特許 7590514 動作検証制御装置、動作検証制御方法、及び、動作検証制御プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B1)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-11-18

(45)【発行日】2024-11-26

(54)【発明の名称】動作検証制御装置、動作検証制御方法、及び、動作検証制御プログラム

(51)【国際特許分類】

   G06F 11/36 20060101AFI20241119BHJP

【ＦＩ】

G06F11/36 196

【請求項の数】 10

(21)【出願番号】P 2023135205

(22)【出願日】2023-08-23

【審査請求日】2023-08-23

(73)【特許権者】

【識別番号】000227205

【氏名又は名称】ＮＥＣプラットフォームズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100109313

【弁理士】

【氏名又は名称】机 昌彦

(74)【代理人】

【識別番号】100149618

【弁理士】

【氏名又は名称】北嶋 啓至

(72)【発明者】

【氏名】狩野 雄慈

【審査官】円子 英紀

(56)【参考文献】

【文献】特開昭５９－２００３５３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０１－２９５１８６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１０－２８６３３４（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０６Ｆ １１／３６

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

時間の経過に応じた数を計数する計数手段と、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加手段と、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択手段と、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力手段と、
を備える動作検証制御装置。

【請求項2】

外部より入力された前記選択条件を受け付ける受付手段をさらに備える、
請求項１に記載の動作検証制御装置。

【請求項3】

前記入力データ及び前記出力データの各々のデータ数を計測する計測手段をさらに備え、
前記出力手段は、前記データ数の計測結果を前記解析手段に出力する、
請求項１または請求項２に記載の動作検証制御装置。

【請求項4】

前記動作検証の対象部分におけるデータの信号経路は複数用意され、
前記選択手段は、複数用意された前記信号経路のそれぞれに応じた前記選択条件に従って前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する、
請求項１または請求項２に記載の動作検証制御装置。

【請求項5】

前記解析手段による前記動作検証の対象部分の動作の解析結果が再起動条件を満たす場合、前記動作検証の対象部分の動作を停止させ、前記再起動条件及び前記選択条件を含む動作検証条件を変更したのち前記動作検証の対象部分を再起動する、再起動制御手段をさらに備える、
請求項１または請求項２に記載の動作検証制御装置。

【請求項6】

前記再起動条件は、前記解析結果が所定の期間正常動作を継続したことを示すこと、及び、前記解析結果が異常動作の発生を示すことの少なくともいずれかを含む、
請求項５に記載の動作検証制御装置。

【請求項7】

前記選択手段は、前記動作検証の対象部分が再起動されてから所定の期間経過後に、前記入力データ及び前記出力データの選択を開始する、
請求項５に記載の動作検証制御装置。

【請求項8】

複数の論理機能が直列に接続された前記動作検証の対象部分に対して、前記入力データを入力する入力手段をさらに備え、
前記入力手段は、複数の前記論理機能の個々と機能が対向し、前記動作検証の対象部分とは逆の順番で直列に接続された複数の対向論理機能を備え、
前記付加手段は、前記対向論理機能の個々の出力である前記入力データ、及び、前記対向論理機能の個々の出力である前記出力データに対して、前記数データを付加する、
請求項１または請求項２に記載の動作検証制御装置。

【請求項9】

情報処理装置によって、
時間の経過に応じた数を計数し、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記出力データに付加し、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択し、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する、
動作検証制御方法。

【請求項10】

時間の経過に応じた数を計数する計数処理と、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加処理と、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択処理と、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力処理と、
をコンピュータに実行させるための動作検証制御プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、動作検証制御装置、動作検証制御方法、及び、動作検証制御プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

半導体の集積度が年々上昇することに伴い、このような半導体を用いた論理回路の動作検証の内容がより複雑化、煩雑化することによって、動作不良の発生箇所の特定が困難になっている。したがって、論理回路の動作検証において、動作不良の発生箇所をより適切に特定するための技術が期待されている。

【0003】

上述した技術に関連して、特許文献１には、スキャン設計された論理回路と、メモリとを少なくとも備える半導体装置の検査装置が開示されている。この検査装置は、スキャン設計された論理回路に印加するスキャンイン信号と、メモリに印加するメモリテスト信号と、外部テストモード制御信号を当該半導体装置に入力する。この検査装置は、スキャンイン信号とスキャン設計された論理回路のスキャンアウト信号を比較判定するスキャン判定手段と、メモリテスト信号とメモリの出力信号を比較判定するメモリ判定手段と、テストモード制御信号によってスキャン判定手段と、メモリ判定手段を制御するテストモード制御手段とを備える。そしてこの検査装置は、メモリ判定手段及びスキャン判定手段の出力側から、各別にメモリ判定信号およびスキャン判定信号を取り出す。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２００３－２１８１７９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

論理回路を有する装置では、通常、長時間その装置を稼働させて動作に不具合が無いかを確認するエージング試験等が行われる。このようなエージング試験等では、動作検証の試験を長時間実施することにより顕在化する不良箇所の存在を、効率的に高い精度で検出することが求められる。即ち、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することが課題である。上述した特許文献１は、このような課題を解決するのに、まだ十分であるとは言えない。

【0006】

本発明の主たる目的は、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一態様に係る動作検証制御装置は、時間の経過に応じた数を計数する計数手段と、動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加手段と、前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択手段と、選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力手段と、を備える。

【0008】

上記目的を達成する他の見地において、本発明の一態様に係る動作検証制御方法は、情報処理装置によって、時間の経過に応じた数を計数し、動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記出力データに付加し、前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択し、選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する。

【0009】

また、上記目的を達成する更なる見地において、本発明の一態様に係る動作検証制御プログラムは、時間の経過に応じた数を計数する計数処理と、動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加処理と、前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択処理と、選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力処理と、をコンピュータに実行させる。

【0010】

更に、本発明は、係る動作検証制御プログラム（コンピュータプログラム）が格納された、コンピュータ読み取り可能な、不揮発性の記録媒体によっても実現可能である。

【発明の効果】

【0011】

本発明は、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】本開示に係る動作検証システム１の構成を示すブロック図である。

【図2】本開示に係る動作検証制御装置１０の入力部１７及び動作検証対象回路２０の詳細な構成を示すブロック図である。

【図3】本開示に係る動作検証制御装置１０が、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データに付加するタイマ１１のカウント値と、それらのデータの値の一例をタイムチャートにより表した図である。

【図4A】本開示に係る動作検証システム１の動作を示すフローチャート（１／２）である。

【図4B】本開示に係る動作検証システム１の動作を示すフローチャート（２／２）である。

【図5】本開示に係る動作検証制御装置４０の構成を示すブロック図である。

【図6】本開示に係る動作検証制御装置４０の動作を示すフローチャートである。

【図7】本開示に係る動作検証制御装置を実現可能な情報処理装置９００の構成を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。

【0014】

＜第１の実施形態＞
図１は、本開示に係る動作検証システム１の構成を示すブロック図である。動作検証システム１は、大別して、動作検証制御装置１０、動作検証対象回路２０（動作検証の対象部分の一例）、管理端末３０を含む。動作検証制御装置１０は、半導体等を含む論理回路である動作検証対象回路２０の動作検証（例えばエージング試験等を含む）の実行を制御する、例えばサーバ等の情報処理装置である。動作検証制御装置１０及び動作検証対象回路２０は、同一の動作クロックの信号により同期して動作する。

【0015】

管理端末３０は、動作検証制御装置１０の利用者が使用する、例えばパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン等の情報処理装置である。管理端末３０は、利用者による入力操作を受け付け、利用者によって入力された情報を動作検証制御装置１０に対して入力する。管理端末３０は、具備する表示画面（不図示）に、動作検証制御装置１０から出力された情報を表示する。

【0016】

動作検証制御装置１０は、タイマ１１、付加部１２、選択部１３、出力部１４、計測部１５、再起動制御部１６、入力部１７、受付部１８、記憶部１９、動作検証データ生成部１００、第１解析部１０１、第２解析部１０２を備える。タイマ１１、付加部１２、選択部１３、出力部１４、計測部１５、再起動制御部１６、入力部１７、受付部１８は、順に、計数手段、付加手段、選択手段、出力手段、計測手段、再起動手段、入力手段、受付手段の一例である。

【0017】

記憶部１９は、例えば、図７を参照して後述するＲＡＭ（Random Access Memory）９０３あるいはハードディスク９０４のような記憶デバイスである。記憶部１９の少なくとも一部は、動作検証制御装置１０と通信可能な１以上の外部の装置に備えられてもよい。記憶部１９は、後述する動作検証条件１９０を記憶している。

【0018】

また、本開示に係る動作検証制御装置１０は、後述する第１解析部１０１及び第２解析部１０２を含んでいるが、第１解析部１０１（解析手段の一例）及び第２解析部１０２は、動作検証制御装置１０と通信可能に接続された外部の装置に含まれてもよい。

【0019】

受付部１８は、利用者による管理端末３０に対する入力操作を介して入力された動作検証条件１９０を受け付け、受け付けた動作検証条件１９０を記憶部１９に格納する。動作検証条件１９０は、例えば、動作検証制御装置１０による動作検証対象回路２０に対する動作検証の実行を制御する（動作検証の実行環境を表す）パラメータを含む。尚、受付部１８は、動作検証制御装置１０と通信可能な図示しない外部の装置から、動作検証条件１９０を受け付けてもよい。

【0020】

タイマ１１は、時間の経過に応じた数を計数する機能を備え、例えば、動作検証制御装置１０が起動したときに、時間の経過を計数する動作を開始する。タイマ１１は、例えば、年、月、日、時、分、秒（ミリ～ナノ秒までの粒度を含む）により表される経過時間を計数してもよい。タイマ１１は、例えば、動作検証制御装置１０の動作クロックと同期して、１ずつカウントアップした値を経過時間として出力してもよい。

【0021】

動作検証データ生成部１００は、動作検証条件１９０に基づいて、動作検証対象回路２０に入力される入力データを生成する。尚、動作検証条件１９０は、例えば、動作検証対象回路２０の動作を可能な限り網羅的に検証するための入力データのパターンを生成するアルゴリズム等を含んでもよい。当該アルゴリズムとしては、例えば、エージング試験などにおいて用いられる既存の技術を適用可能である。動作検証データ生成部１００は、生成した入力データを入力部１７に入力する。

【0022】

図２は、本開示に係る動作検証制御装置１０の入力部１７及び動作検証対象回路２０の詳細な構成を示すブロック図である。以下、図２を参照して、入力部１７及び動作検証対象回路２０の構成について説明する。

【0023】

入力部１７は、それぞれ所定の論理演算を行う論理回路である、機能ａ１７１、機能ｂ１７２、機能ｃ１７３を含む。入力部１７において、機能ａ１７１、機能ｂ１７２、機能ｃ１７３は、直列に接続されている。動作検証データ生成部１００から入力部１７に入力された入力データは、機能ｃ１７３、機能ｂ１７２、機能ａ１７１の順に直列に接続された論理回路を経由して、機能ａ１７１から動作検証対象回路２０に入力される。尚、入力部１７に関して、不良箇所が存在せず、正常に動作することは事前に確認されていることとする。

【0024】

動作検証対象回路２０は、それぞれ所定の論理演算を行う論理回路である、機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３を含む。動作検証対象回路２０において、機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３は、直列に接続されている。

【0025】

入力部１７と動作検証対象回路２０とは、論理的に対向する関係にあり、より詳細には、上述した機能Ａ２１と機能ａ１７１とは論理的に対向し、機能Ｂ２２と機能ｂ１７２とは論理的に対向し、機能Ｃ２３と機能ｃ１７３とは論理的に対向することとする。尚、本開示では、例えば、値ｘが入力されたときに値ｙを出力する機能と、値ｙが入力されたときに値ｘを出力する機能とに関して、これらの機能が互いに論理的に対向すると称する。互いに論理的に対向する機能としては、より具体的には例えば、入力された値に対してある値を加算する機能と減算する機能、あるいは、入力された値に対してある値を乗算する機能と除算する機能などがある。

【0026】

機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３は、それぞれ、第１入力と第1出力、及び、第２入力と第２出力とを含む。機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３は、第１入力から入力されたデータを第１出力へ出力する場合は、それぞれ、機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３として動作する。機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３は、一方で、第２入力から入力されたデータを第２出力へ出力する場合は、それぞれ、機能ａ１７１、機能ｂ１７２、機能ｃ１７３と同等の機能として動作する。即ち、機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３において、第１入力から入力されたデータを第１出力へ出力する機能と、第２入力から入力されたデータを第２出力へ出力する機能とは、互いに論理的に対向する関係にある。

【0027】

動作検証対象回路２０は、また、選択回路２４及び２５を備える。選択回路２４は、機能Ａ２１の第１出力から出力されたデータと、機能Ｂ２２の第２出力から出力されたデータとのいずれかを選択して、その選択結果を機能Ａ２１の第２入力へ入力する。選択回路２５は、機能Ｂ２２の第１出力から出力されたデータと、機能Ｃ２３の第２出力から出力されたデータとのいずれかを選択して、その選択結果を機能Ｂ２２の第２入力に入力する。尚、上述した選択回路２４及び２５の選択動作は、動作検証条件１９０に含まれる、動作検証対象回路２０におけるデータの処理に関する複数の信号経路のいずれかを選択することを表す情報によって決定される。

【0028】

ここで、機能Ａ２１は、第１入力に値ｘを入力された場合に第１出力から値ｙを出力し、機能Ｂ２２は、第１入力に値ｙを入力された場合に第１出力から値ｚを出力し、機能Ｃ２３は、第１入力に値ｚを入力された場合に第１出力から値ｗを出力することとする。この場合、機能Ａ２１は、第２入力に値ｙを入力された場合に第２出力から値ｘを出力し、機能Ｂ２２は、第２入力に値ｚを入力された場合に第２出力から値ｙを出力し、機能Ｃ２３は、第２入力に値ｗを入力された場合に第２出力から値ｚを出力する。同様に、機能ａ１７１は、値ｙを入力された場合に値ｘを出力し、機能ｂ１７２は、値ｚを入力された場合に値ｙを出力し、機能ｃ１７３は、値ｗを入力された場合に値ｚを出力する。

【0029】

そして、動作検証データ生成部１００からの入力データとして、値ｗが入力部１７に入力された場合、値ｗが入力された機能ｃ１７３は値ｚを機能ｂ１７２に出力し、値ｚが入力された機能ｂ１７２は値ｙを機能ａ１７１へ出力し、値ｙが入力された機能ａ１７１は値ｘを動作検証対象回路２０における機能Ａ２１の第１入力へ出力する。入力部１７は、動作検証データ生成部１００から機能ｃ１７３へ入力されたデータ、機能ｃ１７３から出力されたデータ、機能ｂ１７２から出力されたデータ、機能ａ１７１から出力されたデータを、動作検証対象回路２０に対する入力データとして、付加部１２へ出力する。

【0030】

上述の場合において、入力部１７における機能ａ１７１から値ｘが第１入力に入力された機能Ａ２１は、値ｙを第１出力から機能Ｂ２２の第１入力及び選択回路２４へ出力する。値ｙが第１入力に入力された機能Ｂ２２は、値ｚを第１出力から機能Ｃ２３の第１入力及び選択回路２５へ出力する。値ｚが第１入力に入力された機能Ｃ２３は、値ｗを第１出力から第２解析部１０２へ出力する。

【0031】

動作検証対象回路２０における機能Ｃ２３の第１出力から値ｗが入力された第２解析部１０２は、入力された値ｗを折り返して、機能Ｃ２３の第２入力へ出力し、値ｗが第２入力に入力された機能Ｃ２３は、値ｚを第２出力から選択回路２５へ出力する。選択回路２５は、機能Ｂ２２の第１出力から入力された値ｚと機能Ｃ２３の第２出力から入力された値ｚとのいずれかを選択して、選択した方の値ｚを機能Ｂ２２の第２入力へ出力する。値ｚが第２入力に入力された機能Ｂ２２は、値ｙを第２出力から選択回路２４へ出力する。選択回路２４は、機能Ａ２１の第１出力から入力された値ｙと機能Ｂ２２の第２出力から入力された値ｙとのいずれかを選択して、選択した方の値ｙを機能Ａ２１の第２入力へ出力する。値ｙが第２入力に入力された機能Ａ２１は、値ｘを第２出力から出力する。動作検証対象回路２０は、機能Ａ２１の第２出力から出力されたデータ、選択回路２４から出力されたデータ、選択回路２５から出力されたデータ、第２解析部１０２から機能Ｃ２３の第２入力に入力されたデータ、機能Ｃ２３の第１出力から第２解析部１０２に入力されたデータを、動作検証対象回路２０からの出力データとして、付加部１２へ出力する。

【0032】

付加部１２は、上述の通りに入力部１７から入力された、動作検証対象回路２０に対する入力データ、及び、上述の通りに動作検証対象回路２０から入力された、動作検証対象回路２０からの出力データに対して、タイマ１１により計数された時間（タイマ１１のカウント値）を、タイムスタンプとして付加する。尚、タイマ１１により計数された時間は数データの一例である。

【0033】

図３は、本開示に係る動作検証制御装置１０の付加部１２が、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データに付加するタイマ１１のカウント値（タイムスタンプ）と、それらのデータの値の一例をタイムチャートにより表した図である。

【0034】

図３に示す例では、図２に例示する入力部１７及び動作検証対象回路２０において、機能Ａ２１、機能Ｂ２２、機能Ｃ２３、機能ａ１７１、機能ｂ１７２、機能ｃ１７３の個々において、入力されたデータを処理して出力するまでに要する時間を、動作クロックの１サイクル分とする。また、第２解析部１０２において、機能Ｃ２３の第１出力から入力されたデータを機能Ｃ２３の第２入力に折り返して出力するまでに要する時間も同様に、動作クロックの１サイクル分とする。尚、各機能における入力されたデータを処理して出力するまでに要する時間は、動作クロックの１サイクル分に限定されず、例えば２サイクル分以上の時間を要する場合もある。タイマ１１は、動作クロックの１サイクルごとに、そのカウント値を、「０００１」、「０００２」というように１ずつカウントアップすることとする。また、動作検証条件１９０に従い、選択回路２４は機能Ａ２１の第１出力を選択して出力し、選択回路２５は機能Ｂ２２の第１出力を選択して出力することとする。

【0035】

図３に例示する場合において、動作検証データ生成部１００から入力部１７の機能ｃ１７３に値ｗのデータが入力されたときのタイマ１１のカウント値を「０００１」とする。この場合、付加部１２は、機能ｃ１７３に入力された値ｗのデータに、タイマ１１のカウント値「０００１」を付加する。尚、本開示では、値がｗであり、タイマ１１のカウント値として「０００１」が付加されたデータを、図３に例示する通り、ｗ（０００１）と記載することとする。

【0036】

機能ｃ１７３は、上述の通りに入力された値ｗのデータを、動作クロックの次の１サイクルにおいて処理し、値ｚのデータを出力する。この際、付加部１２は、機能ｃ１７３から出力された値ｚのデータに、タイマ１１のカウント値「０００２」を付加する（即ちｚ（０００２））。

【0037】

機能ｃ１７３から出力された値ｚのデータは、その後、時間の経過とともに、入力部１７及び動作検証対象回路２０において処理される。付加部１２は、時間の経過とともに処理された当該データに対して、図３に例示する通りタイマ１１のカウント値を付加することによって、ｙ（０００３）、ｘ（０００４）、ｙ（０００５）、ｚ（０００６）、ｗ（０００７）、ｗ（０００８）、ｘ（０００６）というデータを生成する。

【0038】

尚、動作検証条件１９０が上述の場合とは異なり、選択回路２４が機能Ｂ２２の第２出力を選択して出力し、選択回路２５が機能Ｃ２３の第２出力を選択して出力することを示す場合、動作検証対象回路２０からの出力データの部分に関して、図３とは異なるタイムチャートとなる。

【0039】

付加部１２は、上述の通りにタイマ１１のカウント値を付加した、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データを、選択部１３及び計測部１５へ出力する。

【0040】

選択部１３は、付加部１２から入力された動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データに関して、付加されたタイマ１１のカウント値が動作検証条件１９０に含まれる選択条件を満たす、入力データと出力データとの組み合わせを選択する。

【0041】

例えば図３に示す例の場合、動作検証対象回路２０が正常に動作するのであれば、機能ｃ１７３へ入力されるデータであるｗ（０００１）と、機能Ｃ２３の第１出力から出力されるデータであるｗ（０００７）と、機能Ｃ２３への第２入力へ入力されるデータであるｗ（０００８）とは、値が等しくなることが期待される。したがって、この場合、第１解析部１０１は、タイマ１１のカウント値が０００１である機能ｃ１７３へ入力されるデータと、タイマ１１のカウント値が０００７である機能Ｃ２３の第１出力から出力されるデータと、タイマ１１のカウント値が０００８である機能Ｃ２３の第２入力に入力されるデータとに関して、値が等しいか否かを確認すればよい。そしてこの場合、動作検証条件１９０に含まれる選択条件は、タイマ１１のカウント値が０００１である機能ｃ１７３へ入力されるデータと、タイマ１１のカウント値が０００７である機能Ｃ２３の第１出力から出力されるデータと、タイマ１１のカウント値が０００８である機能Ｃ２３の第２入力に入力されるデータとの組み合わせを選択することを表せばよい。

【0042】

同様に、動作検証対象回路２０が正常に動作するのであれば、機能ｃ１７３から出力されるデータであるｚ（０００２）と、選択回路２５から出力されるデータであるｚ（０００６）とは、値が等しくなることが期待される。したがってこの場合、動作検証条件１９０に含まれる選択条件は、タイマ１１のカウント値が０００２である機能ｃ１７３から出力されるデータと、選択回路２５から出力されるデータとの組み合わせを選択することを表せばよい。

【0043】

このように、動作検証条件１９０に含まれる選択条件は、値が等しくなるデータとして対応付けられる、例えば、タイマ１１のカウント値が０００１である動作検証対象回路２０への入力データと、タイマ１１のカウント値が０００７及び０００８である動作検証対象回路２０からの出力データとの組み合わせを選択することを表している。

【0044】

選択部１３は、上述の通り選択した動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータと、動作検証対象回路２０からの出力データとを出力部１４に出力する。尚、選択部１３は、タイマ１１のカウント値が異なる（即ち、生成されるタイミングが異なる）データを選択して出力できるように、付加部１２から入力されたデータを保持可能なバッファを備えてもよい。

【0045】

尚、動作検証条件１９０が図３に例示する場合とは異なり、選択回路２４が機能Ｂ２２の第２出力を選択して出力し、選択回路２５が機能Ｃ２３の第２出力を選択して出力することを示す場合、動作検証条件１９０に含まれる選択条件も、図３に例示する場合とは異なる。

【0046】

計測部１５は、例えば所定の期間において、付加部１２から入力された、動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータの数と、動作検証対象回路２０からの出力データに含まれるデータの数とを計測し、その計測結果を出力部１４に出力する。計測部１５は、例えば、選択回路２４から出力されるデータ、選択回路２５から出力されるデータ、機能Ｃ２３の第１出力から出力されるデータ、機能Ｃ２３の第２入力へ入力されるデータ、機能Ａ２１の第２出力から出力されるデータの個々に関して、データ数を計測してもよい。例えば、動作検証対象回路２０に不良箇所が存在することによって、あるデータの消失が発生した場合、計測された動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータの数と、動作検証対象回路２０からの出力データに含まれるデータの数との関係が不正になるので、第１解析部１０１において、動作検証対象回路２０における不良箇所の存在が検出される。また、計測部１５は、選択回路２４及び２５に関する複数の設定に関して、上述したデータ数を計測する。これにより、動作検証対象回路２０におけるデータの処理に関する複数の経路に関して、データの消失に関わる不良箇所の存在が検出される。

【0047】

出力部１４は、選択部１３から入力された、選択された動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータと、動作検証対象回路２０からの出力データに含まれるデータとを、第１解析部１０１に出力する。出力部１４は、また、計測部１５から入力された、動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータの数と、動作検証対象回路２０からの出力データに含まれるデータの数とに関する計測結果を、第１解析部１０１に出力する。

【0048】

第１解析部１０１は、上述の通りに出力部１４から入力された情報に基づいて、動作検証対象回路２０における不良箇所に関する解析を行う。第１解析部１０１は、例えば、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データに含まれる、値が等しくなることが期待されるデータに関して値が一致しない場合、動作検証対象回路２０における不良箇所の存在を検出する。第１解析部１０１は、また、動作検証対象回路２０への入力データに含まれるデータの数と、動作検証対象回路２０からの出力データに含まれるデータの数との関係が不正である場合、動作検証対象回路２０における不良箇所の存在を検出する。

【0049】

第１解析部１０１は、上述の通りに動作検証対象回路２０における不良箇所に関して解析した結果を、再起動制御部１６、及び、管理端末３０に出力する。

【0050】

第２解析部１０２は、入力部１７における機能ａ１７１から出力された動作検証対象回路２０に対する入力データと、動作検証対象回路２０における機能Ｃの第１出力から出力された出力データとに関して、動作検証対象回路２０における不良箇所の存在を検出する。第２解析部１０２は、上述の通りに動作検証対象回路２０における不良箇所に関して解析した結果を、管理端末３０に出力する。

【0051】

再起動制御部１６は、第１解析部１０１による動作検証対象回路２０の動作の解析結果が動作検証条件１９０に含まれる再起動条件を満たす場合、動作検証データ生成部１００による動作検証データの生成動作を停止させる。そして、再起動制御部１６は、入力部１７及び動作検証対象回路２０の動作を停止させる。その後、再起動制御部１６は、動作検証条件１９０に従い、動作検証データ生成部１００による動作検証データの生成条件、選択回路２４及び２５の設定により変更される動作検証対象回路２０の検証経路、選択部１３における選択条件、再起動制御部１６における再起動条件に関するパラメータを変更する。そして、再起動制御部１６は、一時停止の状態にある、動作検証データ生成部１００、入力部１７、及び動作検証対象回路２０を再起動（リセット）する。

【0052】

動作検証条件１９０に含まれる再起動条件は、例えば、第１解析部１０１による解析結果が、動作検証対象回路２０が所定の期間、あるいは所定の回数、正常動作を継続したことを表す。動作検証対象回路２０が、動作検証条件１９０が示すある動作環境において所定の期間正常動作を継続した場合、当該動作環境においては不良箇所が存在しないと推定される。したがって、この場合、動作検証対象回路２０の動作検証をより網羅的に行うために、動作検証条件１９０が示す別の動作環境に変更して、動作検証対象回路２０の動作検証を行うことが望ましい。

【0053】

動作検証条件１９０に含まれる再起動条件は、例えば、第１解析部１０１による解析結果が、動作検証対象回路２０において異常動作が発生したことを表す。例えば、異常動作の発生により、動作検証対象回路２０がデッドロックの状態になった場合、動作検証対象回路２０の動作検証を継続することが困難になる。したがって、この場合、動作検証対象回路２０の動作検証を継続するために、動作検証対象回路２０を再起動して動作検証を再開することが望ましい。

【0054】

再起動制御部１６は、また、第１解析部１０１による解析結果が、動作検証条件１９０に含まれる検証動作終了条件を満たす場合、動作検証データ生成部１００、入力部１７、及び動作検証対象回路２０の動作を停止し、動作検証制御装置１０による検証動作を完了させる。検証動作終了条件は、例えば、動作検証条件１９０に含まれる全ての動作環境に関して、動作検証対象回路２０の動作検証が完了したことを表す。

【0055】

再起動制御部１６は、また、受付部１８が、利用者による管理端末３０に対する入力操作によって入力された、動作検証制御装置１０による検証動作を完了することを指示する情報を受け付けた場合、動作検証制御装置１０による検証動作を完了させる。

【0056】

また、再起動制御部１６によって、動作検証データ生成部１００、入力部１７、及び動作検証対象回路２０を再起動した場合、これらの各構成要素の動作が安定するまで所定の期間を要する場合がある。したがって、再起動が行われてから所定の期間においては、疑似の不良箇所が検出される可能性がある。したがって、このような疑似の不良箇所を検出しないように、例えば、動作検証条件１９０に含まれる選択条件は、動作検証対象回路２０が再起動されてから所定の期間の後に、選択部１３による動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データを選択することを開始することを表してもよい。

【0057】

次に図４Ａ及び４Ｂのフローチャートを参照して、本開示に係る動作検証システム１の動作（処理）について詳細に説明する。

【0058】

動作検証制御装置１０及び動作検証対象回路２０が起動する（ステップＳ１０１）。タイマ１１は、カウント動作を開始する（ステップＳ１０２）。受付部１８は、管理端末３０から動作検証条件１９０を受け付け、受け付けた動作検証条件１９０を記憶部１９に格納する（ステップＳ１０３）。

【0059】

再起動制御部１６は、動作検証条件１９０に従い、動作検証データ生成部１００による動作検証データの生成条件、動作検証対象回路２０の検証経路（選択回路２４及び２５の選択設定）、選択部１３における選択条件、再起動制御部１６における再起動条件を初期設定あるいは変更する（ステップＳ１０４）。動作検証データ生成部１００は、動作検証条件１９０が示す動作検証データの生成条件にしたがって動作検証データを生成し、生成した動作検証データを入力部１７に入力する（ステップＳ１０５）。入力部１７は、動作検証データ生成部１００から入力された動作検証データを、動作検証対象回路２０に入力する（ステップＳ１０６）。

【0060】

付加部１２は、入力部１７における、機能ｃ１７３への入力、機能ｃ１７３からの出力、機能ｂ１７２からの出力、機能ａ１７１からの出力を含む、動作検証対象回路２０への入力データに、タイマ１１のカウント値を付加し、その入力データを選択部１３及び計測部１５へ入力する（ステップＳ１０７）。付加部１２は、動作検証対象回路２０における、機能Ａ２１からの第２出力、選択回路２４の出力、選択回路２５の出力、機能Ｃ２３からの第１出力、機能Ｃ２３への第２入力を含む、動作検証対象回路２０からの出力データに、タイマ１１のカウント値を付加し、その出力データを選択部１３及び計測部１５へ入力する（ステップＳ１０８）。

【0061】

選択部１３は、付加されたカウント値が、設定された動作検証条件１９０に含まれる選択条件を満たす、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データを選択し、選択した入力データ及び出力データを、出力部１４を介して第１解析部１０１へ入力する（ステップＳ１０９）。計測部１５は、カウント値が付加された動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データのデータ数を計測し、その計測結果を、出力部１４を介して第１解析部１０１へ入力する（ステップＳ１１０）。

【0062】

第１解析部１０１は、出力部１４から入力された、選択部１３により選択された入力データ及び出力データ、及び計測部１５により計測された入力データ及び出力データのデータ数を解析し、その解析結果を再起動制御部１６へ通知する（ステップＳ１１１）。

【0063】

第１解析部１０１による解析結果が、動作検証条件１９０に含まれる検証動作終了条件を満たす場合（ステップＳ１１３でＹｅｓ）、全体の処理は終了する。第１解析部１０１による解析結果が、動作検証条件１９０に含まれる検証動作終了条件を満たさない場合（ステップＳ１１３でＮｏ）、再起動制御部１６は、第１解析部１０１から通知された解析結果が動作検証条件１９０に含まれる再起動条件を満たすか否かを判定する（ステップＳ１１４）。

【0064】

第１解析部１０１から通知された解析結果が再起動条件を満たさない場合（ステップＳ１１５でＮｏ）、処理はステップＳ１０５へ戻る。第１解析部１０１から通知された解析結果が再起動条件を満たす場合（ステップＳ１１５でＹｅｓ）、再起動制御部１６は、動作検証データ生成部１００による動作検証データの生成を停止し、入力部１７及び動作検証対象回路２０の動作を停止し（ステップＳ１１６）、処理はステップＳ１０４へ戻る。

【0065】

本開示に係る動作検証制御装置１０は、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。その理由は、動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０に対する入力データ、及び、動作検証対象回路２０からの出力データに、タイマ１１によるカウント値を付加し、そのカウント値が所定の選択条件を満たす入力データと出力データとの組み合わせを選択して第１解析部１０１に出力するからである。

【0066】

以下に、本開示に係る動作検証制御装置１０によって実現される効果について、詳細に説明する。

【0067】

論理回路を有する装置では、通常、長時間その装置を稼働させて動作に不具合が無いかを確認するエージング試験等が行われる。このようなエージング試験等では、動作検証の試験を長時間実施することにより顕在化する不良箇所の存在を、効率的に高い精度で検出することが求められる。即ち、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することが課題である。

【0068】

このような課題に対して、本開示に係る動作検証制御装置１０は、時間の経過に応じた数を計数する。動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０に入力データが入力されるタイミングにおいて、タイマ１１によるカウント値を当該入力データに付加する。動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０から出力データが出力されたタイミングにおいて、タイマ１１によるカウント値を当該出力データに付加する。動作検証制御装置１０は、付加されたカウント値が所定の動作検証条件１９０に含まれる選択条件を満たす入力データ及び出力データの組み合わせを選択する。そして、動作検証制御装置１０は、選択された入力データ及び出力データを、動作検証対象回路２０の動作を解析する第１解析部１０１に出力する。一般的に、動作検証の対象とする論理回路では、例えば図３に例示するように、個々の入力データ及び出力データが生成されたタイミング（タイマ１１によるカウント値）をキーとして、例えば値が等しくなるなど、互いに対応付けられることが多い。そして、動作検証制御装置１０は、個々の入力データ及び出力データに対してタイマ１１によるカウント値を付加することによって、前述した対応関係を利用した動作検証対象回路２０における不良箇所の存在の検出を行う。これにより、動作検証制御装置１０は、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。

【0069】

また、本開示に係る動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０への入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データの各々のデータ数を計測し、その計測結果を第１解析部１０１に出力する。これにより、動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０におけるデータの消失などの不具合を確実に検出することができるので、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。

【0070】

また、本開示に係る動作検証制御装置１０は、選択部１３が使用する選択条件は、データの複数の信号経路のいずれかを選択可能な機能を備える動作検証対象回路２０における複数の信号経路のそれぞれに応じた選択条件に従って入力データ及び出力データの組合せを選択する。これにより、動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０におけるデータ処理の複数の信号経路に関して、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。

【0071】

また、本開示に係る動作検証制御装置１０は、第１解析部１０１による動作検証対象回路２０の動作の解析結果が動作検証条件１９０に含まれる再起動条件を満たす場合、動作検証対象回路２０の動作を停止させ、動作検証条件１９０を変更したのち動作検証対象回路２０を再起動する。そして、当該再起動条件は、第１解析部１０１による解析結果が所定の期間正常動作を継続したことを示すこと、及び、当該解析結果が動作検証対象回路２０の異常動作の発生を示すことの少なくともいずれかを含む。即ち、動作検証制御装置１０は、動作検証の実行環境を変えながら動作検証対象回路２０の動作検証を継続して行うこと、及び、異常動作の発生した場合に動作検証対象回路２０を再起動して動作検証を継続して行うことを自動で行う。これにより、動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０の動作検証作業における利用者の負担を軽減することができる。

【0072】

また、本開示に係る動作検証制御装置１０において、選択部１３が使用する選択条件は、動作検証対象回路２０が再起動されてから所定の期間経過後に、動作検証対象回路２０に対する入力データ及び動作検証対象回路２０からの出力データを選択することを開始することを表す。これにより、動作検証制御装置１０は、疑似の不良箇所が検出される可能性が高いことが想定される、動作検証対象回路２０の再起動が行われてから所定の期間において、疑似の不良箇所を検出することを回避できる。

【0073】

尚、上述した本開示に係る動作検証制御装置１０は、動作検証対象回路２０と対向する機能を有する入力部１７を備えるが、入力部１７は、動作検証対象回路２０と対向する機能を備えることに限定されない。

【0074】

＜第２の実施形態＞
図５は、本開示に係る動作検証制御装置４０の構成を示すブロック図である。

【0075】

本開示に係る動作検証制御装置４０は、計数部４１、付加部４２、選択部４３、出力部４４を備えている。計数部４１、付加部４２、選択部４３、出力部４４は、順に、計数手段、付加手段、選択手段、出力手段の一例である。

【0076】

計数部４１は、時間の経過に応じた数を計数する。計数部４１は、例えば、動作検証制御装置１０に係るタイマ１１と同様に動作する。

【0077】

付加部４２は、動作検証の対象部分５０に入力データ４０１が入力されるタイミングにおいて計数部４１によって計数された数を示す数データ４２０を入力データ４０１に付加する。付加部４２は、動作検証の対象部分５０から出力データ４０２が出力されたタイミングにおいて計数部４１によって計数された数を示す数データ４２０を出力データ４０２に付加する。動作検証の対象部分５０は、例えば、動作検証システム１に係る動作検証対象回路２０と同様な回路である。入力データ４０１及び出力データ４０２は、例えば、動作検証システム１に係る動作検証対象回路２０への入力データ、及び動作検証対象回路２０からの出力データと同様なデータである。付加部４２は、例えば、動作検証制御装置１０に係る付加部１２と同様に動作する。

【0078】

選択部４３は、入力データ４０１と出力データ４０２とにおいて、付加された数データ４２０によって示される数が所定の選択条件４３０を満たす入力データ４０１と出力データ４０２との組み合わせを選択する。選択条件４３０は、例えば、動作検証制御装置１０に係る動作検証条件１９０に含まれる選択条件と同様な条件である。選択部４３は、例えば、動作検証制御装置１０に係る選択部１３と同様に動作する。

【0079】

出力部４４は、選択された入力データ４０１及び出力データ４０２を、動作検証の対象部分５０の動作を解析する解析部６０に出力する。解析部６０は、例えば、動作検証制御装置１０に係る第１解析部１０１と同様な構成要素である。出力部４４は、例えば、動作検証制御装置１０に係る出力部１４と同様に動作する。

【0080】

次に図６のフローチャートを参照して、本開示に係る動作検証制御装置４０の動作（処理）について詳細に説明する。

【0081】

計数部４１は、時間の経過に応じた数を計数する（ステップＳ２０１）。付加部４２は、計数部４１によって計数された数を表す数データ４２０を、動作検証の対象部分５０に対する入力データ４０１及び動作検証の対象部分５０からの出力データ４０２に付加する（ステップＳ２０２）。選択部４３は、付加された数データ４２０によって示される数が選択条件４３０を満たす入力データ４０１と出力データ４０２との組み合わせを選択する（ステップＳ２０３）。出力部４４は、選択された入力データ４０１及び出力データ４０２を、解析部６０に出力し（ステップＳ２０４）、全体の処理は終了する。

【0082】

本開示に係る動作検証制御装置４０は、論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出することができる。その理由は、動作検証制御装置４０は、動作検証の対象部分５０に対する入力データ４０１、及び、動作検証の対象部分５０からの出力データ４０２に、計数部４１により計数された数データ４２０を付加し、その数データ４２０が示す数が所定の選択条件４３０を満たす入力データ４０１及び出力データ４０２との組み合わせを選択して解析部６０に出力するからである。

【0083】

＜ハードウェア構成例＞
上述した各実施形態において図１、及び、図５に示した動作検証制御装置における各部は、専用のＨＷ（ＨａｒｄＷａｒｅ）（電子回路）によって実現することができる。また、図１、及び、図５において、少なくとも、下記構成は、プロセッサによって実行される命令を含むソフトウェアプログラムの機能（処理）単位（ソフトウェアモジュール）と捉えることができる。
・タイマ１１及び計数部４１、
・付加部１２及び４２、
・選択部１３及び４３、
・出力部１４及び４４、
・計測部１５、
・再起動制御部１６、
・入力部１７、
・受付部１８、
・記憶部１９における記憶制御機能、
・第１解析部１０１、
・第２解析部１０２。

【0084】

但し、これらの図面に示した各部の区分けは、説明の便宜上の構成であり、実装に際しては、様々な構成が想定され得る。この場合のハードウェア環境の一例を、図７を参照して説明する。

【0085】

図７は、本開示に係る動作検証制御装置を実現可能な情報処理装置９００（コンピュータ）の構成を例示的に説明する図である。即ち、図７は、図１及び図５に示した動作検証制御装置を実現可能なコンピュータ（情報処理装置）の構成であって、上述した実施形態における各機能を実現可能なハードウェア環境を表す。但し、上述した動作検証制御装置における各部は、複数の情報処理装置９００に分散して設けられてもよいし、その少なくとも一部の機能がクラウドコンピューティングの環境を構成するサーバ等に設けられてもよい。

【0086】

図７に示した情報処理装置９００は、構成要素として下記を備えている。
・ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ＿Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ＿Ｕｎｉｔ）９０１、
・ＲＯＭ（Ｒｅａｄ＿Ｏｎｌｙ＿Ｍｅｍｏｒｙ）９０２、
・ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ＿Ａｃｃｅｓｓ＿Ｍｅｍｏｒｙ）９０３、
・ハードディスク（記憶装置）９０４、
・通信インタフェース９０５、
・バス９０６（通信線）、
・ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ＿Ｄｉｓｃ＿Ｒｅａｄ＿Ｏｎｌｙ＿Ｍｅｍｏｒｙ）等の記録媒体９０７に格納されたデータを読み書き可能なリーダライタ９０８、
・モニターやスピーカ、キーボード等の入出力インタフェース９０９。

【0087】

即ち、上記構成要素を備える情報処理装置９００は、これらの構成がバス９０６を介して接続された一般的なコンピュータである。情報処理装置９００は、ＣＰＵ９０１を複数備える場合もあれば、マルチコアにより構成されたＣＰＵ９０１を備える場合もある。情報処理装置９００は、また、上述した構成の一部を備えない場合もある。

【0088】

そして、上述した実施形態を例に説明した本発明は、図７に示した情報処理装置９００に対して、次の機能を実現可能なコンピュータプログラムを供給する。その機能とは、その実施形態の説明において参照したブロック構成図（図１及び図５）における上述した構成、或いはフローチャート（図４Ａ、図４Ｂ、及び図６）の機能である。本発明は、その後、そのコンピュータプログラムを、当該ハードウェアのＣＰＵ９０１に読み出して解釈し実行することによって達成される。また、当該装置内に供給されたコンピュータプログラムは、読み書き可能な揮発性のメモリ（ＲＡＭ９０３）、または、ＲＯＭ９０２やハードディスク９０４等の不揮発性の記憶デバイスに格納すれば良い。

【0089】

また、前記の場合において、当該ハードウェア内へのコンピュータプログラムの供給方法は、現在では一般的な手順を採用することができる。その手順としては、例えば、ＣＤ－ＲＯＭ等の各種記録媒体９０７を介して当該装置内にインストールする方法や、インターネット等の通信回線を介して外部よりダウンロードする方法等がある。そして、このような場合において、本発明は、係るコンピュータプログラムを構成するコード或いは、そのコードが格納された記録媒体９０７によって構成されると捉えることができる。

【0090】

以上、上述した実施形態を模範的な例として本発明を説明した。しかしながら、本発明は、上述した実施形態には限定されない。即ち、本発明は、本発明のスコープ内において、当業者が理解し得る様々な態様を適用することができる。

【0091】

尚、上述した各実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうる。しかしながら、上述した各実施形態により例示的に説明した本発明は、以下には限られない。

【0092】

（付記１）
時間の経過に応じた数を計数する計数手段と、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数手段によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加手段と、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択手段と、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力手段と、
を備える動作検証制御装置。

【0093】

（付記２）
外部より入力された前記選択条件を受け付ける受付手段をさらに備える、
付記１に記載の動作検証制御装置。

【0094】

（付記３）
前記入力データ及び前記出力データの各々のデータ数を計測する計測手段をさらに備え、
前記出力手段は、前記データ数の計測結果を前記解析手段に出力する、
付記１または付記２に記載の動作検証制御装置。

【0095】

（付記４）
前記動作検証の対象部分におけるデータの信号経路は複数用意され、
前記選択手段は、複数用意された前記信号経路のそれぞれに応じた前記選択条件に従って、前記入力データ及び前記出力データの組合せを選択する、
付記１または付記２に記載の動作検証制御装置。

【0096】

（付記５）
前記解析手段による前記動作検証の対象部分の動作の解析結果が再起動条件を満たす場合、前記動作検証の対象部分の動作を停止させ、前記再起動条件及び前記選択条件を含む動作検証条件を変更したのち前記動作検証の対象部分を再起動する、再起動制御手段をさらに備える、
付記１または付記２に記載の動作検証制御装置。

【0097】

（付記６）
前記再起動条件は、前記解析結果が所定の期間正常動作を継続したことを示すこと、及び、前記解析結果が異常動作の発生を示すことの少なくともいずれかを含む、
付記５に記載の動作検証制御装置。

【0098】

（付記７）
前記選択手段は、前記動作検証の対象部分が再起動されてから所定の期間経過後に、前記入力データ及び前記出力データの選択を開始する、
付記５に記載の動作検証制御装置。

【0099】

（付記８）
複数の論理機能が直列に接続された前記動作検証の対象部分に対して、前記入力データを入力する入力手段をさらに備え、
前記入力手段は、複数の前記論理機能の個々と機能が対向し、前記動作検証の対象部分とは逆の順番で直列に接続された複数の対向論理機能を備え、
前記付加手段は、前記対向論理機能の個々の出力である前記入力データ、及び、前記対向論理機能の個々の出力である前記出力データに対して、前記数データを付加する、
付記１または付記２に記載の動作検証制御装置。

【0100】

（付記９）
情報処理装置によって、
時間の経過に応じた数を計数し、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて計数された数を示す数データを前記出力データに付加し、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択し、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する、
動作検証制御方法。

【0101】

（付記１０）
外部より入力された前記選択条件を受け付ける、
付記９に記載の動作検証制御方法。

【0102】

（付記１１）
前記入力データ及び前記出力データの各々のデータ数を計測し、
前記データ数の計測結果を前記解析手段に出力する、
付記９または付記１０に記載の動作検証制御方法。

【0103】

（付記１２）
前記動作検証の対象部分におけるデータの信号経路は複数用意され、
複数用意された前記信号経路のそれぞれに応じた前記選択条件に従って前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択することを表す、
付記９または付記１０に記載の動作検証制御方法。

【0104】

（付記１３）
前記解析手段による前記動作検証の対象部分の動作の解析結果が再起動条件を満たす場合、前記動作検証の対象部分の動作を停止させ、前記再起動条件及び前記選択条件を含む動作検証条件を変更したのち前記動作検証の対象部分を再起動する、
付記９または付記１０に記載の動作検証制御方法。

【0105】

（付記１４）
前記再起動条件は、前記解析結果が所定の期間正常動作を継続したことを示すこと、及び、前記解析結果が異常動作の発生を示すことの少なくともいずれかを含む、
付記１３に記載の動作検証制御方法。

【0106】

（付記１５）
前記動作検証の対象部分が再起動されてから所定の期間経過後に、前記入力データ及び前記出力データの選択を開始する、
付記１３に記載の動作検証制御方法。

【0107】

（付記１６）
複数の論理機能が直列に接続された前記動作検証の対象部分に対して、前記入力データを入力し、
前記入力データの入力において、複数の前記論理機能の個々と機能が対向し、前記動作検証の対象部分とは逆の順番で直列に接続された複数の対向論理機能を備え、
前記対向論理機能の個々の出力である前記入力データ、及び、前記対向論理機能の個々の出力である前記出力データに対して、前記数データを付加する、
付記９または付記１０に記載の動作検証制御方法。

【0108】

（付記１７）
時間の経過に応じた数を計数する計数処理と、
動作検証の対象部分に入力データが入力されるタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記入力データに付加し、前記動作検証の対象部分から出力データが出力されたタイミングにおいて前記計数処理によって計数された数を示す数データを前記出力データに付加する付加処理と、
前記入力データと前記出力データとにおいて、付加された数データによって示される数が所定の選択条件を満たす前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する選択処理と、
選択された前記入力データ及び前記出力データを、前記動作検証の対象部分の動作を解析する解析手段に出力する出力処理と、
をコンピュータに実行させるための動作検証制御プログラム。

【0109】

（付記１８）
外部より入力された前記選択条件を受け付ける受付処理をさらに前記コンピュータに実行させる、
付記１７に記載の動作検証制御プログラム。

【0110】

（付記１９）
前記入力データ及び前記出力データの各々のデータ数を計測する計測処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記出力処理は、前記データ数の計測結果を前記解析手段に出力する、
付記１７または付記１８に記載の動作検証制御プログラム。

【0111】

（付記２０）
前記動作検証の対象部分におけるデータの信号経路は複数用意され、
前記選択処理は、複数用意された前記信号経路のそれぞれに応じた前記選択条件に従って前記入力データと前記出力データとの組み合わせを選択する、
付記１７または付記１８に記載の動作検証制御プログラム。

【0112】

（付記２１）
前記解析手段による前記動作検証の対象部分の動作の解析結果が再起動条件を満たす場合、前記動作検証の対象部分の動作を停止させ、前記再起動条件及び前記選択条件を含む動作検証条件を変更したのち前記動作検証の対象部分を再起動する、再起動制御処理をさらに前記コンピュータに実行させる、
付記１７または付記１８に記載の動作検証制御プログラム。

【0113】

（付記２２）
前記再起動条件は、前記解析結果が所定の期間正常動作を継続したことを示すこと、及び、前記解析結果が異常動作の発生を示すことの少なくともいずれかを含む、
付記２１に記載の動作検証制御プログラム。

【0114】

（付記２３）
前記選択処理は、前記動作検証の対象部分が再起動されてから所定の期間経過後に、前記入力データ及び前記出力データの選択を開始する、
付記２１に記載の動作検証制御プログラム。

【0115】

（付記２４）
複数の論理機能が直列に接続された前記動作検証の対象部分に対して、前記入力データを入力する入力処理をさらに前記コンピュータに実行させ、
前記入力処理は、複数の前記論理機能の個々と機能が対向し、前記動作検証の対象部分とは逆の順番で直列に接続された複数の対向論理機能を含み、
前記付加処理は、前記対向論理機能の個々の出力である前記入力データ、及び、前記対向論理機能の個々の出力である前記出力データに対して、前記数データを付加する、
付記１７または付記１８に記載の動作検証制御プログラム。

【符号の説明】

【0116】

１ 動作検証システム
１０ 動作検証制御装置
１１ タイマ
１２ 付加部
１３ 選択部
１４ 出力部
１５ 計測部
１６ 再起動制御部
１７ 入力部
１７１ 機能ａ
１７２ 機能ｂ
１７３ 機能ｃ
１８ 受付部
１９ 記憶部
１９０ 動作検証条件
１０１ 第１解析部
１０２ 第２解析部
２０ 動作検証対象回路
２１ 機能Ａ
２２ 機能Ｂ
２３ 機能Ｃ
２４ 選択回路
２５ 選択回路
３０ 管理端末
４０ 動作検証制御装置
４０１ 入力データ
４０２ 出力データ
４１ 計数部
４２ 付加部
４２０ 数データ
４３ 選択部
４３０ 選択条件
４４ 出力部
５０ 動作検証の対象部分
６０ 解析部
９００ 情報処理装置
９０１ ＣＰＵ
９０２ ＲＯＭ
９０３ ＲＡＭ
９０４ ハードディスク（記憶装置）
９０５ 通信インタフェース
９０６ バス
９０７ 記録媒体
９０８ リーダライタ
９０９ 入出力インタフェース

【要約】

【課題】論理回路の動作検証において、不良箇所の存在をより効率的に高い精度で検出する。
【解決手段】動作検証制御装置４０は、時間の経過に応じた数を計数する計数部４１と、動作検証の対象部分５０に入力データ４０１が入力されるタイミングにおいて計数部４１によって計数された数を示す数データ４２０を入力データ４０１に付加し、動作検証の対象部分５０から出力データ４０２が出力されたタイミングにおいて計数部４１によって計数された数を示す数データ４２０を出力データ４０２に付加する付加部４２と、入力データ４０１と出力データ４０２とにおいて、付加された数データ４２０によって示される数が所定の選択条件４３０を満たす入力データ４０１と出力データ４０２との組み合わせを選択する選択部４３と、選択された入力データ４０１及び出力データ４０２を、動作検証の対象部分５０の動作を解析する解析部６０に出力する出力部４４と、を備える。
【選択図】 図５

【図1】

【図2】

【図3】

【図4A】

【図4B】

【図5】

【図6】

【図7】