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特許7586458積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-11-11
(45)【発行日】2024-11-19
(54)【発明の名称】積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
(51)【国際特許分類】
   H01G 4/30 20060101AFI20241112BHJP
【FI】
H01G4/30 201N
H01G4/30 201L
H01G4/30 311Z
H01G4/30 512
H01G4/30 515
H01G4/30 517
【請求項の数】 18
(21)【出願番号】P 2020105838
(22)【出願日】2020-06-19
(65)【公開番号】P2021010000
(43)【公開日】2021-01-28
【審査請求日】2023-03-03
(31)【優先権主張番号】10-2019-0078902
(32)【優先日】2019-07-01
(33)【優先権主張国・地域又は機関】KR
(73)【特許権者】
【識別番号】594023722
【氏名又は名称】サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド.
(74)【代理人】
【識別番号】110000877
【氏名又は名称】弁理士法人RYUKA国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】パク、ヨン
(72)【発明者】
【氏名】カン、シム チュン
(72)【発明者】
【氏名】シン、ウー チュル
(72)【発明者】
【氏名】リー、ジョン ホ
(72)【発明者】
【氏名】ホン、キ ピョ
【審査官】鈴木 駿平
(56)【参考文献】
【文献】特開2018-107239(JP,A)
【文献】特開2018-148118(JP,A)
【文献】特開2006-278557(JP,A)
【文献】特開2017-147429(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01G 4/00-4/224
H01G 4/255-4/40
H01G 13/00-13/06
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
誘電体層を含み、互いに対向する第1面及び第2面、前記第1面及び第2面を連結する第3面及び第4面、前記第1面から第4面と連結され、互いに対向する第5面及び第6面を有するセラミック本体と、
前記セラミック本体の内部に配置され、前記第1面及び第2面に露出し、且つ前記第3面または第4面に一端が露出する複数の内部電極と、
前記第1面及び第2面に露出した前記内部電極の端部上に配置された第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部と、を含み、
前記セラミック本体は、前記誘電体層を間に挟んで互いに対向するように配置される複数の内部電極を含み、容量が形成される部分である活性部と、前記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、を含み、
前記第1サイドマージン部及び前記第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、前記第1面及び第2面に露出した内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、前記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、前記第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少なく、前記第1領域に含まれる誘電体グレインのサイズが、前記第2領域に含まれる誘電体グレインのサイズより小さく、前記第2領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、第1領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多い、積層セラミックキャパシタ。
【請求項2】
前記第1領域内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域内の単位面積当たりのポアの個数の割合が0.8以下である、請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項3】
前記カバー部は、前記セラミック本体の第5面及び第6面に隣接した第1領域と、前記内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、前記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少ない、請求項1または2に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項4】
前記カバー部のうち第1領域内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域内の単位面積当たりのポアの個数の割合が0.8以下である、請求項に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項5】
前記カバー部のうち第2領域のマグネシウム(Mg)の含量が、前記カバー部のうち第1領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多い、請求項に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項6】
前記誘電体層の厚さは0.4μm以下である、請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項7】
前記内部電極の厚さは0.4μm以下である、請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項8】
前記誘電体層の厚さは0.4μm以下であり、前記内部電極の厚さは0.4μm以下である、請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項9】
前記第1領域の厚さは12μm以下であり、第2領域の厚さは3μm以下である、請求項1に記載の積層セラミックキャパシタ。
【請求項10】
複数個の第1内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第1セラミックグリーンシート、及び複数個の第2内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第2セラミックグリーンシートを準備する段階と、
前記第1内部電極パターンと前記第2内部電極パターンが交差するように前記第1セラミックグリーンシートと前記第2セラミックグリーンシートを積層することで、セラミックグリーンシート積層本体を形成する段階と、
前記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が幅方向に露出した側面を有するように前記セラミックグリーンシート積層本体を切断する段階と、
前記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が露出した側面に第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部を形成する段階と、
前記切断した積層本体を焼成することで、誘電体層と第1及び第2内部電極を含むセラミック本体を製造する段階と、を含み、
前記セラミック本体は、前記誘電体層を間に挟んで互いに対向するように配置される第1及び第2内部電極を含み、容量が形成される部分である活性部と、前記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、を含み、
前記第1サイドマージン部及び前記第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、前記露出した内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、前記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、前記第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少なく、前記第1領域に含まれる誘電体グレインのサイズが、前記第2領域に含まれる誘電体グレインのサイズより小さく、前記第2領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、第1領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多い、積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項11】
前記第1領域内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域内の単位面積当たりのポアの個数の割合が0.8以下である、請求項10に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項12】
前記カバー部は、前記セラミック本体の第5面及び第6面に隣接した第1領域と、前記内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、前記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少ない、請求項10または11に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項13】
前記カバー部のうち第1領域内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域内の単位面積当たりのポアの個数の割合が0.8以下である、請求項12に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項14】
前記カバー部のうち第2領域のマグネシウム(Mg)の含量が、前記カバー部のうち第1領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多い、請求項12に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項15】
前記第1セラミックグリーンシートおよび前記第2セラミックグリーンシートの厚さは0.6μm以下である、請求項10に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項16】
前記第1内部電極パターンおよび前記第2内部電極パターンの厚さは0.5μm以下である、請求項10に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項17】
前記誘電体層の厚さは0.4μm以下であり、前記第1及び第2内部電極の厚さは0.4μm以下である、請求項10に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【請求項18】
前記第1領域の厚さは12μm以下であり、第2領域の厚さは3μm以下である、請求項10に記載の積層セラミックキャパシタの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、信頼性を向上させることができる積層セラミックキャパシタ及びその製造方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
通常、キャパシタ、インダクタ、圧電体素子、バリスタ、またはサーミスターなどのセラミック材料を用いる電子部品は、セラミック材料からなるセラミック本体と、本体の内部に形成された内部電極と、上記内部電極と接続されるようにセラミック本体の表面に設けられた外部電極と、を備える。
【0003】
近年、電子製品の小型化及び多機能化に伴い、チップ部品も小型化及び高機能化する傾向にあるため、積層セラミックキャパシタに対しても、小型でありながらも、容量が大きい高容量の製品が求められている。
【0004】
積層セラミックキャパシタの小型化及び高容量化のためには、電極有効面積の最大化(容量の実現に必要な有効体積分率の増加)が求められる。
【0005】
上記のように小型及び高容量の積層セラミックキャパシタを実現するために、積層セラミックキャパシタを製造するに際し、内部電極が本体の幅方向に露出するようにすることで、マージンのない設計により内部電極の幅方向の面積を最大限にするとともに、かかるチップの製作後、焼成の前段階で、チップの幅方向の電極露出面にサイドマージン部を別途付着して完成する方法が適用されている。
【0006】
しかしながら、上記の方法は、サイドマージン部の形成過程で、セラミック本体とサイドマージン部が接触する界面に多くのポア(pore)が生成され、信頼性が低下する可能性がある。
【0007】
また、上記ポア(pore)により、外側の焼結緻密度の低下による耐湿信頼性の低下が引き起こされる恐れがある。
【0008】
したがって、超小型及び高容量の製品において耐湿信頼性の低下を防ぐことができる研究が必要な状況である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0009】
【文献】韓国公開特許第2010-0136917号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
本発明は、信頼性を向上させることができる積層セラミックキャパシタ及びその製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明の一実施形態は、誘電体層を含み、互いに対向する第1面及び第2面、上記第1面及び第2面を連結する第3面及び第4面、上記第1面~第4面と連結され、互いに対向する第5面及び第6面を有するセラミック本体と、上記セラミック本体の内部に配置され、上記第1面及び第2面に露出し、且つ上記第3面または第4面に一端が露出する複数の内部電極と、上記第1面及び第2面に露出した上記内部電極の端部上に配置された第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部と、を含み、上記セラミック本体は、上記誘電体層を間に挟んで互いに対向するように配置される複数の内部電極を含み、容量が形成される部分である活性部と、上記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、を含み、上記第1及び第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、上記第1面及び第2面に露出した内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、上記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数よりも少ない、積層セラミックキャパシタを提供する。
【0012】
本発明の他の実施形態は、複数個の第1内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第1セラミックグリーンシート、及び複数個の第2内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第2セラミックグリーンシートを準備する段階と、上記第1内部電極パターンと上記第2内部電極パターンが交差するように上記第1セラミックグリーンシートと上記第2セラミックグリーンシートを積層することで、セラミックグリーンシート積層本体を形成する段階と、上記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が幅方向に露出した側面を有するように、上記セラミックグリーンシート積層本体を切断する段階と、上記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が露出した側面に第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部を形成する段階と、上記切断した積層本体を焼成することで、誘電体層と第1及び第2内部電極を含むセラミック本体を製造する段階と、を含み、上記セラミック本体は、上記誘電体層を間に挟んで互いに対向するように配置される第1及び第2内部電極を含み、容量が形成される部分である活性部と、上記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、を含み、上記第1及び第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、上記露出した内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、上記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少ない、積層セラミックキャパシタの製造方法を提供する。
【発明の効果】
【0013】
本発明の一実施形態によると、第1及び第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、セラミック本体の第1面及び第2面に露出した内部電極に隣接した第2領域とに分けられ、上記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少なくなるように調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0014】
また、上記第1領域に含まれる誘電体グレインのサイズが、第2領域に含まれる誘電体グレインのサイズより小さくなるように調節することで、高靭性のギャップシートを形成することができるため、実装クラックを改善することができる。
【0015】
さらに、セラミック本体の幅方向の側面に隣接したサイドマージン部の領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量を調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0016】
一方、カバー部は、セラミック本体の外側面に隣接した第1領域と、複数の内部電極のうち最外側に配置された内部電極に隣接した第2領域とに分けられ、第1領域と第2領域に含まれるポアの個数及びマグネシウム(Mg)の含量を調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
図1】本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタを示す概略的な斜視図である。
図2図1のセラミック本体の外観を示す斜視図である。
図3図2のセラミック本体の焼成前のセラミックグリーンシート積層本体を示す斜視図である。
図4図2のA方向から見た側面図である。
図5図4のB領域の拡大図である。
図6】本発明の他の実施形態によるセラミック本体を示し、図2のA方向から見た側面図である。
図7a】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図7b】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図7c】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図7d】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す斜視図である。
図7e】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図7f】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図7g】本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
図8】本発明の実施例及び比較例による耐湿信頼性テスト結果を比較したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下では、添付の図面を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。しかし、本発明の実施形態は様々な他の形態に変形されることができ、本発明の範囲は以下で説明する実施形態に限定されない。また、本発明の実施形態は、当該技術分野で平均的な知識を有する者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。したがって、図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために拡大縮小表示(または強調表示や簡略化表示)がされることがある。
【0019】
図1は本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタを示す概略的な斜視図である。
【0020】
図2図1のセラミック本体の外観を示す斜視図である。
【0021】
図3図2のセラミック本体の焼成前のセラミックグリーンシート積層本体を示す斜視図である。
【0022】
図4図2のA方向から見た側面図である。
【0023】
図1から図4を参照すると、本実施形態に係る積層セラミックキャパシタ100は、セラミック本体110と、上記セラミック本体110の内部に形成される複数の内部電極121、122と、上記セラミック本体110の外表面に形成される外部電極131、132と、を含む。
【0024】
上記セラミック本体110は、互いに対向する第1面1及び第2面2と、上記第1面及び第2面を連結する第3面3及び第4面4と、上面及び下面である第5面5及び第6面6と、を有することができる。
【0025】
上記第1面1及び第2面2はセラミック本体110の幅方向に向かい合う面、上記第3面3及び第4面4は長さ方向に向かい合う面、上記第5面5及び第6面6は厚さ方向に向かい合う面と定義されることができる。
【0026】
上記セラミック本体110の形状は特に制限されないが、図面に示すように、直方体形状であることができる。
【0027】
上記セラミック本体110の内部に形成された複数個の内部電極121、122は、上記セラミック本体の第3面3または第4面4に一端が露出する。
【0028】
上記内部電極121、122は、互いに異なる極性を有する第1内部電極121及び第2内部電極122を一対とすることができる。
【0029】
第1内部電極121の一端は第3面3に露出し、第2内部電極122の一端は第4面4に露出することができる。
【0030】
上記第1内部電極121及び第2内部電極122の他端は、第3面3または第4面4から所定の間隔を置いて形成される。
【0031】
上記セラミック本体の第3面3には第1外部電極131が形成され、上記第1内部電極121と電気的に連結されることができる。上記セラミック本体の第4面4には第2外部電極132が形成され、上記第2内部電極122と電気的に連結されることができる。
【0032】
本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタ100は、上記セラミック本体110の内部に配置され、上記第1面及び第2面1、2に露出し、且つ上記第3面3または第4面4に一端が露出する複数の内部電極121、122と、上記第1面1及び第2面2に露出した上記内部電極121、122の端部上に配置された第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113と、を含む。
【0033】
上記セラミック本体110の内部には複数の内部電極121、122が形成され、上記複数の内部電極121、122の各末端は、上記セラミック本体110の幅方向の面である第1面1及び第2面2に露出し、露出した端部上に第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113がそれぞれ配置される。
【0034】
第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113は、その平均厚さが2μm以上15μm以下であることができる。
【0035】
本発明の一実施形態によると、上記セラミック本体110は、複数の誘電体層111が積層された積層体と、上記積層体の両側面に配置される第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113で構成されることができる。
【0036】
上記複数の誘電体層111は焼結された状態であって、隣接する誘電体層同士の境界は、確認ができないほどに一体化されていることができる。
【0037】
上記セラミック本体110の長さは、セラミック本体の第3面3から第4面4までの距離に該当する。
【0038】
上記誘電体層111の長さは、セラミック本体の第3面3と第4面4との間の距離を形成する。
【0039】
これに制限されるものではないが、本発明の一実施形態によると、セラミック本体の長さは400~1400μmであることができる。より具体的には、セラミック本体の長さは400~800μmであってもよく、600~1400μmであってもよい。
【0040】
上記誘電体層111上には、内部電極121、122が形成されることができる。上記内部電極121、122は、焼結により、一誘電体層を間に挟んで上記セラミック本体110の内部に形成されることができる。
【0041】
図3を参照すると、誘電体層111に第1内部電極121が形成されている。上記第1内部電極121は、誘電体層の長さ方向全体に対して形成されない。すなわち、第1内部電極121の一端は、セラミック本体の第4面4から所定の間隔を置いて形成され、第1内部電極121の他端は、第3面3まで形成されて第3面3に露出することができる。
【0042】
セラミック本体の第3面3に露出した第1内部電極の端部は、第1外部電極131と連結される。
【0043】
第1内部電極とは逆に、第2内部電極122の一端は、第3面3から所定の間隔を置いて形成され、第2内部電極122の他端は、第4面4に露出して第2外部電極132と連結される。
【0044】
上記内部電極は、高容量の積層セラミックキャパシタを実現するために、400層以上で積層されることができるが、必ずしもこれに制限されるものではない。
【0045】
上記誘電体層111は、第1内部電極121の幅と同一の幅を有することができる。すなわち、上記第1内部電極121は、誘電体層111の幅方向においては全体的に形成されることができる。
【0046】
これに制限されるものではないが、本発明の一実施形態によると、誘電体層の幅及び内部電極の幅は100~900μmであることができる。より具体的には、誘電体層の幅及び内部電極の幅は、100~500μmであってもよく、100~900μmであってもよい。
【0047】
セラミック本体が小型化するほど、サイドマージン部の厚さが積層セラミックキャパシタの電気的特性に影響を及ぼす可能性がある。本発明の一実施形態によると、サイドマージン部の厚さが15μm以下で形成されることで、小型化した積層セラミックキャパシタの特性を向上させることができる。
【0048】
すなわち、サイドマージン部の厚さが15μm以下で形成されることで、容量を形成する内部電極の重畳面積を最大限に確保するため、高容量及び小型の積層セラミックキャパシタを実現することができる。
【0049】
かかるセラミック本体110は、キャパシタの容量の形成に寄与する部分としての活性部と、上部マージン部として活性部の上下部にそれぞれ形成された上部及び下部カバー部と、で構成されることができる。
【0050】
上記活性部は、誘電体層111を間に挟んで複数の第1及び第2内部電極121、122を繰り返し積層することで形成されることができる。
【0051】
上記上部及び下部カバー部は、内部電極を含まないことを除き、誘電体層111と同一の材質及び構成を有することができる。
【0052】
すなわち、上記上部及び下部カバー部は、セラミック材料を含むことができ、例えば、チタン酸バリウム(BaTiO)系セラミック材料を含むことができる。
【0053】
上記上部及び下部カバー部は、それぞれ20μm以下の厚さを有することができるが、必ずしもこれに制限されるものではない。
【0054】
本発明の一実施形態において、内部電極と誘電体層は同時に切断されて形成されるものであって、内部電極の幅と誘電体層の幅は同一に形成されることができる。これについてのより具体的な事項は後述する。
【0055】
本実施形態において、誘電体層の幅は内部電極の幅と同一に形成される。これにより、セラミック本体110の幅方向の第1面及び第2面1、2に内部電極121、122の末端が露出することができる。
【0056】
上記内部電極121、122の末端が露出したセラミック本体110の幅方向の両側面には、第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113が形成されることができる。
【0057】
上記第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113の厚さは15μm以下であることができる。上記第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113の厚さが小さいほど、セラミック本体内に形成される内部電極の重畳面積が相対的に広くなることができる。
【0058】
上記第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113の厚さは、セラミック本体110の側面に露出した内部電極のショートを防止することができる厚さであれば特に制限されないが、例えば、第1サイドマージン部112及び第2サイドマージン部113の厚さは2μm以上であることができる。
【0059】
上記第1及び第2サイドマージン部の厚さが2μm未満である場合には、外部衝撃に対する機械的強度が低下する恐れがあり、上記第1及び第2サイドマージン部の厚さが15μmを超える場合には、内部電極の重畳面積が相対的に減少し、積層セラミックキャパシタの高容量を確保することが困難である可能性がある。
【0060】
積層セラミックキャパシタの容量を最大限にするために、誘電体層を薄膜化する方法、薄膜化した誘電体層を高積層化する方法、内部電極のカバレッジを向上させる方法などが考えられている。
【0061】
また、容量を形成する内部電極の重畳面積を増加させる方法が考えられている。
【0062】
内部電極の重畳面積を増加させるためには、内部電極が形成されていないマージン部の領域を最小化する必要がある。
【0063】
特に、積層セラミックキャパシタが小型化するほど、内部電極の重畳領域を増加させるためには、マージン部の領域を最小化する必要がある。
【0064】
本実施形態によると、誘電体層の幅方向の全体に内部電極が形成され、サイドマージン部の厚さが15μm以下に設定されることにより、内部電極の重畳面積が広いという特徴を有する。
【0065】
通常、誘電体層が高積層化するほど、誘電体層及び内部電極の厚さは薄くなる。したがって、内部電極のショート現象が頻繁に発生するおそれがある。また、誘電体層の一部にのみ内部電極が形成される場合、内部電極による段差が生じ、絶縁抵抗の加速寿命や信頼性が低下する可能性がある。
【0066】
しかし、本実施形態によると、薄膜の内部電極及び誘電体層を形成しても、内部電極が誘電体層の幅方向において全体的に形成されるため、内部電極の重畳面積が大きくなり、積層セラミックキャパシタの容量を大きくすることができる。
【0067】
また、内部電極による段差を減少させることで、絶縁抵抗の加速寿命が向上し、優れた容量特性及び信頼性を有する積層セラミックキャパシタを提供することができる。
【0068】
図5図4のB領域の拡大図である。
【0069】
図5を参照すると、上記第1及び第2サイドマージン部112、113は、サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113aと、上記セラミック本体110の第1面1及び第2面2に露出した内部電極121、122に隣接した第2領域112b、113bと、に分けられ、第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数が、第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数より少ない。
【0070】
上記セラミック本体110の側面に配置された第1及び第2サイドマージン部112、113は、それぞれに含まれる誘電体グレインのサイズが互いに異なる2つの領域に分けられ、この際、上記第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数が、第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数より少なくなるように調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0071】
一方、上記第1領域112a、113aに含まれる誘電体グレインのサイズd1が、第2領域112b、113bに含まれる誘電体グレインのサイズd2より小さくなるように調節することで、第1及び第2サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113aに高靭性のギャップシートを形成することができるため、実装クラックを改善することができる。
【0072】
通常、サイドマージン部の形成過程で、セラミック本体とサイドマージン部が接触する界面に多くのポア(pore)が生成され、信頼性が低下する可能性がある。
【0073】
また、セラミック本体とサイドマージン部が接触する界面に生成されたポア(pore)により、外側の焼結緻密度の低下による耐湿信頼性の低下が引き起こされる恐れがある。
【0074】
本発明の一実施形態によると、セラミック本体110の第1面1及び第2面2に露出した内部電極121、122に隣接したサイドマージン部の第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数が、第1及び第2サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数より少なくなるように調節することで、耐湿信頼性が向上することができる。
【0075】
本発明の一実施形態によると、上記第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数に対する、第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数の割合は、0.8以下であることができる。
【0076】
上記第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数に対する、第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数の割合を0.8以下に調節することで、耐湿信頼性が向上することができる。
【0077】
上記第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数に対する、第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数の割合が0.8を超える場合には、上記第1領域112a、113aと第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数に差がないため、耐湿信頼性の改善効果がわずかである。
【0078】
上記セラミック本体110の第1面1及び第2面2に露出した内部電極121、122に隣接したサイドマージン部の第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数が、第1及び第2サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数より少なくなるように調節する方法は特に制限されないが、例えば、第1領域112a、113a及び第2領域112b、113bの形成過程で投入される原材料としてのセラミック粉末のサイズを調節することで実現可能である。
【0079】
例えば、内部電極121、122に隣接したサイドマージン部の第2領域112b、113bを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径を、第1及び第2サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113aを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径より大きくすることで実現可能である。
【0080】
特に制限されないが、例えば、内部電極121、122に隣接したサイドマージン部の第2領域112b、113bを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径は70nm程度であり、第1及び第2サイドマージン部112、113の外側面に隣接した第1領域112a、113aを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径は40nm程度であることができる。
【0081】
本発明の一実施形態によると、上記のように、第1領域112a、113a及び第2領域112b、113bの形成過程で投入される原材料としてのセラミック粉末のサイズを調節することで、焼成後に、上記第1領域112a、113aに含まれる誘電体グレインのサイズd1は90nm以上410nm以下とし、上記第2領域112b、113bに含まれる誘電体グレインのサイズd2は170nm以上700nm以下とすることができる。
【0082】
上記第1領域112a、113aと第2領域112b、113bに含まれる誘電体グレインのサイズは、それぞれの該当領域から抽出された誘電体グレインの長軸と短軸の長さを測定し、その平均サイズを計算することで求めることができる。
【0083】
上記誘電体グレインの長軸の長さは、上記誘電体グレインの形状を楕円形と仮定した場合、誘電体グレインの粒径として測定される多数の地点のうち、最も長く測定される地点での誘電体グレインの粒径に該当し、上記誘電体グレインの短軸の長さは、誘電体グレインの粒径として測定される多数の地点のうち、最も短く測定される地点での誘電体グレインの粒径に該当する。
【0084】
一方、本発明の一実施形態によると、上記セラミック本体110の側面に配置された第1及び第2サイドマージン部112、113が、組成が互いに異なる2つの領域に分けられ、この際、各領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量が異なるようにすることで、第1及び第2サイドマージン部112、113の緻密度を向上させ、耐湿特性を改善することができる。
【0085】
具体的には、上記第1及び第2サイドマージン部112、113の第2領域112b、113bに含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、外側の第1領域112a、113aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多く、このように調節することで、上記サイドマージン部112、113の第2領域112b、113bの緻密度を向上させ、耐湿特性を改善することができる。
【0086】
特に、上記サイドマージン部112、113の外側面に隣接した上記第1及び第2サイドマージン部112、113の第1領域112a、113aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量を小さくすることで、実装クラック不良を改善することができる。
【0087】
上記第2領域112b、113bに含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、第1領域112a、113aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多くなるように調節する方法としては、積層セラミックキャパシタの製作過程で、第1及び第2サイドマージン部形成用誘電体組成を第1領域と第2領域で互いに異ならせることにより可能である。
【0088】
すなわち、第1及び第2サイドマージン部形成用誘電体組成において、第2領域形成用誘電体組成中のマグネシウム(Mg)の含量を増加させることで、上記第2領域112b、113bに含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、第1領域112a、113aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多くなるように調節することができる。
【0089】
これにより、上記サイドマージン部112、113の第2領域112b、113bの緻密度を向上させ、耐湿特性を改善することができる。また、内部電極の端部に集中される電界を緩和することができるため、積層セラミックキャパシタにおける主な不良の1つである絶縁破壊を防止し、積層セラミックキャパシタの信頼性を向上させることができる。
【0090】
本発明の一実施形態によると、上記第2領域112b、113bのマグネシウム(Mg)の含量は、上記第1及び第2サイドマージン部に含まれるチタン(Ti)100モルに対して10モル以上30モル以下であることができる。
【0091】
上記第2領域112b、113bのマグネシウム(Mg)の含量が、上記第1及び第2サイドマージン部に含まれるチタン(Ti)100モルに対して10モル以上30モル以下になるように調節することで、絶縁破壊電圧(Breakdown Voltage、BDV)を増加させ、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0092】
上記第2領域112b、113bのマグネシウム(Mg)の含量が、上記第1及び第2サイドマージン部に含まれるチタン(Ti)100モルに対して10モル未満である場合、セラミック本体とサイドマージン部が接触する界面に生成されたポア(pore)における酸化層の形成が十分ではないため、絶縁破壊電圧(Breakdown Voltage、BDV)が低くなり、ショート不良が増加するおそれがある。
【0093】
一方、上記第2領域112b、113bのマグネシウム(Mg)の含量が、上記第1及び第2サイドマージン部に含まれるチタン(Ti)100モルに対して30モルを超える場合には、焼結性の低下により信頼性が低下するという問題が発生する可能性がある。
【0094】
本発明の一実施形態によると、上記誘電体層111の厚さは0.4μm以下であり、上記内部電極121、122の厚さは0.4μm以下である、超小型の積層セラミックキャパシタであることを特徴とする。
【0095】
本発明の一実施形態のように、上記誘電体層111の厚さは0.4μm以下であり、上記内部電極121、122の厚さは0.4μm以下である薄膜の誘電体層及び内部電極が適用された場合、セラミック本体とサイドマージン部の境界面に生じるポア(pore)による信頼性の問題が非常に重要なイシューとなる。
【0096】
つまり、従来の積層セラミックキャパシタは、本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタに含まれるサイドマージン部の各領域の誘電体グレインのサイズを調節しなくても、信頼性においてあまり問題がなかった。
【0097】
しかし、本発明の一実施形態のように、薄膜の誘電体層及び内部電極が適用される製品においては、セラミック本体とサイドマージン部が接触する界面に生成されたポア(pore)によるBDV及び信頼性の低下を防止するために、サイドマージン部の各領域に含まれるポアの個数を調節しなければならない。
【0098】
すなわち、本発明の一実施形態では、上記第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアPの個数が、第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアPの個数より少なくなるように調節することで、誘電体層111と第1及び第2内部電極121、122の厚さが0.4μm以下の薄膜である場合にも、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0099】
但し、上記薄膜は、誘電体層111と第1及び第2内部電極121、122の厚さが0.4μm以下であることを意味するものではなく、従来の製品に比べて薄い厚さの誘電体層及び内部電極を含む概念で理解されることができる。
【0100】
一方、上記第1領域112a、113aの厚さt1aは12μm以下であり、第2領域112b、113bの厚さt1bは3μm以下であることができるが、必ずしもこれに制限されるものではない。
【0101】
図4を参照すると、上記複数の内部電極121、122のうち、中央部に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt1に対する、最外側に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt2の割合は1.0以下であることができる。
【0102】
中央部に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt1に対する、最外側に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt2の割合の下限値は、特に制限されないが、0.9以上であることが好ましい。
【0103】
本発明の一実施形態によると、従来とは異なって、セラミックグリーンシートをセラミック本体の側面に付着して上記第1または第2サイドマージン部を形成するため、第1または第2サイドマージン部の位置毎の厚さが一定である。
【0104】
すなわち、従来は、セラミックスラリーを塗布もしくは印刷する方式によりサイドマージン部を形成していたため、サイドマージン部の位置毎の厚さのばらつきが大きかった。
【0105】
具体的には、従来は、セラミック本体の中央部に配置される内部電極の末端と接する第1または第2サイドマージン部領域の厚さが、他の領域の厚さに比べて厚く形成されていた。
【0106】
例えば、従来は、中央部に配置される内部電極の末端と接する第1または第2サイドマージン部領域の厚さに対する、最外側に配置される内部電極の末端と接する第1または第2サイドマージン部領域の厚さの割合が0.9未満程度と、そのばらつきが大きい。
【0107】
このようにサイドマージン部の位置毎の厚さのばらつきが大きい従来の場合、同じサイズの積層セラミックキャパシタにおいてサイドマージン部が占める部分が大きいため、容量形成部のサイズを大きく確保することができず、高容量を確保することが困難であった。
【0108】
これに対し、本発明の一実施形態は、第1及び第2サイドマージン部112、113の平均厚さが2μm以上10μm以下であり、上記複数の内部電極121、122のうち、中央部に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt1に対する、最外側に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt2の割合が0.9以上1.0以下であるため、サイドマージン部の厚さが薄く、厚さのばらつきが小さく、容量形成部のサイズを大きく確保することができる。
【0109】
これにより、高容量の積層セラミックキャパシタが実現可能である。
【0110】
一方、図4を参照すると、上記複数の内部電極121、122のうち、中央部に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt1に対する、上記セラミック本体110の角と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt3の割合は1.0以下であることができる。
【0111】
中央部に配置される内部電極の末端と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt1に対する、上記セラミック本体110の角と接する上記第1または第2サイドマージン部領域の厚さt3の割合の下限値は0.9以上であることが好ましい。
【0112】
上記の特徴により、サイドマージン部の領域毎の厚さのばらつきが小さいため、容量形成部のサイズを大きく確保することができ、これにより、高容量の積層セラミックキャパシタが実現可能である。
【0113】
図6は本発明の他の実施形態によるセラミック本体を示し、図2のA方向から見た側面図である。
【0114】
図6を参照すると、本発明の他の実施形態による積層セラミック電子部品において、上記カバー部114、115は、上記セラミック本体110の第5面5及び第6面6に隣接した第1領域114a、115aと、上記内部電極121、122に隣接した第2領域114b、115bと、に分けられ、上記第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域114a、115a内の単位面積当たりのポアの個数より少ないことができる。
【0115】
上記カバー部114、115は、活性部の上部及び下部に形成された上部カバー部114と下部カバー部115で構成されることができる。
【0116】
上記上部カバー部114と下部カバー部115はそれぞれ、上記セラミック本体110の第5面5及び第6面6に隣接した第1領域114a、115aと、上記内部電極121、122に隣接した第2領域114b、115bと、に分けられることができる。
【0117】
上記上部カバー部114と下部カバー部115は、それぞれに含まれる誘電体グレインのサイズが互いに異なる2つの領域に分けられ、この際、上記第2領域114b、115bに含まれるポアの個数が、第1領域114a、115aに含まれるポアの個数より少なくなるように調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0118】
本発明の一実施形態によると、上記カバー部のうち、第1領域114a、115a内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数の割合は0.8以下であることができる。
【0119】
上記第1領域114a、115a内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数の割合を0.8以下に調節することで、耐湿信頼性が向上することができる。
【0120】
上記第1領域114a、115a内の単位面積当たりのポアの個数に対する、第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数の割合が0.8を超える場合には、上記第1領域114a、115aと第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数に差がないため、耐湿信頼性の改善効果がわずかである。
【0121】
上記内部電極121、122に隣接した第2領域114b、115b内の単位面積当たりのポアの個数が、上記セラミック本体110の第5面5及び第6面6に隣接した第1領域114a、115a内の単位面積当たりのポアの個数より少なくなるように調節する方法は特に制限されないが、例えば、第1領域114a、115a及び第2領域114b、115bの形成過程で投入される原材料としてのセラミック粉末のサイズを調節することで実現可能である。
【0122】
例えば、内部電極121、122に隣接したカバー部の第2領域114b、115bを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径を、上記セラミック本体110の第5面5及び第6面6に隣接した第1領域114a、115aを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径より大きくすることで実現可能である。
【0123】
特に制限されないが、例えば、内部電極121、122に隣接したカバー部の第2領域114b、115bを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径は70nm程度であり、上記セラミック本体110の第5面5及び第6面6に隣接した第1領域114a、115aを形成するための原材料であるチタン酸バリウム(BaTiO)粉末の粒径は40nm程度であることができる。
【0124】
本発明の一実施形態によると、上記のように、第1領域114a、115a及び第2領域114b、115bの形成過程で投入される原材料としてのセラミック粉末のサイズを調節することで、焼成後に、上記第1領域114a、115aに含まれる誘電体グレインのサイズは90nm以上410nm以下とし、上記第2領域114b、115bに含まれる誘電体グレインのサイズは170nm以上700nm以下とすることができる。
【0125】
誘電体グレインのサイズの測定方法は、上述のサイドマージン部に含まれる誘電体グレインのサイズの測定方法と同様である。
【0126】
上記上部及び下部カバー部114、115において、上記第2領域114b、115bに含まれるマグネシウム(Mg)の含量は、第1領域114a、115aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多いことを特徴とする。
【0127】
上記セラミック本体110の上部及び下部カバー部114、115が、組成が互いに異なる2つの領域に分けられ、この際、各領域に含まれるマグネシウム(Mg)の含量が異なるようにすることで、上部及び下部カバー部114、115の緻密度を向上させ、耐湿特性を改善することができる。
【0128】
上記上部及び下部カバー部114、115の第2領域114b、115bに含まれるマグネシウム(Mg)の含量が、外側の第1領域114a、115aに含まれるマグネシウム(Mg)の含量より多くなるように調節することで、上記上部及び下部カバー部114、115の第2領域114b、115bの緻密度を向上させ、耐湿特性を改善することができる。
【0129】
また、上記上部及び下部カバー部114、115の第2領域114b、115bのマグネシウム(Mg)の含量は、上記上部及び下部カバー部114、115に含まれるチタン(Ti)に対して10モル以上30モル以下であることができる。
【0130】
上記上部及び下部カバー部114、115の第2領域114b、115bのマグネシウム(Mg)の含量が、上記上部及び下部カバー部114、115に含まれるチタン(Ti)に対して10モル以上30モル以下になるように調節することで、耐湿信頼性を向上させることができる。
【0131】
図7aから図7gは、本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図及び斜視図である。
【0132】
本発明の他の実施形態によると、複数個の第1内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第1セラミックグリーンシート、及び複数個の第2内部電極パターンが所定の間隔を置いて形成された第2セラミックグリーンシートを準備する段階と、上記第1内部電極パターンと上記第2内部電極パターンが交差するように上記第1セラミックグリーンシートと上記第2セラミックグリーンシートを積層することで、セラミックグリーンシート積層本体を形成する段階と、上記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が幅方向に露出した側面を有するように、上記セラミックグリーンシート積層本体を切断する段階と、上記第1内部電極パターンと第2内部電極パターンの末端が露出した側面に第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部を形成する段階と、上記切断した積層本体を焼成することで、誘電体層と第1及び第2内部電極を含むセラミック本体を製造する段階と、を含み、上記セラミック本体は、上記誘電体層を間に挟んで互いに対向するように配置される第1及び第2内部電極を含み、容量が形成される部分である活性部と、上記活性部の上部及び下部に形成されたカバー部と、を含み、上記第1及び第2サイドマージン部は、サイドマージン部の外側面に隣接した第1領域と、上記露出した内部電極に隣接した第2領域と、に分けられ、上記第2領域内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域内の単位面積当たりのポアの個数より少ない、積層セラミックキャパシタの製造方法を提供する。
【0133】
以下では、本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を説明する。
【0134】
図7aに示されているように、セラミックグリーンシート211上に、所定の間隔を置いて複数個のストライプ状の第1内部電極パターン221を形成する。上記複数個のストライプ状の第1内部電極パターン221は、互いに平行に形成することができる。
【0135】
上記セラミックグリーンシート211は、セラミック粉末、有機溶剤、及び有機バインダーを含むセラミックペーストで形成することができる。
【0136】
上記セラミック粉末は高い誘電率を有する物質であって、これに制限されるものではないが、チタン酸バリウム(BaTiO)系材料、鉛複合ペロブスカイト系材料、またはチタン酸ストロンチウム(SrTiO)系材料などが使用可能であり、好ましくは、チタン酸バリウム(BaTiO)粉末が使用できる。上記セラミックグリーンシート211が焼成されると、セラミック本体110を構成する誘電体層111になる。
【0137】
ストライプ状の第1内部電極パターン221は、導電性金属を含む内部電極ペーストで形成することができる。上記導電性金属は、これに制限されるものではないが、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、パラジウム(Pd)、またはこれらの合金であることができる。
【0138】
上記セラミックグリーンシート211上にストライプ状の第1内部電極パターン221を形成する方法は特に制限されないが、例えば、スクリーン印刷法またはグラビア印刷法などの印刷法により形成することができる。
【0139】
また、図示されてはいないが、さらに他のセラミックグリーンシート211上に、所定の間隔を置いて複数個のストライプ状の第2内部電極パターン222を形成することができる。
【0140】
以下、第1内部電極パターン221が形成されたセラミックグリーンシートを第1セラミックグリーンシート、第2内部電極パターン222が形成されたセラミックグリーンシートを第2セラミックグリーンシートと称する。
【0141】
次に、図7bに示されているように、ストライプ状の第1内部電極パターン221とストライプ状の第2内部電極パターン222が交差して積層されるように、第1及び第2セラミックグリーンシートを交互に積層することができる。
【0142】
その後、上記ストライプ状の第1内部電極パターン221は第1内部電極121になり、ストライプ状の第2内部電極パターン222は第2内部電極122になることができる。
【0143】
本発明の他の実施形態によると、上記第1及び第2セラミックグリーンシートの厚さtdは0.6μm以下であり、第1及び第2内部電極パターンの厚さteは0.5μm以下である。
【0144】
本発明は、誘電体層の厚さが0.4μm以下であり、内部電極の厚さが0.4μm以下の薄膜を有する超小型及び高容量の積層セラミックキャパシタであることを特徴とする。したがって、上記第1及び第2セラミックグリーンシートの厚さtdは0.6μm以下であり、第1及び第2内部電極パターンの厚さteは0.5μm以下であることを特徴とする。
【0145】
図7cは、本発明の一実施形態に従って、第1及び第2セラミックグリーンシートが積層されたセラミックグリーンシート積層本体220を示す断面図であり、図7dは、第1及び第2セラミックグリーンシートが積層されたセラミックグリーンシート積層本体220を示す斜視図である。
【0146】
図7c及び図7dを参照すると、複数個の平行なストライプ状の第1内部電極パターン221が印刷された第1セラミックグリーンシートと、複数個の平行なストライプ状の第2内部電極パターン222が印刷された第2セラミックグリーンシートとが、互いに交互に積層されている。
【0147】
より具体的には、第1セラミックグリーンシートに印刷されたストライプ状の第1内部電極パターン221の中央部と、第2セラミックグリーンシートに印刷されたストライプ状の第2内部電極パターン222の間の間隔とが重なるように積層されることができる。
【0148】
次に、図7dに示されているように、上記セラミックグリーンシート積層本体220を、複数個のストライプ状の第1内部電極パターン221及びストライプ状の第2内部電極パターン222を横切るように切断することができる。すなわち、上記セラミックグリーンシート積層本体220は、互いに直交するC1-C1及びC2-C2切断線に沿って切断された積層本体210になることができる。
【0149】
より具体的には、ストライプ状の第1内部電極パターン221及びストライプ状の第2内部電極パターン222を長さ方向に切断することで、一定の幅を有する複数個の内部電極に分割することができる。この際、積層されたセラミックグリーンシートも内部電極パターンとともに切断する。これにより、内部電極の幅と同一の幅を有するように誘電体層が形成されることができる。
【0150】
また、C2-C2切断線に沿って、個別のセラミック本体のサイズに応じて切断することができる。すなわち、第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部を形成する前に、棒状の積層体をC2-C2切断線に沿って個別のセラミック本体のサイズに切断することで、複数個の積層本体210を形成することができる。
【0151】
すなわち、棒状の積層体を、重なった第1内部電極の中心部と第2内部電極の間に形成された所定の間隔とが同一の切断線に沿って切断されるように切断することができる。これにより、第1内部電極及び第2内部電極の一端は切断面に交互に露出することができる。
【0152】
その後、上記積層本体210の第1及び第2側面に第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部を形成することができる。
【0153】
次に、図7eに示されているように、上記積層本体210の第1側面に、第1サイドマージン部のうち第2領域212bを形成することができる。
【0154】
具体的には、第1サイドマージン部のうち第2領域212bを形成する方法として、側面用セラミックグリーンシートをゴム製の打抜き弾性材300の上部に配置する。
【0155】
次に、上記積層本体210の第1側面が上記側面用セラミックグリーンシートと向かい合うように、上記積層本体210を90度回転した後、上記積層本体210を上記側面用セラミックグリーンシートに加圧密着させる。
【0156】
上記積層本体210を上記側面用セラミックグリーンシートに加圧密着させて側面用セラミックグリーンシートを上記積層本体210に転写する場合、上記ゴム製の打抜き弾性材300により、上記側面用セラミックグリーンシートは上記積層本体210の側面の角部まで形成され、残りの部分は切断されることができる。
【0157】
これにより、図7fに示されているように、積層本体210の第1側面に第1サイドマージン部のうち第2領域212bを形成することができる。
【0158】
その後、上記積層本体210を回転することで、積層本体210の第2側面に第2サイドマージン部のうち第2領域を形成することができる。
【0159】
次に、図7gに示されているように、上記積層本体210の第1側面に、第1サイドマージン部のうち第1領域212aを形成することができる。
【0160】
上記積層本体210の第1側面に第1サイドマージン部のうち第1領域212aを形成する方法は、上述の積層本体210の第1側面に第1サイドマージン部のうち第2領域212bを形成する方法と同様である。
【0161】
次に、上記積層本体210の両側面に第1及び第2サイドマージン部が形成された積層本体をか焼及び焼成することで、誘電体層と第1及び第2内部電極を含むセラミック本体を形成することができる。
【0162】
その後、上記第1内部電極が露出したセラミック本体の第3側面と、上記第2内部電極が露出したセラミック本体の第4側面に、それぞれ外部電極を形成することができる。
【0163】
本発明の他の実施形態によると、側面用セラミックグリーンシートは薄く、厚さのばらつきが小さいため、容量形成部のサイズを大きく確保することができる。
【0164】
具体的には、焼成後における第1及び第2サイドマージン部112、113の平均厚さが2μm以上15μm以下であり、位置毎の厚さのばらつきが少ないため、容量形成部のサイズを大きく確保することができる。
【0165】
これにより、高容量の積層セラミックキャパシタが実現可能である。
【0166】
その他、上述の本発明の一実施形態での特徴と同一の部分についての説明は、重複を避けるためにここでは省略する。
【0167】
以下、実験例を挙げて本発明をより詳細に説明するが、これは発明の具体的な理解のためのものにすぎず、本発明の範囲が実験例によって限定されるものではない。
【0168】
実験例
本発明の一実施形態により、従来のサイドマージン部を形成する比較例と、誘電体グレインのサイズに差がある第1及び第2領域を含むサイドマージン部を形成する実施例をそれぞれ準備した。
【0169】
そして、幅方向に内部電極が露出し、マージンのないグリーンチップの電極露出部に、上記比較例と実施例のように側面用セラミックグリーンシートを付着してサイドマージン部を形成することができるように、セラミックグリーンシート積層本体を形成した。
【0170】
チップの変形を最小化する条件で一定の温度と圧力を加えながら、セラミックグリーンシート積層本体の両面に側面形成用セラミックグリーンシートを付着することで、0603サイズ(横x縦x高さ:0.6mmx0.3mmx0.3mm)の積層セラミックキャパシタグリーンチップを製作した。
【0171】
このように製作が完了した積層セラミックキャパシタ試験片を、400℃以下の窒素雰囲気下でか焼工程を経て、焼成温度1200℃以下、水素濃度0.5%H以下の条件で焼成した後、外観不良、絶縁抵抗、及び耐湿特性などの電気的特性を総合的に確認した。
【0172】
図8は本発明の実施例と比較例による耐湿信頼性テスト結果を比較したグラフである。
【0173】
図8において、図8(a)は比較例であり、従来の積層セラミックキャパシタ構造を有し、サイドマージン部に含まれるポアの個数に差がない場合であり、図8(b)は実施例であり、第1及び第2サイドマージン部112、113において、第2領域112b、113b内の単位面積当たりのポアの個数が、第1領域112a、113a内の単位面積当たりのポアの個数より少ない場合である。
【0174】
比較例は、耐湿信頼性に問題があり、実施例は、耐湿信頼性に優れていることが分かる。
【0175】
本発明は、上述の実施形態及び添付図面によって限定されず、添付の特許請求の範囲によって限定される。したがって、特許請求の範囲に記載された本発明の技術的思想から外れない範囲内で、当技術分野の通常の知識を有する者によって多様な形態の置換、変形、及び変更が可能であり、これも本発明の範囲に属するといえる。
【符号の説明】
【0176】
110 セラミック本体
111 誘電体層
112 第1サイドマージン部
113 第2サイドマージン部
121 第1内部電極
122 第2内部電極
131 第1外部電極
132 第2外部電極
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7a
図7b
図7c
図7d
図7e
図7f
図7g
図8