特許7589986超伝導磁気センサを用いた検査装置及び検査方法。

発明の名称　超伝導磁気センサを用いた検査装置及び検査方法。

出願人　国立大学法人豊橋技術科学大学　（識別番号 304027349）

　　　　特許公開件数ランキング 1908 位（16件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 1676 位（24件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7589986

公報発行日　2024年11月26

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7589986

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