特許7586794IP Force 特許公報全文掲載

ホーム > 特許ランキング > 住友重機械工業株式会社 > 特許7586794

技術分野

シミュレーション方法、シミュレーション装置、及びプログラム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

構造体の変形及び応力の解析手法として、粒子法が用いられる場合がある。例えば、複数の部材が相互に離れた状態から接触する状態に変位するような場合、または複数の部材が相互に接触して力を及ぼしあっている状態等の解析には、有限要素法より粒子法の方が破綻なく計算できる場合が多い。適用される粒子法として、例えばＭＰＳ法（Moving Particle Semi-implicit）、ＳＰＨ法（Smoothed Particle Hydrodynamics）、ＲＭＤ法（Renormalization Molecular Dynamics）等が挙げられる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一観点によると、 解析対象物の解析条件が入力される入力部と、 前記入力部に入力された解析条件に基づいて、解析対象物の解析を行う処理部と、 前記処理部の解析結果を出力する出力部と を備え 前記処理部は、 前記入力部に入力された解析モデルを第１メッシュで分割し、有限要素法または粒子法を用いて解析を行い、 前記解析モデルの一部の領域をズーミング領域として選択し、前記・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

第１メッシュを用いて解析して得られた変位に基づいて、第２メッシュの節点に配置した粒子を変位させた後、ズーミング領域内の応力を求める前に、ズーミング領域において、境界条件の下で粒子法を用いて粒子を変位させることにより、不規則なムラの無い応力分布を求めることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１Ａ及び図１Ｂは、シミュレーションによって変形及び応力の解析を行う対象物の一例を示す斜視図である。
【図2】 図２は、実施例によるシミュレーション方法の手順を示すフローチャートである。
【図3】 図３Ａ及び図３Ｂは、それぞれ第１部材及び第２部材を第１メッシュで分割した状態を示す斜視図であり、図３Ｃは、第２部材を第１部材内に挿入した状態の第１メッシュを示す斜視図である。
【図4】 図４Ａは、初期状態の解析モデルの第１メッシュの平面図であり、図４Ｂは、つり合い状態における解析モデルの第１メッシュの平面図である。
【図5】 図５Ａは、ステップＳ０３を実行する前の初期状態における複数の第１粒子及び１つの第２粒子の相対位置関係を示す模式図であり、図５Ｂは、ステップＳ０３を実行して第１粒子を変位させた後の状態における複数の第１粒子及び１つの第２粒子の相対位置関係を示す模式図である。
【図6】 図６Ａは、変位前の第１粒子及び第２粒子の位置関係を示す模式図であり、図６Ｂは、変位後の第１粒子及び第２粒子の位置関係を示す模式図である。
【図7】 図７は、変位後の第２粒子のうち、ズーミング領域（第１部材）の表面に位置するものを示す模式図である。
【図8】 図８は、ズーミング領域、ポリゴン壁、及び第２粒子の相対位置関係を示す模式図である。
【図9】 図９Ａ及び図９Ｂは、それぞれステップＳ０３において求めた第１粒子の変位量に基づいて計算した応力、及びステップＳ１２において第２粒子の変位量に基づいて計算した応力の分布を、色の濃淡で表す図である。
【図10】 図１０Ａは、ステップＳ０３において求めた第１粒子の変位量に基づいて計算した応力の分布を、色の濃淡で表す図であり、図１０Ｂは、ステップＳ０６で変位させた第２粒子の位置に基づいて計算した応力の分布を、色の濃淡で表す図である。
【図11】 図１１は、本実施例によるシミュレーション装置のブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

２１ 第１部材 ２２ 溝 ３１ 第２部材 ３２ 凸部 ４１ 第１粒子 ４２ 第２粒子 ４２Ａ ポリゴン壁から飛び出した第２粒子 ４３ ポリゴン要素 ４４ ポリゴン壁 ５０ 入力部 ５１ 処理部 ５２ 出力部 ５３ 記憶部

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

［広告欄］

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります

Copyright © Science Impact Inc. All Rights Reserved.