特許 7585609出願番号 特願 2020-30469
信号監視装置
出願人 沖電気工業株式会社（識別番号 295）
2026年 特許公開件数ランキング 101位 212件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 154位 126件（※）
公報発行日 2024年11月19
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7585609 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
複数のセンサからの出力に基づいて監視対象信号を監視する信号監視装置
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
しかしながら、隣接するビーム同士が受信する信号は、そこまで変化せず差は微小である。このため、従来のように、形成された全てのビームに対してＦＦＴ及び周波数方向の正規化が行われると、無駄が生じる。従って、ＦＦＴ及び周波数方向の正規化に要する計算量が多くなる。また、形成されるビームの数は、概してセンサ２ａの数以上となり、アプリケーションによっては、数百個以上のビームが形成される。この場合、ＦＦＴ及び周波数方向の正規化に要する計算量が多くなる。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明に係る信号監視装置は、複数のセンサからの出力に基づいて、それぞれビームを作成するビームフォーミング処理部と、ビームフォーミング処理部によって作成された複数のビームの時間波形を平均化して、統合ビームの時間波形を作成する平均化処理部と、平均化処理部によって作成された統合ビームの周波数方向の情報に基づいて、監視対象信号を監視する監視部と、を備えることを特徴とする。
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明によれば、平均化処理部が複数のビームを平均化した統合ビームを作成し、監視部が統合ビームに基づいて、監視対象信号を監視する。このように、統合ビームは複数のビームが平均化されたものであるため、統合ビームの総数はビームの総数よりも少ない。従って、計算量を削減することができる。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本実施の形態１に係る信号監視装置を示すブロック図である。
【図2】
本実施の形態２に係る信号監視装置を示すブロック図である。
【図3】
本実施の形態３に係る信号監視装置を示すブロック図である。
【図4】
従来の信号監視装置を示すブロック図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１ 信号監視装置、２ アレイ、２ａ センサ、３ 電子回路、４ ビームフォーミング処理部、５ 監視部、６ ＦＦＴ処理部、７ 周波数方向正規化処理部、８ 検出処理部、１０ 平均化処理部、１００ 信号監視装置、１１０ 平均化処理部、２００ 信号監視装置、２０５ 監視部、２０９ 非定常信号分析処理部、３００ 信号監視装置。
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