されたときに、リンクトレーニングによりループバック状態に遷移した被測定物Ｗから折り返されるＭＣＰエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）を受信してエラーを検出するもので、図２に示すように、ＰＡＭ４デコーダ２１、ビット合成部２２、第１同期部２３、第１ＳＫＰフィルタ部２４、処理回路２５、第１スクランブル解析部２６、第２同期部２７、第２ＳＫＰフィルタ部２８、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９、第１遅延部３０、第１選択部３１、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２、第２遅延部３３、第２選択部３４、第２スクランブル解析部３５、ＬＴＳＳＭ３６、第３選択部３７、ビット分割部３８、同期パターン検出部３９、リファレンスパターン生成部４０、シンボルマスク生成部４１、第３遅延部４２、第４遅延部４３、エラー検出部４４、Ｆｌｉｔエラー検出部４５、同期状態管理部４６を備えて構成される。
【0047】
ＰＡＭ４デコーダ２１は、被測定物Ｗから受信したＭＣＰエラー測定パターン（ＰＡＭ４信号）のＰＡＭ４シンボルを、ＭＳＢデータとＬＳＢデータにデコードして分離する。
【0048】
ビット合成部２２は、ＰＡＭ４デコーダ２１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータをビットＭＵＸにより合成して第１同期部２３、第２同期部２７に出力する。
【0049】
第１同期部２３、第１ＳＫＰフィルタ部２４、デコーダ２５、第１スクランブル解析部２６は、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－５に対応した回路である。
【0050】
第１同期部２３は、８ｂ／１０ｂ同期部と１２８ｂ／１３０ｂ同期部から構成される。８ｂ／１０ｂ同期部は、ビット合成部２２にて合成されたデータからＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－２のＥＩＥＯＳパターンを見つけ、１０ｂｉｔの区切りでシンボル同期を取り、入力データをシンボル境界で揃えて出力する。また、１２８ｂ／１３０ｂ同期部は、ビット合成部２２にて合成されたデータからＰＣＩｅ Ｇｅｎ３－５のＥＩＥＯＳパターンを見つけ、１３０ｂｉｔの区切りでシンボル同期を取り、入力データをシンボル境界で揃えて出力する。
【0051】
第１ＳＫＰフィルタ部２４は、第１同期部２３からの入力ビット列からＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－５のＳＫＰを特定し、入力ビット列からＳＫＰを取り除く。
【0052】
処理回路２５は、８ｂ／１０ｂデコーダ、１２８ｂ／１３０ｂデコーダ、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ、遅延回路、選択回路を備えて構成される。８ｂ／１０ｂデコーダは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－２で使用される８ｂ／１０ｂコード変換を行うデコーダであり、第１ＳＫＰフィルタ部２４にてＳＫＰが取り除かれた１０ｂｉｔシンボルの入力ビット列を８ｂｉｔシンボルに変換する。また、１２８ｂ／１３０ｂデコーダは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ３－５で使用される１２８ｂ／１３０ｂコード変換を行うデコーダであり、第１ＳＫＰフィルタ部２４にてＳＫＰが取り除かれた１３０ｂｉｔシンボルの入力ビット列を１２８ｂｉｔシンボルに変換する。Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダは、１２８ｂ／１３０ｂデコーダにてデコードされたデータにおけるＰＣＩｅ Ｇｅｎ５のＰｒｅｃｏｄｉｎｇを解除するためのデコーダである。遅延回路は、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダの処理時間と同じ遅延量を持ち、１２８ｂ／１３０ｂデコーダからのデータをＰｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダと同位相で出力する。選択回路は、ＬＴＳＳＭ３６の指示により、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダと遅延回路の何れかの出力を選択する。
【0053】
第１スクランブル解析部２６は、処理回路２５からのデータに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－２で適用されているスクランブルを解除するためのデスクランブラーと、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ３－５で適用されているスクランブルを解除するためのデスクランブラーから構成される。
【0054】
第２同期部２７は、ビット合成部２２にて合成されたデータからＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＥＩＥＯＳパターンを見つけたときに、８ｂｉｔの区切りでシンボル同期を取り、入力データをシンボル境界で揃えて出力する。
【0055】
第２ＳＫＰフィルタ部２８は、第２同期部２７からの入力ビット列からＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＳＫＰを特定し、入力ビット列からＳＫＰを取り除く。
【0056】
Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９は、第２ＳＫＰフィルタ部２８にてＳＫＰが取り除かれた入力ビット列に対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＰｒｅｃｏｄｉｎｇを解除するためのデコーダである。
【0057】
第１遅延部３０は、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９の処理時間と同じ遅延量を持ち、第２ＳＫＰフィルタ部２８からのデータをＰｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９と同位相で出力する。
【0058】
第１選択部３１は、ＬＴＳＳＭ３６の指示により、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９と第１遅延部３０の何れかの出力を選択する。
【0059】
Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２は、第１選択部３１にて選択された入力ビット列に対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＧｒａｙｃｏｄｉｎｇを解除するためのデコーダである。
【0060】
第２遅延部３３は、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２の処理時間と同じ遅延量を持ち、第１選択部３１にて選択された入力ビット列をＧｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２と同位相で出力する。
【0061】
第２選択部３４は、ＬＴＳＳＭ３６の指示により、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２と第２遅延部３３の何れかの出力を選択する。
【0062】
第２スクランブル解析部３５は、第２選択部３４にて選択されたデータに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で適用されているスクランブルを解除するためのデスクランブラーである。
【0063】
ＬＴＳＳＭ３６は、第１スクランブル解析部２６、第２スクランブル解析部３５からのＴ０（第２スクランブル解析部３５からのみ出力）、ＴＳ１とＴＳ２トレーニングシーケンス、アイドルシンボル、アイドルＦｌｉｔを解析し、ＬＴＳＳＭ値（内部ステート値）、Ｌｉｎｋ Ｓｐｅｅｄを進めるためのステートマシーンである。また、ＬＴＳＳＭ３６は、パターン発生器への送信ＲＥＱを生成し、パターン送信器からの送信ＡＣＫを受けることで送信パターンの管理を行う。
【0064】
第３選択部３７は、第２同期部２７からの入力生データ、第２ＳＫＰフィルタ部２８からのＳＫＰ除去後のデータ、第２スクランブル解析部３５からのＳＫＰの除去後にコードを解除したデータ、すなわち、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇ、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇ、スクランブルを解除したデータの何れかを選択するセレクタであり、操作部２からの指示により選択される。
【0065】
ビット分割部３８は、第３選択部３７にて選択して出力されるデータをビットＤＭＵＸによりＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割して第３遅延部４３に出力する。
【0066】
同期パターン検出部３９は、操作部２にて設定されたＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを第３選択部３７にて選択して出力されるデータから検索してパターン先頭信号を出力する。
【0067】
リファレンスパターン生成部４０は、同期パターン検出部３９からのパターン先頭信号をトリガとして、操作部２にて設定されたレーン数に応じたＭＣＰ（含むＥＩＥＯＳ，ＳＫＰ）の１周期、レーン数に応じたＦｌｉｔ長によるリファレンスＭＣＰとして、ＭＳＢリファレンスパターンとＬＳＢリファレンスパターンを生成する。
【0068】
シンボルマスク生成部４１は、同期パターン検出部３９からのパターン先頭信号をトリガとして、入力パターンであるＭＳＢデータとＬＳＢデータをＦｌｉｔ領域と区別するのか、ＳＫＰ領域、ＥＩＥＯＳ領域と区別するのかの、１ｂ／１ｂシンボル単位のマスクパターンを操作部２にて設定されるマスクパターン長、マスクパターン周期に基づいて生成する。また、シンボルマスク生成部４１は、マスクパターン先頭信号をエラー検出部４４に出力する。
【0069】
なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＭＣＰは１ＦＥＣシンボル＝８ｂｉｔであり、１ＦＥＣシンボルはＭＳＢデータとＬＳＢデータにビットインターリーブされているため、４ＰＡＭ４シンボル単位のマスクとなる。本実施の形態では、０：Ｆｌｉｔ領域、１：ＥＩＥＯＳ領域、ＳＫＰ領域とする。マスクパターンは、操作部２の設定操作により図５、図６に対応したものを事前に計算し、シンボルマスク生成部４１の内部メモリに設定しておく。なお、第３選択部３７により、第２ＳＫＰフィルタ部２８からのＳＫＰ除去後のデータ、または第２スクランブル解析部３５からのＳＫＰを除去してＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコードを解除したデータが選択されていた場合は、エラー検出部４４に入力されるデータはＳＫＰが除去されているので、ＳＫＰ領域のマスクが無いパターンを設定する（ＥＩＥＯＳ領域を区別するマスクパターンを設定する）。
【0070】
第３遅延部４２は、エラー検出部４４に入力されるＭＳＢデータ、ＬＳＢデータ、パターン先頭信号、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号が同位相となるように、ＭＳＢデータとＬＳＢデータを所定時間遅延させてエラー検出部４４に入力する。
【0071】
第４遅延部４３は、エラー検出部４４に入力されるＭＳＢデータ、ＬＳＢデータ、パターン先頭信号、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号が同位相となるように、パターン先頭信号を所定時間遅延させてエラー検出部４４に入力する。
【0072】
エラー検出部４４は、ＭＣＰによるＭＳＢデータとＬＳＢデータ、パターン先頭信号、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号を用いて、ビットエラー（ＭＳＢビットエラー、ＬＳＢビットエラー）の検出及びカウント、ＰＡＭ４シンボルエラーの検出及びカウント、ＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行い、カウント結果を操作部２に出力する。
【0073】
ここで、図７は誤り率測定装置１のエラー検出部４４による各種エラー検出のタイミングチャートの一例を示している。図７はＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号を被測定物Ｗに送信したときのタイミングチャートの一例である。
【0074】
図７のマスクパターン先頭信号入力後のＣＬＫ位置１～３６に着目した場合を例にとって説明する。この場合、入力ＭＣＰのＭＳＢ（ＭＣＰによるＭＳＢデータに相当）の各ビットとリファレンスＭＣＰのＭＳＢ（ＭＳＢリファレンスパターンに相当）の対応する各ビットとを比較し、入力ＭＣＰのＬＳＢ（ＭＣＰによるＬＳＢデータに相当）の各ビットとリファレンスＭＣＰのＬＳＢ（ＬＳＢリファレンスパターンに相当）の対応する各ビットとを比較する。
【0075】
その結果、Ｆｌｉｔ領域（マスク信号が０）のエラー結果は、ＭＳＢビットエラーが「０」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「１」、「１」、「１」、ＬＳＢビットエラーが「１」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、ＰＡＭ４シンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「０」、「１」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「１」、 「１」、「１」、「１」、「１」、ＦＥＣシンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」、「１」となる。
【0076】
これに対し、ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰ領域（マスク信号が０）のエラー結果は、ＭＳＢビットエラーが「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「０」、ＬＳＢビットエラーが「１」、「０」、「１」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「０」、「０」、「０」、「０」、ＰＡＭ４シンボルエラーが「１」、「１」、「１」、「１」、 「０」、「１」、「０」、「１」、 「０」、「０」、「０」、「０」、 「１」、「１」、「０」、「０」、ＦＥＣシンボルエラーが「１」、「１」、「０」、「１」となる。
【0077】
なお、エラー検出部４４は、シンボルマスク生成部４１から入力されるマスクパターンとマスクパターン先頭信号を、シンボル単位のエラー検出結果と位相を合わせ、シンボル単位のエラー検出結果と共にＦｌｉｔエラー検出部４５に出力する。ここで、シンボルマスク生成部４１からのマスクパターン先頭の代わりに、第４遅延部４３からのパターン先頭信号を用いても良い。
【0078】
Ｆｌｉｔエラー検出部４５は、マスクパターンを用いて、Ｆｌｉｔ領域（マスク信号が０）と、ＥＩＥＯＳ、ＳＫＰ領域（マスク信号が１）に分けてＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行う。
【0079】
また、Ｆｌｉｔエラー検出部４５は、１Ｆｌｉｔ長において、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ内のＦＥＣシンボルエラー数が、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたか否かの検出とカウントを行い、カウント結果を操作部２に出力する。
【0080】
なお、Ｆｌｉｔエラー検出部４５の検出結果を用いて、キャプチャなどを行うこともできる。
【0081】
同期状態管理部４６は、エラー検出部４４のエラー検出結果に基づくエラー数情報を基に、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を下回ったときに、同期確立を操作部２に通知する。また、同期状態管理部４６は、エラー検出部４４のエラー検出結果に基づくエラー数情報を基に、Ｆｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ったときに、同期未確立を操作部２に通知し、同期パターン検出部３９にＭＣＰのパターン先頭の再取得（パターン先頭の再探索）を指示する。なお、同期確立や同期未確立の通知先は操作部２に限定されるものではない。例えば外部の端末装置であってもよく、メッセージ表示や音声などでユーザに知らせることもできる。
【0082】
【0083】
図８に示すように、Ｆｌｉｔエラー検出部４５は、Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ４５ａ、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ４５ｂ、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｃ、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｄ、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｅ、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｆ、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｇ、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｈ、比較部４５ｉ、Ｆｌｉｔエラーカウント部４５ｊを備えて構成される。
【0084】
Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ４５ａは、マスクパターン先頭信号をトリガにして、操作部２にて設定されたＦｌｉｔ長をカウントする。カウンタは、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のときにカウントアップし、Ｆｌｉｔ長に達したら０からカウントを繰り返す。
【0085】
ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ４５ｂは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐの区別に使用するカウンタであり、Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ値を３で割った余りを出力するカウンタである。
【0086】
第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｃは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ４５ｂのカウンタ値が０、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0087】
第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｆは、第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｃが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0088】
第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｄは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ４５ｂのカウンタ値が１、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0089】
第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｇは、第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｄが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0090】
第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｅは、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ４５ｂのカウンタ値が２、かつ、マスクパターンがＦｌｉｔ領域（マスク信号が０）のＦＥＣシンボルエラーを検出する。
【0091】
第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部４５ｈは、第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部４５ｅが検出した１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数をＦｌｉｔ長区間ごとにカウントする。
【0092】
比較部４５ｉは、１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数と、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎとを比較し、１Ｆｌｉｔ長区間のＦＥＣシンボルエラー数がＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎを超えたＥＣＣ ＧｒｏｕｐがあったときにＦｌｉｔエラー検出信号をＦｌｉｔエラーカウント部４５ｊに出力する。
【0093】
Ｆｌｉｔエラーカウント部４５ｊは、比較部４５ｉからのＦｌｉｔエラー検出信号をカウントし、カウント結果（Ｆｌｉｔエラーカウント値）を操作部２に出力する。
【0094】
ここで、図９は誤り率測定装置１のＦｌｉｔエラー検出部４５によるＥＣＣ ＧｒｏｕｐごとのＦＥＣシンボルエラー検出のタイミングチャートの一例を示している。この例では、Ｆｌｉｔ長が８シンボル、ＦＥＣシンボルエラー閾値ｎが３シンボルに設定されているものとする。
【0095】
図９のＣＬＫ位置０～１５のＦｌｉｔ領域に着目すると、ＦＥＣシンボルエラーとして「１」、「１」、「１」、「１」、「０」、「０」、「０」、「０」、「１」、「１」、「１」、「１」、「０」、「０」、「１」、「０」が入力し、Ｆｌｉｔ領域内における４ＰＡＭ４シンボル＝８ｂｉｔごとのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のＦＥＣシンボルエラー数が「２」、「３」、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ１のＦＥＣシンボルエラー数が「１」、「１」、ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ２のＦＥＣシンボルエラー数が「１」、「１」となっている。そして、ＣＬＫ位置８～１５のＦｌｉｔ領域におけるＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ０のＦＥＣシンボルエラー数が「３」であり、ＦＥＣシンボルエラー閾値：ｎ＝「３」以上なので、Ｆｌｉｔエラー１がエラー結果として出力される。
【0096】
なお、図９のＳＫＰ領域のＣＬＫ位置１６～２０、３７～４１は、マスクパターンによってマスクされるため、エラーの検出及びカウントは行われない。
【0097】
次に、上記構成の誤り率測定装置１によるＰＣＩｅ Ｇｅｎ６物理層のエラー測定時の処理動作について図１０のフローチャートを参照しながら説明する。なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６物理層のエラー測定を行うにあたっては、誤り率測定装置１がＰＣＩｅ Ｇｅｎ１－５まで正常に動作し、リンクトレーニングにより被測定物Ｗがループバック状態に遷移しているものとする。
【0098】
まず、ＭＣＰのビット列データに基づくＰＡＭ４信号をパターン発生器３から発生してループバック状態の被測定物Ｗに送信する（ＳＴ１）。
【0099】
そして、エラー検出器４は、パターン発生器３から被測定物ＷへのＰＡＭ４信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返されるＰＡＭ４信号を受信し、受信したＰＡＭ４信号をＰＡＭ４デコーダ２１によりＭＳＢデータとＬＳＢデータに分割する（ＳＴ２）。このＰＡＭ４デコーダ２１により分割されたＭＳＢデータとＬＳＢデータは、ビット合成部２２にてビットＭＵＸして第２同期部２７に出力される。
【0100】
そして、第２同期部２７は、ビット合成部２２にて合成されたデータからＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＥＩＥＯＳパターンを見つけると、８ｂｉｔの区切りでシンボル同期を取り、入力データをシンボル境界で揃えて第２ＳＫＰフィルタ部２８と第３選択部３７に出力する（ＳＴ３）。
【0101】
続いて、同期パターン検出部３９は、操作部２にて設定されたＭＣＰのパターン先頭と同じパターンを第３選択部３７にて選択されたデータ（第２同期部２７からのデータ、第２ＳＫＰフィルタ部２８からのデータ、第２スクランブル解析部３５からのデータの何れか）から検索してパターン先頭信号を出力する（ＳＴ４）。
【0102】
ここで、上述した第３選択部３７にてデータを選択するにあたっては、下記の処理が実行される。まず、第２ＳＫＰフィルタ部２８は、第２同期部２７からの入力ビット列からＳＫＰを取り除き、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９、第１遅延部３０、第３選択部３７に出力する。続いて、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９は、ＳＫＰが取り除かれた入力ビット列からＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＰｒｅｃｏｄｉｎｇを解除して第１選択部３１に出力する。また、第１遅延部３０は、第２ＳＫＰフィルタ部２８からの入力ビット列をＰｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９と同位相で第１選択部３１に出力する。そして、第１選択部３１において、ＬＴＳＳＭ３６の指示により、Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ２９と第１遅延部３０の何れかの出力が選択され、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２と第２遅延部３３に入力される。
【0103】
続いて、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２は、第１選択部３１にて選択された入力ビット列に対するＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のＧｒａｙｃｏｄｉｎｇを解除して第２選択部３４に出力する。また、第２遅延部３３は、第１選択部３１からの入力ビット列をＧｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２と同位相で第２選択部３４に出力する。そして、第２選択部３４において、ＬＴＳＳＭ３６の指示により、Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ３２と第２遅延部３３の何れかの出力が選択され、第２スクランブル解析部３５に入力される。さらに、第２スクランブル解析部３５は、第２選択部３４にて選択されたデータからＰＣＩｅ Ｇｅｎ６で適用されているスクランブルを解除してＬＴＳＳＭ３６と第３選択部３７に出力する。
【0104】
そして、リファレンスパターン生成部４０は、同期パターン検出部３９からのパターン先頭信号をトリガとして、ＭＳＢリファレンスパターンとＬＳＢリファレンスパターンを生成する（ＳＴ５）。
【0105】
また、シンボルマスク生成部４１は、同期パターン検出部３９からのパターン先頭信号をトリガとして、操作部２にて設定されるマスクパターン長およびマスクパターン周期に基づくＦＥＣシンボルマスクパターンを生成する（ＳＴ６）。
【0106】
そして、エラー検出部４４は、ＭＣＰによるＭＳＢデータとＬＳＢデータ、パターン先頭信号、ＭＳＢリファレンスパターン、ＬＳＢリファレンスパターン、マスクパターン、マスクパターン先頭信号を用いて、ビットエラーの検出及びカウント、ＰＡＭ４シンボルエラーの検出及びカウント、ＦＥＣシンボルエラーの検出及びカウントを行う（ＳＴ７）。このときのカウント結果は操作部２に出力される。その際、エラー検出部４４が検出するＦｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を下回ると、同期状態管理部４６から同期確立が操作部２に通知される。これに対し、エラー検出部４４が検出するＦｌｉｔに相当する部分のエラーの量が同期条件閾値を上回ると、同期状態管理部４６から同期未確立が操作部２に通知され、同期パターン検出部３９にＭＣＰのパターン先頭の再取得（パターン先頭の再探索）が指示される。
【0107】
また、Ｆｌｉｔエラー検出部４５は、１Ｆｌｉｔ長において、何れかのＥＣＣ Ｇｒｏｕｐ内のＦＥＣシンボルエラー数が、操作部２にて設定されたＦＥＣシンボルエラー閾値を超えたか否かの検出とカウントを行う（ＳＴ８）。このときのカウント結果は操作部２に出力される。
【0108】
このように、本実施の形態によれば、リンクトレーニングで被測定物をループバック状態に遷移させた後、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６の物理層評価で使われているＭＣＰ（Ｍｏｄｉｆｉｅｄ Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅ Ｐａｔｔｅｒｎ）を用いて、擬似的にＦｌｉｔとそれ以外とに区別を行い、Ｆｌｉｔ領域についてのＦＥＣシンボルエラー状況から、Ｆｌｉｔエラーが起きるかを推定することが可能となる。しかも、誤り訂正を行わないため、回路規模を小さくできる。
【0109】
また、ＦＥＣでガードされたパターンと、ＦＥＣでガードされていないパターンが混在する環境でもＦＥＣでガードされたパターンを識別し、Ｕｎｃｏｒｒｅｃｔａｂｌｅになるかの判定を行うことが可能となる。
【0110】
さらに、エラー測定するデータを入力生データと、ＳＫＰ除去後のデータと、ＳＫＰ除去し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６のコードを解除したデータから選択することができるため、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６コーディングによるビットエラーとＦｌｉｔエラーの発生具合を正しく把握することができるようになる。
【0111】
また、エラーレートが高く、ＳＫＰ除去が困難な場合でも、ＳＫＰ部分のビットエラーをマスクする方法を選択できるようにすることで、ＳＫＰを測定対象外とすることが可能となる。
【0112】
以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【0113】
１ 誤り率測定装置
２ 操作部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ 第１選択部
１２ 第１シーケンス発生部
１３ 第２シーケンス発生部
１４ 測定パターン発生部
１５ 第１エンコーダ
１６ 第２エンコーダ
１７ 第２選択部
１８ ビット分割部
１９ ＰＡＭ４エンコーダ
２１ ＰＡＭ４デコーダ
２２ ビット合成部
２３ 第１同期部
２４ 第１ＳＫＰフィルタ部
２５ 処理回路
２６ 第１スクランブル解析部
２７ 第２同期部
２８ 第２ＳＫＰフィルタ部
２９ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ
３０ 第１遅延部
３１ 第１選択部
３２ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ
３３ 第２遅延部
３４ 第２選択部
３５ 第２スクランブル解析部
３６ ＬＴＳＳＭ
３７ 第３選択部
３８ ビット分割部
３９ 同期パターン検出部
４０ リファレンスパターン生成部
４１ シンボルマスク生成部
４２ 第３遅延部
４３ 第４遅延部
４４ エラー検出部
４５ Ｆｌｉｔエラー検出部
４５ａ Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ
４５ｂ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ
４５ｃ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｄ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｅ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｆ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｇ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｈ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｉ 比較部
４５ｊ Ｆｌｉｔエラーカウント部
４６ 同期状態管理部
Ｗ 被測定物
２ 操作部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ 第１選択部
１２ 第１シーケンス発生部
１３ 第２シーケンス発生部
１４ 測定パターン発生部
１５ 第１エンコーダ
１６ 第２エンコーダ
１７ 第２選択部
１８ ビット分割部
１９ ＰＡＭ４エンコーダ
２１ ＰＡＭ４デコーダ
２２ ビット合成部
２３ 第１同期部
２４ 第１ＳＫＰフィルタ部
２５ 処理回路
２６ 第１スクランブル解析部
２７ 第２同期部
２８ 第２ＳＫＰフィルタ部
２９ Ｐｒｅｃｏｄｉｎｇデコーダ
３０ 第１遅延部
３１ 第１選択部
３２ Ｇｒａｙｃｏｄｉｎｇデコーダ
３３ 第２遅延部
３４ 第２選択部
３５ 第２スクランブル解析部
３６ ＬＴＳＳＭ
３７ 第３選択部
３８ ビット分割部
３９ 同期パターン検出部
４０ リファレンスパターン生成部
４１ シンボルマスク生成部
４２ 第３遅延部
４３ 第４遅延部
４４ エラー検出部
４５ Ｆｌｉｔエラー検出部
４５ａ Ｆｌｉｔ長タイミングカウンタ
４５ｂ ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐタイミングカウンタ
４５ｃ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｄ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｅ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラー検出部
４５ｆ 第１ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｇ 第２ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｈ 第３ＥＣＣ Ｇｒｏｕｐエラーカウント部
４５ｉ 比較部
４５ｊ Ｆｌｉｔエラーカウント部
４６ 同期状態管理部
Ｗ 被測定物
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】